JP2008083586A - Exposure light source, exposure apparatus, exposure method and method for manufacturing panel substrate for display - Google Patents

Exposure light source, exposure apparatus, exposure method and method for manufacturing panel substrate for display Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To make the surface temperature of lamps uniform and to stabilize illuminance of exposure light by using a plurality of lamps and responding to requirements for high luminance and changing the luminance. <P>SOLUTION: A plurality of lamps 31a, 31b, 31c, 31d are used for a light source generating exposure light, and barrier walls 50a, 50b, 50c, 50d, 50e are disposed between the lamps so as to prevent the exposure light emitting from each lamp from irradiating other lamps as well as to suppress the heat generating in each lamp from transmitting to other lamps. The lamps 31a, 31b, 31c, 31d, condenser mirrors 32a, 32b, 32c, 32d and barrier walls 50a, 50b, 50c, 50d, 50e are housed in a lamp house 39, and the lamp house 39 is provided with a gas suction port 39a and a gas discharge port 39b for cooling medium so as to produce a flow of the cooling medium around each lamp to cool each lamp. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、液晶ディスプレイ装置等の表示用パネル基板の製造において、基板の露光を行う際に使用される露光用光源、露光装置、露光方法、及びそれらを用いた表示用パネル基板の製造方法に関する。   The present invention relates to an exposure light source, an exposure apparatus, an exposure method, and a display panel substrate manufacturing method using the exposure light source used when exposing a substrate in manufacturing a display panel substrate such as a liquid crystal display device. .

表示用パネルとして用いられる液晶ディスプレイ装置のTFT(Thin Film Transistor)基板やカラーフィルタ基板、プラズマディスプレイパネル用基板、有機EL(Electroluminescence)表示パネル用基板等の製造は、露光装置を用いて、フォトリソグラフィー技術により基板上にパターンを形成して行われる。露光装置は、感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布した基板へ、マスクを介して露光光を照射することにより、マスクのパターンを基板へ転写するものである。   Manufacturing of TFT (Thin Film Transistor) substrates, color filter substrates, plasma display panel substrates, organic EL (Electroluminescence) display panel substrates, etc. for liquid crystal display devices used as display panels is performed using an exposure apparatus, and photolithography. This is performed by forming a pattern on the substrate by a technique. The exposure apparatus transfers a mask pattern onto a substrate by irradiating the substrate coated with a photosensitive resin material (photoresist) with exposure light through the mask.

露光装置の露光光を発生する光源には、水銀ランプ、ハロゲンランプ、キノセンランプ等の様に、高圧ガスをバルブ内に封入したランプが使用されている。これらのランプは、発熱量が多く、余り高温になるとバルブが破裂する恐れがあるため、冷却しながら使用しなければならない。露光用の照明装置の冷却機構に関するものとして、例えば、特許文献1に記載のものがある。
特開2004−71782号公報
As a light source for generating exposure light of an exposure apparatus, a lamp in which high-pressure gas is enclosed in a bulb, such as a mercury lamp, a halogen lamp, or a kinocene lamp, is used. These lamps generate a large amount of heat, and if the temperature is too high, the bulb may burst, so it must be used while cooling. For example, Patent Document 1 discloses a cooling mechanism for an exposure illumination device.
Japanese Patent Laid-Open No. 2004-71782

一般に、露光光の照度は、ランプの表面温度により変化する。ランプには、表面温度の規定値が定められており、露光処理を行う際は、露光光の照度を安定させるために、ランプの表面温度を規定値に保たなければならない。   In general, the illuminance of exposure light varies depending on the surface temperature of the lamp. A specified value of the surface temperature is determined for the lamp, and when performing an exposure process, the surface temperature of the lamp must be kept at a specified value in order to stabilize the illuminance of the exposure light.

露光光の光量は、露光光の照度と露光時間とに比例する。近年、表示用パネルの大画面化に伴い基板が大型化する程、露光装置の光源により輝度の高いものが要求される様になってきた。光源の輝度が高い程、露光光の照度が高くなり、露光時間が短く済んでタクトタイムが短縮され、スループットが向上する。   The amount of exposure light is proportional to the illuminance of the exposure light and the exposure time. In recent years, as the size of a substrate increases with an increase in the screen size of a display panel, a light source having a higher luminance has been required. The higher the brightness of the light source, the higher the illuminance of the exposure light, the shorter the exposure time, the shorter the tact time, and the higher the throughput.

また、基板の大きさやフォトレジストの種類によって露光に必要な露光光の光量が異なる場合、従来はランプを交換して光源の輝度を変更する必要があった。ランプの交換には時間と手間が掛かるため、ランプを交換することなく、光源の輝度を変更したいという要求があった。   Further, when the amount of exposure light required for exposure differs depending on the size of the substrate and the type of photoresist, conventionally, it has been necessary to replace the lamp and change the luminance of the light source. Since replacing the lamp takes time and effort, there has been a demand to change the brightness of the light source without replacing the lamp.

これらの要求を満足するため、露光光を発生する光源に複数のランプを用い、光源の輝度を全体として高くすると共に、ランプを切り替えて光源の輝度を変更することが考えられる。しかしながら、単に複数のランプを用いただけでは、ランプの表面温度を均一にすることが困難であり、露光光の照度が安定しないという問題があった。これは、各ランプから発生した露光光の一部が、直接又は各ランプの周囲に設けられた集光鏡を透過して隣接するランプへ照射され、隣接するランプの露光光が照射される部分と照射されない部分とで温度差が発生するためである。また、各ランプから発生した熱が、隣接するランプへ伝わり、隣接するランプに近い所と遠い所とで温度差が発生するためである。   In order to satisfy these requirements, it is conceivable to use a plurality of lamps as a light source for generating exposure light, increase the luminance of the light source as a whole, and change the luminance of the light source by switching the lamp. However, if only a plurality of lamps are used, it is difficult to make the surface temperature of the lamp uniform, and there is a problem that the illuminance of the exposure light is not stable. This is because a part of the exposure light generated from each lamp is irradiated to the adjacent lamp through the condenser mirror provided directly or around each lamp, and the exposure light of the adjacent lamp is irradiated This is because a temperature difference is generated between the non-irradiated portion and the non-irradiated portion. Moreover, the heat generated from each lamp is transmitted to the adjacent lamp, and a temperature difference is generated between a location near and far from the adjacent lamp.

本発明の課題は、複数のランプを用いて、高輝度及び輝度の変更の要求に対応しながら、ランプの表面温度を均一にして、露光光の照度を安定させることである。また、本発明の課題は、高品質な基板を短いタクトタイムで製造することである。   An object of the present invention is to stabilize the illuminance of exposure light by using a plurality of lamps, making the surface temperature of the lamps uniform while meeting the demand for changing the brightness and brightness. Another object of the present invention is to manufacture a high-quality substrate with a short tact time.

本発明の露光用光源は、露光光を発生する複数のランプと、各ランプの周囲に設けられ、各ランプから発生した露光光を集光する複数の集光鏡と、各ランプの間に設けられ、各ランプから発生した露光光が他のランプへ照射されるのを防止し、かつ各ランプから発生した熱が他のランプへ伝わるのを抑制する隔壁と、冷却媒体の吸気口及び排気口を有し、複数のランプ及び複数の集光鏡並びに隔壁を収容し、各ランプの周囲に冷却媒体の流れを形成して各ランプを冷却するランプハウスとを備えたものである。   The exposure light source of the present invention is provided between each lamp and a plurality of lamps that generate exposure light, a plurality of condenser mirrors that are provided around each lamp and collect the exposure light generated from each lamp. A partition wall for preventing exposure light generated from each lamp from being irradiated to other lamps and suppressing heat generated from each lamp from being transmitted to the other lamps, and an intake port and an exhaust port for the cooling medium And a plurality of lamps, a plurality of condenser mirrors, and a partition wall, and a lamp house that cools each lamp by forming a flow of a cooling medium around each lamp.

また、本発明の露光装置は、上記露光用光源を備え、上記露光用光源の複数のランプから発生した露光光により基板を露光するものである。   The exposure apparatus of the present invention includes the exposure light source, and exposes the substrate with exposure light generated from a plurality of lamps of the exposure light source.

また、本発明の露光方法は、露光光を発生する光源に複数のランプを用い、各ランプの周囲に集光鏡を設けて、各ランプから発生した露光光を集光し、各ランプの間に隔壁を設けて、各ランプから発生した露光光が他のランプへ照射されるのを防止し、かつ各ランプから発生した熱が他のランプへ伝わるのを抑制し、複数のランプ及び複数の集光鏡並びに隔壁をランプハウスに収容し、ランプハウスに冷却媒体の吸気口及び排気口を設け、各ランプの周囲に冷却媒体の流れを形成して各ランプを冷却し、複数のランプから発生した露光光により基板を露光するものである。   In the exposure method of the present invention, a plurality of lamps are used as a light source for generating exposure light, and a condensing mirror is provided around each lamp to collect the exposure light generated from each lamp, and between the lamps. The partition wall is provided to prevent the exposure light generated from each lamp from being irradiated to other lamps and to prevent the heat generated from each lamp from being transmitted to the other lamps. Condensing mirror and bulkhead are housed in the lamp house. The lamp house is provided with an inlet and an outlet for the cooling medium, and a cooling medium flow is formed around each lamp to cool each lamp. The substrate is exposed with the exposed exposure light.

露光光を発生する光源に複数のランプを用いるので、光源の輝度を全体として高くすると共に、ランプを切り替えて光源の輝度を変更することができる。各ランプの間に設けた隔壁が、各ランプから発生した露光光が他のランプへ照射されるのを防止し、かつ各ランプから発生した熱が他のランプへ伝わるのを抑制するので、各ランプの表面では、他のランプからの露光光及び熱の影響による温度差が小さくなる。従って、複数のランプ及び複数の集光鏡並びに隔壁をランプハウスに収容し、ランプハウスに冷却媒体の吸気口及び排気口を設け、各ランプの周囲に冷却媒体の流れを形成して各ランプを冷却したとき、ランプの表面が均一に冷却される。   Since a plurality of lamps are used as the light source that generates the exposure light, the luminance of the light source can be increased as a whole, and the luminance of the light source can be changed by switching the lamp. The partition provided between the lamps prevents the exposure light generated from each lamp from being irradiated to other lamps and suppresses the heat generated from each lamp from being transmitted to the other lamps. On the surface of the lamp, the temperature difference due to the influence of exposure light from other lamps and heat becomes small. Therefore, a plurality of lamps, a plurality of condenser mirrors, and a partition wall are accommodated in the lamp house, a cooling medium intake port and an exhaust port are provided in the lamp house, a flow of the cooling medium is formed around each lamp, and each lamp is installed. When cooled, the lamp surface is cooled uniformly.

さらに、本発明の露光用光源は、隔壁が、冷却水が流れる冷却水通路を有するものである。また、本発明の露光装置は、該露光用光源を備え、該露光用光源の複数のランプから発生した露光光により基板を露光するものである。また、本発明の露光方法は、隔壁に冷却水通路を設け、冷却水通路に冷却水を流して隔壁を冷却するものである。   Furthermore, in the exposure light source of the present invention, the partition has a cooling water passage through which cooling water flows. An exposure apparatus according to the present invention includes the exposure light source, and exposes the substrate with exposure light generated from a plurality of lamps of the exposure light source. In the exposure method of the present invention, a cooling water passage is provided in the partition wall, and the partition wall is cooled by flowing cooling water through the cooling water passage.

冷却水により隔壁を冷却するので、各ランプから発生した熱が他のランプへ伝わるのがさらに抑制され、ランプの表面の温度差がさらに小さくなる。従って、複数のランプ及び複数の集光鏡並びに隔壁をランプハウスに収容し、ランプハウスに冷却媒体の吸気口及び排気口を設け、各ランプの周囲に冷却媒体の流れを形成して各ランプを冷却したとき、ランプの表面がさらに均一に冷却される。   Since the partition walls are cooled by the cooling water, the heat generated from each lamp is further suppressed from being transmitted to other lamps, and the temperature difference on the lamp surface is further reduced. Therefore, a plurality of lamps, a plurality of condenser mirrors, and a partition wall are accommodated in the lamp house, a cooling medium intake port and an exhaust port are provided in the lamp house, a flow of the cooling medium is formed around each lamp, and each lamp is installed. When cooled, the lamp surface is more evenly cooled.

本発明の表示用パネル基板の製造方法は、上記のいずれかの露光装置又は露光方法を用いて、マスクのパターンを基板へ転写するものである。上記の露光装置又は露光方法を用いることにより、高輝度及び輝度の変更の要求に対応しながら、露光光の照度が安定するので、高品質な基板が短いタクトタイムで製造される。   The method for producing a display panel substrate of the present invention is to transfer the mask pattern onto the substrate using any one of the exposure apparatuses or exposure methods described above. By using the above-described exposure apparatus or exposure method, the illuminance of the exposure light is stabilized while meeting the demand for changing the high luminance and the luminance, so that a high-quality substrate is manufactured with a short tact time.

本発明の露光用光源、露光装置、及び露光方法によれば、複数のランプを用いて、高輝度及び輝度の変更の要求に対応しながら、ランプの表面の温度差を小さくして、ランプの表面を均一に冷却することができる。従って、ランプの表面温度を均一にして、露光光の照度を安定させることができる。   According to the exposure light source, the exposure apparatus, and the exposure method of the present invention, a plurality of lamps can be used to reduce the temperature difference on the surface of the lamp while meeting the demands for changing the brightness and brightness. The surface can be cooled uniformly. Accordingly, the surface temperature of the lamp can be made uniform, and the illuminance of the exposure light can be stabilized.

さらに、本発明の露光用光源、露光装置、及び露光方法によれば、隔壁に冷却水通路を設け、冷却水通路に冷却水を流して隔壁を冷却することにより、ランプの表面の温度差をさらに小さくして、ランプの表面をさらに均一に冷却することができる。従って、ランプの表面温度をさらに均一にして、露光光の照度をさらに安定させることができる。   Furthermore, according to the exposure light source, the exposure apparatus, and the exposure method of the present invention, a cooling water passage is provided in the partition wall, and the cooling wall is cooled by flowing cooling water through the cooling water passage, thereby reducing the temperature difference on the surface of the lamp. The surface of the lamp can be cooled more uniformly by making it smaller. Therefore, the surface temperature of the lamp can be made more uniform, and the illuminance of the exposure light can be further stabilized.

本発明の表示用パネル基板の製造方法によれば、高輝度及び輝度の変更の要求に対応しながら、露光光の照度を安定させることができるので、高品質な基板を短いタクトタイムで製造することができる。   According to the method for manufacturing a display panel substrate of the present invention, the illuminance of the exposure light can be stabilized while responding to the demand for high brightness and change in brightness, and thus a high quality substrate is manufactured in a short tact time. be able to.

図1は、本発明の一実施の形態による露光装置の概略構成を示す図である。本実施の形態は、マスクと基板との間に微小な間隙(プロキシミティギャップ)を設けてマスクのパターンを基板へ転写するプロキシミティ露光装置の例を示している。露光装置は、ベース3、Xガイド4、Xステージ5、Yガイド6、Yステージ7、θステージ8、Z−チルト機構9、チャック10、マスクホルダ20、及び露光光照射装置30を含んで構成されている。なお、露光装置は、これらの他に、基板1を搬入する搬入ユニット、基板1を搬出する搬出ユニット、装置内の温度管理を行う温度制御ユニット等を備えている。   FIG. 1 is a view showing the schematic arrangement of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. This embodiment shows an example of a proximity exposure apparatus that transfers a mask pattern to a substrate by providing a minute gap (proximity gap) between the mask and the substrate. The exposure apparatus includes a base 3, an X guide 4, an X stage 5, a Y guide 6, a Y stage 7, a θ stage 8, a Z-tilt mechanism 9, a chuck 10, a mask holder 20, and an exposure light irradiation device 30. Has been. In addition to these, the exposure apparatus includes a carry-in unit for carrying in the substrate 1, a carry-out unit for carrying out the substrate 1, a temperature control unit for managing the temperature in the apparatus, and the like.

図1において、チャック10は、基板1の露光を行う露光位置にある。露光位置の上空には、マスクホルダ20によってマスク2が保持されている。基板1は、露光位置から離れた受け渡し位置において、図示しない搬入ユニットによりチャック10へ搭載され、また図示しない搬出ユニットによりチャック10から回収される。   In FIG. 1, the chuck 10 is at an exposure position where the substrate 1 is exposed. The mask 2 is held by the mask holder 20 above the exposure position. The substrate 1 is mounted on the chuck 10 by a carry-in unit (not shown) at a delivery position away from the exposure position, and is recovered from the chuck 10 by a carry-out unit (not shown).

チャック10は、Z−チルト機構9を介してθステージ8に搭載されており、θステージ8の下にはYステージ7及びXステージ5が設けられている。Xステージ5は、ベース3に設けられたXガイド4に沿ってX方向(図面横方向)へ移動する。Xステージ5のX方向への移動によって、チャック10は受け渡し位置と露光位置との間を移動する。Yステージ7は、Xステージ5に設けられたYガイド6に沿ってY方向(図面奥行き方向)へ移動する。θステージ8はθ方向へ回転し、Z−チルト機構9はZ方向(図面縦方向)へ移動及びチルトする。   The chuck 10 is mounted on the θ stage 8 via a Z-tilt mechanism 9, and a Y stage 7 and an X stage 5 are provided below the θ stage 8. The X stage 5 moves in the X direction (the horizontal direction in the drawing) along the X guide 4 provided on the base 3. As the X stage 5 moves in the X direction, the chuck 10 moves between the delivery position and the exposure position. The Y stage 7 moves in the Y direction (the drawing depth direction) along the Y guide 6 provided on the X stage 5. The θ stage 8 rotates in the θ direction, and the Z-tilt mechanism 9 moves and tilts in the Z direction (vertical direction in the drawing).

露光位置において、Xステージ5のX方向への移動、Yステージ7のY方向への移動、及びθステージ8のθ方向への回転によって、基板1の位置決めが行われる。また、Z−チルト機構9のZ方向への移動及びチルトによって、マスク2と基板1とのギャップ制御が行われる。   At the exposure position, the substrate 1 is positioned by moving the X stage 5 in the X direction, moving the Y stage 7 in the Y direction, and rotating the θ stage 8 in the θ direction. Further, the gap control between the mask 2 and the substrate 1 is performed by the movement and tilt of the Z-tilt mechanism 9 in the Z direction.

マスクホルダ20の上空には、露光光照射装置30が設けられている。露光光照射装置30は、ランプ31a,31b,31c,31d、集光鏡32a,32b,32c,32d、第1平面鏡33、レンズ34、シャッター35、コリメーターレンズ36、第2平面鏡37、電源38、ランプ冷却機構、及び隔壁50a,50b,50c,50d,50eを含んで構成されている。   An exposure light irradiation device 30 is provided above the mask holder 20. The exposure light irradiation device 30 includes lamps 31a, 31b, 31c, and 31d, condensing mirrors 32a, 32b, 32c, and 32d, a first plane mirror 33, a lens 34, a shutter 35, a collimator lens 36, a second plane mirror 37, and a power source 38. , A lamp cooling mechanism, and partition walls 50a, 50b, 50c, 50d, and 50e.

図2は、本発明の一実施の形態によるランプの上面図である。本実施の形態では、露光光を発生する光源に4つのランプ31a,31b,31c,31dを用いている。ランプ31a,31b,31c,31dには、水銀ランプ、ハロゲンランプ、キノセンランプ等の様に、高圧ガスをバルブ内に封入したランプが使用されている。   FIG. 2 is a top view of a lamp according to an embodiment of the present invention. In the present embodiment, four lamps 31a, 31b, 31c, and 31d are used as light sources that generate exposure light. As the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d, lamps in which high pressure gas is enclosed in a bulb, such as mercury lamps, halogen lamps, and kinocene lamps, are used.

ランプ31a,31b,31c,31dの周囲には、ランプ31a,31b,31c,31dから発生した露光光を集光する集光鏡32a,32b,32c,32dが設けられている。本実施の形態では、集光鏡32a,32b,32c,32dの一部を切り欠くことにより、隣接する2つのランプを集光鏡の直径よりも小さい距離に近づけて配置している。しかしながら、集光鏡32a,32b,32c,32dの一部を切り欠くことなく、隣接する2つのランプを集光鏡の直径よりも大きい距離に離して配置してもよい。   Around the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d, condensing mirrors 32a, 32b, 32c, and 32d that collect the exposure light generated from the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d are provided. In the present embodiment, two adjacent lamps are arranged close to a distance smaller than the diameter of the condenser mirror by cutting out part of the condenser mirrors 32a, 32b, 32c, and 32d. However, two adjacent lamps may be arranged at a distance larger than the diameter of the condenser mirror without cutting out a part of the condenser mirrors 32a, 32b, 32c, 32d.

ランプ31a,31b,31c,31dは、図1の電源38から電圧が印加されると点灯して、露光光を発生する。ランプ31a,31b,31c,31dから発生した露光光は、集光鏡32a,32b,32c,32dにより集光され、図1の第1平面鏡33へ照射される。   The lamps 31a, 31b, 31c, and 31d are turned on when a voltage is applied from the power supply 38 in FIG. 1, and generate exposure light. The exposure light generated from the lamps 31a, 31b, 31c, 31d is condensed by the condensing mirrors 32a, 32b, 32c, 32d and irradiated to the first flat mirror 33 in FIG.

図1において、第1平面鏡33で反射した露光光は、フライアイレンズ又はロットレンズ等からなるレンズ34へ入射し、レンズ34を透過して照度分布が均一になる。シャッター35が開いているとき、レンズ34を透過した露光光は、コリメーターレンズ36を透過して平行光線束となり、第2平面鏡37で反射して、マスク2へ照射される。   In FIG. 1, the exposure light reflected by the first plane mirror 33 enters a lens 34 such as a fly-eye lens or a lot lens, passes through the lens 34, and the illuminance distribution becomes uniform. When the shutter 35 is open, the exposure light transmitted through the lens 34 is transmitted through the collimator lens 36 to become a parallel light beam, reflected by the second plane mirror 37, and irradiated onto the mask 2.

露光光を発生する光源に4つのランプ31a,31b,31c,31dを用いるので、光源の輝度を全体として高くすると共に、ランプ31a,31b,31c,31dを切り替えて光源の輝度を変更することができる。例えば、全部のランプに同じ輝度のランプを使用して、露光に必要な露光光の光量が多い場合は全部のランプを点灯し、露光に必要な露光光の光量が少ない場合は一部のランプのみを点灯してもよい。あるいは、全部又は一部のランプに異なる輝度のランプを使用して、露光に必要な露光光の光量が多い場合は全部のランプを点灯し、露光に必要な露光光の光量が少ない場合は露光光の光量に合った輝度のランプのみを点灯してもよい。   Since the four lamps 31a, 31b, 31c, and 31d are used as the light source that generates the exposure light, the luminance of the light source can be increased as a whole, and the luminance of the light source can be changed by switching the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d. it can. For example, using all lamps with the same brightness, turn on all lamps when the amount of exposure light required for exposure is high, and select some lamps when the amount of exposure light required for exposure is low. You may turn on only. Alternatively, use lamps with different brightness for all or some of the lamps, turn on all lamps when the amount of exposure light required for exposure is high, and expose when the amount of exposure light required for exposure is low. Only a lamp having a luminance suitable for the amount of light may be turned on.

図2において、ランプ31aとランプ31bの間には、隔壁50aが設けられている。また、ランプ31bとランプ31cの間には、隔壁50bが設けられている。さらに、ランプ31cとランプ31dの間には、隔壁50cが設けられている。さらに、ランプ31dとランプ31aの間には、隔壁50dが設けられている。さらに、ランプ31aとランプ31cの間には、隔壁50eが設けられている。   In FIG. 2, a partition wall 50a is provided between the lamp 31a and the lamp 31b. A partition wall 50b is provided between the lamp 31b and the lamp 31c. Further, a partition wall 50c is provided between the lamp 31c and the lamp 31d. Further, a partition wall 50d is provided between the lamp 31d and the lamp 31a. Further, a partition wall 50e is provided between the lamp 31a and the lamp 31c.

なお、隔壁はランプとランプの間に設ければよく、その数は複数のランプの配置に合わせて適宜決定できる。例えば、4つのランプが隣接するランプ間の距離を同じにして配置された場合、隔壁の数は4つでもよい。また、複数の隔壁をつなげて、一体に構成してもよい。   In addition, what is necessary is just to provide a partition between lamps, and the number can be suitably determined according to arrangement | positioning of a some lamp. For example, when four lamps are arranged with the same distance between adjacent lamps, the number of partition walls may be four. Further, a plurality of partition walls may be connected to form an integral structure.

図3は、図2のA−A部の一部断面側面図である。また、図4は、図2のB−B部の一部断面側面図である。なお、図3又は図4では、集光鏡32a,32b,32c,32dはA−A部又はB−B部の断面図で示され、ランプ31a,31b,31c,31d及び隔壁50a,50b,50d,50eは側面図で示されている。   3 is a partial cross-sectional side view of the AA portion of FIG. 4 is a partial cross-sectional side view of the BB portion in FIG. In FIG. 3 or FIG. 4, the condenser mirrors 32a, 32b, 32c, and 32d are shown in a cross-sectional view of the AA portion or the BB portion, and the lamps 31a, 31b, 31c, 31d and the partition walls 50a, 50b, 50d and 50e are shown in a side view.

隔壁50a,50b,50c,50d,50eは、紫外線の反射率が高いアルミニウムからなり、ランプ31a,31b,31c,31dから発生した露光光が他のランプへ照射されるのを防止し、かつランプ31a,31b,31c,31dから発生した熱が他のランプへ伝わるのを抑制する。   The partitions 50a, 50b, 50c, 50d, and 50e are made of aluminum having a high ultraviolet reflectivity, and prevent exposure light generated from the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d from being irradiated to other lamps. The heat generated from 31a, 31b, 31c, and 31d is prevented from being transmitted to other lamps.

ランプ31a,31b,31c,31dの間に設けた隔壁50a,50b,50c,50d,50eが、ランプ31a,31b,31c,31dから発生した露光光が他のランプへ照射されるのを防止し、かつランプ31a,31b,31c,31dから発生した熱が他のランプへ伝わるのを抑制するので、ランプ31a,31b,31c,31dの表面では、他のランプからの露光光及び熱の影響による温度差が小さくなる。従って、後述するランプ冷却機構によりランプ31a,31b,31c,31dを冷却したとき、ランプ31a,31b,31c,31dの表面が均一に冷却される。   The partition walls 50a, 50b, 50c, 50d, 50e provided between the lamps 31a, 31b, 31c, 31d prevent the exposure light generated from the lamps 31a, 31b, 31c, 31d from being irradiated to other lamps. In addition, since heat generated from the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d is suppressed from being transmitted to other lamps, the surfaces of the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d are affected by exposure light and heat from the other lamps. The temperature difference becomes smaller. Therefore, when the lamps 31a, 31b, 31c and 31d are cooled by a lamp cooling mechanism which will be described later, the surfaces of the lamps 31a, 31b, 31c and 31d are uniformly cooled.

さらに、本実施の形態では、隔壁50a,50b,50c,50d,50eに冷却機構が設けられている。図5は、本発明の一実施の形態による隔壁冷却機構を示す図である。隔壁50eの内部には、冷却水が流れる冷却水通路51が設けられている。温度調節された冷却水が、給水管52から冷却水通路51へ供給され、冷却水通路51を流れた冷却水が、排水管53から排出される。隔壁50eは、冷却水通路51を流れる冷却水により冷却される。隔壁50a,50b,50c,50dも、隔壁50eと同様の構成である。   Further, in the present embodiment, a cooling mechanism is provided in the partition walls 50a, 50b, 50c, 50d, and 50e. FIG. 5 is a view showing a partition wall cooling mechanism according to an embodiment of the present invention. A cooling water passage 51 through which cooling water flows is provided inside the partition wall 50e. The temperature-adjusted cooling water is supplied from the water supply pipe 52 to the cooling water passage 51, and the cooling water flowing through the cooling water passage 51 is discharged from the drain pipe 53. The partition wall 50 e is cooled by the cooling water flowing through the cooling water passage 51. The partitions 50a, 50b, 50c, and 50d have the same configuration as the partition 50e.

冷却水により隔壁50a,50b,50c,50d,50eを冷却するので、ランプ31a,31b,31c,31dから発生した熱が他のランプへ伝わるのがさらに抑制され、ランプ31a,31b,31c,31dの表面の温度差がさらに小さくなる。従って、後述するランプ冷却機構によりランプ31a,31b,31c,31dを冷却したとき、ランプ31a,31b,31c,31dの表面がさらに均一に冷却される。   Since the partition walls 50a, 50b, 50c, 50d, and 50e are cooled by the cooling water, the heat generated from the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d is further suppressed from being transmitted to other lamps, and the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d. The temperature difference on the surface of the film becomes even smaller. Therefore, when the lamps 31a, 31b, 31c, 31d are cooled by a lamp cooling mechanism described later, the surfaces of the lamps 31a, 31b, 31c, 31d are cooled more uniformly.

図6は、本発明の一実施の形態によるランプ冷却機構を示す図である。ランプ冷却機構は、ランプハウス39及び排気ファン40を含んで構成されている。   FIG. 6 is a diagram showing a lamp cooling mechanism according to an embodiment of the present invention. The lamp cooling mechanism includes a lamp house 39 and an exhaust fan 40.

ランプハウス39には、ランプ31a,31b,31c,31d、集光鏡32a,32b,32c,32d、第1平面鏡33、レンズ34、及び隔壁50a,50b,50c,50d,50eが収容されている。ランプハウス39は、ランプ31a,31b,31c,31dより下方の位置に空気の吸気口39aを有し、ランプ31a,31b,31c,31dより上方の位置に空気の排気口39bを有する。排気口39bには、排気ファン40が接続されている。排気ファン40を始動すると、ランプハウス39内の空気が排気口39bから排出され、ランプハウス39内へ空気を補うために、吸気口39aから空気が吸入される。   The lamp house 39 accommodates lamps 31a, 31b, 31c, 31d, condensing mirrors 32a, 32b, 32c, 32d, a first plane mirror 33, a lens 34, and partition walls 50a, 50b, 50c, 50d, 50e. . The lamp house 39 has an air intake port 39a at a position below the lamps 31a, 31b, 31c, 31d, and an air exhaust port 39b at a position above the lamps 31a, 31b, 31c, 31d. An exhaust fan 40 is connected to the exhaust port 39b. When the exhaust fan 40 is started, air in the lamp house 39 is exhausted from the exhaust port 39b, and air is sucked from the intake port 39a in order to supplement the air into the lamp house 39.

集光鏡32a,32b,32c,32dの底部には、ランプ31a,31b,31c,31dが貫通する開口が設けられており、吸気口39aから吸入された空気は、矢印で示す様に、各集光鏡32a,32b,32c,32dの開口を通って各ランプ31a,31b,31c,31dの周囲を流れ、各ランプ31a,31b,31c,31dを冷却する。各ランプ31a,31b,31c,31dの周囲を流れた空気は、各ランプ31a,31b,31c,31dの熱を吸収して温度が上昇し、排気口39bから排出される。   At the bottom of the condenser mirrors 32a, 32b, 32c, 32d, openings through which the lamps 31a, 31b, 31c, 31d pass are provided, and the air sucked from the air inlets 39a is indicated by arrows as shown by arrows. The lamps 31a, 31b, 31c, and 31d flow through the openings of the condenser mirrors 32a, 32b, 32c, and 32d to cool the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d. The air that flows around the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d absorbs heat from the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d, increases in temperature, and is discharged from the exhaust port 39b.

以上説明した実施の形態によれば、複数のランプ31a,31b,31c,31dを用いて、高輝度及び輝度の変更の要求に対応しながら、ランプ31a,31b,31c,31dの表面の温度差を小さくして、ランプ31a,31b,31c,31dの表面を均一に冷却することができる。従って、ランプ31a,31b,31c,31dの表面温度を均一にして、露光光の照度を安定させることができる。   According to the embodiment described above, a plurality of lamps 31a, 31b, 31c, and 31d are used, and the temperature difference between the surfaces of the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d is achieved while meeting the demand for changing the high brightness and the brightness. The surface of the lamps 31a, 31b, 31c, 31d can be uniformly cooled. Accordingly, the surface temperature of the lamps 31a, 31b, 31c, 31d can be made uniform, and the illuminance of the exposure light can be stabilized.

さらに、隔壁50a,50b,50c,50d,50eに冷却水通路51を設け、冷却水通路51に冷却水を流して隔壁を冷却することにより、ランプ31a,31b,31c,31dの表面の温度差をさらに小さくして、ランプ31a,31b,31c,31dの表面をさらに均一に冷却することができる。従って、ランプ31a,31b,31c,31dの表面温度をさらに均一にして、露光光の照度をさらに安定させることができる。   Further, a cooling water passage 51 is provided in the partition walls 50a, 50b, 50c, 50d, and 50e, and the cooling water is allowed to flow through the cooling water passage 51 to cool the partition walls, whereby the temperature difference between the surfaces of the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d. Can be further reduced to cool the surfaces of the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d more uniformly. Accordingly, the surface temperatures of the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d can be made more uniform, and the illuminance of the exposure light can be further stabilized.

なお、以上説明した実施の形態では、露光光を発生する光源に4つのランプ31a,31b,31c,31dを用いているが、本発明はこれに限らず、2つ、3つ又は5つ以上のランプを用いてもよい。また、以上説明した実施の形態では、ランプ31a,31b,31c,31dを冷却する冷却媒体として空気を用いているが、本発明はこれに限らず、空気以外の気体を冷却媒体として用いてもよい。また、以上説明した実施の形態では、ランプハウス39に2つの吸気口39aが設けられているが、1つ又は3つ以上の吸気口を設けてもよい。同様に、以上説明した実施の形態では、ランプハウス39に1つの排気口39bが設けられているが、2つ以上の排気口を設けてもよい。   In the embodiment described above, four lamps 31a, 31b, 31c, and 31d are used as light sources for generating exposure light. However, the present invention is not limited to this, and two, three, or five or more are used. The lamp may be used. In the embodiment described above, air is used as a cooling medium for cooling the lamps 31a, 31b, 31c, and 31d. However, the present invention is not limited to this, and a gas other than air may be used as the cooling medium. Good. In the embodiment described above, the lamp house 39 is provided with the two air inlets 39a. However, one or three or more air inlets may be provided. Similarly, in the embodiment described above, one exhaust port 39b is provided in the lamp house 39, but two or more exhaust ports may be provided.

本発明は、プロキシミティ露光装置に限らず、レンズ又は鏡を用いてマスクのパターンを基板上に投影する投影露光装置にも適用することができる。   The present invention can be applied not only to a proximity exposure apparatus but also to a projection exposure apparatus that projects a mask pattern onto a substrate using a lens or a mirror.

本発明の露光装置又は露光方法を用いて、マスクのパターンを基板へ転写することにより、高輝度及び輝度の変更の要求に対応しながら、露光光の照度を安定させることができるので、高品質な基板を短いタクトタイムで製造することができる。   By using the exposure apparatus or exposure method of the present invention to transfer the mask pattern to the substrate, the illuminance of the exposure light can be stabilized while meeting the demands for changing the brightness and brightness. Can be manufactured with a short tact time.

例えば、図7は、液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。薄膜形成工程(ステップ101)では、スパッタ法やプラズマ化学気相成長(CVD)法等により、ガラス基板上に液晶駆動用の透明電極となる導電体膜や絶縁体膜等の薄膜を形成する。レジスト塗布工程(ステップ102)では、ロール塗布法等により感光樹脂材料(フォトレジスト)を塗布して、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜上にフォトレジスト膜を形成する。露光工程(ステップ103)では、プロキシミティ露光装置や投影露光装置等を用いて、マスクのパターンをフォトレジスト膜に転写する。現像工程(ステップ104)では、シャワー現像法等により現像液をフォトレジスト膜上に供給して、フォトレジスト膜の不要部分を除去する。エッチング工程(ステップ105)では、ウエットエッチングにより、薄膜形成工程(ステップ101)で形成した薄膜の内、フォトレジスト膜でマスクされていない部分を除去する。剥離工程(ステップ106)では、エッチング工程(ステップ105)でのマスクの役目を終えたフォトレジスト膜を、剥離液によって剥離する。これらの各工程の前又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。これらの工程を数回繰り返して、ガラス基板上にTFTアレイが形成される。   For example, FIG. 7 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the TFT substrate of the liquid crystal display device. In the thin film formation step (step 101), a thin film such as a conductor film or an insulator film, which becomes a transparent electrode for driving liquid crystal, is formed on a glass substrate by sputtering, plasma chemical vapor deposition (CVD), or the like. In the resist coating process (step 102), a photosensitive resin material (photoresist) is applied by a roll coating method or the like to form a photoresist film on the thin film formed in the thin film forming process (step 101). In the exposure step (step 103), the mask pattern is transferred to the photoresist film using a proximity exposure apparatus, a projection exposure apparatus, or the like. In the development step (step 104), a developer is supplied onto the photoresist film by a shower development method or the like to remove unnecessary portions of the photoresist film. In the etching process (step 105), a portion of the thin film formed in the thin film formation process (step 101) that is not masked by the photoresist film is removed by wet etching. In the stripping step (step 106), the photoresist film that has finished the role of the mask in the etching step (step 105) is stripped with a stripping solution. Before or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary. These steps are repeated several times to form a TFT array on the glass substrate.

また、図8は、液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)では、レジスト塗布、露光、現像、エッチング、剥離等の処理により、ガラス基板上にブラックマトリクスを形成する。着色パターン形成工程(ステップ202)では、染色法、顔料分散法、印刷法、電着法等により、ガラス基板上に着色パターンを形成する。この工程を、R、G、Bの着色パターンについて繰り返す。保護膜形成工程(ステップ203)では、着色パターンの上に保護膜を形成し、透明電極膜形成工程(ステップ204)では、保護膜の上に透明電極膜を形成する。これらの各工程の前、途中又は後には、必要に応じて、基板の洗浄/乾燥工程が実施される。   FIG. 8 is a flowchart showing an example of the manufacturing process of the color filter substrate of the liquid crystal display device. In the black matrix forming step (step 201), a black matrix is formed on the glass substrate by processes such as resist coating, exposure, development, etching, and peeling. In the colored pattern forming step (step 202), a colored pattern is formed on the glass substrate by a dyeing method, a pigment dispersion method, a printing method, an electrodeposition method, or the like. This process is repeated for the R, G, and B coloring patterns. In the protective film forming step (step 203), a protective film is formed on the colored pattern, and in the transparent electrode film forming step (step 204), a transparent electrode film is formed on the protective film. Before, during or after each of these steps, a substrate cleaning / drying step is performed as necessary.

図7に示したTFT基板の製造工程では、露光工程(ステップ103)において、図8に示したカラーフィルタ基板の製造工程では、ブラックマトリクス形成工程(ステップ201)及び着色パターン形成工程(ステップ202)の露光処理において、本発明の露光装置又は露光方法を適用することができる。   In the TFT substrate manufacturing process shown in FIG. 7, in the exposure process (step 103), in the color filter substrate manufacturing process shown in FIG. 8, in the black matrix forming process (step 201) and the colored pattern forming process (step 202). In this exposure process, the exposure apparatus or the exposure method of the present invention can be applied.

本発明の一実施の形態による露光装置の概略構成を示す図である。1 is a diagram showing a schematic configuration of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態によるランプの上面図である。It is a top view of the lamp | ramp by one Embodiment of this invention. 図2のA−A部の一部断面側面図である。It is a partial cross section side view of the AA part of FIG. 図2のB−B部の一部断面側面図である。It is a partial cross section side view of the BB part of FIG. 本発明の一実施の形態による隔壁冷却機構を示す図である。It is a figure which shows the partition cooling mechanism by one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態によるランプ冷却機構を示す図である。It is a figure which shows the lamp cooling mechanism by one embodiment of this invention. 液晶ディスプレイ装置のTFT基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the TFT substrate of a liquid crystal display device. 液晶ディスプレイ装置のカラーフィルタ基板の製造工程の一例を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows an example of the manufacturing process of the color filter board | substrate of a liquid crystal display device.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板
2 マスク
3 ベース
4 Xガイド
5 Xステージ
6 Yガイド
7 Yステージ
8 θステージ
9 Z−チルト機構
10 チャック
20 マスクホルダ
30 露光光照射装置
31a,31b,31c,31d ランプ
32a,32b,32c,32d 集光鏡
33 第1平面鏡
34 レンズ
35 シャッター
36 コリメーターレンズ
37 第2平面鏡
38 電源
39 ランプハウス
39a 吸気口
39b 排気口
40 排気ファン
50a,50b,50c,50d,50e 隔壁
51 冷却水通路
52 給水管
53 排水管
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Mask 3 Base 4 X guide 5 X stage 6 Y guide 7 Y stage 8 θ stage 9 Z-tilt mechanism 10 Chuck 20 Mask holder 30 Exposure light irradiation devices 31a, 31b, 31c, 31d Lamps 32a, 32b, 32c, 32d Condenser mirror 33 First plane mirror 34 Lens 35 Shutter 36 Collimator lens 37 Second plane mirror 38 Power source 39 Lamp house 39a Inlet port 39b Exhaust port 40 Exhaust fans 50a, 50b, 50c, 50d, 50e Partition wall 51 Cooling water passage 52 Water supply Pipe 53 Drain pipe

Claims (7)

露光光を発生する複数のランプと、
各ランプの周囲に設けられ、各ランプから発生した露光光を集光する複数の集光鏡と、
各ランプの間に設けられ、各ランプから発生した露光光が他のランプへ照射されるのを防止し、かつ各ランプから発生した熱が他のランプへ伝わるのを抑制する隔壁と、
冷却媒体の吸気口及び排気口を有し、前記複数のランプ及び前記複数の集光鏡並びに前記隔壁を収容し、各ランプの周囲に冷却媒体の流れを形成して各ランプを冷却するランプハウスとを備えたことを特徴とする露光用光源。
A plurality of lamps for generating exposure light;
A plurality of condensing mirrors that are provided around each lamp and condense exposure light generated from each lamp;
A partition provided between the lamps, preventing exposure light generated from each lamp from being irradiated to other lamps, and suppressing heat generated from each lamp from being transmitted to the other lamps;
A lamp house having an inlet and an outlet for a cooling medium, accommodating the plurality of lamps, the plurality of condenser mirrors, and the partition wall, and forming a flow of a cooling medium around each lamp to cool each lamp And a light source for exposure.
前記隔壁は、冷却水が流れる冷却水通路を有することを特徴とする請求項1に記載の露光用光源。   The exposure light source according to claim 1, wherein the partition wall has a cooling water passage through which cooling water flows. 請求項1又は請求項2に記載の露光用光源を備え、該露光用光源の前記複数のランプから発生した露光光により基板を露光することを特徴とする露光装置。   An exposure apparatus comprising the exposure light source according to claim 1, wherein the substrate is exposed with exposure light generated from the plurality of lamps of the exposure light source. 露光光を発生する光源に複数のランプを用い、
各ランプの周囲に集光鏡を設けて、各ランプから発生した露光光を集光し、
各ランプの間に隔壁を設けて、各ランプから発生した露光光が他のランプへ照射されるのを防止し、かつ各ランプから発生した熱が他のランプへ伝わるのを抑制し、
複数のランプ及び複数の集光鏡並びに隔壁をランプハウスに収容し、
ランプハウスに冷却媒体の吸気口及び排気口を設け、各ランプの周囲に冷却媒体の流れを形成して各ランプを冷却し、
複数のランプから発生した露光光により基板を露光することを特徴とする露光方法。
Using multiple lamps as a light source that generates exposure light
A condenser mirror is provided around each lamp to collect the exposure light generated from each lamp,
A partition is provided between each lamp to prevent exposure light generated from each lamp from being irradiated to other lamps, and to prevent the heat generated from each lamp from being transmitted to other lamps,
A plurality of lamps, a plurality of condenser mirrors and a partition wall are accommodated in a lamp house,
The lamp house is provided with an inlet and an outlet for a cooling medium, and a cooling medium flow is formed around each lamp to cool each lamp.
An exposure method comprising exposing a substrate with exposure light generated from a plurality of lamps.
隔壁に冷却水通路を設け、冷却水通路に冷却水を流して隔壁を冷却することを特徴とする請求項4に記載の露光方法。   5. The exposure method according to claim 4, wherein a cooling water passage is provided in the partition wall, and the partition wall is cooled by flowing cooling water through the cooling water passage. 請求項3に記載の露光装置を用いて、マスクのパターンを基板へ転写することを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。   A method of manufacturing a display panel substrate, wherein the mask pattern is transferred to the substrate using the exposure apparatus according to claim 3. 請求項4又は請求項5に記載の露光方法を用いて、マスクのパターンを基板へ転写することを特徴とする表示用パネル基板の製造方法。   6. A method for manufacturing a display panel substrate, wherein the mask pattern is transferred to the substrate using the exposure method according to claim 4.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010040343A (en) * 2008-08-05 2010-02-18 Ushio Inc Light irradiation device
JP2010117553A (en) * 2008-11-13 2010-05-27 Ushio Inc Light irradiation device
CN101872133A (en) * 2009-04-23 2010-10-27 优志旺电机株式会社 Light irradiation device
JP2011013513A (en) * 2009-07-03 2011-01-20 Hitachi High-Technologies Corp Liquid crystal exposure device
JP2011115694A (en) * 2009-12-02 2011-06-16 Iwasaki Electric Co Ltd Ultraviolet irradiation device
JP7100398B1 (en) 2021-05-06 2022-07-13 株式会社 ベアック Exposure device

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5345443B2 (en) * 2009-04-21 2013-11-20 株式会社日立ハイテクノロジーズ Exposure apparatus, exposure light irradiation method, and display panel substrate manufacturing method
JP5355261B2 (en) * 2009-07-07 2013-11-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ Proximity exposure apparatus, exposure light forming method for proximity exposure apparatus, and display panel substrate manufacturing method
DE112018007900T5 (en) 2018-08-09 2021-04-22 Ohara Inc. CRYSTALLIZED GLASS SUBSTRATE
KR20210040964A (en) 2018-08-09 2021-04-14 가부시키가이샤 오하라 Crystallized glass substrate

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04116559A (en) * 1990-09-06 1992-04-17 Orc Mfg Co Ltd Exposing device and heat absorption type cold mirror
JPH0839030A (en) * 1994-07-29 1996-02-13 Orc Mfg Co Ltd Light irradiation apparatus
JP2002131841A (en) * 2000-10-25 2002-05-09 Fujitsu General Ltd Light source apparatus
JP2004245912A (en) * 2003-02-12 2004-09-02 Ushio Inc Light irradiation system
JP2006324435A (en) * 2005-05-18 2006-11-30 Ushio Inc Light-irradiator

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19935404A1 (en) * 1999-07-30 2001-02-01 Zeiss Carl Fa Lighting system with multiple light sources
CN2496130Y (en) * 2001-09-11 2002-06-19 梁茂忠 Fluorescent tube water cooling unit used for exposuring device
JP7113769B2 (en) * 2019-02-18 2022-08-05 富士フイルム株式会社 Information processing device, information processing method, information processing program, display control device, display control method, and display control program

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04116559A (en) * 1990-09-06 1992-04-17 Orc Mfg Co Ltd Exposing device and heat absorption type cold mirror
JPH0839030A (en) * 1994-07-29 1996-02-13 Orc Mfg Co Ltd Light irradiation apparatus
JP2002131841A (en) * 2000-10-25 2002-05-09 Fujitsu General Ltd Light source apparatus
JP2004245912A (en) * 2003-02-12 2004-09-02 Ushio Inc Light irradiation system
JP2006324435A (en) * 2005-05-18 2006-11-30 Ushio Inc Light-irradiator

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010040343A (en) * 2008-08-05 2010-02-18 Ushio Inc Light irradiation device
JP2010117553A (en) * 2008-11-13 2010-05-27 Ushio Inc Light irradiation device
KR101190961B1 (en) 2008-11-13 2012-10-12 우시오덴키 가부시키가이샤 Light irradiation device
TWI391607B (en) * 2008-11-13 2013-04-01 Ushio Electric Inc Light irradiation device
CN101872133A (en) * 2009-04-23 2010-10-27 优志旺电机株式会社 Light irradiation device
JP2010256531A (en) * 2009-04-23 2010-11-11 Ushio Inc Light irradiation device
JP2011013513A (en) * 2009-07-03 2011-01-20 Hitachi High-Technologies Corp Liquid crystal exposure device
JP2011115694A (en) * 2009-12-02 2011-06-16 Iwasaki Electric Co Ltd Ultraviolet irradiation device
JP7100398B1 (en) 2021-05-06 2022-07-13 株式会社 ベアック Exposure device
WO2022234783A1 (en) * 2021-05-06 2022-11-10 株式会社 ベアック Exposure apparatus
JP2022173032A (en) * 2021-05-06 2022-11-17 株式会社 ベアック Exposure device

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