JP2008063157A - 半導体製造用石英ガラス部材 - Google Patents

半導体製造用石英ガラス部材 Download PDF

Info

Publication number
JP2008063157A
JP2008063157A JP2006239779A JP2006239779A JP2008063157A JP 2008063157 A JP2008063157 A JP 2008063157A JP 2006239779 A JP2006239779 A JP 2006239779A JP 2006239779 A JP2006239779 A JP 2006239779A JP 2008063157 A JP2008063157 A JP 2008063157A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
quartz glass
ppm
semiconductor
glass member
synthetic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006239779A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5177979B2 (ja
Inventor
Tatsuhiro Sato
龍弘 佐藤
Akira Fujinoki
朗 藤ノ木
Shiyouji Takahashi
賞治 高橋
Yoichi Hiratsuka
洋一 平塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shin Etsu Quartz Products Co Ltd
Yamagata Shin Etsu Quartz Co Ltd
Original Assignee
Shin Etsu Quartz Products Co Ltd
Yamagata Shin Etsu Quartz Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shin Etsu Quartz Products Co Ltd, Yamagata Shin Etsu Quartz Co Ltd filed Critical Shin Etsu Quartz Products Co Ltd
Priority to JP2006239779A priority Critical patent/JP5177979B2/ja
Publication of JP2008063157A publication Critical patent/JP2008063157A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5177979B2 publication Critical patent/JP5177979B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Glass Compositions (AREA)
  • Glass Melting And Manufacturing (AREA)

Abstract

【目的】本発明は、耐熱性に優れている上に、金属不純物の遮蔽効果の高い半導体製造用石英ガラス部材を提供すること。
【構成】少なくとも2層で形成される半導体製造用石英ガラス部材において、外層が1,280℃温度における粘度が1012.0ポイズ以上でナトリウム、カリウム及びリチウムのいずれも1ppm以下の天然石英ガラスからなり、最内層が1,280℃温度における粘度が1011.7ポイズ以上でナトリウム、カリウム及びリチウムのいずれも0.2ppm以下の合成石英ガラスからなる半導体製造用石英ガラス部材。
【選択図】 なし

Description

本発明は、半導体の製造に使用される、拡散炉用炉心管、高温アニール処理部材及び単結晶引上げ用石英ガラスルツボなどに好適な半導体製造用石英ガラス部材に関する。
石英ガラスは、耐熱性、耐衝撃性、耐薬品性に優れ、且つ機械的強度も高いところから半導体製造工程における部材を初め各種用途に用いられている。その例として拡散炉用炉芯管、高温アニール処理部材、石英ガラスルツボなどが挙げられる。近年、集積回路の高集積化が急速に進展するにともない半導体の仕様が厳しくなり処理温度が高くなるとともに結晶欠陥などの欠陥の少ない高品質の半導体が求められるようになった。前記結晶欠陥を起こさせる因子としては部材自体の純度や外部、例えばヒーターやライナー管からの金属不純物、特にアルカリ金属不純物の飛散が挙げられる。石英ガラス部材自体汚染を防ぐには合成石英ガラスのような高純度の石英ガラスを使用すればよいが、合成石英ガラスは耐熱性に劣り半導体の高温熱処理中に部材が大きく変形する欠点がある。そのため通常は、天然水晶などから作成された天然石英ガラスからなる部材が用いられているが、天然水晶などには微量な不純物が含有されておりそれが半導体の結晶欠陥の原因となり高品質の半導体を生産性よく製造することを困難にしていた。その上、天然石英ガラスは、外部からの金属不純物の飛散を遮蔽する効果に乏しく半導体のこれら飛散不純物による汚染が避けがたかった。
こうした問題点を解決すべく、特許公報1では、半導体ウエーハの処理工程の熱酸化・拡散炉に用いられる石英ガラス炉芯管として、最内層を炉芯管総肉厚の5〜35%とし、含有するOH基量が1,000〜2,000ppmの合成石英ガラスで形成し、さらに、外層を天然などの高純度の石英ガラスで形成し、所定の耐熱性を保持しつつ、OH基によって金属不純物の防止する石英ガラス炉芯管が提案されている。しかし、この特許文献1の製造方法では、高純度石英ガラス管内にSiClと酸水素火炎を導入して多孔質シリカ体の被膜を形成し、その後HO蒸気を導入してガラス化することから複雑な工程を有し工業的メリットに乏しい上に、OH基が120ppm以上導入されることから、耐熱性に劣り近年要求される高耐熱性に答えるものではなかった。また、特許文献2には、ナトリウム、カリウム及びリチウムをいずれも1ppm以下含有し、且つ1,280℃温度において1012.4ポイズ以上の粘土を有する天然石英ガラスを外層とし、ナトリウム、カリウム及びリチウムをいずれも0.2ppm以下並びに塩素を500〜4,000ppm含有する合成石英ガラスを内層とする複合石英ガラス管が提案されている。しかし、この複合石英ガラス管は内層を形成する合成石英ガラスが塩素を500〜4,000ppm含有することから高温粘度が低く半導体の高温熱処理時に変形するなどの問題があった。その上、前記複合石英ガラス管は外部から飛散する金属不純物、特にアルカリ金属不純物の遮蔽効果が十分でなくこれらの金属不純物に基づく半導体の汚染の問題があった。
特開平6−191873号公報 特開平3−3323号公報 こうした現状に鑑み、本発明者等は鋭意研究を続けた結果、少なくとも2層からなる半導体製造用石英ガラス部材において、最内層を1,280℃における粘度が1011.7ポイズ以上の高純度の合成石英ガラスで形成し、最外層を1,280℃温度における粘度が1012.0ポイズ以上の石英ガラスで形成することで、耐熱性の高い半導体製造用石英ガラス部材が得られ1,000℃を越す処理温度で長時間処理しても変形することがない上に、金属不純物の遮蔽効果が良好で外部から飛散する金属不純物を処理空間に飛散させることがない半導体製造用石英ガラス部材が得られること、特に最外層にアルミニウム、バリウム又はガリウムのいずれか1つを含有させることでより高い耐熱性と金属不純物遮蔽性を有する半導体製造用石英ガラス部材が得られることを見出して、本発明を完成したものである。すなわち 本発明は、耐熱性に優れている上に、金属不純物の遮蔽効果の高い半導体製造用石英ガラス部材を提供することを目的とする。
上記目的を達成する本発明は、少なくとも2層で形成される半導体製造用石英ガラス部材において、外層が1,280℃温度における粘度が1012.0ポイズ以上の石英ガラスからなり、最内層が1,280℃温度における粘度が1011.7ポイズ以上の合成石英ガラスからなることを特徴とする半導体製造用石英ガラス部材に係る。
本発明の半導体製造用石英ガラス部材の最外層を形成する1,280℃温度における粘度が1012.0ポイズ以上の石英ガラスとしては、高純度の天然水晶などからなる天然石英ガラスや高粘度の合成石英ガラス等が挙げられる。より好ましくはナトリウム、カリウム及びリチウムのいずれも1ppm以下の天然石英ガラスや高純度の合成石英ガラスがよい。1,280℃温度における粘度が1012.0ポイズ以上の合成石英ガラスとしては、WO2004/050570号公報に記載する炭素、窒素又はアルミニウムを含む合成石英ガラスなどが挙げられる。特にアルミニウムが金属不純物の遮蔽効果もあって好ましい。また、最内層を形成する1,280℃温度における粘度が1011.7ポイズ以上の合成石英ガラスとしては、前記WO2004/050570号公報に記載するようにシリカ多孔質体を100〜1,300℃の還元雰囲気中で処理した後、1,300℃以上1,900℃以下の温度で焼成し緻密化した合成石英ガラスが挙げられる。この耐熱性に優れた合成石英ガラスは耐熱性を高く維持するため塩素濃度を500ppm以下、OH基濃度を100ppm以下にする。
上記耐熱性の高い合成石英ガラスとしては好ましくは波長245nmの紫外線における吸収係数が0.01/cm以上の合成石英ガラスがよい。この波長245nmの紫外線における吸収係数は石英ガラスの高温粘度と相関関係があり、吸収係数が大きい程高い粘度が得られる。そして、前記合成石英ガラスは炭素や窒素など高耐熱性ドープ剤を含有することで一段と高い吸収係数が得られる。前記高耐熱性の合成石英ガラスはまた金属不純物、特にアルカリ金属不純物に対する遮蔽効果にも優れている。
上記合成石英ガラスからなる最内層の厚さは部材全体の厚さに対して1%以上であれば金属不純物の拡散防止層として有効であり、また、部材の厚に対する肉厚比99%でも部材の変形量を小さく抑えることができる。
本発明の半導体製造用石英ガラス部材の最外層を高純度の天然石英ガラスとすることで部材の変形をより小さく保持できる。最外層を上述の高耐熱性の合成石英ガラスで形成する場合には、好ましくはアルミニウムを1ppm以上、より好ましくは2〜10ppm含有させるのがよい。アルミニウムを含有させることで前記高耐熱性の合成石英ガラスは1,280℃における粘度を1012.0ポイズ以上とすることができる。また、このアルミニウムは部材や外部からの金属不純物の拡散防止効果にも優れ、金属不純物の遮蔽効果に優れた部材を提供することができる。さらに、合成石英ガラスの粘度向上にはアルミニウ以外に炭素や窒素を含有させてもよい。それらの元素の含有量は200ppm以上がよく、アルミニウムと共存させてもよい。
半導体製造用石英ガラス部材の金属不純物の遮蔽効果としては前記アルミニウムに加えてバリウム又はガリウムも挙げられる。アルミニウムを含めたこれらの元素のドープ法としては、多孔性シリカ母材に前記元素の例えば硝酸溶液等の溶液又は微粉末を含浸又は混合した上で、還元処理・焼成処理する方法、または、石英ガラス表面に前記溶液を塗布した上で乾燥する方法などが挙げられる。アルミニウム、バリウム又はガリウムの含有は最外層の外表面から0.1mmの深さに0.1wt%以上とするのがよい。特にアルミニウムを含有させた石英ガラス部材を1,000℃以上で数時間以上加熱処理することによって部材表面に結晶石英ガラスが形成されより高い耐熱性が得られる。
本発明の半導体製造用石英ガラス部材は、高純度で、耐熱性が高く、1,000℃を超える高温で長時間処理しても形状変化することがなく、また、ヒーターやライナー管等の外部から飛散する金属不純物、特にアルカリ金属不純物の遮蔽効果も優れ、処理する半導体の高品質でかつ生産性よく製造できる。
以下に本発明の実施例をあげて説明するが、これらの実施例は例示的に示されるもので限定的に解釈されるべきでないことはいうまでもない。
実施例1
不純物含有量が、Al:8ppm、Fe:0.2ppm、Na:0.1ppm、K:0.1ppmで、OH基濃度:200ppm、1,280℃における粘度が1012.4ポイズの天然石英ガラスを用いてサイズ300mmφ×1500mmL×3mmtの天然石英ガラスチューブを作成し、その外表面に、硝酸アルミニウムの30%溶液を塗布したのち乾燥させた。一方、不純物含有量が、Al:0.001ppm、Fe:0.001ppm、Na:0.001ppm、K:0.001ppm、OH濃度:80ppm、Cl濃度:25ppmで、1,280℃における粘度が1011.8ポイズの合成石英ガラスを用いてサイズ275mmφ×1500mmL×1mmtの合成石英ガラスチューブを作成し、この合成石英ガラスチューブを前記天然石英ガラス製のチューブに嵌合し、同一軸上に固定し、片端部から反対端部へ向けて、外部火炎加熱源を移動させながら、外層チューブ内面と内層チューブ外面の全面を溶接し、外層天然石英ガラス層と内層合成ガラス層からなる複合石英ガラス管を作成した。この複合石英ガラス管の外表面より深さ0.1mmまでには、アルミニウムが0.1wt%ドープされているのが検知された。
上記複合石英ガラス管を使って、炉芯菅を作成し、作成した炉芯菅内でシリコンウエーハを、アルゴン雰囲気下で、室温から1,200℃で、30分間保持して加熱した後、室温まで放冷する加熱サイクルをそれぞれ200回繰り返し行った。加熱サイクル後のシリコンウエーハの金属不純物量は、100ppbであった。炉芯菅は、外表面部に厚さ0.2mmの失透層が形成された以外は、使用開始前と変化は無く、変形も無かった。
実施例2
不純物含有量が、Al:8ppm、Fe:0.2ppm、Na:0.1ppm、K:0.1ppmで、OH基濃度:200ppm、1,280℃における粘度が1012.4ポイズの天然石英ガラスを用いてサイズ300mmφ×1500mmL×3mmtの天然石英ガラスチューブを作成し、その外表面に、硝酸アルミニウムの30%溶液を塗布したのち乾燥させた。一方、不純物含有量が、Al:0.001ppm、Fe:0.001ppm、Na:0.001ppm、K:0.001ppm、OH濃度:0.1ppm、Cl濃度:1ppmで、波長245nmにおける吸収係数が0.4/cmの1,280℃における粘度が1012.1ポイズである合成石英ガラスを用いてサイズ275mmφ×1500mmL×1mmtの合成石英ガラスチューブを作成し、この合成石英ガラスチューブを前記天然石英ガラス製のチューブに嵌合し、同一軸上に固定し、片端部から反対端部へ向けて、外部火炎加熱源を移動させながら、外層チューブ内面と内層チューブ外面の全面を溶接し、外層天然石英ガラス層と内層合成ガラス層からなる複合石英ガラス管を作成した。この複合石英ガラス管の外表面より深さ0.1mmまでには、アルミニウムが0.1wt%ドープされているのが検知された。
上記複合石英ガラス管を使って、炉芯菅を作成し、作成した炉芯菅内でシリコンウエーハを、アルゴン雰囲気下で、室温から1,200℃で、30分間保持して加熱した後、室温まで放冷する加熱サイクルをそれぞれ200回繰り返し行った。加熱サイクル後のシリコンウエーハの金属不純物量は、100ppbであった。炉芯菅は、外表面部に厚さ0.2mmの失透層が形成された以外は、使用開始前と変化は無く、変形も無かった。
比較例1
不純物濃度が、Al8ppm、Fe0.2ppm、Na0.1ppm、K0.1ppm、OH濃度200ppmで、1,280℃における粘度が1012.4ポイズの天然石英ガラスを用いて300mmφ×1500mmL×3mmtサイズの石英ガラスチューブを作成する一方、不純物濃度が、Al0.001ppm、Fe0.001ppm、Na0.001ppm、K0.001ppm、OH濃度1200ppm、Cl濃度600ppmで、1280℃における粘度が1011.5ポイズの合成石英ガラスを用いて275mmφ×1500mmL×1mmtサイズの合成石英ガラスチューブを作成し、この合成石英ガラスチューブを前記天然石英ガラスチューブに嵌合し、同一軸上に固定し、片端部から反対端部へ向けて、外部火炎加熱源を移動させながら、外層チューブ内面と内層チューブ外面の全面を溶接し、外部天然石英ガラス層と内部合成ガラス層からなる、複合石英ガラス管を作成した。
得られた複合石英ガラス管を使って、炉芯菅を作成し、作成した炉芯管内でシリコンウエーハを、アルゴン雰囲気下で、室温から1,200℃で、30分間保持して加熱した後、室温まで放冷する加熱サイクルをそれぞれ200回繰り返し行った。加熱サイクル後のシリコンウエーハの金属不純物量は、1,000ppbであった。そして、炉芯管はひどく変形しこれ以上の使用継続は不可能であった。
本発明は、高純度で、耐熱性が高く、半導体を長時間、高温処理しても形状変化がない上に、金属不純物、特にアルカリ金属不純物の遮蔽効果が高く、処理する半導体に高品質で生産性よく処理でき工業的に有用な部材である。

Claims (8)

  1. 少なくとも2層で形成される半導体製造用石英ガラス部材において、最外層が1,280℃温度における粘度が1012.0ポイズ以上の石英ガラスからなり、最内層が1,280℃温度における粘度が1011.7ポイズ以上の合成石英ガラスからなることを特徴とする半導体製造用石英ガラス部材。
  2. 最内層の合成石英ガラスのOH基濃度が100ppm以下、塩素濃度が500ppm以下であることを特徴とする請求項1記載の半導体製造用石英ガラス部材。
  3. 最内層の合成石英ガラスが波長245nmの紫外線における吸収係数が0.01/cm以上であることを特徴する請求項1又は2記載の半導体製造用石英ガラス部材。
  4. 最内層を形成する合成石英ガラス層の厚さが部材の厚さの1〜99%であることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の半導体製造用石英ガラス部材。
  5. 石英ガラスからなる最外層がアルミニウムを1ppm以上含有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項記載の半導体製造用石英ガラス部材。
  6. 石英ガラスからなる最外層が天然石英ガラスからなることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項記載の半導体製造用石英ガラス部材。
  7. 最外層の外表面から0.1mmの深さにアルミニウム、バリウム又はガリウムが0.1wt%以上含有されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項記載の半導体製造用石英ガラス部材。
  8. 最外層を形成する石英ガラスがナトリウム、カリウム及びリチウムのいずれも1ppm以下含有し、最内層を形成する合成石英ガラスがナトリウム、カリウム及びリチウムのいずれも0.2ppm以下含有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項記載の半導体製造用石英ガラス部材。
JP2006239779A 2006-09-05 2006-09-05 半導体製造用複合石英ガラス管 Active JP5177979B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006239779A JP5177979B2 (ja) 2006-09-05 2006-09-05 半導体製造用複合石英ガラス管

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006239779A JP5177979B2 (ja) 2006-09-05 2006-09-05 半導体製造用複合石英ガラス管

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008063157A true JP2008063157A (ja) 2008-03-21
JP5177979B2 JP5177979B2 (ja) 2013-04-10

Family

ID=39286182

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006239779A Active JP5177979B2 (ja) 2006-09-05 2006-09-05 半導体製造用複合石英ガラス管

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5177979B2 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102628189A (zh) * 2012-04-20 2012-08-08 吴江市奥鸣石英玻璃仪器厂 一种用于太阳能电池片生产的石英炉门及其工艺
US10618833B2 (en) 2015-12-18 2020-04-14 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a synthetic quartz glass grain
US10676388B2 (en) 2015-12-18 2020-06-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Glass fibers and pre-forms made of homogeneous quartz glass
US10730780B2 (en) 2015-12-18 2020-08-04 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a multi-chamber oven
US11053152B2 (en) 2015-12-18 2021-07-06 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Spray granulation of silicon dioxide in the preparation of quartz glass
US11236002B2 (en) 2015-12-18 2022-02-01 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of an opaque quartz glass body
US11299417B2 (en) 2015-12-18 2022-04-12 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a melting crucible of refractory metal
US11339076B2 (en) 2015-12-18 2022-05-24 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of carbon-doped silicon dioxide granulate as an intermediate in the preparation of quartz glass
US11492285B2 (en) 2015-12-18 2022-11-08 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of quartz glass bodies from silicon dioxide granulate
US11492282B2 (en) 2015-12-18 2022-11-08 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of quartz glass bodies with dew point monitoring in the melting oven
US11952303B2 (en) 2015-12-18 2024-04-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Increase in silicon content in the preparation of quartz glass

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63236723A (ja) * 1987-03-26 1988-10-03 Shinetsu Sekiei Kk 半導体工業用石英ガラス製品
JPH01275496A (ja) * 1988-04-28 1989-11-06 Mitsubishi Metal Corp シリコン単結晶引上げ用石英ルツボ
JPH05254859A (ja) * 1992-03-12 1993-10-05 Toshiba Ceramics Co Ltd 半導体ウエハ熱処理用部材とその製造方法
JPH08169798A (ja) * 1995-04-04 1996-07-02 Shinetsu Quartz Prod Co Ltd シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボ

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63236723A (ja) * 1987-03-26 1988-10-03 Shinetsu Sekiei Kk 半導体工業用石英ガラス製品
JPH01275496A (ja) * 1988-04-28 1989-11-06 Mitsubishi Metal Corp シリコン単結晶引上げ用石英ルツボ
JPH05254859A (ja) * 1992-03-12 1993-10-05 Toshiba Ceramics Co Ltd 半導体ウエハ熱処理用部材とその製造方法
JPH08169798A (ja) * 1995-04-04 1996-07-02 Shinetsu Quartz Prod Co Ltd シリコン単結晶引き上げ用石英ガラスルツボ

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102628189A (zh) * 2012-04-20 2012-08-08 吴江市奥鸣石英玻璃仪器厂 一种用于太阳能电池片生产的石英炉门及其工艺
US10618833B2 (en) 2015-12-18 2020-04-14 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a synthetic quartz glass grain
US10676388B2 (en) 2015-12-18 2020-06-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Glass fibers and pre-forms made of homogeneous quartz glass
US10730780B2 (en) 2015-12-18 2020-08-04 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a multi-chamber oven
US11053152B2 (en) 2015-12-18 2021-07-06 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Spray granulation of silicon dioxide in the preparation of quartz glass
US11236002B2 (en) 2015-12-18 2022-02-01 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of an opaque quartz glass body
US11299417B2 (en) 2015-12-18 2022-04-12 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a melting crucible of refractory metal
US11339076B2 (en) 2015-12-18 2022-05-24 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of carbon-doped silicon dioxide granulate as an intermediate in the preparation of quartz glass
US11492285B2 (en) 2015-12-18 2022-11-08 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of quartz glass bodies from silicon dioxide granulate
US11492282B2 (en) 2015-12-18 2022-11-08 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of quartz glass bodies with dew point monitoring in the melting oven
US11708290B2 (en) 2015-12-18 2023-07-25 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a multi-chamber oven
US11952303B2 (en) 2015-12-18 2024-04-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Increase in silicon content in the preparation of quartz glass

Also Published As

Publication number Publication date
JP5177979B2 (ja) 2013-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5177979B2 (ja) 半導体製造用複合石英ガラス管
TWI430966B (zh) 熔融石英玻璃及其製造方法
JP5394734B2 (ja) 半導体ウエハを処理するための石英ガラスからなる保持器および保持器の製造方法
JP5502479B2 (ja) 半導体製造用石英ガラスの組成物及びその製造方法
JP2010018470A (ja) 高純度熔融石英ガラスおよびその製造方法並びに、これを用いた部材および装置
JP2011184210A (ja) 合成シリカガラス及びその製造方法
JP2011132073A (ja) 金属不純物拡散阻止能を有する石英ガラス
JP2012066947A (ja) 金属不純物拡散阻止能を有する石英ガラス
JP4181226B2 (ja) 高純度、高耐熱性石英ガラスの製造方法
JP2810941B2 (ja) 多角柱状シリカガラス棒の製造方法
EP1471039A1 (en) Method for producing quartz glass jig and quartz glass jig
JP5543909B2 (ja) シリカガラスルツボ
JP3931351B2 (ja) 高純度、高耐熱性シリカガラスの製造方法
JPH11310423A (ja) 合成石英ガラスおよびその製造方法
JP5130735B2 (ja) 石英ガラス成形品の製造方法および石英ガラス成形品
JP2010168244A (ja) ガラス管の製造方法
JP3258175B2 (ja) ノンドープ若しくはドープシリカガラス体の製造方法
JP2000281430A (ja) 黒色SiO2質耐食性部材及びその製造方法
JP2003292337A (ja) プラズマ耐食性石英ガラス、その製造方法及びこれを用いた装置
JP2003012333A (ja) 石英ガラス部材およびその製造方法
JP2010168243A (ja) ガラス管の製造方法
JP2002160930A (ja) 多孔質石英ガラスとその製造方法
JP2004059412A (ja) 石英ガラス治具及びその製造方法
JP2010018471A (ja) 石英ガラスおよびその製造方法並びにこれを用いた部材および装置
JP3687872B2 (ja) 高純度シリコン等の熱処理用電気炉材の製造方法、及び熱処理用電気炉材

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090525

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100621

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100628

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100715

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101026

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110112

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110114

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20110216

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20110603

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121116

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130108

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5177979

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250