JP2008042117A - プラズマ処理装置用の載置台及びプラズマ処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プラズマ処理装置1用の載置台2は、プラズマ生成用の下部電極21を兼ねる導電体部材と、この導電体部材の上面中央部を覆うように設けられ、被処理基板を通してプラズマに印加する高周波電界を均一にする下部誘電体層22(第1の誘電体層)と、導電体部材の表面を伝播した高周波電流が被処理基板(ウエハW)の外側に逃げることを抑えるために、導電体部材上に被処理基板の少なくとも周縁部と接するようにして設けられ、比誘電率が100以上の上部誘電体層24(第2の誘電体層)と、を備えている。
【選択図】図2
Description
高周波電源に接続され、プラズマ生成用、またはプラズマ中のイオン引き込み用の電極を兼ねる導電体部材と、
この導電体部材の上面中央部を覆うように設けられ、被処理基板を通してプラズマに印加する高周波電界を均一にする第1の誘電体層と、
前記導電体部材の表面を伝播した高周波電流が被処理基板の外側に逃げることを抑えるためと、より効率良くTMモードの空洞円筒共振を発生させるために当該導電体部材上に前記被処理基板の少なくとも周縁部と接するようにして設けられ、比誘電率が100以上の第2の誘電体層と、を備えたことを特徴とする。
δ/t≧ 1,000
但し、δ=(2/ωμσ)1/2、ω=2πf、σ=1/ρ
但し、t;静電チャック用の電極膜の厚さ、δ;高周波電源から供給される高周波電力に対する静電チャック用の電極膜のスキンデプス、f;高周波電源から供給される高周波電力の周波数、π;円周率、μ;静電チャック用の電極の透磁率、ρ;静電チャック用の電極の比抵抗
また、前記第1の誘電体層の上には、静電チャック用の誘電体層が設けられ、前記第2の誘電体層は、この静電チャック用の誘電体層を囲むように設けられていてもよい。
ここで、第1の誘電体層は、円柱状に形成されTMモードの空洞円筒共振を発生させている場合や、その厚さが中央部よりも周縁部の方が小さくなっていることが好ましい。また、高周波電源より供給される高周波電力の周波数は、13MHz以上であることが好適である。
δ/t≧ 1,000
但し、δ=(2/ωμσ)1/2、ω=2πf、σ=1/ρ
但し、t;電極膜25の厚さ[m]、δ;高周波電源51aから供給される高周波電力に対する電極膜25のスキンデプス[m]、f;高周波電源51aから供給される高周波電力の周波数、π;円周率、μ;電極膜25の透磁率[H/m]、ρ;電極膜25の比抵抗[Ωm]
電極膜25はスイッチ53と抵抗54とを介して高圧直流電源55に接続されており、高圧直流電源55から電極膜25に高圧直流電力が印加されると、静電チャック23の上部誘電体層24表面に生じるクーロン力によって、載置面である静電チャック23上面にウエハWが静電吸着されるようになっている。
図1に示すような平行平板型のプラズマ処理装置をモデル化し、シミュレーションを行ってウエハ上の電界強度の分布を推定した。
電極膜25の比抵抗 :0.20Ωm
ウエハWの比抵抗 :0.05Ωm
プラズマの比抵抗 :1.5Ωm
下部誘電体層22の比誘電率ε22:8
上部誘電体層24の比誘電率ε24:各実施例、比較例の設定条件による
印加電力:2kW(周波数40MHz、100MHzの2条件)
ここで、上部誘電体層24(静電チャック23)の厚みを1mm、電極膜25の厚みを0.3mm、下部誘電体層22の厚みを5mmとした。また、下部誘電体層22の直径が278mm、288mm、296mmの3条件についてシミュレーションを行った。
(実施例1)
上部誘電体層24の比誘電率をε24=100に設定した。
(実施例2)
上部誘電体層24の比誘電率をε24=900に設定した。
(比較例1)
上部誘電体層24の比誘電率をε24=12に設定した。
各実施例、比較例における電界強度分布のシミュレーション結果を図6、図7に示す。図6は、印加した高周波電力の周波数が40MHzの場合の各シミュレーション結果を示している。図6(a)は、下部誘電体層22の直径が278mmの場合の結果を示し、図6(b)、図6(c)は、同じく下部誘電体層22の直径が288mm、296mmの場合の結果を夫々示している。各グラフの横軸は、ウエハWの中央を「0」とした場合の半径方向への中央からの距離[mm]を示している。縦軸は、「比電界強度(=シミュレーションの結果得られた各位置における電界強度E/すべての位置におけるシミュレーション結果の最大値Emax)」を示している。各シミュレーション結果は、実施例1を丸(●)でプロットし、実施例2を三角(▲)、比較例1を四角(■)で夫々プロットした。
1 プラズマ処理装置
2 載置台
11 処理容器
11a 上部室
11b 下部室
12 排気口
13 排気管
14 排気装置
15 搬入出口
16 ゲートバルブ
17 支持板
18 バッフル板
21 下部電極
21a 支持台
22 下部誘電体層(誘電体)
23 静電チャック
24 上部誘電体層(誘電体)
25 電極膜
26 誘電体
31 絶縁部材
32 冷媒流路
33 貫通孔
34 ガス流路
35 フォーカスリング
41 上部電極
42 ガス供給孔
43 ガス導入管
45 処理ガス供給源
51a 高周波電源(第1の高周波電源)
51b 高周波電源(第2の高周波電源)
52a、52b 整合器
53 スイッチ
54 抵抗
55 高圧直流電源
56a、56b マルチポールリング磁石
Claims (7)
- 載置面に被処理基板を載置するためのプラズマ処理装置用の載置台であって、
高周波電源に接続され、プラズマ生成用、またはプラズマ中のイオン引き込み用の電極を兼ねる導電体部材と、
この導電体部材の上面中央部を覆うように設けられ、被処理基板を通してプラズマに印加する高周波電界を均一にする第1の誘電体層と、
前記導電体部材の表面を伝播した高周波電流が被処理基板の外側に逃げることを抑えるために当該導電体部材上に前記被処理基板の少なくとも周縁部と接するようにして設けられ、比誘電率が100以上の第2の誘電体層と、を備えたことを特徴とするプラズマ処理装置用の載置台。 - 前記第2の誘電体層は、被処理基板の中央部に対応する位置から周縁部に対応する位置に亘って設けられると共に、この第2の誘電体層には以下の条件を満たす静電チャック用の電極膜が埋設されることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置用の載置台。
δ/t≧ 1,000
但し、δ=(2/ωμσ)1/2、ω=2πf、σ=1/ρ
但し、t;静電チャック用の電極膜の厚さ、δ;高周波電源から供給される高周波電力に対する静電チャック用の電極膜のスキンデプス、f;高周波電源から供給される高周波電力の周波数、π;円周率、μ;静電チャック用の電極の透磁率、ρ;静電チャック用の電極の比抵抗 - 前記第1の誘電体層の上には、静電チャック用の誘電体層が設けられ、前記第2の誘電体層は、この静電チャック用の誘電体層を囲むように設けられていることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ処理装置用の載置台。
- 前記第1の誘電体層は、円柱状に形成されていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1つに記載のプラズマ処理装置用の載置台。
- 前記第1の誘電体層の厚さは、中央部よりも周縁部の方が小さいことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1つに記載のプラズマ処理装置用の載置台。
- 前記高周波電源より供給される高周波電力の周波数は、13MHz以上であることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一つに記載のプラズマ処理装置用の載置台。
- 被処理基板に対してプラズマ処理が行われる処理容器と、
この処理容器内に処理ガスを導入する処理ガス導入部と、
前記処理容器内に設けられた請求項1ないし6のいずれか一つに記載のプラズマ処理装置用の載置台と、
この載置台の上方側に当該載置台と対向するように設けられた上部電極と、
前記処理容器内を真空排気するための手段と、を備えたことを特徴とするプラズマ処理装置。
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