JP2008039756A - 電気信号接続用座標変換装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ウエハパッドと接触導通する狭ピッチ線配列プローブ入力端とプローブ出力端を有し、プローブ出力端が概略平面上に粗ピッチに面配列される手段と、プローブ出力端と変換配線入力端とが交差し接触して導通するx方向配線群と、x方向配線群の出力端と交差し導通するy方向配線群を有する電気信号座標変換装置。
【選択図】図1
Description
以下、本発明の実施の形態1について図1乃至図11に従い詳細に説明する。
7はx方向配線である。x方向配線7は樹脂フィルム70、x方向変換配線g0(0=1〜6)、固定部77から構成されている。x方向変換配線g0はx方向変換配線入力端C0、x方向変換配線出力端D0、x方向変換配線g0、ばね部h0から成る。Sはシート上に構成されたx方向配線7に付けられた番号である。例えば7−1は1枚目のx方向配線を示す。また1−C0(0=3)は1枚目のx方向配線の中に構成されている3番目のx方向変換配線入力端を示す。即ち先頭にある数字はシートの番号であり、ハイフン以下に品名(A)と配線網の配置番号(0)である。x方向変換配線g0、x方向変換配線出力端D0、x方向変換配線g0、ばね部h0も同様の意味を有し表現されるものとする。
以下、本発明の実施の形態2について図12乃び13に従い詳細に説明する。実施の形態2は実施の形態1においてy方向配線の入力端と出力端の配線を自由に設計段階で選択可能な構造を有する、またx方向配線の入力端と出力端の配線を自由に設計段階で選択可能な構造を有するものである。前記のように選択可能にすることによって、プローブ入力端200−iがどのような順番に配列されていても、x方向変換配線出力端の所望する位置に配線を接続することを可能とするものである。
「実施の形態1において」
A1→B1,A2→B2,A3→B3,A4→B4,A5→B5,A6→B6
「実施の形態2において」
A1→B1,A2→B2,A3→B5,A4→B6,A5→B4,A6→B3
69(1) 69(2) 69(3) 69(4) 69(5)
69(6)
y方向変換配線出力端
2−B1 2−B2 2−B5 2−B6 2−B4
2−B3
y方向変換配線入力端
2−A1 2−A2 2−A3 2−A4 2−A5
2−A6
窓
79(1) 79(2) 79(3) 79(4)
x方向変換配線入力端
5−C1 5−C2 5−C3 5−C4
x方向変換配線出力端
5−D4 5−D3 5−D1 5−D2
このように絶縁膜を通して接続してはならない配線との導通を回避し必要とするy方向変換配線ftに接続することはエッチング技術やスクリーン印刷技術により容易に達成可能である。
からS−D0に選択的に導通の接続を可能にする。
5b シールド線
7 探針ランド部
8 ワイヤ取り付け部
8a ワイヤ取り付け部
8b ワイヤ取り付け部
10 x方向配線群入力端
1 接触子全体
1−1 接触子全体_1
1−2 接触子全体_2
1−3 接触子全体_3
1−4 接触子全体_4
3−4 プローブ出力端_4
5 接触子組立
6 y方向配線
6−1 y方向配線_1
6−2 y方向配線_2
6−3 y方向配線_3
6−4 y方向配線_4
M−At y方向配線入力端
M−Bt y方向配線出力端
6c y方向変換配線
7 x方向配線
7−1 x方向配線_1
7−2 x方向配線_2
7−3 x方向配線_3
S−C0 x方向配線入力端
S−D0 x方向配線出力端
7c x方向変換配線
10 ウエハ
11 パッド
12 プリント基板
13 プリント基板入力端
14 プリント基板配線
15 プリント基板出力端
16 ポゴピン
17 ポゴピンリング
42−i 配線部
61A y方向変換配線入力端
61B y方向変換配線出力端
67 ダミー
69 穴
71A x方向変換配線入力端
71B x方向変換配線出力端
200−i プローブ入力端
200−1 プローブ入力端_1
200−2 プローブ入力端_2
200−3 プローブ入力端_3
200−4 プローブ入力端_4
300 プローブ出力端
300−1 プローブ出力端_1
300−2 プローブ出力端_2
300−3 プローブ出力端_3
Claims (6)
- ウエハパッドと接触導通する狭ピッチ線配列プローブ入力端とプローブ出力端を有し、プローブ出力端が概略平面上に粗ピッチに面配列される手段と、プローブ出力端と変換配線入力端とが交差し接触して導通するy方向配線群と、y方向配線群の出力端と交差し導通するx方向配線群を有する電気信号接続用座標変換装置。
- プローブ出力端子部は接触子を積層したとき夫々の配置位置が概略等ピッチにずれ、該出力端子部がグループ化により、粗い面配列になるべく各樹脂フイルムに形成されていることを特徴とする請求項1に記載の座標変換装置。
- x方向配線群およびy方向配線群の個々の配線は樹脂フイルム上に形成され、x方向配線群入力端、x方向配線群出力端、y方向配線群入力端、y方向配線群出力端は樹脂フイルムの外周から突出していることを特徴とする請求項1に記載の座標変換装置。
- 複数のプローブ出力端が直線上に配置され、1枚の樹脂フイルム上に形成された複数のy方向配線と接続されることを特徴とする請求項1に記載の座標変換装置。
- y方向配線群出力端が直線上に配置され、1枚の樹脂フイルム上に形成された複数のx方向配線と接続されることを特徴とする請求項1に記載の座標変換装置。
- 絶縁フイルムを挟んで配線パターンを複数構造にすることにより信号の出力先を選択可能にする手段を有する請求項1に記載の座標変換装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006240812A JP5041275B2 (ja) | 2006-08-08 | 2006-08-08 | 電気信号接続用座標変換装置 |
TW096125296A TW200809205A (en) | 2006-08-08 | 2007-07-11 | Coordinate transforming apparatus for electrical signal connection |
US11/888,567 US7514943B2 (en) | 2006-08-08 | 2007-08-01 | Coordinate transforming apparatus for electrical signal connection |
KR1020070079113A KR20080013792A (ko) | 2006-08-08 | 2007-08-07 | 전기신호접속용 좌표 변환 장치 |
CN2007101438850A CN101153878B (zh) | 2006-08-08 | 2007-08-07 | 电气讯号连接用变换坐标装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006240812A JP5041275B2 (ja) | 2006-08-08 | 2006-08-08 | 電気信号接続用座標変換装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008039756A true JP2008039756A (ja) | 2008-02-21 |
JP5041275B2 JP5041275B2 (ja) | 2012-10-03 |
Family
ID=39050099
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006240812A Expired - Fee Related JP5041275B2 (ja) | 2006-08-08 | 2006-08-08 | 電気信号接続用座標変換装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7514943B2 (ja) |
JP (1) | JP5041275B2 (ja) |
KR (1) | KR20080013792A (ja) |
CN (1) | CN101153878B (ja) |
TW (1) | TW200809205A (ja) |
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JPH07318586A (ja) | 1994-05-30 | 1995-12-08 | Nec Kansai Ltd | プローブカード |
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-
2006
- 2006-08-08 JP JP2006240812A patent/JP5041275B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-07-11 TW TW096125296A patent/TW200809205A/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-08-01 US US11/888,567 patent/US7514943B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-08-07 CN CN2007101438850A patent/CN101153878B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-08-07 KR KR1020070079113A patent/KR20080013792A/ko not_active Application Discontinuation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7514943B2 (en) | 2009-04-07 |
CN101153878A (zh) | 2008-04-02 |
TW200809205A (en) | 2008-02-16 |
KR20080013792A (ko) | 2008-02-13 |
CN101153878B (zh) | 2011-06-15 |
US20080036449A1 (en) | 2008-02-14 |
JP5041275B2 (ja) | 2012-10-03 |
TWI339729B (ja) | 2011-04-01 |
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A621 | Written request for application examination |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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