JP2008039522A - 分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】試料20を載置する載置部12を有する試料ステージ10と、X線を照射する第1ポリキャピラリーレンズ48及び2次X線を検出する第2ポリキャピラリーレンズを設けた蛍光X線検出器を有するX線分析ユニットと、赤外線を照射する赤外線照射ユニット30と、赤外線を検出する赤外線検出ユニット34と、試料ステージ10をX線分析ユニットからのX線が載置部12を照射する位置へ移動し、又は、赤外線照射ユニット30からの赤外線が載置部12を照射する位置へ移動する移動装置と、赤外線照射ユニット30からの赤外線が載置部12を照射する位置に試料ステージ10を移動した状態で、試料20を載置部12へ押付ける圧力棒22とを備える。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明に係る分析装置の要部を模式的に示す斜視図である。分析装置は、試料(被照射体)20が載置される試料ステージ(被照射体ステージ)10と、圧力棒(押付け部材、押付け手段)22と、赤外線照射ユニット(赤外線照射手段)30と、赤外線検出ユニット(赤外線検出手段)34と、X線を試料20へ導く第1ポリキャピラリーレンズ48が設けられたX線分析ユニット42(図3にて図示する)とを備える。試料ステージ10は、後述する移動装置(移動手段)によって、圧力棒22、赤外線照射ユニット30、及び赤外線検出ユニット34側の所定位置(以下、赤外線分析位置)と、X線分析ユニット42側の所定位置(以下、X線分析位置)とに移動される。
12 載置部
16 集光素子
20 試料
22 圧力棒
32 赤外線出力器
36 赤外線検出器
38 赤外線分析用コンピュータ
46 X線発生器
48 第1ポリキャピラリーレンズ
50 蛍光X線検出器
51 第2ポリキャピラリーレンズ
58 X線分析用コンピュータ
Claims (4)
- 被照射体が載置される載置部を有する被照射体ステージと、
X線を集光する第1のポリキャピラリーレンズを有し、X線を所定方向へ照射するX線照射手段と、
赤外線を所定方向へ照射する赤外線照射手段と、
被照射体ステージの位置を、X線照射手段からのX線が前記載置部を照射する位置へ移動し、又は、赤外線照射手段からの赤外線が前記載置部を照射する位置へ移動する移動手段と、
前記第1のポリキャピラリーレンズによるX線の集光範囲内に視野が収まるように焦点が設定された第2のポリキャピラリーレンズを有し、被照射体にX線が照射されたことにより生じる2次X線を前記第2のポリキャピラリーレンズにより検出する2次X線検出手段と、
赤外線照射手段からの赤外線が前記載置部を照射する位置に被照射体ステージを移動した状態で、被照射体を載置部へ押付ける押付け手段と、
被照射体からの反射赤外線を検出する赤外線検出手段と
を備え、検出された2次X線及び反射赤外線に基づいて被照射体の組成を分析するように構成してあることを特徴とする分析装置。 - 被照射体が載置される載置部を有する被照射体ステージと、
赤外線を前記載置部へ照射する赤外線照射手段と、
被照射体からの反射赤外線を検出する赤外線検出手段と、
所定方向へ移動する押付け部材を有する押付け手段と、
X線を集光する第1のポリキャピラリーレンズを有し、X線を所定方向へ照射するX線照射手段と、
前記第1のポリキャピラリーレンズによるX線の集光範囲内に視野が収まるように焦点が設定された第2のポリキャピラリーレンズを有し、被照射体にX線が照射されたことにより生じる2次X線を前記第2のポリキャピラリーレンズにより検出する2次X線検出手段と、
X線照射手段及び2次X線検出手段の位置を、X線照射手段からのX線が前記載置部を照射し、照射により生じる2次X線を2次X線検出手段が検出する位置へ移動し、又は、押付け手段の位置を、押付け部材が被照射体を前記載置部へ押付ける位置へ移動する移動手段と
を備え、検出された2次X線及び反射赤外線に基づいて被照射体の組成を分析するように構成してあることを特徴とする分析装置。 - 被照射体が載置される載置部を有する被照射体ステージと、
X線を集光する第1のポリキャピラリーレンズを有し、X線を前記載置部へ照射するX線照射手段と、
前記第1のポリキャピラリーレンズによるX線の集光範囲内に視野が収まるように焦点が設定された第2のポリキャピラリーレンズを有し、被照射体にX線が照射されたことにより生じる2次X線を前記第2のポリキャピラリーレンズにより検出する2次X線検出手段と、
被照射体をX線の照射元側から載置部へ押付ける押付け手段と、
X線照射手段と対向する方向から前記載置部へ赤外線を照射する赤外線照射手段と、
被照射体からの反射赤外線を検出する赤外線検出手段と
を備え、検出された2次X線及び反射赤外線に基づいて被照射体の組成を分析するように構成してあることを特徴とする分析装置。 - 前記載置部はダイヤモンドを用いてなることを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の分析装置。
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