JP2007333464A - 2波長イメージセンサ - Google Patents

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Abstract

【課題】可視光画像の解像度が高く、赤外光画像の感度が高く、可視光撮像と赤外光撮像を同時に行なうことができ、冷却が不要であり、画素補間などの画像処理が不要な2波長イメージセンサを提供する。
【解決手段】この2波長イメージセンサでは、複数の可視光検出器1と複数の非冷却型赤外光検出器3を均一に分散配置し、1つの可視光検出器1で可視光検出用画素2を構成し、直列接続された4つの赤外光検出器3で熱赤外光検出用画素5を構成する。したがって、可視光画像の解像度は熱画像の解像度の4倍になる。また、赤外光画像の1画素当りの受光面積を4倍に高めることができ、熱赤外光画像の温度分解能が向上する。
【選択図】図1

Description

この発明は2波長イメージセンサに関し、特に、可視光画像と赤外光画像の両方を撮像する2波長イメージセンサに関する。
セキュリティ分野などに利用される人体検知用の光学センサシステムでは、可視光撮像と熱赤外光(中赤外光〜遠赤外光)撮像を組み合わせることによって検知性能を向上させることができる。このようなセンサシステムとしては、従来、可視光カメラと赤外光カメラの2つの撮像系を単純に組み合わせたものが使用されていたが、システムが大型になり、かつデータ解析に2つの光学画像間の複雑な画像処理が必要になるため、1台のカメラで両方の撮像ができるセンサシステムが望まれてきた。
これに関連して、可視光画像と熱画像を1つのチップで撮像することを可能にする2波長イメージセンサが提案されている。たとえば特許文献1には、PtSiショットキダイオードを検出器とする赤外光イメージセンサにおいて、PtSi層を薄膜化することによって可視光の検出機能を合わせ持たせたものが開示されている。このイメージセンサを用いた光学センサシステムでは、分光フィルタを入れ替えることによって可視光撮像と中赤外光撮像を使い分ける。
また、Siフォトダイオードを光検出器に用いた一般的なカラーイメージセンサは、熱赤外光画像ではないが近赤外光画像と、可視光画像の撮像が可能である。フォトダイオード上に形成した分光フィルタによって、たとえば青、緑、赤、近赤外といった異なる波長の光に対する画像を、1つのチップで撮像する。たとえば特許文献2には、可視光〜近赤外光を撮像するカラーイメージセンサにおいて、色(すなわち検出器上の分光フィルタ)の配列の仕方を規定して、可視光画像に比べて近赤外光画像の画像解像度を高めたものが開示されている。
特開平11−289492号公報 特開2005−51791号公報
可視光画像と熱赤外光画像の両方を利用する光学センサシステムでは、一般的に、両者が必要とする画像解像度は異なる。すなわち、可視光画像では解像度を高くして細部まで撮像できることが望ましく、一方、熱画像では解像度は多少低くとも、むしろ感度(すなわち温度分解能)が高いことが望まれる。
しかし、特許文献1のイメージセンサでは、可視光および赤外光を検出する検出器が同一であるため、必然的に可視光画像と熱画像の解像度は同じになるという問題点があった。また、検出器が同一であるため、可視光撮像と熱赤外光撮像を同時に行なうことができなかった。また、検出器を−200℃程度以下にまで冷却する必要があるため、撮像システムが大型になり、製造コストが高くなるという問題点があった。
また、特許文献2のイメージセンサでは、2つの画像の解像度を異なるように、すなわち可視光画像に比べて近赤外光画像の解像度を高くすることができるが、より解像度の高い近赤外光画素の分布は間引き配置となるため、完全な画像を得るには画素補間が必要になるという問題点があった。
それゆえに、この発明の主たる目的は、可視光画像の解像度が高く、赤外光画像の感度が高く、可視光撮像と赤外光撮像を同時に行なうことができ、冷却が不要であり、画素補間などの画像処理が不要な2波長イメージセンサを提供することである。
この発明に係る2波長イメージセンサは、可視光画像と赤外光画像の両方を撮像する2波長イメージセンサであって、均一に分散配置された複数の可視光検出器および複数の非冷却型赤外光検出器を含む検出器アレイを備え、各可視光検出器は可視光画像の1画素を構成し、複数の非冷却型赤外光検出器はN個(ただし、Nは2以上の整数である)ずつグループ化され、各グループに属するN個の非冷却型赤外光検出器は直列接続されて赤外光画像の1画素を構成していることを特徴とする。
この発明に係る2波長イメージセンサでは、可視光画像の1画素を1個の可視光検出器で構成し、赤外光画像の1画素を複数の赤外光検出器で構成するので、赤外光画像よりも解像度の高い可視光画像が得られる。また、赤外光画像の1画素を構成する複数の赤外光検出器を直列接続するので、赤外光画像の感度を高めることができる。また、可視光検出器と非冷却型赤外光検出器の両方を設けたので、可視光画像と赤外光画像を同時に撮像することができる。また、非冷却型の赤外光検出器を使用するので、冷却する必要がない。また、複数の可視光検出器と複数の非冷却型赤外光検出器を均一に分散配置したので、画素補間などの画像処理を行なうことなく均一性に優れた画像を得ることができる。
[実施の形態1]
図1は、この発明の実施の形態1による2波長イメージセンサの構成を示す平面図である。図1において、この2波長イメージセンサは、複数の可視光検出器1と複数の非冷却型赤外光検出器3とを含む検出器アレイを備える。検出器1,3は実際には多数設けられているが、図1では図面の簡単化のため24個ずつ示されている。24個の可視光検出器1と24個の非冷却型赤外光検出器3は、均一に分散配置されている。すなわち、24個の可視光検出器1は4行6列に所定のピッチで配置され、24個の非冷却型赤外光検出器3は4行6列に所定のピッチで配置され、可視光検出器2と非冷却型赤外光検出器3は行方向および列方向に半ピッチずつずらせて配置されている。
可視光検出器1は、SiのPN接合フォトダイオードからなり、信号読出用のトランジスタ群(図示せず)とともに可視光検出用画素2を構成する。各可視光検出用画素2の行に対応して水平選択線6が配置され、各可視光検出用画素2の列に対応して垂直信号線7が配置され、各可視光検出用画素2は、対応の行の水平選択線6に接続されるとともに対応の列の垂直信号線7に接続される。水平選択線6の一端は垂直走査回路10に接続され、垂直信号線7の一端はコラムアンプ群等で構成される信号処理回路11および水平走査回路12に接続される。さらに信号処理回路11端には、可視光用の出力アンプ13が接続される。
垂直走査回路10は、可視光画像の撮像時に、複数(図では4本)の水平選択線6を所定時間ずつ順次選択し、選択した水平選択線6を選択レベルにする。水平選択線6が選択レベルにされると、その水平選択線6に接続された可視光検出用画素2が活性化され、その可視光検出用画素2に接続された垂直信号線7の電位は、その可視光検出用画素2への可視光の入射光量に応じたレベルに変化する。水平走査回路12は、垂直走査回路10によって1本の水平選択線6が選択されている期間に、複数(図では6本)の垂直信号線7を所定時間ずつ順次選択する。信号処理回路11は、水平走査回路12によって選択された垂直信号線7の電位を読出す。出力アンプ13は、信号処理回路11によって読み出された垂直信号線7の電位を増幅して出力する。
一方、24個の非冷却型赤外光検出器3は4つずつグループ化され、各グループに属する4つの非冷却型赤外光検出器3は、1つの可視光検出用画素2を囲むようにして2行2列に配置されており、金属配線4によって電気的に直列接続されて熱赤外光検出用画素5を構成する。これにより6つの熱赤外光検出用画素5が構成され、6つの画素5は2行3列に配置される。各非冷却型赤外光検出器3は、赤外線吸収傘用の温度センサとして、直列接続された2つのSOIダイオード3aを含む。したがって、各熱赤外光検出用画素5は、直列接続された8個のSOIダイオード3aを含む。
各熱赤外光検出用画素5の行に対応して水平選択線8が配置され、各熱赤外光検出用画素5の列に対応して垂直信号線9が配置され、各熱赤外光検出用画素5は、対応の行の水平選択線8に接続されるとともに対応の列の垂直信号線9に接続される。水平選択線8の一端は垂直走査回路14に接続され、垂直信号線9の一端はコラムアンプ群等で構成される信号処理回路15および水平走査回路16に接続される。さらに信号処理回路16端には、赤外光用の出力アンプ17が接続される。
垂直走査回路14は、赤外光画像の撮像時に、複数(図では2本)の水平選択線8を所定時間ずつ順次選択し、選択した水平選択線8を選択レベルにする。水平選択線8が選択レベルにされると、その水平選択線8に接続された赤外光検出用画素5が活性化され、その赤外光検出用画素5に接続された垂直信号線9の電位は、その赤外光検出用画素5への赤外光の入射光量に応じたレベルに変化する。水平走査回路16は、垂直走査回路14によって1本の水平選択線8が選択されている期間に、複数(図では3本)の垂直信号線9を所定時間ずつ順次選択する。信号処理回路15は、水平走査回路16によって選択された垂直信号線9の電位を読出す。出力アンプ17は、信号処理回路15によって読み出された垂直信号線9の電位を増幅して出力する。
また、図2は、隣接する可視光検出用画素2と赤外光検出器3の構成を示す断面図である。この実施の形態1では、SOIダイオード方式の赤外光検出器3を用いるためSOI基板を使用する。可視光検出用画素2の可視光検出器(フォトダイオード)1と信号読出用のトランジスタ群からなる読出回路20は、SOI基板のバルクシリコン21の表面に形成され、フィールド酸化膜22によって互いに分離されている。読出回路20の一端は可視光検出器1に接続され、他端は水平選択線6あるいは垂直信号線7に接続される。また可視光検出用画素2表面には誘電体膜23が形成される。
一方、赤外光検出器3は、Siマイクロマシン技術を用いて製造される。SOI基板のBOX酸化膜24上のSOI層25に直列接続された2つのSOIダイオード3aが形成され、その直下のバルクシリコン21が除去されて空隙26を形成し、SOI層25上部には赤外線吸収傘27が形成される。BOX酸化膜24、SOI層25および赤外線吸収傘27で構成された中空構造体28は、熱コンダクタンスの低い支持脚(図示せず)によって保持される。トレンチ分離酸化膜29は、空隙26を形成する際のエッチングストッパであり、中空構造体28を取り囲むように形成される。また、素子分離のためSOI層のフィールド酸化膜30が形成される。また、SOIダイオード3aの直列接続体の+側端子は水平選択線8に接続され、−側端子は垂直信号線9に接続される。
また、図3は、赤外光検出器3の赤外線吸収傘27のレイアウトを示す平面図である。図3において、熱赤外光検出用画素5を構成する4つの赤外光検出器3のそれぞれに、赤外線吸収傘27が独立して形成される。赤外線吸収傘27に熱赤外光が入射すると、その入射光量に応じて赤外線吸収傘27の温度が上昇する。したがって、赤外線吸収傘27の温度を検出することにより、熱赤外光の入射光量を検出することができる。
次に、この2波長イメージセンサの動作について説明する。まず、可視光撮像時の動作について説明する。イメージセンサに入射する光のうち、可視近赤外光が可視光検出用画素2内の可視光検出器1に入射すると、可視光検出用画素2の出力電位が入射光量に応じて変化する。垂直走査回路10によって1本の水平選択線6が選択されるとき、これに接続された1行の可視光検出用画素2の各出力に対応して、垂直信号線7の電位が変化する。垂直信号線7端に設けられた信号処理回路11内のコラムアンプによって、各垂直信号線7の電位変化が増幅され、水平走査回路12によって選択されたコラムアンプの出力が、可視光用出力アンプ13から出力される。垂直走査回路10と水平走査回路12とのスキャン動作によって、行列状に配置された可視光検出用画素2の検出器出力が時系列に読み出され、2次元の可視光画像が得られる。
次に、熱赤外光撮像時の動作について説明する。非冷却型赤外光検出器3は、熱型検出器とも呼ばれ、Siマイクロマシン技術を用いて製造される断熱構造体と、断熱構造体上に形成される熱電変換素子で構成される。断熱構造体に赤外光が入射するとここで吸収され、入射赤外光量に応じて断熱構造体の温度が上昇する。その温度変化を熱電変換素子で検出し、電位変化として出力する。量子型の赤外検出器とは異なり、熱型検出器は低温に冷却する必要がないため、常温での動作が可能である。
この2波長イメージセンサでは、熱電変換素子として直列接続された2つのSOIダイオード3aを用いている。SOIダイオード3aの電流−電圧特性は温度によって変化し、たとえば一定電流を流す場合には、温度が上昇するとダイオード3a両端の電位差が減少する。イメージセンサに入射する光のうち、中赤外光や遠赤外光が熱赤外光検出用画素6に入射すると、熱赤外光検出用画素5内の各非冷却型赤外光検出器3の出力電位が入射光量に応じて変化する。このとき、熱赤外光検出用画素5の出力電位変化は、4つの赤外光検出器3の出力電位変化の和になる。
垂直走査回路14によって1本の水平選択線8が選択されるとき、これに接続された1行の熱赤外光検出用画素5の各出力に対応して、垂直信号線9の電位が変化する。垂直信号線9端に設けられた信号処理回路15内のコラムアンプによって、各垂直信号線9の電位変化が増幅され、水平走査回路16によって選択されたコラムアンプの出力が、赤外光用出力アンプ17から出力される。垂直走査回路14と水平走査回路16とのスキャン動作によって、行列状に配置された熱赤外光検出用画素5の検出器出力が時系列に読み出され、2次元の熱赤外光画像が得られる。
この実施の形態1では、可視光画像の1画素は1つの可視光検出器1で構成され、熱赤外光画像の1画素は4つの赤外光検出器3で構成されるので、各々の検出器を等数ずつ均等配置した場合には、可視光画像の解像度は熱画像の解像度の4倍になる。このとき、双方の検出器配列はそれぞれ間引きのない完全な周期配列にできるので、画素補間などの複雑な信号処理を行なうことなく均一性に優れた画像を得ることができる。また、熱赤外光画像の1画素を4つの赤外光検出器3の直列接続体で構成したので、1つの赤外光検出器3で1画素を構成する場合に比べ、1画素当りの赤外光の受光面積を4倍に高めることができ、熱画像の温度分解能が向上する。
また、可視光検出器1と赤外光検出器3は独立して光検出動作を行なうので、可視光撮像と赤外光撮像を全く別々に行なうことができる。逆に、垂直走査回路10,14と水平走査回路12,16の走査を同期させれば、2つの撮像を同時に行なうことも可能である。このとき得られる可視光画像と熱赤外光画像の相互の位置関係は、センサシステムの光学系を共通にすれば、画素単位で一致する。そのため、たとえば画像処理によって人物を抽出したい場合などに、2画像間の複雑な座標変換が全く不要になるという優れた効果がある。
さらに、もともとSiフォトダイオードは常温で動作するので、可視光検出器1と赤外光検出器3はともに冷却が不要であり、撮像システムの小型化および低価格化を図ることができる。
図4は、実施の形態1の変更例を示す図であって、図1と対比される図である。図4において、この2波長イメージセンサでは、可視光検出器1と非冷却型赤外光検出器3とが行方向および列方向に交互に配置される。図4では、23個の可視光検出器1と22個の非冷却型赤外光検出器3とが5行9列に配置される。可視光検出器1は、信号読出用のトランジスタ群(図示せず)とともに可視光検出用画素2を構成する。各行に対応して水平選択線6が配置され、各奇数番の列に対応して垂直信号線7が配置され、各可視光検出用画素2は、対応の行の水平選択線6に接続されるとともに対応の列または隣接する列の垂直信号線7に接続される。
一方、複数の非冷却型赤外光検出器3は4つずつグループ化され、各グループに属する4つの非冷却型赤外光検出器3は、1つの可視光検出用画素2を囲むようにして3行3列に亘って配置されており、金属配線4によって電気的に直列接続されて熱赤外光検出用画素5を構成する。これにより4つの熱赤外光検出用画素5が構成され、4つの画素5は2行2列に配置される。各熱赤外光検出用画素5の行に対応して水平選択線8が配置され、各熱赤外光検出用画素5の列に対応して垂直信号線9が配置され、各熱赤外光検出用画素5は、対応の行の水平選択線8に接続されるとともに対応の列の垂直信号線9に接続される。他の構成および動作は、実施の形態1と同じであるので、その説明は繰り返さない。この変更例でも、実施の形態1と同じ効果が得られる。
[実施の形態2]
図5は、この発明の実施の形態2による2波長イメージセンサの要部を示す図であって、図3と対比される図である。また、図6は、隣接する2つの赤外光検出器3の構成を示す断面図である。
図5および図6において、この2波長イメージセンサでは、熱赤外光検出用画素5を構成する4つの赤外光検出器3の赤外線吸収傘27が一体に形成される。したがって、1つの熱赤外光検出用画素5内の4つの赤外光検出器3は互いに熱的に結合されるので、それぞれの中空構造体の温度は同じになる。その値は、これらが熱的に独立している場合に4つの中空構造体がとる温度の、ほぼ平均値になる。他の構成および動作は、実施の形態1と同じであるので、その説明は繰り返さない。
この実施の形態2では、実施の形態1に比較して、1画素当たりの赤外線吸収傘27の面積が大きくなる。そのため、1画素当りの赤外光の受光量が増大し、熱画像の温度分解能が向上する。
[実施の形態3]
図7は、この発明の実施の形態3による2波長イメージセンサの要部を示す平面図である。図7において、この2波長イメージセンサでは、熱赤外光検出用画素5は、3行3列に配置された9個の非冷却型赤外光検出器3と、9個の赤外光検出器3を電気的に直列接続する8本の金属配線4を含んで構成される。各非冷却型赤外光検出器3は、1個のSOIダイオード3aを含む。各熱赤外光検出用画素5の行に対応して水平選択線8が設けられ、各熱赤外光検出用画素5の列に対応して垂直信号線9が設けられる。したがって、熱赤外光検出用画素5は、電気的には水平選択線8と垂直信号線9との間に直列接続された9個のSOIダイオードで構成される。なお、図7では、可視光検出器1用の配線などは図示していないが、他の構成および撮像動作については実施の形態1と同様である。
この実施の形態3では、可視光画像の1画素は1つの可視光検出器1で構成され、熱赤外光画像の1画素は9個の赤外光検出器3で構成されるため、各々の検出器を等数ずつ均等配置した場合には可視光画像の解像度は熱画像の解像度の9倍になる。したがって、実施の形態1と比較して、可視光画像と熱赤外光画像との解像度の比をさらに大きくすることができる。また、熱赤外光画像の1画素を9個の赤外光検出器3の直列接続体で構成したので、検出器3を1個だけ用いる場合に比較して1画素あたりの赤外光の受光面積を9倍に高めることができ、熱画像の温度分解能がさらに向上する。
また、赤外光検出器3に含まれるSOIダイオード3aの個数が少なくなった分だけ赤外光検出器3のサイズを縮小できるので、赤外光検出器3のサイズ縮小分だけ可視光検出器1の配列ピッチを短縮することにより、チップサイズの小型化を図ることができる。したがって、1ウェハ当たりの理論チップ数を増加させることができ、低コスト化を図ることができる。また、可視光検出器1の配列ピッチを短縮した分だけ検出器数を増やすことにより、チップ全体の画素数を増加させて解像度を高めることができる。また、赤外光検出器3のサイズ縮小分だけ可視光検出器1の受光面積を拡大することにより、可視光検出器1の高感度化を図ることができる。
[実施の形態4]
図8は、この発明の実施の形態4による2波長イメージセンサの要部を示す平面図であって、図7と対比される図である。図8において、この2波長イメージセンサでは、図7の2波長イメージセンサと同様に、熱赤外光検出用画素5は、直列接続された9個の赤外光検出器3で構成される。また、熱赤外光検出用画素5を構成する9個の赤外光検出器3のそれぞれに、赤外線吸収傘27が独立して形成される。ここで、3行3列に配置された9個の赤外光検出器3のうちの中央に位置する赤外線検出器3の赤外線吸収傘27は、周辺に位置する他の赤外線検出器3の赤外線吸収傘27に比べて、面積が広くなるように形成される。他の構成および撮像動作については実施の形態1に示した2波長イメージセンサと同様である。
この実施の形態4では、3行3列に配置された9個の赤外光検出器3のうち、中央の赤外光検出器3の感度が相対的に周辺の検出器3よりも高くなり、1画素内の検出感度が画素中心に重きをおいた分布になる。したがって、熱画像のMTF(Modulation Transfer Function)が向上する。
[実施の形態5]
図9は、この発明の実施の形態5による2波長イメージセンサの要部を示す平面図であって、図7と対比される図である。図9において、この2波長イメージセンサでは、図7の2波長イメージセンサと同様に、熱赤外光検出用画素5は、直列接続された9個の赤外光検出器3で構成される。また、熱赤外光検出用画素5を構成する9個の赤外光検出器3のそれぞれに、赤外線吸収傘27が独立して形成される。9個の赤外光検出器3の赤外線吸収傘27は同じ大きさである。ここで、3行3列に配置された9個の赤外光検出器3のうちの中央に位置する赤外線検出器3には直列接続された2つのSOIダイオード3aが形成され、周辺に位置する他の赤外線検出器3にはSOIダイオード3aが1個ずつ形成される。他の構成および撮像動作については実施の形態1に示した2波長イメージセンサと同様である。
この実施の形態5では、3行3列に配置された9個の赤外光検出器3のうちの中央の赤外光検出器3の感度が相対的に周辺の検出器3よりも高くなり、1画素内の検出感度が画素中心に重きをおいた分布になる。したがって、熱画像のMTFが向上する。
[実施の形態6]
図10は、この発明の実施の形態6による2波長イメージセンサの要部を示す平面図である。図10において、この2波長イメージセンサでは、熱赤外光検出用画素5は、被写体からの熱赤外光を検出するための赤外光検出部5aと、基板温度を検出するための基板温度検出部5bとを含む。各熱赤外光検出用画素5の行に対応して水平選択線8が設けられ、各赤外光検出部5aの列に対応して垂直信号線9aが設けられ、各基板温度検出部5bの列に対応して垂直信号線9bが設けられる。
赤外光検出部5aは、4行2列に配置された8個の非冷却型赤外光検出器3と、8個の赤外光検出器3を電気的に直列接続する7本の金属配線4を含んで構成される。各赤外光検出器3には、1つのSOIダイオード3aが形成されている。赤外光検出部5aは、電気的には水平選択線8と垂直信号線9aとの間に直列接続された8個のSOIダイオード3aで構成される。
同様に基板温度検出部5bは、4行2列に配置された8個の非冷却型赤外光検出器31と、8個の赤外光検出器31を電気的に直列接続する7本の金属配線4を含んで構成される。各赤外光検出器31には、1つのSOIダイオード31aが形成されている。赤外光検出部5aは、電気的には水平選択線8と垂直信号線9aとの間に直列接続された8個のSOIダイオード31aで構成される。
図11は、隣接する熱赤外光検出用の赤外光検出器3と基板温度検出用の赤外光検出器31の構成を示す断面図である。図11において、熱赤外光検出用の赤外検出器3では、SOIダイオード3aが形成されたSOI層25の下方のバルクシリコン21が除去されて空隙26が形成されている。これに対して基板温度検出用の赤外光検出器31では、SOIダイオード31aが形成されたSOI層25の下方に空隙26が形成されていない。したがって、赤外光検出器3は中空断熱構造となっているため、その出力電位は、入射光量と基板温度に応じて変化する。一方、赤外光検出器31は中空断熱構造となっていないため、その出力電位は、入射赤外光量によらず基板温度のみによって変化する。
図12は、この2波長イメージセンサの読出回路を示すブロック図である。図12において、各熱赤外光検出用画素5の列に対応して差動増幅回路32が設けられ、各列の垂直信号線9a,9bは対応の差動増幅回路32に接続され、差動増幅回路32の出力端はコラムアンプ群等で構成される信号処理回路15および水平走査回路16に接続される。さらに信号処理回路15端には、赤外光用の出力アンプ17が接続される。差動増幅回路32は、垂直信号線9a,9bの電位差を出力する。
次に、この2波長イメージセンサの動作について説明する。可視光画像の撮像動作は、実施の形態1と同様であるので省略する。熱赤外光画像の撮像動作は以下のようになる。イメージセンサに熱赤外光が入射すると、熱赤外光検出用の赤外光検出器3は中空断熱構造となっているため、直列接続された8個の赤外光検出器3の出力電位すなわち赤外光検出部5aの出力電位は、入射光量と基板温度に応じて変化する。
一方、基板温度検出用の赤外光検出器31は中空断熱構造となっていないため、直列接続された8個の赤外光検出器31の出力電位すなわち基板温度検出部5bの出力電位は、入射赤外線量によらず基板温度のみによって変化する。したがって、垂直走査回路14および水平走査回路16の選択動作によって得られる画素5の出力には、差動増幅回路32の作用により、基板温度による出力変化分が相殺されて、入射赤外光量に応じた電位変動だけが現れる。この差動読出し以外の熱画像撮像動作については、実施の形態1と同様である。
この実施の形態6では、可視光画像の1画素は1個の可視光検出器1で構成され、熱赤外光画像の1画素は合計16個の赤外光検出器で構成されるため、各々の検出器を等数ずつ均等配置した場合には可視光画像は熱画像に比較して16倍の画像解像度を有することとなる。また、差動読出しにより基板の温度変動を相殺するので、素子の温度を一定に制御するためのペルチェ回路などが不要になり、システムの小型化および低コスト化を図ることができる。
また、従来のSOIダイオード方式の赤外イメージセンサでは、水平選択線8や垂直信号線9の配線抵抗の影響が2次元アレイ上の座標によって異なってくるため、イメージセンサの出力には2次元的なオフセット分布が発生する。しかし、この実施の形態6では、赤外光検出部5aと基板温度検出部5bが隣接しているため、差動読出しによって水平選択線8や垂直信号線9の配線抵抗の影響も相殺される。
なお、この実施の形態6では、中空構造にしないことにより、基板温度検出用の赤外光検出器31の入射赤外光に対する検出感度を0にしたが、中空構造の支持脚の熱コンダクタンスを十分に大きくすることにより、検出感度を低くしてもよい。この場合、基板の温度変動による出力変化分を相殺できるだけでなく、画素への通電時の自己発熱による温度変動の影響も低減することができる。
なお、以上の実施の形態1〜6では、熱赤外光検出用画素6を構成する赤外光検出器3の個数が4個、9個、16個の場合について示したが、複数個で構成するのであればその個数は任意である。
また、赤外光検出器3としてSOIダイオード方式の非冷却型検出器を用いる場合について示したが、ボロメータ方式の非冷却型赤外光検出器を用いる場合についても同様である。ボロメータ方式の非冷却型赤外光検出器は、赤外光の入射光量に応じて抵抗値が変化するボロメータを含む。実施の形態5では、赤外光検出用画素5の9個の非冷却型赤外光検出素子3のうちの中心に位置する赤外光検出素子3のSOIダイオード3aの数を周囲の赤外光検出素子3のSOIダイオード3aの数よりも大きくしたが、赤外光検出用画素5の9個の非冷却型赤外光検出素子3のうちの中心に位置する赤外光検出素子3のボロメータの抵抗値を周囲の赤外光検出素子3のボロメータの抵抗値よりも大きくしても、同じ効果が得られる。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
この発明の実施の形態1による2波長イメージセンサの構成を示す平面図である。 図1に示した可視光検出用画素および赤外光検出器の構成を示す断面図である。 図2に示した赤外線吸収傘のレイアウトを示す平面図である。 実施の形態1の変更例を示す平面図である。 この発明の実施の形態2による2波長イメージセンサの要部を示す平面図である。 図5に示した隣接する2つの赤外光検出器の構成を示す断面図である。 この発明の実施の形態3による2波長イメージセンサの要部を示す平面図である。 この発明の実施の形態4による2波長イメージセンサの要部を示す平面図である。 この発明の実施の形態5による2波長イメージセンサの要部を示す平面図である。 この発明の実施の形態6による2波長イメージセンサの要部を示す平面図である。 図10に示した隣接する2つの赤外光検出器の構成を示す断面図である。 図10に示した2波長イメージセンサの読出回路を示すブロック図である。
符号の説明
1 可視光検出器、2 可視光検出用画素、3,31 非冷却型赤外光検出器、3a,31a SOIダイオード、4 金属配線、5 熱赤外光検出用画素、5a 赤外光検出部、5b 基板温度検出部、6,8 水平選択線、7,9 垂直信号線、11,15 信号処理回路、12,14 垂直走査回路、12,16 水平走査回路、13,17 出力アンプ、20 読出回路、21 バルクシリコン、22 フィールド酸化膜、23 誘電体膜、24 BOX酸化膜、25 SOI層、26 空隙、27 赤外線吸収傘、28 中空構造体、29 トレンチ分離酸化膜、30 フィールド酸化膜、33 差動増幅回路。

Claims (10)

  1. 可視光画像と赤外光画像の両方を撮像する2波長イメージセンサであって、
    均一に分散配置された複数の可視光検出器および複数の非冷却型赤外光検出器を含む検出器アレイを備え、
    各可視光検出器は前記可視光画像の1画素を構成し、
    前記複数の非冷却型赤外光検出器はN個(ただし、Nは2以上の整数である)ずつグループ化され、各グループに属するN個の非冷却型赤外光検出器は直列接続されて前記赤外光画像の1画素を構成していることを特徴とする、2波長イメージセンサ。
  2. 各非冷却型赤外光検出器はSOIダイオード方式であることを特徴とする、請求項1に記載の2波長イメージセンサ。
  3. 各非冷却型赤外光検出器は、直列接続された1または2以上のSOIダイオードを含み、
    各グループに属するN個の非冷却型赤外光検出器の中心に位置する非冷却型赤外光検出器のSOIダイオードの数は、そのグループの他の非冷却型赤外光検出器のSOIダイオードの数よりも大きいことを特徴とする、請求項2に記載の2波長イメージセンサ。
  4. 各非冷却型赤外光検出器はボロメータ方式であることを特徴とする、請求項1に記載の2波長イメージセンサ。
  5. 各非冷却型赤外光検出器はボロメータを含み、
    各グループに属するN個の非冷却型赤外光検出器の中心に位置する非冷却型赤外光検出器のボロメータの抵抗値は、そのグループの他の非冷却型赤外光検出器のボロメータの抵抗値よりも大きいことを特徴とする、請求項4に記載の2波長イメージセンサ。
  6. 各非冷却型赤外光検出器は赤外線吸収傘を含み、
    各グループに属するN個の非冷却型赤外光検出器の赤外線吸収傘は互いに熱的に結合されていることを特徴とする、請求項1から請求項5までのいずれかに記載の2波長イメージセンサ。
  7. 各非冷却型赤外光検出器は赤外線吸収傘を含み、
    各赤外線吸収傘は他の赤外線吸収傘と熱的に独立して設けられ、
    各グループに属するN個の非冷却型赤外光検出器の中心に位置する非冷却型赤外光検出器の赤外線吸収傘の面積は、そのグループの他の非冷却型赤外光検出器の赤外線吸収傘の面積よりも大きいことを特徴とする、請求項1から請求項5までのいずれかに記載の2波長イメージセンサ。
  8. 可視光画像と赤外光画像の両方を撮像する2波長イメージセンサであって、
    均一に分散配置された複数の可視光検出器および複数の非冷却型赤外光検出器を含む検出器アレイを備え、
    各可視光検出器は前記可視光画像の1画素を構成し、
    前記複数の非冷却型赤外光検出器は2N個(ただし、Nは2以上の整数である)ずつグループ化され、各グループは前記赤外光画像の1画素を構成し、
    各グループに属する2N個の非冷却型赤外光検出器はN個ずつ第1および第2のサブグループに分割され、前記第1のサブグループに属するN個の非冷却型赤外光検出器は直列接続されて赤外光検出部を構成し、前記第2のサブグループに属するN個の非冷却型赤外光検出器は直列接続されて基板温度検出部を構成し、前記第1のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器の赤外光検出感度は前記第2のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器の赤外光検出感度よりも高く、
    さらに、前記赤外光検出部の出力信号のレベルから前記基板温度検出部の出力信号のレベルを減算して対応の画素の出力信号を生成する減算手段を備えることを特徴とする、2波長イメージセンサ。
  9. 前記第1のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器を中空断熱構造とするとともに前記第2のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器を中空断熱構造としないことにより、前記第1のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器の赤外光検出感度を前記第2のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器の赤外光検出感度よりも高くしたことを特徴とする、請求項8に記載の2波長イメージセンサ。
  10. 各非冷却型赤外光検出器を中空断熱構造とし、前記第1のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器の支持脚の熱コンダクタンスを前記第2のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器の支持脚の熱コンダクタンスよりも小さくすることにより、前記第1のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器の赤外光検出感度を前記第2のサブグループに属する非冷却型赤外光検出器の赤外光検出感度よりも高くしたことを特徴とする、請求項8に記載の2波長イメージセンサ。
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008204978A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Mitsubishi Electric Corp 撮像素子
JP2009216558A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Oki Semiconductor Co Ltd 赤外線検出素子の製造方法
WO2009148054A1 (ja) * 2008-06-06 2009-12-10 浜松ホトニクス株式会社 固体撮像装置
JP2010008093A (ja) * 2008-06-24 2010-01-14 Toshiba Corp 赤外線撮像装置および赤外線撮像方法
JP2010008092A (ja) * 2008-06-24 2010-01-14 Toshiba Corp 赤外線撮像装置および赤外線撮像方法
JP2010032410A (ja) * 2008-07-30 2010-02-12 Toshiba Corp イメージセンサおよびその製造方法
JP2010507806A (ja) * 2006-10-24 2010-03-11 レイセオン カンパニー 非冷却lwir検出器に組み合わされた可視すなわちswir検出器を有するデュアル・バンド撮像装置
JP4516625B1 (ja) * 2009-08-11 2010-08-04 正幸 安部 電子装置
JP2011123024A (ja) * 2009-12-14 2011-06-23 Kodenshi Corp 光センサ
JP2012004540A (ja) * 2010-05-20 2012-01-05 Sony Corp 固体撮像装置及びその製造方法並びに電子機器
JP2012114439A (ja) * 2010-11-23 2012-06-14 Raytheon Co 積層された読み出し集積回路を用いる検出器アレイの信号の処理
JP2014239416A (ja) * 2013-05-10 2014-12-18 キヤノン株式会社 固体撮像装置およびカメラ
US9129880B2 (en) 2013-03-18 2015-09-08 Fujitsu Limited Imaging device
JP2018152921A (ja) * 2013-05-10 2018-09-27 キヤノン株式会社 固体撮像装置およびカメラ
WO2021106964A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03 株式会社サタケ 光学式選別機
JP7396554B1 (ja) 2023-06-12 2023-12-12 三菱電機株式会社 撮像装置

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2918449B1 (fr) * 2007-07-02 2010-05-21 Ulis Dispositif de detection de rayonnement infrarouge a detecteurs bolometriques
US8153986B2 (en) * 2007-07-09 2012-04-10 Lawrence Livermore National Security, Llc Hybrid Compton camera/coded aperture imaging system
JP5175136B2 (ja) * 2008-05-22 2013-04-03 株式会社ジャパンディスプレイウェスト 電気光学装置及び電子機器
FR2966976B1 (fr) * 2010-11-03 2016-07-29 Commissariat Energie Atomique Imageur monolithique multispectral visible et infrarouge
US20120150451A1 (en) * 2010-12-13 2012-06-14 Halliburton Energy Services, Inc. Optical Computation Fluid Analysis System and Method
DE102011011767A1 (de) * 2011-02-18 2012-08-23 Fresenius Medical Care Deutschland Gmbh Medizintechnisches Gerät mit Mehrfunktionsdisplay
US9013620B2 (en) 2011-04-20 2015-04-21 Trw Automotive U.S. Llc Multiple band imager and method
EP2530442A1 (en) * 2011-05-30 2012-12-05 Axis AB Methods and apparatus for thermographic measurements.
FR2999338B1 (fr) * 2012-12-10 2017-12-08 Soc Fr De Detecteurs Infrarouges - Sofradir Imageur monolithique multispectral visible et infrarouge
JP6308760B2 (ja) * 2012-12-20 2018-04-11 キヤノン株式会社 光電変換装置および光電変換装置を有する撮像装置
DE102013021519A1 (de) 2013-12-12 2015-06-18 Connaught Electronics Ltd. Bilderfassungseinrichtung mit einem Bildsensor und einem thermischen Infrarotsensor sowie Kraftfahrzeug mit einer Bilderfassungseinrichtung
US20150287766A1 (en) * 2014-04-02 2015-10-08 Tae-Chan Kim Unit pixel of an image sensor and image sensor including the same
WO2015178509A1 (ko) * 2014-05-19 2015-11-26 삼성전자 주식회사 이종 화소 구조를 갖는 이미지 센서
CN104463112B (zh) * 2014-11-27 2018-04-06 深圳市科葩信息技术有限公司 一种采用rgb+ir图像传感器进行生物识别的方法及识别系统
JP6395169B2 (ja) * 2015-04-20 2018-09-26 シャープ株式会社 集積回路、及び測定装置
CN105043993A (zh) * 2015-07-14 2015-11-11 国网山东省电力公司电力科学研究院 一种基于多光谱的复合绝缘子检测方法
US9911023B2 (en) * 2015-08-17 2018-03-06 Hand Held Products, Inc. Indicia reader having a filtered multifunction image sensor
CN105185802B (zh) * 2015-08-31 2018-05-01 上海集成电路研发中心有限公司 单芯片可见光红外混合成像探测器像元结构及制备方法
US10378957B2 (en) * 2016-09-13 2019-08-13 Safe-Fire Technology LLC System and method for measuring coal burner flame temperature profile using optical device
JP6939000B2 (ja) * 2017-03-23 2021-09-22 株式会社Jvcケンウッド 撮像装置及び撮像方法
FR3082385B1 (fr) * 2018-06-08 2021-05-14 Ulis Dispositif et procede de compensation de chaleur parasite dans une camera infrarouge
CN110132428B (zh) * 2019-06-13 2020-05-22 无锡物联网创新中心有限公司 Mems传感器热学参数测试电路及测试方法
US11496697B2 (en) 2020-02-28 2022-11-08 Samsung Electronics Co., Ltd. LWIR sensor with capacitive microbolometer and hybrid visible/LWIR sensor
US20230301546A1 (en) * 2020-08-12 2023-09-28 Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Imaging human respiratory gas patterns to determine volume, rate and carbon dioxide concentration

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001215152A (ja) * 2000-02-03 2001-08-10 Mitsubishi Electric Corp 赤外線固体撮像素子
JP2001309122A (ja) * 2000-04-26 2001-11-02 Denso Corp 赤外線イメージセンサ
JP2003017672A (ja) * 2001-07-04 2003-01-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子デバイス,その製造方法,カメラ及び車両
JP2005521034A (ja) * 2002-02-02 2005-07-14 キネティック リミテッド 再構成可能検出器アレイ

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4679068A (en) * 1985-07-25 1987-07-07 General Electric Company Composite visible/thermal-infrared imaging system
US5093563A (en) * 1987-02-05 1992-03-03 Hughes Aircraft Company Electronically phased detector arrays for optical imaging
GB8915982D0 (en) * 1989-07-12 1990-04-25 Pilkington Perkin Elmer Ltd Imaging device
JPH11289492A (ja) 1999-01-22 1999-10-19 Nec Corp ショットキ障壁型固体撮像素子およびこれを用いた撮像装置
US6307194B1 (en) * 1999-06-07 2001-10-23 The Boeing Company Pixel structure having a bolometer with spaced apart absorber and transducer layers and an associated fabrication method
US7075079B2 (en) 2001-06-27 2006-07-11 Wood Roland A Sensor for dual wavelength bands
DE10335190A1 (de) 2003-07-30 2005-03-03 Daimlerchrysler Ag Sensoranordnung mit einer Mehrzahl von Typen optischer Sensoren
JP4578797B2 (ja) * 2003-11-10 2010-11-10 パナソニック株式会社 撮像装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001215152A (ja) * 2000-02-03 2001-08-10 Mitsubishi Electric Corp 赤外線固体撮像素子
JP2001309122A (ja) * 2000-04-26 2001-11-02 Denso Corp 赤外線イメージセンサ
JP2003017672A (ja) * 2001-07-04 2003-01-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子デバイス,その製造方法,カメラ及び車両
JP2005521034A (ja) * 2002-02-02 2005-07-14 キネティック リミテッド 再構成可能検出器アレイ

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010507806A (ja) * 2006-10-24 2010-03-11 レイセオン カンパニー 非冷却lwir検出器に組み合わされた可視すなわちswir検出器を有するデュアル・バンド撮像装置
JP4677044B2 (ja) * 2006-10-24 2011-04-27 レイセオン カンパニー 非冷却lwir検出器に組み合わされた可視すなわちswir検出器を有するデュアル・バンド撮像装置
JP2008204978A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Mitsubishi Electric Corp 撮像素子
JP2009216558A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Oki Semiconductor Co Ltd 赤外線検出素子の製造方法
WO2009148054A1 (ja) * 2008-06-06 2009-12-10 浜松ホトニクス株式会社 固体撮像装置
JP2010008093A (ja) * 2008-06-24 2010-01-14 Toshiba Corp 赤外線撮像装置および赤外線撮像方法
JP2010008092A (ja) * 2008-06-24 2010-01-14 Toshiba Corp 赤外線撮像装置および赤外線撮像方法
JP2010032410A (ja) * 2008-07-30 2010-02-12 Toshiba Corp イメージセンサおよびその製造方法
JP4516625B1 (ja) * 2009-08-11 2010-08-04 正幸 安部 電子装置
JP2011040585A (ja) * 2009-08-11 2011-02-24 Masayuki Abe 電子装置
JP2011123024A (ja) * 2009-12-14 2011-06-23 Kodenshi Corp 光センサ
JP2012004540A (ja) * 2010-05-20 2012-01-05 Sony Corp 固体撮像装置及びその製造方法並びに電子機器
JP2012114439A (ja) * 2010-11-23 2012-06-14 Raytheon Co 積層された読み出し集積回路を用いる検出器アレイの信号の処理
US9129880B2 (en) 2013-03-18 2015-09-08 Fujitsu Limited Imaging device
JP2014239416A (ja) * 2013-05-10 2014-12-18 キヤノン株式会社 固体撮像装置およびカメラ
US9978792B2 (en) 2013-05-10 2018-05-22 Canon Kabushiki Kaisha Solid-state image sensor and camera which can detect visible light and infrared light at a high S/N ratio
JP2018152921A (ja) * 2013-05-10 2018-09-27 キヤノン株式会社 固体撮像装置およびカメラ
US10475833B2 (en) 2013-05-10 2019-11-12 Canon Kabushiki Kaisha Solid-state image sensor and camera which can detect visible light and infrared light at a high S/N ratio
WO2021106964A1 (ja) * 2019-11-29 2021-06-03 株式会社サタケ 光学式選別機
JP7354802B2 (ja) 2019-11-29 2023-10-03 株式会社サタケ 光学式選別機
JP7396554B1 (ja) 2023-06-12 2023-12-12 三菱電機株式会社 撮像装置

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