JP2007317358A - 光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法を提供すること。
【解決手段】光ディスク表面の機械的耐久性検査装置は、スクラッチを発生させるために光ディスク（３０）が固定され、固定した光ディスク（３０）を回転させる回転板（２０）と、回転板（２０）に対して垂直に配置され、光ディスク（３０）の表面に接触して光ディスク（３０）の表面にスクラッチを発生させる複数の摩耗輪（１０）とを含み、摩耗輪（１０）から発生する予め定められた荷重を光ディスク（３０）上に印加するために、光ディスク（３０）が予め定められた回転数、例えば、１０回転未満の回転数だけ回転したとき、スクラッチは発生する。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ディスクの品質を検査する装置及び方法に関するもので、より詳しくは、検査ディスクと同一種類の光ディスクにおける表面の機械的耐久性を検査する装置及び方法に関するものである。

現在まで、磁気記録テープ、光ディスクとしてのレーザーディスク（ＬＤ）またはコンパクトディスク（ＣＤ）、及び、新たに開発された大きな記録容量を有するデジタルビデオディスク（ＤＶＤ）などの記録媒体が用いられている。

記録媒体のうち光ディスクは、従来の記録方式、すなわち、磁気記録方式とは異なるデジタル記録方式を用いており、その体積及び重量が非常に小さいため、携帯したり保管したりするのに、便利かつ効率的である。したがって、最近は、消費者たちは光ディスクを好む趨勢にある。

しかし、いかなる機器も欠陥なく用いられるべきであり、これら機器の品質に問題がある場合、製造者に対する消費者の信頼が低下することになる。

これは、微細な信号特性を有する光ディスクにおいて一層深刻な問題を引き起こし、製品の製造中に、スクラッチ、変形、指紋及び異物質の付着によって発生する品質の低下を招くことになる。

したがって、製造される光ディスクは、後続工程としての品質検査を受けた後、光ディスク市場に出荷される。

一般に、従来の光ディスク品質検査は、４段階からなる測定段階によって行われる。

まず、同一設備によって製造された光ディスクの特性は同一であると仮定して、製造者は製造された全ての光ディスクから任意の光ディスクを選択し、この選択された光ディスクを測定システム上に取り付ける。

最初の測定段階では、光ディスクから再生される信号を用いて、高周波信号及びジッターが測定される。

２番目の測定段階では、光ディスクから再生された信号に基づいて、サーボ信号（フォーカシングエラー信号及びトラッキングエラー信号）が測定される。

３番目の測定段階では、品質検査が行われる光ディスクの機械的特性が測定される。

最後に、４番目の測定段階では、光ディスクの光学的特性が測定される。

上述したように、従来の光ディスクの品質検査にしたがって、情報記録の精度と、光ディスクの機械的特性及び光学的特性とを検査する。

高密度光ディスクを使用する間に、情報記録/再生レーザービームの入射表面に発生し得る機械的損傷、すなわち、スクラッチなどが光ディスクの信号劣化及びデータ損失を引き起こし、さらに悪い状況では、光ディスク上に情報を記録すること、及び/または、光ディスクから情報を再生することができなくなるため、この損傷は、光ディスクの品質検査において最も重要な部分を占めることになる。

したがって、上記の問題を防止するために、保護コーティングを形成して、光ディスク表面の機械的剛性または硬度を向上させることができる。

しかしながら、上記の目的のために光ディスクの表面上に保護コーティングを形成した後、この保護コーティングの機械的特性を定量化しなければならない。すなわち、光ディスクを使用する間に発生するスクラッチに対して、保護コーティングがどれくらいの時間持続するかを定量化する必要がある。

高密度光ディスクの表面耐久性（surface-proof）を定量化するための検査には、鉛筆硬度検査（pencil hardness test）及びテーバー摩耗検査（taber abrasion test）がある。

鉛筆硬度検査は、光ディスクと硬度の異なる鉛筆を直線運動する状態で光ディスクに接触させることによってスクラッチが発生する瞬間の鉛筆の硬度と一致する硬度値をもってスクラッチを推定する推定方法である。

しかし、鉛筆硬度検査は、人が光ディスク表面に鉛筆を接触させることによってスクラッチを発生させる検査であるため、継続して同一の荷重を維持するのが難しいという欠点がある。さらに、所望の数のスクラッチが発生しないため、定量化スクラッチ（quantization scratch）を発生させるのが難しいという欠点もある。

テーバー摩耗検査は、摩耗輪の一種を用いるものであって、米国材料試験学会（ＡＳＴＭ）のＤ１００４標準方法を用いて、予め定められた荷重を印加する間に、光ディスクの表面を均一に摩耗させることによって耐久性の程度を推定する検査である。

従来のテーバー摩耗検査装置においては、スクラッチが発生することになる光ディスクが取り付けられて、回転されると、予め定められた重量を有する複数の摩耗輪が光ディスクと垂直の状態で光ディスクに接触するので、光ディスクが少なくとも１０回転、またはそれより多い回転数だけ回転する間、一定の荷重によって光ディスクの表面にスクラッチが発生する。

米国材料試験学会（ＡＳＴＭ）は、摩耗輪から発生する荷重を９．８Ｎ（１０００ｇｆ）未満に規定していて、摩耗輪には、ＣＳ−１０Ｆ、ＣＳ−１０及びＣＳ−１７などの複数の種類の摩耗輪が用いられる。

上記の構成を有するテーバー摩耗検査装置は、光ディスクにスクラッチを発生させることによって光ディスク表面の機械的耐久性を検査するために設計された機器ではなく、一般的なプラスチック製品のスクラッチの程度を検査するために設計された機器である。

したがって、テーバー摩耗検査装置によって発生するスクラッチは、光ディスクが実生活で用いられるときに発生するスクラッチとは著しく異なる。

すなわち、テーバー摩耗検査装置は、表面を摩耗させることによって光ディスク表面の耐久性を判定する。これは、動作に応答することによって光ディスクを駆動するためのドライブ（例えば、光ディスクドライブ）内で実際に発生したスクラッチが反応する状況とは著しく異なる。

したがって、製造者は、テーバー摩耗検査装置によって光ディスクの品質が不良であるか、または、良好であるかを判定するとき、実際の参照基準にしたがう定量的分類（quantitative classification）ではなく、経験に基づくノウハウによる相対的な判断によって光ディスクの品質を判定するため、多くのエラーが発生する。さらに、実生活で光ディスク上に発生するスクラッチと、テーバー摩耗検査装置によって光ディスク上に発生するスクラッチとは、その形状が互いに異なるため、絶対的な基準値なしにノウハウのみによって光ディスクが不良であるか、または、良好であるかを判定しようとすると、多くのエラーが発生するようになる。

前述したように、現在まで、光ディスク表面の機械的耐久性を検査するためにスクラッチの発生程度を定量化する特別な方法がなかったため、スクラッチの程度を定量化することが早急に求められている。

上記に鑑みて、本発明は、従来技術の制限及び欠点に起因する一つまたは複数の問題点を事実上除去する光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法に関するものである。

本発明の目的は、機械的耐久性の特性を定量化することによって光ディスク表面の機械的な特性を向上させる、光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法を提供することにある。

本発明の別の目的は、信頼性を向上させるとともに、検査コストを節減する、光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法を提供することにある。

本発明のさらに別の目的は、実現可能な絶対基準値を設定することによって、光ディスクの品質が良好であるか、または、不良であるかを迅速かつ正確に検査して判定する、光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法を提供することにある。

本発明のさらに別の目的は、実生活で発生するスクラッチと類似した種類のスクラッチを発生させることによって、光ディスク表面の機械的耐久性を検査するときの信頼性を向上させる、光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法を提供することにある。

本発明のさらに別の目的は、光ディスクの表面にスクラッチを発生させた後、情報を記録する書き換え型ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ−ＲＥｗｒｉｔａｂｌｅ：ＢＤ−ＲＥ）及び追記型ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ−Ｗｒｉｔｅ Ｏｎｃｅ：ＢＤ−ＷＯ）などの光ディスクの表面の機械的耐久性を検査するときの信頼性を向上させる、光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法を提供することにある。

本発明のさらなる利点、目的及び特徴は、以下の記載においてその一部が説明されており、これらの一部は、以下の記載を検証する際に当業者には明らかになり、または、本発明を実施することにより確認することができる。また、本発明の目的及びその他の利点は、記載した説明及び特許請求の範囲、並びに添付の図面において特に指摘した構成によって達成することができる。

本明細書において具体化され、広範に説明される、上記の目的及びその他の利点を達成するための、本発明の目的にしたがう光ディスク表面のスクラッチ耐久性検査装置は、光ディスクが取り付けられて、光ディスクを回転させる回転板と、光ディスクの表面に接触して、光ディスクの表面にスクラッチを発生させる複数の摩耗輪とを含み、摩耗輪が光ディスク上に予め定められた荷重を印加しながら、光ディスクが予め定められた回転数だけ回転する間に、スクラッチは発生し、その装置は、光ディスクの表面上に発生したスクラッチからのジッター値と、予め定められたジッター値とを比較することによって、光ディスクが予め定められた耐久性を有するかどうかを判定する。

ここで、光ディスクは、書き換え型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＥ）、追記型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＷＯ）及び読み取り専用ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ：ＢＤ−ＲＯ）のうち何れか一つのディスクの形態をとる。

また、光ディスク上に印加される摩耗輪の荷重は、０．４９Ｎ（５０ｇｆ）乃至７．３５Ｎ（７５０ｇｆ）の範囲にある。

また、光ディスクの表面上に発生するスクラッチは、０μｍ乃至２μｍの深さを有し、摩耗輪は、ＣＳ−１０Ｆ、ＣＳ−１０及びＣＳ−１７のうち何れか一つでなる。

ここで、ＣＳ−１０Ｆの摩耗輪を使用して、０．４９Ｎ（５０ｇｆ）乃至２．４５Ｎ（２５０ｇｆ）の荷重が光ディスクの表面上に印加される間、光ディスクが予め定められた回転数、例えば１０回転未満の回転数だけ回転したときに、スクラッチが発生する。または、ＣＳ−１０の摩耗輪を使用して、１．４７Ｎ（１５０ｇｆ）乃至４．４１Ｎ（４５０ｇｆ）の荷重が光ディスクの表面上に印加される間、光ディスクが１０回転未満の回転数だけ回転したときに、スクラッチが発生する。または、ＣＳ−１７の摩耗輪を使用して、２．４５Ｎ（２５０ｇｆ）乃至７．３５Ｎ（７５０ｇｆ）の荷重が光ディスクの表面上に印加される間、光ディスクが１０回転未満の回転数だけ回転したときに、スクラッチが発生する。

本発明の別の態様においては、光ディスク表面のスクラッチ耐久性検査方法は、予め定められた荷重を伴う複数の摩耗輪を光ディスクの表面に接触させる接触段階と、光ディスクが予め定められた回転数だけ回転するまで、光ディスクと摩耗輪との間の接触を維持する維持段階と、光ディスク上に記録された情報を再生する信号から得られるジッター値を測定することによって、光ディスクが予め定められた耐久性を有するかどうかを判定する判定段階とを含む。

本発明のさらに別の態様においては、光ディスク表面のスクラッチ耐久性検査方法は、光ディスクの表面にスクラッチを発生させるために、予め定められた荷重を伴う複数の摩耗輪を光ディスクの表面に接触させる接触段階と、光ディスク上に記録された情報を再生する信号から得られたジッター値と予め定められたジッター値とを比較する比較段階と、比較段階の結果に基づいて、光ディスクが予め定められた耐久性を有するかどうかを判定する判定段階とを含む。

本発明のさらに別の態様においては、検査が行われた光ディスクと同一の製造工程によって製造された光ディスクが提供される。

本発明のさらに別の態様においては、スクラッチに対して充分な耐久性を有するか、または、有さない入射表面（entrance surface）を有する情報記録媒体であって、情報記録媒体が充分な耐久性を有するかどうかを判定する検査によって検証され得る情報記録媒体、または、その検査によって検証されたディスクと同一種類の情報記録媒体が提供される。ここで、その検査は、情報記録媒体の表面にスクラッチを発生させるために、予め定められた荷重を伴う複数の摩耗輪を情報記録媒体の表面に接触させる接触段階と、情報記録媒体上に記録された情報を再生する信号から得られたジッター値と予め定められたジッター値とを比較する比較段階と、比較段階の結果に基づいて、情報記録媒体が予め定められた耐久性を有するかどうかを判定する判定段階とを含む。

本発明に関する、前述した概説及び後述する詳細な説明は、例示的かつ説明的なものであり、特許請求の範囲に記載した本発明に関してさらに深く説明するよう意図されていることを理解されたい。

添付の図面は、本発明の実施形態を例示するものであり、本記載と共に、本発明の原理を説明するのに役立つものである。これらの図面は、本発明をさらに深く理解できるよう本願に含められ、組み込まれるものであり、本願の一部を構成する。

以下、図面に例示される本発明の好ましい実施形態について詳細に説明する。可能な限り、図面全体において、同一または類似の要素に対しては同一の参照符号を付す。

図１は、本発明にしたがうテーバー摩耗検査装置を示す概略図である。

図１に示すように、光ディスク表面の機械的耐久性検査装置は、回転板２０と、複数の摩耗輪１０とを含む。スクラッチが発生することになる光ディスク３０が回転板２０上に取り付けられ、取り付けられた光ディスク３０が回転するようになる。また、複数の摩耗輪１０が回転板２０に対して垂直に配置されて、光ディスク３０に接触することで、光ディスク３０の表面にスクラッチが発生する。

光ディスクに接触する摩耗輪もまた、光ディスクの回転に応じて一方向に回転する。摩耗輪のうち一つは、他の摩耗輪と反対方向に回転する。

この状態で、摩耗輪１０から発生する予め定められた荷重を光ディスク３０上に引加するために、光ディスク３０が予め定められた回転数、例えば、１０回転未満の回転数だけ回転したとき、スクラッチが発生する。

光ディスク３０は、書き換え型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＥ）、追記型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＷＯ）、または、読み取り専用ブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＯ）とすることができる。

すなわち、光ディスク３０には、情報が記録されない光ディスク、情報が一回だけ記録される光ディスク、及び、情報が複数回記録される光ディスクのうち何れか一つのディスクを用いることができる。

また、摩耗輪１０から発生して光ディスク３０上に印加される荷重は、０．４９Ｎ（５０ｇｆ）乃至７．３５Ｎ（７５０ｇｆ）の範囲に維持されることが好ましい。

この場合、光ディスク３０の表面に発生するスクラッチは、０μｍ乃至２μｍの深さを有し得る。

また、摩耗輪１０には、ＣＳ−１０Ｆ、ＣＳ−１０及びＣＳ−１７のうち何れか一つを用いることができる。

本発明においてＣＳ−１０Ｆの摩耗輪を使用する条件下では、０．４９Ｎ（５０ｇｆ）乃至２．４５Ｎ（２５０ｇｆ）の荷重が光ディスクに印加され、光ディスクが１０回転未満の回転数だけ回転することによって、光ディスクの表面にスクラッチが発生するようになる。

本発明においてＣＳ−１０の摩耗輪を使用する条件下では、１．４７Ｎ（１５０ｇｆ）乃至４．４１Ｎ（４５０ｇｆ）の荷重が光ディスクに印加され、光ディスクが１０回転未満の回転数だけ回転することによって、光ディスクの表面にスクラッチが発生するようになる。

本発明においてＣＳ−１７の摩耗輪を使用する条件下では、２．４５Ｎ（２５０ｇｆ）乃至７．３５Ｎ（７５０ｇｆ）の荷重が光ディスクに印加され、光ディスクが１０回転未満の回転数だけ回転することによって、光ディスクの表面にスクラッチが発生するようになる。

以下、本発明にしたがう光ディスク表面の機械的耐久性検査方法について説明する。

図２は、本発明にしたがう、追記型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＷＯ）用光ディスクにおける表面の機械的耐久性を検査する方法を示すフローチャートである。

図２を参照すると、まず、光ディスクが回転板上に固定され、次いで回転板は光ディスクと共に回転する（Ｓ１０）。

次いで、摩耗輪は回転している光ディスクの表面に接触し（Ｓ２０）、光ディスクと摩耗輪との間の接触荷重が、予め設定されたレベルに増大する（Ｓ３０）。

このとき、摩耗輪から発生して光ディスクの表面に印加される荷重は、０．４９Ｎ（５０ｇｆ）乃至７．３５Ｎ（７５０ｇｆ）に維持されることが好ましい。

ＣＳ−１０Ｆの摩耗輪を使用する条件下では、０．４９Ｎ（５０ｇｆ）乃至２．４５Ｎ（２５０ｇｆ）の荷重が光ディスクの表面に印加される。ＣＳ−１０の摩耗輪を使用する場合、１．４７Ｎ（１５０ｇｆ）乃至４．４１Ｎ（４５０ｇｆ）の荷重が光ディスクの表面に印加される。ＣＳ−１７の摩耗輪を使用する場合、２．４５Ｎ（２５０ｇｆ）乃至７．３５Ｎ（７５０ｇｆ）の荷重が光ディスクの表面に印加される。

次いで、光ディスクが１０回転未満の回転数だけ回転するまで、光ディスクと摩耗輪との間の接触荷重が継続して維持され、それによって、光ディスクの表面にスクラッチが発生する。次いで、摩耗輪は、光ディスクの表面から離隔される（Ｓ４０）。

次いで、検査装置は、スクラッチのある光ディスク上に情報を記録し（Ｓ５０）、光ディスク上に記録された情報を再生する信号からジッター値を測定することによって、光ディスクの品質が良好であるか、または、不良であるかを判定する（Ｓ６０）。

図３は、本発明にしたがう、書き換え型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＥ）用光ディスクにおける表面の機械的耐久性を検査する方法を示すフローチャートである。

図３に示すように、まず、光ディスクが回転板上に固定され、次いで回転板２０は光ディスクと共に回転する（Ｓ１００）。

次いで、摩耗輪は回転している光ディスクの表面に接触し（Ｓ１０１）、光ディスクと摩耗輪との間の接触荷重が、予め設定されたレベルに増大する（Ｓ１０２）。

このとき、摩耗輪から発生して光ディスクの表面に印加される荷重は、０．４９Ｎ（５０ｇｆ）乃至７．３５Ｎ（７５０ｇｆ）に維持されることが好ましい。

次いで、光ディスクが１０回転未満の回転数だけ回転するまで、光ディスクと摩耗輪との間の接触荷重が継続して維持され、それによって、光ディスクの表面にスクラッチが発生する。次いで、摩耗輪１０は、光ディスクの表面から離隔される（Ｓ１０３）。

次いで、検査装置は、スクラッチのある光ディスク上に情報を記録し（Ｓ１０４）、光ディスクの情報記録回数が予め設定された情報記録回数と一致するかを判定する（Ｓ１０５）。

このとき、予め設定される情報記録回数は、１乃至１０００の範囲とすることができる。

光ディスクの情報記録回数が予め設定された情報記録回数と一致すると判定された場合、検査装置は、光ディスク上に記録された情報を再生する信号からジッター値を測定することによって、光ディスクの品質が良好であるか、または、不良であるかを判定する（Ｓ１０６）。

しかし、光ディスクの情報記録回数が予め設定された情報記録回数と一致しないと判定された場合、検査装置は、回転板によって光ディスクを回転させる工程段階を再び行う。

図４は、本発明にしたがう、読み取り専用ブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＯ）用光ディスクにおける表面の機械的耐久性を検査する方法を示すフローチャートである。

図４に示すように、まず、検査装置によって光ディスク上に情報が記録される（Ｓ２０１）。

次いで、検査装置は、情報が記録されている光ディスクを回転板に固定し、次いで回転板によって光ディスクを回転させる（Ｓ２０２）。

次いで、摩耗輪は回転している光ディスクの表面に接触し（Ｓ２０３）、光ディスクと摩耗輪との間の接触荷重が、予め設定されたレベルに増大する（Ｓ２０４）。

ここで、摩耗輪１０から発生して光ディスク３０上に印加される荷重は、０．４９Ｎ（５０ｇｆ）乃至７．３５Ｎ（７５０ｇｆ）に維持されることが好ましい。

次いで、光ディスクが１０回転未満の回転数だけ回転するまで、光ディスクと摩耗輪との間の接触荷重が継続して維持され、それによって、光ディスクの表面にスクラッチが発生する。次いで、摩耗輪は、光ディスクの表面から離隔される（Ｓ２０５）。

次いで、検査装置は、光ディスク上に記録された情報を再生する信号からジッター値を測定することによって、光ディスクの品質が良好であるか、または、不良であるかを判定する（Ｓ２０６）。

図５は、本発明にしたがうマイクロスクラッチ検査器（micro-scratch tester）を使用することによって光ディスク上に発生する予め定められたスクラッチパターンを説明する図である。

図５を参照すると、本発明にしたがう検査装置は、光ディスクが１０回転未満の回転数だけ回転するまで、光ディスクと摩耗輪との間の接触荷重を維持して、光ディスクの表面にスクラッチを発生させる。

図６は、本発明にしたがって光ディスク上に印加される摩耗輪の荷重に応じたスクラッチ深さを示すグラフである。

図６は、コーティング層が形成されてない無コーティングディスク（bare disc）と、コーティング層が形成されたハードコーティングディスク（hard-coated disc）とを比較したグラフである。

図６に示すように、深さが２μｍ以上であるスクラッチが発生するとき、コーティング層が形成されてない無コーティングディスク、及び、コーティング層が形成されたハードコーティングディスクのサーボエラーが観測される。

すなわち、光ディスク表面の耐久性検査を行うとき、深さが２μｍであるスクラッチは、光ディスクの品質が良好であるか、または、不良であるかを判定するための絶対基準値として定義される。光ディスク表面の機械的耐久性を検査することによって、スクラッチの発生程度を定量化できる。

図７は、本発明にしたがって光ディスクに印加される摩耗輪の荷重に応じたジッター値の変化を示すグラフである。

図７において、コーティング層が形成されてない無コーティングディスク、及び、コーティング層が形成されたハードコーティングディスクが用いられるとき、無コーティングディスク、及び、ハードコーティングディスクの各々は、１回転及び５回転だけ回転し、ＣＳ−１０Ｆの摩耗輪が用いられる。

図７に示すように、荷重が５０ｇｆ乃至７５０ｇｆの範囲で測定されるとき、１０％以上のジッター値を有するサーボエラーが発生するため、荷重は、ジッター値が１０％未満である、２５０ｇｆ乃至５００ｇｆの範囲であることが好ましい。

したがって、ハードコーティングディスクを使用する場合、摩耗輪から発生する荷重は５０ｇｆ乃至７５０ｇｆに定量化され、この荷重は、摩耗輪の種類に応じて異なるように設定される。

すなわち、テーバー摩耗検査において、ＣＳ−１０Ｆの摩耗輪を使用する条件下では、光ディスクは、１０回転未満の回転数だけ回転し、荷重は、ほぼ５０ｇｆ乃至２５０ｇｆの範囲で制御される。

ＣＳ−１０の摩耗輪を使用する場合、光ディスクは、１０回転未満の回転数だけ回転し、荷重は、ほぼ１５０ｇｆ乃至４５０ｇｆの範囲で制御される。

また、ＣＳ−１７の摩耗輪を使用する条件下では、光ディスクは、１０回転未満の回転数だけ回転し、荷重は、ほぼ２５０ｇｆ乃至７５０ｇｆの範囲で制御される。

そのため、軟らかい摩耗輪ＣＳ−１０Ｆから硬い摩耗輪ＣＳ−１７に至る、全ての場合において、光ディスク表面の荷重は、５０ｇｆ乃至７５０ｇｆの範囲で定量化される。

したがって、光ディスクの回転数を１０回転未満の回転数に減少させることによって、摩耗輪による光ディスクの摩耗の程度を最小限に低減させる。その結果、実生活で発生するスクラッチと非常に類似した種類のスクラッチを発生させることが可能であり、それによって、光ディスク表面の機械的耐久性を検査するときの信頼性を向上させることができる。

すなわち、実生活における光ディスク上のスクラッチは、光ディスクを２、３回引っ掻くことによって発生する。これに対し、摩耗輪が引っ掻かれる回数が多くなるほど、テーバー摩耗検査器を使用することにより複数回光ディスクを回転させる間に発生するスクラッチは、スクラッチが発生する周囲の光ディスクの摩耗に起因する実生活におけるスクラッチとは一層異なるようになる。

このような理由により、スクラッチに起因する、光ディスク表面の機械的耐久性検査における信頼性についての問題が発生し、さらに、従来技術にしたがう光ディスク表面の機械的耐久性検査を行うときに、最も深刻な問題が生じることになる。

本発明にしたがうと、定量化された絶対基準値によって、光ディスクの回転数を、最小で１回転、最大で１０回転に減少させることができるため、実生活におけるスクラッチと最も近い種類のスクラッチを発生させることによって、光ディスク表面の機械的耐久性検査の信頼性を向上させることができる。

また、最小で１回転だけ光ディスクを回転して光ディスク表面上にスクラッチを発生させることによって、光ディスク表面の耐久性を検査することが可能である。その結果、光ディスクの品質が良好であるか、または、不良であるかが容易かつ正確に判定される。

さらに、光ディスク表面の機械的特性は、反復的な記録再生用として利用可能な書き換え型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＥ）、及び、一回の記録再生用として利用可能な追記型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＷＯ）に対して定量化され得る。

一方、本発明にしたがう光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法は、製造された光ディスクの中から予め定められた数の光ディスクを抽出し、この抽出されたディスクに対して機械的耐久性検査を行う。このディスクが、本発明にしたがう耐久性を有する場合、検査のために抽出されてない他のディスクも、機械的耐久性、すなわち、スクラッチ耐久性を有すると推定される。

上述したとおり、本発明にしたがう光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法には、以下のような利点がある。

第一に、スクラッチの発生程度を定量化して、光ディスク表面の機械的特性を向上させるので、光ディスクの高密度化によるデータの保存性を向上させることができる。

第二に、光ディスクの品質が容易かつ正確に検査されるので、光ディスクの信頼性を向上させることができる。

第三に、所望の短時間にスクラッチを形成することができるので、光ディスク表面の機械的耐久性検査に要する検査時間を減少させることができるとともに、製造コストを節減することができる。

第四に、本発明にしたがう光ディスク表面の機械的耐久性検査方法は、反復的な記録再生用として利用可能な書き換え型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＥ）、及び、一回の記録再生用として利用可能な追記型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＷＯ）に、充分に適用することができる。

なお、本発明の趣旨及び範囲から逸脱することなく、本発明を多様に変形及び変更可能であることは、当業者にとっては明白であろう。したがって、本発明の変形形態及び変更形態が特許請求の範囲及びその均等の範囲に属する限り、本発明は、これら変形形態及び変更形態を包含することが意図されている。

本発明にしたがうテーバー摩耗検査装置を示す概略図である。 本発明にしたがう、追記型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＷＯ）用光ディスクにおける表面の機械的耐久性を検査する方法を示すフローチャートである。 本発明にしたがう、書き換え型ブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＥ）用光ディスクにおける表面の機械的耐久性を検査する方法を示すフローチャートである。 本発明にしたがう、読み取り専用ブルーレイディスク（ＢＤ−ＲＯ）用光ディスクにおける表面の機械的耐久性を検査する方法を示すフローチャートである。 本発明にしたがうマイクロスクラッチ検査器を使用することによって光ディスク上に発生する予め定められたスクラッチパターンを説明する図である。 本発明にしたがって光ディスク上に印加される摩耗輪の荷重に応じたスクラッチ深さを示すグラフである。 本発明にしたがって光ディスクに印加される摩耗輪の荷重に応じたジッター値の変化を示すグラフである。

Claims (15)

1. 光ディスクの表面のスクラッチ耐久性を検査する装置であって、
   前記光ディスクを回転させる回転板と、
   前記光ディスクが予め定められた回転数だけ回転する間に前記光ディスク上に予め定められた荷重を印加することによって、前記光ディスクの前記表面にスクラッチを発生させ
   る複数の摩耗輪と
   を備え、
   前記光ディスクの信号から得られるジッター値と、予め定められたジッター値とを比較することによって、前記光ディスクが充分な耐久性を有するかどうかを判定することを特徴とする装置。
2. 前記複数の摩耗輪は２つであることを特徴とする請求項１に記載の装置。
3. 前記２つの摩耗輪は互いに反対方向に回転することを特徴とする請求項２に記載の装置。
4. ＣＳ−１０Ｆの摩耗輪を使用して、前記予め定められた荷重として２．５Ｎを印加することにより、前記スクラッチを発生させることを特徴とする請求項１に記載の装置。
5. 前記予め定められた回転数は５回であることを特徴とする請求項１に記載の装置。
6. 前記予め定められたジッター値は１０％であることを特徴とする請求項１に記載の装置。
7. 光ディスクの表面のスクラッチ耐久性を検査する方法であって、
   予め定められた荷重を伴う複数の摩耗輪を前記光ディスクの前記表面に接触させる接触段階と、
   前記光ディスクが予め定められた回転数だけ回転するまで、前記光ディスクと前記摩耗輪との間の前記接触を維持する維持段階と、
   前記光ディスクの信号から得られるジッター値を測定することによって、前記光ディスクが充分な耐久性を有するかどうかを判定する判定段階と
   を備えることを特徴とする方法。
8. 前記複数の摩耗輪は２つであることを特徴とする請求項７に記載の方法。
9. 前記２つの摩耗輪は互いに反対方向に回転することを特徴とする請求項８に記載の方法。
10. ＣＳ−１０Ｆの摩耗輪を使用して、前記予め定められた荷重として２．５Ｎを印加することにより、前記スクラッチを発生させることを特徴とする請求項７に記載の方法。
11. 前記測定したジッター値が前記予め定められたジッター値よりも小さい場合、前記光ディスクは充分な耐久性を有すると判定されることを特徴とする請求項７に記載の方法。
12. 前記予め定められたジッター値は１０％であることを特徴とする請求項７に記載の方法。
13. 前記予め定められた回転数は５回であることを特徴とする請求項７に記載の方法。
14. スクラッチに対して充分な耐久性を有するか、または、有さない入射表面を有する情報記録媒体であり、かつ該情報記録媒体の表面が充分な耐久性を有するかどうかを判定する検査によって検証され得る、前記情報記録媒体であって、前記検査は、
    前記情報記録媒体の前記表面にスクラッチを発生させるために、予め定められた荷重を伴う複数の摩耗輪を前記情報記録媒体の前記表面に接触させる接触段階と、
    前記情報記録媒体の信号から得られるジッター値と、予め定められたジッター値とを比較する比較段階と、
    前記比較段階の結果に基づいて、前記情報記録媒体が予め定められた耐久性を有するかどうかを判定する判定段階と
    を備えることを特徴とする情報記録媒体。
15. 光ディスクの表面のスクラッチ耐久性を検査する方法であって、
    予め定められた荷重を伴う、回転板の回転に合わせて回転する２つの摩耗輪を前記光ディスクの前記表面に接触させる接触段階と、
    前記光ディスクが予め定められた回転数だけ回転するまで、前記光ディスクと前記摩耗輪との間の前記接触を維持する維持段階と、
    前記光ディスクの信号から得られるジッター値を測定することによって、前記光ディスクが充分な耐久性を有するかどうかを判定する判定段階と
    を備えることを特徴とする方法。

Images