JPH03226648A - 磁気ディスク媒体の耐久試験方法 - Google Patents
磁気ディスク媒体の耐久試験方法Info
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- JPH03226648A JPH03226648A JP2354190A JP2354190A JPH03226648A JP H03226648 A JPH03226648 A JP H03226648A JP 2354190 A JP2354190 A JP 2354190A JP 2354190 A JP2354190 A JP 2354190A JP H03226648 A JPH03226648 A JP H03226648A
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- JP
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- magnetic disk
- ball
- disk medium
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- Pending
Links
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- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
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Landscapes
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ｊ産業上の利用分野〕
本発明は磁気ディスク装置に用いる磁気ディスク媒体の
柑久試験方法に関する。
柑久試験方法に関する。
磁気ディスク装置に用いる磁気ディスク媒体の従来の耐
久試験（磨耗試験）方法は、主として、磁気ディスク装
置に用いる磁気ヘッドによって行うコンタクトスタート
ストップテスト（Ｃ３Ｓテスト）、または磁気ディスク
装置用の磁気ヘッドを低速回転する磁気ディスク媒体に
こすり合せる低速摺動テストが採用されている。
久試験（磨耗試験）方法は、主として、磁気ディスク装
置に用いる磁気ヘッドによって行うコンタクトスタート
ストップテスト（Ｃ３Ｓテスト）、または磁気ディスク
装置用の磁気ヘッドを低速回転する磁気ディスク媒体に
こすり合せる低速摺動テストが採用されている。
上述したような磁気ディスク媒体の従来の耐久試験方法
は、いずれも磁気ディスク装置用の磁気ヘッドを使用し
ている。磁気ディスク装置用の磁気ヘッドは、磁気ディ
スク媒体上に安定して浮上させなければならないため、
多くの精密機械加工工程を経て製造される。このため、
押圧荷重や表面形状や表面粗度等の機械的特性に製造上
のばらつきがあり、このばらつきは、耐久試験結果に対
して大きな影響を及ぼすという欠点がある。また、磁気
ディスク媒体の破壊現象の発生までに長時間を必要とす
るため、試験装置の処理能力が低いという欠点もある。
は、いずれも磁気ディスク装置用の磁気ヘッドを使用し
ている。磁気ディスク装置用の磁気ヘッドは、磁気ディ
スク媒体上に安定して浮上させなければならないため、
多くの精密機械加工工程を経て製造される。このため、
押圧荷重や表面形状や表面粗度等の機械的特性に製造上
のばらつきがあり、このばらつきは、耐久試験結果に対
して大きな影響を及ぼすという欠点がある。また、磁気
ディスク媒体の破壊現象の発生までに長時間を必要とす
るため、試験装置の処理能力が低いという欠点もある。
本発明の磁気ディスク媒体の耐久試験方法は、Ａｌ２０
３−Ｔｉ−Ｃからなり精密研磨して球形としたボールを
用い、磁気ディスク媒体を１０００ ｒｐｗａ以二の回
転数で回転させ、前記ボールを前記磁気デ、スフ媒体の
表面にｌｏｏｇｒｆ以下の荷重で押圧下ることを含んで
いる。
３−Ｔｉ−Ｃからなり精密研磨して球形としたボールを
用い、磁気ディスク媒体を１０００ ｒｐｗａ以二の回
転数で回転させ、前記ボールを前記磁気デ、スフ媒体の
表面にｌｏｏｇｒｆ以下の荷重で押圧下ることを含んで
いる。
次に本発明の実施例について図面を参照して」明する。
第１図は、本発明の一実施例による磁気デイ；りｖ１＃
−の耐久試験結果の一例を示す特性図で夛る。
−の耐久試験結果の一例を示す特性図で夛る。
本実施例は、第１表に示す特性値を有す２＾ｊ２０ｇ−
Ｔｉ−Ｃ材料を精密に研磨して球形としにボールを用い
る６ボールの諸元は第２表に示すとおりである。
Ｔｉ−Ｃ材料を精密に研磨して球形としにボールを用い
る６ボールの諸元は第２表に示すとおりである。
このボールを２０ ｇｒｆの荷重で磁気ディスク塙体の
表面に押圧した状態で磁気ディスク媒体をｐ速８００ｍ
ｍ／ｍで回転させ、磁気ディスク媒体の表面にスクラッ
チ傷が発生する迄の時間を測定し、その時間をもって耐
久特性とする。
表面に押圧した状態で磁気ディスク媒体をｐ速８００ｍ
ｍ／ｍで回転させ、磁気ディスク媒体の表面にスクラッ
チ傷が発生する迄の時間を測定し、その時間をもって耐
久特性とする。
第１表
ド
「
シ
）
第２表
上述の方法によってカーボンスパッタ保護膜上に弗素系
潤滑膜を付与した５インチ直径の磁気ディスク媒体に対
して行った耐久試験結果は第１図に示す通りである。す
なわち、曲線１のように、潤滑膜の厚さが０〜３０人と
増大するに従ってスクラ・ソチ傷が発生する迄の時間が
長くる結果が得られ、スクラッチ傷発生までの時間は、
従来の試験方法に比して短時間である。従って効率的な
試験を行うことができる。
潤滑膜を付与した５インチ直径の磁気ディスク媒体に対
して行った耐久試験結果は第１図に示す通りである。す
なわち、曲線１のように、潤滑膜の厚さが０〜３０人と
増大するに従ってスクラ・ソチ傷が発生する迄の時間が
長くる結果が得られ、スクラッチ傷発生までの時間は、
従来の試験方法に比して短時間である。従って効率的な
試験を行うことができる。
以上説明したように、本発明の磁気ディスク媒体の耐久
試験方法は、磁気ディスク装置用の磁気ヘッドを使用せ
ずに試験を行うことができるため、試験結果のばらつき
を少なくすることができるという効果があり、また、短
時間でスクラッチ傷が発生するため、試験時間を短縮す
ることができるという効果もある。
試験方法は、磁気ディスク装置用の磁気ヘッドを使用せ
ずに試験を行うことができるため、試験結果のばらつき
を少なくすることができるという効果があり、また、短
時間でスクラッチ傷が発生するため、試験時間を短縮す
ることができるという効果もある。
第１図は本発明の一実施例による磁気ディスク媒体の耐
久試験結果の一例を示す特性図である。 １・・・・・・曲線。
久試験結果の一例を示す特性図である。 １・・・・・・曲線。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、Ａｌ＿２Ｏ＿３−Ｔｉ−Ｃからなり精密研磨して球
形としたボールを用い、磁気ディスク媒体を１０００ｒ
ｐｍ以下の回転数で回転させ、前記ボールを前記磁気デ
ィスク媒体の表面に１００ｇｒｆ以下の荷重で押圧する
ことを含むことを特徴とする磁気ディスク媒体の耐久試
験方法。 ２、ボールの直径をφ６．３５０ｍｍ、真球度を３μｍ
、十点平均粗さを３０Å以下とした請求項第１項記載の
磁気ディスク媒体の耐久試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2354190A JPH03226648A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 磁気ディスク媒体の耐久試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2354190A JPH03226648A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 磁気ディスク媒体の耐久試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03226648A true JPH03226648A (ja) | 1991-10-07 |
Family
ID=12113329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2354190A Pending JPH03226648A (ja) | 1990-01-31 | 1990-01-31 | 磁気ディスク媒体の耐久試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03226648A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005026696A1 (en) * | 2003-09-16 | 2005-03-24 | Lg Electronics Inc. | Apparatus and method for testing mechanical endurance of surface of optical disc. |
-
1990
- 1990-01-31 JP JP2354190A patent/JPH03226648A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7864643B2 (en) | 2003-09-15 | 2011-01-04 | Lg Electronics Inc. | Apparatus and method for testing mechanical endurance of surface of optical disc, the optical disc of same kind as the tested optical disc |
| WO2005026696A1 (en) * | 2003-09-16 | 2005-03-24 | Lg Electronics Inc. | Apparatus and method for testing mechanical endurance of surface of optical disc. |
| JP2007506093A (ja) * | 2003-09-16 | 2007-03-15 | エルジー エレクトロニクス インコーポレーテッド | 光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法 |
| US7626904B2 (en) | 2003-09-16 | 2009-12-01 | Lg Electronics Inc. | Apparatus and method for testing mechanical endurance of surface of optical disc, the optical disc of same kind as the tested optical disc |
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