KR100964704B1 - 디스크 표면의 내오염성 평가 방법 - Google Patents

디스크 표면의 내오염성 평가 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 디스크 표면의 안정도 특성을 향상시키기 위한 보호층(protective layer)의 특성을 정량화할 수 있도록 한 광디스크 표면의 내오염성 평가 방법에 관한 것으로, 인공지문 물질이 점착된 스탬프를 디스크에 접촉하여 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하여 그 결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는데 있다.
디스크, 내오염성, 스탬프, 인공 지문, SER

Description

디스크 표면의 내오염성 평가 방법{Method for testing Anti-Contamination of Disk Surface}
본 발명은 디스크에 관한 것으로, 특히 디스크 표면의 안정도 특성을 향상시키기 위한 보호층(protective layer)의 특성을 정량화할 수 있도록 한 디스크 표면의 내오염성 평가 방법에 관한 것이다.
일반적으로 광디스크(optical disc)는 원판의 표면에 레이저 광선을 이용하여 정보를 기록해 둔 것으로 음성이나 영상의 정보를 디지털부호로 변환하여 약한 레이저빔을 쏘여서 그 반사광의 강약을 인지하여 읽어내기를 하는 대용량의 저장매체이다.
이러한 광디스크 미디어로는 CD(Compact Disc), DVD(Digital Video Disc), LD(Laser Disc) 등이 있으며, 최근 차세대 광디스크 저자매체 규격으로 블루레이 디스크(Blu-Ray Disc) 진영과 AOD(Advanced Optical Disc) 기술 진영이 각축을 벌이고 있다.
상기 '블루레이 디스크(Blu-Ray Disc)'는 고선명 비디오 디스크 레코더(High Definition Video Disc Recorder : HDVDR)를 겨냥하여 개발되었으며, 기존의 적색 레이저 광선보다 많은 양의 데이터를 기록할 수 있는 청자색 반도체 레이저 광선을 사용하는 차세대 광디스크 저장매체이다.
따라서, 일반영화 13시간, 고선명(HD) TV 화질의 영상 2시간 분량에 해당하는 27 기가바이트(GB)의 데이터 저장용량을 가진다.
이러한 블루레이 디스크(Blu-Ray Disc)는 기존 DVD의 단점을 보완하는 새로운 저장 매체로 관심이 고조되고 있다.
그러나 어떠한 제품에 있어서든지 제조된 제품이 아무런 하자 없이 사용이 가능해야 하고, 만약 제품의 품질에 문제가 발생되었을 경우에는 제품을 생산한 생산자의 신뢰를 떨어뜨리는 일이 될 것이다.
이와 같은 부분은 블루레이 디스크(Blu-Ray Disc)도 마찬가지이다. 특히, 매우 미세한 신호 특성을 갖는 블루레이 디스크(Blu-Ray Disc)는 스크래치, 성형 불량, 지문 및 제조 과정 중에 이물질 부착 등으로 인해 품질이 양호하지 못하다는 결과를 가져오기도 하였다.
그래서 제조가 완료된 블루레이 디스크(Blu-Ray Disc)는 그 다음 공정으로써 품질 검사를 행하게 되고, 그 다음에 광디스크 시장으로 출하되었다.
종래 기술에서 광디스크의 품질 검사는 일반적으로 4개의 측정 드라이브에 의해서 검사하도록 하고 있다.
우선, 동일 장치로부터 제조된 광디스크들의 특성이 같다는 가정하에서 생산자는 제조된 모든 광디스크 중에서 임의의 광디스크를 선택하여 측정 시스템에 장착한다.
첫 번째 측정 드라이브에서는 광디스크로부터 재생되는 신호에 의하여 고주파신호 및 지터를 측정한다.
두 번째 측정 드라이브에서는 광디스크로부터 재생되는 신호에 기초해서 서보 신호(포커싱 에러신호 및 트랙킹 에러신호)를 측정한다.
세 번째 측정 드라이브에서는 품질 검사 수행중인 광디스크의 기계적 특성을 검출한다.
그리고 마지막 네 번째 측정 드라이브에서는 광디스크의 광학 특성을 검출한다.
이와 같이 종래의 광디스크 품질 검사는 정보 기록의 정확성과, 광디스크의 기계적 특성 및 광학 특성 등을 검사하게 된다.
이중, 고밀도 광디스크의 사용중 정보기록/재생용 레이저 빔의 입사 표면에 발생할 수 있는 화학적 물리적 오염, 예를 들어 지문 등은 광디스크 신호의 열화뿐만 아니라 데이터의 손실, 심한 경우에는 디스크에 정보를 기록하거나 재생하는 것이 가능하지 않게 되는 상황까지도 발생할 수 있다.
따라서, 이를 방지하기 위해서 디스크 표면에 내오염(anti-contamination) 정도나 표면 안정도를 향상시키기 위하여 보호막(protective coating film)을 형성하고, 카트리지 내에 디스크를 삽입하여 내오염으로부터 디스크를 보호하고 있다.
그러나 최근 부피의 최소화를 위해 카트리지 없이 보호막만이 형성된 디스크가 시판되고 있어서, 디스크 표면에 형성된 보호막의 내오염도의 정량화는 효율적인 디스크의 제작 및 사용을 위해 더욱 중요한 이슈로 작용하게 되었다.
그럼에도 불구하고 종래에는 고밀도 광디스크의 표면에 발생하는 내오염도를 평가하기 위한 정량화된 방법이 없고, 다만 정성적으로 실제 지문이나 임의의 오염 물질을 묻혀서 물질의 묻는 정도를 오랜 노하우를 갖는 제조자의 주관적인 판단에 의해 내오염도를 평가하고 있다. 따라서, 내오염도의 평가에 오류가 발생되어 불량 디스크의 출하가 발생되게 된다.
본 발명은 이와 같은 종래 기술의 디스크의 내오염성 평가 방법의 문제를 해결하기 위한 것으로, 디스크 표면의 안정도 특성을 향상시키기 위한 보호층(protective layer)의 특성을 정량화할 수 있도록 한 디스크 표면의 내오염성 평가 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법의 특징은 인공지문 물질이 점착된 스탬프를 디스크에 접촉하여 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하여 그 결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는데 있다.
이때, 상기 양품/불량을 판정하는 단계는 측정된 SER이 4.2×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것이 바람직하다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법의 다른 특징은 인공 지문 물질을 상부에 형성하고 있는 패드에 한번 이상 접촉시켜 상기 스탬프 패드와 접촉되는 스탬프에 인공 지문 물질을 점착하는 단계와, 상기 인공 지문 물질이 점착된 스탬프를 더미(dummy)와 접촉되는 횟수를 제어하여 시비어(severe) 상태 또는 표준(standard) 상태 중 어느 하나의 상태로 형 성하는 단계와, 상기 더미에 소정 횟수로 접촉된 스탬프를 디스크에 1회 접촉하여 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하여 그 결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는데 있다.
이때, 상기 스탬프는 더미(dummy)와 접촉되는 횟수가 0 ~ 1회이면 시비어(severe) 상태로 형성되고, 더미(dummy)와 접촉되는 횟수가 2 ~ 4회이면 표준(standard) 상태로 형성되는 것이 바람직하다.
그리고 상기 양품/불량을 판정하는 단계는 디스크에 접촉되는 스탬프가 시비어(severe) 상태로 형성되는 경우, 측정된 SER이 4.2×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 양품/불량을 판정하는 단계는 디스크에 접촉되는 스탬프가 표준(standard) 상태로 형성되는 경우, 측정된 SER이 1.5×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 1.5×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것이 바람직하다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법의 또 다른 특징은 인공 지문 물질을 상부에 형성하고 있는 패드에 한번 이상 접촉시켜 상기 스탬프 패드와 접촉되는 스탬프에 인공 지문 물질을 점착하는 단계와, 상기 인공 지문 물질이 점착된 스탬프를 더미(dummy)와 적어도 2회 이상 최대 4회 이하로 접촉하여 표준(standard) 상태의 스탬프를 형성하는 단계와, 상기 형성된 표준 상태의 스탬프를 디스크에 소정 회수 접촉하여 디스크 표면에 인공지 문을 점착하는 단계와, 상기 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하여 그 결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는데 있다.
이때, 상기 양품/불량을 판정하는 단계는 상기 표준 상태로 형성된 스탬프를 디스크에 점착되는 인공지문이 디스크의 1 LDC(Long Disc physical Cluster) 블록의 50% 이상이 커버(cover)될 때까지 디스크에 복수회 접촉하는 경우, 측정된 SER이 4.2×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것이 바람직하다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법은 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 디스크의 품질에 큰 영향을 미치는 표면 오염 정도를 객관적인 기준으로 정량화하여 평가할 수 있다.
둘째, 디스크 표면의 안정도 특성을 향상시키기 위한 보호층(protective layer)의 특성을 정량화할 수 있으므로 평가 결과에 대한 신뢰성을 높일 수 있다.
셋째, 표면 오염 정도에 따른 양품/불량 판정이 객관적인 기준으로 정확하게 이루어지므로 제품의 균일한 특성 및 사용자의 높은 신뢰성 등을 확보할 수 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법의 특징은 인공지문 물질이 점착된 스탬프를 디스크에 접촉하여 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하여 그 결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는데 있다.
이때, 상기 양품/불량을 판정하는 단계는 측정된 SER이 4.2×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것이 바람직하다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법의 다른 특징은 인공 지문 물질을 상부에 형성하고 있는 패드에 한번 이상 접촉시켜 상기 스탬프 패드와 접촉되는 스탬프에 인공 지문 물질을 점착하는 단계와, 상기 인공 지문 물질이 점착된 스탬프를 더미(dummy)와 접촉되는 횟수를 제어하여 시비어(severe) 상태 또는 표준(standard) 상태 중 어느 하나의 상태로 형성하는 단계와, 상기 더미에 소정 횟수로 접촉된 스탬프를 디스크에 1회 접촉하여 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하여 그 결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는데 있다.
이때, 상기 스탬프는 더미(dummy)와 접촉되는 횟수가 0 ~ 1회이면 시비어(severe) 상태로 형성되고, 더미(dummy)와 접촉되는 횟수가 2 ~ 4회이면 표준(standard) 상태로 형성되는 것이 바람직하다.
그리고 상기 양품/불량을 판정하는 단계는 디스크에 접촉되는 스탬프가 시비어(severe) 상태로 형성되는 경우, 측정된 SER이 4.2×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 양품/불량을 판정하는 단계는 디스크에 접촉되는 스탬프가 표준(standard) 상태로 형성되는 경우, 측정된 SER이 1.5×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 1.5×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것이 바람직하다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법의 또 다른 특징은 인공 지문 물질을 상부에 형성하고 있는 패드에 한번 이상 접촉시켜 상기 스탬프 패드와 접촉되는 스탬프에 인공 지문 물질을 점착하는 단계와, 상기 인공 지문 물질이 점착된 스탬프를 더미(dummy)와 적어도 2회 이상 최대 4회 이하로 접촉하여 표준(standard) 상태의 스탬프를 형성하는 단계와, 상기 형성된 표준 상태의 스탬프를 디스크에 소정 회수 접촉하여 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하여 그 결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하여 이루어지는데 있다.
이때, 상기 양품/불량을 판정하는 단계는 상기 표준 상태로 형성된 스탬프를 디스크에 점착되는 인공지문이 디스크의 1 LDC(Long Disc physical Cluster) 블록의 50% 이상이 커버(cover)될 때까지 디스크에 복수회 접촉하는 경우, 측정된 SER이 4.2×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것이 바람직하다.
본 발명의 다른 목적, 특성 및 이점들은 이하에서의 실시예들의 상세한 설명 을 통해 명백해질 것이다.
본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법의 바람직한 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1a 내지 도 1d는 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가를 위한 방법을 나타낸 도면이다.
도 1a와 같이, 먼저 인공 지문을 내기 위한 스탬프(10)를 인공 지문 물질(20)이 상부에 형성하고 있는 스탬프 패드(30)에 한번 이상 접촉시켜 상기 스탬프 패드(30)와 접촉되는 스탬프(10)에 인공 지문 물질을 점착한다.
이어 상기 인공 지문 물질(20a)이 점착된 스탬프(10)를 도 1b와 같이, 더미(dummy)(40)에 적어도 한번 이상 접촉시켜 스탬프(10)에 점착된 인공 지문 물질(2a)의 과잉 점착을 방지한다. 이때, 상기 더미(40)에 상기 스탬프(10)를 접촉시키는 횟수에 따라서 스탬프는 시비어(severe) 상태에서 표준(standard) 상태로 분류하고 있다.
그리고 상기 더미(40)에 소정 횟수로 접촉된 스탬프(10)를 도 1c와 같이, 보호막이 형성된 디스크(50)에 접촉함으로서, 상기 디스크(50) 표면에 인공지문(20b)을 점착한다.
이때, 상기 더미(40)는 폴리카보네이트 판을 이용하는 것이 바람직하다.
이후, 도 1d와 같이 상기 디스크에 점착된 인공지문(20b)의 SER를 측정하여 내오염성 평가를 통해 제조된 디스크를 양품 또는 불량으로 분류하게 된다.
이때, 상기 디스크(50)의 양품 또는 불량의 분류는 도 4에서 나타내고 있는 것과 같이, 디스크 표면(50)에 상기 스탬프(10)의 인공지문(20b)을 점착시키는 개수와 이에 따른 SER(Symbol Error Rate)의 관계를 통해 분류 기준이 설정되게 된다.
도 4 는 반경이 40mm인 임의의 블루레이 디스크(Blu-Ray Disc)의 표면에 직경이 10mm 정도인 인공지문이 점착되는 회수에 따라 SER(Symbol Error Rate)이 어떻게 달라지는가를 실험한 데이터를 보여준다. 여기에서, 디스크 표면에 인공지문을 1개 점착하였을 경우(100)에는 디스크의 전체 트랙에 대해 약 4%정도를 커버(cover)하고 있으며, 15개를 점착하였을 경우(200)에는 디스크의 전체 트랙에 대하여 약 60% 정도를 커버(cover)하고 있다. 도 4에서 보여주고 있듯이 인공지문을 6개 이상 디스크 표면에 점착시켰을 경우에는 SER(Symbol Error Rate)이 최악의 상태인 포화상태(saturation)가 되는 것을 알 수 있는데, 이것은 인공지문의 개수가 6개 이상이면 1 LDC 블록 전체를 커버(cover)하는데 충분하다는 것을 보여주는 것이다.
본 발명에서는 도 4에서 나타내고 있는 실험결과를 통해서 측정된 SER(Symbol Error Rate)이 소정의 조건하에서 4.2×10-3 이하이면 양품으로, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 분류할 수 있게 되며, 이를 본 명세서에서는 내오염성 평가를 위한 정량화하는 기준값으로 설정한다.
이와 같이, 정량화된 내오염 평가를 이용하여 디스크 표면의 내오염성 평가 방법을 도면을 참조하여 실시예를 통해 상세히 설명하면 다음과 같다.
제 1 실시예
도 2 는 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법을 나타낸 제 1 실시예이다.
도 2와 같이, 먼저 인공 지문을 내기 위한 스탬프를 인공 지문 물질을 상부에 형성하고 있는 스탬프 패드에 한번 이상 접촉시켜 상기 스탬프 패드와 접촉되는 스탬프에 인공 지문 물질을 점착한다(S10).
이때, 상기 인공 지문 물질로는 물, 메타놀(methanol), NaCl, urea, lactic acid 그리고 매우 작은 양의 violet dye로 형성된다. 또한, 상기 스탬프는 Si-Rubber로 형성되며, 인공 지문 물질이 점착되는 스탬프의 직경은 10mm의 크기를 갖는 것이 바람직하다. 그리고 상기 스탬프는 500g의 하중을 갖고 상기 스탬프 패드에 접촉되게 된다.
이어 상기 인공 지문 물질이 점착된 스탬프를 더미(dummy), 즉 폴리카보네이트 판에 적어도 한번 이상 접촉시켜 스탬프에 점착된 인공 지문 물질의 과잉 점착을 방지한다(S30).
이때, 상기 스탬프는 상기 더미에 접촉될 때도 500g의 하중을 갖고 접촉되게 되며, 또한 상기 더미에 상기 스탬프를 접촉시키는 횟수에 따라서 시비어(severe) 상태에서 표준(standard) 상태로 나뉘어 진다.
즉, 다음 표 1과 같이 상기 접촉 횟수가 0 ~ 1번이면 시비어 상태로, 상기 접촉 횟수가 2 ~ 4번이면 표준 상태로 정의한다. 이 상태는 표 1에 설정된 접촉 횟 수에 한정되는 것이 아니라 기판 표면의 내오염성 평가자의 제어에 의해 변경 가능하다.
접촉 횟수 상태
0
1		 시비어(severe)
2
3
4		 표준(standard)
따라서, 디스크 표면의 내오염성 평가시 스탬프 상태의 설정이 시비어 상태로 정의되어 있는 경우는 상기 더미에 상기 스탬프를 접촉시키는 횟수를 0 ~ 1번으로 제한시킴으로서, 현재 스탬프를 시비어 상태로 형성한다(S50). 또한 디스크 표면의 내오염성 평가시 스탬프 상태의 설정이 표준 상태로 정의되어 있는 경우는 상기 더미에 상기 스탬프를 접촉시키는 횟수를 2 ~ 4회로 늘림으로써, 현재 스탬프를 표준 상태로 형성한다(S120).
그리고 상기 더미에 소정 횟수로 접촉된 스탬프를 보호막이 형성된 디스크에 500g의 하중으로 1회만 접촉함으로서, 디스크 표면에 인공지문을 점착한다(S60). 이때, 상기 더미는 폴리카보네이트 판을 이용하는 것이 바람직하다.
이후, 상기 디스크에 점착된 인공지문의 SER를 측정하여 내오염성 평가를 통해 디스크의 양품 및 불량을 분류하게 된다(S70).
이때, 상기 디스크의 양품 및 불량의 분류는 먼저 현재 스탬프의 상태가 시비어 상태인지, 또는 표준 상태인지 판단한다.
상기 판단 결과(S80) 현재 스탬프의 상태가 시비어 상태이면, 상기 디스크에 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하고(S90), 이 측정된 SER값이 4.2×10-3 이하이면 양품으로(S100), 4.2×10-3 이상이면 불량으로 분류하도록 정량화한다(S110).
또한, 상기 판단 결과(S80) 현재 스탬프의 상태가 표준 상태이면, 상기 디스크에 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하고(S130), 이 측정된 SER값이 1.5×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 1.5×10-3 이상이면 불량으로 분류하도록 정량화한다(S150).
이때, 상기 정량화된 값을 1.5×10-3으로 설정하는 이유는 스탬프의 상태가 시비어인 상태에서 인공지문을 1회만 디스크에 점착하는 경우와 스탬프의 상태가 표준인 상태에서 인공지문을 1회 디스크에 점착하는 경우의 내오염성 평가 기준을 동일하게 할 경우 양품과 불량품을 구분하는데 오류가 발생할 수 있으므로, 실험 결과에 따라 그 기준값을 1/3 수준으로 할 경우 유사한 정도의 내오염성 판정 결과가 도출되기 때문에 설정된 것이다.
제 2 실시예
도 3 은 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법을 나타낸 제 2 실시예이다.
도 3과 같이, 먼저 인공 지문을 내기 위한 스탬프를 인공 지문 물질을 상부에 형성하고 있는 스탬프 패드에 한번 이상 접촉시켜 상기 스탬프 패드와 접촉되는 스탬프에 인공 지문 물질을 점착한다(S200).
이때, 상기 인공 지문 물질로는 물, 메타놀(methanol), NaCl, urea, lactic acid 그리고 매우 작은 양의 violet dye로 형성된다. 또한, 상기 스탬프는 Si-Rubber로 형성되며, 인공 지문 물질이 점착되는 스탬프의 직경은 10mm의 크기를 갖는 것이 바람직하다.
그리고 상기 스탬프는 500g의 하중을 갖고 상기 스탬프 패드에 접촉되게 된다.
이어 상기 인공 지문 물질이 점착된 스탬프를 더미(dummy), 즉 폴리카보네이트 판에 적어도 2번 이상 최대 4회 이하로 접촉시켜 스탬프에 점착된 인공 지문 물질의 과잉 점착을 방지하여 표준(standard) 상태의 스탬프를 형성한다(S210).
이때, 상기 스탬프는 상기 더미에 접촉될 때도 500g의 하중을 갖고 접촉된다.
그리고 상기 더미에 소정 횟수로 접촉된 표준 상태의 스탬프를 보호막이 형성된 디스크에 500g의 하중으로 1회 접촉함으로서, 디스크 표면에 인공지문을 점착한다(S230). 이때, 상기 더미는 폴리카보네이트 판을 이용하는 것이 바람직하다.
이어 상기 디스크 표면에 점착된 인공지문이 디스크의 1 LDC(Long Disc physical Cluster) 블록의 50% 이상 커버(cover)가 될 때까지 상기 디스크 표면에 접촉되는 스탬프의 접촉횟수를 증가시킨다(S240).
이때, 1 LDC 블록 내에서는 인공지문의 개수가 늘어날수록 SER(또는 지터)가 나빠지게 된다. 따라서, 1 LDC 블록의 최소 50% 정도는 커버하도록 인공지문을 디스크 표면에 점착해 주고 내오염성을 평가하여야 보다 정확한 내오염성 평가를 수행할 수 있게 된다.
여기서, 상기 인공지문을 디스크상의 1 LDC에 찍는 횟수로 반경 40mm의 디스크의 경우 1/4 원주내의 인공지문 개수가 적어도 3개 정도는 되어야 디스크의 1 LDC 블록의 50% 이상이 커버(cover)되게 된다.
이후, 상기 디스크에 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)를 측정하여 내오염성 평가를 통해 디스크의 양품 및 불량을 분류하게 된다(S250).
이때, 상기 디스크의 양품 및 불량의 분류는 상기 디스크에 점착된 인공지문의 SER(Symbol Error Rate)을 측정하고(S250), 이 측정된 SER값이 4.2×10-3 이하이면 양품으로(S2700), 4.2×10-3 이상이면 불량으로 분류하도록 정량화한다(S280).
이와 같이 본 발명은 디스크의 오염도 측정시에 생산자의 단순한 감각을 이용하는 것이 아니고, 오염 물질의 점착 후에 SER을 측정하여 그 결과를 기준으로 양품, 불량을 판정하므로 평가의 객관성이 확보될 수 있다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술 사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 실시예에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의하여 정해져야 한다.
도 1a 내지 도 1d는 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가를 위한 방법을 나타낸 도면
도 2 는 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법을 나타낸 제 1 실시예
도 3 은 본 발명에 따른 디스크 표면의 내오염성 평가 방법을 나타낸 제 2 실시예
도 4 는 본 발명에 따른 더미에 스탬프를 접촉시키는 횟수와 이에 따른 SER(Symbol Error Rate)의 관계를 나타낸 그래프
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 스탬프 20 : 인공 지문 물질
30 : 스탬프 패드 40 : 더미
50 : 디스크

Claims (11)

  1. 스탬프, 측정부 그리고 제어부를 포함하는 내오염성 검사 장치를 이용한 디스크 표면의 내오염성 평가 방법에 있어서,
    인공지문 물질이 점착된 상기 스탬프를 디스크에 접촉하여 기설정된 압력으로 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와,
    상기 측정부를 이용하여 상기 점착된 인공지문이 형성된 영역에서 오류율을 측정하는 단계와;
    상기 제어부를 이용하여 상기 측정된 오류율로부터 상기 인공지문에 대한 민감도를 결정하되,
    상기 오류율은 LDC (Long Distance Code)에 있는 데이터 블록중 오류가 있는 데이터 블록의 비율인 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 인공지문에 대한 민감도를 결정하는 단계는
    상기 측정된 오류율이 4.2×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 스탬프와 상기 디스크와의 접촉은 500g의 하중으로 접촉되는 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 스탬프를 인공지문 물질이 점착된 패드에 일정한 압력을 가하여, 상기 스탬프에 인공지문 물질을 점착시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디 스크 표면의 내오염성 평가 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 스탬프의 직경은 약 10mm인 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 방법.
  6. 인공지문 물질을 점착시켜 디스크의 표면에 인공지문을 형성하기 위한 스탬프와;
    상기 인공지문이 형성된 영역에서 오류율을 측정하기 위한 측정부와;
    상기 측정 장치를 제어하고 상기 측정된 오류율을 기준값과 비교하여 상기 디스크의 불량 여부를 판단할 수 있는 제어부를 포함하되,
    상기 오류율은 LDC (Long Distance Code)에 있는 데이터 블록중 오류가 있는 데이터 블록의 비율인 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제어부가 상기 디스크의 내오염성에 대한 불량 여부를 판단함에 있어서, 상기 측정된 오류율이 4.2×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 판정하는 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 장치.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 스탬프와 상기 디스크와의 접촉은 500g의 하중으로 접촉되는 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 장치.
  9. 제 6 항에 있어서,
    상기 스탬프의 직경은 약 10mm인 것을 특징으로 하는 디스크 표면의 내오염성 평가 장치.
  10. 스탬프, 측정부 그리고 제어부를 포함한 내오염성 검사 장치를 이용하여 내오염성이 판단되는 기록매체에 있어서,
    인공지문 물질이 점착된 상기 스탬프를 디스크에 접촉하여 디스크 표면에 인공지문을 점착하는 단계와, 상기 측정부를 이용하여 상기 점착된 인공지문의 오류율을 측정하되, 상기 오류율은 LDC (Long Distance Code)에 있는 데이터 블록중 오류가 있는 데이터 블록의 비율인 단계와, 상기 제어부를 이용하여 상기 측정된 오류율과 기준값을 비교하여 그 비교결과에 따라 디스크의 양품/불량을 판정하는 단계를 포함하는 방법을 이용하여 상기 디스크가 내오염성에 대해서 양/불량인지를 판단될 수 있는 것을 특징으로 하는 기록매체.
  11. 제 10 항에 있어서, 상기 인공지문에 대한 민감도를 결정함에 있어서,
    상기 측정된 오류율이 4.2×10-3 이하이면 양품으로 판정하고, 4.2×10-3 이상이면 불량으로 판정되는 것을 특징으로 하는 기록매체.
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