JP2007305817A - ボンディング方法及びボンディング装置 - Google Patents

ボンディング方法及びボンディング装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007305817A
JP2007305817A JP2006133182A JP2006133182A JP2007305817A JP 2007305817 A JP2007305817 A JP 2007305817A JP 2006133182 A JP2006133182 A JP 2006133182A JP 2006133182 A JP2006133182 A JP 2006133182A JP 2007305817 A JP2007305817 A JP 2007305817A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
bonding head
head
negative pressure
point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006133182A
Other languages
English (en)
Inventor
Jeong Woo Lee
貞雨 李
Keiji Haneda
圭司 羽田
Hisashi Takeuchi
久志 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidec Tosok Corp
Original Assignee
Nidec Tosok Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidec Tosok Corp filed Critical Nidec Tosok Corp
Priority to JP2006133182A priority Critical patent/JP2007305817A/ja
Publication of JP2007305817A publication Critical patent/JP2007305817A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)

Abstract

【課題】ワークが固定される高さをコントロールすることができるボンディング方法及びボンディング装置を提供する。
【解決手段】ボンディングポイントにてボンディングヘッドの下降動作を開始し(S5)、ボンディングヘッドがボンディング点までの下降した際に、ボンディングヘッドの下降動作を終了した後(S6)、ボンディング止まり時間停止して(S7)、ボンディングヘッドを設定値まで上昇して停止する(S8)。この設定点での高さ位置において切断待機時間待機した後、コレットに供給された負圧を遮断し(S9)、上昇待機時間待機した後に(S10)、ボンディングヘッドの上昇を開始する(S11)。
【選択図】図3

Description

本発明は、ボンディングポイントにワークをボンディングするボンディング方法及びボンディング装置に関する。
従来、半導体等のチップをリードフレーム等にボンディングする際には、ボンディング装置が用いられていた。
このボンディング装置は、図4に示すように、ワークとしてのチップ801を移送する図外のボンディングヘッドを備えており、該ボンディングヘッドには、前記チップ801を吸着する為のコレット802が設けられている。これにより、ウエハリング上のチップ801をリードフレーム803に塗布された接合剤804上に移送して、当該チップ801を前記リードフレーム803にボンディングできるように構成されている。
図5は、前記ボンディング装置の動作を示すフローチャートであり、該ボンディング装置は、前記ボンディングヘッドをピックアップ位置へ移動して該ピックアップ位置のチップ801をピックアップした後(SB1)、チップ801がピックアップされたか否かを確認する(SB2)。
前記チップ801がピックアップされていないミスピックアップ時には、ピックアップのリトライ回数が「1」のとき(SB3)、前記ステップSB1へ分岐してチップ801のピックアップを繰り返す一方、ピックアップのリトライ回数が「0」の場合には(SB4)、エラーとして当該処理を終了する。
前記ステップSB2において、チップ801がピックアップされていると確認できた際には、前記ボンディングヘッドをボンディング位置まで移動してボンディング点までの下降動作を開始し(SB5)、スロー下降中にコレット802に供給されたバキュームのオフ動作するとともに(SB6)、ボンディング点パフ動作を行う(SB7)。そして、スロー下降中でのバキュームオフ動作及びボンディング点パフ動作を終了し(SB8)、ボンディングヘッドがボンディング点までの下降動作を終了する(SB9)。
次に、ボンディングヘッドを、ボンディング点においてボンディング止まり時間停止した後(SB10)、前記ボンディングヘッドを、前記ボンディング点からの上昇動作を開始する(SB11)。このとき、ボンディング後のパフタイミングのオフセットにデータが入力されていたら(SB12)、ボンディング後のパフの長さパフをONして(SB13)、前記ステップSB1へ移行する。
しかしながら、このようなボンディング装置にあっては、ボンディングヘッドがボンディング点に到達する前にバキュームを停止してしまう為、チップ801が固定される高さ位置をコントロールすることができなかった。
これにより、高さ位置の偏差が大きくなる傾向にあった。
本発明は、このような従来の課題に鑑みてなされたものであり、ワークが固定される高さをコントロールすることができるボンディング方法及びボンディング装置を提供することを目的とするものである。
前記課題を解決するために本発明の請求項1のボンディング方法にあっては、ボンディングヘッドに負圧を供給してワークを吸着するとともに、ボンディングポイントに塗布された接合剤上に移送して前記ワークを前記ボンディングポイントにボンディングするボンディング方法において、前記ワークを吸着した前記ボンディングヘッドを前記ボンディングポイントにて所定の下降点まで下降した後、設定された高さ位置まで上昇してから前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断する。
すなわち、ワークをボンディングポイントに塗布された接合剤上に移送してボンディングする際には、前記ボンディングポイントにおいて、前記ワークを吸着した前記ボンディングヘッドを所定の下降点まで下降してから、設定された高さ位置まで上昇した後に、前記ボンディングヘッドに供給された負圧が遮断される。
このため、前記ワークは、前記ボンディングヘッドが前記高さ位置に上昇されるまで当該ボンディングヘッドに吸着された状態で保持される。
また、請求項2のボンディング方法においては、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇してから所定の切断待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断する。
すなわち、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇した際には、上昇してから所定の切断待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧が遮断される。
このため、前記高さ位置において、前記接合剤による前記ワークの接合状態が安定化される。
さらに、請求項3のボンディング方法では、前記高さ位置にて前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断してから所定の上昇待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドの上昇を開始する。
すなわち、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇した際には、当該高さ位置において前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断してから、所定の上昇待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドの上昇が開始される。
このため、前記負圧によって吸着された前記ワークの前記ボンディングヘッドからの離脱容易性が高められる。
そして、本発明の請求項4のボンディング装置にあっては、ボンディングヘッドに負圧を供給してワークを吸着するとともに、ボンディングポイントに塗布された接合剤上に移送して前記ワークを前記ボンディングポイントにボンディングするボンディング装置において、前記ワークを吸着した前記ボンディングヘッドを前記ボンディングポイントにて所定の下降点まで下降する下降手段と、前記ボンディングヘッドを前記下降点まで下降した後に、当該ボンディングヘッドを予め設定された高さ位置まで上昇する上昇手段と、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇した後に、前記ボンディングヘッドに供給した前記負圧を遮断する負圧遮断手段と、を備えている。
すなわち、ワークをボンディングポイントに塗布された接合剤上に移送してボンディングする際には、前記ワークを吸着した前記ボンディングヘッドを前記ボンディングポイントにおいて所定の下降点まで下降し、前記ボンディングヘッドが前記下降点まで下降した際には、当該ボンディングヘッドを予め設定された高さ位置まで上昇する。そして、前記ボンディングヘッドが前記高さ位置まで上昇した後には、前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧が遮断され、前記ワークは、前記ボンディングヘッドへの吸着状態が解除される。
このため、前記ワークは、前記ボンディングヘッドが前記高さ位置に上昇されるまで当該ボンディングヘッドに吸着された状態で保持される。
また、請求項5のボンディング装置においては、前記負圧遮断手段は、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇してから所定の切断待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断する。
すなわち、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇した際には、上昇してから所定の切断待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧が遮断される。
このため、前記高さ位置において、前記接合剤による前記ワークの接合状態が安定化される。
さらに、請求項6のボンディング装置では、前記高さ位置にて前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断してから所定の上昇待機時間経過するまで待機する上昇待機手段と、前記上昇待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドの上昇を開始するヘッド上昇開始手段と、をさらに備えている。
すなわち、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇した際には、当該高さ位置において前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断してから所定の上昇待機時間経過するまで待機する。その後、前記ボンディングヘッドの上昇が開始される。
これにより、前記負圧によって吸着された前記ワークの前記ボンディングヘッドからの離脱容易性が高められる。
以上説明したように本発明の請求項1のボンディング方法及び請求項4のボンディング装置にあっては、負圧によってボンディングヘッドに吸着されたワークを、前記ボンディングヘッドが下降点まで下降された後に所定の高さ位置に上昇されるまでボンディングヘッドに吸着した状態を維持することができる。
このため、ボンディングヘッドに供給された負圧を下降途中で遮断する構造上、固定されるワークの高さ位置が接合剤からの反力に依存する従来と比較して、前記ワークが固定される高さ位置をコントロールすることができる。これにより、固定されたワークの高さ位置の偏差を小さくすることができる。
また、請求項2のボンディング方法及び請求項5のボンディング装置においては、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇した際に、上昇してから所定の切断待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断する。
これにより、前記高さ位置において、前記接合剤による前記ワークの接合状態の安定化を図ることができる。
さらに、請求項3のボンディング方法及び請求項6のボンディング装置では、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇した際に、当該高さ位置において前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断してから所定の上昇待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドの上昇を開始する。
これにより、前記負圧によって吸着された前記ワークの前記ボンディングヘッドからの離脱容易性を高めることができ、ボンディングヘッドによる前記ワークの持ち帰りを防止することができる。
以下、本発明の一実施の形態を図に従って説明する。図1は、本実施の形態にかかるボンディング装置1を示すブロック図である。該ボンディング装置1は、本発明のボンディング方法でボンディングを行う装置であり、ウエーハリングに支持されたワークとしてのチップをピックアップしてリードフレーム上へ移送してボンディングする装置である。
このボンディング装置1は、制御部11を中心に構成されており、該制御部11には、ヘッド駆動部12が接続されている。該ヘッド駆動部12は、前記制御部11からの制御信号に従ってボンディングヘッドを駆動するように構成されており、当該ボンディングヘッドを、前記チップのピックアップ位置とボンディング位置との間で駆動できるように構成されている。
また、前記制御部11には、バキューム制御部21が接続されており、前記ボンディングヘッドに負圧を供給できるように構成されている。
これにより、図2に示すように、ボンディングヘッド31に設けられたコレット32を図外のウエハリングのチップ33上に移動し、当該コレット32に負圧を供給することで、前記チップ33を前記コレット32に吸着してピックアップするとともに、前工程においてリードフレーム34のボンディングポイントBPに塗布された半田やエポキシ樹脂等からなる接合剤35上に前記チップ33を移送して、当該チップ33を前記リードフレーム34にボンディングできるように構成されている。
前記制御部11には、図1に示したように、ミスピックアップ検出部41が接続されており、このミスピックアップ検出部41は、例えば前記コレット32に設けられたバキューム穴への光を進入を検出するセンサーによって構成されている。
また、前記制御部11には、入力部51が接続されており、該入力部51は、キーボードやスイッチ等によって構成されている。これにより、当該ボンディング装置1に設定値などのデータを入力できるように構成されている。
前記制御部11は、ROMやRAMを内蔵したマイコンを中心に構成されており、前記ROMには、処理手順を示すプログラム等が記憶されている。また、前記RAMには、前記入力部から予め入力された設定値などが記憶されており、その設定値としては、図2に示したように、ボンディング時に前記ボンディングヘッド31を下降する際の高さ位置を示す下降点としてのボンディング点61と、チップ固定時に前記ボンディングヘッド31を上昇する際の高さ位置を示す設定点62と、前記ボンディングヘッド31を前記設定点62まで上昇してから前記コレット32に供給された負圧を遮断するまでの時間を示す切断待機時間63と、前記コレット32への負圧の供給を遮断してから前記ボンディングヘッド31の上昇を開始するまでの時間を示す上昇待機時間64などが挙げられる。
そして、前記制御部11に設けられた前記マイコンが前記ROMに記憶されたプログラムに従って動作することにより、当該ボンディング装置1が作動するように構成されている。
以上の構成にかかる本実施の形態にかかるボンディング装置1の動作を、図3に示すフローチャートに従って説明する。
すなわち、前記制御部11は、ヘッド駆動部12及びバキューム制御部21に制御信号を出力することによって、前記ボンディングヘッド31のコレット32をウエハリングのチップ33上に移動して該チップ33を前記コレット32に吸着してピックアップした後(S1)、例えば前記ボンディングヘッド31をボンディングポイントBPへ移動する移移動経路上において、前記コレット32に前記チップ33が吸着されているか否かを前記ミスピックアップ検出部41からの信号によって判断する(S2)。
このとき、前記コレット32に前記チップ33が吸着されていないミスピックアップ時には、ピックアップのリトライ回数が「1」のとき(S3)、前記ステップS1へ分岐してチップ33のピックアップを繰り返す一方、ピックアップのリトライ回数が「0」になっていた場合には(S4)、エラーとして当該処理を終了する。
前記ステップS2において、前記コレット32に前記チップ33が吸着されていると確認できた場合には、図2に示したようように、前記ボンディングヘッド31をボンディングポイントBPまで移動して当該ボンディングヘッド31の下降動作を開始し(S5)、該ボンディングヘッド31がボンディング点61までの下降した際には、当該ボンディングヘッド31の下降動作を終了する(S6)。
この状態において、前記ボンディングヘッド31を前記ボンディング点61に維持して状態で、予め設定されたボンディング止まり時間、ボンディングヘッド31の移動を停止し(S7)、当該ボンディングヘッド31を、前記RAMに設定された設定点62までのチップ持ち上げ量分上昇して停止する(S8)。このとき、前記接合剤35には、反力が生じ、その反力によって当該接合剤35が盛り上がることによって、前記チップ33裏面に密着した状態が維持される。
そして、この設定点62の高さ位置において、前記RAMに設定された前記切断待機時間63待機した後、前記バキューム制御部21に制御信号を出力して前記コレット32に供給された負圧を遮断する(S9)。
これにより、前記ボンディングヘッド31を前記設定点62が示す高さ位置まで上昇してから前記切断待機時間63経過した後に、前記ボンディングヘッド31に供給された前記負圧を遮断することができる。このため、前記高さ位置において、前記接合剤35の固化を促進し、該接合剤35による前記チップ33の接合状態の安定化を図ることができる。
また、前記ボンディングヘッド31を前記設定点62が示す高さ位置まで上昇してから前記ボンディングヘッド31に供給された前記負圧を遮断して前記ボンディングヘッド31への前記チップ33の吸着状態を解除するため、前記ボンディングヘッド31が前記設定点62が示す高さ位置まで上昇する間は、前記チップ33を前記ボンディングヘッド31に吸着した状態を維持することができる。
このため、ボンディングヘッド31に供給された負圧を下降途中で遮断する構造上、固定されるチップ33の高さ位置が接合剤35からの反力に依存する従来と比較して、前記チップ33が固定される高さ位置をコントロールすることができる。これにより、固定されたチップ33の高さ位置の偏差を小さくすることができる。
具体的に説明すると、前記チップ33を前記リードフレーム34の接地面から40μmの高さ位置より高位置で固定する場合、前記高さ位置を示す前記設定値62を40μmに設定する。この場合、前記チップ33の固定位置を、前記リードフレーム34の接地面から最低でも40μm離れた位置にすることができる。
このように、前記リードフレーム34の接地面から最低でも40μm離れた位置にチップ33を固定するといった仕様であっても、これに対応することができる。
次に、前記ボンディングヘッド31を前記設定点62の高さ位置に維持した状態で、前記コレット32への負圧の供給を遮断してから前記RAMに記憶された前記上昇待機時間64待機した後(S10)、前記ボンディングヘッド31の上昇を開始する(S11)。
このため、前記負圧によって吸着された前記チップ33の前記コレット32からの離脱容易性を高めることができ、前記コレット32に正圧を供給すること無く、前記チップ33を確実に離脱することができる。これにより、前記ボンディングヘッド31による前記チップ33の持ち帰りを防止することができる。
そして、前記ステップS1へ移行して、次チップ33のボンデングへ移行する。
本発明の一実施の形態の示すブロック図である。 同実施の形態の構造と動作を示す説明図である。 同実施の形態の動作を示すフローチャートである。 従来のボンディング装置の構造と動作を示す説明図である。 従来例の動作を示すフローチャートである。
符号の説明
1 ボンディング装置
11 制御部
12 ヘッド駆動部
21 バキューム制御部
31 ボンディングヘッド
33 チップ
35 接合剤
61 ボンディング点
62 設定点
63 切断待機時間
64 上昇待機時間
51 入力部
BP ボンディングポイント

Claims (6)

  1. ボンディングヘッドに負圧を供給してワークを吸着するとともに、ボンディングポイントに塗布された接合剤上に移送して前記ワークを前記ボンディングポイントにボンディングするボンディング方法において、
    前記ワークを吸着した前記ボンディングヘッドを前記ボンディングポイントにて所定の下降点まで下降した後、設定された高さ位置まで上昇してから前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断することを特徴としたボンディング方法。
  2. 前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇してから所定の切断待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断することを特徴とした請求項1記載のボンディング方法。
  3. 前記高さ位置にて前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断してから所定の上昇待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドの上昇を開始することを特徴とした請求項1又は2記載のボンディング方法。
  4. ボンディングヘッドに負圧を供給してワークを吸着するとともに、ボンディングポイントに塗布された接合剤上に移送して前記ワークを前記ボンディングポイントにボンディングするボンディング装置において、
    前記ワークを吸着した前記ボンディングヘッドを前記ボンディングポイントにて所定の下降点まで下降する下降手段と、
    前記ボンディングヘッドを前記下降点まで下降した後に、当該ボンディングヘッドを予め設定された高さ位置まで上昇する上昇手段と、
    前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇した後に、前記ボンディングヘッドに供給した前記負圧を遮断する負圧遮断手段と、
    を備えたことを特徴とするボンディング装置。
  5. 前記負圧遮断手段は、前記ボンディングヘッドを前記高さ位置まで上昇してから所定の切断待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断することを特徴とした請求項4記載のボンディング装置。
  6. 前記高さ位置にて前記ボンディングヘッドに供給された前記負圧を遮断してから所定の上昇待機時間経過するまで待機する上昇待機手段と、
    前記上昇待機時間経過した後に、前記ボンディングヘッドの上昇を開始するヘッド上昇開始手段と、
    をさらに備えたことを特徴とする請求項4又は5記載のボンディング装置。
JP2006133182A 2006-05-12 2006-05-12 ボンディング方法及びボンディング装置 Pending JP2007305817A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006133182A JP2007305817A (ja) 2006-05-12 2006-05-12 ボンディング方法及びボンディング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006133182A JP2007305817A (ja) 2006-05-12 2006-05-12 ボンディング方法及びボンディング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007305817A true JP2007305817A (ja) 2007-11-22

Family

ID=38839487

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006133182A Pending JP2007305817A (ja) 2006-05-12 2006-05-12 ボンディング方法及びボンディング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007305817A (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0831850A (ja) * 1994-07-19 1996-02-02 Miyazaki Oki Electric Co Ltd ダイスボンダにおけるダイス吸着制御方法及びその構造
JP2000349099A (ja) * 1999-06-07 2000-12-15 Toshiba Corp はんだ接合方法および、半導体装置の製造方法
JP2002118125A (ja) * 2000-09-12 2002-04-19 Esec Trading Sa 半導体チップを装着する方法及び装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0831850A (ja) * 1994-07-19 1996-02-02 Miyazaki Oki Electric Co Ltd ダイスボンダにおけるダイス吸着制御方法及びその構造
JP2000349099A (ja) * 1999-06-07 2000-12-15 Toshiba Corp はんだ接合方法および、半導体装置の製造方法
JP2002118125A (ja) * 2000-09-12 2002-04-19 Esec Trading Sa 半導体チップを装着する方法及び装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI489537B (zh) Wafer picking machine picking method and wafer bonding machine
TWI552250B (zh) Collet cleaning method and the use of its grain adapter
JP6341641B2 (ja) ダイボンダ
JP5491748B2 (ja) 半導体装置の製造装置および半導体装置の製造方法
JP2009044008A (ja) ウエハの保護テープ剥離方法及び装置
US20140238618A1 (en) Die ejector and die separation method
JP3005786B2 (ja) チップボンデイング方法及び装置
KR20200034600A (ko) 반도체 제조 장치, 밀어올림 지그 및 반도체 장치의 제조 방법
JP2007305817A (ja) ボンディング方法及びボンディング装置
JP2011018734A (ja) ダイボンダ
JP2008270359A (ja) ダイボンダおよびボンディング方法
JP2004152858A (ja) 半導体製造装置及び方法
JP4346667B2 (ja) 部品実装装置及び部品実装方法
JP4800076B2 (ja) 部品搭載方法及び装置
JP5060273B2 (ja) 電子部品剥離装置
JP6411276B2 (ja) ボンディングアームの異常検出方法及びボンディングアームの異常検出装置
JP2009188079A (ja) ダイボンダおよびダイボンディング方法
JP5847410B2 (ja) ダイボンダ及び半導体製造方法
JP6391225B2 (ja) フリップチップボンダ及びフリップチップボンディング方法
JP2009200296A (ja) 半導体チップの受け渡しシステム
JP5826701B2 (ja) チップ位置決め装置、チップ位置決め方法、およびダイボンダ
JP2010016288A (ja) ピックアップ装置
JP4734296B2 (ja) ボンディング方法、ボンディングプログラム及びボンディング装置
JPH0632430B2 (ja) チップ部品装着機
JP4049721B2 (ja) ボンディング方法、ボンディングプログラム及びボンディング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081119

A977 Report on retrieval

Effective date: 20090330

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110426

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111025