JP6341641B2 - ダイボンダ - Google Patents
ダイボンダ Download PDFInfo
- Publication number
- JP6341641B2 JP6341641B2 JP2013166600A JP2013166600A JP6341641B2 JP 6341641 B2 JP6341641 B2 JP 6341641B2 JP 2013166600 A JP2013166600 A JP 2013166600A JP 2013166600 A JP2013166600 A JP 2013166600A JP 6341641 B2 JP6341641 B2 JP 6341641B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- die
- collet
- intermediate stage
- wafer
- foot
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Description
ボンディング工程を行う方法として、ウェハからピックアップしたダイを一度中間ステージ(アライメントステージ)に載置し、ボンディングヘッドで部品載置テーブルから再度ダイをピックアップし、搬送されてきた基板にボンディングする方法(特許文献1)がある。
ダイ4は、コレット40によってウェハからピックアップされる。例えば、ボンディングヘッド部のピックアップヘッド部に設けられたコレット40は、図示しない真空吸着機構の吸着動作によって、ダイ4をコレット40の先端部401の下面に吸着する。ダイ4を吸着したコレット40は、ピックアップヘッド部の図示しない駆動機構によって、X方向(水平方向)、Y方向(奥行き方向)、Z方向(上下方向)に適宜駆動され、中間ステージ444の直上に移動する。
図9に示すように、その後、コレット40は下降して、吸着したダイ4の下面が中間ステージ444表面に接触する位置で停止する。
次に、コレット40は、ダイ4の吸着を停止する。コレット40のダイ吸着停止と同時に、または吸着停止から所定時間経過後に、中間ステージ444の図示しない吸着機構が吸着を開始し、ダイ4は中間ステージ444表面のダイ載置面に載置される。
プレース荷重が加わることによって、ダイ4にクラックが発生する可能性がある。
また、中間ステージ444の表面は、ダイ4の裏面のDAF(Die Attached Film)がダイ載置面に貼り付くことを防止するために、粗く処理されている。このようなDAFが付着しているダイでは、プレース荷重によりDAFが劣化する恐れがある。さらに、中間ステージ444のダイ載置面に異物があった場合には、ダイ4にクラックが発生する可能性がある。
本発明の目的は、上記の問題に鑑み、ウェハからダイをピックアップして中間ステージに載置するときにおいて、ダイの破損がないコレット及びダイボンダを提供することにある。本発明の目的は、さらに、ダイにDAFが付いているときには、DAFの劣化がないコレット及びダイボンダを提供することにある。
本発明のコレットは、ダイの上面を吸着する平坦な吸着面と、前記吸着されたダイの側面を囲む足を有する先端部を有し、前記先端部の前記足の深さは前記ダイの厚さより大であることを第1の特徴とする。
なお本発明は、ダイにDAFが付いているかどうかにかかわらず、適用可能である。
図1によって本発明のダイボンダの一実施例を説明する。図1は、本発明のダイボンダの一実施例を上から見た概念図である。100はダイボンダ、1はウェハ供給部、2はワーク供給・搬送部、3はダイボンディング部、10はダイボンダの動作を制御する制御部である。
ダイボンダは、大別して、ウェハ供給部1と、ワーク供給・搬送部2と、ダイボンディング部3とを有する。
また、ウェハ供給部1において、11はウェハカセットリフタ、12はピックアップ装置である。さらに、ワーク供給・搬送部2において、21はスタックローダ、22はフレームフィーダ、23はアンローダである。またさらに、ダイボンディング部3において、31は基板チェック部、32はボンディングヘッド部である。
また、10は制御部であり、ダイボンダ100の各機器と相互にアクセスして、各機器を所定のプログラムに従って制御する。なお、図1では、各機器と相互にアクセスするための信号線を省略している。
ワーク供給・搬送部2は、ダイボンディング工程中の基板搬送工程を担う。ワーク供給・搬送部2において、基板P(図示しない)は、スタックローダ21によりフレームフィーダ22に供給される。フレームフィーダ22に供給された基板Pは、フレームフィーダ22上の2箇所の処理位置を介してアンローダ23に搬送される。
またダイボンディング部3は、ダイボンディング工程中のダイアタッチ工程を担う。ダイボンディング部3において、基板チェック部31は、フレームフィーダ22により搬送されてきた基板Pを基板認識カメラ(図示しない)で撮像し、制御部10に撮像した画像データを送信する。制御部10は、ダイボンダ100の原点と搬送された基板P上の基準点とのずれ量を画像処理によって算出する。算出されたずれ量から、ボンディング時の補正量を算出する。
即ち、ボンディングヘッド部32のピックアップヘッド部は、そのコレット6によってウェハからダイ4をピックアップし、ピックアップしたダイ4を上昇及び平行移動して中間ステージのダイ載置面の直上まで移動させる。即ち、ダイ4を吸着したコレット6は、ピックアップヘッド部の図示しない駆動機構によって、X方向(水平方向)、Y方向(奥行き方向)、Z方向(上下方向)に適宜駆動され、中間ステージ444の直上に移動する。その後、ピックアップヘッド部のコレット6が下降して、ダイ載置面にダイ4を載置する。
また、ボンディングヘッド部32のアタッチヘッド部は、中間ステージからダイ4を吸着ノズル部56によってピックアップして、ピックアップしたダイ4を上昇及び平行移動してフレームフィーダ22上のボンディングポイントまで移動させる。即ち、ダイ4を吸着した吸着ノズル部56は、アタッチヘッド部の図示しない駆動機構によって、X方向(水平方向)、Y方向(奥行き方向)、Z方向(上下方向)に適宜駆動され、基板P上にボンディングポイントの直上に移動する。その後、吸着ノズル部56の吸着ノズル561が下降して、ダイ4を基板P上にボンディング(ダイアタッチ)する。このとき、制御部10は、基板チェック部31において撮像された画像による補正量を用いて、ダイ4をアタッチする位置を補正してボンディングする。
また、ウェハ供給部1は、ダイボンディング工程中の剥離工程を担う。ウェハ供給部1において、ウェハカセットリフタ11は、ウェハリングが収納されたウェハカセット(図示しない)を有し、順次ウェハリングをピックアップ装置12に供給する。ピックアップ装置12の詳しい構成及び動作は、後述の図2及び図3によって説明する。
即ち、ピックアップ装置12は、ウェハリング14を保持するエキスパンドリング15と、ウェハリング14に保持され複数のダイ4(ウェハ5)が接着されたダイシングテープ16を水平に位置決めする支持リング17と、支持リング17の内側に配置されダイ4を上方に突き上げるための突き上げユニット50とを有する。
突き上げユニット50は、図示しない駆動機構によって、上下方向に移動するようになっている。ピックアップ対象のダイ4への突き上げユニット50の位置合わせのための移動は、例えば、水平(X)方向にはウェハリング14が移動し、奥行き(Y)方向には突き上げユニット50が移動するようになっているが、相対的にどちらが動いても良いことは自明である。また、コレット6(図4参照)とピックアップ対象のダイ4との位置合わせのための移動も、同様である。
突き上げユニット50は、下方よりダイ4を突き上げ、コレット6によるダイ4のピックアップ性を向上させている。ダイアタッチフィルム18を有するウェハ5では、ダイシングは、ウェハ5とダイアタッチフィルム18に対して行なわれる。従って、剥離(突き上げ)工程では、ダイ4とダイアタッチフィルム18をダイシングテープ16から剥離すると共に、コレット6の先端部461(図4以降を参照)がダイ4を吸着してピックアップする。
図4において、ピックアップ装置12のウェハリング14には、多数のダイ4が集合した半導体のウェハ(本明細書では、単に、ウェハという)5が保持されている。ウェハ5は、ダイ4毎に分離してピックアップできるようにダイシングされている。
突き上げユニット450は、ウェハ5上のピックアップ対象のダイ4を下から突き上げ、ウェハ5の裏面に貼りつけられているダイシングテープからダイ4を剥離する。一方、コレット6の先端部461は、ピックアップ対象のダイ4の直上まで下降し、ダイシングテープから剥離されたダイ4を真空吸着する。
(手順2)コレット移動ステップ
コレット6は、ダイ4を真空吸着後、上昇動作、平行移動動作等の移動動作を行ってコレット6の先端部461を中間ステージ444表面のダイ載置面の上方に移動する。
(手順3)コレット下降ステップ
コレット6は、中間ステージ444の所定高さまで先端部461を下降させるための下降動作を行う。
(手順4)ダイ載置ステップ
コレット6は、吸着動作を停止する。同時または所定時間経過後に、中間ステージ444は、吸着動作を開始する。この結果、ダイ4が中間ステージ444のダイ載置面に載置される。
以降、特に説明しないが、コレット6、中間ステージ444、吸着ノズル部56のそれぞれの吸着機構は、適宜、制御部10からの指令によって吸着の開始動作または停止動作を実行し、ダイボンダ100の正常な動作に寄与する。
制御部10は、算出したダイ4のずれ量から吸着ノズル部56の吸着位置を補正してダイ4を吸着する。中間ステージ444からダイ4を吸着した吸着ノズル部56は、ダイ4を真空吸着後、上昇、平行移動、及び下降を行ってダイボンディング部3のダイアタッチテーブル13上の基板Pの所定箇所にダイ4をアタッチする。
本発明の一実施例のコレット6は、本体部602と本体部602の下側に設けられた先端部601とから構成される。先端部601は、ダイ4の上面を吸着可能な平らな底面を有し、底面604には、ダイ4をコレット6が吸着可能にするための図示しない複数の吸着孔(図7、図8参照)を備えている。
足603の開口部の寸法は、ダイ4のサイズ(X,Y方向)にほぼ等しく、ダイ4が足603の開口部内に入って底面604にダイ4の上面が吸着されるように設けられる。開口部の大きさが大きいほど、ダイ4は入り込み易いが吸着効率が悪くなる。また、開口部の大きさが小さいほど、ダイ4の吸着効率が良くなるが開口部に入り込み難くなる。従って、足603の開口部の大きさは、両者を鑑みて程よく設計される必要がある。
従って、ダイ4を吸着したコレット6を下降し、中間ステージ444のダイ載置面にコレット6の先端部601を下降して接触したとしても、先端部601に設けられた足603の最下面がダイ載置面に接触し、これ以上下降しない。このため、ダイ4は直接中間ステージ444のダイ載置面に接触しない。
ピックアップステップ(手順1)の動作が実行され、ダイ4は、コレット6の先端部601の底面604に吸着される。
そして、コレット移動ステップ(手順2)が実行され、コレット6は、中間ステージ444表面のダイ載置面の直上方に移動する。
次に、コレット下降ステップ(手順3)が実行される。この時、コレット6が下降し、先端部601の足603の最下面が、中間ステージ444の表面(ダイ載置面)に接触する。即ち、足603の最下面が、中間ステージ444の表面に接触するまで下降する。この時、図5に示すように、ダイ4の厚さtが足603の高さdより小さいため、先端部601に吸着されたダイ4の下面は、中間ステージ444の表面には接触しない。
ダイ載置ステップ(手順4)では、コレット6は、ダイ4の吸着を停止する。また同時に、またはダイ4の吸着停止後所定時間経過後、中間ステージ444は、ダイ4を吸着する。その結果、図6に示すように、ダイ4は、中間ステージ444に載置される。
その後、ピックアップヘッド部のコレット6は、上昇動作、平行移動動作を行って、次のダイをピックアップする動作を行う。また、中間ステージ444に載置されたダイ4は、ボンディングヘッド部32の動作によって、基板Pにダイアッタッチされる。
例えば、ダイ4がコレット6の吸着解除後ダイの吸着停止と同時に、中間ステージ444が吸着機構を動作させてダイ4の吸着を開始することによって、ダイ4は、高さα(α=d−t)だけ落下して中間ステージ444に着地する。しかし、落下距離が小さいため、ダイ4には極めて小さな力しか加わらないので、ダイの破損がなく、またDAFの劣化がない。
また例えば、ダイ4がコレット6の吸着解除後、またはダイの吸着停止から所定時間経過させることによって、ダイ4は、自然落下して中間ステージ444に着地することによって、中間ステージ444のダイ載置面上に載置される。しかし、落下距離が小さく、ダイの自重が小さいため、ダイ4には極めて小さな力しか加わらないので、ダイの破損がなく、またDAFの劣化がない。
また本発明は、ダイにDAFが付いているかどうかにかかわらず、適用可能である。
なお、コレット6が吸着解除後、またはダイの吸着停止から所定時間経過後に、吸引ではなく、逆に、ダイ4にむけてエアーを吹き出し、ダイ4を中間ステージ444のダイ載置面に載置するようにしても良い。これによって、ダイの載置が迅速かつ確実に実行される。
また、先端部82は、吸着面である底面45に吸着されるダイ4の側面(周囲)を囲むように、スカート状の足82tを設けている。この足82tは、ダイ4を吸着する場合に、周囲の雰囲気を遮断し、ダイ4周辺を真空状態に近い状態にして、ダイ4を効率良く吸着するために役立っている。
足82tの開口部の寸法は、ダイ4のサイズ(X,Y方向)にほぼ等しく、ダイ4が足82tの開口部内に入って底面45にダイ4の上面が吸着されるように設けられる。開口部の大きさが大きいほど、ダイ4は入り込み易いが吸着効率が悪くなる。また、開口部の大きさが小さいほど、ダイ4の吸着効率が良くなるが開口部に入り込み難くなる。従って、足82tの開口部の大きさは、両者を鑑みて程よく設計される必要がある。
従って、ダイ4を吸着したコレット86を下降し、中間ステージ444のダイ載置面にコレット86の先端部82を下降して接触したとしても、先端部82に設けられた足82tの最下面がダイ載置面に接触し、これ以上下降しない。このため、ダイ4は直接中間ステージ444のダイ載置面に接触しない。
また、図4によって説明したウェハ5からダイ4をピックアップして中間ステージ444に載置するまでの(手順1)〜(手順4)の動作は、実施例2のコレット86を使っても実行可能である。
例えば、ダイ4がコレット86の吸着解除後ダイの吸着停止と同時に、中間ステージ444が吸着機構を動作させてダイ4の吸着を開始することによって、ダイ4は、高さα(α=d−t)だけ落下して中間ステージ444に着地する。しかし、落下距離が小さいため、ダイ4には極めて小さな力しか加わらないので、ダイの破損がなく、またDAFの劣化がない。
また本発明は、ダイにDAFが付いているかどうかにかかわらず、適用可能である。
また例えば、ダイ4がコレット86の吸着解除後、またはダイの吸着停止から所定時間経過させることによって、ダイ4は、自然落下して中間ステージ444に着地することによって、中間ステージ444のダイ載置面上に載置される。しかし、落下距離が小さく、ダイの自重が小さいため、ダイ4には極めて小さな力しか加わらないので、ダイの破損がなく、またDAFの劣化がない。
なお、コレット86が吸着解除後、またはダイの吸着停止から所定時間経過後に、吸引ではなく、逆に、ダイ4にむけてエアーを吹き出し、ダイ4を中間ステージ444のダイ載置面に載置するようにしても良い。これによって、ダイの載置が迅速かつ確実に実行される。
また本発明は、ダイにDAFが付いているかどうかにかかわらず、適用可能である。
近年の傾向として、ダイの厚さが薄くなってきていることに鑑み、本発明の効果は大きい。
以上、本発明を実施例によって詳細に説明したが、上述の説明に基づいて当業者にとって種々の代替例、修正又は変形が可能であり、本発明はその趣旨を逸脱しない範囲で前述の種々の代替例、修正又は変形を包含するものである。また、本発明は、上述の実施例に限定されるわけではなく、本発明が属する技術分野において、通常の知識を有する者であれば、本発明の思想と精神に基づいて、本発明を修正若しくは変更できる発明が含まれることは勿論である。
Claims (3)
- ウェハを保持するダイ供給部と、
前記ウェハからダイをピックアップし中間ステージに前記ダイを載置するピックアップヘッドと、
前記中間ステージから前記ダイをピックアップし基板又は既にボンディングされた前記ダイ上にボンディングするアタッチヘッドと、
前記ダイ供給部と前記ピックアップヘッドと前記中間ステージと前記アタッチヘッドとを制御する制御部と、
を備え、
前記ピックアップヘッドは、前記ダイの上面を吸着する平坦な吸着面と、前記吸着されたダイの側面を囲む足を設けた先端部とを有し、前記先端部の前記足の深さが前記ダイの厚さより大であるコレットを具備し、
前記ウェハはその裏面にダイアタッチフィルムが貼付されており、
前記先端部は前記ダイの中央部および端部に対応する部分に吸着孔を有し、
前記ダイを吸着する際に周囲の雰囲気を遮断するために前記先端部の前記足が前記吸着されたダイの前記側面に対向する4辺を囲む形状を有し、
前記制御部は、前記足の最下面が、前記中間ステージの表面に接触するまで下降した後、前記ピックアップヘッドによる前記ダイの吸着を停止すると共に、同時または前記ダイの吸着停止後所定時間経過後、前記中間ステージにより前記ダイを吸着することを特徴とするダイボンダ。 - 請求項1記載のダイボンダにおいて、前記コレットはさらに、前記先端部を差し込んで固定するコレットホルダを有することを特徴とするダイボンダ。
- 請求項1記載のダイボンダにおいて、前記足の開口部の寸法は前記ダイのサイズに等しいことを特徴とするダイボンダ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013166600A JP6341641B2 (ja) | 2013-08-09 | 2013-08-09 | ダイボンダ |
TW103125855A TW201521138A (zh) | 2013-08-09 | 2014-07-29 | 筒夾及固晶裝置 |
KR1020140100346A KR101666276B1 (ko) | 2013-08-09 | 2014-08-05 | 콜릿 및 다이 본더 |
CN201410389939.1A CN104347435B (zh) | 2013-08-09 | 2014-08-08 | 吸附筒夹和芯片接合器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013166600A JP6341641B2 (ja) | 2013-08-09 | 2013-08-09 | ダイボンダ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015035548A JP2015035548A (ja) | 2015-02-19 |
JP6341641B2 true JP6341641B2 (ja) | 2018-06-13 |
Family
ID=52502785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013166600A Active JP6341641B2 (ja) | 2013-08-09 | 2013-08-09 | ダイボンダ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6341641B2 (ja) |
KR (1) | KR101666276B1 (ja) |
CN (1) | CN104347435B (ja) |
TW (1) | TW201521138A (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104900575B (zh) * | 2015-06-23 | 2018-11-20 | 上海航天电子通讯设备研究所 | 真空共晶焊的芯片定位夹具、制造方法及芯片转运方法 |
JP6705668B2 (ja) * | 2016-03-11 | 2020-06-03 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | ダイボンディング装置および半導体装置の製造方法 |
CN107403755A (zh) * | 2016-05-19 | 2017-11-28 | 胡川 | 芯片制作方法 |
WO2018146880A1 (ja) * | 2017-02-09 | 2018-08-16 | ボンドテック株式会社 | 部品実装システム、樹脂成形装置、部品実装方法および樹脂成形方法 |
JP6846958B2 (ja) * | 2017-03-09 | 2021-03-24 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | ダイボンディング装置および半導体装置の製造方法 |
JP7033878B2 (ja) * | 2017-10-16 | 2022-03-11 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 |
CN109616430B (zh) * | 2018-11-13 | 2020-10-30 | 武汉电信器件有限公司 | 一种芯片贴装识别系统及方法 |
US11728202B2 (en) | 2019-01-29 | 2023-08-15 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Element pickup device, method for manufacturing the same and method for using the same |
TWI748763B (zh) * | 2020-11-23 | 2021-12-01 | 鴻勁精密股份有限公司 | 拾取機構及其應用之作業設備 |
CN112735982B9 (zh) * | 2020-12-30 | 2021-10-08 | 江苏新智达新能源设备有限公司 | 晶圆蓝膜取晶固晶装置 |
CN112846521B (zh) * | 2020-12-31 | 2024-03-12 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 一种夹具及激光标记系统 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0732190B2 (ja) * | 1990-10-12 | 1995-04-10 | 同和鉱業株式会社 | 半導体ペレットのピックアップ方法 |
JP4140190B2 (ja) * | 2000-11-22 | 2008-08-27 | 松下電器産業株式会社 | 電子部品実装方法 |
KR100643714B1 (ko) * | 2005-02-24 | 2006-11-10 | 삼성테크윈 주식회사 | 칩 분리장치 |
KR100769111B1 (ko) * | 2006-03-13 | 2007-10-22 | 캐논 머시너리 가부시키가이샤 | 콜렛, 다이 본더 및 칩의 픽업 방법 |
JP2009200377A (ja) * | 2008-02-25 | 2009-09-03 | Panasonic Corp | ダイボンディング装置 |
JP5065969B2 (ja) | 2008-03-31 | 2012-11-07 | 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ | 部品実装装置 |
JP5123357B2 (ja) * | 2010-06-17 | 2013-01-23 | 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ | ダイボンダ及びピックアップ装置 |
JP5989313B2 (ja) * | 2011-09-15 | 2016-09-07 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | ダイボンダ及びボンディング方法 |
JP5814713B2 (ja) * | 2011-09-16 | 2015-11-17 | ファスフォードテクノロジ株式会社 | ダイボンダ及びダイボンディング方法 |
-
2013
- 2013-08-09 JP JP2013166600A patent/JP6341641B2/ja active Active
-
2014
- 2014-07-29 TW TW103125855A patent/TW201521138A/zh unknown
- 2014-08-05 KR KR1020140100346A patent/KR101666276B1/ko active IP Right Grant
- 2014-08-08 CN CN201410389939.1A patent/CN104347435B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20150018405A (ko) | 2015-02-23 |
TW201521138A (zh) | 2015-06-01 |
JP2015035548A (ja) | 2015-02-19 |
CN104347435B (zh) | 2018-09-11 |
TWI562263B (ja) | 2016-12-11 |
KR101666276B1 (ko) | 2016-10-13 |
CN104347435A (zh) | 2015-02-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6341641B2 (ja) | ダイボンダ | |
KR101489054B1 (ko) | 다이본더 및 픽업 방법 및 픽업 장치 | |
KR101970884B1 (ko) | 반도체 제조 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
JP6086763B2 (ja) | コレットクリーニング方法及びそれを用いたダイボンダ | |
CN108400096B (zh) | 半导体制造装置及半导体器件的制造方法 | |
CN108346585B (zh) | 半导体制造装置及半导体器件的制造方法 | |
KR102490394B1 (ko) | 다이 본딩 장치, 반도체 장치의 제조 방법, 및 박리 장치 | |
JP2017224640A (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
JP2007158102A (ja) | ボンディング装置 | |
JP6941513B2 (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
TWI808515B (zh) | 用於在焊接設備中傳送晶粒的裝置以及方法、焊接設備 | |
JP2015076410A (ja) | ボンディング方法及びダイボンダ | |
JP3861710B2 (ja) | 電子部品供給装置および電子部品実装装置 | |
JP2018063967A (ja) | チップのピックアップ方法 | |
JP5634021B2 (ja) | 半導体装置の製造装置および半導体装置の製造方法 | |
JP6200735B2 (ja) | ダイボンダ及びボンディング方法 | |
JP2013214683A (ja) | 半導体チップのピックアップ装置 | |
JP2012084685A (ja) | チップ剥離装置およびチップ剥離方法 | |
JP5814713B2 (ja) | ダイボンダ及びダイボンディング方法 | |
JP5826701B2 (ja) | チップ位置決め装置、チップ位置決め方法、およびダイボンダ | |
JP5953069B2 (ja) | ダイボンダ | |
JP4782177B2 (ja) | チップ積層体の製造装置 | |
JP2020181887A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2006303151A (ja) | 半導体チップのボンディング方法及び吸着治具、並びに半導体チップのボンディング装置 | |
JP2012199461A (ja) | ダイボンダ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20150330 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20150508 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160803 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170420 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170425 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170620 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171107 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171219 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180424 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180515 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6341641 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |