JP2007299833A - 構造体、透過型液晶表示装置、半導体回路の製造方法および透過型液晶表示装置の製造方法 - Google Patents

構造体、透過型液晶表示装置、半導体回路の製造方法および透過型液晶表示装置の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 半導体回路とカラーフィルターの位置合わせが容易な構造体、透過型液晶表示装置、半導体回路の製造方法および透過型液晶表示装置の製造方法を提供する。
【解決手段】 実質的に透明な板状の基材3としてコーニング社製無アルカリガラス1737(厚さ0.5mm)を用い、その厚さ方向の一方の面にR(赤)、G(緑)、B(青)のカラーフィルター層4を形成し、そのうえに透明樹脂からなる保護層を形成した。前記カラーフィルターが基材3の反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンと位置合わせを行って設けた。
【選択図】図1

Description

本発明は、構造体、透過型液晶表示装置、半導体回路の製造方法および透過型液晶表示装置の製造方法に関するものである。
一般にディスプレイなどの電子デバイスの駆動用トランジスタとして、アモルファスシリコンや多結晶シリコン等を用いた薄膜トランジスタが用いられてきた。
しかしながら、アモルファスシリコンや多結晶シリコンは不透明であり、また可視光領域において光感度を持つため、遮光膜が必要となる。
そのため、薄膜トランジスタやその配線等の半導体回路(以下、半導体回路とよぶ)は視認性の問題となるためディスプレイ観察側から見るとディスプレイ表示要素の裏側に設置されてきた。
また、透過型液晶表示装置のカラー化においては一般的にはカラーフィルターが用いられるが、上記の理由により、カラーフィルターと薄膜トランジスタ基板の間に液晶封入層が形成される(特許文献1参照)。
しかしながら、この位置にカラーフィルターおよび半導体回路基板が形成されると、例えば液晶の場合は、液晶を封入した後、半導体回路とカラーフィルターとの間に液晶を介在させた状態で位置合わせする必要があり、高い精度を得るためには困難が伴い、コスト上昇や歩留まり低下の原因となっている。
特開平9−73082号公報
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、半導体回路とカラーフィルターの位置合わせが容易な構造体、透過型液晶表示装置、半導体回路の製造方法および透過型液晶表示装置の製造方法を提供することを目的とする。
請求項1の発明は、実質的に透明な板状の基材と、前記基材の厚さ方向の一方の面に設けられたカラーフィルターと、前記カラーフィルターが前記基材の反対側に臨む面に設けられた半導体回路とを備え、前記半導体回路は、実質的に透明な薄膜トランジスタと、前記トランジスタに導通された電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成された配線とを有することを特徴とする構造体である。
請求項1の発明によれば、カラーフィルターの上に実質的に透明な半導体回路を設けることで、視認性に影響を与えず、かつカラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易にできるようになる。
請求項2の発明は、実質的に透明な板状の基材と、前記基材の厚さ方向の一方の面に設けられたカラーフィルターと、前記カラーフィルターが前記基材の反対側に臨む面に設けられた半導体回路と、前記半導体回路が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に設けられ前記半導体回路によって駆動される透過型液晶表示要素とを備え、前記半導体回路は、実質的に透明な薄膜トランジスタと、前記トランジスタに導通された電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成された配線とを有することを特徴とする透過型液晶表示装置である。
請求項2の発明によれば、カラーフィルターの上に実質的に透明な半導体回路を設けることで、視認性に影響を与えることなく、カラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易にできるようになる。
また従来の透過型液晶表示装置ではカラーフィルター用の基材と半導体回路用の基材の2枚の基材が必要であったが、本発明の透過型表示装置では基材が一枚で済むため基材のコストが削減できる上、画像表示装置の重量も軽くなる。ここで透過型液晶表示要素とは配向膜 / 液晶 / 配向膜 / 共通電極 / 実質的に透明な基材 から構成される構造体である。
請求項3の発明は、前記薄膜トランジスタは、ソース、ドレイン、ゲートの各電極と、半導体活性層と、ゲート絶縁膜とを有し、前記半導体活性層が金属酸化物を主成分とする材料からなることを特徴とする請求項1記載の構造体または請求項2記載の透過型液晶表示装置である。
請求項3の発明によれば、金属酸化物半導体を使用することで透明でかつ優れた特性を持つ薄膜トランジスタを実現できる。
請求項4の発明は、前記薄膜トランジスタは、ソース、ドレイン、ゲートの各電極と、半導体活性層と、ゲート絶縁膜とを有し、前記半導体活性層が有機物を主成分とする材料からなることを特徴とする請求項1記載の構造体または請求項2記載の透過型液晶表示装置である。
請求項4の発明によれば、有機物を主成分とする材料を用いることで透明でかつ優れた特性を持つ薄膜トランジスタを実現できる。
請求項5の発明は、実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを設ける工程と、前記カラーフィルターが前記基材の反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンと位置合わせを行って設ける工程とを含むことを特徴とする半導体回路の製造方法である。
請求項6の発明は、実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを設ける工程と、前記カラーフィルターが前記基材の反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンと位置合わせを行って設ける工程と、前記半導体回路が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に透過型液晶表示要素を設ける工程とを含むことを特徴とする透過型液晶表示装置の製造方法である。
請求項5、請求項6の発明によれば、視認性に影響を与えることなく、カラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易になり、製造コストを下げることができる。
本発明によれば、実質的に透明な基材上に設けられたカラーフィルターの上に実質的に透明な半導体回路を形成し、透過型液晶表示要素の前面に配置したので、視認性に影響を与えることなく、カラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易になり製造コストを低減する上で有利となる。
本発明の実施の形態を図示して説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
図1および図2に本発明の一実施形態を示す。図1は本発明の透過型液晶表示装置のほぼ1画素分の部分断面図、図には本発明の透過型液晶表示装置の概略断面図である。
カラーフィルターと透明な半導体回路を形成する基材3および液晶表示要素用基材18は実質的に透明でなければならない。
ここで実質的に透明とは可視光である波長領域400nm〜700nmの範囲内で透過率が70%以上であることである。
具体的にはポリメチルメタクリレート、ポリアクリレート、ポリカーボネート、ポリスチレン、ポリエチレンサルファイド、ポリエーテルスルホン、ポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、シクロオレフィンポリマー、ポリエーテルサルフェン、トリアセチルセルロース、ポリビニルフルオライドフィルム、エチレン-テトラフルオロエチレン共重合樹脂、耐候性ポリエチレンテレフタレート、耐候性ポリプロピレン、ガラス繊維強化アクリル樹脂フィルム、ガラス繊維強化ポリカーボネート、透明性ポリイミド、フッ素系樹脂、環状ポリオレフィン系樹脂、ガラス、石英等を使用することができる。これらは単独の基材として使用してもよいが、二種以上を積層した複合基材を使用することもできる。
また基材が有機物フィルムである場合は、素子の耐久性を上げるために透明のガスバリア層を形成することも好ましい。ガスバリア層としてはAl2O3、SiO2、SiN、SiON、SiC、ダイヤモンドライクカーボン(DLC)などが上げられるがこれらに限定されるものではない。またこれらのガスバリア層は二層以上積層して使用することもできる。またガスバリア層は有機物フィルム基板の片面だけに付与してもよいし、両面に付与しても構わない。ガスバリア層は蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタ法、レーザーアブレーション法、プラズマCVD (Chemical Vapor Deposition)法、ホットワイヤーCVD法、ゾルゲル法などで形成されるが、これらに限定されるものではない。
本発明の実質的に透明なゲート電極、ソース電極、ドレイン電極、補助コンデンサー電極、画素電極、走査線電極、信号線電極および透過型液晶表示要素の共通電極には、酸化インジウム(In2O3)、酸化スズ(SnO2)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化カドミウム(CdO)、酸化インジウムカドミウム(CdIn2O4)、酸化カドミウムスズ(Cd2SnO4)、酸化亜鉛スズ(Zn2SnO4)、酸化インジウム亜鉛(In-Zn-O)等の酸化物材料でもよい。
またこの酸化物材料に不純物をドープしたものも好適に用いられる。
例えば、酸化インジウムにスズ(Sn)やモリブデン(Mo)、チタン(Ti)をドープしたもの、酸化スズにアンチモン(Sb)やフッ素(F)をドープしたもの、酸化亜鉛にインジウム、アルミニウム、ガリウム(Ga)をドープしたものなどである。
この中では特に酸化インジウムにスズ(Sn)をドープした酸化インジウムスズ(通称ITO)が高い透明性と低い抵抗率のために特に好適に用いられる。
また上記導電性酸化物材料とAu、Ag、Cu、Cr、Al、Mg、Liなどの金属の薄膜を複数積層したものも使用できる。この場合、金属材料の酸化や経時劣化を防ぐために導電性酸化物薄膜 / 金属薄膜 / 導電性酸化物薄膜の順に積層した3層構造が特に好適に用いられる。
また金属薄膜層での光反射や光吸収が表示装置の視認性を妨げないために金属薄膜層はできる限り薄くすることが好ましい。具体的には1 nm以上20 nm以下であることが望ましい。
またPEDOT(ポリエチレンジオキシチオフェン)等の有機導電性材料も好適に用いることができる。
ゲート電極、ソース電極、ドレイン電極、補助コンデンサー電極、画素電極、走査線電極、信号線電極、共通電極は同じ材料であっても構わないし、また全て違う材料であっても構わない。しかし、工程数を減らすためにゲート電極と補助コンデンサー電極、ソース電極とドレイン電極は同一の材料であることがより望ましい。これらの透明電極は、真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタ法、レーザーアブレーション法、プラズマCVD法、光CVD法、ホットワイヤーCVD法またはスクリーン印刷、凸版印刷、インクジェット法等で形成することができるが、これらに限定されるものではない。
本発明の表示装置に用いる実質的に透明な半導体活性層としては酸化物半導体材料、もしくは有機物半導体材料が好適に使用できる。
酸化物半導体材料は亜鉛、インジウム、スズ、タングステン、マグネシウム、ガリウムのうち一種類以上の元素を含む酸化物である、酸化亜鉛、酸化インジウム、酸化インジウム亜鉛、酸化スズ、酸化タングステン(WO)、酸化亜鉛ガリウムインジウム(In-Ga-Zn-O)等公知の材料が挙げられるがこれらに限定されるものではない。これらの材料は実質的に透明であり、バンドギャップが2.8eV以上、好ましくはバンドギャップが3.2eV以上であることが望ましい。これらの材料の構造は単結晶、多結晶、微結晶、結晶/アモルファスの混晶、ナノ結晶散在アモルファス、アモルファスのいずれであってもかまわない。
半導体層の膜厚は少なくとも20nm以上が望ましい。
酸化物半導体層はスパッタ法、パルスレーザー堆積法、真空蒸着法、CVD法、MBE (Molecular Beam Epitaxy)法、ゾルゲル法などの方法を用いて形成されるが、好ましくはスパッタ法、パルスレーザー堆積法、真空蒸着法、CVD法である。スパッタ法ではRFマグネトロンスパッタ法、DCスパッタ法、真空蒸着では加熱蒸着、電子ビーム蒸着、イオンプレーティング法、CVD法ではホットワイヤーCVD法、プラズマCVD法などが挙げられるがこれらに限定されるものではない。
有機物半導体材料としては、ペンタセンやテトラセンなどのアセン類、ナフタレンテトラカルボン酸二無水物(NTCDA)やナフタレンテトラカルボン酸ジイミド(NTCDI)、あるいはポリチオフェンやポリアニリン、ポリ-p-フェニレンビニレン、ポリアセチレン、ポリジアセチレン、ポリチエニレンビニレンといった共役高分子を挙げることができるが、これらに限定されるものではない。これらの材料は実質的に透明であり、バンドギャップが2.8eV以上、好ましくはバンドギャップが3.2eV以上であることが望ましい。これらの有機半導体材料は、スクリーン印刷、反転印刷、インクジェット法、スピンコート、ディプコート、蒸着法等で形成されるが、これらに限定されるものではない。
本発明で用いられる薄膜トランジスタのゲート絶縁膜8に用いる材料は、特に限定しないが、酸化シリコン、窒化シリコン、シリコンオキシナイトライド(SiNxOy)、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化イットリウム、酸化ハフニウム、ハフニウムアルミネート、酸化ジルコニア、酸化チタン等の無機材料、または、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等のポリアクリレート、PVA(ポリビニルアルコール)、PS(ポリスチレン)、透明性ポリイミド、ポリエステル、エポキシ、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール等が挙げられるがこれらに限定されるものではない。ゲートリーク電流を抑えるためには、絶縁材料の抵抗率は1011Ωcm以上、望ましくは1014Ωcm以上であることが好ましい。
絶縁層は真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタ法、レーザーアブレーション法、プラズマCVD法、光CVD法、ホットワイヤーCVD法、スピンコート、ディップコート、スクリーン印刷などの方法を用いて形成される。絶縁層の厚さは50nm〜2μmであることが望ましい。これらのゲート絶縁膜は単層として用いても構わないし、複数の層を積層したものを用いても構わないし、また成長方向に向けて組成を傾斜したものでも構わない。
本発明で用いられる薄膜トランジスタの構成は特に限定されない。ボトムコンタクト型、トップコンタクト型のどちらであっても構わない。ただし有機半導体を用いる場合は、ゲート電極、ゲート絶縁膜、ソース電極およびドレイン電極、有機半導体の順に素子を作成するボトムコンタクト型が望ましい。なぜなら、有機半導体を形成してから次工程のプラズマプロセスなどに有機半導体を曝すと半導体層がダメージを受けるからである。また本発明で用いられる薄膜トランジスタ上に層間絶縁膜12を設けさらにその上にドレイン電極と電気的に接続されている画素電極13を設けることで、開口率を高くすることは好適に行われる。
層間絶縁膜12としては絶縁性で実質的に透明であれば特に限定されない。例えば、酸化シリコン、窒化シリコン、シリコンオキシナイトライド(SiNxOy)、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化イットリウム、酸化ハフニウム、ハフニウムアルミネート、酸化ジルコニア、酸化チタン等の無機材料、または、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等のポリアクリレート、PVA(ポリビニルアルコール)、PS(ポリスチレン)、透明性ポリイミド、ポリエステル、エポキシ、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール等が挙げられるがこれらに限定されるものではない。層間絶縁膜はゲート絶縁膜と同じ材料であっても構わないし、異なる材料であっても構わない。これらの層間絶縁膜は単層として用いても構わないし、複数の層を積層したものを用いても構わない。
またボトムゲート構造の素子の場合は半導体層の上を覆うような保護膜を設けることも好ましい。保護膜を用いることで、半導体層が湿度などで経時変化を受けたり、層間絶縁膜から影響を受けたりすることを防ぐことができる。保護膜として酸化シリコン、窒化シリコン、シリコンオキシナイトライド(SiNxOy)、酸化アルミニウム、酸化タンタル、酸化イットリウム、酸化ハフニウム、ハフニウムアルミネート、酸化ジルコニア、酸化チタン等の無機材料、または、PMMA(ポリメチルメタクリレート)等のポリアクリレート、PVA(ポリビニルアルコール)、PS(ポリスチレン)、透明性ポリイミド、ポリエステル、エポキシ、ポリビニルフェノール、ポリビニルアルコール、フッ素系樹脂等が挙げられるがこれらに限定されるものではない。これらの保護膜は単層として用いても構わないし、複数の層を積層したものを用いても構わない。
本発明の画素電極は薄膜トランジスタのドレイン電極と電気的に接続していなければならない。具体的には、層間絶縁膜をスクリーン印刷などの方法でパターン印刷してドレイン電極の部分に層間絶縁膜を設けない方法などや、層間絶縁膜を全面に塗布し、そのあとレーザービーム等相関絶縁膜に穴を空ける方法などが挙げられる。
本発明で用いられる透過型カラーフィルター4は赤色フィルター(R)、緑色フィルター(G)、青色カラーフィルター(B)の3種類、もしくは赤色フィルター(R)、緑色フィルター(G)、青色カラーフィルター(B)、およびブラックマトリックス(BM)から形成されていることが好ましいがこれらに限定されるものではない。
言い換えると、透過型カラーフィルターは、実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に設けられ、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有している。
前記カラーフィルター着色層はその各色フィルターをそれぞれ所定幅の線条(ストライプ)マトリクス状、または所定サイズの矩形マトリクス状等、適宜パターン状にパターニングされている。また着色パターン形成後に、着色パターンを保護し、カラーフィルター層の凸凹を小さくするために、カラーフィルター層上に透明なオーバーコートが好適に設けられる。
(実施例1)
図1および図2に実施例1の断面図を示す。図1は本実施例の透過型表示装置のほぼ1画素分の部分断面図、図2は本実施例の透過型表示装置の概略断面図である。
実質的に透明な板状の基材3としてコーニング社製無アルカリガラス1737(厚さ0.5mm)を用い、その厚さ方向の一方の面にR(赤)、G(緑)、B(青)のカラーフィルター層4を形成し、そのうえに透明樹脂からなる保護層を形成した。
続いて、カラーフィルター(カラーフィルター層4)上に、言い換えると、カラーフィルターが基材3の反対側に臨む面に、ITO薄膜をDCマグネトロンスパッタ法で50nm形成した。そして、該ITO薄膜をカラーフィルター層の各画素と位置合わせをしながら、所望の形状にパターニングし、ゲート電極6および補助コンデンサー電極7とした。
さらにその上に窒化シリコン(Si3N4)のターゲットを用いてRFスパッタ法でSiON薄膜を150nm形成し、ゲート絶縁膜8とした。
さらに、半導体活性層11として、InGaZnO4ターゲットを用いアモルファスIn-Ga-Zn-O薄膜をRFスパッタ法で40nm形成し、所望の形状にパターニングした。
その上に、レジストを塗布し、乾燥、現像を行った後、ITO膜をDCマグネトロンスパッタ法で50nm形成し、リフトオフを行いソース電極9およびドレイン電極10とした。
さらに、印刷法を用いてエポキシ系樹脂を5μmパターン印刷し、層間絶縁膜12を形成した。
そして最後にITO膜をマグネトロンスパッタ法で100nm成膜しパターニングを行い、画素電極13とした。
言い換えると、前記カラーフィルターが基材3の反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンと位置合わせを行って設けた。
各膜の作成条件を表1に示す。こうして作成された実質的に透明な半導体回路の上に配向膜22を塗布した。
それに、共通電極としてITO薄膜を70nm成膜したコーニング社製無アルカリガラス1737(厚さ0.5mm)上に配向膜24を塗布して薄膜トランジスタを形成した基材をスペーサーを介して配置し、その後そのスペーサー間に液晶を封入した。
最後に、実質的に透明な基材3のカラーフィルターが形成されていない面に位相差板20と偏光板21を配置して実施例1の表示装置を作製した。
これにより、表示装置は、その視認側から見て、実質的に透明な基板、カラーフィルター、実質的に透明な薄膜トランジスタおよび該トランジスタと電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成した配線からなることを特徴とする半導体回路、透過型液晶表示要素の順に配置されて構成されることになる。
Figure 2007299833
(実施例2)
図1および図2に本実施例の断面図を示す。図1は本実施例の透過型表示装置のほぼ1画素分の部分断面図、図2は本実施例の透過型表示装置の概略断面図である。
実質的に透明な板状の基材3としてコーニング社製無アルカリガラス1737(厚さ0.5mm)を用い、その厚さ方向の一方の面にR(赤)、G(緑)、B(青)のカラーフィルター層4を形成し、そのうえに透明樹脂からなる保護層を形成した。
続いて、カラーフィルター(カラーフィルター層4)上に、言い換えると、カラーフィルターが基材3の反対側に臨む面に、ITO薄膜をDCマグネトロンスパッタ法で50nm形成した。そして、該ITO薄膜をカラーフィルター層の各画素と位置合わせをしながら、所望の形状にパターニングし、ゲート電極6および補助コンデンサー電極7とした。
さらにその上に窒化シリコン(Si3N4)のターゲットを用いてRFスパッタ法でSiON薄膜を150nm形成し、ゲート絶縁膜8とした。
さらに、半導体活性層11として、意図的にドーパントを混入していないZnOターゲットを用いZnO薄膜をRFスパッタ法で40nm形成し、所望の形状にパターニングした。その上に、レジストを塗布し、乾燥、現像を行った後、ITO膜をDCマグネトロンスパッタ法で50nm形成し、リフトオフを行いソース電極9およびドレイン電極10とした。
さらに、印刷法を用いてエポキシ系樹脂を5μmパターン印刷し、層間絶縁膜12を形成した。そして最後にITO膜をマグネトロンスパッタ法で100nm成膜しパターニングを行い、画素電極13とした。
言い換えると、前記カラーフィルターが基材3の反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンと位置合わせを行って設けた。
各膜の作成条件を表2に示す。こうして作成された実質的に透明な半導体回路の上に配向膜22を塗布した。
さらに導電性基材27としてアルミフォイル(厚さ25μm)を用い、アルミフォイル上に配向膜24を塗布して半導体回路を形成した基材をスペーサーを介して配置し、その後そのスペーサー間に液晶を封入した。
最後に、実質的に透明な基材3のカラーフィルターが形成されていない面に、位相差板20と偏光板21を配置して実施例2の表示装置を作製した。
これにより、表示装置は、その視認側から見て、実質的に透明な基板、カラーフィルター、実質的に透明な薄膜トランジスタおよび該トランジスタと電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成した配線からなることを特徴とする半導体回路、透過型液晶表示要素の順に配置されて構成されることになる。
Figure 2007299833
実施例1、実施例2で示したように、実質的に透明な基材上に設けられたカラーフィルターの上に実質的に透明な半導体回路を形成し、透過型液晶表示要素の前面に配置することで、従来と違って、半導体回路とカラーフィルターとの間に液晶が介在せず、したがって、視認性に影響を与えることなく、カラーフィルターと半導体回路の位置合わせが容易で製造コストの安い透過型表示装置を実現できる。
上記は一例であり、当業者であれば上記説明に基づいて種々の改良や変更が可能であることは明らかであろう。
本発明の表示装置の概略断面図である。 本発明の実施例による透過型液晶表示装置の一部断面図である。
符号の説明
1… 透過型液晶表示要素、2… 実質的に透明な半導体回路、3… 実質的に透明な基材、4… カラーフィルター、5… ゲート電極、6… 補助コンデンサー電極、7… ゲート絶縁膜、8… ソース電極、9… ドレイン電極、10… 半導体活性層、11… 層間絶縁膜、12… 画素電極、13… 偏光板1、14… 配向膜1、15… 液晶、16… 配向膜2、17… 共通電極、18… 実質的に透明な液晶表示要素用基材、19…偏光板2。

Claims (6)

  1. 実質的に透明な板状の基材と、
    前記基材の厚さ方向の一方の面に設けられたカラーフィルターと、
    前記カラーフィルターが前記基材の反対側に臨む面に設けられた半導体回路とを備え、
    前記半導体回路は、実質的に透明な薄膜トランジスタと、前記トランジスタに導通された電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成された配線とを有する、
    ことを特徴とする構造体。
  2. 実質的に透明な板状の基材と、
    前記基材の厚さ方向の一方の面に設けられたカラーフィルターと、
    前記カラーフィルターが前記基材の反対側に臨む面に設けられた半導体回路と、
    前記半導体回路が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に設けられ前記半導体回路によって駆動される透過型液晶表示要素とを備え、
    前記半導体回路は、実質的に透明な薄膜トランジスタと、前記トランジスタに導通された電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成された配線とを有する、
    ことを特徴とする透過型液晶表示装置。
  3. 前記薄膜トランジスタは、ソース、ドレイン、ゲートの各電極と、半導体活性層と、ゲート絶縁膜とを有し、前記半導体活性層が金属酸化物を主成分とする材料からなることを特徴とする請求項1記載の構造体または請求項2記載の透過型液晶表示装置。
  4. 前記薄膜トランジスタは、ソース、ドレイン、ゲートの各電極と、半導体活性層と、ゲート絶縁膜とを有し、前記半導体活性層が有機物を主成分とする材料からなることを特徴とする請求項1記載の構造体または請求項2記載の透過型液晶表示装置。
  5. 実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを設ける工程と、
    前記カラーフィルターが前記基材の反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンと位置合わせを行って設ける工程と、
    を含むことを特徴とする半導体回路の製造方法。
  6. 実質的に透明な板状の基材の厚さ方向の一方の面に、赤色フィルター、緑色フィルター、青色フィルターが規則正しく配列されたフィルター配列パターンを有するカラーフィルターを設ける工程と、
    前記カラーフィルターが前記基材の反対側に臨む面に、実質的に透明な薄膜トランジスタと前記薄膜トランジスタに導通される電気的接点を有する実質的に透明な導電材料によって構成される配線とを有する半導体回路を、前記フィルター配列パターンと位置合わせを行って設ける工程と、
    前記半導体回路が前記カラーフィルターの反対側に臨む面に透過型液晶表示要素を設ける工程と、
    を含むことを特徴とする透過型液晶表示装置の製造方法。
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Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010032642A (ja) * 2008-07-25 2010-02-12 Sumitomo Chemical Co Ltd アクティブマトリクス基板、ディスプレイパネル、表示装置およびアクティブマトリクス基板の製造方法
JP2010032643A (ja) * 2008-07-25 2010-02-12 Sumitomo Chemical Co Ltd アクティブマトリクス基板、ディスプレイパネル、表示装置およびアクティブマトリクス基板の製造方法
JP2010123913A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Korea Electronics Telecommun 薄膜トランジスタ及びその製造方法
JP2010135770A (ja) * 2008-11-07 2010-06-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
JP2010156963A (ja) * 2008-12-05 2010-07-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
JP2011077106A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Dainippon Printing Co Ltd 薄膜集積回路装置及びその製造方法
JP2011085918A (ja) * 2009-09-16 2011-04-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体表示装置
JP2011091110A (ja) * 2009-10-20 2011-05-06 Canon Inc 酸化物半導体素子を用いた回路及びその製造方法、並びに表示装置
JP2011209539A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Dainippon Printing Co Ltd アクティブマトリクス型駆動基板、その製造方法及び表示装置
JP2012133374A (ja) * 2012-01-25 2012-07-12 Sumitomo Chemical Co Ltd アクティブマトリクス基板、ディスプレイパネル、表示装置およびトランジスタ素子
JP2014013913A (ja) * 2008-08-21 2014-01-23 Samsung Display Co Ltd 薄膜トランジスタ及びその製造方法
JP2014241424A (ja) * 2008-11-07 2014-12-25 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2015082568A (ja) * 2013-10-22 2015-04-27 凸版印刷株式会社 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに画像表示装置
JP2015092631A (ja) * 2007-12-03 2015-05-14 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2015181205A (ja) * 2009-08-07 2015-10-15 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2017083893A (ja) * 2008-11-28 2017-05-18 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
JP2017102465A (ja) * 2009-07-31 2017-06-08 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
JP2019140409A (ja) * 2009-07-10 2019-08-22 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
KR20200103587A (ko) * 2008-10-24 2020-09-02 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 산화물 반도체, 박막 트랜지스터와 표시장치

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5987491A (ja) * 1982-11-11 1984-05-21 セイコーインスツルメンツ株式会社 マトリクス・カラ−液晶表示装置
JPH05210119A (ja) * 1991-07-11 1993-08-20 Centre Natl Etud Telecommun (Ptt) 能動マトリクス液晶スクリーン構造
JP2003005220A (ja) * 2001-03-21 2003-01-08 Lg Phillips Lcd Co Ltd 2層構造のソース電極及びドレイン電極を有する液晶表示素子及びその製造方法
JP2003298062A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Sharp Corp 薄膜トランジスタ及びその製造方法
JP2004014982A (ja) * 2002-06-11 2004-01-15 Konica Minolta Holdings Inc 半導体回路および画像表示装置
JP2006114862A (ja) * 2004-10-15 2006-04-27 Samsung Electronics Co Ltd 有機半導体を利用した薄膜トランジスタ表示板及びその製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5987491A (ja) * 1982-11-11 1984-05-21 セイコーインスツルメンツ株式会社 マトリクス・カラ−液晶表示装置
JPH05210119A (ja) * 1991-07-11 1993-08-20 Centre Natl Etud Telecommun (Ptt) 能動マトリクス液晶スクリーン構造
JP2003005220A (ja) * 2001-03-21 2003-01-08 Lg Phillips Lcd Co Ltd 2層構造のソース電極及びドレイン電極を有する液晶表示素子及びその製造方法
JP2003298062A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Sharp Corp 薄膜トランジスタ及びその製造方法
JP2004014982A (ja) * 2002-06-11 2004-01-15 Konica Minolta Holdings Inc 半導体回路および画像表示装置
JP2006114862A (ja) * 2004-10-15 2006-04-27 Samsung Electronics Co Ltd 有機半導体を利用した薄膜トランジスタ表示板及びその製造方法

Cited By (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017139491A (ja) * 2007-12-03 2017-08-10 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2016187040A (ja) * 2007-12-03 2016-10-27 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置と半導体装置の作製方法
JP2015092631A (ja) * 2007-12-03 2015-05-14 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2010032642A (ja) * 2008-07-25 2010-02-12 Sumitomo Chemical Co Ltd アクティブマトリクス基板、ディスプレイパネル、表示装置およびアクティブマトリクス基板の製造方法
JP2010032643A (ja) * 2008-07-25 2010-02-12 Sumitomo Chemical Co Ltd アクティブマトリクス基板、ディスプレイパネル、表示装置およびアクティブマトリクス基板の製造方法
JP2014013913A (ja) * 2008-08-21 2014-01-23 Samsung Display Co Ltd 薄膜トランジスタ及びその製造方法
KR102571424B1 (ko) * 2008-10-24 2023-08-25 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 산화물 반도체, 박막 트랜지스터와 표시장치
US11594555B2 (en) 2008-10-24 2023-02-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor, thin film transistor, and display device
KR20220058501A (ko) * 2008-10-24 2022-05-09 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 산화물 반도체, 박막 트랜지스터와 표시장치
KR102392144B1 (ko) * 2008-10-24 2022-04-28 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 산화물 반도체, 박막 트랜지스터와 표시장치
KR20200103587A (ko) * 2008-10-24 2020-09-02 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 산화물 반도체, 박막 트랜지스터와 표시장치
JP2014241424A (ja) * 2008-11-07 2014-12-25 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2010135770A (ja) * 2008-11-07 2010-06-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
US10158005B2 (en) 2008-11-07 2018-12-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2010123913A (ja) * 2008-11-21 2010-06-03 Korea Electronics Telecommun 薄膜トランジスタ及びその製造方法
US10424674B2 (en) 2008-11-28 2019-09-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
US11869978B2 (en) 2008-11-28 2024-01-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
JP2019049703A (ja) * 2008-11-28 2019-03-28 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
US10008608B2 (en) 2008-11-28 2018-06-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
JP2017083893A (ja) * 2008-11-28 2017-05-18 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
US10985282B2 (en) 2008-11-28 2021-04-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Liquid crystal display device
JP2010156963A (ja) * 2008-12-05 2010-07-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
US9201280B2 (en) 2008-12-05 2015-12-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US8999750B2 (en) 2008-12-05 2015-04-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US10916566B2 (en) 2009-07-10 2021-02-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
JP2019140409A (ja) * 2009-07-10 2019-08-22 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US11374029B2 (en) 2009-07-10 2022-06-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
TWI647855B (zh) * 2009-07-31 2019-01-11 日商半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置和其製造方法
US10079306B2 (en) 2009-07-31 2018-09-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US11947228B2 (en) 2009-07-31 2024-04-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
US10680111B2 (en) 2009-07-31 2020-06-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Oxide semiconductor device
US11106101B2 (en) 2009-07-31 2021-08-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JP2017102465A (ja) * 2009-07-31 2017-06-08 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
JP2015181205A (ja) * 2009-08-07 2015-10-15 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US9837442B2 (en) 2009-08-07 2017-12-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device comprising a plurality of N-channel transistors wherein the oxide semiconductor layer comprises a portion being in an oxygen-excess state
US9583509B2 (en) 2009-08-07 2017-02-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device wherein an oxide semiconductor layer has a degree of crystallization of 80% or more
US10977977B2 (en) 2009-09-16 2021-04-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US9715845B2 (en) 2009-09-16 2017-07-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
JP2011085918A (ja) * 2009-09-16 2011-04-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体表示装置
US10360831B2 (en) 2009-09-16 2019-07-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
US10019924B2 (en) 2009-09-16 2018-07-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor display device
JP2011077106A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Dainippon Printing Co Ltd 薄膜集積回路装置及びその製造方法
JP2011091110A (ja) * 2009-10-20 2011-05-06 Canon Inc 酸化物半導体素子を用いた回路及びその製造方法、並びに表示装置
JP2011209539A (ja) * 2010-03-30 2011-10-20 Dainippon Printing Co Ltd アクティブマトリクス型駆動基板、その製造方法及び表示装置
JP2012133374A (ja) * 2012-01-25 2012-07-12 Sumitomo Chemical Co Ltd アクティブマトリクス基板、ディスプレイパネル、表示装置およびトランジスタ素子
JP2015082568A (ja) * 2013-10-22 2015-04-27 凸版印刷株式会社 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに画像表示装置

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