JP2007298381A - 画像検出装置および画像検出方法 - Google Patents

画像検出装置および画像検出方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007298381A
JP2007298381A JP2006126371A JP2006126371A JP2007298381A JP 2007298381 A JP2007298381 A JP 2007298381A JP 2006126371 A JP2006126371 A JP 2006126371A JP 2006126371 A JP2006126371 A JP 2006126371A JP 2007298381 A JP2007298381 A JP 2007298381A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
illumination
inspection medium
inspection
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006126371A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2007298381A5 (enExample
Inventor
Kenji Miyazaki
賢二 宮崎
Takeo Miki
武郎 三木
Takashi Yamaguchi
隆 山口
Masaya Tokuda
真哉 徳田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2006126371A priority Critical patent/JP2007298381A/ja
Priority to KR1020070040916A priority patent/KR20070106428A/ko
Priority to EP07008674A priority patent/EP1852752A3/en
Priority to US11/790,782 priority patent/US7778540B2/en
Publication of JP2007298381A publication Critical patent/JP2007298381A/ja
Publication of JP2007298381A5 publication Critical patent/JP2007298381A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Image Input (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
JP2006126371A 2006-04-28 2006-04-28 画像検出装置および画像検出方法 Pending JP2007298381A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006126371A JP2007298381A (ja) 2006-04-28 2006-04-28 画像検出装置および画像検出方法
KR1020070040916A KR20070106428A (ko) 2006-04-28 2007-04-26 기록 매체의 검증 장치 및 검증 방법
EP07008674A EP1852752A3 (en) 2006-04-28 2007-04-27 Verification apparatus and verification method for recording media
US11/790,782 US7778540B2 (en) 2006-04-28 2007-04-27 Verification apparatus and verification method for recording media

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006126371A JP2007298381A (ja) 2006-04-28 2006-04-28 画像検出装置および画像検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007298381A true JP2007298381A (ja) 2007-11-15
JP2007298381A5 JP2007298381A5 (enExample) 2009-04-23

Family

ID=38767991

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006126371A Pending JP2007298381A (ja) 2006-04-28 2006-04-28 画像検出装置および画像検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007298381A (enExample)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011128401A (ja) * 2009-12-18 2011-06-30 Dainippon Printing Co Ltd 画面切替型ホログラム作製方法及びそれにより作製された画面切替型ホログラム
JP2015169964A (ja) * 2014-03-04 2015-09-28 株式会社東芝 検査装置
WO2020194541A1 (ja) * 2019-03-26 2020-10-01 日本電気株式会社 検査装置
CN112396459A (zh) * 2020-11-19 2021-02-23 上海源慧信息科技股份有限公司 一种用于购物凭证核销的云审核方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2728205B2 (ja) * 1987-10-08 1998-03-18 大日本印刷株式会社 ホログラム検査装置
JP2000294139A (ja) * 1999-04-07 2000-10-20 Dainippon Printing Co Ltd 周期性パターンの欠陥検査方法及び装置
JP2002221496A (ja) * 2001-01-25 2002-08-09 Dainippon Printing Co Ltd 光回折パターン検査装置
JP2002303586A (ja) * 2001-04-03 2002-10-18 Hitachi Ltd 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2003270163A (ja) * 2002-03-15 2003-09-25 Dainippon Printing Co Ltd 検査方法および装置
JP2004294358A (ja) * 2003-03-28 2004-10-21 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査方法および装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2728205B2 (ja) * 1987-10-08 1998-03-18 大日本印刷株式会社 ホログラム検査装置
JP2000294139A (ja) * 1999-04-07 2000-10-20 Dainippon Printing Co Ltd 周期性パターンの欠陥検査方法及び装置
JP2002221496A (ja) * 2001-01-25 2002-08-09 Dainippon Printing Co Ltd 光回折パターン検査装置
JP2002303586A (ja) * 2001-04-03 2002-10-18 Hitachi Ltd 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP2003270163A (ja) * 2002-03-15 2003-09-25 Dainippon Printing Co Ltd 検査方法および装置
JP2004294358A (ja) * 2003-03-28 2004-10-21 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査方法および装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011128401A (ja) * 2009-12-18 2011-06-30 Dainippon Printing Co Ltd 画面切替型ホログラム作製方法及びそれにより作製された画面切替型ホログラム
JP2015169964A (ja) * 2014-03-04 2015-09-28 株式会社東芝 検査装置
WO2020194541A1 (ja) * 2019-03-26 2020-10-01 日本電気株式会社 検査装置
US11933739B2 (en) 2019-03-26 2024-03-19 Nec Corporation Inspection apparatus
CN112396459A (zh) * 2020-11-19 2021-02-23 上海源慧信息科技股份有限公司 一种用于购物凭证核销的云审核方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20030169916A1 (en) Wafer inspection apparatus
WO2006059647A1 (ja) 表面検査装置及び表面検査方法
JPH08160305A (ja) レーザー走査顕微鏡
JP2001153621A (ja) 外観検査装置
JP2007298381A (ja) 画像検出装置および画像検出方法
JP4526988B2 (ja) 微小高さ測定方法及びそれに用いる微小高さ測定装置並びに変位ユニット
JP2004109094A (ja) 表面検査装置及び方法
JP2009150718A (ja) 検査装置および検査プログラム
JP3944075B2 (ja) 試料検査方法及び検査装置
JP2001027518A (ja) ワイヤハーネス外観検査装置
JPH0357241A (ja) 自動外観検査装置
JP2009229221A (ja) 光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置
JP2016080517A (ja) 表面検査装置
JP2005249946A (ja) 表示装置の欠陥検査装置
JPWO2016125633A1 (ja) 検査装置及び検査システム
JP2007101401A (ja) 外観検査装置及び外観検査方法
JP2005241370A (ja) 外観検査方法
JP2012228460A (ja) 計測方法
JP4645148B2 (ja) 画像処理装置
JP7362324B2 (ja) 画像表示装置の検査方法、製造方法及び検査装置
JP2010164635A (ja) 共焦点顕微鏡
JP2007086610A (ja) 微分干渉顕微鏡及び欠陥検査装置
JP4909697B2 (ja) 媒体検証装置
JP2001012926A (ja) 対象物の３次元検査のための装置
JP2001012931A (ja) 外観検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090310

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090310

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110407

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110412

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110906