JP2007280958A - マイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システム - Google Patents

マイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システム Download PDF

Info

Publication number
JP2007280958A
JP2007280958A JP2007099872A JP2007099872A JP2007280958A JP 2007280958 A JP2007280958 A JP 2007280958A JP 2007099872 A JP2007099872 A JP 2007099872A JP 2007099872 A JP2007099872 A JP 2007099872A JP 2007280958 A JP2007280958 A JP 2007280958A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
carbon nanotube
housing
nanotube substrate
tube system
cathode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007099872A
Other languages
English (en)
Inventor
Jong-Uk Kim
鍾旭 金
Hae Young Choi
ヘヨン チェ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Korea Electrotechnology Research Institute KERI
Original Assignee
Korea Electrotechnology Research Institute KERI
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Korea Electrotechnology Research Institute KERI filed Critical Korea Electrotechnology Research Institute KERI
Publication of JP2007280958A publication Critical patent/JP2007280958A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/064Details of the emitter, e.g. material or structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/065Field emission, photo emission or secondary emission cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/08Anodes; Anti cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/16Vessels; Containers; Shields associated therewith
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/30Cold cathodes
    • H01J2201/304Field emission cathodes
    • H01J2201/30446Field emission cathodes characterised by the emitter material
    • H01J2201/30453Carbon types
    • H01J2201/30469Carbon nanotubes (CNTs)
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2235/00X-ray tubes
    • H01J2235/06Cathode assembly
    • H01J2235/062Cold cathodes

Landscapes

  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Carbon And Carbon Compounds (AREA)

Abstract

【課題】高真空を保持しながら容易に炭素ナノチューブ陰極を入れ替えることが可能な放射線管システムを提供すること。
【解決手段】真空空間を提供するハウジングと;ハウジングの内部に設置される陽極と;陽極に対応し、表面に炭素ナノチューブが成長されている炭素ナノチューブ基板と;炭素ナノチューブ基板に電圧を印加する陰極板と;炭素ナノチューブ基板と結合されハウジングに脱着自在に設置されるサンプルプローブと;炭素ナノチューブ基板から電子を円滑に抽出するためのグリッド電極と;グリッド電極をパスした電子を集束する電子集束レンズと;サンプルプローブの周りに複数設置されるフィードスルーと;ハウジング内部の真空状態を保持するためにハウジングの内部と外部を遮断させる真空バルブと;を含むことを特徴とする、マイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムが提供される。
【選択図】図2

Description

本発明は炭素ナノチューブ基板の放射線管システムに関するもので、より詳しくは、電子が放出される量子力学的電界放出(field emission)原理を利用し、電子放出源として炭素ナノチューブ(carbon nanotube)を陰極で使い、炭素ナノチューブ陰極に問題が発生した場合に、高真空を保持しながら使用者が容易に炭素ナノチューブ陰極を入れ替えられることができる、マイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムに関するものである。
従来使われている放射線管(X−ray tube)システムにおけるタングステンフィラメント陰極はフィラメント自体の加熱を通して発生する熱電子によってX線光源を放出する。しかし、このようにタングステンフィラメント陰極を使う放射線管システムは、その規模が巨大であるために相対的に多くの製作費用が必要であり、また場所が限定されていて利用者の使用に限界がある。また、フィラメントの加熱によって発生する熱電子は放出される方向が一定でないため放射線の質が落ち、低い熱電子密度によってターゲットから発生する放射線の発生効率が低く、フィラメント及び集束部から発生するガスによって真空度が顕著に落ち内部放電が発生して使用できなくなる場合がある。
さらに、熱によるターゲットの寿命短縮が一つの問題点として指摘されて来た。なお、タングステンフィラメントの使用が長くなる場合、フィラメントの表面でタングステンが蒸発しその外径が減っていきながら熱電子放出特性が変わっていく。この時蒸発したタングステンはガラスバルブの内壁に蒸着し高圧縁切りを低下させ、透過放射線量が減るという問題点がある。このような問題点を解決するために、フィラメント陰極を利用した分離型の放射線管が提示されているが、光源がフィラメントであるため、言及した多くの問題点に対する根本的な解決策ではない。
一方、最近研究されているレーザー基盤の放射線放出光源技術及び巨大な放射光を利用した光源技術は莫大な設置費と空間的体積及び移動性などの制約によって機械及び半導体産業での適用が難しく、多くの商業的制約が伴うので純正科学分野のような特定の研究分野に限定して利用されているのが実情である。また、炭素ナノチューブ基板のX線発生装置の研究が韓国内及び国外の一部研究機関で進行されてはいるが、X線チューブの構造が従来のタングステンフィラメントを利用したチューブのような形態の封入型の構造であったり、分解組立ての可能な構造であったりしたとしても分解組立の方法が非常に複雑であって、特に分解組立の際、高真空が破壊するという問題点がある。
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、電子が放出される量子力学的電界放出原理を利用して電子放出源として炭素ナノチューブを陰極で使い、炭素ナノチューブ陰極に問題が発生する場合、高真空を保持しながら使用者が容易に炭素ナノチューブ陰極を入れ替えることが可能な、新規かつ改良されたマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムを提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、陰極から放出された電子が陽極に衝突し放射線を放出する放射線管システムにおいて:陰極から放出された電子が陽極に衝突し放射線を放出するための真空の空間を提供するハウジングと;ハウジングの内部の一側に設置され外部から印加された電圧によって電界を形成して陰極から放出された電子を加速して自らに到逹するようにする陽極と;陽極に対応する陰極としてハウジング内部の陽極から一定距離離隔された位置に設置され、表面には電圧印加によって電子を放出する炭素ナノチューブが成長されている炭素ナノチューブ基板と;炭素ナノチューブ基板を支持及び固定し、炭素ナノチューブ基板に電圧を印加するための陰極板と;炭素ナノチューブ基板に異常がある時、異常のある炭素ナノチューブ基板だけを入れ替えるように炭素ナノチューブ基板と結合され一体化されたセットになってハウジングに脱着自在に設置されるサンプルプローブと;炭素ナノチューブ基板の前方に設置され、炭素ナノチューブ基板から電子を円滑に抽出するためのグリッド電極と;グリッド電極の前方に設置され、グリッド電極をパスした電子を集束して陽極にマイクロレベルの焦点が形成できるようにする電子集束レンズと;サンプルプローブの周りに複数設置され、陰極、グリッド電極及び電子集束レンズに電圧を印加するためのフィードスルーと;ハウジングの一側に脱着自在に設置され、炭素ナノチューブ基板を入れ替える際にハウジング内部の真空状態を保持するための真空ポンプ及びサンプルプローブをハウジングに挿入及びハウジングから分離する際に、ハウジングの内部と外部を遮断させる真空バルブと;を含むことを特徴とする、マイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムが提供される。
電子集束レンズは漏斗形管(截頭円錐体)の形態に形成されていてもよい。
ハウジングの外周面には、ハウジングを電気的に加熱してハウジングの内壁及びハウジングを成している材質を脱気体化することによって、さらにハウジングの真空度を増大させる熱線を備えていてもよい。
熱線が設置されたハウジングの周りには熱線の外部露出を防止し、熱線から発生された熱の外部への損失を遮断するための断熱材を備えていてもよい。
以上説明したように本発明によれば、第一、基本的な三極構造の陰極とグリッド電極及び陽極からなり、製作が容易で、改良された電子ビーム集束レンズによって陽極にマイクロ単位の電子ビームの集束が可能である。第二、電子集束レンズの形象を漏斗形態(tapered-type)に作れることによって、電子が集束される面積を相当量狭めてくれることができる。第三、炭素ナノチューブが成長されている基板がプローブ形態のサンプルホルダーに装着していて放射線管で真空を保持しながら炭素ナノチューブ基板を容易に分離することができる。
したがって、以上のような長所及び効果を有する本発明の放射線管システムは、既存の放射線管システムとの市場競争で優位を占めることができることと期待される。
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
図1及び図2は本発明の一実施形態に係るマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムを示すものであって、図1は放射線管の概略的な構成を示す説明図であり、図2は放射線管システムの全体的な構成を示す説明図である。
図1及び図2に示したように、本発明の一実施形態に係るマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムは、ハウジング101と、陽極102と、炭素ナノチューブ基板103と、陰極板104と、サンプルプローブ105と、グリッド電極106と、電子集束レンズ107と、フィードスルー108と、真空ポンプ109と、真空バルブ110と、を包んで構成される。
ハウジング101は、陰極から放出された電子が陽極に衝突して放射線を放出するための真空の空間を提供する。このようなハウジング101の材質では真空の保持が可能で、必要時にハウジング内部のガス(電子が陽極102のターゲットに衝突して放射線が発生する際、放射線の発生とともに発生したガス)を無くすため電気的に加熱することができる材質、例えばパイレックス(Pyrex;登録商標)、ガラス、セラミックス、ステンレススチールなどを使うことができる。
陽極102は、ハウジング101の内部の一側に設置され、外部から印加された電圧によって電界を形成し、陰極から放出された電子を加速して自らに到逹するようにする。このような陽極102の材質には、放射線放出が容易な伝導性物質、例えばタングステンなどを使うことができる。
炭素ナノチューブ基板103は、陽極102に対応する陰極として、ハウジング101内部の陽極102から一定距離で離隔された位置に設置され、その表面には電圧印加によって電子を放出する炭素ナノチューブが成長されている。
陰極板104は、炭素ナノチューブ基板103を支持及び固定し、炭素ナノチューブ基板103に電圧を印加するためのものである。このような陰極板104の材質には、電圧の印加が容易な伝導性物質、例えばステンレススチールなどを使うことができる。
サンプルプローブ105は、炭素ナノチューブ基板103に異常がある時に、炭素ナノチューブ基板103だけを入れ替えるように炭素ナノチューブ基板103と結合され一体化されたセットを成して、ハウジング101に脱着自在に設置される。このようなサンプルプローブ105は、図3の(A)〜(C)に示したように、適用される炭素ナノチューブ基板103の形態によって多様な構造で形成することができる。
グリッド電極106は、炭素ナノチューブ基板103の前方に設置され、炭素ナノチューブ基板103から電子を円滑に抽出するためのものである。このようなグリッド電極106は電子の抽出が容易になるよう、網の太さは細く、各々のホールの大きさは大きいものが使われ、材質には電圧印加が容易な伝導性物質、例えばタングステンやステンレススチールなどを使うことができる。
電子集束レンズ107は、グリッド電極106の前方に設置され、グリッド電極106をパスした電子を集束して陽極102にマイクロレベルの焦点が形成されることができるようにする。このような電子集束レンズ107は図4の(A)のように漏斗形の管(截頭円錐体)や(B)の円形の管の形で製作することができる。しかし、好ましくは電子の高密度集束のために前記(A)と同じ漏斗形の管(截頭円錐)の形で製作される。
そして、このような電子集束レンズ107の材質には、電圧の印加が容易な伝導性物質、例えばステンレススチールを用いることができる。また、電子集束レンズ107の長さと内径は、最適の電子ビーム高密度集束のために多様に変更することができる。
フィードスルー108は、図5に示したように、サンプルプローブ105の周辺に複数設置され、陰極(炭素ナノチューブ基板)103、グリッド電極106及び電子集束レンズ107に電圧を印加するためのものである。
真空ポンプ109は、ハウジング101の一側に脱着自在に設置され、炭素ナノチューブ基板103を入れ替える際、ハウジング101内部の真空状態を保持するためのものである。ここで、真空ポンプ109はこのように炭素ナノチューブ基板103を入れ替える時に、ハウジング101の内部の真空状態を保持するためのものでもあるが、そのような炭素ナノチューブ基板103の入れ替えとは関係なく、放射線管(ハウジング)の真空度が設定された基準値以下に低下した時、その真空度をさらに高めるために使うことができるということは当然のことである。
真空バルブ110は、サンプルプローブ105をハウジング101に挿入及びハウジング101から分離する時、ハウジング101の内部と外部を遮断させるためのものである。
図1及び図2における符号115は、炭素ナノチューブ基板103から放出された電子を、符号121は放射線の放出時にノイズ放射線を減らして要求される放射線を透過させるためのベリリウム窓を、符号122は電子集束レンズ107とグリッド電極106との間およびグリッド電極106と陰極(炭素ナノチューブ基板)103との間を遮断するための遮断層を、符号123はサンプルプローブ105のハウジング101への結合時に真空保持ができるようにし、サンプルプローブ105のハウジング101への結合及び分離を容易にするためのオーリングを、符号124は電子集束レンズ107とグリッド電極106及び陰極(炭素ナノチューブ基板)103とフィードスルー108との電気的な連結のための電線をそれぞれ示す。
一方、以上のような構成を有する本発明の一実施形態に係るマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムにおいて、好ましくは図6に示したように、ハウジング101の外周面には、必要となる時にハウジング101を電気的に加熱してハウジング101の内壁及びハウジング101を成している材質から脱気体(outgas)化することによって、さらにハウジング101(放射線管)の真空度を増大させるための熱線130が設置される。そして、その熱線130が設置されたハウジング101の周りには熱線130の外部露出を防止し、また熱線130から発生された熱の外部への損失を遮断するための断熱材が設置される。
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
本発明の一実施形態に係るマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムにおける放射線管の概略的な構成を示す図面である。 本発明の一実施形態に係るマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムの全体的な構成を示す説明図である。 本発明の一実施形態に係るマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムにおいて、炭素ナノチューブ基板及びサンプルプローブの多様な実施例を示す説明図である。 本発明の一実施形態に係るマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムにおいて、電子集束レンズの実施例を示す説明図である。 本発明の一実施形態に係るマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムにおいて、サンプルプローブ及びフィードスルーの設置関係を示す説明図である。 本発明の一実施形態に係るマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システムにおいて、真空度の増大のためハウジングの外周面に設置された熱線を示す説明図である。
符号の説明
101 ハウジング
102 陽極
103 炭素ナノチューブ基板(陰極)
104 陰極板
105 サンプルプローブ
106 グリッド電極
107 電子集束レンズ
108 フィードスルー
109 真空ポンプ
110 真空バルブ
115 電子
121 ベリリウム窓
122 縁切り層
123 オーリング
124 電線
130 熱線

Claims (4)

  1. 陰極から放出された電子が陽極に衝突し放射線を放出する放射線管システムにおいて:
    前記陰極から放出された電子が陽極に衝突し放射線を放出するための真空の空間を提供するハウジングと;
    前記ハウジングの内部の一側に設置され外部から印加された電圧によって電界を形成して陰極から放出された電子を加速して自らに到逹するようにする陽極と;
    前記陽極に対応する陰極として前記ハウジング内部の陽極から一定距離離隔された位置に設置され、表面には電圧印加によって電子を放出する炭素ナノチューブが成長されている炭素ナノチューブ基板と;
    前記炭素ナノチューブ基板を支持及び固定し、前記炭素ナノチューブ基板に電圧を印加するための陰極板と;
    前記炭素ナノチューブ基板に異常がある時、異常のある炭素ナノチューブ基板だけを入れ替えるように前記炭素ナノチューブ基板と結合され一体化されたセットになって前記ハウジングに脱着自在に設置されるサンプルプローブと;
    前記炭素ナノチューブ基板の前方に設置され、前記炭素ナノチューブ基板から電子を円滑に抽出するためのグリッド電極と;
    前記グリッド電極の前方に設置され、前記グリッド電極をパスした電子を集束して前記陽極にマイクロレベルの焦点が形成できるようにする電子集束レンズと;
    前記サンプルプローブの周りに複数設置され、前記陰極、前記グリッド電極及び前記電子集束レンズに電圧を印加するためのフィードスルーと;
    前記ハウジングの一側に脱着自在に設置され、前記炭素ナノチューブ基板を入れ替える際に前記ハウジング内部の真空状態を保持するための真空ポンプ及び前記サンプルプローブを前記ハウジングに挿入及び前記ハウジングから分離する際に、前記ハウジングの内部と外部を遮断させる真空バルブと;
    を含むことを特徴とする、マイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システム。
  2. 前記電子集束レンズは漏斗形の管(截頭円錐体)の形態に形成されていることを特徴とする、請求項1記載のマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システム。
  3. 前記ハウジングの外周面には、前記ハウジングを電気的に加熱して前記ハウジングの内壁及び前記ハウジングを成している材質を脱気体化することによって、さらに前記ハウジングの真空度を増大させる熱線を備えていることを特徴とする、請求項1記載のマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システム。
  4. 前記熱線が設置された前記ハウジングの周りには前記熱線の外部露出を防止し、前記熱線から発生された熱の外部への損失を遮断するための断熱材を備えていることを特徴とする、請求項3記載のマイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システム。
JP2007099872A 2006-04-05 2007-04-05 マイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システム Pending JP2007280958A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060030787A KR100766907B1 (ko) 2006-04-05 2006-04-05 마이크로 집속 수준의 전자빔 발생용 탄소나노튜브 기판분리형 방사선관 시스템

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007280958A true JP2007280958A (ja) 2007-10-25

Family

ID=38575258

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007099872A Pending JP2007280958A (ja) 2006-04-05 2007-04-05 マイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7403595B2 (ja)
JP (1) JP2007280958A (ja)
KR (1) KR100766907B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013018712A1 (ja) * 2011-08-02 2013-02-07 マイクロXジャパン株式会社 ステレオx線発生装置

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100911740B1 (ko) 2007-08-03 2009-08-13 한국전기연구원 전계 방출 및 전기적 특성 측정을 위한 시스템
KR100906148B1 (ko) * 2007-10-19 2009-07-03 한국과학기술원 탄소나노튜브 전계방출원을 이용한 투과형 마이크로 포커스엑스선관
US7801277B2 (en) * 2008-03-26 2010-09-21 General Electric Company Field emitter based electron source with minimized beam emittance growth
KR101097722B1 (ko) 2009-05-18 2011-12-23 한국전기연구원 냉음극 회전형 전계 방출 소자와 이를 이용한 x선 발생 장치
KR101047499B1 (ko) 2009-06-11 2011-07-08 한국전기연구원 고분자 생성, 산업, 인체 진단을 위한 나노물질 기반 램프, 고리 형태의 중대형 엑스선 발생 장치 및 그 방법
KR101066143B1 (ko) * 2009-08-10 2011-09-20 주식회사 브이엠티 이온 펌프의 포트부 및 이를 포함하는 이온 펌프
US8588372B2 (en) * 2009-12-16 2013-11-19 General Electric Company Apparatus for modifying electron beam aspect ratio for X-ray generation
DE102011007215A1 (de) * 2011-04-12 2012-10-18 Siemens Aktiengesellschaft Elektronenquelle zur Erzeugung eines Elektronenstrahls sowie Röntgenquelle zur Erzeugung von Röntgenstrahlung
KR101415025B1 (ko) * 2011-11-15 2014-07-07 삼성전자주식회사 엑스선 발생기 및 이를 포함한 엑스선 촬영 장치
CN102427015B (zh) * 2011-11-29 2014-03-12 东南大学 一种聚焦型冷阴极x射线管
JP6316019B2 (ja) * 2013-03-06 2018-04-25 キヤノン株式会社 X線発生管、該x線発生管を備えたx線発生装置及びx線撮影システム
CA2989423A1 (en) * 2015-06-19 2016-12-22 California Institute Of Technology Systems and methods for generating tunable electromagnetic waves using carbon nanotube-based field emitters
US10932355B2 (en) * 2017-09-26 2021-02-23 Jefferson Science Associates, Llc High-current conduction cooled superconducting radio-frequency cryomodule
EP3933881A1 (en) 2020-06-30 2022-01-05 VEC Imaging GmbH & Co. KG X-ray source with multiple grids

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61218100A (ja) * 1985-03-22 1986-09-27 Toshiba Corp X線管装置
JPH0794571A (ja) * 1993-09-24 1995-04-07 Fujitsu Ltd 半導体プロセス装置及びその使用方法
JPH0982227A (ja) * 1995-09-07 1997-03-28 Toshiba Electron Eng Corp X線管の排気方法及び排気装置
JP2003036805A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Kobe Steel Ltd 微小x線源
JP2003510762A (ja) * 1999-09-21 2003-03-18 イマトロン・インコーポレーテッド コンピュータ断層撮影システムにおけるイオンを消去するための装置
JP2004111336A (ja) * 2002-09-20 2004-04-08 Hamamatsu Photonics Kk X線管
JP2004511884A (ja) * 2000-10-06 2004-04-15 ザ ユニバーシティ オブ ノース カロライナ − チャペル ヒル 電子電界放出カソードを使用するx線発生機構
JP2004342401A (ja) * 2003-05-14 2004-12-02 Jeol Ltd 透過電子顕微鏡における試料交換装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000082430A (ja) 1998-09-08 2000-03-21 Hamamatsu Photonics Kk X線発生用ターゲット及びこれを用いたx線管
US20030002627A1 (en) * 2000-09-28 2003-01-02 Oxford Instruments, Inc. Cold emitter x-ray tube incorporating a nanostructured carbon film electron emitter
DE10048833C2 (de) 2000-09-29 2002-08-08 Siemens Ag Vakuumgehäuse für eine Vakuumröhre mit einem Röntgenfenster
US7085351B2 (en) * 2000-10-06 2006-08-01 University Of North Carolina At Chapel Hill Method and apparatus for controlling electron beam current
US6980627B2 (en) * 2000-10-06 2005-12-27 Xintek, Inc. Devices and methods for producing multiple x-ray beams from multiple locations
JP4533553B2 (ja) 2001-04-13 2010-09-01 株式会社リガク X線管
KR100436087B1 (ko) * 2001-06-21 2004-06-12 한상효 탄소나노튜브를 이용한 방사선 광캐소드와 이를 이용한방사선 검출장치 및 방사선 이미지 측정장치

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61218100A (ja) * 1985-03-22 1986-09-27 Toshiba Corp X線管装置
JPH0794571A (ja) * 1993-09-24 1995-04-07 Fujitsu Ltd 半導体プロセス装置及びその使用方法
JPH0982227A (ja) * 1995-09-07 1997-03-28 Toshiba Electron Eng Corp X線管の排気方法及び排気装置
JP2003510762A (ja) * 1999-09-21 2003-03-18 イマトロン・インコーポレーテッド コンピュータ断層撮影システムにおけるイオンを消去するための装置
JP2004511884A (ja) * 2000-10-06 2004-04-15 ザ ユニバーシティ オブ ノース カロライナ − チャペル ヒル 電子電界放出カソードを使用するx線発生機構
JP2003036805A (ja) * 2001-07-23 2003-02-07 Kobe Steel Ltd 微小x線源
JP2004111336A (ja) * 2002-09-20 2004-04-08 Hamamatsu Photonics Kk X線管
JP2004342401A (ja) * 2003-05-14 2004-12-02 Jeol Ltd 透過電子顕微鏡における試料交換装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013018712A1 (ja) * 2011-08-02 2013-02-07 マイクロXジャパン株式会社 ステレオx線発生装置
JP2013033645A (ja) * 2011-08-02 2013-02-14 Micro X Japan Co Ltd ステレオx線発生装置
US9251992B2 (en) 2011-08-02 2016-02-02 Micro-X Japan Ltd. Stereo X-ray generating device

Also Published As

Publication number Publication date
US7403595B2 (en) 2008-07-22
KR100766907B1 (ko) 2007-10-17
KR20070099714A (ko) 2007-10-10
US20070237300A1 (en) 2007-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007280958A (ja) マイクロ集束レベルの電子ビーム発生用炭素ナノチューブ基板分離型の放射線管システム
KR100711186B1 (ko) 탄소나노튜브를 전계방출원으로 이용한 분해ㆍ조립이가능한 엑스선관
Senda et al. Super-miniature x-ray tube
EP3618094B1 (en) X-ray tube and x-ray generation device
JP7073407B2 (ja) 電離放射線を生成するための小型放射源、複数の放射源を備えるアセンブリ、及び放射源を製造するためのプロセス
KR100886203B1 (ko) 탄소나노튜브를 이용한 다중 채널 음극 구조의 마이크로포커싱 엑스-선관
JP6415388B2 (ja) プラズマ生成装置
US20160189909A1 (en) Target for x-ray generation and x-ray generation device
US9818571B2 (en) X-ray generation tube, X-ray generation apparatus, and radiography system
JP6218403B2 (ja) 電界放射型電子銃を備えたx線管及びそれを用いたx線検査装置
JP5845342B2 (ja) X線管およびx線管用電子放出素子
JP2010186694A (ja) X線源、x線発生方法およびx線源製造方法。
JP2007538359A (ja) 高線量x線管
WO2021015036A1 (ja) X線管
US20100002842A1 (en) Cathode assembly for rapid electron source replacement in a rotating anode x-ray generator
KR100665881B1 (ko) 탄소나노튜브 기반의 엑스-선관의 전자빔 발생용 음극 모듈
JP7073406B2 (ja) 小型電離放射線源
JP2007287501A (ja) 透過型x線管
US10453644B2 (en) Field-emission X-ray source
Choi et al. Development of new X-ray source based on carbon nanotube field emission and application to the non destructive imaging technology
JP2020526866A (ja) 電離放射線を生成するための小型放射源、複数の放射源を含むアセンブリ及び放射源を製造するためのプロセス
JP7367165B2 (ja) X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム
CN217444331U (zh) 冷阴极x射线管及x射线发生装置
JP2008159276A (ja) 真空装置及びその製造方法
CN114551192A (zh) 冷阴极x射线管及x射线发生装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100603

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100608

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100908

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101026

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110124

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110308