JP2007255952A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2007255952A5
JP2007255952A5 JP2006077935A JP2006077935A JP2007255952A5 JP 2007255952 A5 JP2007255952 A5 JP 2007255952A5 JP 2006077935 A JP2006077935 A JP 2006077935A JP 2006077935 A JP2006077935 A JP 2006077935A JP 2007255952 A5 JP2007255952 A5 JP 2007255952A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
limit value
contact
measured value
comparison result
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006077935A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2007255952A (ja
JP5177830B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2006077935A priority Critical patent/JP5177830B2/ja
Priority claimed from JP2006077935A external-priority patent/JP5177830B2/ja
Publication of JP2007255952A publication Critical patent/JP2007255952A/ja
Publication of JP2007255952A5 publication Critical patent/JP2007255952A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5177830B2 publication Critical patent/JP5177830B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2006077935A 2006-03-22 2006-03-22 接触式変位検出装置及び接触式変位検出装置における許容範囲指定方法 Expired - Fee Related JP5177830B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006077935A JP5177830B2 (ja) 2006-03-22 2006-03-22 接触式変位検出装置及び接触式変位検出装置における許容範囲指定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006077935A JP5177830B2 (ja) 2006-03-22 2006-03-22 接触式変位検出装置及び接触式変位検出装置における許容範囲指定方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2007255952A JP2007255952A (ja) 2007-10-04
JP2007255952A5 true JP2007255952A5 (enExample) 2009-04-30
JP5177830B2 JP5177830B2 (ja) 2013-04-10

Family

ID=38630362

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006077935A Expired - Fee Related JP5177830B2 (ja) 2006-03-22 2006-03-22 接触式変位検出装置及び接触式変位検出装置における許容範囲指定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5177830B2 (enExample)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102706240B (zh) * 2012-06-13 2014-09-03 鞍钢股份有限公司 一种正交法调整圆盘剪喇叭口的方法
JP6214920B2 (ja) * 2013-05-17 2017-10-18 株式会社キーエンス モータ駆動装置
US9250055B2 (en) * 2014-05-09 2016-02-02 Mitutoyo Corporation High speed contact detector for measurement sensors
JP6630532B2 (ja) * 2015-10-15 2020-01-15 パナソニック デバイスSunx株式会社 変位検出装置及び光学式検出装置
JP2017078586A (ja) * 2015-10-19 2017-04-27 パナソニック デバイスSunx株式会社 変位検出装置
JP6545602B2 (ja) * 2015-10-28 2019-07-17 パナソニック デバイスSunx株式会社 コントローラシステム及びセンサシステム
JP6904712B2 (ja) * 2017-01-12 2021-07-21 ミネベアミツミ株式会社 モータ制御システム
JP7418001B2 (ja) * 2020-03-25 2024-01-19 株式会社キーレックス ダイハイト検出器
JP7755394B2 (ja) * 2021-05-24 2025-10-16 株式会社ミツトヨ 表面性状測定機および表面性状判定方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6033011A (ja) * 1983-08-04 1985-02-20 Mitsutoyo Mfg Co Ltd 測定デ−タ合否判別装置
JP2829065B2 (ja) * 1989-11-27 1998-11-25 川崎製鉄株式会社 圧延帯板の板厚測定方法
JPH0540016A (ja) * 1991-08-08 1993-02-19 Toshiba Eng Co Ltd 胴径測定判別装置
JPH08233882A (ja) * 1995-02-27 1996-09-13 Sony Tektronix Corp 無線機器特定装置
JPH10274501A (ja) * 1997-03-28 1998-10-13 Keyence Corp 接触式変位計
JP4364524B2 (ja) * 2003-02-20 2009-11-18 株式会社日立製作所 パターン検査方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012506574A5 (enExample)
JP2012500657A5 (enExample)
JP2009527756A (ja) 工具の検知
MY151213A (en) Apparatus, system and method for measuring thread features on pipe or tube end
JP2008116373A5 (enExample)
ATE551627T1 (de) Bildverarbeitungsvorrichtung und -verfahren
JP2007255952A5 (enExample)
EP2264409A3 (en) Lithographic apparatus and device manufacturing method
EP2319659A3 (en) Eyeglass lens processing apparatus
JP2011017559A5 (enExample)
JP2012034024A5 (enExample)
CN203501997U (zh) 具高检测精度的检测仪
CN106352765B (zh) 测量端面带斜面的零件的顶面长度的量具及方法
CN206573086U (zh) 接触式位移测量装置
JP2009098044A5 (enExample)
CN106225661B (zh) 薄壁件上冲压孔直径快速检测装置及其方法
CN103968974B (zh) 一种带涂层铁磁性金属工件非破坏应力定量检测方法
TWI243886B (en) One measurement device for high-speed contouring testing
CN202275053U (zh) 一种纸张伸缩性自动检测仪
CN109297395B (zh) 测试产品接近特性能的试验夹具
CN106441612A (zh) 一种摩擦副三点融合测温系统及测温方法
CN201152743Y (zh) 斜度辅助测量治具
CN204240962U (zh) 一种便携式平直度检测装置
TWI352189B (enExample)
CN103175683A (zh) 鼠标功能检测方法