JP6630532B2 - 変位検出装置及び光学式検出装置 - Google Patents

変位検出装置及び光学式検出装置 Download PDF

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Description

本発明は、被測定物の形状変位を検出する変位検出装置及び光学式検出装置に関するものである。
被測定物の外形形状の変位を検出する変位検出装置は、被測定物の機械的変位量を検出して電気信号に変換する複数のセンサヘッドと、各センサヘッドから出力される検出信号がそれぞれ入力される複数の制御ユニットを備えている。
センサヘッドは、ホルダーにスピンドルが出没可能に支持され、そのスピンドルの先端部に接触子が備えられている。そして、センサヘッドの設置位置に被測定物が搬送されて、接触子が被測定物に当接したとき、基準位置に対するスピンドルの変位量がホルダー内の検出部で検出されて電気信号に変換される。
通常の測定動作時には、各制御ユニットは各センサヘッドから出力される検出信号に基づいて変位量が正常であるか否かを判定し、その判定結果が各制御ユニットに備えられたディスプレイに表示される。
また、通常の測定動作に先立って、各制御ユニットの初期設定が行われる。初期設定操作は、複数の制御ユニットの一つである親機で多数の項目についてそれぞれ行われる。そして、親機で設定された多数項目の初期設定値が必要に応じて子機にコピーされる。
特許文献1には、被測定物に対し可動部を接触させて被測定物の変位量を検出する変位検出装置が開示されている。
特開2007−240225号公報
上記のような変位検出装置では、多数の項目の初期設定値のうち、親機から子機にコピーする項目を任意に選択する場合には、すべての項目の初期設定値の設定後に、コピー設定メニューから各項目を順次読み出してコピーするか否かを順次選択する必要がある。
従って、多数の初期設定項目についてコピー選択の有無を設定するための作業が煩雑となる。
この発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は制御ユニットの親機から子機へのコピー選択設定を容易に行い得る変位検出装置を提供することにある。
上記課題を解決する変位検出装置は、ホルダーに出没可能に支持されたスピンドルの先端部を被測定物に当接させて、該被測定物の変位を検出する複数のセンサヘッドと、前記各センサヘッドの検出信号に基づく測定値を表示する表示部を備えた複数の制御ユニットと、前記各制御ユニットに設けられ、多数の初期設定項目で初期設定値を設定可能とした操作キーと、前記各制御ユニットに設けられ、前記操作キーの操作に基づいて、前記制御ユニットの親機から子機に前記初期設定値をコピーするコピー機能を備えたコントローラを備えた変位検出装置において、前記コントローラ及び操作キーには、前記各初期設定項目での初期設定値の設定操作時に、当該初期設定項目の初期設定値をコピーするか否かを選択する選択手段を備えたことを特徴とする。
この構成により、各初期設定項目での初期設定値の設定操作時に、当該初期設定項目の初期設定値をコピーするか否かが選択手段により設定される。
また、上記の変位検出装置では、前記選択手段は、前記操作キーに設定されたコピー選択設定キーと、前記コントローラに設けられ、前記コピー選択設定キーの操作に基づいて、前記初期設定項目毎に前記初期設定値のコピー選択を設定する設定部とを備えることが好ましい。
この構成により、各初期設定項目での初期設定値の設定操作時に、コピー選択設定キーの操作に基づいて、前記初期設定項目毎に前記初期設定値のコピー選択が設定される。
また、上記の変位検出装置では、前記制御ユニットに設けられた表示部には、前記各初期設定項目で前記コピー選択キーが操作されたとき、コピー選択の設定を表示するコピーマークを備えることが好ましい。
この構成により、コピー選択キーが操作されると、表示部にコピーマークが表示されて、コピー選択の設定が確認可能となる。
また、上記の変位検出装置では、前記初期設定項目は初期設定後に設定変更可能であって、前記選択手段は、設定変更時に任意の設定変更項目の設定値をコピーするか否かを選択可能とすることが好ましい。
この構成により、初期設定以外の設定変更時に、任意の設定変更項目の設定値をコピーするか否かを選択可能となる。
上記課題を解決する光学式検出装置は、検出光を被測定物に照射して、該被測定物を検出する複数のセンサヘッドと、前記各センサヘッドの検出信号に基づく測定値を表示する表示部を備えた複数の制御ユニットと、前記各制御ユニットに設けられ、多数の初期設定項目で初期設定値を設定可能とした操作キーと、前記各制御ユニットに設けられ、前記操作キーの操作に基づいて、前記制御ユニットの親機から子機に前記初期設定値をコピーするコピー機能を備えたコントローラとを備えた光学式検出装置において、前記コントローラ及び操作キーには、前記各初期設定項目での初期設定値の設定操作時に、当該初期設定項目の初期設定値をコピーするか否かを選択する選択手段を備えたことを特徴とする。
この構成により、光学式検出装置において、各初期設定項目での初期設定値の設定操作時に、当該初期設定項目の初期設定値をコピーするか否かが選択手段により設定される。
本発明の変位検出装置によれば、制御ユニットの親機から子機へのコピー選択設定を容易に行うことができる。
変位検出装置を示す概要図である。 変位検出装置の電気的構成を示すブロック図である。 制御ユニットを示す斜視図である。 制御ユニットの操作パネルを示す正面図である。 表示部の動作を示す正面図である。 表示部の動作を示す正面図である。 表示部の動作を示す正面図である。 制御ユニットの動作を示すフローチャートである。 初期設定操作時の表示部の動作を示す説明図である。 初期設定操作時の表示部の動作を示す説明図である。 初期設定操作時の表示部の動作を示す説明図である。 初期設定操作時の表示部の動作を示す説明図である。 初期設定操作時の表示部の動作を示す説明図である。 コピー項目設定操作時の制御ユニットの動作を示すフローチャートである。 コピー項目設定操作時の制御ユニットの動作を示すフローチャートである。
以下、変位検出装置の一実施形態を図面に従って説明する。図1に示す変位検出装置は、あらかじめDINレール等を使用して所定の位置に設置されたセンサヘッド1のホルダー2から下方に向かってスピンドル3が出没可能に支持されている。スピンドル3の先端には接触子4が設けられている。
センサヘッド1は、接続ケーブル5を介して制御ユニット6に接続されている。そして、例えばセンサヘッド1の設置位置に被測定物Wが搬送されて、その表面に接触子4が当接すると、スピンドル3の没入変位量を検出した検出信号がセンサヘッド1から制御ユニット6に出力される。
制御ユニット6には主制御部MCが接続される。そして、制御ユニット6は主制御部MCから出力される制御信号に基づいて動作し、制御ユニット6で測定された各種データが主制御部MCに送信される。
図2に示すように、センサヘッド1のホルダー2内には、複数の投光素子7と、各投光素子7に対向する位置に複数の受光素子8がそれぞれ配設されている。そして、上下方向に移動するスピンドル3で遮られる光を受光素子8で検出することにより、スピンドル3の変位量が電気信号に変換されて出力される。
受光素子8から出力される検出信号は制御ユニット6内のCPU9に出力される。CPU9には表示部10が接続され、所要の表示を行う。また、CPU9には設定部11が接続され、所要の設定操作及び選択操作を行うようになっている。CPU9に接続されるメモリ12には、CPU9の動作を制御するプログラムや、設定部11の操作に基づいて設定される設定値等が記憶される。
図3に示すように、制御ユニット6は直方体状のケースの操作パネルに表示部10が設けられている。表示部10の一側には、シフトキー13と、enterキー14と、exitキー15が配設され、表示部10の他側には各種表示灯16及びプリセットキー17が設定部11として配設されている。
図4に示すように、シフトキー13は、上方へのシフトを選択するupキー13aと、下方へのシフトを選択するdownキー13bと、右側へのシフトを選択するrightキー13cと、左側へのシフトを選択するleftキー13dが備えられている。
制御ユニット6の一方の側面にはコネクタ18が突出され、他方の側面にはコネクタ18を嵌合可能としたコネクタ孔が設けられている。そして、多数の制御ユニット6がコネクタ18を介して厚さ方向に重ね合わせて連結され、各制御ユニット6が個別のセンサヘッド1にそれぞれ接続ケーブル5を介して接続される。
また、各制御ユニット6は、いずれか1台を親機6aとして設定し、他の制御ユニット6を子機6bとして設定可能である。
図4に示すように、表示部10にはそれぞれ複数桁の数字あるいはアルファベットを点灯表示可能としたメイン表示部19とサブ表示部20が上下2段に隣接して設けられている。サブ表示部20の一側には第一のガイドマーク21が設けられ、第一のガイドマーク21の下方には第二のガイドマーク22が設けられている。
第一のガイドマーク21は、4つの有効なシフトキーが表示され、第二のガイドマーク22はenterキー14が有効であるとき点灯される。
メイン表示部19とサブ表示部20の他側には、サークルメータ23が設けられている。サークルメータ23は、測定値を13個のセグメントの点灯に基づいて表示し、あるいはシフトキー13の長押し操作時に、セグメントを順次消灯させることにより、長押し操作の継続時間を表示する。
サークルメータ23の内側にはコピーマーク24が設けられている。コピーマーク24は、コピー設定操作時に対称となる設定項目で親機6aから子機6bへのコピーが選択されたときに点灯表示される。
[センサヘッド1の設置操作時の制御ユニット6の作用]
センサヘッド1の設置位置を調整する場合には、まずupキー13aを3秒長押しする。すると、図5に示すように、表示部10に表示設定画面が表示され、サブ表示部20に表示される項目を選択するモードとなる。なお、upキー13aの長押し操作時には、サークルメータ23のセグメントが順次消灯されて、長押し操作の継続時間が表示される。
この状態でrightキー13cあるいはleftキー13dを繰り返し押すと、図6に示すように、サブ表示部20に表示される項目が順次切り替わる。表示される項目は、ノーマル測定値(NORM.V)、演算値(CALC)、ラベル(LABEL)、LOW設定値(LO.SET)、HIGH設定値(HI.SET)、センサヘッド測定値(HEAD.V)である。
ここで、サブ表示部20にセンサヘッド測定値(HEAD.V)を表示させた状態でenterキー14を押すと、サブ表示部20の表示値はセンサヘッド測定値(HEAD.V)に確定される。
すると、図7に示すように、スピンドル3の位置がその可動範囲中のいずれに位置するかを示す絶対値をスピンドル測定値として表示するモードに設定される。
次いで、センサヘッド1の設置位置調整作業に移行する。図8に示すように、標準の被測定物をセンサヘッド1の下方に載置してスピンドル3の接触子4を当接させると、測定動作が開始され(ステップ1)、スピンドル3のスピンドル測定値が取得される(ステップ2)。
次いで、メイン表示部19に表示されている測定値が標準の被測定物の測定による標準値となるように表示値の調整を行う(ステップ3)。そして、標準の被測定物の測定を行うと(ステップ4)、メイン表示部19に標準の被測定物の測定値が表示され、サブ表示部20にはスピンドル測定値が表示される(ステップ5)。
従って、ステップ1からステップ5を繰り返して、スピンドル測定値がスピンドル3の可動範囲の中間となるようにセンサヘッド1の設置位置を調整し、かつ測定値が標準となる測定値として妥当となるように調整することも容易である。
[制御ユニット6の設定操作時の作用]
次に、親機となる制御ユニット6aで各種初期設定を行う場合の操作について説明する。
図9に示すように、各種初期設定を行う場合には、rightキー13cを3秒以上長押しする。すると、基本設定を選択するための設定メニュー画面の一つであるBASIC画面25aがサブ表示部20に表示される。そして、この状態でdownキー13bを押し、さらにrightキー13c及びleftキー13dの操作により、BASIC画面25aの下層に連なる12項目の基本設定項目26のいずれかを順次選択可能である。
各基本設定項目26を選択し、upキー13a、downキー13b及びenterキー14を使用して各項目で所望の設定値を設定可能である。
BASIC画面25aの下層に連なる項目をすべて設定した後、BASIC画面25aに復帰し、rightキー13c若しくはleftキー13dを操作すると、BASIC画面25aと同層の各メニュー画面25b〜25hに移行可能である。
そして、各メニュー画面25b〜25hの下層にそれぞれ多数の設定項目が連なり、上記基本設定項目26と同様にそれぞれ設定可能である。
基本設定項目26及び各メニュー画面25b〜25hの下層に連なる設定項目の設定時に、当該設定項目の設定値を子機となる制御ユニット6bにコピーするか否かを設定可能である。
図10に示すように、各設定項目の設定終了時に、プリセットキー17を押すと、図11に示すようにコピーマーク24が表示され、当該設定項目の親機6aから子機6bへのコピーが設定される。プリセットキー17が押されない場合には、図12に示すように、コピーマーク24は表示されない。
図13に示すように、BASIC画面25aと同層のメニュー画面25b〜25hからコピー設定画面25dを選択すると、コピー項目選択画面27aと、コピー全選択設定画面27bと、コピー実行画面27cのいずれかを順次選択可能となる。
コピー項目選択画面27aでは、BASIC画面25a及びその他のメニュー画面25b〜25hの下層の各項目において、コピーを行う項目を個別に選択可能である。この操作では、上記プリセットキー17によるコピー選択操作を変更することも可能である。
コピー全選択設定画面27bでは、BASIC画面25a及びその他のメニュー画面25b〜25hの下層の全項目を設定可能である。コピー実行画面27cでは選択された項目のコピーを実行である。
また、子機6bの場合には、コピー設定画面25dの下層でコピーロック設定画面28が表示され、親機6aからのコピーを拒絶するように設定することも可能である。
次に、上記のような初期設定操作時の親機6aのCPU9の処理動作を説明する。
図14に示すように、rightキー13cが長押しされると、サブ表示部20にBASIC画面25aとその他のメニュー画面25b〜25hのいずれかが表示される(ステップ11)。
次いで、BASIC画面25aとその他のメニュー画面25b〜25hのいずれかを選択し、設定項目を選択する(ステップ12)。すると、例えば図10に示すように、メイン表示部19に表示された設定値が点滅して、upキー13a、downキー13b及びrightキー13c及びleftキー13dの操作により設定値を選択可能となる(ステップ13,14,15,16)。
また、ステップ15でプリセットキー17が押されると、コピーマーク24にチェックマークを入れ(ステップ17,18)、プリセットキー17が押されない場合には、コピーマーク24にチェックマークを入れない(ステップ19)。そして、このような動作が繰り返されて、BASIC画面25aとその他のメニュー画面25b〜25hの下層に連なる多数の項目の初期設定操作と、各項目で親機6aに設定された値を子機6bにコピーするか否かの選択操作が行われる。
ステップ15で、enterキー14が押されると、設定値が確定されて(ステップ20)、初期設定動作が終了する。
図15は、親機6aでコピー設定画面25dを選択した場合の動作を示す。メニュー画面のうちコピー設定画面25dが選択されると(ステップ21)、コピー項目選択画面27aが表示される(ステップ22)。
ここで、rightキー13cあるいはleftキー13dが押されると、各メニュー画面の下層の各項目の初期設定値がメイン表示部19及びサブ表示部20に順次表示される(ステップ23〜25)。所望の項目が表示された状態で、enterキー14が押されると、当該項目の設定値の親機6aから子機6bへのコピーが選択される(ステップ26,27)。また、ステップ26でenterキー14が押されない場合には子機6bへのコピーは非選択となる(ステップ28)。
そして、ステップ24でexitキー15が押されると、入力されたコピー設定が確定されて(ステップ29)、設定操作が終了する。
上記のような変位検出装置では、次に示す効果を得ることができる。
(1)標準となる被測定物の変位量を測定して、センサヘッド1の設置位置を調整する場合には、制御ユニット6のメイン表示部19とサブ表示部20に、被測定物の変位量の測定値と、スピンドル3の可動範囲内での位置を示す絶対値をスピンドル測定値として同時に表示することができる。従って、スピンドル3の可動範囲の中央部で、被測定物の変位量を検出できるように、センサヘッド1の設置位置を容易に調整することができる。
(2)制御ユニット6の親機6aで項目毎に設定した初期設定値を子機6bにコピーする場合、各項目での初期設定操作時に当該項目の初期設定値をコピーするか否かをあらかじめ設定することができる。従って、初期設定値の設定後にコピー項目選択画面27aであらためて各項目でコピーを選択するか否かを設定する必要はないので、コピー項目設定操作を容易に行うことができる。
(3)コピー項目選択操作時に、コピーを選択された項目でコピーマーク24が表示されるため、コピー選択の有無を容易に認識可能である。
なお、上記実施形態は以下のように変更してもよい。
・コピー項目を設定するためのキーは、プリセットキー17以外の任意のキーを割り当ててもよい。
・スピンドルの先端部を被測定物に当接させて、該被測定物の変位を検出するセンサヘッドと制御ユニットを備えた変位検出装置を例に挙げたが、検出光を被測定物に照射して該被測定物を検出するセンサヘッドと制御ユニットを備えた光学式検出装置に適用してもよい。
・初期設定項目の初期設定時のコピーを例に挙げたが、設定変更時に適用してもよい。
(付記1)
請求項1に記載の変位検出装置において、
前記制御ユニットには、
前記表示部に表示設定画面を表示させる第一のキーと、
前記表示設定画面で、スピンドル測定値表示モードを選択する第二のキーと、
前記スピンドル測定値表示モードで、
前記表示部に、前記判定測定値を表示するメイン表示部と、前記スピンドル位置のスピンドル測定値を表示するサブ表示部を同時に表示させる制御部と
を備えたことを特徴とする変位検出装置。
(付記2)
付記1記載の変位検出装置において、
前記メイン表示部とサブ表示部を、上下方向に2段に配設したことを特徴とする変位検出装置。
1…センサヘッド、2…ホルダー、3…スピンドル、6…制御ユニット、6a…親機、6b…子機、9…コントローラ(設定部、CPU)、13,14,17…操作キー(選択手段、コピー選択設定キー、シフトキー、enterキー、プリセットキー)、10…表示部、24…コピーマーク、W…被測定物。

Claims (5)

  1. ホルダーに出没可能に支持されたスピンドルの先端部を被測定物に当接させて、該被測定物の変位を検出する複数のセンサヘッドと、
    前記各センサヘッドの検出信号に基づく測定値を表示する表示部を備えた複数の制御ユニットと、
    前記各制御ユニットに設けられ、多数の初期設定項目で初期設定値を設定可能とした操作キーと、
    前記各制御ユニットに設けられ、前記操作キーの操作に基づいて、前記制御ユニットの親機から子機に前記初期設定値をコピーするコピー機能を備えたコントローラとを備えた変位検出装置において、
    前記コントローラ及び操作キーには、
    前記各初期設定項目で初期設定値設定操作する都度に、当該初期設定項目の初期設定値をコピーするか否かを選択する選択手段と、
    前記操作キーの操作に基づいて、前記選択手段によってコピーすると選択された前記初期設定項目の初期設定値のコピーを実行する実行手段とを備えたことを特徴とする変位検出装置。
  2. 請求項1記載の変位検出装置において、
    前記選択手段は、
    前記操作キーに設定されたコピー選択設定キーと、
    前記コントローラに設けられ、前記コピー選択設定キーの操作に基づいて、前記初期設定項目毎に前記初期設定値のコピー選択を設定する設定部と
    を備えたことを特徴とする変位検出装置。
  3. 請求項2に記載の変位検出装置において、
    前記制御ユニットに設けられた表示部には、前記各初期設定項目で前記コピー選択設定キーが操作されたとき、コピー選択の設定を表示するコピーマークを備えたことを特徴とする変位検出装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の変位検出装置において、
    前記初期設定項目は初期設定後に設定変更可能であって、
    前記選択手段は、設定変更時に任意の設定変更項目の設定値をコピーするか否かを選択可能としたことを特徴とする変位検出装置。
  5. 検出光を被測定物に照射して、該被測定物を検出する複数のセンサヘッドと、
    前記各センサヘッドの検出信号に基づく測定値を表示する表示部を備えた複数の制御ユニットと、
    前記各制御ユニットに設けられ、多数の初期設定項目で初期設定値を設定可能とした操作キーと、
    前記各制御ユニットに設けられ、前記操作キーの操作に基づいて、前記制御ユニットの親機から子機に前記初期設定値をコピーするコピー機能を備えたコントローラとを備えた光学式検出装置において、
    前記コントローラ及び操作キーには、
    前記各初期設定項目の初期設定値設定操作する都度に、当該初期設定項目の初期設定値をコピーするか否かを選択する選択手段と、
    前記操作キーの操作に基づいて、前記選択手段によってコピーすると選択された前記初期設定項目の初期設定値のコピーを実行する実行手段とを備えたことを特徴とする光学式検出装置。
JP2015204079A 2015-10-15 2015-10-15 変位検出装置及び光学式検出装置 Active JP6630532B2 (ja)

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