JP6630532B2 - 変位検出装置及び光学式検出装置 - Google Patents
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims description 42
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 45
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 18
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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- G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
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- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
- G05B19/401—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for measuring, e.g. calibration and initialisation, measuring workpiece for machining purposes
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- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/048—Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI]
- G06F3/0484—Interaction techniques based on graphical user interfaces [GUI] for the control of specific functions or operations, e.g. selecting or manipulating an object, an image or a displayed text element, setting a parameter value or selecting a range
- G06F3/04847—Interaction techniques to control parameter settings, e.g. interaction with sliders or dials
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- G—PHYSICS
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/32—Operator till task planning
- G05B2219/32149—Display working condition data, real measured data and tolerance
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- G—PHYSICS
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- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/35—Nc in input of data, input till input file format
- G05B2219/35073—Copy, duplicate a designed figure
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Description
この発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は制御ユニットの親機から子機へのコピー選択設定を容易に行い得る変位検出装置を提供することにある。
また、上記の変位検出装置では、前記選択手段は、前記操作キーに設定されたコピー選択設定キーと、前記コントローラに設けられ、前記コピー選択設定キーの操作に基づいて、前記初期設定項目毎に前記初期設定値のコピー選択を設定する設定部とを備えることが好ましい。
また、上記の変位検出装置では、前記制御ユニットに設けられた表示部には、前記各初期設定項目で前記コピー選択キーが操作されたとき、コピー選択の設定を表示するコピーマークを備えることが好ましい。
また、上記の変位検出装置では、前記初期設定項目は初期設定後に設定変更可能であって、前記選択手段は、設定変更時に任意の設定変更項目の設定値をコピーするか否かを選択可能とすることが好ましい。
上記課題を解決する光学式検出装置は、検出光を被測定物に照射して、該被測定物を検出する複数のセンサヘッドと、前記各センサヘッドの検出信号に基づく測定値を表示する表示部を備えた複数の制御ユニットと、前記各制御ユニットに設けられ、多数の初期設定項目で初期設定値を設定可能とした操作キーと、前記各制御ユニットに設けられ、前記操作キーの操作に基づいて、前記制御ユニットの親機から子機に前記初期設定値をコピーするコピー機能を備えたコントローラとを備えた光学式検出装置において、前記コントローラ及び操作キーには、前記各初期設定項目での初期設定値の設定操作時に、当該初期設定項目の初期設定値をコピーするか否かを選択する選択手段を備えたことを特徴とする。
図4に示すように、表示部10にはそれぞれ複数桁の数字あるいはアルファベットを点灯表示可能としたメイン表示部19とサブ表示部20が上下2段に隣接して設けられている。サブ表示部20の一側には第一のガイドマーク21が設けられ、第一のガイドマーク21の下方には第二のガイドマーク22が設けられている。
メイン表示部19とサブ表示部20の他側には、サークルメータ23が設けられている。サークルメータ23は、測定値を13個のセグメントの点灯に基づいて表示し、あるいはシフトキー13の長押し操作時に、セグメントを順次消灯させることにより、長押し操作の継続時間を表示する。
[センサヘッド1の設置操作時の制御ユニット6の作用]
センサヘッド1の設置位置を調整する場合には、まずupキー13aを3秒長押しする。すると、図5に示すように、表示部10に表示設定画面が表示され、サブ表示部20に表示される項目を選択するモードとなる。なお、upキー13aの長押し操作時には、サークルメータ23のセグメントが順次消灯されて、長押し操作の継続時間が表示される。
次いで、センサヘッド1の設置位置調整作業に移行する。図8に示すように、標準の被測定物をセンサヘッド1の下方に載置してスピンドル3の接触子4を当接させると、測定動作が開始され(ステップ1)、スピンドル3のスピンドル測定値が取得される(ステップ2)。
[制御ユニット6の設定操作時の作用]
次に、親機となる制御ユニット6aで各種初期設定を行う場合の操作について説明する。
BASIC画面25aの下層に連なる項目をすべて設定した後、BASIC画面25aに復帰し、rightキー13c若しくはleftキー13dを操作すると、BASIC画面25aと同層の各メニュー画面25b〜25hに移行可能である。
基本設定項目26及び各メニュー画面25b〜25hの下層に連なる設定項目の設定時に、当該設定項目の設定値を子機となる制御ユニット6bにコピーするか否かを設定可能である。
次に、上記のような初期設定操作時の親機6aのCPU9の処理動作を説明する。
図15は、親機6aでコピー設定画面25dを選択した場合の動作を示す。メニュー画面のうちコピー設定画面25dが選択されると(ステップ21)、コピー項目選択画面27aが表示される(ステップ22)。
上記のような変位検出装置では、次に示す効果を得ることができる。
(1)標準となる被測定物の変位量を測定して、センサヘッド1の設置位置を調整する場合には、制御ユニット6のメイン表示部19とサブ表示部20に、被測定物の変位量の測定値と、スピンドル3の可動範囲内での位置を示す絶対値をスピンドル測定値として同時に表示することができる。従って、スピンドル3の可動範囲の中央部で、被測定物の変位量を検出できるように、センサヘッド1の設置位置を容易に調整することができる。
(2)制御ユニット6の親機6aで項目毎に設定した初期設定値を子機6bにコピーする場合、各項目での初期設定操作時に当該項目の初期設定値をコピーするか否かをあらかじめ設定することができる。従って、初期設定値の設定後にコピー項目選択画面27aであらためて各項目でコピーを選択するか否かを設定する必要はないので、コピー項目設定操作を容易に行うことができる。
(3)コピー項目選択操作時に、コピーを選択された項目でコピーマーク24が表示されるため、コピー選択の有無を容易に認識可能である。
・コピー項目を設定するためのキーは、プリセットキー17以外の任意のキーを割り当ててもよい。
・スピンドルの先端部を被測定物に当接させて、該被測定物の変位を検出するセンサヘッドと制御ユニットを備えた変位検出装置を例に挙げたが、検出光を被測定物に照射して該被測定物を検出するセンサヘッドと制御ユニットを備えた光学式検出装置に適用してもよい。
・初期設定項目の初期設定時のコピーを例に挙げたが、設定変更時に適用してもよい。
(付記1)
請求項1に記載の変位検出装置において、
前記制御ユニットには、
前記表示部に表示設定画面を表示させる第一のキーと、
前記表示設定画面で、スピンドル測定値表示モードを選択する第二のキーと、
前記スピンドル測定値表示モードで、
前記表示部に、前記判定測定値を表示するメイン表示部と、前記スピンドル位置のスピンドル測定値を表示するサブ表示部を同時に表示させる制御部と
を備えたことを特徴とする変位検出装置。
(付記2)
付記1記載の変位検出装置において、
前記メイン表示部とサブ表示部を、上下方向に2段に配設したことを特徴とする変位検出装置。
Claims (5)
- ホルダーに出没可能に支持されたスピンドルの先端部を被測定物に当接させて、該被測定物の変位を検出する複数のセンサヘッドと、
前記各センサヘッドの検出信号に基づく測定値を表示する表示部を備えた複数の制御ユニットと、
前記各制御ユニットに設けられ、多数の初期設定項目で初期設定値を設定可能とした操作キーと、
前記各制御ユニットに設けられ、前記操作キーの操作に基づいて、前記制御ユニットの親機から子機に前記初期設定値をコピーするコピー機能を備えたコントローラとを備えた変位検出装置において、
前記コントローラ及び操作キーには、
前記各初期設定項目で初期設定値を設定操作する都度に、当該初期設定項目の初期設定値をコピーするか否かを選択する選択手段と、
前記操作キーの操作に基づいて、前記選択手段によってコピーすると選択された前記初期設定項目の初期設定値のコピーを実行する実行手段とを備えたことを特徴とする変位検出装置。 - 請求項1記載の変位検出装置において、
前記選択手段は、
前記操作キーに設定されたコピー選択設定キーと、
前記コントローラに設けられ、前記コピー選択設定キーの操作に基づいて、前記初期設定項目毎に前記初期設定値のコピー選択を設定する設定部と
を備えたことを特徴とする変位検出装置。 - 請求項2に記載の変位検出装置において、
前記制御ユニットに設けられた表示部には、前記各初期設定項目で前記コピー選択設定キーが操作されたとき、コピー選択の設定を表示するコピーマークを備えたことを特徴とする変位検出装置。 - 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の変位検出装置において、
前記初期設定項目は初期設定後に設定変更可能であって、
前記選択手段は、設定変更時に任意の設定変更項目の設定値をコピーするか否かを選択可能としたことを特徴とする変位検出装置。 - 検出光を被測定物に照射して、該被測定物を検出する複数のセンサヘッドと、
前記各センサヘッドの検出信号に基づく測定値を表示する表示部を備えた複数の制御ユニットと、
前記各制御ユニットに設けられ、多数の初期設定項目で初期設定値を設定可能とした操作キーと、
前記各制御ユニットに設けられ、前記操作キーの操作に基づいて、前記制御ユニットの親機から子機に前記初期設定値をコピーするコピー機能を備えたコントローラとを備えた光学式検出装置において、
前記コントローラ及び操作キーには、
前記各初期設定項目の初期設定値を設定操作する都度に、当該初期設定項目の初期設定値をコピーするか否かを選択する選択手段と、
前記操作キーの操作に基づいて、前記選択手段によってコピーすると選択された前記初期設定項目の初期設定値のコピーを実行する実行手段とを備えたことを特徴とする光学式検出装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015204079A JP6630532B2 (ja) | 2015-10-15 | 2015-10-15 | 変位検出装置及び光学式検出装置 |
KR1020187010449A KR20180053362A (ko) | 2015-10-15 | 2016-07-26 | 변위 검출 장치 및 광학식 검출 장치 |
CN201680060623.5A CN108139191B (zh) | 2015-10-15 | 2016-07-26 | 位移检测装置和光学检测装置 |
DE112016004689.8T DE112016004689T5 (de) | 2015-10-15 | 2016-07-26 | Dislokationsdetektionsvorrichtung und optische Detektionsvorrichtung |
PCT/JP2016/071927 WO2017064899A1 (ja) | 2015-10-15 | 2016-07-26 | 変位検出装置及び光学式検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015204079A JP6630532B2 (ja) | 2015-10-15 | 2015-10-15 | 変位検出装置及び光学式検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017075879A JP2017075879A (ja) | 2017-04-20 |
JP6630532B2 true JP6630532B2 (ja) | 2020-01-15 |
Family
ID=58517449
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015204079A Active JP6630532B2 (ja) | 2015-10-15 | 2015-10-15 | 変位検出装置及び光学式検出装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6630532B2 (ja) |
KR (1) | KR20180053362A (ja) |
CN (1) | CN108139191B (ja) |
DE (1) | DE112016004689T5 (ja) |
WO (1) | WO2017064899A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN118009965B (zh) * | 2024-04-07 | 2024-05-31 | 山东东鑫建筑设备有限公司 | 一种板材的平整度检测装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5396235A (en) * | 1990-09-05 | 1995-03-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Numeral setting apparatus |
JP2006352559A (ja) * | 2005-06-16 | 2006-12-28 | Keyence Corp | 光電スイッチ |
JP4678276B2 (ja) * | 2005-10-25 | 2011-04-27 | 富士ゼロックス株式会社 | プリンタドライバの設定情報同期システム |
JP5060671B2 (ja) | 2006-03-07 | 2012-10-31 | 株式会社キーエンス | 変位検出装置 |
JP5177830B2 (ja) * | 2006-03-22 | 2013-04-10 | 株式会社キーエンス | 接触式変位検出装置及び接触式変位検出装置における許容範囲指定方法 |
US20080055252A1 (en) * | 2006-09-04 | 2008-03-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Operation panel apparatus and electric apparatus provided with the same |
JP6344029B2 (ja) | 2014-04-16 | 2018-06-20 | 富士通株式会社 | 表示方法、表示プログラム、及び表示装置 |
CN105760456B (zh) * | 2016-02-04 | 2019-11-29 | 网易(杭州)网络有限公司 | 一种保持数据一致性的方法和装置 |
-
2015
- 2015-10-15 JP JP2015204079A patent/JP6630532B2/ja active Active
-
2016
- 2016-07-26 CN CN201680060623.5A patent/CN108139191B/zh active Active
- 2016-07-26 KR KR1020187010449A patent/KR20180053362A/ko not_active Application Discontinuation
- 2016-07-26 DE DE112016004689.8T patent/DE112016004689T5/de active Pending
- 2016-07-26 WO PCT/JP2016/071927 patent/WO2017064899A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20180053362A (ko) | 2018-05-21 |
WO2017064899A1 (ja) | 2017-04-20 |
JP2017075879A (ja) | 2017-04-20 |
CN108139191B (zh) | 2020-06-30 |
DE112016004689T5 (de) | 2018-06-28 |
CN108139191A (zh) | 2018-06-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180927 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190806 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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