JP2007249135A - Electrooptic device, driving circuit therefor and electronic apparatus - Google Patents

Electrooptic device, driving circuit therefor and electronic apparatus Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress deterioration of display quality when adopting a phase development driving system. <P>SOLUTION: A period H for selecting a scanning line of one line is divided into a first half period Sub 1 and a second half period Sub 2, data lines of odd-numbered columns are selected by every three columns over the first half period Sub1 and data lines of even-numbered columns by every three columns over the second half period Sub2. Then, the data signals supplied to three image signal lines 162 are sampled to the selected data lines of three columns. At this point, in a data line selection circuit 150 for determining data lines 114 to be sampled, NAND circuits 1512 of odd-numbered columns are made effective by supply of one of enable signals Enb1-Enb4 in the first half period Sub1 and NAND circuit 1522 of even-numbered columns are made effective by supply of one of enable signals Enb5-Enb8 in the second half period Sub2. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、いわゆる相展開したデータ信号をサンプリングしたときに生じる表示品位の低下を目立たなくする技術に関する。   The present invention relates to a technique for making a deterioration in display quality caused when sampling a so-called phase expanded data signal inconspicuous.

近年では、液晶などの表示パネルを用いて小型縮小画像を形成するとともに、この小型縮小画像を光学系によって拡大投射するプロジェクタが普及しつつある。プロジェクタは、それ自体で画像を作成する機能はなく、パソコンやテレビチューナなどの上位装置から画像データ(または画像信号)の供給を受ける。この画像データは、画素の階調(明るさ)を指定するものであって、マトリクス状に配列する画素を垂直および水平走査した形式で供給されるので、プロジェクタに用いられる表示パネルについても、この形式に準じて駆動するのが適切である。このため、プロジェクタに用いられる表示パネルでは、走査線を1行ずつ所定の順番に選択するとともに、1行の走査線が選択される期間において1列ずつデータ線を順番に選択して、選択したデータ線に対して、画像データを液晶の駆動に適するように変換したデータ信号を供給する、という点順次方式で駆動するのが一般的であった。   In recent years, projectors that form a small reduced image by using a display panel such as a liquid crystal and enlarge and project the small reduced image by an optical system are becoming widespread. The projector does not have a function of creating an image by itself, and is supplied with image data (or an image signal) from a host device such as a personal computer or a TV tuner. This image data specifies the gradation (brightness) of the pixels, and is supplied in the form of vertical and horizontal scanning of the pixels arranged in a matrix, so that the display panel used in the projector is also this It is appropriate to drive according to the format. For this reason, in the display panel used for the projector, the scanning lines are selected by selecting the scanning lines one by one in a predetermined order and selecting the data lines by one column at a time during the period in which the scanning lines of one row are selected. In general, the data lines are driven in a dot sequential manner in which a data signal obtained by converting image data so as to be suitable for driving a liquid crystal is supplied.

一方、最近では、ハイビジョンなどのように表示画像の高精細化が進行している。表示画像の高精細化は、走査線の行数およびデータ線の列数を増加させて、走査線とデータ線との交差に対応させた画素を多数化することによって達成することができるが、フレーム周波数は固定であるので、走査線行数の増加によって1水平走査期間が短縮し、さらに、点順次方式では、データ線列数の増加によって、データ線の選択期間も短縮する。このため、点順次方式では、高精細化が進行するにつれてデータ線にデータ信号を供給する時間を充分に確保できなくなって、画素への書き込みが不十分となり始めた。
そこで、書き込み不足を解消する目的で、相展開駆動という方式が考え出された(特許文献1参照)。この相展開駆動は、データ線を予め定められた列毎に、例えば3列毎(特許文献1では6列毎)にまとめ、1水平走査期間にわたって連続する3列ずつ順番で選択するとともに、選択した3列のデータ線に、時間軸方向に対し3倍に伸長したデータ信号をそれぞれに供給する、という方式である。この相展開駆動方式では、データ線にデータ信号を供給する時間を、点順次方式と比較して、この例では3倍確保することができるので、高精細化に適している、と考えられた。
特開2000−112437号公報
On the other hand, recently, high definition of a display image is progressing like high vision. High definition of the display image can be achieved by increasing the number of rows of scanning lines and the number of columns of data lines to increase the number of pixels corresponding to the intersection of the scanning lines and the data lines. Since the frame frequency is fixed, one horizontal scanning period is shortened by increasing the number of scanning line rows. Furthermore, in the dot sequential method, the data line selection period is also shortened by increasing the number of data line columns. For this reason, in the dot sequential method, it becomes impossible to secure a sufficient time for supplying the data signal to the data line as the definition becomes higher, and writing to the pixels has started to be insufficient.
Therefore, a method called phase expansion drive has been devised for the purpose of eliminating the shortage of writing (see Patent Document 1). In this phase expansion drive, the data lines are grouped into predetermined columns, for example, every three columns (in Patent Document 1, every six columns), and the data lines are sequentially selected and selected every three columns over one horizontal scanning period. In this method, data signals expanded three times in the time axis direction are supplied to the three data lines. In this phase development driving method, the time for supplying the data signal to the data line can be secured three times in this example as compared with the dot sequential method, so it was considered suitable for high definition. .
JP 2000-112437 A

ところで、このような相展開駆動方式では、同時に選択する3列毎の周期で画素の階調が微妙に異なってしまう、という縦スジ状のムラが発生して、表示品位の低下が目立つようになった。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、相展開駆動方式を採用する場合において、表示品位の低下を目立たなくした電気光学装置、その駆動回路および電子機器を提供することにある。
By the way, in such a phase development drive method, vertical streak-like unevenness occurs in which the gradation of the pixels is slightly different in the period of every three columns selected at the same time, and the deterioration of the display quality is conspicuous. became.
The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and an object of the present invention is to provide an electro-optical device, a driving circuit thereof, and an electronic apparatus in which deterioration in display quality is not noticeable when a phase expansion driving method is employed. Is to provide.

上記目的を達成するために本発明にあっては、複数行の走査線と2m(mは2以上の整数)列毎にブロック化されたデータ線との交差に対応して設けられ、各々は、前記走査線が選択されたときの、前記データ線にサンプリングされたデータ信号に応じた階調となる複数の画素を有する電気光学装置の駆動回路であって、前記複数行の走査線を所定の順番
で選択する走査線駆動回路と、前記走査線駆動回路によって1行の走査線が選択される期間を分割した第1および第2期間にわたって、それぞれ所定のパルス信号を前記ブロックに対応して順次出力するシフトレジスタと、前記シフトレジスタによって出力されたパルス信号にしたがって前記ブロックを順番に指定するとともに、前記第1または第2期間の一方では、指定されたブロックに属する2m列のデータ線のうち、奇数列のデータ線をm列選択し、前記第1または第2期間の他方では、指定されたブロックに属する2m列のデータ線のうち、偶数列のデータ線をm列選択するデータ線選択回路と、m本の画像信号線に供給されたデータ信号を、前記データ線選択回路によって選択されたm列のデータ線にそれぞれサンプリングするサンプリング回路と、を具備し、前記データ線選択回路は、各ブロックに対応して奇数列用および偶数列用の論理回路を備え、前記奇数列用の論理回路は、前記第1または第2期間の一方である場合に出力される第1イネーブル信号と、前記シフトレジスタによるパルス信号との論理演算により、前記第1または第2期間の一方において奇数列のデータ線をm列選択する信号を出力し、前記偶数列用の論理回路は、前記第1または第2期間の他方である場合に出力される第2イネーブル信号と、前記シフトレジスタによるパルス信号との論理演算により、前記第1または第2期間の他方において偶数列のデータ線をm列選択する信号を出力することを特徴とする。本発明によれば、データ信号が同時にサンプリングされるm列のデータ線が奇数列、偶数列に分散するので、表示品位の低下を目立たなくすることが可能となる。
In order to achieve the above object, the present invention is provided corresponding to the intersection of a plurality of scanning lines and a data line that is blocked every 2m (m is an integer of 2 or more) columns, A driving circuit of an electro-optical device having a plurality of pixels having gradations according to a data signal sampled on the data line when the scanning line is selected, the scanning lines of the plurality of rows being set in advance; A predetermined pulse signal corresponding to the block over the first and second periods obtained by dividing the scanning line driving circuit selected in the above order and the period during which one scanning line is selected by the scanning line driving circuit. A shift register that outputs sequentially, and the blocks are specified in order according to the pulse signal output by the shift register, and the specified block is one of the first or second periods Of the 2m columns of data lines, m columns of odd-numbered data lines are selected. On the other side of the first or second period, the data lines of even columns among the 2m columns of data lines belonging to the specified block are selected. A data line selection circuit for selecting m columns, and a sampling circuit for sampling the data signals supplied to the m image signal lines on the m data lines selected by the data line selection circuit, respectively. The data line selection circuit includes logic circuits for odd-numbered columns and even-numbered columns corresponding to each block, and the logic circuit for odd-numbered columns is output when it is one of the first or second periods. A signal for selecting m columns of odd-numbered data lines in one of the first or second period by a logical operation of the first enable signal and the pulse signal generated by the shift register; The logic circuit for the number sequence includes the other of the first or second period by a logical operation of the second enable signal output in the case of the other of the first or second period and the pulse signal by the shift register. A signal for selecting m columns of even-numbered data lines is output. According to the present invention, m columns of data lines from which data signals are simultaneously sampled are distributed in odd columns and even columns, so that the deterioration in display quality can be made inconspicuous.

本発明において、前記シフトレジスタは、入力したパルスをクロック信号で順次シフトした各パルス信号を、互いに隣接するブロックの2以上に対応させて出力し、前記第1イネーブル信号は、前記シフトレジスタによるパルス信号に対応する2以上のブロックにおいて奇数列用の論理回路同士が互いに排他的な信号を出力させるための複数の異なる信号であり、前記第2イネーブル信号は、前記シフトレジスタによるパルス信号に対応する2以上のブロックにおいて偶数列用の論理回路同士が互いに排他的な信号を出力させるための複数の異なる信号であるとしても良い。
また、本発明において、前記シフトレジスタは、入力したパルスをクロック信号で順次シフトした各パルスを、隣接するもの同士でパルス幅が互いに重複させながら出力し、前記第1イネーブル信号は、パルス幅が互いに重複するパルス信号に対応する2以上のブロックにおいて奇数列用の論理回路同士が互いに排他的な信号を出力させるための複数の異なる信号であり、前記第2イネーブル信号は、パルス幅が互いに重複するパルス信号に対応する2以上のブロックにおいて偶数列用の論理回路同士が互いに排他的な信号を出力させるための複数の異なる信号であるとしても良い。
一方、本発明において、前記複数行の走査線を、当該走査線の配列方向に沿って少なくとも第1群および第2群に分ける一方、垂直走査期間を少なくとも第1および第2フィールドに分けて、前記走査駆動回路は、前記第1および第2フィールドのそれぞれにおいて、前記第1および第2群に属する走査線を交互に、かつ、所定の方向に向かって順番に選択する構成としても良い。
なお、本発明は、電気光学装置としても、さらには、電気光学装置を有する電子機器としても概念することが可能である。電気光学装置であれば、前記第1および第2イネーブル信号を出力する回路を含む構成とすれば良い。
In the present invention, the shift register outputs each pulse signal obtained by sequentially shifting an input pulse with a clock signal in correspondence with two or more blocks adjacent to each other, and the first enable signal is a pulse generated by the shift register. In the two or more blocks corresponding to the signal, the logic circuits for odd-numbered columns are a plurality of different signals for outputting mutually exclusive signals, and the second enable signal corresponds to a pulse signal from the shift register The logic circuits for even columns in two or more blocks may be a plurality of different signals for outputting mutually exclusive signals.
Also, in the present invention, the shift register outputs each pulse obtained by sequentially shifting the input pulse with a clock signal while overlapping the pulse widths of adjacent ones, and the first enable signal has a pulse width. In the two or more blocks corresponding to overlapping pulse signals, the odd-numbered logic circuits are a plurality of different signals for outputting mutually exclusive signals, and the second enable signal has a pulse width overlapping with each other. The logic circuits for even columns in a plurality of blocks corresponding to the pulse signal to be output may be a plurality of different signals for outputting mutually exclusive signals.
On the other hand, in the present invention, the plurality of rows of scanning lines are divided into at least a first group and a second group along the arrangement direction of the scanning lines, while a vertical scanning period is divided into at least first and second fields, The scanning drive circuit may be configured to select the scanning lines belonging to the first and second groups alternately and sequentially in a predetermined direction in each of the first and second fields.
The present invention can be conceptualized as an electro-optical device and further as an electronic apparatus having the electro-optical device. An electro-optical device may be configured to include a circuit that outputs the first and second enable signals.

以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る電気光学装置の全体構成を示すブロック図である。この図に示されるように、電気光学装置1は、表示パネル10と処理回路20とに大別される。このうち、処理回路20は、表示パネル10の動作等を制御する回路モジュールであり、表示パネル10とは、例えばFPC(Flexible Printed Circuit)基板によって接続される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
FIG. 1 is a block diagram illustrating an overall configuration of an electro-optical device according to an embodiment of the invention. As shown in this figure, the electro-optical device 1 is roughly divided into a display panel 10 and a processing circuit 20. Among these, the processing circuit 20 is a circuit module that controls the operation and the like of the display panel 10, and is connected to the display panel 10 by, for example, an FPC (Flexible Printed Circuit) substrate.

処理回路20は、さらに、走査制御回路52、ラインメモリ310、S/P変換回路320、D/A変換回路群330および極性反転回路340に分けられる。
このうち、ラインメモリ310は、上位装置(図示省略)から供給される画像データVinの1行分を格納した後、走査制御回路52による指示にしたがって読み出し、画像データVoutとして出力するものである。ここで、画像データVin(Vout)は、画素の階調(明るさ)を指定するディジタルデータである。
S/P変換回路320は、ラインメモリ310から読み出された画像データVoutを、
走査制御回路52による指示にしたがって、時間軸方向に対し3倍に伸長(相展開、シリアル−パラレル変換ともいう)するとともに、同指示にしたがってチャネルch1〜ch3に分配して画像データVd1〜Vd3として出力するものである。
なお、本実施形態においてS/P変換回路320は、プリチャージ制御信号NrgがHレベルとなってプリチャージが指定された場合、ラインメモリ310からの読み出しとは無関係に、例えば黒色に相当する画像データVd1〜Vd3を出力する。
The processing circuit 20 is further divided into a scanning control circuit 52, a line memory 310, an S / P conversion circuit 320, a D / A conversion circuit group 330, and a polarity inversion circuit 340.
Among these, the line memory 310 stores one line of the image data Vin supplied from a host device (not shown), and then reads it according to an instruction from the scanning control circuit 52 and outputs it as image data Vout. Here, the image data Vin (Vout) is digital data for designating the gradation (brightness) of the pixel.
The S / P conversion circuit 320 converts the image data Vout read from the line memory 310 into
In accordance with an instruction from the scanning control circuit 52, the data is expanded three times in the time axis direction (also referred to as phase expansion or serial-parallel conversion), and distributed to channels ch1 to ch3 according to the instruction as image data Vd1 to Vd3. Output.
In the present embodiment, when the precharge control signal Nrg is H level and precharge is designated, the S / P conversion circuit 320 has an image corresponding to, for example, black regardless of reading from the line memory 310. Data Vd1 to Vd3 are output.

D/A変換回路群330は、チャネル毎に設けられたD/A変換器の集合体であって、画像データVd1〜Vd3を、階調値に応じたアナログ電圧に変換するものである。なお、本実施形態では、画像データVinを相展開した後にアナログ変換する構成とするが、相展開前にアナログ変換しても良いのはもちろんである。   The D / A conversion circuit group 330 is an aggregate of D / A converters provided for each channel, and converts the image data Vd1 to Vd3 into analog voltages corresponding to the gradation values. In the present embodiment, the image data Vin is subjected to analog conversion after phase expansion, but it is needless to say that analog conversion may be performed before phase expansion.

極性反転回路340は、D/A変換された3チャネルのアナログ信号を、極性指示信号Polによって正極性が指示されていれば、当該アナログ信号の電圧を、電圧Vcを基準と
して高位側電圧に変換する一方、負極性が指示されていれば、電圧Vcを基準として低位
側電圧に変換して、それぞれデータ信号Vid1〜Vid3として出力するものである。
なお、データ信号Vid1〜Vid3は、表示パネル10における画像信号線に供給される。また、電圧Vcは、データ信号の振幅中心電位であり、画素への書込極性の基準であって
、電源電圧(Vdd−Gnd)のほぼ中間電圧である(後述する図7および図8参照)。換言すれば、本実施形態では、データ信号について限っていえば電圧Vcよりも高位側を正極
性とし、低位側を負極性としている。一方、電圧については、特に説明のない限り、電源の接地電位Gndを基準とする。
The polarity inversion circuit 340 converts the D / A converted three-channel analog signal into a high-order voltage based on the voltage Vc if the positive polarity is instructed by the polarity instruction signal Pol. On the other hand, if the negative polarity is instructed, the voltage Vc is converted into a lower voltage with reference to the voltage Vc and output as data signals Vid1 to Vid3, respectively.
The data signals Vid1 to Vid3 are supplied to the image signal lines in the display panel 10. Further, the voltage Vc is the amplitude center potential of the data signal, is a reference for the writing polarity to the pixel, and is substantially an intermediate voltage of the power supply voltage (Vdd-Gnd) (see FIGS. 7 and 8 to be described later). . In other words, in the present embodiment, if the data signal is limited, the higher side than the voltage Vc is positive and the lower side is negative. On the other hand, the voltage is based on the ground potential Gnd of the power supply unless otherwise specified.

極性反転回路340によりデータ信号の極性を反転する理由は、画素を交流駆動するためである。ここで、フレームの期間(垂直走査期間)において画素をどのように反転させるかについては、(a)走査線毎、(b)データ線毎、(c)画素毎、(d)面(フレーム)毎など様々な態様があるが、本実施形態にあっては(d)フレーム毎の極性反転であるとする。ただし、本発明をこれに限定する趣旨ではない。   The reason why the polarity of the data signal is inverted by the polarity inversion circuit 340 is to drive the pixel AC. Here, as to how the pixels are inverted during the frame period (vertical scanning period), (a) every scanning line, (b) every data line, (c) every pixel, (d) surface (frame) Although there are various modes such as every frame, in the present embodiment, it is assumed that (d) polarity reversal for each frame. However, the present invention is not limited to this.

走査制御回路52は、表示パネル10の走査を制御する第1の機能と、ラインメモリ310に記憶された1行分の画像データの読み出しを上記走査に合わせて制御する第2の機能と、上述したS/P変換回路320に対し、表示パネル10の水平走査に同期するように相展開を制御する第3の機能と、を主に有する。
ここで、第1の機能について詳述すると、走査制御回路52は、画像データVinの供給に同期させて転送開始パルスDXおよびクロック信号CLXを生成し、これにより表示パネル10の水平走査を制御するとともに、転送開始パルスDYおよびクロック信号CLYを生成し、これにより表示パネル10の垂直走査を制御する。一方、走査制御回路52は、水平走査期間の開始時においてデータ線をプリチャージするためのプリチャージ制御信号Nrgを水平走査に同期して出力する。
なお、上述したように、本実施形態では、フレーム毎の極性反転としているので、走査制御回路52は、極性指示信号Polによって指示する書込極性を1フレームの期間毎に反転させる。
次に、第2の機能について説明すると、走査制御回路52は、1行の走査線を選択する
水平走査期間を後述するように前半期間(第1期間)と後半期間(第2期間)とに分けるので、当該水平走査期間において選択する走査線に対応する行のうち、前半期間では奇数列の画素に対応する画像データをラインメモリ310から順番に読み出す一方、後半期間では偶数列の画素に対応する画像データを同じくラインメモリ310から順番に読み出す構成となっている。
続いて、第3の機能について説明すると、走査制御回路52は、S/P変換回路320による相展開を制御するとともに、この相展開に同期するように4系統のイネーブル信号Enb1〜Enb8を出力する。詳細には、走査制御回路52は、水平走査期間のうち、前半期間においてイネーブル信号Enb1〜Enb4(第1イネーブル信号)のパルスを出力し、後半期間においてイネーブル信号Enb5〜Enb8(第2イネーブル信号)のパルスを出力する。
The scanning control circuit 52 has a first function for controlling scanning of the display panel 10, a second function for controlling reading of image data for one row stored in the line memory 310 in accordance with the scanning, and the above-described scanning function. The S / P conversion circuit 320 mainly has a third function for controlling the phase expansion so as to be synchronized with the horizontal scanning of the display panel 10.
Here, the first function will be described in detail. The scanning control circuit 52 generates the transfer start pulse DX and the clock signal CLX in synchronization with the supply of the image data Vin, thereby controlling the horizontal scanning of the display panel 10. At the same time, a transfer start pulse DY and a clock signal CLY are generated, and thereby vertical scanning of the display panel 10 is controlled. On the other hand, the scanning control circuit 52 outputs a precharge control signal Nrg for precharging the data line at the start of the horizontal scanning period in synchronization with the horizontal scanning.
Note that, as described above, in this embodiment, since polarity inversion is performed for each frame, the scanning control circuit 52 inverts the writing polarity instructed by the polarity instruction signal Pol for each frame period.
Next, the second function will be described. The scanning control circuit 52 performs a horizontal scanning period for selecting one scanning line in a first half period (first period) and a second half period (second period) as will be described later. Therefore, among the rows corresponding to the scanning lines selected in the horizontal scanning period, the image data corresponding to the odd-numbered columns of pixels is sequentially read out from the line memory 310 in the first half period, while the pixels corresponding to the even-numbered columns are corresponded in the second half period. Similarly, the image data to be read is sequentially read from the line memory 310.
Subsequently, the third function will be described. The scanning control circuit 52 controls the phase expansion by the S / P conversion circuit 320 and outputs four systems of enable signals Enb1 to Enb8 so as to be synchronized with the phase expansion. . Specifically, the scanning control circuit 52 outputs the pulses of the enable signals Enb1 to Enb4 (first enable signal) in the first half period of the horizontal scanning period, and the enable signals Enb5 to Enb8 (second enable signal) in the second half period. The pulse is output.

一方、表示パネル10は、素子基板と共通電極が形成された対向基板とを一定の間隙をもってシール材によって貼り合わせるとともに、この間隙に例えばTN型の液晶を封止した構成となっており、当該液晶の電気光学変化によって所定の画像を形成するものである。   On the other hand, the display panel 10 has a configuration in which an element substrate and a counter substrate on which a common electrode is formed are bonded together with a sealing material with a certain gap, and for example, a TN liquid crystal is sealed in the gap. A predetermined image is formed by the electro-optic change of the liquid crystal.

図2は、表示パネル10の詳細な構成を示すブロック図である。
この図に示されるように、表示パネル10の表示領域100においては、864行の走査線112が図においてX(水平)方向に延在する一方、1152列のデータ線114が図においてY(垂直)方向に延在している。そして、これらの走査線112とデータ線114との交差部に対応するように画素110がそれぞれ設けられている。したがって、本実施形態において、画素110は、表示領域100において縦864行×横1152列のマトリクス状に配列することになる。
なお、本実施形態において、1152列のデータ線114は、図において左から順番に6列毎にブロック化されている。そこで説明の便宜上、1、2、3、…、192番目のブロックを、それぞれB1、B2、B3、…、B192と表記している。
FIG. 2 is a block diagram showing a detailed configuration of the display panel 10.
As shown in this figure, in the display area 100 of the display panel 10, 864 rows of scanning lines 112 extend in the X (horizontal) direction in the figure, while 1152 columns of data lines 114 are Y (vertical) in the figure. ) Extends in the direction. The pixels 110 are provided so as to correspond to the intersections between the scanning lines 112 and the data lines 114. Therefore, in this embodiment, the pixels 110 are arranged in a matrix of 864 rows × 1152 columns in the display region 100.
In this embodiment, 1152 columns of data lines 114 are divided into blocks every 6 columns in order from the left in the figure. Therefore, for convenience of explanation, the first, second, third,..., 192nd blocks are denoted as B1, B2, B3,.

図3は、表示パネル10における画素110の詳細な構成を示す図であり、p行およびこれに隣接する(p+1)行と、q列およびこれに隣接する(q+1)列との交差に対応する2×2の計4画素分の構成を示している。ここで、p、(p+1)とは、画素110が配列する行を一般的に示す場合の記号であって、1以上864以下の整数であり、q、(q+1)とは、画素110が配列する列を一般的に示す場合の記号であって、1以上1152以下の整数である。   FIG. 3 is a diagram showing a detailed configuration of the pixel 110 in the display panel 10 and corresponds to the intersection of the p row and the (p + 1) row adjacent thereto, the q column and the (q + 1) column adjacent thereto. A 2 × 2 configuration for a total of four pixels is shown. Here, p and (p + 1) are symbols for generally indicating the row in which the pixels 110 are arranged, and are integers of 1 to 864, and q and (q + 1) are the pixels 110 being arranged. This is a symbol for generally indicating a column to be performed, and is an integer of 1 to 1152.

図3に示されるように、画素110においては、nチャネル型のTFT(薄膜トランジスタ)116のソースがデータ線114に接続されるとともに、そのドレインが画素電極118に接続される一方、ゲートが走査線112に接続されている。
一方、素子基板に形成された画素電極118に対向するように、共通電極108が全画素に対して共通に設けられる。そして、これらの画素電極118と共通電極108との間に液晶105が挟持されている。このため、画素毎に、画素電極118、共通電極108および液晶105からなる液晶容量120が構成されることになる。
共通電極108には、時間的に一定の電圧LCcomが印加されるが、この電圧(電位)
は、本実施形態では、基準電圧Vcと同一である。ただし、後述する理由により、基準電
圧Vcよりも若干低位側に設定される場合がある。
液晶容量120は、保持された電圧実効値に応じて単位時間当たりにおける透過光量が変化する構成となっている。詳細には、液晶容量120は、保持電圧の実効値が小さくなるにつれて、透過光量が多くなるノーマリーホワイトモードとなるように設定されている。
As shown in FIG. 3, in the pixel 110, the source of an n-channel TFT (thin film transistor) 116 is connected to the data line 114, and the drain thereof is connected to the pixel electrode 118, while the gate is the scanning line. 112.
On the other hand, the common electrode 108 is provided in common to all the pixels so as to face the pixel electrode 118 formed on the element substrate. A liquid crystal 105 is sandwiched between the pixel electrode 118 and the common electrode 108. For this reason, a liquid crystal capacitor 120 including the pixel electrode 118, the common electrode 108, and the liquid crystal 105 is formed for each pixel.
A constant voltage LCcom is applied to the common electrode 108 over time, and this voltage (potential)
Is the same as the reference voltage Vc in this embodiment. However, it may be set slightly lower than the reference voltage Vc for reasons described later.
The liquid crystal capacitor 120 is configured such that the amount of transmitted light per unit time changes according to the held voltage effective value. Specifically, the liquid crystal capacitor 120 is set to be in a normally white mode in which the amount of transmitted light increases as the effective value of the holding voltage decreases.

なお、画素毎に、蓄積容量109が設けられている。この蓄積容量109は、液晶容量
120と電気的に並列となるように、TFT116のドレイン(画素電極118)と、一定の電位、例えば共通電極108の印加電圧LCcomと同一電圧に保たれた容量線107
との間に電気的に介挿されている。この例では、容量線107は、電圧LCcomに保たれ
ているが、一定電位に保たれれば良いので、例えば接地電位Gndに保たれても良い。
A storage capacitor 109 is provided for each pixel. The storage capacitor 109 is electrically connected in parallel with the liquid crystal capacitor 120, and the capacitor line maintained at the same voltage as the drain (pixel electrode 118) of the TFT 116 and a constant potential, for example, the applied voltage LCcom of the common electrode 108. 107
Between the two. In this example, the capacitor line 107 is kept at the voltage LCcom, but may be kept at the ground potential Gnd, for example, as long as it is kept at a constant potential.

説明を図2に戻すと、画素110が配列する表示領域100の周辺には、走査線駆動回路130や、シフトレジスタ140、データ線選択回路150、サンプリング回路160などの周辺回路が設けられている。
このうち、走査線駆動回路130は、走査信号G1、G2、G3、…、G864を、それぞれ1、2、3、…、864行目の走査線112に供給するものである。走査線駆動回路130の詳細については、本発明と直接関連しないので省略するが、本実施形態では図5に示されるように、各フレームの期間の最初に供給されるとともにクロック信号CLYの1周期に相当するパルス幅(Hレベル)の転送開始パルスDYを、当該クロック信号CLYのレベルが遷移するタイミングで取り込むとともに、その後ろ半分をクロック信号CLYの半周期の幅に狭めて、これを走査信号G1とするとともに、この走査信号G1を、クロック信号CLYの半周期ずつ順次遅延させて、走査信号G2、G3、…、G864として出力する構成となっている。ここで、走査信号G1、G2、G3、…、G864がそれぞれHレベルとなる期間(クロック信号CLYの半周期に相当する期間)が水平走査期間Hであり、Hレベルの走査信号が供給される走査線が選択された状態にあることを示している。
Returning to FIG. 2, peripheral circuits such as a scanning line driving circuit 130, a shift register 140, a data line selection circuit 150, and a sampling circuit 160 are provided around the display region 100 in which the pixels 110 are arranged. .
Among these, the scanning line driving circuit 130 supplies the scanning signals G1, G2, G3,..., G864 to the scanning lines 112 in the 1, 2, 3,. The details of the scanning line driving circuit 130 are omitted because they are not directly related to the present invention, but in this embodiment, as shown in FIG. 5, one cycle of the clock signal CLY is supplied at the beginning of each frame period. The transfer start pulse DY having a pulse width (H level) corresponding to the clock signal CLY is captured at the timing when the level of the clock signal CLY transitions, and the rear half thereof is narrowed to the width of the half cycle of the clock signal CLY, and this is scanned. In addition to G1, the scanning signal G1 is sequentially delayed by half a cycle of the clock signal CLY and output as scanning signals G2, G3,..., G864. Here, a period during which the scanning signals G1, G2, G3,..., G864 are at the H level (a period corresponding to a half cycle of the clock signal CLY) is the horizontal scanning period H, and an H level scanning signal is supplied. It shows that the scanning line is in a selected state.

次に、シフトレジスタ140は、本実施形態においてブロック総数である「192」の半分の「96」段であり、図6に示されるように、水平走査期間Hのうち、前半期間Sub1および後半期間Sub2のそれぞれ最初に供給される転送開始パルスDXを、1段目が当該クロック信号CLXのレベルが遷移するタイミングで取り込んで、これをシフト信号S1とするとともに、このシフト信号S1を、2、3、…、96段目がクロック信号CLXの半周期ずつ順次遅延させて、シフト信号S2、S3、…、S96として出力する構成となっている。
ここで、転送開始パルスDXは、クロック信号CLXの1周期に相当するパルス幅を有するので、シフト信号S1、S2、S3、…、S96のパルス幅は、隣接するもの同士で互いにクロック信号CLXの半周期ずつ重複することになる。
Next, the shift register 140 has “96” stages, which is half of the total number of blocks “192” in the present embodiment, and, as shown in FIG. 6, in the horizontal scanning period H, the first half period Sub1 and the second half period. The transfer start pulse DX supplied first in Sub2 is taken in at the timing when the level of the clock signal CLX transitions in the first stage, and this is used as the shift signal S1, and the shift signal S1 is set to 2, 3 ,..., The 96th stage is sequentially delayed by half a cycle of the clock signal CLX and output as shift signals S2, S3,.
Here, since the transfer start pulse DX has a pulse width corresponding to one cycle of the clock signal CLX, the pulse widths of the shift signals S1, S2, S3,. It will overlap every half cycle.

続いて、図2におけるデータ線選択回路150およびサンプリング回路160の詳細構成について図4を参照して説明する。
まず、データ線選択回路150について説明する。図4に示されるように、シフト信号S1、S2、S3、…、S96の供給経路は、4分割されている。詳細には、シフトレジスタ140の第1段から出力されるシフト信号S1は、ブロックB1、B2においてそれぞれ奇数列、偶数列に対応するように4分割される。一般的にいえば、シフトレジスタ140における第j段(jは、1以上96以下の整数)から出力されるシフト信号Sjは、ブロックB(2j−1)における奇数列、偶数列と、ブロックB(2j)における奇数列、偶数列とに対応して4分割される。
Next, detailed configurations of the data line selection circuit 150 and the sampling circuit 160 in FIG. 2 will be described with reference to FIG.
First, the data line selection circuit 150 will be described. As shown in FIG. 4, the supply path of the shift signals S1, S2, S3,..., S96 is divided into four. Specifically, the shift signal S1 output from the first stage of the shift register 140 is divided into four so as to correspond to the odd and even columns in the blocks B1 and B2, respectively. Generally speaking, the shift signal Sj output from the j-th stage (j is an integer of 1 to 96) in the shift register 140 is an odd column, an even column, and a block B in the block B (2j−1). Dividing into four corresponding to the odd and even columns in (2j).

各ブロックでは、奇数列に対応してNAND回路1512、1514およびNOT回路1516、1518の一群回路が設けられる一方、偶数列に対応して、NAND回路1522、1524およびNOT回路1526、1528の一群回路が設けられる。
このうち、NAND回路1512、1522は、それぞれ2入力型であり、一方の入力端に供給されたシフト信号と、他方の入力端に供給されたイネーブル信号Enb1〜Enb8のいずれかとの否定論理積信号を出力する。
NAND回路1514(1524)は、2入力型であり、NAND回路1512(1522)による否定論理積信号と、プリチャージ制御信号NrgをNOT回路1520で論理
反転した信号との否定論理積信号を出力する。NOT回路1516(1526)は、NAND回路1514(1524)による否定論理積信号を論理反転し、NOT回路1518(1528)は、NOT回路1516(1526)による論理反転信号を再反転する。
In each block, a group circuit of NAND circuits 1512 and 1514 and NOT circuits 1516 and 1518 is provided corresponding to the odd columns, while a group circuit of NAND circuits 1522 and 1524 and NOT circuits 1526 and 1528 corresponding to the even columns. Is provided.
Among these, the NAND circuits 1512 and 1522 are each a two-input type, and a NAND signal of the shift signal supplied to one input terminal and the enable signals Enb1 to Enb8 supplied to the other input terminal. Is output.
The NAND circuit 1514 (1524) is a two-input type, and outputs a negative logical product signal of a negative logical product signal from the NAND circuit 1512 (1522) and a signal obtained by logically inverting the precharge control signal Nrg by the NOT circuit 1520. . The NOT circuit 1516 (1526) logically inverts the NAND signal of the NAND circuit 1514 (1524), and the NOT circuit 1518 (1528) reinverts the logic inversion signal of the NOT circuit 1516 (1526).

ここで、各ブロックの奇数列に対応するNAND回路1512と、偶数列に対応するNAND回路1522とにおいて、他方の入力端には、次のようなイネーブル信号が供給される。すなわち、上述したようにシフトレジスタ140における第j段から出力されるシフト信号Sjは、ブロックB(2j−1)における奇数列、偶数列と、ブロックB(2j)における奇数列、偶数列とに対応して4分割して供給されるが、jが奇数(1、3、5、…、95)である場合に、ブロックB(2j−1)の奇数列に対応するNAND回路1512の他方の入力端には、イネーブル信号Enb1が供給され、同ブロックの偶数列に対
応するNAND回路1522の他方の入力端には、イネーブル信号Enb5が供給され、ま
た、ブロックB(2j)の奇数列に対応するNAND回路1512の他方の入力端には、イネーブル信号Enb2が供給され、同ブロックの偶数列に対応するNAND回路1522
の他方の入力端には、イネーブル信号Enb6が供給される。一方、jが偶数(2、4、6
、…、96)である場合に、ブロックB(2j−1)の奇数列に対応するNAND回路1512の他方の入力端には、イネーブル信号Enb3が供給され、同ブロックの偶数列に対
応するNAND回路1522の他方の入力端には、イネーブル信号Enb7が供給され、ま
た、ブロックB(2j)の奇数列に対応するNAND回路1512の他方の入力端には、イネーブル信号Enb4が供給され、同ブロックの偶数列に対応するNAND回路1522
の他方の入力端には、イネーブル信号Enb8が供給される。
例えば、jが2である場合、当該シフト信号S2は、ブロックB3における奇数列、偶数列と、ブロックB4における奇数列、偶数列と対応して4分割されるが、このうち、ブロックB3の奇数列に対応するNAND回路1512の一方の入力端には、イネーブル信号Enb3が供給される。
Here, in the NAND circuit 1512 corresponding to the odd column of each block and the NAND circuit 1522 corresponding to the even column, the following enable signal is supplied to the other input terminal. That is, as described above, the shift signal Sj output from the j-th stage in the shift register 140 is supplied to the odd and even columns in the block B (2j-1) and the odd and even columns in the block B (2j). Correspondingly, it is supplied by being divided into four. When j is an odd number (1, 3, 5,..., 95), the other of the NAND circuits 1512 corresponding to the odd columns of the block B (2j−1) is supplied. An enable signal Enb1 is supplied to the input terminal, an enable signal Enb5 is supplied to the other input terminal of the NAND circuit 1522 corresponding to the even number column of the same block, and it corresponds to the odd number column of the block B (2j). The enable signal Enb2 is supplied to the other input terminal of the NAND circuit 1512 that performs the NAND circuit 1522 corresponding to the even-numbered column of the same block.
An enable signal Enb6 is supplied to the other input terminal. On the other hand, j is an even number (2, 4, 6
,..., 96), an enable signal Enb3 is supplied to the other input terminal of the NAND circuit 1512 corresponding to the odd-numbered column of the block B (2j-1), and the NAND corresponding to the even-numbered column of the block The enable signal Enb7 is supplied to the other input terminal of the circuit 1522, and the enable signal Enb4 is supplied to the other input terminal of the NAND circuit 1512 corresponding to the odd column of the block B (2j). NAND circuit 1522 corresponding to an even number of columns
An enable signal Enb8 is supplied to the other input terminal.
For example, when j is 2, the shift signal S2 is divided into four corresponding to the odd and even columns in the block B3 and the odd and even columns in the block B4. An enable signal Enb3 is supplied to one input terminal of the NAND circuit 1512 corresponding to the column.

ここで、イネーブル信号Enb1〜Enb8のうち、イネーブル信号Enb1〜Enb4は、図6に示されるように、いずれも水平走査期間Hの前半期間Sub1において連続的に出力される
パルスであって、クロック信号CLXと同一周波数である。また、イネーブル信号Enb1
〜Enb4のパルス幅(Hレベルの期間)は、クロック信号CLXの1/4周期よりも短く
、互いに位相が90度ずつシフトした関係にある。詳細には、水平走査期間Hの前半期間Sub1において、イネーブル信号Enb1→Enb2→Enb3→Enb4(→Enb1)の順番でパルスが出力されるとともに、クロック信号CLXが立ち下がるタイミングを挟むようにイネーブル信号Enb1、Enb2のパルスがそれぞれ出力され、クロック信号CLXが立ち上がるタイミングを挟むようにイネーブル信号Enb3、Enb4のパルスがそれぞれ出力される。
一方、イネーブル信号Enb5〜Enb8は、同図に示されるように、前半期間Sub1におい
て出力されるイネーブル信号Enb1〜Enb4をそのまま後半期間Sub2において出力したも
のである。このため、後半期間Sub2において、イネーブル信号Enb5→Enb6→Enb7→Enb8(→Enb5)の順番でパルスが出力されるとともに、クロック信号CLXが立ち下がるタイミングを挟むようにイネーブル信号Enb5、Enb6のパルスがそれぞれ出力され、クロック信号CLXが立ち上がるタイミングを挟むようにイネーブル信号Enb7、Enb8のパルスがそれぞれ出力される。
Here, among the enable signals Enb1 to Enb8, the enable signals Enb1 to Enb4 are pulses that are continuously output in the first half period Sub1 of the horizontal scanning period H, as shown in FIG. The same frequency as CLX. The enable signal Enb1
The pulse width of .about.Enb4 (H level period) is shorter than a quarter cycle of the clock signal CLX, and the phases are shifted by 90 degrees from each other. Specifically, in the first half period Sub1 of the horizontal scanning period H, pulses are output in the order of the enable signal Enb1->Enb2->Enb3-> Enb4 (-> Enb1), and the enable signal sandwiches the timing when the clock signal CLX falls. The pulses Enb1 and Enb2 are output, and the pulses of the enable signals Enb3 and Enb4 are output so as to sandwich the rising timing of the clock signal CLX.
On the other hand, as shown in the figure, the enable signals Enb5 to Enb8 are the output of the enable signals Enb1 to Enb4 output in the first half period Sub1 as they are in the second half period Sub2. For this reason, in the second half period Sub2, pulses are output in the order of the enable signal Enb5 → Enb6 → Enb7 → Enb8 (→ Enb5), and the pulses of the enable signals Enb5 and Enb6 are placed so as to sandwich the timing when the clock signal CLX falls. The pulses of the enable signals Enb7 and Enb8 are output so as to sandwich the timing at which the clock signal CLX rises.

なお、シフト信号Sjのうち、ブロックB(2j−1)の奇数列に対応して供給されたものを処理した一群回路の最終出力、すなわち、当該ブロックB(2j−1)の奇数列のNOT回路1518による出力信号をサンプリング信号R(4j−3)と表記する一方、ブロックB(2j−1)の偶数列に対応して供給されたものを処理した一群回路の最終出力、すなわち、当該ブロックB(2j−1)の偶数列のNOT回路1528による出力信号をサンプリング信号R(4j−2)と表記する。同様に、シフト信号Sjのうち、ブロックB(2j)の奇数列に対応して供給されたものを処理した一群回路の最終出力信号を
サンプリング信号R(4j−1)と表記する一方、当該偶数列に対応して供給されたものを処理した一群回路の最終出力信号をサンプリング信号R(4j)と表記する。
The final output of the group circuit that processes the shift signal Sj supplied corresponding to the odd columns of the block B (2j-1), that is, the NOT of the odd columns of the block B (2j-1). While the output signal from the circuit 1518 is expressed as a sampling signal R (4j-3), the final output of the group circuit that processes the signals supplied corresponding to the even columns of the block B (2j-1), that is, the block An output signal from the NOT circuit 1528 in an even-numbered column of B (2j-1) is expressed as a sampling signal R (4j-2). Similarly, the final output signal of the group circuit that processes the shift signal Sj supplied corresponding to the odd-numbered columns of the block B (2j) is expressed as a sampling signal R (4j-1) while the even-numbered signal The final output signal of the group circuit that processes the signals supplied corresponding to the columns is represented as a sampling signal R (4j).

次に、サンプリング回路160の構成について説明する。
図4に示されるように、サンプリング回路160は、データ線114にドレインが接続されたnチャネル型のTFT165の集合体である。
ここで、TFT165のソースは、次のような関係でデータ信号Vid1〜Vid3が供給される3本の画像信号線162のいずれかに接続されている。すなわち、図において左から数えてq列目のデータ線114の一端にドレインが接続されたTFT165は、qを6で割った余りが「1」または「2」であるならば、そのソースが、データ信号Vid1が供給
される画像信号線162に接続され、同様に、qを6で割った余りが「3」または「4」であるデータ線114にドレインが接続されたTFT165のソースは、データ信号Vid2が供給される画像信号線162に接続され、qを6で割った余りが「5」または「0」
であるデータ線114にドレインが接続されたTFT165のソースは、データ信号Vid3が供給される画像信号線162に接続されている。
例えば、図4において11列目のデータ線114にドレインが接続されたTFT165のソースは、「11」を6で割った余りが「5」であるから、データ信号Vid3が供給さ
れる画像信号線162に接続されている。
Next, the configuration of the sampling circuit 160 will be described.
As shown in FIG. 4, the sampling circuit 160 is an aggregate of n-channel TFTs 165 whose drains are connected to the data lines 114.
Here, the source of the TFT 165 is connected to one of the three image signal lines 162 to which the data signals Vid1 to Vid3 are supplied in the following relationship. That is, in the TFT 165 whose drain is connected to one end of the q-th data line 114 counted from the left in the figure, if the remainder obtained by dividing q by 6 is “1” or “2”, the source is Similarly, the source of the TFT 165 is connected to the image signal line 162 to which the data signal Vid1 is supplied, and the drain of the TFT 165 is connected to the data line 114 whose remainder is “3” or “4” when q is divided by 6. The remainder obtained by dividing q by 6 is connected to the image signal line 162 to which the signal Vid2 is supplied, and “5” or “0”.
The source of the TFT 165 whose drain is connected to the data line 114 is connected to the image signal line 162 to which the data signal Vid3 is supplied.
For example, in FIG. 4, the source of the TFT 165 whose drain is connected to the data line 114 in the eleventh column has a remainder of “5” obtained by dividing “11” by 6; therefore, the image signal line to which the data signal Vid3 is supplied. 162.

一方、TFT165のゲートには、次のような関係でサンプリング信号が供給される。
すなわち、ブロックB(2j−1)には、サンプリング信号R(4j−3)、R(4j−2)が供給されるが、当該ブロックB(2j−1)に属する6列のデータ線114のうち、奇数列のデータ線にドレインが接続されたTFT165のゲートには、サンプリング信号R(4j−3)が共通に供給され、偶数列のデータ線にドレインが接続されたTFT165のゲートには、サンプリング信号R(4j−2)が共通に供給される。
また、ブロックB(2j)には、サンプリング信号R(4j−1)、R(4j)が供給されるが、当該ブロックB(2j)に属する6列のデータ線114のうち、奇数列のデータ線にドレインが接続されたTFT165のゲートには、サンプリング信号R(4j−1)が共通に供給され、偶数列のデータ線にドレインが接続されたTFT165のゲートには、サンプリング信号R(4j)が共通に供給される。
例えば、jが2であるブロックB3には、サンプリング信号R5、R6が対応するが、当該ブロックB3に属する13、14、15、16、17、18列目のデータ線のうち、奇数13、15、17列目のデータ線にドレインが接続されたTFT165のゲートには、サンプリング信号R5が共通に供給される一方、偶数14、16、18列目のデータ線にドレインが接続されたTFT165のゲートには、サンプリング信号R6が共通に供給される。
On the other hand, the sampling signal is supplied to the gate of the TFT 165 in the following relationship.
That is, the sampling signals R (4j-3) and R (4j-2) are supplied to the block B (2j-1), but the six lines of data lines 114 belonging to the block B (2j-1) Among them, the sampling signal R (4j-3) is commonly supplied to the gates of the TFTs 165 whose drains are connected to the odd-numbered data lines, and the gates of the TFTs 165 whose drains are connected to the even-numbered data lines are The sampling signal R (4j-2) is supplied in common.
Further, the sampling signals R (4j−1) and R (4j) are supplied to the block B (2j). Of the six data lines 114 belonging to the block B (2j), the odd-numbered column data The sampling signal R (4j-1) is commonly supplied to the gates of the TFTs 165 whose drains are connected to the lines, and the sampling signals R (4j) are supplied to the gates of the TFTs 165 whose drains are connected to the even-numbered data lines. Are supplied in common.
For example, the sampling signal R5, R6 corresponds to the block B3 in which j is 2, but among the 13, 14, 15, 16, 17, 18th data lines belonging to the block B3, odd numbers 13, 15 The sampling signal R5 is supplied in common to the gates of the TFTs 165 whose drains are connected to the 17th data line, while the gates of the TFTs 165 whose drains are connected to the data lines of the even-numbered 14, 16th and 18th columns. Are commonly supplied with the sampling signal R6.

このようなサンプリング回路160において、あるブロックに供給される2つのサンプリング信号のうち、奇数番号のサンプリング信号R(4j−3)またはR(4j−1)がHレベルになると、当該ブロックに属する6列のデータ線114のうち、奇数列の3列分のデータ線114に対応するTFT165が同時にオンして、当該奇数列のデータ線にデータ信号Vid1〜Vid3がサンプリングされる一方、偶数番号のサンプリング信号R(4j−2)またはR(4j)がHレベルになると、偶数列の3列分のデータ線114に対応するTFT165が同時にオンして、当該偶数列のデータ線にデータ信号Vid1〜Vid3がサンプリングされる構成となっている。
このことは、あるブロックに供給される2つのサンプリング信号のいずれかがHレベルになったときに、当該ブロックが指定された状態となり、このうち、奇数番号のサンプリング信号がHレベルになった場合に、奇数列のデータ線114を選択し、偶数番号のサンプリング信号がHレベルになった場合に偶数列のデータ線114を選択して、いずれの場合においても選択したデータ線にデータ信号をサンプリングする、ということと同義であ
る。
なお、走査線駆動回路130や、シフトレジスタ140、データ線選択回路150、サンプリング回路160の構成素子は、表示領域100におけるTFT116と共通の製造プロセスで形成されて、装置全体の小型化や低コスト化に寄与している。
In such a sampling circuit 160, when an odd-numbered sampling signal R (4j-3) or R (4j-1) of two sampling signals supplied to a certain block becomes H level, 6 belonging to the block. Among the data lines 114 in the column, the TFTs 165 corresponding to the data lines 114 of the odd-numbered columns are simultaneously turned on, and the data signals Vid1 to Vid3 are sampled on the data lines in the odd-numbered columns. When the signal R (4j-2) or R (4j) becomes H level, the TFTs 165 corresponding to the data lines 114 of the even-numbered columns are simultaneously turned on, and the data signals Vid1 to Vid3 are applied to the data lines of the even-numbered columns. Are sampled.
This is because when one of the two sampling signals supplied to a certain block becomes H level, the block is in a designated state, and among these, an odd-numbered sampling signal becomes H level. In addition, the odd-numbered data line 114 is selected, and when the even-numbered sampling signal becomes H level, the even-numbered data line 114 is selected, and in any case, the data signal is sampled on the selected data line. It is synonymous with.
Note that the constituent elements of the scanning line driver circuit 130, the shift register 140, the data line selection circuit 150, and the sampling circuit 160 are formed by a manufacturing process common to the TFT 116 in the display region 100, thereby reducing the size and cost of the entire device. Has contributed to

次に、本実施形態に係る電気光学装置1の動作について説明する。
本実施形態において、走査制御回路52は、1フレームの期間の最初に、走査線駆動回路130に転送開始パルスDYを供給する。この供給によって、図5に示されるように、走査信号G1、G2、G3、…、G864が順次排他的に水平走査期間H毎にHレベルになる。
このうち、走査信号G1がHレベルになる水平走査期間Hについて説明する。なお、このフレームの期間においては、すべての画素について正極性の書き込みが行われるものとする。
まず、走査制御回路52は、図6に示されるように、水平走査期間Hの最初にプリチャージ制御信号NrgをHレベルとする。これにより、S/P変換回路320は、ラインメモリ310からの読み出しとは無関係に3つのチャネルに、黒色の階調を指定する画像データVd1〜Vd3を出力するので、3本の画像信号線162には、正極性であって黒色に相当する電圧のデータ信号Vid1〜Vid3が供給される。
一方、プリチャージ制御信号NrgがHレベルになると、データ線選択回路150におけるNAND回路1514、1524の他方の入力端がLレベルになるので、NAND回路1514、1524の出力信号が強制的にHレベルになる。このため、サンプリング信号R1、R2、R3、R4、…、R384がすべてHレベルになる。
これにより、すべてのTFT165がオンする結果、1〜1152列目のすべてのデータ線114は、正極性であって黒色に相当する電圧にプリチャージされて、書込前の初期状態が揃えられることになる。
この後、プリチャージ制御信号NrgはLレベルとなるので、各サンプリング信号の論理レベルは、シフト信号とイネーブル信号とによって規定されることになる。
Next, the operation of the electro-optical device 1 according to this embodiment will be described.
In the present embodiment, the scanning control circuit 52 supplies a transfer start pulse DY to the scanning line driving circuit 130 at the beginning of a period of one frame. By this supply, as shown in FIG. 5, the scanning signals G1, G2, G3,..., G864 are sequentially and exclusively set to the H level every horizontal scanning period H.
Among these, the horizontal scanning period H in which the scanning signal G1 is at the H level will be described. Note that, during this frame period, positive writing is performed for all pixels.
First, the scanning control circuit 52 sets the precharge control signal Nrg to the H level at the beginning of the horizontal scanning period H as shown in FIG. As a result, the S / P conversion circuit 320 outputs the image data Vd1 to Vd3 designating the black gradation to the three channels irrespective of the reading from the line memory 310, so that the three image signal lines 162 are output. Are supplied with data signals Vid1 to Vid3 of positive polarity and corresponding to black.
On the other hand, when the precharge control signal Nrg becomes H level, the other input terminals of the NAND circuits 1514 and 1524 in the data line selection circuit 150 become L level, so that the output signals of the NAND circuits 1514 and 1524 are forcibly set to H level. become. Therefore, the sampling signals R1, R2, R3, R4,..., R384 all become H level.
As a result, as a result of all the TFTs 165 being turned on, all the data lines 114 in the 1st to 1152th columns are precharged to a voltage corresponding to positive polarity and black, and the initial state before writing is made uniform. become.
Thereafter, since the precharge control signal Nrg becomes L level, the logic level of each sampling signal is defined by the shift signal and the enable signal.

走査制御回路52は、水平走査期間Hのうち前半期間Sub1および後半期間Sub2の開始時においてそれぞれ転送開始パルスDXを供給する。
前半期間Sub1において転送開始パルスDXが供給されると、シフトレジスタ140に
よるシフト信号S1、S2、S3、…、S96は、当該転送開始パルスDXをクロック信号CLXの半周期ずつ順次遅延させた関係となる。前半期間Sub1において、各ブロック
の奇数列に対応するサンプリング信号は、シフト信号がHレベルとなっている期間のうち、イネーブル信号Enb1〜Enb4のパルス出力期間でHレベルとなる。ただし、前半期間Sub1においてイネーブル信号Enb5〜Enb8がLレベルであるので、各ブロックの偶数列に
対応するサンプリング信号がHレベルになることはない。
ここで、走査制御回路52は、前半期間Sub1においてクロック信号が立ち下がるタイ
ミングの前後でイネーブル信号Enb1、Enb2のパルスを出力し、クロック信号が立ち上がるタイミングの前後でイネーブル信号Enb3、Enb4のパルスを出力する。
The scanning control circuit 52 supplies the transfer start pulse DX at the start of the first half period Sub1 and the second half period Sub2 in the horizontal scanning period H, respectively.
When the transfer start pulse DX is supplied in the first half period Sub1, the shift signals S1, S2, S3,..., S96 by the shift register 140 have the relationship that the transfer start pulse DX is sequentially delayed by half a cycle of the clock signal CLX. Become. In the first half period Sub1, the sampling signal corresponding to the odd-numbered columns of each block is at the H level during the pulse output period of the enable signals Enb1 to Enb4 during the period in which the shift signal is at the H level. However, since the enable signals Enb5 to Enb8 are at the L level in the first half period Sub1, the sampling signals corresponding to the even-numbered columns of each block do not become the H level.
Here, the scanning control circuit 52 outputs the pulses of the enable signals Enb1 and Enb2 before and after the timing when the clock signal falls in the first half period Sub1, and outputs the pulses of the enable signals Enb3 and Enb4 before and after the timing when the clock signal rises. To do.

このため、前半期間Sub1において、jが奇数であるブロックB(2j−1)へのサン
プリング信号R(4j−3)は、シフト信号Sjのパルスをイネーブル信号Enb1のパル
スで抜き出したものとなり、jが奇数であるブロックB(2j)へのサンプリング信号R(4j−1)は、同シフト信号Sjのパルスをイネーブル信号Enb2のパルスで抜き出し
たものとなる。また、jが偶数であるブロックB(2j−1)へのサンプリング信号R(4j−3)は、シフト信号Sjのパルスをイネーブル信号Enb3のパルスで抜き出したも
のとなり、jが偶数である偶数ブロックB(2j)へのサンプリング信号R(4j−1)は、同シフト信号Sjのパルスをイネーブル信号Enb4のパルスで抜き出したものとなる

したがって、前半期間Sub1において転送開始パルスDXが供給されると、奇数番号の
サンプリング信号R1、R3、R5、R7、…、R383が順次排他的にHレベルとなり、偶数番号のサンプリング信号R2、R4、R6、R8、…、R384はLレベルに保たれる。
Therefore, in the first half period Sub1, the sampling signal R (4j-3) to the block B (2j-1) where j is an odd number is obtained by extracting the pulse of the shift signal Sj with the pulse of the enable signal Enb1, The sampling signal R (4j−1) to the block B (2j) having an odd number is obtained by extracting the pulse of the shift signal Sj with the pulse of the enable signal Enb2. The sampling signal R (4j-3) to the block B (2j-1) where j is an even number is obtained by extracting the pulse of the shift signal Sj with the pulse of the enable signal Enb3, and the even block where j is an even number. The sampling signal R (4j-1) to B (2j) is obtained by extracting the pulse of the shift signal Sj with the pulse of the enable signal Enb4.
Therefore, when the transfer start pulse DX is supplied in the first half period Sub1, the odd-numbered sampling signals R1, R3, R5, R7,..., R383 sequentially become H level exclusively, and the even-numbered sampling signals R2, R4,. R6, R8,..., R384 are kept at the L level.

一方、走査信号G1がHレベルとなる前に、1行目であって1、2、3、4、…、1152列目の画素110に対応する画像データVinが上位装置から順番に供給されて、ラインメモリ310に格納される。
1行目の画像データが格納された状態において、走査制御回路52は、走査信号G1がHレベルとなる水平走査期間Hのうち、前半期間Sub1においてサンプリング信号R1が
Hレベルとなる直前(厳密にいえば、サンプリング信号R1がHレベルとなる期間は、シフト信号S1がHレベルとなる期間のうち、イネーブル信号Enb1がHレベルとなる期間
であるので、イネーブル信号Enb1をHレベルとする直前)において、図7に示されるよ
うに、1行目であって奇数列の画素に対応する画像データをラインメモリ310から読み出す動作を開始する。すなわち、前半期間Sub1では、1行目であって1、3、5、7、
9、…、1151列の画素110に対応する画像データVoutが順番に読み出される。
読み出された画像データVoutは、サンプリング信号R1がHレベルとなる期間にあわ
せて、S/P変換回路320によって時間軸方向に3倍に伸長されるとともに、1、3、5列目に対応する画像データが、それぞれ画像データVd1、Vd2、Vd3の順に分配される。分配された画像データVd1、Vd2、Vd3は、それぞれD/A変換回路群330によってアナログ信号に変換されるとともに、それぞれ極性反転回路340によって正極性の信号とされ、データ信号Vid1、Vid2、Vid3として出力される。
これによって、データ信号Vid1は、1行1列の画素110の階調に応じた正極性電圧
となる。同様に、データ信号Vid2、Vid3は、それぞれ1行3列、1行5列の画素110の階調に応じた正極性電圧となる。なお、これ以前のデータ信号Vid1、Vid2、Vid3は
、それぞれプリチャージ電圧である。
On the other hand, before the scanning signal G1 becomes the H level, the image data Vin corresponding to the pixels 110 in the first row and the columns 1, 2, 3, 4,. Stored in the line memory 310.
In the state where the image data of the first row is stored, the scanning control circuit 52 immediately before the sampling signal R1 becomes H level in the first half period Sub1 in the horizontal scanning period H in which the scanning signal G1 becomes H level (strictly, In other words, the period in which the sampling signal R1 is at the H level is a period in which the enable signal Enb1 is at the H level in the period in which the shift signal S1 is at the H level, and immediately before the enable signal Enb1 is at the H level). As shown in FIG. 7, the operation of reading out the image data corresponding to the pixels in the odd-numbered columns in the first row from the line memory 310 is started. That is, in the first half period Sub1, the first row is 1, 3, 5, 7,
The image data Vout corresponding to the pixels 110 in the 9th, 1151, 1151 columns are read in order.
The read image data Vout is expanded three times in the time axis direction by the S / P conversion circuit 320 in accordance with the period in which the sampling signal R1 is at the H level, and corresponds to the first, third, and fifth columns. The image data to be distributed is distributed in the order of image data Vd1, Vd2, and Vd3. The distributed image data Vd1, Vd2, and Vd3 are converted into analog signals by the D / A conversion circuit group 330, respectively, and are converted to positive signals by the polarity inversion circuit 340, respectively, and are used as data signals Vid1, Vid2, and Vid3. Is output.
As a result, the data signal Vid1 becomes a positive voltage corresponding to the gradation of the pixel 110 in the first row and the first column. Similarly, the data signals Vid2 and Vid3 have positive voltages corresponding to the gray levels of the pixels 110 in the first row and the third column and the first row and the fifth column, respectively. The previous data signals Vid1, Vid2, and Vid3 are precharge voltages.

サンプリング信号R1がHレベルであれば、ブロックB1に属する1〜6列のうち、奇数1、3、5列目に対応するTFT165がオンするので、1列目のデータ線114には1行1列の画素110の階調に応じた正極性電圧のデータ信号Vid1がサンプリングされ
、同様に、3および5列目のデータ線114には、1行3列および1行5列の画素110の階調に応じた正極性電圧のデータ信号Vid2およびVid3がサンプリングされる。
走査信号G1がHレベルであるので、1行目の走査線112にゲートが接続されたすべてのTFT116がオンである。このため、1列目のデータ線114にサンプリングされたデータ信号Vid1は、1行目の走査線112と1列目のデータ線114との交差に対応
する1行1列の画素電極118に印加されることになる。3および5列目のデータ線114にサンプリングされたデータ信号Vid2およびVid3についても、それぞれ同様にして1行3列および1行5列の画素電極118に印加されることになる。
If the sampling signal R1 is at the H level, the TFTs 165 corresponding to the odd-numbered first, third, and fifth columns among the first to sixth columns belonging to the block B1 are turned on. A positive voltage data signal Vid1 corresponding to the gray level of the pixel 110 in the column is sampled, and similarly, the data lines 114 in the third and fifth columns are connected to the floor of the pixel 110 in the first row, third column, and first row and fifth column. Data signals Vid2 and Vid3 having a positive voltage corresponding to the key are sampled.
Since the scanning signal G1 is at the H level, all the TFTs 116 whose gates are connected to the scanning line 112 in the first row are on. For this reason, the data signal Vid1 sampled on the data line 114 in the first column is applied to the pixel electrode 118 in the first row and the first column corresponding to the intersection of the scanning line 112 in the first row and the data line 114 in the first column. Will be. The data signals Vid2 and Vid3 sampled on the data lines 114 in the third and fifth columns are also applied to the pixel electrodes 118 in the first row and third column and the first row and fifth column, respectively.

前半期間Sub1において、サンプリング信号R1の次にはサンプリング信号R3がHレ
ベルとなる。このサンプリング信号R3がHレベルとなる期間にあわせて、1行目であって7、9、11列目の画素110に対応する画像データVoutが時間軸方向に3倍に伸長
されるとともに、それぞれ画像データVd1、Vd2、Vd3に分配され、正極性のアナログ信号に変換されて、データ信号Vid1、Vid2、Vid3として出力される。これによって、デ
ータ信号Vid1は、1行7列の画素110の階調に応じた正極性電圧となる。同様に、デ
ータ信号Vid2およびVid3は、それぞれ1行9列および1行11列の画素110の階調に応じた正極性電圧となる。
サンプリング信号R3がHレベルであれば、ブロックB2に属する1〜6列のうち、奇数7、9、11列目に対応するTFT165がオンするので、7列目のデータ線114には1行7列の画素110の階調に応じた正極性電圧のデータ信号Vid1がサンプリングさ
れ、同様に、9および11列目のデータ線114には、1行9列および1行11列の画素110の階調に応じた正極性電圧のデータ信号Vid2およびVid3がサンプリングされる。このため、7列目のデータ線114にサンプリングされたデータ信号Vid1は、1行7列
の画素電極118に印加されることになる。9および11列目のデータ線114にサンプリングされたデータ信号Vid2およびVid3についても、それぞれ同様にして1行9列および1行11列の画素電極118に印加されることになる。
In the first half period Sub1, the sampling signal R3 becomes H level next to the sampling signal R1. In accordance with the period when the sampling signal R3 is at the H level, the image data Vout corresponding to the pixels 110 in the first row and the seventh, ninth, and eleventh columns is expanded three times in the time axis direction. It is distributed to image data Vd1, Vd2, and Vd3, converted to a positive analog signal, and output as data signals Vid1, Vid2, and Vid3. As a result, the data signal Vid1 becomes a positive voltage corresponding to the gradation of the pixel 110 in the first row and the seventh column. Similarly, the data signals Vid2 and Vid3 have positive voltages corresponding to the gray levels of the pixels 110 in the 1st row and 9th column and the 1st row and 11th column, respectively.
If the sampling signal R3 is at the H level, the TFTs 165 corresponding to the odd-numbered seventh, ninth, and eleventh columns among the first to sixth columns belonging to the block B2 are turned on. A positive voltage data signal Vid1 corresponding to the gray level of the pixel 110 in the column is sampled, and similarly, the data lines 114 in the 9th and 11th columns are connected to the floors of the pixels 110 in the 1st row 9th column and the 1st row 11th column. Data signals Vid2 and Vid3 having a positive voltage corresponding to the key are sampled. Therefore, the data signal Vid1 sampled on the data line 114 in the seventh column is applied to the pixel electrode 118 in the first row and the seventh column. The data signals Vid2 and Vid3 sampled on the data lines 114 in the ninth and eleventh columns are also applied to the pixel electrodes 118 in the first row and the ninth column and the first row and the eleventh column, respectively.

以下同様に、前半期間Sub1において、奇数番号のサンプリング信号R5、R7、R9
、…、R383が順番にHレベルになると、ブロックB3、B4、B5、…、B192が指定されるとともに、指定ブロックの奇数列のデータ線114に、それぞれデータ信号Vid1、Vid2、Vid3がサンプリングされて、画素電極への書き込みが行われることとなる
Similarly, in the first half period Sub1, odd-numbered sampling signals R5, R7, R9
,..., R383 are sequentially set to the H level, blocks B3, B4, B5,..., B192 are designated, and data signals Vid1, Vid2, Vid3 are sampled on the odd-numbered data lines 114 of the designated block, respectively. Thus, writing to the pixel electrode is performed.

次に、水平走査期間Hのうち、後半期間Sub2の動作について説明する。
走査制御回路52は、後半期間Sub2の開始時においても、転送開始パルスDXを供給
する。このため、シフトレジスタ140によるシフト信号S1、S2、S3、…、S96は、後半期間Sub2においても、当該転送開始パルスDXをクロック信号CLXの半周期
ずつ順次遅延させた関係となる。このため、後半期間Sub2において、各ブロックの偶数
列に対応するサンプリング信号は、シフト信号がHレベルとなっている期間のうち、イネーブル信号Enb5〜Enb8のパルス出力期間でHレベルとなる。ただし、後半期間Sub2に
おいてイネーブル信号Enb1〜Enb4はLレベルとなるので、各ブロックの奇数列に対応するサンプリング信号がHレベルになることはない。
ここで、走査制御回路52は、後半期間Sub2において、クロック信号が立ち下がるタ
イミングの前後でイネーブル信号Enb5、Enb6のパルスを出力し、クロック信号が立ち上がるタイミングの前後でイネーブル信号Enb7、Enb8のパルスを出力する。
Next, the operation in the second half period Sub2 in the horizontal scanning period H will be described.
The scanning control circuit 52 supplies the transfer start pulse DX even at the start of the second half period Sub2. Therefore, the shift signals S1, S2, S3,..., S96 by the shift register 140 have a relationship in which the transfer start pulse DX is sequentially delayed by half a cycle of the clock signal CLX even in the second half period Sub2. For this reason, in the second half period Sub2, the sampling signal corresponding to the even-numbered columns of each block is at the H level during the pulse output period of the enable signals Enb5 to Enb8 during the period in which the shift signal is at the H level. However, since the enable signals Enb1 to Enb4 are at the L level in the second half period Sub2, the sampling signals corresponding to the odd columns of each block do not become the H level.
Here, in the second half period Sub2, the scanning control circuit 52 outputs the pulses of the enable signals Enb5 and Enb6 before and after the timing when the clock signal falls, and the pulses of the enable signals Enb7 and Enb8 before and after the timing when the clock signal rises. Output.

このため、後半期間Sub2において、jが奇数であるブロックB(2j−1)へのサン
プリング信号R(4j−2)は、シフト信号Sjのパルスをイネーブル信号Enb5のパル
スで抜き出したものとなり、jが奇数であるブロックB(2j)へのサンプリング信号R(4j)は、同シフト信号Sjのパルスをイネーブル信号Enb6のパルスで抜き出したも
のとなる。また、jが偶数であるブロックB(2j−1)へのサンプリング信号R(4j−2)は、シフト信号Sjのパルスをイネーブル信号Enb7のパルスで抜き出したものと
なり、jが偶数である偶数ブロックB(2j)へのサンプリング信号R(4j)は、同シフト信号Sjのパルスをイネーブル信号Enb8のパルスで抜き出したものとなる。
したがって、後半期間Sub2において転送開始パルスDXが供給されると、偶数番号の
サンプリング信号R2、R4、R6、R8、…、R384が順次排他的にHレベルとなり、奇数番号のサンプリング信号R1、R3、R5、R7、…、R383はLレベルに保たれる。
Therefore, in the second half period Sub2, the sampling signal R (4j-2) to the block B (2j-1) where j is an odd number is obtained by extracting the pulse of the shift signal Sj with the pulse of the enable signal Enb5. The sampling signal R (4j) to the block B (2j) having an odd number is the one obtained by extracting the pulse of the shift signal Sj with the pulse of the enable signal Enb6. The sampling signal R (4j-2) to the block B (2j-1) where j is an even number is obtained by extracting the pulse of the shift signal Sj with the pulse of the enable signal Enb7, and the even block where j is an even number. The sampling signal R (4j) to B (2j) is obtained by extracting the pulse of the shift signal Sj with the pulse of the enable signal Enb8.
Therefore, when the transfer start pulse DX is supplied in the second half period Sub2, the even-numbered sampling signals R2, R4, R6, R8,..., R384 sequentially become H level exclusively, and the odd-numbered sampling signals R1, R3,. R5, R7,..., R383 are kept at the L level.

一方、走査制御回路52は、後半期間Sub2においてサンプリング信号R2がHレベル
となる直前(厳密にいえば、サンプリング信号R2がHレベルとなる期間は、シフト信号S2がHレベルとなる期間のうち、イネーブル信号Enb5がHレベルとなる期間であるの
で、イネーブル信号Enb5をHレベルとする直前)において、図8に示されるように、1
行目であって偶数列の画素110に対応する画像データをラインメモリ310から読み出す動作を開始する。すなわち、後半期間Sub2では、1行目であって2、4、6、8、1
0、…、1152列の画素110に対応する画像データVoutが順番に読み出される。
読み出された画像データVoutは、サンプリング信号R2がHレベルとなる期間にあわ
せて、S/P変換回路320により時間軸方向に3倍に伸長されるとともに、2、4、6列目に対応する画像データが、それぞれ画像データVd1、Vd2、Vd3の順に分配されて、それぞれD/A変換回路群330によってアナログ信号に変換され、さらに、それぞれ極
性反転回路340によって正極性の信号とされ、データ信号Vid1、Vid2、Vid3として
出力される。
サンプリング信号R2がHレベルであれば、ブロックB1に属する1〜6列のうち、偶数2、4、6列目に対応するTFT165がオンするので、2列目のデータ線114には1行2列の画素110の階調に応じた正極性電圧のデータ信号Vid1がサンプリングされ
、同様に、4および6列目のデータ線114には、1行4列および1行6列の画素110の階調に応じた正極性電圧のデータ信号Vid2およびVid3がサンプリングされる。後半期間Sub2においては、前半期間Sub1から継続して走査信号G1がHレベルであるので、2列目のデータ線114にサンプリングされたデータ信号Vid1は、1行目の走査線112
と2列目のデータ線114との交差に対応する1行2列の画素電極118に印加されることになる。4および6列目のデータ線114にサンプリングされたデータ信号Vid2およ
びVid3についても、それぞれ同様にして1行4列および1行6列の画素電極118に印
加されることになる。
On the other hand, the scan control circuit 52 immediately before the sampling signal R2 becomes H level in the second half period Sub2 (strictly speaking, the period when the sampling signal R2 becomes H level is the period during which the shift signal S2 becomes H level. Since this is a period during which the enable signal Enb5 is at the H level, immediately before the enable signal Enb5 is set to the H level), as shown in FIG.
The operation of reading out the image data corresponding to the pixels 110 in the even-numbered columns from the line memory 310 is started. That is, in the second half period Sub2, it is the first row and is 2, 4, 6, 8, 1
Image data Vout corresponding to the pixels 110 of 0,.
The read image data Vout is expanded three times in the time axis direction by the S / P conversion circuit 320 in accordance with the period in which the sampling signal R2 is at the H level, and corresponds to the second, fourth, and sixth columns. The image data to be distributed is distributed in the order of image data Vd1, Vd2, and Vd3, respectively, converted into analog signals by the D / A conversion circuit group 330, and further converted into positive signals by the polarity inversion circuits 340, respectively. The signals Vid1, Vid2, and Vid3 are output.
If the sampling signal R2 is at the H level, the TFTs 165 corresponding to the even, second, fourth, and sixth columns among the first to sixth columns belonging to the block B1 are turned on. A positive voltage data signal Vid1 corresponding to the gray level of the pixel 110 in the column is sampled. Similarly, the data lines 114 in the 4th and 6th columns are connected to the floor of the pixel 110 in the 1st row 4th column and the 1st row 6th column. Data signals Vid2 and Vid3 having a positive voltage corresponding to the key are sampled. In the second half period Sub2, the scanning signal G1 is at the H level continuously from the first half period Sub1, so the data signal Vid1 sampled on the second column data line 114 is the first scanning line 112.
Is applied to the pixel electrode 118 in the first row and the second column corresponding to the intersection of the data line 114 in the second column. The data signals Vid2 and Vid3 sampled on the data lines 114 in the fourth and sixth columns are also applied to the pixel electrodes 118 in the first row and fourth column and the first row and sixth column, respectively.

以下同様に、後半期間Sub2において、偶数番号のサンプリング信号R4、R6、R8
、R10、…、R384が順番にHレベルになると、ブロックB2、B3、B4、B5、…、B192が指定されるとともに、指定ブロックの偶数列のデータ線114に、それぞれデータ信号Vid1、Vid2、Vid3がサンプリングされて、画素電極への書き込みが行わ
れる。
以上については走査信号G1がHレベルとなる水平走査期間の動作であるが、走査信号G2、G3、…、G864がHレベルとなる各水平走査期間についても、選択走査線112に対応する行の画像データの奇数列を前半期間Sub1で、偶数列を後半期間Sub2で、それぞれラインメモリ310から読み出すとともに相展開等を経て画素電極に書き込む動作と、当該選択走査線の次に選択する走査線の行の画像データをラインメモリ310に格納する動作とが同様にして実行されることになる。これにより、このフレームにおいては、1〜864行目の画素のすべてにわたって階調に応じた正極性電圧の書き込みが完了することになる。
なお、次のフレームにおいても、1〜864行目において同様な書き込みが実行されるが、本実施形態では、上述したようにフレーム毎の極性反転であるので、次のフレームでは、すべての画素に対して階調に応じた負極性電圧の書き込みが実行されることになる。
Similarly, in the second half period Sub2, the even-numbered sampling signals R4, R6, R8
, R10,..., R384 are sequentially set to the H level, the blocks B2, B3, B4, B5,..., B192 are designated and the data signals Vid1, Vid2, Vid3 is sampled and writing to the pixel electrode is performed.
The above is the operation in the horizontal scanning period in which the scanning signal G1 is at the H level. However, the horizontal scanning period in which the scanning signals G2, G3,. In the first half period Sub1 and in the second half period Sub2, the odd-numbered columns of image data are read from the line memory 310 and written to the pixel electrodes through phase expansion, and the scanning line to be selected next to the selected scanning line The operation of storing the image data of the row in the line memory 310 is executed in the same manner. As a result, in this frame, writing of the positive voltage corresponding to the gradation is completed over all the pixels in the 1st to 864th rows.
In the next frame, the same writing is executed in the 1st to 864th lines. However, in this embodiment, as described above, the polarity inversion is performed for each frame. On the other hand, negative voltage writing corresponding to the gradation is executed.

ここで、データ信号Vid1(〜Vid3)の電圧について説明すると、前半期間Sub1にお
いては図7に示されるように、後半期間Sub2においては図8に示されるように、それぞ
れS/P変換回路320による相展開動作に同期するとともに、極性指示信号Polで指定された極性に変換されて出力される。
データ信号Vid1の電圧は、正極性書込が指定されていれば、白色に相当する電圧Vwp
から黒色に相当する電圧Vbpまでの範囲で、一方、負極性書込が指定されていれば、白色に相当する電圧Vwmから黒色に相当する電圧Vbmまでの範囲で、それぞれ極性の基準電圧Vcから画素の階調に応じた分だけ偏位させた電圧(図において正極性であれば↑で、負
極性であれば↓でそれぞれ示されている)となる。ここで、正極性の電圧Vwp(およびVbp)、負極性の電圧Vwm(およびVbm)は、それぞれ電圧Vcを中心に互いに対称の関係
にある。
また、走査信号やサンプリング信号の論理レベルのうち、Hレベルは電源電圧Vddであり、Lレベルは本実施形態における電圧の基準であって接地電位Gn dである。また、図
7および図8におけるデータ信号の電圧の縦スケールは、他の論理信号である電圧波形と比較して拡大してある。
Here, the voltage of the data signal Vid1 (to Vid3) will be described. As shown in FIG. 7 in the first half period Sub1 and as shown in FIG. 8 in the second half period Sub2, the S / P conversion circuit 320 respectively. In addition to being synchronized with the phase expansion operation, the signal is converted to the polarity specified by the polarity instruction signal Pol and output.
If the positive polarity writing is designated, the voltage of the data signal Vid1 is the voltage Vwp corresponding to white.
From the reference voltage Vc of the polarity in the range from the voltage Vwm corresponding to white to the voltage Vbm corresponding to black. The voltage is shifted by an amount corresponding to the gradation of the pixel (in the figure, it is indicated by ↑ for positive polarity and ↓ for negative polarity). Here, the positive voltage Vwp (and Vbp) and the negative voltage Vwm (and Vbm) are symmetric with respect to the voltage Vc.
Of the logic levels of the scanning signal and sampling signal, the H level is the power supply voltage Vdd, and the L level is the voltage reference in this embodiment and is the ground potential Gnd. Further, the vertical scale of the voltage of the data signal in FIGS. 7 and 8 is enlarged as compared with the voltage waveform which is another logic signal.

本実施形態によれば、図9に示されるように、ある走査線の1行が選択される水平走査期間Hにおいて、前半期間Sub1では、ブロックB1、B2、B3、…、B192が指定
されるとともに、指定されたブロックの奇数列に対して階調に応じた電圧の書き込みが行
われる一方、後半期間Sub2でも、同じくブロックB1、B2、B3、…、B192が指
定されるが、指定されたブロックの偶数列に対して階調に応じた電圧の書き込みが行われる。このため、本実施形態では、表示領域100の画面全体でみれば、図10に示されるように、書き込み後に、列の左および右で隣接する画素において書き込みが行われる画素(図10において前半期間Sub1という1回目で書き込みが行われていることから「1」
と表記)と、書き込み後に、列の左および右で隣接する画素において全く書き込みが行われない画素(図10において後半期間Sub2という2回目で書き込みが行われていること
から「2」と表記)とが、1列ずつ交互に現れる。
一方、従来の技術において3相展開の場合、図24に示されるように、ある走査線の1行が選択される水平走査期間Hにおいて、ブロックB1、B2、B3、…、B192が指定されるとともに、指定されたブロックの3列に対して階調に応じた電圧の書き込みが行われるのみである。このため、従来の技術によれば、図25に示されるように、書き込み後に、列の右で隣接する画素において書き込みが行われる画素(図において「b」と表記)が、書き込み後に、列で隣接する画素において書き込みが行われない画素(図において「a」と表記)に対して、相展開数である「3」列の周期で現れる。
なお、図25において、最終の1152列は、便宜上「b」と表記しているが、厳密にいえば、列の右で隣接する画素が存在しないので「a」である。
According to this embodiment, as shown in FIG. 9, in the horizontal scanning period H in which one row of a certain scanning line is selected, blocks B1, B2, B3,..., B192 are designated in the first half period Sub1. At the same time, the voltage corresponding to the gradation is written to the odd-numbered columns of the designated block, while the blocks B1, B2, B3,..., B192 are also designated in the second half period Sub2. A voltage is written to the even-numbered column of the block according to the gradation. For this reason, in this embodiment, as seen in the entire screen of the display area 100, as shown in FIG. 10, after writing, pixels are written in adjacent pixels on the left and right sides of the column (the first half period in FIG. 10). “1” because writing is done in the first time called Sub1
And a pixel that is not written at all in the adjacent pixels on the left and right sides of the column after writing (indicated as “2” because writing is performed in the second half period Sub2 in FIG. 10). Appear alternately one column at a time.
On the other hand, in the case of three-phase development in the conventional technique, as shown in FIG. 24, blocks B1, B2, B3,..., B192 are designated in the horizontal scanning period H in which one row of a certain scanning line is selected. At the same time, the voltage is only written in accordance with the gradation to the three columns of the designated block. For this reason, according to the conventional technique, as shown in FIG. 25, after writing, the pixel to be written in the adjacent pixel on the right side of the column (denoted as “b” in the drawing) With respect to a pixel (indicated by “a” in the drawing) where writing is not performed in an adjacent pixel, the pixel appears in a cycle of “3” columns as the number of phase expansions.
In FIG. 25, the final 1152 column is represented as “b” for convenience, but strictly speaking, it is “a” because there is no adjacent pixel on the right side of the column.

書き込み後に、隣接する画素において書き込みが行われる画素では、書き込んだ電圧が、隣接する画素の書き込みにより変動するなどの影響が考えられるので、書き込み後に隣接する画素で書き込みが行われる画素と、書き込みが行われない画素とでは、同じ階調を表示させようとしても微妙な階調差が発生する場合がある。
この場合に、従来の技術では、当該階調差が、相展開数である「3」列の周期で現れるので視認されやすいが、本実施形態では、奇数列と偶数列とで1列毎の交互に現れて分散するので、相展開駆動方式に伴う階調差を視認しにくくすることが可能となる。
なお、本実施形態において、1列目だけは、列の左で隣接する画素が存在しないので、書き込み後による影響が、他の奇数3、5、…、1151列(書き込み後に、左および右の双方で隣接する画素において書き込みが行われる画素)と異なる場合も考えられる。この場合には、当該1列目をダミー領域として遮光すれば良い。
In the pixel where writing is performed in the adjacent pixel after writing, it is considered that the written voltage fluctuates due to writing in the adjacent pixel. For pixels that are not performed, there is a case where a subtle gradation difference occurs even if the same gradation is displayed.
In this case, in the conventional technique, the gradation difference appears with a period of “3” columns, which is the number of phase expansions, so that it is easy to visually recognize, but in this embodiment, the odd-numbered columns and even-numbered columns Since they appear alternately and disperse, it is possible to make it difficult to visually recognize the gradation difference associated with the phase development drive method.
In the present embodiment, since there is no adjacent pixel on the left side of the column in the first column only, the influence after writing is affected by the other odd number 3, 5,..., 1151 columns (left and right columns after writing). It is also conceivable that the pixel is different from the pixel in which writing is performed in adjacent pixels. In this case, the first row may be shielded from light as a dummy area.

また、本実施形態では、データ線選択回路150において、各ブロックの奇数列に対応して設けられたNAND回路1512は、後半期間Sub2においてLレベルのイネーブル
信号Enb1〜Enb4(のいずれか)により、サンプリング信号がHレベルとなるのを禁止し、各ブロックの偶数列に対応して設けられたNAND回路1522は、前半期間Sub1に
おいてLレベルのイネーブル信号Enb5〜Enb8(のいずれか)により、サンプリング信号がHレベルとなるのを禁止する構成となっているので、奇数列におけるNAND回路1512からNOT回路1518までの一群回路と、偶数列におけるNAND回路1522からNOT回路1528までの一群回路との構成とを、構成を複雑化させることなく、NAND回路1522における他方の入力端に供給されるイネーブル信号が異なる以外、共通化することができる。さらに、本実施形態によれば、シフトレジスタ140を、前半期間Sub1用と、後半期間Sub2用との2系統を必要とすることもなく、1系統で済むので、構成の簡易化を図ることができる。
Further, in the present embodiment, in the data line selection circuit 150, the NAND circuit 1512 provided corresponding to the odd-numbered columns of each block receives the L level enable signals Enb1 to Enb4 (any one) in the second half period Sub2. The NAND circuit 1522 provided to correspond to the even-numbered columns of each block prohibits the sampling signal from going to the H level, and the sampling signal is output by the L level enable signals Enb5 to Enb8 (any one) in the first half period Sub1. Is prohibited from going to H level, so that a group circuit from NAND circuit 1512 to NOT circuit 1518 in the odd-numbered column and a group circuit from NAND circuit 1522 to NOT circuit 1528 in the even-numbered column Without complicating the configuration of the other input terminal of the NAND circuit 1522 Except the enable signal to be supplied are different, it can be shared. Furthermore, according to the present embodiment, the shift register 140 does not need two systems for the first half period Sub1 and for the second half period Sub2, and only one system is required, so that the configuration can be simplified. it can.

くわえて、本実施形態では、データ線選択回路150において、ブロックB(2j−1)の奇数列に対応してイネーブル信号Enb1(またはEnb3)を供給するとともに、偶数列に対応してイネーブル信号Enb5(またはEnb7)を供給する一方、当該ブロックB(2j−1)に隣接するブロック(2j)の奇数列に対応してイネーブル信号Enb2(またはEnb4)を供給するとともに、偶数列に対応してイネーブル信号Enb6(またはEnb8)を供給し、さらに、前半期間Sub1においてイネーブル信号Enb1〜Enb4において互いに排他的
なパルスを出力させ、イネーブル信号Enb5〜Enb8をLレベルに固定する一方、後半期間
Sub2においてイネーブル信号Enb5〜Enb8において互いに排他的なパルスを出力させ、
イネーブル信号Enb1〜Enb4をLレベルに固定するので、互いに隣接するブロックB(2j−1)、B(2j)において、共通のシフト信号Sjを対応させることができる。したがって、本実施形態ではシフトレジスタ140の段数が削減されるので、この意味において、シフトレジスタ140の構成の簡易化を図ることが可能となる。
In addition, in the present embodiment, in the data line selection circuit 150, the enable signal Enb1 (or Enb3) is supplied corresponding to the odd number column of the block B (2j-1), and the enable signal Enb5 is corresponding to the even number column. (Or Enb7) is supplied, while an enable signal Enb2 (or Enb4) is supplied corresponding to the odd column of the block (2j) adjacent to the block B (2j-1), and enabled corresponding to the even column. The signal Enb6 (or Enb8) is supplied, and the mutually exclusive pulses are output in the enable signals Enb1 to Enb4 in the first half period Sub1, and the enable signals Enb5 to Enb8 are fixed to the L level, while the enable signal in the second half period Sub2 In Enb5 to Enb8, mutually exclusive pulses are output,
Since the enable signals Enb1 to Enb4 are fixed at the L level, the common shift signal Sj can be made to correspond to the blocks B (2j-1) and B (2j) adjacent to each other. Therefore, in this embodiment, the number of stages of the shift register 140 is reduced. In this sense, the configuration of the shift register 140 can be simplified.

<画素の書込順番の別例:その1>
次に、画素列への書き込む順番を変更した例のいくつかについて説明する。
上述した実施形態では、階調差が奇数列と偶数列とで1列毎の交互に現れるので、従来の技術(図24および図25参照)と比較すれば、当該階調差が視認しにくい、とはいえる。ただし、書き込み後に隣接する画素において書き込みが行われる画素と、書き込みが行われない画素とがそれぞれ同一列に揃うので、線状の縞として視認される可能性が少なからず存在する。
そこで、この例1では、例えば図12に示されるように、奇数(1、3、5、…、863)行の走査線を選択する水平走査期間Hにおいては、実施形態と同様に、前半期間Sub1では、順番に指定したブロックの奇数列に対して階調に応じた電圧を書き込み、後半期
間Sub2では、順番に指定したブロックの偶数列に対して階調に応じた電圧を書き込む一
方、偶数(2、4、6、…、864)行の走査線を選択する水平走査期間Hにおいては、反対に、前半期間Sub1では、指定したブロックの偶数列に対して階調に応じた電圧を書
き込み、後半期間Sub2では、指定したブロックの奇数列に対して階調に応じた電圧を書
き込む構成としたものである。
これにより、この例1では、表示領域100の画面全体でみれば、図13に示されるように、書き込み後に列の左および右で隣接する画素に書き込みが行われる画素(「1」と表記)と、書き込み後に列の左および右で隣接する画素で全く書き込みが行われない画素(「2」と表記)とが、列方向のみならず、行方向にも交互に現れる。
このため、例1によれば、実施形態よりも相展開駆動方式に伴う階調の差を一層目立たなくさせることが可能となる。
<Another example of pixel writing order: Part 1>
Next, some examples in which the order of writing to the pixel column is changed will be described.
In the above-described embodiment, the gradation difference appears alternately in the odd-numbered column and the even-numbered column, so that the gradation difference is difficult to visually recognize as compared with the conventional technique (see FIGS. 24 and 25). It can be said. However, since pixels to which writing is performed in adjacent pixels after writing and pixels to which writing is not performed are aligned in the same column, there is a high possibility that the pixels are visually recognized as linear stripes.
Therefore, in Example 1, as shown in FIG. 12, for example, in the horizontal scanning period H in which scanning lines of odd (1, 3, 5,..., 863) rows are selected, the first half period is the same as in the embodiment. In Sub1, the voltage corresponding to the gradation is written to the odd-numbered columns of the blocks designated in order, and in the second half period Sub2, the voltage corresponding to the gradation is written to the even-numbered columns of the blocks designated in order. In the horizontal scanning period H in which (2, 4, 6,..., 864) rows of scanning lines are selected, on the contrary, in the first half period Sub1, a voltage corresponding to the gradation is written to the even-numbered column of the designated block. In the second half period Sub2, the voltage corresponding to the gradation is written to the odd-numbered columns of the designated block.
As a result, in Example 1, as viewed in the entire screen of the display area 100, as shown in FIG. 13, a pixel in which writing is performed on adjacent pixels on the left and right of the column after writing (denoted as “1”). In addition, pixels that are not written at all at the left and right sides of the column after writing (denoted as “2”) alternately appear not only in the column direction but also in the row direction.
For this reason, according to Example 1, it becomes possible to make the difference in gradation associated with the phase development drive method less noticeable than in the embodiment.

なお、例1において、偶数行の走査線を選択する水平走査期間において、走査制御回路52は、図11に示されるように、前半期間Sub1にわたってイネーブル信号Enb 1〜Enb4をLレベルに固定するとともに、イネーブル信号Enb5〜Enb8のパルスを出力する一方、後半期間Sub2にわたってイネーブル信号Enb1〜Enb4のパルスを出力するとともに、
イネーブル信号Enb5〜Enb8をLレベルに固定する。これにより、偶数行の走査線を選択する水平走査期間の前半期間Sub1では、指定されたブロックの偶数列に対して電圧の書
き込みが行われ、後半期間Sub2では、指定されたブロックの奇数列に対して電圧を書き
込みが行われることになる。
また、例1では、奇数行と偶数行とを上述の例と入れ替えても良いのはもちろんである。
In Example 1, in the horizontal scanning period in which even-numbered scanning lines are selected, the scanning control circuit 52 fixes the enable signals Enb1 to Enb4 to the L level over the first half period Sub1, as shown in FIG. While outputting the pulses of the enable signals Enb5 to Enb8, while outputting the pulses of the enable signals Enb1 to Enb4 over the second half period Sub2,
Enable signals Enb5 to Enb8 are fixed at L level. As a result, in the first half period Sub1 of the horizontal scanning period for selecting the scanning lines of even rows, voltage is written to the even number columns of the designated block, and in the second half period Sub2, the odd number columns of the designated block are written. On the other hand, a voltage is written.
In Example 1, it is needless to say that odd and even rows may be replaced with the above example.

<画素の書込順番の別例:その2>
次に、画素列への書き込む順番を変更した例2について説明する。
この例2では、例えば図14(a)に示されるように、あるnフレーム(便宜的に奇数フレームとする)において、1行の走査線を選択する水平走査期間Hにおいては、実施形態と同様に、前半期間Sub1では、順番に指定したブロックの奇数列に対して階調に応じ
た電圧を書き込み、後半期間Sub2では、順番に指定したブロックの偶数列に対して階調
に応じた電圧を書き込んだ場合、図14(b)に示されるように、次の(n+1)フレーム(偶数フレーム)において1行の走査線を選択する水平走査期間Hにおいては、反対に、前半期間Sub1では、順番に指定したブロックの偶数列に対して階調に応じた電圧を書
き込み、後半期間Sub2では、順番に指定したブロックの奇数列に対して階調に応じた電
圧を書き込む構成としたものである。
これにより、例2では、表示領域100の画面全体が、奇数フレームにおいては図15(a)に示されるように、偶数フレームにおいては図15(b)に示されるように、それぞれ、書き込み後に列の左および右で隣接する画素に書き込みが行われる画素(「1」と表記)と、行われない画素(「2」と表記)とが、時間的に交互に現れるので、2フレームを単位周期としてみたときに各画素における階調の差が平均化される。
したがって、例2によれば、実施形態よりも相展開駆動方式に伴う階調の差を、なお一層目立たなくさせることが可能となる。
なお、例2では、奇数フレームと偶数フレームとを上述の例と入れ替えても良いのはもちろんである。
<Another example of pixel writing order: Part 2>
Next, Example 2 in which the order of writing to the pixel column is changed will be described.
In Example 2, for example, as shown in FIG. 14A, in a horizontal scanning period H in which one scanning line is selected in an n frame (for convenience, an odd frame is used), the same as in the embodiment. In the first half period Sub1, the voltage corresponding to the gradation is written to the odd-numbered columns of the block designated in order, and in the second half period Sub2, the voltage corresponding to the gradation is applied to the even-numbered column of the sequentially designated block. In the case of writing, as shown in FIG. 14B, in the horizontal scanning period H in which one row scanning line is selected in the next (n + 1) frame (even frame), on the contrary, in the first half period Sub1, The voltage corresponding to the gradation is written to the even-numbered column of the block designated in FIG. 2, and the voltage corresponding to the gradation is written to the odd-numbered column of the block designated in order in the second half period Sub2.
As a result, in Example 2, the entire screen of the display area 100 is displayed after writing as shown in FIG. 15A in the odd frame and in FIG. 15B in the even frame. Since pixels that are written to the adjacent pixels on the left and right (denoted as “1”) and pixels that are not performed (denoted as “2”) appear alternately in time, two frames are taken as a unit cycle. As a result, the gradation difference in each pixel is averaged.
Therefore, according to Example 2, it is possible to make the difference in gradation associated with the phase development driving method even more inconspicuous than in the embodiment.
In Example 2, it is needless to say that the odd frame and the even frame may be replaced with the above example.

<画素の書込順番の別例:その3>
次に、画素列への書き込む順番を変更した例3について説明する。
この例3は、例1に対し、例2における時間変化の考え方を適用したものである。
詳細には、例3では、図16に示されるように奇数フレームにわたって、奇数行の走査線を選択する水平走査期間Hのうち、前半期間Sub1では、順番に指定したブロックの奇
数列に対して電圧を書き込み、後半期間Sub2では、順番に指定したブロックの偶数列に
対して電圧を書き込み、続く偶数行の走査線を選択する水平走査期間Hのうち、前半期間Sub1では、指定したブロックの偶数列に対して電圧を書き込み、後半期間Sub2では、指定したブロックの奇数列に対して電圧を書き込む場合、続く偶数フレームにわたって図17に示されるように、奇数行の走査線を選択する水平走査期間Hのうち、前半期間Sub1
では、順番に指定したブロックの偶数列に対して電圧を書き込み、後半期間Sub2では、
順番に指定したブロックの奇数列に対して電圧を書き込み、続く偶数行の走査線を選択する水平走査期間Hのうち、前半期間Sub1では、指定したブロックの奇数列に対して電圧
を書き込み、後半期間Sub2では、指定したブロックの偶数列に対して電圧を書き込む構
成としたものである。
これにより、例3では、表示領域100の画面全体が、奇数フレームにおいては図18(a)に示されるように、偶数フレームにおいては図18(b)に示されるように、それぞれ、書き込み後に列の左および右で隣接する画素に書き込みが行われる画素(「1」と表記)と、行われない画素(「2」と表記)とが、同一フレームでは行および列毎に交互に、かつ、時間的に隣接するフレーム毎に交互に入れ替えられて現れるので、2フレームを単位周期としてみたときに各画素における階調の差が平均化される。
したがって、例3によれば、例1および例2よりも相展開駆動方式に伴う階調の差を、なお一層目立たなくさせることが可能となる。
なお、例3では、奇数行と偶数行とを上述の例と入れ替えても良い。また、奇数フレームと偶数フレームとを上述の例と入れ替えても良いし、また、その入れ替え周期を2フレーム以上としても良い。
<Another example of pixel writing order: Part 3>
Next, Example 3 in which the order of writing to the pixel column is changed will be described.
In Example 3, the concept of time change in Example 2 is applied to Example 1.
Specifically, in Example 3, as shown in FIG. 16, in the first half period Sub1 of the horizontal scanning period H in which the scanning lines of the odd rows are selected over the odd frames, the odd-numbered columns of the blocks designated in order are selected. In the second half period Sub2, in the second half period Sub2, the voltage is written in the even-numbered columns of the designated block in order, and among the horizontal scanning period H in which the scanning lines of the subsequent even-numbered rows are selected, in the first half period Sub1, When the voltage is written to the column and the voltage is written to the odd-numbered column of the designated block in the second half period Sub2, the horizontal scanning period for selecting the scanning lines of the odd-numbered rows as shown in FIG. Of H, the first half period Sub1
Then, the voltage is written to the even-numbered columns of the blocks designated in order, and in the second half period Sub2,
In the first half period Sub1 of the horizontal scanning period H in which the voltage is written to the odd-numbered columns of the designated block and the subsequent even-numbered scanning lines are selected, the voltage is written to the odd-numbered columns of the designated block. In the period Sub2, the voltage is written to the even-numbered columns of the designated block.
Thus, in Example 3, the entire screen of the display area 100 is displayed after writing as shown in FIG. 18A in the odd frame and in FIG. 18B in the even frame. In the same frame, pixels that are written to the pixels adjacent to the left and right (denoted as “1”) and pixels that are not performed (denoted as “2”) are alternately arranged for each row and column, and Since they appear alternately switched in every temporally adjacent frame, the gradation difference in each pixel is averaged when two frames are considered as a unit period.
Therefore, according to Example 3, it is possible to make the difference in gradation associated with the phase development driving method even more inconspicuous than in Example 1 and Example 2.
In Example 3, odd and even lines may be interchanged with the above example. Further, the odd frame and the even frame may be exchanged with the above example, and the exchange cycle may be two frames or more.

<画素の書込順番の別例:その4>
続いて、画素列への書き込む順番を変更した例4について説明する。
この例4は、駆動方式として例えば特開2004−177930号公報に記載されているような領域走査駆動方式を採用した場合に、例3における時間変化の考え方を適用したものである。
領域走査駆動方式については上記公報に詳細な内容が記載されているので、詳述は避けるが、簡単に説明すると、表示領域100を1〜432行目の走査線に対応する上領域(第1群)と433〜864行目の走査線に対応する下領域(第2群)とに論理的に分割する一方、図19に示されるように、1フレームを第1および第2フィールドに分割して、各フィールドにおいて、1、433、2、434、3、435、…、432、864行目という順番で、すなわち、上領域と下領域とを交互に、かつ、各領域においてそれぞれ下方向に向かった順番で、走査線を選択するという駆動方式である。
なお、ここでいう表示領域を論理的に分割するとは、物理的に切断して分割するという
意味ではなく、表示領域でみたときに区別しないが、走査の順番でみたときに区別する必要のために便宜的に分離した、という意味である。
<Another example of pixel writing order: Part 4>
Next, Example 4 in which the order of writing to the pixel column is changed will be described.
In this example 4, the time change concept in example 3 is applied when the area scanning drive method described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-177930 is adopted as the drive method.
Since the detailed contents of the area scanning drive method are described in the above publication, a detailed description is avoided, but in brief, the display area 100 is an upper area (first area corresponding to the first to 432th scanning lines). Group) and the lower region (second group) corresponding to the scanning lines in the 433th to 864th rows, while one frame is divided into first and second fields as shown in FIG. In each field, the order of the first, 433, 2, 434, 3, 435,... 432, 864th row, that is, the upper region and the lower region are alternated, and the respective regions are directed downward. In this driving method, scanning lines are selected in the order in which they are headed.
Note that the logical division of the display area here does not mean that the display area is physically cut and divided, and it is not distinguished when viewed in the display area, but it is necessary to distinguish when viewed in the scanning order. It means that it was separated for convenience.

領域走査駆動方式では、例えば第1フィールドにおいて上領域に属する画素については正極性の電圧を書き込み、下領域に属する画素については負極性の電圧を書き込んだ場合に、第2フィールドにおいて上領域に属する画素については負極性の電圧を書き込み、下領域に属する画素については正極性の電圧を書き込む。これによって、書き込み後においてデータ線にサンプリングされる電圧の極性の比率が、書き込みに係る走査線行に依らずに、正極性と負極性とでほぼ50%ずつとなるので、走査線行の位置によってデータ線の電圧極性の偏りがなくなって、表示品位が均等化される、というものである。
なお、この領域走査駆動方式では、第1および第2フィールドのそれぞれにおいてデータ信号を供給するので、図1におけるラインメモリ310は、上位装置から供給される画像データVinを1フレーム分記憶するフレームメモリに置き換わる。
In the area scanning drive method, for example, when a positive voltage is written to a pixel belonging to the upper area in the first field and a negative voltage is written to a pixel belonging to the lower area, the pixel belongs to the upper area in the second field. A negative voltage is written for the pixels, and a positive voltage is written for the pixels belonging to the lower region. As a result, the ratio of the polarity of the voltage sampled on the data line after writing becomes approximately 50% for each of the positive polarity and the negative polarity regardless of the scanning line row for writing. As a result, the bias of the voltage polarity of the data line is eliminated, and the display quality is equalized.
In this area scanning drive method, since data signals are supplied in each of the first and second fields, the line memory 310 in FIG. 1 is a frame memory that stores image data Vin supplied from the host device for one frame. Is replaced.

さて、例4では、図20に示されるように、奇数フレームおいて、上領域の奇数行の走査線を選択する水平走査期間Hのうち、前半期間Sub1では、順番に指定したブロックの
奇数列に対して電圧を書き込み、後半期間Sub2では、順番に指定したブロックの偶数列
に対して電圧を書き込んだ場合、次に選択される走査線は、下領域の奇数行の走査線となる。このため、当該下領域の奇数行の走査線を選択する水平走査期間Hでは、上領域の奇数行の走査線を選択した水平走査期間と同様に、前半期間Sub1では、順番に指定したブ
ロックの奇数列に対して電圧を書き込み、後半期間Sub2では、指定したブロックの偶数
列に対して電圧を書き込むことになる。
当該下領域の奇数行の走査線の次に選択される走査線は、上領域の上記奇数行に続く偶数の走査線となる。このため、当該上領域の偶数行の走査線を選択する水平走査期間Hでは、上領域の偶数行の走査線を選択した水平走査期間と反対に、前半期間Sub1では、順
番に指定したブロックの偶数列に対して電圧を書き込み、後半期間Sub2では、指定した
ブロックの奇数列に対して電圧を書き込むことになる。
当該上領域の偶数行の走査線の次に選択される走査線は、下領域の上記奇数行に続く偶数の走査線となる。このため、当該下領域の偶数行の走査線を選択する水平走査期間Hでは、下領域の奇数行の走査線を選択した水平走査期間と反対に、前半期間Sub1では、順
番に指定したブロックの偶数列に対して電圧を書き込み、後半期間Sub2では、指定した
ブロックの奇数列に対して電圧を書き込むことになる。
なお、続く偶数フレームでは、図21に示されるように、また例3と同様に、各行の前半期間Sub1および後半期間Sub2において、奇数列および偶数列の関係が、上記奇数フレームの関係と入れ替えられる。
In Example 4, as shown in FIG. 20, in the odd-numbered frame, in the first half period Sub1 of the horizontal scanning period H in which the scanning lines in the upper row are selected in the odd-numbered frames, the odd-numbered columns of the blocks designated in order. In the second half period Sub2, when the voltage is written to the even-numbered columns of the sequentially designated blocks, the next selected scanning line is the odd-numbered scanning line in the lower region. For this reason, in the horizontal scanning period H in which the odd-numbered scanning lines in the lower region are selected, in the first half period Sub1, in the same manner as in the horizontal scanning period in which the odd-numbered scanning lines in the upper region are selected, The voltage is written to the odd-numbered columns, and the voltage is written to the even-numbered columns of the designated block in the second half period Sub2.
The scanning line selected next to the odd-numbered scanning line in the lower region is an even-numbered scanning line following the odd-numbered row in the upper region. For this reason, in the horizontal scanning period H in which the even-numbered scanning lines in the upper region are selected, the horizontal scanning period in which the even-numbered scanning lines in the upper region are selected. The voltage is written to the even-numbered column, and the voltage is written to the odd-numbered column of the designated block in the second half period Sub2.
The scanning line selected next to the even-numbered scanning line in the upper region is an even-numbered scanning line following the odd-numbered row in the lower region. For this reason, in the horizontal scanning period H in which the even-numbered scanning lines in the lower region are selected, in the first half period Sub1, in contrast to the horizontal scanning period in which the odd-numbered scanning lines in the lower region are selected, The voltage is written to the even-numbered column, and the voltage is written to the odd-numbered column of the designated block in the second half period Sub2.
In the subsequent even frame, as shown in FIG. 21 and in the same manner as in Example 3, the relationship between the odd-numbered columns and the even-numbered columns is replaced with the relationship between the odd-numbered frames in the first half period Sub1 and the second half period Sub2 of each row. .

これにより、例4では、表示領域100の画面全体が、奇数フレームにおいては図22(a)に示されるように、偶数フレームにおいては図22(b)に示されるように、「1」と表記された画素と「2」と表記された画素とが、同一フレームでは行および列毎に交互に、かつ、時間的に隣接するフレーム毎に交互に入れ替えられて現れるので、2フレームを単位周期としてみたときに各画素における階調の差が平均化される。
したがって、例4によれば、上記領域走査駆動方式の効果を享受した上で、相展開駆動方式に伴う階調の差を、なお一層目立たなくさせることが可能となる。
Thus, in Example 4, the entire screen of the display area 100 is expressed as “1” as shown in FIG. 22A in the odd frame and as shown in FIG. 22B in the even frame. And the pixel labeled “2” appear alternately in every row and column in the same frame and alternately in every adjacent frame in time. When viewed, the difference in gradation in each pixel is averaged.
Therefore, according to Example 4, it is possible to make the difference in gradation associated with the phase development driving method even more inconspicuous while enjoying the effect of the region scanning driving method.

なお、実施形態等では、走査制御回路52がイネーブル信号Enb1〜Enb8を個別に出力する構成としたが、前半期間Sub1または後半期間Sub2の一方で、イネーブル信号Enb1
〜Enb4のパルスが出力される場合、イネーブル信号Enb5〜Enb8はLレベルに固定化さ
れ、前半期間Sub1または後半期間Sub2の他方で、イネーブル信号Enb1〜Enb4はLレベルに固定化され、イネーブル信号Enb5〜Enb8のパルスが出力される関係に過ぎない。このため、例えば、走査制御回路52が前半期間Sub1および後半期間Sub2の双方にわたっ
て4系統のイネーブル信号を生成するとともに、デマルチプレクサを内蔵して、前半期間Sub1または後半期間Sub2の一方で、イネーブル信号Enb1〜Enb4として分配し、前半期間Sub1または後半期間Sub2の他方でイネーブル信号Enb5〜Enb8として分配するような構成としても良い。また、この構成において、上記デマルチプレクサを、走査制御回路52が内蔵するのではなく、走査制御回路52とは別途に、例えば、表示パネル10に内蔵させて設けても良い。
In the embodiment and the like, the scanning control circuit 52 is configured to individually output the enable signals Enb1 to Enb8. However, the enable signal Enb1 is selected during the first half period Sub1 or the second half period Sub2.
When the pulses of .about.Enb4 are output, the enable signals Enb5 to Enb8 are fixed to the L level, and the enable signals Enb1 to Enb4 are fixed to the L level in the other of the first half period Sub1 or the second half period Sub2 and the enable signal Enb5. It is only the relationship that the pulse of ~ Enb8 is output. For this reason, for example, the scanning control circuit 52 generates four systems of enable signals over both the first half period Sub1 and the second half period Sub2 and incorporates a demultiplexer to enable the enable signal in either the first half period Sub1 or the second half period Sub2. A configuration may be adopted in which the signals are distributed as Enb1 to Enb4 and distributed as enable signals Enb5 to Enb8 in the other half of the first half period Sub1 or the second half period Sub2. In this configuration, the demultiplexer may not be built in the scan control circuit 52, but may be provided in the display panel 10, for example, separately from the scan control circuit 52.

上述した実施形態等では、同時に書き込むデータ線数である相展開数mを「3」として、これに対応して画像信号線162の本数も「3」としたが、mについては「2」以上であれば良い。
さらに、上述した説明では、データ信号をサンプリングする直前期間にて、すべてのデータ線114をプリチャージする構成としたが、プリチャージしない構成でも構わない。
また、処理回路20は、ディジタルの画像データVinを処理するものとしたが、アナログの画像信号を入力して相展開する構成としても良い。
In the embodiment and the like described above, the number of phase expansions m, which is the number of data lines to be simultaneously written, is set to “3”, and the number of image signal lines 162 is also set to “3” corresponding to this. If it is good.
Further, in the above description, all the data lines 114 are precharged in the period immediately before sampling the data signal. However, a configuration in which no precharge is performed may be used.
The processing circuit 20 processes the digital image data Vin. However, the processing circuit 20 may be configured to input an analog image signal and develop the phase.

また、実施形態等では、共通電極108に印加される電圧LCcomを、極性反転の基準
である電位Vcと一致させていたが、TFTがnチャネル型である場合、当該TFTのゲ
ート・ドレイン間の寄生容量に起因して、オンからオフ時にドレイン(画素電極118)の電位が低下する現象(プッシュダウン、突き抜け、フィールドスルーなどとも呼ばれる)が発生する。液晶の劣化を防止するため、画素容量では交流駆動が原則であるので、共通電極108に対して高位側(正極性)と低位側(負極性)とで交互書き込みをするが、電圧LCcomを電圧Vcに一致させた状態で、交互書き込みをすると、プッシュダウンのために、画素容量の電圧実効値は、負極性書込の方が正極性書込よりも大きくなってしまう。このため、同一階調で正極性・負極性書込をしても画素容量の電圧実効値が互いに等しくなるように、共通電極108の電圧LCcomは、データ信号の振幅基準である電圧Vcよりも若干低めに設定する場合がある。
In the embodiment and the like, the voltage LCcom applied to the common electrode 108 is matched with the potential Vc which is a reference for polarity inversion. However, when the TFT is an n-channel type, the gate-drain connection of the TFT is concerned. Due to the parasitic capacitance, a phenomenon (also referred to as push-down, penetration, field-through, etc.) in which the potential of the drain (pixel electrode 118) decreases from on to off occurs. In order to prevent deterioration of the liquid crystal, alternating current drive is a principle in pixel capacitance, so that the common electrode 108 is alternately written on the higher side (positive polarity) and the lower side (negative polarity), but the voltage LCcom is set to the voltage If alternate writing is performed in a state where the voltage coincides with Vc, the effective voltage value of the pixel capacitance is larger in negative polarity writing than in positive polarity writing because of pushdown. For this reason, the voltage LCcom of the common electrode 108 is higher than the voltage Vc, which is the amplitude reference of the data signal, so that the effective voltage values of the pixel capacitors are equal to each other even when positive polarity / negative polarity writing is performed at the same gradation. May be set slightly lower.

また、実施形態等では、図2でみたときに、垂直走査方向が下方向であり、水平走査方向が右方向であったが、後述するプロジェクタや回転可能な表示装置とする場合に対処するために、走査方向を切替可能な構成としても良い。
さらに画素容量の電圧実効値が小さい場合に白色表示を行うノーマリーホワイトモードではなく、黒色表示を行うノーマリーブラックモードとしても良い。
In addition, in the embodiment and the like, the vertical scanning direction is the downward direction and the horizontal scanning direction is the right direction as viewed in FIG. 2, but in order to cope with a projector or a rotatable display device described later. In addition, the scanning direction may be switched.
Furthermore, instead of the normally white mode in which white display is performed when the effective voltage value of the pixel capacitance is small, a normally black mode in which black display is performed may be used.

くわえて、実施形態等については、液晶装置について説明したが、本発明では、画像データ(映像信号)を相展開して、複数本のデータ線に同時サンプリングさせる構成であれば、例えばEL(Electronic Luminescence)素子、電子放出素子、電気泳動素子、ディ
ジタルミラー素子などを用いた装置や、プラズマディスプレイなどにも適用可能である。
In addition, the embodiments and the like have been described for the liquid crystal device. However, in the present invention, for example, an EL (Electronic) may be used as long as image data (video signal) is phase-expanded and simultaneously sampled on a plurality of data lines. The present invention is also applicable to a device using a (Luminescence) element, an electron emission element, an electrophoretic element, a digital mirror element, or a plasma display.

<電子機器>
次に、上述した実施形態に係る電気光学装置を用いた電子機器の一例として、上述した表示パネル10をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。
図23は、このプロジェクタの構成を示す平面図である。この図に示されるように、プロジェクタ2100内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット2102が設けられている。このランプユニット2102から射出された投射光は、内部に配置された3枚のミラー2106および2枚のダイクロイックミラー2108によってR(赤)、G(緑)、B(青)の3原色に分離されて、各原色に対応するライトバルブ100R、100Gおよび100Bにそれぞれ導かれる。なお、B色の光は、他のR色やG色と比較すると、光路が長いので、その損失を防ぐために、入射レンズ2122、リレーレンズ2123および出射レンズ2124からなるリレーレンズ系2121を介して導かれる。
<Electronic equipment>
Next, as an example of an electronic apparatus using the electro-optical device according to the above-described embodiment, a projector using the above-described display panel 10 as a light valve will be described.
FIG. 23 is a plan view showing the configuration of the projector. As shown in this figure, a lamp unit 2102 made of a white light source such as a halogen lamp is provided inside the projector 2100. The projection light emitted from the lamp unit 2102 is separated into three primary colors of R (red), G (green), and B (blue) by three mirrors 2106 and two dichroic mirrors 2108 arranged inside. Are guided to the light valves 100R, 100G and 100B corresponding to the respective primary colors. Note that B light has a longer optical path than other R and G colors, and therefore, in order to prevent the loss, B light passes through a relay lens system 2121 including an incident lens 2122, a relay lens 2123, and an exit lens 2124. Led.

ここで、ライトバルブ100R、100Gおよび100Bの構成は、上述した実施形態における表示パネル10と同様であり、処理回路(図23では省略)から供給されるR、G、Bの各色に対応する画像信号でそれぞれ駆動されるものである。すなわち、このプロジェクタ2100では、表示パネル10を含む電気光学装置1が、R、G、Bの各色に対応して3組設けられた構成となっている。
ライトバルブ100R、100G、100Bによってそれぞれ変調された光は、ダイクロイックプリズム2112に3方向から入射する。そして、このダイクロイックプリズム2112において、R色およびB色の光は90度に屈折する一方、G色の光は直進する。したがって、各色の画像が合成された後、スクリーン2120には、投射レンズ2114によってカラー画像が投射されることとなる。
Here, the configuration of the light valves 100R, 100G, and 100B is the same as that of the display panel 10 in the above-described embodiment, and images corresponding to the R, G, and B colors supplied from the processing circuit (not shown in FIG. 23). Each is driven by a signal. That is, the projector 2100 has a configuration in which three sets of electro-optical devices 1 including the display panel 10 are provided corresponding to the colors R, G, and B.
The lights modulated by the light valves 100R, 100G, and 100B are incident on the dichroic prism 2112 from three directions. In the dichroic prism 2112, the R and B light beams are refracted at 90 degrees, while the G light beam travels straight. Therefore, after the images of the respective colors are combined, a color image is projected onto the screen 2120 by the projection lens 2114.

なお、ライトバルブ100R、100Gおよび100Bには、ダイクロイックミラー2108によって、R、G、Bの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。また、ライトバルブ100R、100Bの透過像は、ダイクロイックミラー2112により反射した後に投射されるのに対し、ライトバルブ100Gの透過像はそのまま投射されるので、ライトバルブ100R、100Bによる水平走査方向は、ライトバルブ100Gによる水平走査方向と逆向きにして、左右を反転させた像を表示する構成となっている。   Since light corresponding to the primary colors R, G, and B is incident on the light valves 100R, 100G, and 100B by the dichroic mirror 2108, it is not necessary to provide a color filter. Further, the transmission images of the light valves 100R and 100B are projected after being reflected by the dichroic mirror 2112, whereas the transmission image of the light valve 100G is projected as it is, so the horizontal scanning direction by the light valves 100R and 100B is The image is reversed in the horizontal scanning direction by the light valve 100G and displayed in an inverted image.

電子機器としては、図23を参照して説明した他にも、テレビジョンや、ビューファインダ型・モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、ディジタルスチルカメラ、携帯電話機、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。そして、これらの各種の電子機器に対して上述した電気光学装置が適用可能なのは言うまでもない。   In addition to the electronic devices described with reference to FIG. 23, the electronic devices include a television, a viewfinder type / monitor direct-view type video tape recorder, a car navigation device, a pager, an electronic notebook, a calculator, a word processor, a workstation, a television. Examples include a telephone, a POS terminal, a digital still camera, a mobile phone, and a device equipped with a touch panel. Needless to say, the above-described electro-optical device can be applied to these various electronic devices.

本発明の実施形態に係る電気光学装置の全体構成を示す図である。1 is a diagram illustrating an overall configuration of an electro-optical device according to an embodiment of the invention. 同電気光学装置における表示パネルの構成を示す図である。3 is a diagram showing a configuration of a display panel in the same electro-optical device. FIG. 同表示パネルにおける画素の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the pixel in the display panel. 同表示パネルにおけるデータ線選択回路の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the data line selection circuit in the display panel. 同電気光学装置の垂直走査の動作を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a vertical scanning operation of the electro-optical device. 同電気光学装置の水平走査の動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the operation | movement of the horizontal scanning of the same electro-optical apparatus. 同電気光学装置のデータ信号の書込動作を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a data signal writing operation of the electro-optical device. 同電気光学装置のデータ信号の書込動作を説明するための図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a data signal writing operation of the electro-optical device. 同電気光学装置の書込を説明するための図である。It is a figure for demonstrating writing of the same electro-optical apparatus. 同電気光学装置の書込状態を示す図である。It is a figure which shows the writing state of the same electro-optical device. 書込順序を変更した例1の水平走査の動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the operation | movement of the horizontal scanning of Example 1 which changed the writing order. 例1に係る書込を説明するための図である。10 is a diagram for explaining writing according to Example 1. FIG. 例1に係る書込状態を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a writing state according to Example 1. 書込順序を変更した例2に係る書込を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the writing which concerns on the example 2 which changed the writing order. 例2に係る書込状態を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a writing state according to Example 2. 書込順序を変更した例3に係る書込を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the writing which concerns on the example 3 which changed the writing order. 例3に係る書込を説明するための図である。10 is a diagram for explaining writing according to Example 3. FIG. 例3に係る書込状態を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a writing state according to Example 3. 書込順序を変更した例4に係る垂直走査の動作を示す図である。It is a figure which shows the operation | movement of the vertical scanning which concerns on the example 4 which changed writing order. 例4に係る書込を説明するための図である。10 is a diagram for explaining writing according to Example 4. FIG. 例4に係る書込を説明するための図である。10 is a diagram for explaining writing according to Example 4. FIG. 例4に係る書込状態を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing a write state according to Example 4. 同電気光学装置を適用したプロジェクタの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the projector to which the same electro-optical apparatus is applied. 従来の技術に係る書込を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the writing which concerns on a prior art. 従来の技術に係る書込状態を示す図である。It is a figure which shows the writing state which concerns on a prior art.

符号の説明Explanation of symbols

1…電気光学装置、10…表示パネル、20…処理回路、100…表示領域、105…液晶、110…画素、112…走査線、114…データ線、116…TFT、118…画素電極、120…液晶容量、130…走査線駆動回路、140…シフトレジスタ、150…データ線選択回路、160…サンプリング回路、162…画像信号線、165…TFT、1512、1514、1522、1526…NAND回路、1516、1518、1526、1528…NOT回路、2100…プロジェクタ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Electro-optical apparatus, 10 ... Display panel, 20 ... Processing circuit, 100 ... Display area, 105 ... Liquid crystal, 110 ... Pixel, 112 ... Scan line, 114 ... Data line, 116 ... TFT, 118 ... Pixel electrode, 120 ... Liquid crystal capacitance, 130 ... scanning line driving circuit, 140 ... shift register, 150 ... data line selection circuit, 160 ... sampling circuit, 162 ... image signal line, 165 ... TFT, 1512, 1514, 1522, 1526 ... NAND circuit, 1516, 1518, 1526, 1528 ... NOT circuit, 2100 ... Projector

Claims (7)

複数行の走査線と2m(mは2以上の整数)列毎にブロック化されたデータ線との交差に対応して設けられ、各々は、前記走査線が選択されたときの、前記データ線にサンプリングされたデータ信号に応じた階調となる複数の画素を有する電気光学装置の駆動回路であって、
前記複数行の走査線を所定の順番で選択する走査線駆動回路と、
前記走査線駆動回路によって1行の走査線が選択される期間を分割した第1および第2期間にわたって、それぞれ所定のパルス信号を前記ブロックに対応して順次出力するシフトレジスタと、
前記シフトレジスタによって出力されたパルス信号にしたがって前記ブロックを順番に指定するとともに、前記第1または第2期間の一方では、指定されたブロックに属する2m列のデータ線のうち、奇数列のデータ線をm列選択し、前記第1または第2期間の他方では、指定されたブロックに属する2m列のデータ線のうち、偶数列のデータ線をm列選択するデータ線選択回路と、
m本の画像信号線に供給されたデータ信号を、前記データ線選択回路によって選択されたm列のデータ線にそれぞれサンプリングするサンプリング回路と、
を具備し、
前記データ線選択回路は、
各ブロックに対応して奇数列用および偶数列用の論理回路を備え、
前記奇数列用の論理回路は、前記第1または第2期間の一方である場合に出力される第1イネーブル信号と、前記シフトレジスタによるパルス信号との論理演算により、前記第1または第2期間の一方において奇数列のデータ線をm列選択する信号を出力し、
前記偶数列用の論理回路は、前記第1または第2期間の他方である場合に出力される第2イネーブル信号と、前記シフトレジスタによるパルス信号との論理演算により、前記第1または第2期間の他方において偶数列のデータ線をm列選択する信号を出力する
ことを特徴とする電気光学装置の駆動回路。
Provided in correspondence with the intersection of a plurality of scanning lines and data lines blocked every 2m (m is an integer of 2 or more) columns, each of the data lines when the scanning line is selected A driving circuit of an electro-optical device having a plurality of pixels having gradations according to the data signal sampled in
A scanning line driving circuit for selecting the plurality of scanning lines in a predetermined order;
A shift register that sequentially outputs predetermined pulse signals corresponding to the blocks over a first period and a second period obtained by dividing a period in which one scanning line is selected by the scanning line driving circuit;
The blocks are specified in order according to the pulse signal output from the shift register, and one of the first or second period is an odd-numbered data line among 2m-column data lines belonging to the specified block. A data line selection circuit that selects m columns of even-numbered data lines out of 2m columns of data lines belonging to the specified block in the other of the first or second period;
a sampling circuit for sampling the data signals supplied to the m image signal lines to m columns of data lines selected by the data line selection circuit;
Comprising
The data line selection circuit includes:
Corresponding to each block, it has a logic circuit for odd columns and even columns,
The logic circuit for the odd-numbered column is configured to perform the first or second period by performing a logical operation on a first enable signal output in the case of one of the first or second periods and a pulse signal from the shift register. Output a signal for selecting m columns of odd-numbered data lines in one of
The logic circuit for the even-numbered column performs the first or second period by performing a logical operation on the second enable signal output in the case of the other of the first or second period and the pulse signal by the shift register. A drive circuit for an electro-optical device, wherein a signal for selecting m columns of even-numbered data lines is output on the other side.
前記シフトレジスタは、入力したパルスをクロック信号で順次シフトした各パルス信号を、互いに隣接するブロックの2以上に対応させて出力し、
前記第1イネーブル信号は、前記シフトレジスタによるパルス信号に対応する2以上のブロックにおいて奇数列用の論理回路同士が互いに排他的な信号を出力させるための複数の異なる信号であり、
前記第2イネーブル信号は、前記シフトレジスタによるパルス信号に対応する2以上のブロックにおいて偶数列用の論理回路同士が互いに排他的な信号を出力させるための複数の異なる信号である
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
The shift register outputs each pulse signal obtained by sequentially shifting an input pulse with a clock signal in correspondence with two or more of adjacent blocks,
The first enable signal is a plurality of different signals for causing logic circuits for odd columns to output mutually exclusive signals in two or more blocks corresponding to a pulse signal by the shift register,
The second enable signal is a plurality of different signals for causing even-numbered logic circuits to output mutually exclusive signals in two or more blocks corresponding to a pulse signal from the shift register. The drive circuit of the electro-optical device according to claim 1.
前記シフトレジスタは、入力したパルスをクロック信号で順次シフトした各パルスを、隣接するもの同士でパルス幅が互いに重複させながら出力し、
前記第1イネーブル信号は、パルス幅が互いに重複するパルス信号に対応する2以上のブロックにおいて奇数列用の論理回路同士が互いに排他的な信号を出力させるための複数の異なる信号であり、
前記第2イネーブル信号は、パルス幅が互いに重複するパルス信号に対応する2以上のブロックにおいて偶数列用の論理回路同士が互いに排他的な信号を出力させるための複数の異なる信号である
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
The shift register outputs each pulse obtained by sequentially shifting the input pulse using a clock signal while overlapping the pulse widths between adjacent ones.
The first enable signal is a plurality of different signals for causing logic circuits for odd columns to output mutually exclusive signals in two or more blocks corresponding to pulse signals whose pulse widths overlap each other,
The second enable signal is a plurality of different signals for causing even-numbered logic circuits to output mutually exclusive signals in two or more blocks corresponding to pulse signals whose pulse widths overlap each other. The drive circuit for the electro-optical device according to claim 1.
前記複数行の走査線を、当該走査線の配列方向に沿って少なくとも第1群および第2群に分ける一方、垂直走査期間を少なくとも第1および第2フィールドに分けて、
前記走査駆動回路は、前記第1および第2フィールドのそれぞれにおいて、前記第1および第2群に属する走査線を交互に、かつ、所定の方向に向かって順番に選択する
ことを特徴とする請求項1に記載の電気光学装置の駆動回路。
Dividing the plurality of rows of scanning lines into at least a first group and a second group along an arrangement direction of the scanning lines, and dividing a vertical scanning period into at least first and second fields;
The scanning drive circuit selects the scanning lines belonging to the first and second groups alternately and sequentially in a predetermined direction in each of the first and second fields. Item 8. A drive circuit for an electro-optical device according to Item 1.
複数行の走査線と2m(mは2以上の整数)列毎にブロック化されたデータ線との交差に対応して設けられ、各々は、前記走査線が選択されたときの、前記データ線にサンプリングされたデータ信号に応じた階調となる複数の画素と、
前記複数行の走査線を所定の順番で選択する走査線駆動回路と、
前記走査線駆動回路によって1行の走査線が選択される期間を分割した第1および第2期間にわたって、それぞれ所定のパルス信号を前記ブロックに対応して順次出力するシフトレジスタと、
前記シフトレジスタによって出力されたパルス信号にしたがって前記ブロックを順番に指定するとともに、前記第1または第2期間の一方では、指定されたブロックに属する2m列のデータ線のうち、奇数列のデータ線をm列選択し、前記第1または第2期間の他方では、指定されたブロックに属する2m列のデータ線のうち、偶数列のデータ線をm列選択するデータ線選択回路と、
m本の画像信号線に供給されたデータ信号を、前記データ線選択回路によって選択されたm列のデータ線にそれぞれサンプリングするサンプリング回路と、
を具備し、
前記データ線選択回路は、
各ブロックに対応して奇数列用および偶数列用の論理回路を備え、
前記奇数列用の論理回路は、前記第1または第2期間の一方である場合に出力される第1イネーブル信号と、前記シフトレジスタによるパルス信号との論理演算により、前記第1または第2期間の一方において奇数列のデータ線をm列選択する信号を出力し、
前記偶数列用の論理回路は、前記第1または第2期間の他方である場合に出力される第2イネーブル信号と、前記シフトレジスタによるパルス信号との論理演算により、前記第1または第2期間の他方において偶数列のデータ線をm列選択する信号を出力する
ことを特徴とする電気光学装置。
Provided in correspondence with the intersection of a plurality of scanning lines and data lines blocked every 2m (m is an integer of 2 or more) columns, each of the data lines when the scanning line is selected A plurality of pixels having gradation according to the data signal sampled in
A scanning line driving circuit for selecting the plurality of scanning lines in a predetermined order;
A shift register that sequentially outputs predetermined pulse signals corresponding to the blocks over a first period and a second period obtained by dividing a period in which one scanning line is selected by the scanning line driving circuit;
The blocks are sequentially designated according to the pulse signal output by the shift register, and one of the first or second period is an odd-numbered data line among 2m-column data lines belonging to the designated block. A data line selection circuit that selects m columns of even-numbered data lines out of 2m columns of data lines belonging to the specified block in the other of the first or second period;
a sampling circuit for sampling the data signals supplied to the m image signal lines to m columns of data lines selected by the data line selection circuit;
Comprising
The data line selection circuit includes:
Corresponding to each block, it has a logic circuit for odd columns and even columns,
The logic circuit for the odd-numbered column is configured to perform the first or second period by performing a logical operation on a first enable signal output in the case of one of the first or second periods and a pulse signal from the shift register. Output a signal for selecting m columns of odd-numbered data lines in one of
The logic circuit for the even-numbered column performs the first or second period by performing a logical operation on the second enable signal output in the case of the other of the first or second period and the pulse signal by the shift register. A signal for selecting m columns of even-numbered data lines is output on the other side.
前記第1および第2イネーブル信号を出力する制御回路を有することを特徴とする請求項5に記載の電気光学装置。   6. The electro-optical device according to claim 5, further comprising a control circuit that outputs the first and second enable signals. 請求項5または6に記載の電気光学装置を有することを特徴とする電子機器。
An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 5.
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