JP2007234009A5 - - Google Patents
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- 到着直列化及び符号化済みデータを符号化済みデータパケットに非直列化するように構成された並列化機構と、
前記データパケットが無効であるか否かを判断するように構成されたコードブックと、
前記データパケットが無効であって、該データパケットを符号化するのに用いられる符号化手法の仕様に反しているかを検査するように構成された仕様論理と、
作動時に、前記符号化済みデータパケットが無効である場合に伝送エラーを登録するためのデータパケットエラー論理と、
を含むことを特徴とする受信機。 - 作動時に、仕様論理が、前記データパケットの静的特性及び該データパケットを含むデータのストリームの動的特性を用いて無効性に関して該データパケットを検査することを特徴とする請求項1に記載の受信機。
- 前記到着データは、10ビットコードワードのストリームであり、
作動時に、前記仕様論理は、1と0の個数が前記10ビットコードワードストリーム内で均衡しているか否かを判断する、
ことを特徴とする請求項1に記載の受信機。 - 前記データパケットが無効である場合に増分されるビット誤り率カウンタと、
作動時に前記データパケットが無効の場合にエラーを登録する多重入力署名レジスタ(MISR)と、
前記データパケットが無効である場合に内部レジスタを調べるためにクロックを停止する試験クロック制御構造と、
自己同期するように構成された多重入力署名レジスタ(MISR)とを更に含み、
作動時に、前記MISRは、使用する符号化手法から独立していることを特徴とする請求項1に記載の受信機。 - 前記仕様論理は、4つの状態を有する有限状態機械(FSM)を含み、
作動時に、前記FSMは、前記データパケットが一部を成すデータストリームを追跡するようになっており、
前記FSMは、前記データストリームから開始点を抽出することによって自己同期するようになっており、
さらに、作動時に、前記FSMは、ビット誤り率(BER)の連続測定を中断なしに実施することができるようにエラーから回復するように構成されていることを特徴とする請求項1に記載の受信機。 - 前記仕様論理は、複数の有限状態機械(FSM)を含み、
作動時に、第1のFSMは、前記符号化済みデータパケットを含むデータストリームのDC均衡を追跡し、第2のFSMは、該データストリームの移動不均衡(RD)値を追跡する、
ことを特徴とする請求項1に記載の受信機。 - 前記仕様論理は、
エラー検出回路、
を含み、
前記エラー検出回路は、
データストリーム内の符号化済みデータパケットのDC値を判断するように構成された同時コードチェッカー(C3)と、
前記データストリームの状態を追跡するように構成された有限状態機械(FSM)と、
を含み、
作動時に、前記C3の論理は、前記FSMに前記符号化済みデータパケットの前記DC値を送信し、該FSMは、該DC値を用いて前記データストリームの現在の状態が与えられた上でエラーが発生したかを判断する、
ことを特徴とする請求項1に記載の受信機。 - データの保全性を検証する方法であって、
到着直列化及び符号化済みデータパケットを受信する段階と、
前記到着直列化及び符号化済みデータパケットを非直列化する段階と、
データパケットの有効性を検査する段階と、
前記符号化済みデータパケットの試験応答値を導出する段階と、
前記試験応答値が有効又は無効試験応答値であるかを判断する段階と、
前記試験応答値が無効であった場合に、前記到着非直列化及び符号化済みデータパケットに失敗のフラグを立てる段階と、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記試験応答値は、直流(DC)値、移動不均衡(RD)値、又は該DC及びRD値の両方の組合せを含むことを特徴とする請求項8に記載の方法。
- 前記到着データパケットは、DC均衡したクロック埋め込み符号化手法を用いて符号化された10ビットコードワードであり、
非直列化及び符号化済みデータパケットの前記DC値の判断が、前記10ビットコードワード内の1及び0の比率を伴っており、
前記試験応答値が無効であるか否かを前記判断する段階は、前記符号化済みデータパケットを含むデータストリームのRD値をモデル化する有限状態機械を用いるようになっており、
前記データパケットに失敗のフラグが立てられた場合にビット誤り率カウンタを増分する段階と、
多重入力署名レジスタ(MISR)を用いてエラーを登録する段階と、
前記データパケットに失敗のフラグが立てられた場合にクロックを停止する段階と、
前記エラーがどこで発生したかを判断するために内部レジスタを調べる段階と、
を更に含むことを特徴とする請求項8に記載の方法。 - データストリーム内の符号化済みデータパケットのDC値を判断するように構成された同時コードチェッカー(C3)論理と、
前記データストリームの状態を追跡するように構成された有限状態機械(FSM)と、
を含み、
作動時に、前記C3論理は、前記FSMに前記符号化済みデータパケットの前記DC値を送信し、該FSMは、該DC値を用いて前記データストリームの現在の状態が与えられた上でエラーが発生したかを判断する、
ことを特徴とするエラー検出回路。 - 前記FSMは、前記データストリームのDC状態及び前記データストリームの移動不均衡(RD)状態の少なくともいずれか1つを追跡してエラーが発生したかを判断することを特徴とする請求項11に記載のエラー検出回路。
- 前記C3論理は、加算器及びDCマッパー、コードエラーチェッカー(CEC)及びDC計算器を含み、
前記CECは、前記データパケットが該データパケットを符号化する際の符号化手法に対して有効なコードワードであるかを判断するように構成されており、
前記DC計算器は、前記符号化済みデータパケットの前記DC値に対応する信号をアサートするように構成され、
作動時に、前記アサート信号は、エラーが発生したことを判断するために前記FSMによって用いられる、ことを特徴とする請求項11に記載のエラー検出回路。 - 前記C3論理は、コードエラーチェッカー(CEC)、RD型回路、及びDC回路を含み、
前記RD型回路は、前記符号化済みパケットのRD型から導出された信号をアサートするように構成され、前記DC回路は、該パケットにDC値を割り当てるように構成され、 マッピング回路が、該割り当てたDC値をマップ信号としてアサートするように構成されており、
作動時に、前記RD型信号及び前記マップ信号は、エラーが発生したか否かを判断するために前記FSMによって用いられる、
ことを特徴とする請求項11に記載のエラー検出回路。 - システム内でデータストリームを用いて同時コードチェッカー(C3)の機能を試験する方法であって、
同時コードチェッカー(C3)論理内の少なくとも1つのレジスタをプログラムしてシステムを試験モードに設定する段階と、
コードワードをモニタし、検出した有効コードワードの個数を判断する段階と、
所定数の有効コードワードを検出した場合には、コード区切り文字検出器(CDD)内の試験制御回路が、移動不均衡有限状態機械(RD FSM)を使用可能にしてデータストリームの有効性を検査する段階と、
前記「RD FSM」が使用可能にされた時に、該「RD FSM」を用いて前記データストリームをモニタし、該データストリームに対して適正に同期化する段階と、
同期後に、前記C3が、試験仕様を完了まで継続的に追跡する段階と、
試験が完了した時に、前記C3論理を使用不可にする段階と、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記システムを試験モードに前記設定する段階は、該システムをオンライン試験モードに設定する段階を含み、
前記オンライン試験モードは、
前記コード区切り文字検出器(CDD)内の有効コードワード(valCW)を使用可能にして、データストリームの開始を同期化する段階と、
利用可能な試験仕様から試験仕様を選択するために、CEC及びDC/RD制御信号(DC又はRD仕様検査)を使用可能にするようにコードエラーチェッカー制御信号(CEC_en)を設定する段階と、
を更に含み、
前記利用可能な試験仕様は、DC仕様、RD仕様、及び該DC及びRD仕様の組合せを含むことを特徴とする請求項15に記載の方法。 - 最初に通常のシステム作動を開始する段階、及び次に該システムをオンライン試験モードに設定する段階を含み、
前記システムが作動中に、前記C3論理内の「IC間」バス(I2C)レジスタをプログラムして該システムをオンライン試験モードに設定する段階を更に含むことを特徴とする請求項15に記載の試験する方法。 - 前記C3を前記使用不可にする段階は、前記試験制御ユニットを使用不可にすることによって、または前記I2Cを通じて使用不可信号をプログラムすることによって達成され、
同期後に前記試験仕様を完了まで前記継続的に追跡する段階は、エラーに遭遇した場合に「ビット誤り率(BER)」カウンタを増分する段階と、
前記BERカウンタの内容又は計数を観測して、現場でのチャンネル品質の指示としてエラーの個数を判断する段階とを含み、
前記試験仕様は、DC試験仕様、RD試験仕様、及びこれらの組合せを含む試験仕様の組から選択されることを特徴とする請求項15に記載の方法。 - ハードウエア装置内で同時コードチェッカーを実施するのに必要な論理素子の個数及び半導体面積を低減するために同時コードチェッカー論理回路を最適化する方法であって、
コードワードエラーチェッカーの既存の無効出力信号及び/又はコードワード型に基づいて無指定論理レベル入力条件を表す真理値表入力を識別する段階と、
前記真理値表入力に対応する合成される出力機能を表す真理値表出力を識別する段階と、
前記識別された無指定真理値表入力及び前記識別された真理値表出力を有する真理値表を用いて同時コードチェッカー論理回路のための設計を行う段階と、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記真理値表は、10ビットコードワードに適用されるようになっており、
前記真理値表内の前記無指定は、同時コードチェッカーのDC出力機能、RDT出力機能、又はDC出力機能とRDT出力機能の組合せに対する無指定であり、
前記無指定入力を識別しない設計に比較して少なくとも70パーセントだけ指定入力の個数を低減することを特徴とする請求項19に記載の方法。 - 少なくとも1つの試験仕様を含むコードチェッカーと、
直列データパケットを含む直列化され、符号化されたデータ送信を受信し、非直列化するように構成され、前記コードチェッカーに前記非直列化されたデータパケットと通信するように構成された並列化機構と、
受信機が通常機能モードで動作するシステムで使用されるとき、前記コードチェッカーが前記符号化され、非直列化されたデータパケットを受信し、ビット誤り率(BER)を測定することによって有効性又は無効性をチェックするように構成されており、
前記コードチェッカーが、作動中、
前記データパケットが一部であるデータストリームを追跡し、該データストリームから開始点を抽出することによって自己同期を図り、エラーから回復し、ビット誤り率(BER)の連続的な測定を中断なく実行できるように構成された有限状態機械(FSM)を備えていることを特徴とする受信機。 - 更にコードブックを含み、
符号化されたデータパケットが誤りチェックされ、一方で誤り関数または前記コードブックに関連して少なくとも1つの試験パターン仕様を用いて符号化される前記データパケットが無効であるか否かを判断するように構成されており、
更に、受信した符号化データパケットを復号するように構成された復号機を含み、
前記少なくとも1つの試験パターン仕様が少なくとも1つのDC仕様を含み、前記誤りチェックが、前記データパケットが符号化されている間に実行されることを特徴とする請求項21に記載の受信機。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US76060106P | 2006-01-20 | 2006-01-20 | |
US60/760,601 | 2006-01-20 | ||
US11/476,457 US7840861B2 (en) | 2006-06-27 | 2006-06-27 | Scan-based testing of devices implementing a test clock control structure (“TCCS”) |
US11/476,457 | 2006-06-27 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007234009A JP2007234009A (ja) | 2007-09-13 |
JP2007234009A5 true JP2007234009A5 (ja) | 2010-03-04 |
JP5174357B2 JP5174357B2 (ja) | 2013-04-03 |
Family
ID=37898261
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007037099A Expired - Fee Related JP5174357B2 (ja) | 2006-01-20 | 2007-01-19 | 組込み自己試験及びデバッグ機能を有する同時コードチェッカー及びハードウエア効率的高速i/o |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1814234B1 (ja) |
JP (1) | JP5174357B2 (ja) |
KR (1) | KR101423328B1 (ja) |
DE (1) | DE602007011840D1 (ja) |
TW (1) | TWI455489B (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8816885B2 (en) | 2012-06-29 | 2014-08-26 | Intel Corporation | Data interface alignment |
CN106788446A (zh) * | 2016-11-25 | 2017-05-31 | 电子科技大学 | 一种新的8b/10b编码实现方法 |
CN108120917B (zh) * | 2016-11-29 | 2020-05-05 | 深圳市中兴微电子技术有限公司 | 测试时钟电路确定方法及装置 |
KR20190099930A (ko) * | 2018-02-20 | 2019-08-28 | 삼성전자주식회사 | 완전 연결 네트워크의 데이터 입력 및 출력을 제어하는 방법 및 장치 |
US11662381B2 (en) | 2021-08-18 | 2023-05-30 | International Business Machines Corporation | Self-contained built-in self-test circuit with phase-shifting abilities for high-speed receivers |
US11528102B1 (en) | 2021-08-18 | 2022-12-13 | International Business Machines Corporation | Built-in-self-test and characterization of a high speed serial link receiver |
US12021548B2 (en) | 2022-05-10 | 2024-06-25 | Samsung Display Co., Ltd. | System and method for efficient transition encoding for decimation CDR |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53138316A (en) * | 1977-05-09 | 1978-12-02 | Fujitsu Ltd | Modulating system |
US4486739A (en) * | 1982-06-30 | 1984-12-04 | International Business Machines Corporation | Byte oriented DC balanced (0,4) 8B/10B partitioned block transmission code |
JPS6349947A (ja) * | 1986-08-20 | 1988-03-02 | Hitachi Cable Ltd | パリテイチエツク方法 |
JPH06343069A (ja) * | 1991-02-07 | 1994-12-13 | Nec Corp | ディジタルネットワークにおけるキャリアリレー信号用回線品質監視方式 |
US5387911A (en) * | 1992-02-21 | 1995-02-07 | Gleichert; Marc C. | Method and apparatus for transmitting and receiving both 8B/10B code and 10B/12B code in a switchable 8B/10B transmitter and receiver |
KR950008490B1 (ko) * | 1993-03-23 | 1995-07-31 | 대우전자주식회사 | 8/11 복호기의 오류플래그 발생장치 |
KR960009900B1 (ko) * | 1993-06-11 | 1996-07-24 | 박성규 | 오비육비 블록코드를 이용한 코딩/디코딩 장치 |
US6195764B1 (en) | 1997-01-30 | 2001-02-27 | Fujitsu Network Communications, Inc. | Data encoder/decoder for a high speed serial link |
US5841790A (en) * | 1997-04-08 | 1998-11-24 | International Business Machines Corporation | Apparatus for testing an adapter card ASIC with reconfigurable logic |
JPH11352188A (ja) * | 1998-06-11 | 1999-12-24 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US6442722B1 (en) * | 1999-10-29 | 2002-08-27 | Logicvision, Inc. | Method and apparatus for testing circuits with multiple clocks |
US7007213B2 (en) * | 2001-02-15 | 2006-02-28 | Syntest Technologies, Inc. | Multiple-capture DFT system for detecting or locating crossing clock-domain faults during self-test or scan-test |
US6614369B1 (en) * | 2002-03-05 | 2003-09-02 | International Business Machines Corporation | DC balanced 7B/8B, 9B/10B, and partitioned DC balanced 12B/14B, 17B/20B, and 16B/18B transmission codes |
US7131081B2 (en) * | 2003-02-14 | 2006-10-31 | Nec Laboratories America, Inc. | Scalable scan-path test point insertion technique |
JP4317715B2 (ja) * | 2003-07-01 | 2009-08-19 | 株式会社日立製作所 | 自己診断型論理回路 |
JP2005229446A (ja) * | 2004-02-13 | 2005-08-25 | Aica Kogyo Co Ltd | シリアルデータ通信方法 |
JP3994981B2 (ja) * | 2004-03-30 | 2007-10-24 | 日本電気株式会社 | エラー測定装置 |
US7155651B2 (en) * | 2004-04-22 | 2006-12-26 | Logicvision, Inc. | Clock controller for at-speed testing of scan circuits |
CN100395557C (zh) * | 2005-03-04 | 2008-06-18 | 清华大学 | 采用加权扫描选通信号的基于扫描的自测试结构的自测试方法 |
-
2007
- 2007-01-19 TW TW096102204A patent/TWI455489B/zh not_active IP Right Cessation
- 2007-01-19 DE DE602007011840T patent/DE602007011840D1/de active Active
- 2007-01-19 JP JP2007037099A patent/JP5174357B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-01-19 EP EP07250229A patent/EP1814234B1/en active Active
- 2007-01-22 KR KR1020070006687A patent/KR101423328B1/ko active IP Right Grant
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