JP2007228574A - 磁気トンネル接合セルを利用した排他的論理和論理回路及び該論理回路の駆動方法 - Google Patents

磁気トンネル接合セルを利用した排他的論理和論理回路及び該論理回路の駆動方法 Download PDF

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Abstract

【課題】従来に比べて動作速度の改善されたMTJセルを利用したXOR論理回路を提供する。
【解決手段】MTJセルを備え、MTJセルの抵抗を第1抵抗値と第2抵抗値との間で変換させるためのMTJセル駆動部と、基準抵抗と、基準抵抗とMTJセルとの抵抗値を比較して論理“0”または論理“1”信号を出力する比較部と、を備えるXOR論理回路において、MTJセル駆動部は、MTJセルの上下部にそれぞれ配置された上部電極及び下部電極と、上部電極上を横切る平行な第1入力ラインないし第3入力ラインと、を備えることを特徴とするMTJセルを利用したXOR論理回路である。
【選択図】図5

Description

本発明は、磁気トンネル接合(Magnetic Tunneling Junction;MTJ)セルを利用した排他的論理和(Exclusive−OR:XOR)論理回路及びその駆動方法に係り、さらに詳細には、従来に比べて動作速度の改善されたMTJセルを利用したXOR論理回路及びその駆動方法に関する。
MTJセルは、二つの強磁性層と、その間に位置する数nmの厚さを有する絶縁膜(すなわち、トンネルバリア)とから形成されるものであって、二つの強磁性層の磁化方向によって抵抗が変わる特性を有している。例えば、二つの強磁性層の磁化方向が相互平行である場合には、トンネルバリアのトンネル抵抗が最も低くなりつつ、MTJセルの抵抗が低くなり、磁化方向が相互半平行である場合には、MTJセルの抵抗が高まる。これまでは、このようなMTJセルの特性を利用してデータを記録するメモリ素子、すなわち、磁気ランダムアクセスメモリ(Magnetic Random Access Memory;MRAM)を製造する研究が行われてきた。最近には、MTJセルを利用してXOR論理回路を製造する方法が開発された。したがって、MTJセルを利用してメモリ素子だけでなく、特定の機能が行える非メモリ半導体チップの製造も可能となった。
図1は、従来のXOR論理回路を構成するための従来のMTJセル駆動部の構造を概略的に示している。図1に示すように、前記MTJセル駆動部11は、MTJセル13、前記MTJセル13の上下部にそれぞれ配置された上部電極14、下部電極12、及び前記上部電極14上を横切る二つの平行な入力ライン15A、15Bを備えている。また、前記MTJセル13は、反強磁性層13a上に固定強磁性層13b、トンネルバリア層13c及び自由強磁性層13dを備える。
このような構造において、二つの入力ライン15A、15Bに同じ方向の電流が流れる場合には、入力ライン15A、15Bの周りに発生する磁場により、自由強磁性層13dの磁化方向が変わる。一方、二つの入力ライン15A、15Bに逆方向の電流が流れる場合には、磁場が相殺されて自由強磁性層13dの磁化方向が変わらない。また、上下部電極12、14に電流が流れなければ、前記反強磁性層13aにカップリングされた固定強磁性層13bの磁化方向が変わらない。しかし、上下部電極12、14に電流が流れる場合には、熱が発生しつつ反強磁性層13aと固定強磁性層13bとの間のカップリングが弱まる。この状態で、二つの入力ライン15A、15Bに同じ方向の電流が流れれば、固定強磁性層13bの磁化方向が変わる。
したがって、二つの入力ライン15A、15B及び上下部電極12、14に印加される電流をそれぞれ制御すれば、図2Aないし図2Eのように、MTJセル13の多様な動作状態が得られる。図2Aないし図2Eにおいて、入力A(INPUT A)は、入力ラインA 15Aに印加される電流を表し、入力B(INPUT B)は、入力ラインB 15Bに印加される電流を表し、入力C(INPUT C)は、上下部電極12、14に印加される電流を表す。また、前記二つの入力ライン15A、15Bに流れる電流の方向が+x方向(すなわち、+I)である場合を論理“1”と、−x方向(すなわち、−I)である場合を論理“0”と定義する。
このとき、XOR論理回路の動作のためには、図2Aのように、MTJセル13を初期化させる2段階の過程が必要である。すなわち、上下部電極12、14に電流を印加した状態で、二つの入力ライン15A、15Bに何れも−Iの電流を印加する。それにより、図面を参照すれば、固定強磁性層13b及び自由強磁性層13dは、何れも左側に磁化される。その後、上下部電極12、14に電流を印加せず、二つの入力ライン15A、15Bに何れも+Iの電流を印加する。それにより、自由強磁性層13dのみが右側に磁化される。結果的に、初期化後のMTJセル13は、固定強磁性層13bが左側に、自由強磁性層13dが右側に磁化された状態である。
初期化後には、図2Bないし図2Dに示すように、上下部電極12、14に電流を印加した状態で、二つの入力ライン15A、15Bに電流を印加すれば、前記二つの入力ライン15A、15Bに印加される電流の方向によってMTJセル13の抵抗値が高抵抗(論理“1”)または低抵抗(論理“0”)に決定される。例えば、図2C及び図2Dのように、二つの入力ライン15A、15Bに印加される電流の方向が異なれば、MTJセル13は、初期化状態を維持して高抵抗Rを有する。また、図2B及び図2Eのように、二つの入力ライン15A、15Bに印加される電流の方向が同じであれば、固定強磁性層13bと自由強磁性層13dとの磁化方向が同じくなって、MTJセル13は、低抵抗Rを有する。
したがって、二つの入力ライン15A、15Bに印加される電流の相対的な方向によってMTJセル13の抵抗が変化するので、MTJセル13の抵抗を基準抵抗と比較し、その比較結果によって“0”または“1”の出力を発生させれば、XOR論理回路が完成する。図3は、MTJセル13の抵抗を基準抵抗と比較して最終的な出力を発生させるXOR論理回路10の構造を概略的に示す。図3に示すように、前記XOR論理回路10は、図1に示すMTJセル駆動部11、基準抵抗16及びMTJセル13の抵抗と基準抵抗16とを比較するためのアンプ18を備える。ここで、MTJセル13と基準抵抗16の一側とは共に接地され、他側は、アンプ18の二つの入力端子にそれぞれ連結される。前記基準抵抗16の抵抗値は、MTJセル13の低抵抗値Rと同じである。MTJセル13の抵抗が基準抵抗16の抵抗値より大きければ、アンプ18の出力は論理“1”になり、基準抵抗16の抵抗値と同じであれば、アンプ18の出力は論理“0”になる。このために、アンプ18のオフセット電圧VOSは、−Isens・△R<VOS<0(△R=R−R)を満たさなければならない。それにより、二つの入力ライン15A、15Bに印加される電流による前記XOR論理回路10の出力は、図4に示す表の通りである。
ところが、前述の従来のXOR論理回路10の場合、一回の論理動作後には、次の論理動作のために必ずMTJセル13を初期化せねばならないという短所がある。すなわち、論理動作後には、固定強磁性層13b及び自由強磁性層13dの磁化方向が変化するので、図2Aに示す2段階の過程を通じて固定強磁性層13b及び自由強磁性層13dの磁化方向を初期化せねばならない。したがって、従来のXOR論理回路10は、動作速度が遅いという問題がある。また、従来の場合、固定強磁性層13bの磁化方向を変化させるためには、MTJセル13内に電流を印加して熱を発生させねばならない。これによって、反強磁性層13aと固定強磁性層13bとの間のカップリングが劣化しやすく、これは、MTJセル13の寿命短縮を招きうる。
本発明は、前記問題点を解決するためになされたものであって、初期化過程が一段階であるか、または初期化過程が要求されないMTJセルを利用した高速のXOR論理回路及びその駆動方法を提供することを目的とする。
本発明の他の目的は、従来に比べて寿命の延びたMTJセルを利用したXOR論理回路を提供することである。
本発明の一類型によるMTJセルを利用したXOR論理回路は、MTJセルを備え、前記MTJセルの抵抗を第1抵抗値と第2抵抗値との間で変換させるためのMTJセル駆動部と、基準抵抗と、前記基準抵抗とMTJセルとの抵抗値を比較して論理“0”または論理“1”信号を出力する比較部と、を備え、前記MTJセル駆動部は、前記MTJセルの上下部にそれぞれ配置された上部電極及び下部電極と、前記上部電極上を横切る平行な第1入力ラインないし第3入力ラインと、を備えることを特徴とする。
前記MTJセルは、下部強磁性層、前記下部強磁性層上に配置されたトンネルバリア層、及び前記トンネルバリア層上に配置された上部強磁性層を備えることを特徴とする。
本発明によれば、前記第1入力ラインないし第3入力ラインに印加される電流の方向が何れも同じである場合、その電流方向によって前記下部強磁性層及び上部強磁性層の磁化方向が何れも変わり、前記第1入力ラインないし第3入力ラインに印加される電流のうち二つの電流の方向が同じである場合、その電流方向によって前記上部強磁性層の磁化方向のみが変わることを特徴とする。
論理動作前に、前記第1入力ラインないし第3入力ラインに同じ方向に電流を印加して、前記下部強磁性層及び上部強磁性層が何れも同じ方向に磁化されるようにMTJセルを初期化する。
論理動作時、第1入力ラインに印加される電流の方向は、初期化時と逆に維持され、第2入力ライン及び第3入力ラインに印加される電流の方向は、入力される論理値によって決定される。
前記基準抵抗の抵抗値は、前記MTJセルの第1抵抗値と同一でありうる。この場合、前記比較部は、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値と同じである場合、論理“0”信号を出力し、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力する。
または、前記基準抵抗の抵抗値は、前記MTJセルの第1抵抗値と第2抵抗値との間にありうる。この場合、前記比較部は、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値より小さい場合、論理“0”信号を出力し、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力する。
前記平行な第1入力ラインないし第3入力ラインは、相互に対して縦方向に配置されることが望ましい。
一方、本発明の他の類型によるXOR論理回路は、第1MTJセルを備え、前記第1MTJセルの抵抗を第1抵抗値と第2抵抗値との間で変換させるための第1MTJセル駆動部と、第2MTJセルを備え、前記第2MTJセルの抵抗を第1抵抗値と第2抵抗値との間で変換させるための第2MTJセル駆動部と、前記第1MTJセルと第2MTJセルとの抵抗値を比較して、論理“0”または論理“1”信号を出力する比較部と、を備え、前記それぞれのMTJセル駆動部は、前記MTJセルの上下部にそれぞれ配置された上部電極及び下部電極と、前記上部電極上を横切る平行な第1入力ラインないし第3入力ラインと、を備えることを特徴とする。
本発明によれば、前記それぞれのMTJセルは、反強磁性層と、前記反強磁性上に配置され、磁化方向が固定されている固定強磁性層と、前記固定強磁性層上に配置されたトンネルバリア層と、前記トンネルバリア層上に配置され、磁化方向が変化しうる自由強磁性層と、を備えることを特徴とする。
また、前記自由強磁性層の磁化方向は、前記第1入力ラインないし第3入力ラインに印加される電流のうち、同じ方向に印加される二つ以上の電流の方向によって決定されることを特徴とする。
論理動作時、前記第1MTJセル駆動部の第1入力ラインに印加される電流と、前記第2MTJセル駆動部の第1入力ラインに印加される電流との方向は相互逆方向であり、前記第1MTJセル駆動部及び第2MTJセル駆動部の第2入力ライン及び第3入力ラインに印加される電流の方向は、入力される論理値によって決定されうる。
MTJセルの抵抗値が相対的に大きい場合を論理“1”、相対的に小さい場合を論理“0”とするとき、前記第1MTJセルは、NAND論理回路として動作し、第2MTJセルは、NOR論理回路として動作できる。
または、前記第1MTJセルは、OR論理回路として動作し、第2MTJセルは、AND論理回路として動作できる。
この場合、前記比較部は、前記第1MTJセルの抵抗値が第2MTJセルの抵抗値と同じである場合、論理“0”信号を出力し、前記第1MTJセルの抵抗値が第2MTJセルの抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力する。
一方、本発明のさらに他の類型によるXORセルを利用したXOR論理回路の駆動方法は、下部強磁性層、トンネルバリア層及び上部強磁性層が順に積層されたMTJセルの上面に横切る平行な第1入力ラインないし第3入力ラインに同じ方向に電流を印加することによって、前記上部強磁性層及び下部強磁性層が同じ方向に磁化されるようにMTJセルを初期化するステップと、前記第1入力ラインに印加される電流の方向を初期化時とは逆に維持し、入力される論理値によって前記第2入力ライン及び第3入力ラインにそれぞれ電流を印加するステップと、基準抵抗とMTJセルとの抵抗値を比較して論理“0”または論理“1”信号を出力するステップと、を含むことを特徴とする。
本発明に係るXOR論理回路は、初期化過程が1段階に縮少されるか、または初期化過程が全く不要である。したがって、従来のXOR論理回路に比べて動作速度を大きく改善できる。さらに、MTJセル内に直接的に電流を印加する必要がないため、MTJセル内の強磁性層が劣化しない。したがって、従来のXOR論理回路に比べて寿命を延長させうる。
以下、図面を参照して、本発明の望ましい実施形態をさらに詳細に説明する。
図5は、本発明の一実施形態に係るXOR論理回路を構成するためのMTJセル駆動部の構造を概略的に示している。図5に示すように、前記MTJセル駆動部21は、MTJセル23、前記MTJセル23の上下部にそれぞれ配置された上部電極24、下部電極22、及び前記上部電極24上を横切る三つの平行な入力ライン25A、25B、25Sを備えている。また、前記MTJセル23は、下部強磁性層23a、前記下部強磁性層23a上に配置されたトンネルバリア層23b、及び前記トンネルバリア層23b上に配置された上部強磁性層23cを備える。図5に示すように、前記三つの平行な入力ライン25A、25B、25Sは、相互に対して縦方向に配置されていることが望ましい。
本発明に係るMTJセル23の場合、下部強磁性層23aの下部に前記下部強磁性層23aと強い強磁性交換結合を行う反強磁性層が配置されていないため、三つの入力ライン25A、25B、25Sに印加される電流の方向によって、下部強磁性層23aの磁化方向が変わりうる。すなわち、三つの入力ライン25A、25B、25Sに何れも同じ方向の電流が流れる場合には、その電流方向によって前記下部強磁性層23a及び上部強磁性層23cの磁化方向が何れも変わる。また、前記三つの入力ライン25A、25B、25Sのうち何れか二つの入力ラインに印加される電流の方向が同じである場合、入力ライン25A、25B、25Sの周りに発生する磁場が弱まって、電流方向によって上部強磁性層23cの磁化方向のみが変わる。例えば、図5において、+x方向に流れる電流をI、−x方向に流れる電流を−Iと定義するとき、三つの入力ライン25A、25B、25Sに何れも電流Iが印加されれば、二つの強磁性層23a、23cは、何れも図面において右側に磁化される。また、何れか二つの入力ラインにのみ電流Iが印加され、他の入力ラインには−Iが印加される場合、上部強磁性層23cのみが右側に磁化される。一方、三つの入力ライン25A、25B、25Sに何れも電流−Iが印加されれば、二つの強磁性層23a、23cは、何れも左側に磁化され、何れか二つの入力ラインにのみ電流−Iが印加されれば、上部強磁性層23cのみが左側に磁化される。
したがって、三つの入力ライン25A、25B、25Sに印加される電流を適切に制御すれば、図6Aないし図6Eのように、MTJセル23の多様な動作状態が得られる。図6Aないし図6Eにおいて、入力Aは、入力ラインA 25Aに印加される電流を表し、入力Bは、入力ラインB 25Bに印加される電流を表し、入力Sは、入力ラインS 25Sに印加される電流を表す。また、前記三つの入力ライン25A、25B、25Sに流れる電流が+Iである場合を論理“1”と、−Iである場合を論理“0”と定義する。
このとき、XOR論理回路の動作のためには、図6Aのように、MTJセル23を初期化させる必要がある。すなわち、三つの入力ライン25A、25B、25Sに何れも−Iの電流を印加して、下部強磁性層23a及び上部強磁性層23cを何れも左側に磁化させる。したがって、2段階の初期化過程が要求された従来の技術とは異なり、本発明によれば、ただ1段階のみを通じて初期化が行われる。
初期化後には、図6Bないし図6Eに示すように、XOR論理動作が行われる。論理動作時、入力ラインS 25Sに印加される電流の方向は、初期化時と逆である+Iに維持され、入力ラインA 25A及び入力ラインB 25Bに印加される電流の方向は、入力される論理値によって決定される。例えば、図6Bのように、入力ラインS 25Sに+I、入力ラインA 25A及び入力ラインB 25Bに−Iが印加される場合、MTJセル23の上部強磁性層23c及び下部強磁性層23aは、初期化と同じ磁化方向を維持する。したがって、上部強磁性層23c及び下部強磁性層23aの磁化方向が同じであるので、MTJセル23の抵抗値は、低抵抗Rを有する。ここで、低抵抗Rの状態を論理値“0”と定義すれば、前記入力ラインA 25A及び入力ラインB 25Bに入力された論理値が何れも“0”であるとき、MTJセル23の状態は、論理値“0”となる。
また、図6Cのように、入力ラインS 25S及び入力ラインB 25Bに+I、入力ラインA 25Aに−Iが印加される場合、上部強磁性層23cの磁化方向が右側に変化し、MTJセル23の抵抗値は、高抵抗Rを有する。したがって、入力ラインA 25A及び入力ラインB 25Bに入力された論理値がそれぞれ“0”と“1”であるとき、MTJセル23の状態は、論理値“1”となる。また、図6Dのように、入力ラインS 25S及び入力ラインA 25Aに+I、入力ラインB 25Bに−Iが印加される場合、上部強磁性層23cの磁化方向が右側に変化し、MTJセル23の抵抗値は、高抵抗Rを有する。したがって、入力ラインA 25A及び入力ラインB 25Bに入力された論理値がそれぞれ“1”と“0”であるとき、MTJセル23の状態は、論理値“1”となる。最後に、図6Eのように、三つの入力ライン25A、25B、25Sに何れも+Iが印加される場合、下部強磁性層23a及び上部強磁性層23cの磁化方向が何れも右側に変化し、MTJセル23の抵抗値は、低抵抗Rを有する。したがって、入力ラインA 25A及び入力ラインB 25Bに入力された論理値が何れも“1”であるとき、MTJセル23の状態は、論理値“0”となる。
最終的な論理値の出力は、前記MTJセル23の抵抗を基準抵抗と比較することによって行われる。図7は、前述のMTJセル駆動部21、基準抵抗26及び比較部27を備える本発明に一実施形態に係る完成したXOR論理回路20を示す。図7において基準抵抗26は、例えば、MTJセル23の低抵抗状態の抵抗値Rを有しうる。この場合、前記比較部27は、MTJセル23の抵抗値が基準抵抗26の抵抗値と同じである場合、論理“0”信号を出力し、MTJセル23の抵抗値が基準抵抗26の抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力する。他の実施形態として、前記基準抵抗26の抵抗値がMTJセル23の低抵抗値と高抵抗値との間にありうる。この場合、前記比較部27は、MTJセル23の抵抗値が基準抵抗26の抵抗値より小さい場合、論理“0”信号を出力し、MTJセル23の抵抗値が基準抵抗26の抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力する。
前述の本発明に係るXOR論理回路20は、論理動作前後に常にMTJセル23の下部強磁性層23aと上部強磁性層23cとの磁化方向を初期化せねばならないという点は、従来のXOR論理回路と同じである。しかし、ただ1段階で初期化が可能であるため、従来のXOR論理回路に比べて1.5倍速い動作速度を具現できる。
一方、図8Aないし図8Eは、MTJセル23を駆動する他の実施形態として、図6Aないし図6Eの場合と比較するとき、初期化時の電流の印加方向が完全に逆である。すなわち、図8Aに示すように、三つの入力ライン25A、25B、25Sに何れも+Iの電流を印加して、下部強磁性層23aと上部強磁性層23cとを何れも右側に磁化させる。初期化後には、図8Bないし図8Eに示すように、論理動作時、入力ラインS 25Sに印加される電流の方向は、初期化時と逆である−Iに維持される。しかし、入力ラインA 25A及び入力ラインB 25Bに印加される電流の方向は、図6Bないし図6Eと同様に、入力される論理値によって決定される。この場合にも、入力ラインA 25A及び入力ラインB 25Bに何れも−Iが印加されるか、または何れも+Iが印加される場合、MTJセル23は、低抵抗Rを有する。また、入力ラインA 25A及び入力ラインB 25Bのうち何れか一つには−Iが印加され、他の一つには+Iが印加される場合、MTJセル23は、高抵抗Rを有する。
図9は、本発明の他の実施形態に係るXOR論理回路を構成するためのMTJセル駆動部の構造を概略的に示している。図9に示すように、前記MTJセル駆動部31は、MTJセル33、前記MTJセル33の上下部にそれぞれ配置された上部電極34、下部電極32、及び前記上部電極34上を横切る三つの平行な入力ライン35A、35B、35Sを備えている。また、前記MTJセル33は、反強磁性層33a、前記反強磁性層33a上に配置された固定強磁性層33b、前記固定強磁性層33b上に配置されたトンネルバリア層33c、及び前記トンネルバリア層33c上に配置された自由強磁性層33dを備える。図9に示すように、前記三つの平行な入力ライン35A、35B、35Sは、相互に対して縦方向に配置されていることが望ましい。
本実施形態に係るMTJセル33の場合、固定強磁性層33bの下部に前記固定強磁性層33bと強い強磁性交換結合を行う反強磁性層33aが配置されている。したがって、前記固定強磁性層33bは、三つの入力ライン35A、35B、35Sに印加される電流の方向に関係なく磁化方向が変わらない。例えば、前記固定強磁性層33bの磁化方向は、右側に固定されたまま変化しない。一方、自由強磁性層33dは、三つの入力ライン35A、35B、35Sのうちいずれか二つ以上の入力ラインに印加される電流の方向が同じである場合、その電流方向によって磁化方向が変わる。例えば、図9において、+x方向に流れる電流をI、−x方向に流れる電流を−Iと定義するとき、前記三つの入力ライン25A、25B、25Sのうち二つ以上で電流Iが印加されれば、自由強磁性層33dは、図面において右側に磁化される。また、前記三つの入力ライン25A、25B、25Sのうち二つ以上に電流−Iが印加されれば、前記自由強磁性層33dは、図面において左側に磁化される。
本実施形態に係るXOR論理回路30の場合、図11に示すように、個別的に動作する二つのMTJセル駆動部31、31’及び比較部37を有する。前記比較部37は、二つのMTJセル駆動部31、31’の抵抗値を比較して、その結果によって論理“0”または論理“1”を出力する。初期化過程なしに論理動作を行うために、前記第1MTJセル駆動部31の入力ラインA 35A及び入力ラインB 35Bと、第2MTJセル駆動部31’の入力ラインA 35A及び入力ラインB 35Bとに印加される電流の方向は同じである。一方、前記第1MTJセル駆動部31の入力ラインS 35Sと第2MTJセル駆動部31’の入力ラインS 35Sとに印加される電流の方向は、相互逆である。
例えば、第1MTJセル駆動部31の入力ラインS 35Sに印加される電流は、−Iであり、第2MTJセル駆動部31’の入力ラインS 35Sに印加される電流は、+Iである。この場合、第1MTJセル駆動部31の論理動作は、図10Aに図示されており、第2MTJセル駆動部31’の論理動作は、図10Bに図示されている。ここで、前記三つの入力ライン35A、35B、35Sに流れる電流が+Iである場合を論理“1”と、−Iである場合を論理“0”と定義する。そして、MTJセル33の抵抗値が低抵抗Rである状態を論理値“0”と定義し、高抵抗Rである状態を論理値“1”と定義する。
まず、図10Aに示すように、入力ラインS 35Sに電流−Iが印加される場合、入力ラインA 35A及び入力ラインB 35Bに何れも+Iが印加される場合にのみMTJセル33が低抵抗Rである状態にあり、それ以外の場合には、MTJセル33は高抵抗Rである状態にある。したがって、この場合、MTJセル33は、NAND論理回路として動作する。また、図10Bに示すように、入力ラインS 35Sに電流+Iが印加される場合、入力ラインA 35A及び入力ラインB 35Bに何れも−Iが印加される場合にのみMTJセル33が高抵抗Rである状態にあり、それ以外の場合には、MTJセル33は、低抵抗Rである状態にある。したがって、この場合、MTJセル33は、NOR論理回路として動作する。
また、前記比較部37は、第1MTJセル駆動部31のMTJセルの抵抗値が、第2MTJセル駆動部31’のMTJセルの抵抗値と同じである場合、論理“0”信号を出力し、前記第1MTJセル駆動部31のMTJセルの抵抗値が、第2MTJセル駆動部31’のMTJセルの抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力する。それにより、前記比較部37の出力は、XOR論理回路の出力と同じくなる。
一方、図12A、図12B及び図13は、MTJセル33の固定強磁性層33bの磁化方向が、三つの入力ライン35A、35B、35Sに印加される電流の方向に関係なく左側に固定されている場合のMTJセル駆動部31、31’の動作とXOR論理回路30とをそれぞれ示す。この場合、図10A、図10B及び図11に示すものと逆に、第1MTJセル駆動部31の入力ラインS 35Sに印加される電流は、+Iであり、第2MTJセル駆動部31’の入力ラインS 35Sに印加される電流は、−Iである。
それにより、図12Aに示すように、入力ラインA 35A及び入力ラインB 35Bに何れも−Iが印加される場合にのみ、MTJセル33が低抵抗Rである状態にあり、それ以外の場合には、MTJセル33は、高抵抗Rである状態にある。したがって、この場合、MTJセル33は、OR論理回路として動作する。また、図12Bに示すように、入力ラインS 35Sに電流−Iが印加される場合、入力ラインA 35A及び入力ラインB 35Bに何れも+Iが印加される場合にのみ、MTJセル33が高抵抗Rである状態にあり、それ以外の場合には、MTJセル33は、低抵抗Rである状態にある。したがって、この場合、MTJセル33は、AND論理回路として動作する。
その後、図11の場合と同様に、図13の前記比較部37は、第1MTJセル駆動部31のMTJセルの抵抗値が、第2MTJセル駆動部31’のMTJセルの抵抗値と同じである場合、論理“0”信号を出力し、前記第1MTJセル駆動部31のMTJセルの抵抗値が、第2MTJセル駆動部31’のMTJセルの抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力する。それにより、前記比較部37の出力は、XOR論理回路の出力と同じくなる。
このような本実施形態に係るXOR論理回路30は、初期化過程なしに直接論理動作が可能である。したがって、従来のXOR論理回路に比べて、本実施形態に係るXOR論理回路30は、約3倍速い動作速度を具現できる。
本発明は、特定の機能を行う非メモリ素子の構成に利用されうるXOR論理回路の製造に利用されうる。
XORの論理回路を構成するための従来のMTJセル駆動部の構造を概略的に示す図面である。 図1に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図1に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図1に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図1に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図1に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図1に示す従来のMTJセル駆動部を利用したXOR論理回路の構造を概略的に示す図面である。 図3に示すXOR論理回路の入力値による出力値の変化を表す表である。 本発明の一実施形態に係るXOR論理回路を構成するためのMTJセル駆動部の構造を概略的に示す図面である。 図5に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図5に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図5に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図5に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図5に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図5に示すMTJセル駆動部を利用した本発明の一実施形態に係るXOR論理回路の構造を概略的に示す図面である。 図5に示すMTJセルのさらに他の動作状態を示す図面である。 図5に示すMTJセルのさらに他の動作状態を示す図面である。 図5に示すMTJセルのさらに他の動作状態を示す図面である。 図5に示すMTJセルのさらに他の動作状態を示す図面である。 図5に示すMTJセルのさらに他の動作状態を示す図面である。 本発明の他の実施形態に係るXOR論理回路を構成するためのMTJセル駆動部の構造を概略的に示す図面である。 図9に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図9に示すMTJセルの動作状態を示す図面である。 図9に示すMTJセル駆動部を利用した本発明の他の実施形態に係るXOR論理回路の構造を概略的に示す図面である。 図9に示すMTJセルのさらに他の動作状態を示す図面である。 図9に示すMTJセルのさらに他の動作状態を示す図面である。 図9に示すMTJセル駆動部を利用した本発明のさらに他の実施形態に係るXOR論理回路の構造を概略的に示す図面である。
符号の説明
21 MTJセル駆動部
22 下部電極
23 MTJセル
23a 下部強磁性層
23b トンネルバリア層
23c 上部強磁性層
24 上部電極
25A、25B、25S 入力ライン

Claims (21)

  1. MTJセルを備え、前記MTJセルの抵抗を第1抵抗値と第2抵抗値との間で変換させるためのMTJセル駆動部と、基準抵抗と、前記基準抵抗とMTJセルとの抵抗値を比較して論理“0”または論理“1”信号を出力する比較部と、を備えるXOR論理回路において、
    前記MTJセル駆動部は、
    前記MTJセルの上下部にそれぞれ配置された上部電極及び下部電極と、
    前記上部電極上を横切る平行な第1入力ラインないし第3入力ラインと、を備えることを特徴とするXOR論理回路。
  2. 前記MTJセルは、下部強磁性層、前記下部強磁性層上に配置されたトンネルバリア層、及び前記トンネルバリア層上に配置された上部強磁性層を備えることを特徴とする請求項1に記載のXOR論理回路。
  3. 前記第1入力ラインないし第3入力ラインに印加される電流の方向が何れも同じである場合、その電流方向によって前記下部強磁性層及び上部強磁性層の磁化方向が何れも変わり、前記第1入力ラインないし第3入力ラインに印加される電流のうち二つの電流の方向が同じである場合、その電流方向によって前記上部強磁性層の磁化方向のみが変わることを特徴とする請求項2に記載のXOR論理回路。
  4. 論理動作前に、前記第1入力ラインないし第3入力ラインに同じ方向に電流を印加して、前記下部強磁性層及び上部強磁性層が何れも同じ方向に磁化されるようにMTJセルを初期化することを特徴とする請求項3に記載のXOR論理回路。
  5. 論理動作時、第1入力ラインに印加される電流の方向は、初期化時と逆に維持され、第2入力ライン及び第3入力ラインに印加される電流の方向は、入力される論理値によって決定されることを特徴とする請求項4に記載のXOR論理回路。
  6. 前記基準抵抗の抵抗値は、前記MTJセルの第1抵抗値と同じであることを特徴とする請求項1に記載のXOR論理回路。
  7. 前記比較部は、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値と同じである場合、論理“0”信号を出力し、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力することを特徴とする請求項6に記載のXOR論理回路。
  8. 前記基準抵抗の抵抗値は、前記MTJセルの第1抵抗値と第2抵抗値との間にあることを特徴とする請求項1に記載のXOR論理回路。
  9. 前記比較部は、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値より小さい場合、論理“0”信号を出力し、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力することを特徴とする請求項8に記載のXOR論理回路。
  10. 前記平行な第1入力ラインないし第3入力ラインは、相互に対して縦方向に配置されていることを特徴とする請求項1に記載のXOR論理回路。
  11. 第1MTJセルを備え、前記第1MTJセルの抵抗を第1抵抗値と第2抵抗値との間で変換させるための第1MTJセル駆動部と、
    第2MTJセルを備え、前記第2MTJセルの抵抗を第1抵抗値と第2抵抗値との間で変換させるための第2MTJセル駆動部と、
    前記第1MTJセルと第2MTJセルとの抵抗値を比較して、論理“0”または論理“1”信号を出力する比較部と、を備え、
    前記それぞれのMTJセル駆動部は、
    前記MTJセルの上下部にそれぞれ配置された上部電極及び下部電極と、
    前記上部電極上を横切る平行な第1入力ラインないし第3入力ラインと、を備えることを特徴とするXOR論理回路。
  12. 前記それぞれのMTJセルは、反強磁性層と、前記反強磁性上に配置され、磁化方向が固定されている固定強磁性層と、前記固定強磁性層上に配置されたトンネルバリア層と、前記トンネルバリア層上に配置され、磁化方向が変化しうる自由強磁性層と、を備えることを特徴とする請求項11に記載のXOR論理回路。
  13. 前記自由強磁性層の磁化方向は、前記第1入力ラインないし第3入力ラインに印加される電流のうち、同じ方向に印加される二つ以上の電流の方向によって決定されることを特徴とする請求項12に記載のXOR論理回路。
  14. 論理動作時、前記第1MTJセル駆動部の第1入力ラインに印加される電流と、前記第2MTJセル駆動部の第1入力ラインに印加される電流との方向は相互逆方向であり、前記第1MTJセル駆動部及び第2MTJセル駆動部の第2入力ライン及び第3入力ラインに印加される電流の方向は、入力される論理値によって決定されることを特徴とする請求項13に記載のXOR論理回路。
  15. MTJセルの抵抗値が相対的に大きい場合を論理“1”、相対的に小さい場合を論理“0”とするとき、前記第1MTJセルは、NAND論理回路として動作し、第2MTJセルは、NOR論理回路として動作することを特徴とする請求項14に記載のXOR論理回路。
  16. MTJセルの抵抗値が相対的に大きい場合を論理“1”、相対的に小さい場合を論理“0”とするとき、前記第1MTJセルは、OR論理回路として動作し、第2MTJセルは、AND論理回路として動作することを特徴とする請求項14に記載のXOR論理回路。
  17. 前記比較部は、前記第1MTJセルの抵抗値が第2MTJセルの抵抗値と同じである場合、論理“0”信号を出力し、前記第1MTJセルの抵抗値が第2MTJセルの抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力することを特徴とする請求項11に記載のXOR論理回路。
  18. 前記第1入力ラインないし第3入力ラインは、相互に対して縦方向に配置されていることを特徴とする請求項11に記載のXOR論理回路。
  19. 下部強磁性層、トンネルバリア層及び上部強磁性層が順に積層されたMTJセルの上面に横切る平行な第1入力ラインないし第3入力ラインに同じ方向に電流を印加することによって、前記上部強磁性層及び下部強磁性層が同じ方向に磁化されるようにMTJセルを初期化するステップと、
    前記第1入力ラインに印加される電流の方向を初期化時とは逆に維持し、入力される論理値によって前記第2入力ライン及び第3入力ラインにそれぞれ電流を印加するステップと、
    基準抵抗とMTJセルとの抵抗値を比較して論理“0”または論理“1”信号を出力するステップと、を含むことを特徴とするMTJセルを利用したXOR論理回路の駆動方法。
  20. 前記第1入力ラインないし第3入力ラインに印加される電流の方向が何れも同じである場合、その電流方向によって前記下部強磁性層及び上部強磁性層の磁化方向が何れも変わり、前記第1入力ラインないし第3入力ラインに印加される電流のうち二つの電流の方向が同じである場合、その電流方向によって前記上部強磁性層の磁化方向のみが変わることを特徴とする請求項19に記載のXOR論理回路の駆動方法。
  21. 前記比較部は、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値と同じである場合、論理“0”信号を出力し、前記MTJセルの抵抗値が基準抵抗の抵抗値より大きい場合、論理“1”信号を出力することを特徴とする請求項20に記載のXOR論理回路の駆動方法。
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