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  1. 第1の電圧を供給する第1の電圧配線と、
    第2の電圧を供給する第2の電圧配線と、
    第3の電圧を供給する第3の電圧配線と、
    前記第1の電圧配線と前記第2の電圧配線との間に設けられた第1の電圧供給配線と、
    前記第2の電圧配線と前記第1の電圧供給配線との間に接続され、入力される信号に応じて前記第2の電圧配線と前記第1の電圧供給配線との間に電流経路が形成される内部回路と、
    前記第1の電圧配線と前記第1の電圧供給配線との間に接続され、入力される指示信号に応じて前記第1の電圧配線と前記第1の電圧供給配線との電気的な導通状態を制御することが可能な第1の電圧供給制御回路とを備え、
    前記第1の電圧供給制御回路は、
    前記第1の電圧供給配線と前記第1の電圧配線との間に設けられた第1のスイッチと
    前記指示信号に応じて前記第1のスイッチを制御する第1の論理回路とを含み、
    前記第1の論理回路は、
    前記第3の電圧配線と前記第1のスイッチの制御端との間に設けられ、前記第1のスイッチを導通状態とする指示信号に応じて、前記第3の電圧配線と前記第1のスイッチの制御端とを電気的に結合させる第2のスイッチと
    前記第1の電圧供給配線と前記第1のスイッチの制御端との間に設けられ、前記第1のスイッチに流れる電流量が導通状態に比べて少ない非導通状態とする指示信号に応じて、前記第1の電圧供給配線と前記第1のスイッチの制御端とを電気的に結合させる第3のスイッチとを含む、半導体装置。
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Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070183185A1 (en) * 2006-01-11 2007-08-09 The Regents Of The University Of California Finfet-based sram with feedback
JP5034379B2 (ja) * 2006-08-30 2012-09-26 富士通セミコンダクター株式会社 半導体メモリおよびシステム
US7863971B1 (en) * 2006-11-27 2011-01-04 Cypress Semiconductor Corporation Configurable power controller
US7760011B2 (en) * 2007-08-10 2010-07-20 Texas Instruments Incorporated System and method for auto-power gating synthesis for active leakage reduction
JP2009060560A (ja) * 2007-09-04 2009-03-19 Fujitsu Microelectronics Ltd マスタスレーブ回路及びその制御方法
US7698585B2 (en) 2008-07-10 2010-04-13 International Business Machines Corporation Apparatus, system, and method for reducing idle power in a power supply
KR100964920B1 (ko) 2008-07-31 2010-06-23 재단법인서울대학교산학협력재단 파워게이팅 회로 및 방법
WO2010026500A1 (en) * 2008-09-02 2010-03-11 Nxp B.V. Static random access memory comprising a current source, and method to put memory cells of such a memory into sleep or write mode using said current source
DE102008053533A1 (de) * 2008-10-28 2010-04-29 Atmel Automotive Gmbh Schaltung, Verfahren zur Steuerung und Verwendung einer Schaltung für einen Ruhemodus und einen Betriebsmodus
US7804329B2 (en) * 2008-11-21 2010-09-28 International Business Machines Corporation Internal charge transfer for circuits
US9824008B2 (en) * 2008-11-21 2017-11-21 International Business Machines Corporation Cache memory sharing in a multi-core processor (MCP)
US9122617B2 (en) * 2008-11-21 2015-09-01 International Business Machines Corporation Pseudo cache memory in a multi-core processor (MCP)
US9886389B2 (en) * 2008-11-21 2018-02-06 International Business Machines Corporation Cache memory bypass in a multi-core processor (MCP)
TWI401693B (zh) * 2009-01-05 2013-07-11 Nanya Technology Corp 電壓提供電路、以及使用此電壓提供電路的訊號延遲系統
US8406075B2 (en) * 2009-04-03 2013-03-26 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Ultra-low leakage memory architecture
KR20110108125A (ko) * 2010-03-26 2011-10-05 삼성전자주식회사 집적 회로 장치, 그리고 그것을 포함하는 컴퓨팅 시스템
CN107947763B (zh) 2010-08-06 2021-12-28 株式会社半导体能源研究所 半导体集成电路
US8415972B2 (en) * 2010-11-17 2013-04-09 Advanced Micro Devices, Inc. Variable-width power gating module
JP5512498B2 (ja) * 2010-11-29 2014-06-04 株式会社東芝 半導体装置
JP2012216590A (ja) 2011-03-31 2012-11-08 Elpida Memory Inc 半導体装置
JP5890234B2 (ja) * 2011-04-15 2016-03-22 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置及びその駆動方法
WO2013111757A1 (en) 2012-01-23 2013-08-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2013157800A (ja) * 2012-01-30 2013-08-15 Renesas Electronics Corp 半導体集積回路、およびその半導体集積回路の動作方法
US9299395B2 (en) * 2012-03-26 2016-03-29 Intel Corporation Methods and systems to selectively boost an operating voltage of, and controls to an 8T bit-cell array and/or other logic blocks
US9207750B2 (en) 2012-12-14 2015-12-08 Intel Corporation Apparatus and method for reducing leakage power of a circuit
US8890602B2 (en) * 2013-01-16 2014-11-18 Freescale Semiconductor, Inc. Well-biasing circuit for integrated circuit
US9007122B2 (en) * 2013-06-05 2015-04-14 Via Technologies, Inc. Digital power gating with state retention
US9450580B2 (en) 2013-06-05 2016-09-20 Via Technologies, Inc. Digital power gating with programmable control parameter
US8963627B2 (en) * 2013-06-05 2015-02-24 Via Technologies, Inc. Digital power gating with controlled resume
US9000834B2 (en) 2013-06-05 2015-04-07 Via Technologies, Inc. Digital power gating with global voltage shift
JP2015032651A (ja) * 2013-08-01 2015-02-16 マイクロン テクノロジー, インク. 半導体装置
US9094011B2 (en) * 2013-11-27 2015-07-28 Samsung Electronics Co., Ltd. Power gate switch architecture
JP6392082B2 (ja) * 2014-10-31 2018-09-19 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
US9653131B1 (en) 2016-02-12 2017-05-16 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for voltage level control
CN105514196B (zh) * 2016-02-18 2017-04-05 苏州佳亿达电器有限公司 集成mos场效应管逆变器的太阳能电池板的制造方法
CN105577110B (zh) * 2016-02-18 2017-09-15 南通欧贝黎新能源电力股份有限公司 集成结型场效应管逆变器的太阳能电池板
CN105577109B (zh) * 2016-02-18 2017-09-05 南通欧贝黎新能源电力股份有限公司 集成结型场效应管逆变器的太阳能电池板的制造方法
JP6618587B2 (ja) * 2018-08-21 2019-12-11 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2020174323A (ja) * 2019-04-12 2020-10-22 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2021163917A (ja) * 2020-04-02 2021-10-11 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
CN113098467B (zh) * 2021-03-01 2023-05-26 电子科技大学 一种降低泄漏功率的多阈值cmos电路

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2931776B2 (ja) 1995-08-21 1999-08-09 三菱電機株式会社 半導体集積回路
JP3341805B2 (ja) 1996-05-28 2002-11-05 日本電信電話株式会社 論理回路
US6285213B1 (en) * 1997-11-19 2001-09-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor integrated circuit device
KR100269643B1 (ko) * 1997-11-27 2000-10-16 김영환 전력소비 억제회로
JP3123516B2 (ja) * 1998-08-14 2001-01-15 日本電気株式会社 半導体装置及び半導体装置の駆動方法
JP2002305434A (ja) * 2001-04-04 2002-10-18 Sharp Corp 半導体集積回路
JP2003110022A (ja) * 2001-09-28 2003-04-11 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
JP3928937B2 (ja) * 2002-05-24 2007-06-13 シャープ株式会社 半導体集積回路
JP4052923B2 (ja) * 2002-10-25 2008-02-27 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
JP2005236654A (ja) * 2004-02-19 2005-09-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体mos集積回路
US7164616B2 (en) * 2004-12-20 2007-01-16 Intel Corporation Memory array leakage reduction circuit and method

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