JP2007178227A - X線検査装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】 新たな被測定物について新たに条件設定を行う場合でも、操作者が適切なX線条件、画像処理条件の設定を容易に行うことができるX線検査装置を提供する。
【解決手段】 X線発生装置11とX線検出器と12からなるX線測定光学系13と、X線測定光学系13を制御するとともに撮影した透視X線像の画像処理を行うことによりX線画像を作成して表示装置のモニタ画面に表示する制御を行う制御系20とを備え、制御系20は、X線発生装置のX線条件および透視X線像の画像処理条件を含むX線画像作成のための設定条件とその設定条件にて観察する観察部位の材質・厚さを含む観察部位情報とを関係付けて一括して登録した登録データを記憶する登録データ記憶領域51を備え、観察部位情報の入力により登録データ記憶領域に蓄積された登録データに基づく条件設定を行う条件設定制御部30を備える。
【選択図】図1

Description

本発明は、工業製品などの透視検査またはCT検査などを行うためのX線検査装置に関し、さらに詳細には、X線画像の作成のための条件設定を容易に行うことができるX線検査装置に関する。
工業製品などの透視検査を行うX線検査装置では、X線発生装置のX線源に対向するようにして、イメージインテンシファイア(以下、IIと略す)とCCDカメラとを組み合わせたX線検出器が配置してある。最近はII、CCDカメラからなるX線検出器に代えて、フラットパネルX線検出器を使用したX線検査装置も利用されている。
これらのX線検査装置は、X線源とX線検出器との間に、被測定物を載置するステージを配置し、ステージ上に載置された被測定物について透視X線像を撮影する。
X線検査では、通常、位置合わせや測定倍率調整、測定角度調整のために視野移動を行う。視野移動は、ステージ駆動機構によりステージを移動しつつ、被測定物の透視X線画像を撮影するようにし、これにより被測定物の検査位置を探す。
一般に、ステージ駆動機構は、ステージ面方向を含む直交する3軸方向に並進移動する並進駆動機構を備えており、さらにステージ面に垂直な軸の周りに回転移動する回転駆動機構が設けられているものもある。また、斜め方向からのX線測定を行うためにX線源とX線検出器との対向配置を保ったまま回転可能に支持するアームを駆動するアーム駆動機構(傾動機構)を備えたものも利用されている。
そして、透視X線画像を見ながら、マウスやキーボードなどの入力装置を用いて測定位置や測定角度の制御のための入力操作を行うことにより駆動機構に制御信号を送ってステージやアームを駆動し、視野の移動を行うようにしている。
観察部位(検査位置)が見つかると視野移動を停止し、続いて、その位置での最適なX線画像を得るようにするため、X線発生装置のX線条件(出力電圧、出力電流、焦点サイズなど)、X線検出器により撮影された透視X線像の画像処理条件(コントラスト、明るさ、ガンマ値など)の調整のための設定を行う。
観察部位に対するX線条件や画像処理条件の設定は、操作者の経験による個人差が生じやすく、測定結果であるX線画像に影響を及ぼす。
例えば図5(a)と図5(b)とは、異なる操作者が同一プリント基板上の同一のBGAを異なるX線条件、画像処理条件で撮影し、そのX線画像を作成したものであるが、図5(a)では現れていない気泡が、図5(b)(矢印部分)にははっきりと映し出されている。
そこで、操作者の個人差の影響をなくすことを目的として(自動化等も目的としている)、産業用ロボットとX線透視装置とを組み合わせ、教示ポイントごとにX線測定を行うX線透視検査装置において、コンピュータにより、すべての教示ポイントごとに、各教示ポイントでのロボットの動作条件、X線条件、画像処理条件を一括して記憶・管理し、さらに、これらの各教示ポイントにおける各条件の変更等を当該コンピュータで行うように構成することが開示されている(特許文献1参照)。
特開2004−117214号公報
上述したように、X線条件や画像処理条件を最適にする条件設定を手動で行うことは、操作者の経験による個人差が生じやすいため、制御用のコンピュータによりX線条件、画像処理条件を一括して記憶することが提案されている。このようなシステムは、同一種類の被測定物を、繰り返し測定する検査において、有効であるが、観察対象となる被測定物が同一種類でないときは、改めてX線条件、画像処理条件を記憶させる必要があり、条件設定を行う操作者の個人差の影響が現れることになる。
そこで、本発明は新たな被測定物について新たに条件設定を行う場合でも、操作者が適切なX線条件、画像処理条件の設定を容易に行うことができるX線検査装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために本発明のX線検査装置では、被測定物に透視用X線を照射するX線発生装置と被測定物の透視X線像を撮影するX線検出器とからなるX線測定光学系と、X線測定光学系を制御するとともに撮影した透視X線像の画像処理を行うことによりX線画像を作成して表示装置のモニタ画面に表示する制御を行う制御系とを備えたX線検査装置であって、制御系は、X線発生装置のX線条件および透視X線像の画像処理条件を含むX線画像作成のための設定条件とその設定条件にて観察する観察部位の材質・厚さを含む観察部位情報とを関係付けて一括して登録した登録データを記憶する登録データ記憶領域を備え、観察部位情報の入力により登録データ記憶領域に蓄積された登録データに基づく条件設定を行う条件設定制御部を備えるようにしている。
ここで、X線画像作成のための設定条件のひとつである「X線発生装置のX線条件」とは、X線発生装置が照射するX線の出力状態に影響を与えるパラメータをいい、X線出力電圧、X線出力電流、焦点サイズなどが含まれる。これらのうち少なくとも1つがX線条件として含まれていればよい。
また、X線画像作成のための設定条件のひとつである「透視X線像の画像処理条件」とは、透視X線像からX線画像を作成する際の画像処理において影響を与えるパラメータをいい、コントラスト、明るさ、ガンマ値、画像積算回数などが含まれる。これらについても少なくとも1つが画像処理条件として含まれていればよい。
また、観察部位情報とは、観察部位において、照射されたX線の減衰に影響を与えるパラメータ情報をいい、少なくとも透過する物体の材質(比重)と透過方向厚さとの情報が含まれる。
本発明によれば、X線検査装置の制御系は、登録データ記憶領域を備えており、登録データ記憶領域に蓄積される登録データは、X線発生装置のX線条件、透視X線像に対する画像処理条件、これら設定条件の下で、適切に観察される観察部位の材質・厚さを含む観察部位情報が関係付けられて記憶してある。操作者は、設定条件が未知である被測定物についてX線検査を行う際に、設定条件が未知である被測定物についての材質・厚さを含む観察部位情報を入力する。材質・厚さ等の観察部位情報の入力により、条件設定制御部は、登録データ記憶領域に蓄積された複数の登録データのなかから、入力された観察部位情報に該当するかあるいは類似する登録データを抽出し、その抽出された登録データに含まれるX線条件および画像処理条件の設定が行われる。このようにして設定されたX線条件および画像処理条件は、これまでに測定したことがある類似する材質・厚さの観察部位において適切に観察されたときの設定条件が設定されることになる。
本発明によれば、設定条件が未知である被測定物についても、おおむね、適切であるX線条件、画像処理条件を容易に設定することができ、以前と同程度の観察を行うことができる。
(その他の課題を解決するための手段および効果)
上記発明において、条件設定制御部は、蓄積された登録データを表示装置のモニタ画面に表示し、登録データの一部を変更する入力を促すとともに、入力がなされたときに新たな登録データとして登録データ記憶領域に記憶する制御を行うようにしてもよい。
これによれば、微調整を行うだけで、適切な設定条件を新たに登録することができる。
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。
図1は、本発明の一実施形態であるX線検査装置の構成を示すブロック図である。
このX線検査装置1は、X線発生装置11とX線検出器12とで構成されるX線測定光学系13と、被測定物Sを載置するステージ14と、ステージ14を互いに直交するXYZ方向(被測定物載置面をXY面とし、載置面に垂直な方向をZ軸方向とする)に並進するための駆動機構16と、装置全体の制御を行う制御系20とにより構成される。
X線測定光学系13を構成するX線発生装置11は、透視X線照射用のX線管を備えている。X線検出器12は、X線管に対向するように配置されるIIと、このIIの後側に一体的に取り付けられたCCDカメラとからなり、IIが透視X線を検出することにより形成した蛍光像をCCDカメラで撮影することにより、透視X線像の映像信号が出力されるようにしてある。
ステージ14は、X軸、Y軸、Z軸方向に並進移動できるようにしてある。
ステージ駆動機構16は、X軸、Y軸、Z軸の3軸それぞれの方向への並進移動用の各駆動軸モータが搭載され、制御系20からの制御信号に基づいてステージ14を並進する。
つづいて制御系20について説明する。制御系20は汎用のコンピュータ装置により構成されるが、そのハードウェアをさらにブロック化して説明すると、CPU21と、キーボード22と、マウス23と、液晶パネルなどの表示装置24と、メモリ25とにより構成される。
また、CPU21が処理する機能をブロック化して説明すると、条件設定制御部30、X線画像作成部31、X線画像表示制御部32、駆動信号発生部33、X線条件信号発生部34とに分けられる。また、メモリ25には、X線条件51a、画像処理条件51b、観察部位情報51cを含んだ登録データを蓄積する登録データ記憶領域51が形成されている。
次に、CPU21の各機能ブロックについて説明する。
条件設定制御部30は、X線発生装置11のX線条件、および、後述するX線画像作成部31が透視X線像からX線画像を作成する際の画像処理条件の設定を行う制御を行う。
これらの条件設定は、状況に応じて、パラメータ入力設定30a、登録データ読取設定30b、登録データ変更入力設定30c、観察部位情報入力設定30dの4種類の設定方法のいずれかにより行われる。これらの設定方法について説明する。
パラメータ入力設定30aは、主として、初めて測定する被測定物の場合に利用される設定方法である。この方法による場合は、表示装置24のモニタ画面に、図2に示すようなパラメータ設定画面が表示され、X線条件として出力電圧、出力電流、焦点サイズ、画像処理条件としてコントラスト、明るさ、ガンマ値の相対値、さらに、観察部位情報として材質、厚さの入力が促される。そして、操作者がキーボード22を用いてこれらデータセットの入力を行うと、入力されたデータセットに対応する新たな登録データが登録データ記憶領域51に作成され、その登録データに含まれる各データが、該当するX線発生装置11やX線画像作成部31に送られて設定される。
図3は登録データ記憶領域51に蓄積されている登録データのデータセットを説明する図である。各登録データには、登録番号、X線条件(出力電圧、出力電流、焦点サイズ)、画像処理条件(コントラスト、明るさ、ガンマ値)、観測部位情報(材質、厚さ)のデータセットが表形式で蓄積してある。
登録データ読取設定30bは、主として、既に測定したことがある測定物と同一種類の被測定物の場合に利用される設定方法である。この方法による場合は、表示装置24のモニタ画面に、過去に登録した登録データが、図3に示したようなテーブル形式で表示される。操作者は、表示されたテーブルから適当なデータセットの登録番号を選択する入力を行う。これにより、該当する登録番号の各データが読み込まれ、該当するX線発生装置11やX線画像作成部31に送られて設定される。
登録データ変更入力設定30cは、主として、以前測定した測定物と類似の被測定物の場合に利用される設定方法である。この方法による場合は、最初に登録データ読取設定30bの場合と同様の方法で、表示装置24のモニタ画面に、図3に示したようなテーブル形式の登録データが表示され、操作者がいずれかのデータセットの登録番号を選択する入力を行うことにより、該当する登録番号のデータセットが読み込まれる。この状態でデータ変更の指示を行うことにより、図2で示したパラメータ設定画面が表示されるとともに、このパラメータ設定画面に、先ほど選択したデータセットが入力された状態で表示され、操作者に変更を促す。操作者は変更が必要なパラメータのみを選択してデータを変更する。変更後のデータセットは、新しいデータセットとして登録データ記憶領域51に別途に登録され、その登録データに含まれる各データが、X線発生装置11やX線画像作成部31に送られて設定される。
観察部位情報入力設定30dは、主として、以前測定したときの設定条件が利用できるが以前の設定が不明である場合、被測定物の材質や厚さがわかる場合等に利用される設定方法である。この方法による場合は、被測定物の観察部位の材質や厚さを入力する。被測定物の材質や厚さは目視によってある程度確認できるので、何らかの設定を行うことができる。
図4は、材質および厚さを設定するときの設定画面を示す図である。この画面から目視で確認した材質および厚さを入力すると、登録データ記憶領域51が検索され、該当する登録データを抽出する。なお、完全一致する登録データがない場合は、最も類似している登録データが選択される。そして、選択された登録データに含まれる各データが、X線発生装置11やX線画像作成部31に送られて設定される。なお、この場合においても、データ変更の指示を行うことにより、図2で示したパラメータ設定画面が表示され、パラメータ設定画面に、該当する登録データのデータセットが入力された状態で表示されるようにして、操作者に変更を促してもよい。
以上のいずれかの設定方法によりX線条件および画像処理条件が設定されることになる。
X線画像作成部31は、X線検出器12から送られてきた透視X線像の映像信号を、次々とデジタル画像に変換し、X線画像のコマ画像データを作成する制御を行う。このとき、条件設定制御部30により設定された画像処理条件(コントラスト、明るさ、ガンマ値)に基づいてX線画像が作成される。
X線画像表示制御部32は、作成されたコマ画像データを表示装置24に送って表示することにより、モニタ画面24aにX線画像を表示する。
駆動信号発生部33は、駆動機構16を制御するための駆動信号を発生する。駆動信号はモニタ画面24aに表示される操作画面上の操作ボタン(不図示)を、マウス23でクリック操作することにより発生する。駆動信号に基づいてステージ14が移動し、その結果、被測定物Sの視野が変動することになる。
X線条件信号発生部34は、条件設定制御部30によるX線条件(出力電圧、出力電流、焦点サイズ)をX線発生装置11に設定するために、そのX線条件信号を発生する制御を行う。
次に、上記X線検査装置1による操作例について、具体的に説明する。
(利用可能登録データが存在しない場合)
利用できる登録データが登録データ記憶領域51に存在しない場合は、パラメータ入力設定30aを利用して、図2に示したパラメータ設定画面により、操作者が新たにX線条件や画像処理条件を任意に設定し、最適な設定条件を見つける。ここで見つけた条件は登録データとして登録データ記憶領域51に蓄積される。
(利用可能登録データが存在する場合)
利用できる登録データが登録データ記憶領域51に存在する場合で、以前登録データを作成したときと同一の被測定物を測定する場合は、登録データ読取設定30bを利用し、既に蓄積されている登録データの中から該当する登録データを抽出し、その登録データの設定条件を、該当する各部に設定する。
利用できる登録データが存在する場合で、以前登録データを作成したときと類似の被測定物を測定する場合は、登録データ変更入力設定30cを利用する。すなわち、該当する登録データを読み取り、その後に、図2に示したパラメータ設定画面により、読み取った登録データの一部を変更することにより微調整を行い、微調整後のデータセットを新たな登録データとして、これを登録データ記憶領域51に蓄積する。
利用できる登録データが存在するが、以前の登録データが不明である場合は、観察部位情報入力設定30dを利用する。すなわち、被測定物の材質や厚さ(観察部位情報)を入力し、登録データ記憶領域51を検索する。該当する材質・厚さの登録データ(あるいは類似する登録データ)を抽出し、その登録データに含まれるX線条件および画像処理条件を、該当する各部に設定する。
このように、X線条件や画像処理条件を一括して登録しておくことにより、次回からは呼び出すだけで条件設定を簡単に行うことができ、しかも、登録データに、材質、厚さを含む観察部位情報を関係付けて記憶するようにしてあるので、被測定物についてのX線条件や画像処理条件が不明であっても、観察部位情報を目安にして適切な条件設定を行うことができる。
本発明は、X線画像の作成のための条件設定を容易に行うことができるX線検査装置に利用することができる。
本発明の一実施形態であるX線検査装置の構成を示すブロック図。 パラメータ設定画面の一例を示す図。 登録データ記憶領域に蓄積される登録データを説明する図。 材質および厚さ(観察部位情報)を設定するときの設定画面を示す図。 同一プリント基板上の同一のBGAを異なるX線条件、画像処理条件で撮影したX線画像を示す図。
符号の説明
1: X線検査装置
11: X線発生装置
12: X線検出器
13: X線測定光学系
14: ステージ
16: 駆動機構
20: 制御系
23: マウス
24: 表示装置
25: メモリ
30: 条件設定制御部
31: X線画像作成部
32: X線画像表示制御部
33: 駆動信号発生部
34: X線条件信号発生部
51: 登録データ記憶領域

Claims (2)

  1. 被測定物に透視用X線を照射するX線発生装置と被測定物の透視X線像を撮影するX線検出器とからなるX線測定光学系と、X線測定光学系を制御するとともに撮影した透視X線像の画像処理を行うことによりX線画像を作成して表示装置のモニタ画面に表示する制御を行う制御系とを備えたX線検査装置であって、
    制御系は、X線発生装置のX線条件および透視X線像の画像処理条件を含むX線画像作成のための設定条件とその設定条件にて観察する観察部位の材質・厚さを含む観察部位情報とを関係付けて一括して登録した登録データを記憶する登録データ記憶領域を備え、
    観察部位情報の入力により登録データ記憶領域に蓄積された登録データに基づく条件設定を行う条件設定制御部を備えたことを特徴とするX線検査装置。
  2. 条件設定制御部は、蓄積された登録データを表示装置のモニタ画面に表示し、登録データの一部を変更する入力を促すとともに、入力がなされたときに新たな登録データとして登録データ記憶領域に記憶する制御を行うことを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020003224A (ja) * 2018-06-25 2020-01-09 シャープ株式会社 書物電子化装置および書物電子化方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002148213A (ja) * 2000-11-13 2002-05-22 Hitachi Kenki Fine Tech Co Ltd X線検査装置および記録媒体
JP2002310942A (ja) * 2001-04-11 2002-10-23 Shimadzu Corp 異物検査装置
JP2005055273A (ja) * 2003-08-04 2005-03-03 Shimadzu Corp X線透視装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002148213A (ja) * 2000-11-13 2002-05-22 Hitachi Kenki Fine Tech Co Ltd X線検査装置および記録媒体
JP2002310942A (ja) * 2001-04-11 2002-10-23 Shimadzu Corp 異物検査装置
JP2005055273A (ja) * 2003-08-04 2005-03-03 Shimadzu Corp X線透視装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020003224A (ja) * 2018-06-25 2020-01-09 シャープ株式会社 書物電子化装置および書物電子化方法

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