JP5881006B2 - 断層撮影装置 - Google Patents

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Description

本発明は、被検体を透過した放射線を検出し、得られた透過データから被検体の断層像を再構成する断層撮影装置に関する。
従来の断層撮影装置には、CT(Computed Tomography)装置やラミノグラフがある。
所謂RR(Rotate Rotate)型のCT装置では、回転テーブルに載置した被検体を、載置面に垂直な回転軸に対し回転させながら、回転軸に直交する360度方向からX線透過データを収集し、収集した透過データから被検体の断層像を再構成する。
円形ラミノグラフ(傾斜型CT装置とも呼ばれる)の場合も同様であるが、回転軸から傾斜し、さらに、回転軸と非直交の360度方向(円錐に沿った方向)からX線透過データを収集する点が異なる。
RR型CT装置や円形ラミノグラフでは、断層像を再構成可能な領域は、回転軸を軸とする略円柱状の領域であるので、被検体の検査部位を回転軸に合わせて回転テーブルに載置する必要がある。
被検体の検査部位を回転軸に合わせるために、従来は回転テーブルの上に、被検体を載置面に沿った2方向に移動させるXYテーブルを配置し、回転位置を変えつつ透過像を目視しながらXYテーブルを電動移動させて合わせていた。また、特許文献1にあるように、仮撮影した断層像上で領域指定することでXYテーブルを自動移動させて合わせていた。
特開平8−55887号公報
従来技術の断層撮影装置は、透過像を目視して、または仮撮影した断層像を目視して、被検体の検査部位を回転軸に合わせていたので、合わせるのに時間を要する問題がある。特に、最初に載置した際に、検査部位が回転軸から大きく離れていた場合は調整に多くの時間を要していた。
また、従来技術の断層撮影装置は、回転テーブルの上にXY機構とXYテーブルを載せていた。これにより、被検体を支持したXYテーブルをXY方向に動かすため、XY機構は撓みやガタのない構造にするため、被検体の周囲にはみ出す面積が大きく、大型で高価なものであった。また、このXY機構が干渉なく回転できるようにするため装置が大きく重くなるという問題がある。
そこで、本発明は、被検体の検査部位を回転軸に容易に合わせること、また、合わせるための機構を小型で簡便にすることを目的とする。
前記目的を達成するため、請求項1に記載の断層撮影装置は、被検体を載置する載置面を有するテーブルと、前記テーブルに載置された被検体に対し放射線を放射する放射線源と、前記載置面の垂線から傾斜した方向を放射線光軸として前記被検体を透過してくる放射線を検出して透過データを出力する放射線検出器と、前記テーブルを前記載置面に垂直な回転軸で回転させる回転機構と、前記回転軸をレーザ光軸としてレーザ光を放射するよう配置されたレーザ光源と、前記回転機構による複数の回転位置において前記放射線検出器で検出された透過データから前記被検体の断層像を再構成する再構成手段と、前記被検体を前記テーブルの載置面の上で滑らせて2方向に移動させて位置決めする載置調整機構と、前記テーブルを前記回転機構と前記載置調整機構及び前記回転軸と一緒に前記載置面に沿った2方向に移動して位置決めするXY機構を有し、前記レーザ光源は、前記XY機構の所定の位置決め時に前記回転軸と前記レーザ光軸とが一致するよう配置されることを要旨とする。
この構成により、回転軸と一致したレーザ光軸でレーザ光をテーブルに照射するので、容易に、被検体の検査部位が回転軸に合うように、被検体をテーブルに載置することができる。この結果、被検体の検査部位が断層像再構成可能領域に収まり、検査部位の断層像が得られる。また、被検体をテーブルの載置面の上で滑らせて2方向に移動させて位置決めするので、被検体を支えることなく2方向に移動させて合わせるため、載置調整機構は柔な機構で済み、検査部位を回転軸に合わせる機構を小型で簡便にすることができる。また、XY機構でテーブルを移動させて被検体の検査部位を放射線光軸に合わせる視野ずれ補正ができ、さらに、XY機構でテーブルを載置位置に移動させた上でレーザ光を照射できるので、被検体を載置する操作を容易にすることができる。
前記目的を達成するため、請求項2に記載の断層撮影装置は、請求項1に記載の断層撮影装置において、さらに、前記XY機構により前記載置面に沿った2方向に移動される前記載置面と平行な第二の載置面を有する第二のテーブルを備え、前記回転機構は前記第二のテーブルに対し着脱可能に固定されることを要旨とする。
この構成により、回転機構およびテーブルを外して、第二のテーブルに被検体を載置することにより、より大きな被検体の透過撮影をすることができる。
前記目的を達成するため、請求項3に記載の断層撮影装置は、請求項1または請求項2に記載の断層撮影装置において、前記放射線光軸は、前記回転軸の方向と非直交であることを要旨とする。
この構成により、断層撮影装置は円形ラミノグラフを構成する。
前記目的を達成するため、請求項4に記載の断層撮影装置は、請求項1または請求項2に記載の断層撮影装置において、前記放射線光軸は、前記回転軸の方向と直交することを要旨とする。
この構成により、断層撮影装置はRR型CT装置を構成する。
本発明によれば、被検体の検査部位を回転軸に容易に合わせることができる断層撮影装置、または、被検体の検査部位を回転軸に合わせるための機構を小型で簡便にした断層撮影装置を提供することが可能になる。
本発明の第一の実施の形態に係る断層撮影装置1の概念図(正面図)。 第一の実施形態に係る載置調整機構9の詳細を示す概念図(平面図)。 第一の実施形態における回転テーブル7が被検体載置位置に移動した時の断層撮影装置1を示す概念図(正面図)。 第一の実施形態における回転機構8を外した時の断層撮影装置1を示す概念図(正面図)。 第一の実施形態の変形例1に係る載置調整機構9’の詳細を示す概念図(平面図)。 第一の実施形態の変形例5に係る断層撮影装置70(RR型のCT装置)を示す模式図(正面図)。
(本発明の第一の実施の形態の構成)
図1は本発明の第一の実施の形態に係る断層撮影装置1の概念図(正面図)である。X線管2(放射線源)のX線焦点Fから放射されたX線ビーム(放射線)3は、被検体4を透過してその一部であるX線ビーム5がX線検出器(放射線検出器)6で検出される。
X線管2は透過型マイクロフォーカスX線管で、1μm程度の小さなX線焦点Fを持つものである。X線検出器6は検出面6aで2次元検出チャンネルでX線を検出し、デジタルデータとしての透過像(透過データ)として出力するもので、X線I.I.とテレビカメラを組み合わせたものや、FPD(フラットパネル型検出器)等を用いる。
部品が実装された基板等である被検体4は回転テーブル(テーブル)7に載置され、回転機構8により、載置面7aに垂直な回転軸RAに対し回転されるとともに、載置調整機構9により載置面7a上で滑らせて2方向の載置位置を調整して位置決めされる。(回転テーブル7と載置調整機構9は回転機構8に支持される。)
回転機構8は載置面7aと平行な載置面(第二の載置面)10aを有するXYテーブル(第二のテーブル)10の上部に着脱可能に配置され、回転機構8とXYテーブル10は一体でXY機構11により載置面7aに沿った2方向に移動され位置決めされ、さらに、XY機構11(及びXYテーブル10と回転機構8)はZ機構12により回転軸RAの方向に移動され位置決めされる。
回転機構8は、XYテーブル10に対し、配置位置が再現するように、回転機構8側の位置決め部材8a(不図示)を、XYテーブル10に取り付けた位置決め部材10b(不図示)、または、XY機構11側のXY移動部分にある位置決め部材11a(不図示)に対し当接させて固定される。
X線検出器6は検出器傾動機構13により傾動され、検出されるX線ビーム5の中央であるX線光軸(放射線光軸)XAが、載置面7aの垂線(回転軸RA方向)に対して傾動され、ラミノ角αに設定される。傾動は、検出面6aがX線焦点Fを向くような姿勢を保ちつつX線検出器6を円弧あるいは直線に沿って移動させる動きである。ラミノ角αは0°ないし70°程度に設定可能であるが、断層撮影するときは40°ないし70°を用いる(0°ないし40°は透視のみ)。
ここで、検出器傾動機構13はラミノ角αの設定に用いられ、載置調整機構9は被検体4の検査部位の中央A(以下、検査部位Aと略記する)を回転軸RA上に移動させるのに用いられ、回転機構8は透視方位の変更に用いられ、XY機構11とZ機構12は検査部位AをX線光軸XA上に移動させることと、FとAの距離を変えて撮影倍率{=(Fと検出面6a間の距離)/(FとA間の距離)}を設定することに用いられる。
以上で、X線管2とZ機構12と検出器傾動機構13はフロアから支持される。また、X線ビーム5は、被検体4と回転テーブル7とXYテーブル10とのみ交差して、他のX線吸収の強い機構構成要素とは交差しないようになされている。例えば、回転機構8は大口径の中空軸と軸受けを有し、X線ビーム5は中空軸の中空部を通過する。また、回転テーブル7とXYテーブル10はX線透過のよい材料で作られている。
レーザ光源14はフロアより支持され、回転軸RAと平行なレーザ光軸LAを中心に細いレーザ光15を放射する。レーザ光源14は、XY機構11により回転テーブル7(及びXYテーブル10)を被検体載置位置まで移動させたとき、レーザ光軸LAが回転軸RAに一致するように配置される。
制御処理部(再構成手段)16は、コンピュータであり、X線検出器6、回転機構8等の機構部やX線制御部(不図示)と接続され、X線検出器6の出力の取り込みや各種指令の発信等を行なう。また、データ処理部16は、表示部16aや、キーボード、マウス等の入力部16b、CPU、メモリ、機構制御ボード、通信部、インターフェース等を持つ。データ処理部16はCPUが実施する機能として、視野ずれ補正や断層撮影走査、断層像再構成、透過撮影、等を有する。
視野ずれ補正は、操作者の指示でラミノ角αを変えたとき、回転軸RA上で載置面7aからの高さDaで規定される検査部位Aが撮影倍率を保ったままX線光軸XA上からずれないようにXYZの移動量を計算し、XY機構11とZ機構12を制御する機能である。Da値は操作者が入力する。視野ずれ補正は、Da値を変更入力した場合も働き、また、撮影倍率を変更したときも働く。
断層撮影走査は、視野ずれの無い(検査部位AがX線光軸XA上にある)状態で、回転テーブル7を回転させながら、一定の角度間隔毎にX線検出器6で検出した透過像を360°に渡って取り込むスキャンを行う機能である。
断層像再構成は、断層撮影走査で得られた複数の透過像(透過データ)を計算処理して被検体の断層像を再構成する機能である。
透過撮影は、回転テーブル7上の被検体を透過したX線をX線検出器6で検出した透過像を取り込んで表示部16aに動画表示あるいは静止画表示する機能である。
また、透過撮影では、回転機構8(及び回転テーブル7、載置調整機構9)をXYテーブル10から取り外して、直接、XYテーブル10に被検体4を載置して、同様に透過像を表示することもできる。この場合の視野ずれ補正は、載置面10aからの高さDaを指定すると、ラミノ角αを変えたとき、高さDaの点が視野ずれしないようにXY機構11とZ機構12を制御するように働く。
なお、図1に図示されていない構成要素として、X線を遮蔽するための筐体や、X線管2の管電圧・管電流を制御するX線制御部、などがある。
図2は、載置調整機構9の詳細を示す概念図(平面図)である。
載置調整機構9は、被検体4を回転テーブル7の載置面7a上で滑らせて2方向の載置位置を調整して位置決めする機構である。
先ず、回転テーブルにxレール30と2つのx軸受け31が固定され、x軸受け31にはxネジ32がその軸回りに回転できるように支持され、xレール30とxネジ32の軸は同じ方向、x方向を向いている。xネジ32の一端にはxダイアル33が固定され、xダイアル33を指で回すことでxネジ32を回転させ、xレール30とxネジ32に契合しているxナット34をx方向に移動させることができる。
xナット34にはx方向に長いx突起34aが設けられ、他方、L字型のxフレーム35の一方の腕部には長手方向にx溝35aが設けられ、x突起34aとx溝35aが契合することでxフレーム35はx方向にスライドできるようにxナット34に支持され、このスライドはxクランプ36で固定される構造である。xクランプ36は摘み付きのネジで、回転させてxフレーム35をxナット34に押し付け挟み込んで一体に固定するものである。
xフレーム35は、xクランプ36を緩めたときx方向に手動移動(粗動)でき、xクランプ36を締めたときxダイアル33を回転させることでx方向に手動移動(微動)できる。
L字型のxフレーム35の他方の腕部には、長手方向(y方向)に沿ったyレール40と2つのy軸受け41が固定され、y軸受け41にはyネジ42がその軸回りに回転できるように支持され、yレール40とyネジ42の軸は同じ方向、y方向を向いている。yネジ42の一端にはyダイアル43が固定され、yダイアル43を指で回すことでyネジ42を回転させ、yレール40とyネジ42に契合しているyナット44をy方向に移動させることができる。
yナット44にはy方向に長いy突起44aが設けられ、他方、L字型の位置決め板45一方の腕部には長手方向にy溝45aが設けられ、y突起44aとy溝45aが契合することで位置決め板45はy方向にスライドできるようにyナット44に支持され、このスライドはyクランプ46で固定される構造である。yクランプ46は摘み付きのネジで、回転させて位置決め板45をyナット44に押し付け挟み込んで一体に固定するものである。
位置決め板45は、yクランプ46を緩めたときy方向に手動移動(粗動)でき、yクランプ46を締めたときyダイアル43を回転させることでy方向に手動移動(微動)できる。
被検体4はL字型の位置決め板45の内角に押し付けるように配置させ、位置決め板45をx、y方向に移動させることで被検体4の検査部位Aを回転軸RA上に移動させることができる。
(第一の実施の形態の作用)
図1乃至図4を参照して作用を説明する。作用は、断層撮影の場合と、透過撮影の場合とを分けて説明する。
<断層撮影>
断層撮影時、操作者は、まず、XY機構11によりXYテーブル10及び回転テーブル7を被検体載置位置まで移動させ、部品が実装された基板等である被検体4を回転テーブル7に載置する。
図3は、回転テーブル7が被検体載置位置に移動した時の断層撮影装置1を示す概念図(正面図)である。
被検体載置位置は、XY機構11の予め定めた停止位置で、この位置に移動する毎、回転テーブル7の回転軸RAは同じ位置に停止する。被検体載置位置で、レーザ光源14により回転軸RAと一致するレーザ光軸LAを中心として細いレーザ光15が放射される。
図2を参照して、操作者は被検体4を回転テーブル7に載置するが、このとき、レーザ光15が被検体を照射し、回転軸RAの位置を目視することができ、この状態で、以下のように載置調整機構9による載置位置の調整を行なう。
操作者は、xクランプ36とyクランプ46を緩め、被検体4を位置決め板45の内角に押して受けるように配置させ、被検体4の(部品や回路パターン等から目視で特定できる)検査部位Aがレーザ光15すなわち回転軸RAに一致するように粗調整して、xクランプ36とyクランプ46を締める。次に、xダイアル33とyダイアル43を回転させて、位置決め板45を微動させると共に、被検体4を位置決め板45の内角に押し付けるようにする。これにより、検査部位Aを微調整して正確に回転軸RAに合わせることができる。
載置位置の調整後、操作者は、被検体4の端部を粘着テープや錘を用いて回転テーブル7あるいは位置決め板45に対して固定して動かないようにする。
載置が終了すると、操作者は検査部位Aの載置面7aからの高さDaと撮影倍率を入力して撮影位置への移動を指令する。また、ラミノ角αを設定する(通常、40°ないし70°)。
すると、制御処理部16は、XY機構11とZ機構12を制御して、Daとαとを用いて点AがX線光軸XAに乗り、かつ指定した撮影倍率を達成するように回転テーブル7を撮影位置(図1の状態)へ移動させる(視野ずれ補正)。
撮影位置へ移動後に、透過像を撮影・表示させて目視しつつDaやαや撮影倍率を変えることができ、このとき、リアルタイムで視野ずれ補正が行われ、検査部位Aは常に透過像の中央に保たれる。
撮影位置の設定が終了すると、操作者はスキャン条件(X線条件や1回転中の撮影枚数)を設定してスキャン(断層撮影走査)を開始させる。
制御処理部16は、回転テーブル7を回転させつつ、一定の角度間隔毎にX線検出器6で検出した透過像を360°に渡って取り込むスキャンを実施し、スキャンで得られた複数の透過像(透過データ)を計算処理して被検体の断層像を1枚あるいは複数枚再構成する。再構成できる領域は、概略として、回転中に常にX線ビーム5に含まれる領域で、回転軸RAを軸とする略円柱状の領域(スキャン領域と称する)である。再構成は、例えば、特開2009−36660等で公知のフィルタ補正逆投影法を用いる。
<第一の透過撮影>
第一の透過撮影の作用を説明する。
この場合、操作者は、被検体4を回転テーブルに載置し、撮影位置へ移動させる。この状態で、制御処理部16は、スキャンは行わず、回転テーブル7上の被検体4を透過したX線ビーム5をX線検出器6で検出した透過像を取り込んで表示部16aに動画表示あるいは静止画表示する。
操作者は、XY機構11を操作して、被検体4の検査部位(回転軸RA上でなくてもよい)を透過像の視野中央に収め、検査部位の載置面7aからの高さDaを入力した上で、傾斜角(ラミノ角)α、傾斜方位(回転軸RA回りの方位)及び撮影倍率を変えながら、透過像の観察をすることができる。制御処理部16はこの場合、回転を含めて視野ずれ補正を行う。すなわち、Da、α、回転角を変えたとき、撮影倍率を保って同じ部分が透過像の中央に保たれるようにXY機構11とZ機構12を制御する。また、撮影倍率を変えたときも視野ずれ補正が働く。
なお、XY機構11の操作による検査部位の変更は、随時、任意のDa、α、撮影倍率において行うことができる。
<第二の透過撮影>
第二の透過撮影の作用を説明する。
この場合、回転機構8をXYテーブル10から外して、被検体4を直接XYテーブル10に載置する。図4は、回転機構8を外した時の断層撮影装置1を示す概念図(正面図)である。
この状態で、制御処理部16は、XYテーブル10上の被検体4を透過したX線ビーム5をX線検出器6で検出した透過像を取り込んで表示部16aに動画表示あるいは静止画表示する。
操作者は、XY機構11を操作して、被検体4の検査部位を透過像の視野中央に収め、検査部位の載置面7aからの高さDaを入力した上で、傾斜角(ラミノ角)α及び撮影倍率を変えながら、透過像を観察することができる。制御処理部16は、Da、αを変えたとき、撮影倍率を保って検査部位が透過像の中央に保たれるようにXY機構11とZ機構12を制御する。また、撮影倍率を変えたときも視野ずれ補正が働く。
なお、XY機構11の操作による検査部位の変更は、随時、任意のDa、α、撮影倍率において行うことができる。
(第一の実施形態の効果)
第一の実施形態によれば、回転テーブル7を載置位置に移動させ、回転軸RAと一致したレーザ光軸LAでレーザ光15を回転テーブル7に照射するので、容易に、被検体4の検査部位Aが回転軸RAに合うように、被検体4を回転テーブル7に載置することができる。この結果、被検体の検査部位Aが断層像再構成可能領域に収まり、検査部位Aの断層像が得られる。
また、第一の実施形態によれば、XY機構11で回転テーブル7を移動させることで検査部位AがX線光軸XAからずれないような視野ずれ補正ができ、さらに、XY機構11で回転テーブル7を載置位置に移動させた上でレーザ光15を照射するので、被検体を載置する操作を容易にすることができる。また、レーザ光源14がX線ビーム5などに干渉し難くできる。
また、第一の実施形態によれば、載置調整機構9で、被検体4を回転テーブル7の載置面7aの上で滑らせて2方向に移動させて位置決めするので、被検体4を支えることなく2方向に移動させて合わせるため、載置調整機構9は柔な機構で済、また、被検体の周囲に大きくはみ出すことなく、検査部位Aを回転軸RAに合わせる機構を小型で簡便にすることができる。
また、第一の実施形態によれば、回転機構8をXYテーブル10から外して、XYテーブル10に被検体4を載置することで、より大きな被検体4を透過撮影することができる。
また、第一の実施形態によれば、回転機構8は、XYテーブル10に対し、配置位置が再現するように固定されるので、着脱したとき配置が狂わないので、断層撮影と大きな被検体の透過撮影とが容易に切換できる。
(第一の実施形態の変形)
その他、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形や機能追加して実施することが可能である。以下の変形例は種々組み合わせて適用することもできる。
(変形例1)
第一の実施形態の載置調整機構9は、微調整機構の上に粗調整機構を載せた構造であるが、逆に粗調整機構のうえに微調整機構を載せた構造でもよい。また、位置決め板45は必ずしもL字型でなくてもよい。
図5は変形例1に係る載置調整機構9’の詳細を示す概念図(平面図)である。
載置調整機構9’は、被検体4を回転テーブル7の載置面7a上で滑らせて2方向の載置位置を調整して位置決めする機構である。
先ず、回転テーブル7にx方向に長いx突起50が設けられ、他方、x粗動フレーム51にはx溝51aが設けられ、x突起50とx溝51aが契合することでx粗動フレーム51はx方向にスライドできるように回転テーブル7に支持され、このスライドはxクランプ52で固定される構造である。
xクランプ52は摘み付きのネジで、回転させてx粗動フレーム51を回転テーブル7に押し付け挟み込んで一体に固定するものである。
x粗動フレーム51にはxレール53と2つのx軸受け54が固定され、x軸受け54にはxネジ55がその軸回りに回転できるように支持され、xレール53とxネジ55の軸は同じ方向、x方向を向いている。xネジ55の一端にはxダイアル56が固定され、xダイアル56を指で回すことでxネジ55を回転させ、xレール53とxネジ55に契合しているxナット57をx方向に移動させることができる。xナット57にはx微動フレーム58が固定されている。
x微動フレーム58にはy方向に長いy突起58aが設けられ、他方、y粗動フレーム61にはy溝61aが設けられ、y突起58aとy溝61aが契合することでy粗動フレーム61はy方向にスライドできるようにx微動フレーム58に支持され、このスライドはyクランプ62で固定される構造である。
yクランプ62は摘み付きのネジで、回転させてy粗動フレーム61をx微動フレーム58に押し付け挟み込んで一体に固定するものである。
y粗動フレーム61にはyレール63と2つのy軸受け64が固定され、y軸受け64にはyネジ65がその軸回りに回転できるように支持され、yレール63とyネジ65の軸は同じ方向、y方向を向いている。yネジ65の一端にはyダイアル66が固定され、yダイアル66を指で回すことでyネジ65を回転させ、yレール63とyネジ65に契合しているyナット67をy方向に移動させることができる。yナット67にはy微動フレーム68が固定されている。
以上の構成により、x微動フレーム58は、xクランプ52を緩めたときx方向に手動移動(粗動)でき、xクランプ52を締めたときxダイアル56を回転させることでx方向に手動移動(微動)できる。
また、y微動フレーム68は、yクランプ62を緩めたときy方向に手動移動(粗動)でき、yクランプ62を締めたときyダイアル66を回転させることでy方向に手動移動(微動)できる。
作用としては、x微動フレーム58とy微動フレーム68が第一の実施形態の位置決め板45と同じ働きをする。すなわち、第一の実施形態と同様に、被検体4をx微動フレーム58とy微動フレーム68に押し付けるように配置させ、それぞれx、y方向に移動させることで被検体4の検査部位Aを回転軸RA上に移動させることができる。
以上のように、変形例1でも、第一の実施形態と同様の効果をあげることができる。
(変形例2)
第一の実施形態で、回転機構8はXYテーブル10に対して着脱可能に固定されるが、これは直接的な固定のみには限定されず、位置関係として固定されればよい。例えば、XYテーブル10をXY移動する枠に取り付け、この枠に回転機構8を固定する場合も、「回転機構8はXYテーブル10に対して固定される」ということができる。
第一の実施形態で、XYテーブル10はX線ビーム5と干渉しない構造、例えば通過する穴を設けた板ないしフレーム、としても良い。
または、XYテーブル10を無くし、代わりに回転機構8をXY機構11のXY移動部材に直接取り付けるようにしてもよい(第二の透過撮影を無くす)。
または、回転機構8を載置する際、XYテーブル10を外して、XY機構11のXY移動部材に直接取り付けるようにしてもよい。
このようにすることで、XYテーブル10によるX線ビーム5の減衰を無くすことができる。
(変形例3)
第一の実施形態で、XY機構11は2軸駆動でなく検出器傾動機構13の傾動面(図1の紙面)に沿ったX方向のみとしても良い。断層撮影については機能的に欠損は生じない。
また、X方向のみの移動とした上で、更に、XYテーブル10を無くし、代わりに回転機構8をX移動の移動部材に直接取り付けるようにしてもよい(第二の透過撮影を無くす)。
(変形例4)
第一の実施形態では、検出器傾動機構13でX線検出器6を動かすことでラミノ角αを変更しているが、ラミノ角αはX線管2を動かすことや、X線管2とX線検出器6の両方を動かすことで行うこともできる。
(変形例5)
第一の実施形態で、検出器傾動機構13を無くし、ラミノ角αが90°固定となるようX線管2とX線検出器6を配置するようにしてもよい。
この場合、断層撮影装置1は所謂RR型のCT装置を構成する。
図6は、変形例5に係る断層撮影装置70(RR型のCT装置)を示す模式図(正面図)である。
この場合、実施形態1で説明した第二の透過撮影は行わないようにしてもよい。この場合、回転機構8はXYテーブル10に対し着脱する必要は無く、また、XYテーブル10もX線透過性である必要も平らな載置面10aをもつ必要も無く、単にXYに移動されるフレームでよい。また、XY機構11のY方向の移動は省略してもよい。
(変形例6)
第一の実施形態(図1)で、回転テーブル7の載置面7aに対し、X線管2を上側にX線検出器6を下側に(鏡像反転)した配置としてもよい。
1 断層撮影装置
2 X線管
3 X線ビーム
4 被検体
5 X線ビーム
6 X線検出器
6a 検出面
7 回転テーブル
7a 載置面
8 回転機構
9 載置調整機構
10 XYテーブル
10a 載置面
11 XY機構
12 Z機構
13 検出器傾動機構
14 レーザ光源
15 レーザ光
16 制御処理部
16a 表示部
16b 入力部
F X線焦点
RA 回転軸
XA X線光軸
LA レーザ光軸
A 検査部位の中央
30,53 xレール
31,54 x軸受け
32,55 xネジ
33,56 xダイアル
34,57 xナット
34a,50 x突起
35 xフレーム
35a,51a x溝
36,52 xクランプ
40,63 yレール
41,64 y軸受け
42,65 yネジ
43,66 yダイアル
44、67 yナット
44a,58a y突起
45 位置決め板
45a,61a y溝
46,62 yクランプ
51 x粗動フレーム
58 x微動フレーム
61 y粗動フレーム
68 y微動フレーム

Claims (4)

  1. 被検体を載置する載置面を有するテーブルと、
    前記テーブルに載置された被検体に対し放射線を放射する放射線源と、
    前記載置面の垂線から傾斜した方向を放射線光軸として前記被検体を透過してくる放射線を検出して透過データを出力する放射線検出器と、
    前記テーブルを前記載置面に垂直な回転軸で回転させる回転機構と、
    前記回転軸をレーザ光軸としてレーザ光を放射するよう配置されたレーザ光源と、
    前記回転機構による複数の回転位置において前記放射線検出器で検出された透過データから前記被検体の断層像を再構成する再構成手段と、
    前記被検体を前記テーブルの載置面の上で滑らせて2方向に移動させて位置決めする載置調整機構と、
    前記テーブルを前記回転機構と前記載置調整機構及び前記回転軸と一緒に前記載置面に沿った2方向に移動して位置決めするXY機構を有し、
    前記レーザ光源は、前記XY機構の所定の位置決め時に前記回転軸と前記レーザ光軸とが一致するよう配置されることを特徴とする断層撮影装置。
  2. 請求項1に記載の断層撮影装置において、
    さらに、前記XY機構により前記載置面に沿った2方向に移動される前記載置面と平行な第二の載置面を有する第二のテーブルを備え、
    前記回転機構は前記第二のテーブルに対し着脱可能に固定されることを特徴とする断層撮影装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の断層撮影装置において、
    前記放射線光軸は、前記回転軸の方向と非直交であることを特徴とする断層撮影装置。
  4. 請求項1または請求項2に記載の断層撮影装置において、
    前記放射線光軸は、前記回転軸の方向と直交することを特徴とする断層撮影装置。
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KR102267658B1 (ko) * 2017-04-26 2021-06-21 가부시키가이샤 니콘 검사 장치, 검사 방법 및 검사 대상물의 제조 방법
KR102283451B1 (ko) * 2018-05-16 2021-07-30 삼성중공업(주) 방사선 시편 검사 장치

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20010099854A (ko) * 1998-12-21 2001-11-09 추후제출 조직 블록을 절단하는 방법 및 장치
JP2000321505A (ja) * 1999-05-06 2000-11-24 Sony Corp 立体物観察スコープ
JP2005234306A (ja) * 2004-02-20 2005-09-02 Olympus Corp 顕微鏡観察装置
DE102005039422A1 (de) * 2005-08-16 2007-02-22 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Computertomografie-Messanordnung und Verfahren
JP4959223B2 (ja) * 2006-05-16 2012-06-20 東芝Itコントロールシステム株式会社 断層撮影装置
JP2006317465A (ja) * 2006-08-03 2006-11-24 Tdk Corp X線分析方法及びx線分析装置

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