JP2007174663A - アナログ増幅器、増幅器モジュールおよび測定デバイスの出力信号を補正する方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 88
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 38
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 16
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 5
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 12
- 238000013461 design Methods 0.000 description 10
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 7
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 6
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 6
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 6
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 230000002277 temperature effect Effects 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 1
- 238000002076 thermal analysis method Methods 0.000 description 1
- 230000005676 thermoelectric effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G3/00—Weighing apparatus characterised by the use of elastically-deformable members, e.g. spring balances
- G01G3/12—Weighing apparatus characterised by the use of elastically-deformable members, e.g. spring balances wherein the weighing element is in the form of a solid body stressed by pressure or tension during weighing
- G01G3/14—Weighing apparatus characterised by the use of elastically-deformable members, e.g. spring balances wherein the weighing element is in the form of a solid body stressed by pressure or tension during weighing measuring variations of electrical resistance
- G01G3/142—Circuits specially adapted therefor
- G01G3/147—Circuits specially adapted therefor involving digital counting
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/26—Modifications of amplifiers to reduce influence of noise generated by amplifying elements
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/38—DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/38—DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers
- H03F3/387—DC amplifiers with modulator at input and demodulator at output; Modulators or demodulators specially adapted for use in such amplifiers with semiconductor devices only
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45076—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
- H03F3/45475—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using IC blocks as the active amplifying circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/45—Differential amplifiers
- H03F3/45071—Differential amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/45479—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection
- H03F3/45928—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection using IC blocks as the active amplifying circuit
- H03F3/45968—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection using IC blocks as the active amplifying circuit by offset reduction
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/261—Amplifier which being suitable for instrumentation applications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2203/00—Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
- H03F2203/45—Indexing scheme relating to differential amplifiers
- H03F2203/45138—Two or more differential amplifiers in IC-block form are combined, e.g. measuring amplifiers
Landscapes
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Abstract
【解決手段】少なくとも1つのセンサ、ならびにセンサおよびアナログ増幅器に接続され、少なくとも1つの変調器および/またはマルチプレクサと、アナログ増幅器と、回路チェーン中におけるアナログ増幅器に続く少なくとも1つの処理ステージとを含む信号処理ユニットを含む測定デバイスにおいて、前記処理ステージは、スイッチングジャンプが起こる時点に応じて、アナログ増幅器と処理ステージとの間に配置され、タイムアウトコントローラによって制御されるスイッチを用いて所定のタイムアウトフェーズ存続期間中にアナログ増幅器から分離され、かつ/またはスイッチングジャンプが起こる時点に応じて、前記処理ステージは、所定のタイムアウトフェーズ存続期間中にタイムアウトコントローラによってブロックされる。
【選択図】図1
Description
第1に、演算増幅器のオフセット電圧ドリフトは、抑制することができる。非スイッチ型差動増幅器においては、差動増幅器の2つの出力信号が互いに他方から差し引かれた後にも、出力信号はまた、増幅されたセンサ信号に加えて、差動増幅ファクタが乗ぜられたこれら2つの演算増幅器のオフセット電圧差も含んでいる。スイッチ型差動増幅器においては、第1の演算増幅器のオフセット電圧が、1つのフェーズ中に第1のセンサ信号に加えられるが、第2の演算増幅器のオフセット電圧は、第2のセンサ信号に加えられる。第2の測定フェーズ中のセンサ信号は、センサ信号が演算増幅器に供給される前にクロスオーバされるので、同じセンサ信号は、今や他の演算増幅器の各オフセット電圧を受け取ることになる。したがって、スイッチ型増幅器のオフセット電圧差は、測定フェーズごとにその極性を変化させる。測定フェーズが、例えば十分に高い周波数で互いに続く場合には、極性変化は、低域通過フィルタを用いて信号から除去を可能にするのに十分に高速になる。
a)スイッチングするジャンプが起こる時点に応じて、アナログ増幅器の後続の処理ステージは、所定のタイムアウトフェーズ中にアナログ増幅器から分離され、かつ/または
b)スイッチングするジャンプが起こる時点に応じて、アナログ増幅器の後続の処理ステージは、所定のタイムアウトフェーズ中にブロックされる。
前述の信号処理モジュールは、多数の測定デバイス中において使用するための増幅器モジュールとして設計することもできる。この増幅器モジュール、または一体化された増幅器モジュールは、少なくとも1つのスイッチオーバコントローラを有する少なくとも1つの変調器および/またはマルチプレクサと、変調器および/またはマルチプレクサの後続のチェーン中において続いている少なくとも1つのアナログ増幅器と、アナログ増幅器の後に続いている少なくとも1つの処理ステージとを含んでおり、ここで処理ステージは、所定のタイムアウトフェーズ存続期間を有する、増幅器の出力信号中におけるタイムアウトフェーズを生成する役割を果たす少なくとも1つのタイムアウト手段を含んでいる。
20、120、220、420 信号処理ユニット
50、150、250、350、450 測定デバイス
221 トリガ信号接続
410、411、412、413、414 センサまたは力測定セル
AD アナログ/デジタル変換器回路
AD1 第1のA/D変換器
AD2 第2のA/D変換器
AE インジケータユニット
AS タイムアウトコントローラ
DMO 復調器
DMSW 復調スイッチ
DOP 差動増幅器
E1、E2、E3 一時的スランプ
EXOR 排他的論理和要素
HO ホールドフェーズ
K1、K2、K3、K4 ノード
MO 変調器
MX マルチプレクサ
OP アナログ増幅器、増幅器
OP1 第1の増幅器
OP2 第2の増幅器
R1、R2、R3、R4 抵抗
S 増幅器入力信号
SA タイムアウト信号
SG 信号ジェネレータ
SH サンプル・アンド・ホールド処理ステージ
SK スイッチング接点
SK1、SK2、SK3、SK4、SK5、SK6、SK7、SK8 スイッチング接点
SL 信号接続
SM サンプルフェーズ
SO 増幅器出力信号
SO1 第1の出力信号
SO1C 第1の復調された出力信号
SO1CF 第1の復調されフィルタされた出力信号
SO2 第2の出力信号
SO2C 第2の復調された出力信号
SO2CF 第2の復調されフィルタされた出力信号
SP1、SP2 スイッチ位置
SP3 高インピーダンススイッチングステージ
SSG 信号ジェネレータ信号
SSW スイッチオーバ信号、スイッチオーバ制御信号
SSWX マルチプレクサスイッチオーバ制御信号
STR トリガ信号
STRA タイムアウトおよびトリガ信号、組み合わされたトリガ信号
SW スイッチ
tAD1、tAD2、tAD3、... 変換時間期間
TR トリガ信号ジェネレータ
TRAS トリガ信号ジェネレータとタイムアウトコントローラを含む組み合わされたユニット、組み合わされたコントローラ、組み合わされたトリガ信号タイムアウトスイッチ
TSW トリガ信号スイッチ
US スイッチオーバコントローラ
α スルーレート
τ 立ち上がり時間
Claims (20)
- 信号処理ユニット(20)が、少なくとも1つの変調器(MO)および/またはマルチプレクサ(MX)と、アナログ増幅器(OP、DOP)と、回路チェーン中において前記アナログ増幅器(OP、DOP)に続く少なくとも1つの処理ステージ(AD、AE)とを含み、スイッチングによって引き起こされる増幅器入力信号(S1、S2)におけるジャンプに追随する際に、その物理的に制限された機能に起因する前記アナログ増幅器(OP、DOP)の伝達エラーを補正するための方法であって、
a)前記スイッチングジャンプが起こる時点に応じて、前記アナログ増幅器(OP、DOP)の後続の前記処理ステージ(AD、AE)が、所定のタイムアウトフェーズ存続期間(t1からt2、t3から...)中に前記アナログ増幅器(OP、DOP)から分離され、かつ/または
b)前記スイッチングジャンプが起こる時点に応じて、前記アナログ増幅器(OP、DOP)の後続の前記処理ステージ(AD、AE)が、所定のタイムアウトフェーズ存続期間(t1からt2、t3から...)中にブロックされることを特徴とする方法。 - 前記所定のタイムアウトフェーズ存続期間(t1からt2、t3から...)が、2と10の間のファクタが乗ぜられた、前記アナログ増幅器(OP、DOP)の立ち上がり時間(τ)または時定数に対応することを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記アナログ増幅器(OP、DOP)の後続の前記処理ステージ(AD、AE)が、スイッチ(SW)を用いて前記アナログ増幅器(OP、DOP)から分離され、前記スイッチ(SW)が、前記アナログ増幅器(OP、DOP)と前記処理ステージ(AD、AE)との間に配置され、タイムアウトコントローラ(AS)によって作動させられることを特徴とする、請求項1または2に記載の方法。
- 前記信号処理ユニット(120)が、回路チェーン中において前記アナログ増幅器(OP、DOP)に続く復調スイッチ(DMSW)を備え、前記変調器(MO)のスイッチオーバコントローラ(US)が、変調された信号の同期式復調のために前記復調スイッチ(DMSW)に作用し、タイムアウトコントローラ(AS)が、前記タイムアウトフェーズ存続期間(t1からt2、t3から...)中にタイムアウト信号(SA)を用いて前記復調スイッチ(DMSW)を高インピーダンススイッチングレベル(SP3)に、または高インピーダンス状態に保持することを特徴とする、請求項1または2に記載の方法。
- 前記アナログ増幅器に続く前記処理ステージが、アナログ/デジタル変換器回路(AD)であり、タイムアウトフェーズを生成するために、タイムアウトコントローラ(AS)が、トリガ信号スイッチ(TSW)を作動させ、前記トリガ信号スイッチ(TSW)が、前記タイムアウトフェーズ存続期間(t1からt2、t3から...)中にA/D変換のために必要とされるトリガ信号(STR)を中断することを特徴とする、請求項1から4の一項に記載の方法。
- 前記アナログ増幅器に続く前記処理ステージが、アナログ/デジタル変換器回路(AD)であり、タイムアウトフェーズを生成するために、タイムアウトコントローラ(AS)がA/D変換のために必要とされる信号を生成するトリガ信号ジェネレータ(TR)と一緒に、組み合わされたトリガ信号ジェネレータ/タイムアウトコントローラユニット(TRAS)を形成し、前記タイムアウトコントローラ(AS)によって生成されるタイムアウト信号(SA)が、前記タイムアウトフェーズ存続期間(t1からt2、t3から...)中にトリガ信号(STR)上に重ね合わされ、またはトリガ信号(STR)の生成が抑制されることを特徴とする、請求項1から4の一項に記載の方法。
- 前記変調器(MO)および/または前記マルチプレクサ(MX)に、スイッチオーバコントローラ(US)が装備され、タイムアウトコントローラ(AS)のタイムアウト信号(SA)が、前記スイッチオーバコントローラ(US)のスイッチオーバ信号(SSW)に応じて生成することができることを特徴とする、請求項1から6の一項に記載の方法。
- 少なくとも1つのセンサ(10、110、...)の出力信号が、前記増幅器(OP、DOP)に対して増幅器入力信号(S1、S2)として供給されることを特徴とする、請求項1から7の一項に記載の方法。
- 前記変調器(MO)を用いて、前記増幅器入力信号(S1、S2)、または前記センサの入力電圧が、交互に変化する方形波電圧信号として変調されることが好ましいことを特徴とする、請求項8に記載の方法。
- 少なくとも2つのセンサ(410、411、...)の出力信号が、前記マルチプレクサ(MX)を用いて、前記少なくとも1つのアナログ増幅器(OP)に対して逐次的に供給されることを特徴とする、請求項8または9に記載の方法。
- 増幅器モジュールが、少なくとも1つのスイッチオーバコントローラ(US)を有する少なくとも1つの変調器(MO)および/またはマルチプレクサ(MX)と、回路チェーン中において前記変調器(MO)および/またはマルチプレクサ(MX)の後に続く少なくとも1つのアナログ増幅器(OP)と、回路チェーン中において前記アナログ増幅器(OP)の後に続く少なくとも1つの処理ステージとを備え、前記処理ステージが、増幅器出力信号中に所定のタイムアウトフェーズ存続期間(t1からt2、t3から...)を伴うタイムアウトフェーズを生成する役割を果たす少なくとも1つのタイムアウト手段を含むことを特徴とする、請求項1から10の一項に記載の方法を実施するように動作可能な増幅器モジュールまたは一体化された増幅器モジュール。
- 少なくとも1つの信号処理ユニット(20)と、少なくとも1つのセンサ(10)とを有し、前記信号処理ユニット(20)が、スイッチオーバコントローラ(US)を有する変調器(MO)および/またはマルチプレクサ(MX)を備え、少なくとも1つのアナログ増幅器(OP1、OP2)が、回路チェーン中において前記変調器(MO)および/またはマルチプレクサ(MX)の後に続き、少なくとも1つの処理ステージ(AD、AE)が、回路チェーン中において前記アナログ増幅器(OP1、OP2)に続く、請求項1から10の一項に記載の方法を実施するように動作可能な測定デバイス(50、150、...)であって、
前記少なくとも1つの信号処理ユニット(20)が、増幅器出力信号(SO1CF、SO2CF)中において、所定のタイムアウトフェーズ存続期間(t1からt2、t3から...)を伴うタイムアウトフェーズを生成する役割を果たす少なくとも1つのタイムアウト手段を備えることを特徴とする、測定デバイス(50、150、...)。 - 前記変調器(MO)が、前記アナログ増幅器(DOP)の直前に配置され、前記変調器(MO)が、増幅器入力信号(S1、S2)の変調を行う役割を果たすことを特徴とする、請求項12に記載の測定デバイス(50)。
- 前記変調器(MO)が、前記少なくとも1つのセンサ(110)の前に配置され、前記変調器(MO)が、前記センサ(10)および/または力測定セル(10)の供給電圧(U0)の変調を行う役割を果たし、それによって増幅器入力信号(S1、S2)の変調を行う役割を果たすことを特徴とする、請求項12に記載の測定デバイス(150)。
- 前記タイムアウト手段が、前記信号処理ユニット(20)に割り当てられたスイッチ(SW)と、前記スイッチ(SW)に接続されたタイムアウトコントローラ(AS)とから成り、前記スイッチオーバコントローラ(US)のスイッチオーバ信号(SA)が、前記タイムアウトコントローラ(AS)を作動させることができることを特徴とする、請求項12から14の一項に記載の測定デバイス(50)。
- 前記タイムアウトコントローラ(AS)が、信号ジェネレータ(SG)と排他的論理和要素(EXOR)とを備え、信号ジェネレータ信号(SSG)をスイッチオーバ信号(SSW)と組み合わせることにより、前記排他的論理和要素(EXOR)が、タイムアウト信号(SA)を生成する役割を果たすことを特徴とする、請求項15に記載の測定デバイス(50)。
- 前記測定デバイス(150)が、回路チェーン中において前記アナログ増幅器(DOP)に続くように構成された復調スイッチ(DMSW)を備えることを特徴とし、さらに前記復調スイッチ(DMSW)が、前記変調器(MO)の前記スイッチオーバコントローラ(US)に接続され、前記タイムアウト手段が、前記復調スイッチ(DMSW)に接続されたタイムアウトコントローラ(AS)と、前記復調スイッチ(DMSW)中に一体化された高インピーダンススイッチングステージ(SP3)、または高インピーダンス状態に保持することができるスイッチング接点(SK7、SK8)を有する復調スイッチ(DMSW)とから成り、前記スイッチオーバコントローラ(US)のスイッチオーバ信号(SSW)が、前記高インピーダンススイッチングステージ(SP3)の前記タイムアウトコントローラ(AS)を作動させる適切な性質があり、前記タイムアウトコントローラ(AS)によって生成されるタイムアウト信号(SA)が、スイッチオーバ信号(SSW)上に重ね合わせることができ、またはタイムアウト信号(SA)が、スイッチオーバ信号(SSW)と組み合わせることができることを特徴とする、請求項12から14の一項に記載の測定デバイス(150)。
- 回路チェーン中において前記アナログ増幅器に続く前記処理ステージが、アナログ/デジタル変換器回路(AD)であり、前記タイムアウト手段が、トリガ信号スイッチ(TSW)と、前記トリガ信号スイッチ(TSW)に接続されたタイムアウトコントローラ(AS)とから成り、前記トリガ信号スイッチ(TSW)が、A/D変換のために必要とされるトリガ信号(STR)を中断し、さらに前記スイッチオーバコントローラ(US)のスイッチオーバ信号(SSW)が、前記タイムアウトコントローラ(AS)を作動させるのに適した性質のものであることを特徴とする、請求項12から14の一項に記載の測定デバイス(250)。
- 回路チェーン中において前記アナログ増幅器に続く前記処理ステージが、アナログ/デジタル変換器回路(AD)であり、前記タイムアウト手段が、A/D変換のために必要とされるトリガ信号(STRA)を生成する役割を果たす組み合わされたトリガ信号ジェネレータおよびタイムアウトコントローラ(TRAS)から成り、前記スイッチオーバコントローラ(US)のスイッチオーバ信号(SSW)が、前記タイムアウトコントローラ(AS)を作動させるのに適した性質のものであり、前記タイムアウトコントローラ(AS)が、トリガ信号(STRA)を解放またはブロックする役割を果たすことを特徴とする、請求項12から14の一項に記載の測定デバイス(350)。
- 前記少なくとも1つのセンサが、湿度センサ、温度センサ、圧力センサ、歪みゲージを有する力測定セル、または電磁力補償の原理による力測定セルであることを特徴とする、請求項12から19の一項に記載の測定デバイス(350)。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP05112514A EP1801964A1 (de) | 2005-12-20 | 2005-12-20 | Verfahren zur Korrektur eines analogen Verstärker-Ausgangssignals, Verstärkermodul und Messvorrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007174663A true JP2007174663A (ja) | 2007-07-05 |
Family
ID=35759316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006342358A Pending JP2007174663A (ja) | 2005-12-20 | 2006-12-20 | アナログ増幅器、増幅器モジュールおよび測定デバイスの出力信号を補正する方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1801964A1 (ja) |
JP (1) | JP2007174663A (ja) |
CN (1) | CN1987363B (ja) |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090904 |
|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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|
A02 | Decision of refusal |
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