JP2007170830A - 半導体圧力センサ及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明に係る半導体圧力センサは、半導体基板の一面に凹部を備え、該凹部の薄板化された領域をダイアフラム部とし、該ダイアフラム部に感圧素子を配してなる半導体圧力センサであって、前記感圧素子は複数個、前記ダイアフラム部の一面および他面にそれぞれ配置されており、かつ、該一面に配された感圧素子のうち少なくとも一つは、前記ダイアフラム部をなす半導体基板に設けた貫通電極を介して、該他面に配された感圧素子と電気的に接続されている。
【選択図】図2
Description
後述する各実施形態で用いる半導体基板の両面には、予めパッシベーション(図示せず)が形成されている。このような半導体基板としては、シリコンウエハ等の半導体ウエハが好適に用いられるが、これに代えて半導体ウエハをチップ寸法に切断(ダイシング)した半導体チップを用いてもよい。
図1は、本発明に係る半導体圧力センサの第一実施形態を示す模式的な平面図であり、図1(a)は表面側(平坦面をなす側)を、図1(b)は裏面側(凹部を設けた側)を、それぞれ表している。図2は、図1に示すA−A線に沿った模式的な断面図である。
(2)深堀り反応性イオンエッチング(DRIE:Deep Reactive Ion Etching )法等により、ダイアフラム部12の表裏を貫通する孔(以下、貫通孔と呼ぶ)19a〜19dを形成する[図5]。
(3)熱酸化法等を用い、半導体基板11の表裏両面や貫通孔内に酸化膜を形成する(不図示)。
(5)各ゲージ抵抗13に接続するように、リード配線14を形成する[図7]。
(6)溶融金属吸引法やメッキ法等を用い、貫通孔19(19a〜19d)に金属を充填して、貫通電極18を形成する[図8]。
(8)必要に応じて、コンタクトホール(以下、コンタクト部とも呼ぶ)にTiN、TaN等のバリアメタルを形成する(不図示)。
(9)ダイアフラム12の両面にそれぞれ、金属配線17(17sa、17sb、17sc、17sd、17se)、18(18ra、18rb、18rc、18rd)を形成する[図8]。
図9は、本発明に係る半導体圧力センサの第二実施形態を示す模式的な平面図であり、(a)は表面側(平坦面をなす側)を、(b)は裏面側(凹部を設けた側)を、それぞれ表している。第二実施形態の半導体圧力センサにおいては、ダイアフラム部の両面において、ゲージ抵抗をダイアフラム部の中央部に配置させた点が、上述した第一実施形態と異なっている。
図11は、本発明に係る半導体圧力センサの第三実施形態を示す模式的な断面図であり、(a)はダイアフラム部として機能する半導体基板を薄肉厚化し、その両面にゲージ抵抗を設けた状態を、(b)は(a)の半導体基板にキャップ基板を貼り合わせた状態を、それぞれ表している。第三実施形態の半導体圧力センサは、予め両面にゲージ抵抗を設けた半導体基板を用意しておき、この半導体基板に別体をなすキャップ基板を一体化させる点が、上述した第一実施形態および第二実施形態と異なっている。
(1)半導体基板(例えば、シリコン基板)を、例えば水酸化カリウム(KOH)水溶液等のアルカリ性エッチング液を用いた異方性エッチング法を用いて5〜60μm程度まで薄肉化し、ダイアフラム部32を形成する。
(2)この薄肉化した半導体基板に対して、深堀り反応性イオンエッチング(DRIE:Deep Reactive Ion Etching )法等を用い、ダイアフラム部32の表裏を貫通する孔(以下、貫通孔と呼ぶ)を形成する。
(3)この貫通孔を設けた半導体基板に絶縁膜を形成する(不図示)。
(5)上記(1)〜(4)の工程により用意したダイアフラム部32として機能する半導体基板と、別途用意した筒状のキャップ基板31とを、常温接合法や陽極接合法等を用いて貼り合わせる[図11(b)]。これにより、半導体圧力センサ30が得られる。
Claims (5)
- 半導体基板の一面に凹部を備え、該凹部の薄板化された領域をダイアフラム部とし、該ダイアフラム部に感圧素子を配してなる半導体圧力センサであって、
前記感圧素子は複数個、前記ダイアフラム部の一面および他面にそれぞれ配置されており、かつ、該一面に配された感圧素子のうち少なくとも一つは、前記ダイアフラム部をなす半導体基板に設けた貫通電極を介して、該他面に配された感圧素子と電気的に接続されていることを特徴とする半導体圧力センサ。 - 前記貫通電極と前記半導体基板との間に、絶縁部を配したことを特徴とする請求項1に記載の半導体圧力センサ。
- 前記感圧素子は、前記ダイアフラム部一面および他面にそれぞれ配置された配線部により、ホイットストーンブリッジを構成していることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体圧力センサ。
- 前記貫通電極が金属部材からなり、該貫通電極と前記配線部との間に、バリアメタル部を配したことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の半導体圧力センサ。
- 半導体基板の一面に凹部を備え、該凹部の薄板化された領域をダイアフラム部とし、該ダイアフラム部の一面および他面にそれぞれ複数個の感圧素子を配してなる半導体圧力センサの製造方法であって、
前記半導体基板の一面に前記凹部を設けて前記ダイアフラム部を形成する工程と、
前記ダイアフラム部に貫通孔を形成する工程と、
前記ダイアフラム部に前記感圧素子を形成する工程と、
前記貫通孔内に貫通電極を形成する工程と、
を少なくとも具備したことを特徴とする半導体圧力センサの製造方法。
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