JP2007170830A - 半導体圧力センサ及びその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】ダイアフラム部の表面側と裏面側に加わる圧力を何れも感度よく検出できると共に、ダイアフラム部の中央付近にゲージ抵抗(感圧素子)を配置した場合にも感度の低下を抑制できる、半導体圧力センサ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る半導体圧力センサは、半導体基板の一面に凹部を備え、該凹部の薄板化された領域をダイアフラム部とし、該ダイアフラム部に感圧素子を配してなる半導体圧力センサであって、前記感圧素子は複数個、前記ダイアフラム部の一面および他面にそれぞれ配置されており、かつ、該一面に配された感圧素子のうち少なくとも一つは、前記ダイアフラム部をなす半導体基板に設けた貫通電極を介して、該他面に配された感圧素子と電気的に接続されている。
【選択図】図2

Description

本発明は、半導体圧力センサ及びその製造方法に係り、より詳細には、センサチップの外部応力に対する高感度化を図った半導体圧力センサ及びその製造方法に関する。
従来の半導体圧力センサとしては、例えば、図14に示すものが挙げられる。この半導体圧力センサ100は半導体基板101に形成され、半導体基板の裏面側からエッチングすることにより形成した薄肉のダイアフラム部102と、半導体基板の表面側に形成された4つのゲージ抵抗103を有している。4つのゲージ抵抗103はホイットストーンブリッジを構成するように電気的に接続されており、ダイアフラム部102が圧力を受けて撓むと、各ゲージ抵抗103にダイアフラム部102の撓み量に応じた応力が発生し、この応力に応じてゲージ抵抗103の抵抗値が変化する。この抵抗値変化を電気信号として取り出すことにより、半導体圧力センサ100は圧力の検出をする(例えば、特許文献1の図5を参照)。
また、図15に示すように、半導体基板201の表面側に代えて裏面側に4つのゲージ抵抗(抵抗体とも呼ぶ)203を備えた構成例も提案されている。このような構成とした半導体圧力センサ200は、外部の圧力がダイアフラム部202の裏面側から加えられた際に、ダイアフラム部の裏面側の方が表面側よりも大きく撓むため、抵抗体がダイアフラム部の表面側に形成された、図14の半導体圧力センサ100と比べて、抵抗体にかかる応力を大きくすることができるので、外部の圧力に対する感度の向上が図れる(例えば、特許文献1の図1を参照)。
しかしながら、上述した2つの半導体圧力センサ100(200)は何れも、ダイアフラム部102(202)の表面あるいは裏面という同一面内に4つのゲージ抵抗103(203)が配置されている。したがって、図15に示すようにゲージ抵抗を配置した場合には、ダイアフラム部の中央付近に配したゲージ抵抗203(r1、r3)にかかる応力が、ダイアフラム部の周縁付近に配したゲージ抵抗203(r2、r4)より比較的小さくなるため、外部の圧力に対する感度が低下するという問題があった。
特開2002−340714号公報
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、ダイアフラム部の表面側と裏面側に加わる圧力を何れも感度よく検出できると共に、ダイアフラム部の中央付近にゲージ抵抗(感圧素子)を配置した場合にも感度の低下を抑制できる、半導体圧力センサ及びその製造方法を提供することを目的とする。
本発明の請求項1に係る半導体圧力センサは、半導体基板の一面に凹部を備え、該凹部の薄板化された領域をダイアフラム部とし、該ダイアフラム部に感圧素子を配してなる半導体圧力センサであって、前記感圧素子は複数個、前記ダイアフラム部の一面および他面にそれぞれ配置されており、かつ、該一面に配された感圧素子のうち少なくとも一つは、前記ダイアフラム部をなす半導体基板に設けた貫通電極を介して、該他面に配された感圧素子と電気的に接続されていることを特徴とする。
本発明の請求項2に係る半導体圧力センサは、請求項1において、前記貫通電極と前記半導体基板との間に、絶縁部を配したことを特徴とする。
本発明の請求項3に係る半導体圧力センサは、請求項1又は2において、前記感圧素子は、前記ダイアフラム部一面および他面にそれぞれ配置された配線部により、ホイットストーンブリッジを構成していることを特徴とする。
本発明の請求項4に係る半導体圧力センサは、請求項1乃至3のいずれか1項において、前記貫通電極が金属部材からなり、該貫通電極と前記配線部との間に、バリアメタル部を配したことを特徴とする。
本発明の請求項5に係る半導体圧力センサの製造方法は、半導体基板の一面に凹部を備え、該凹部の薄板化された領域をダイアフラム部とし、該ダイアフラム部の一面および他面にそれぞれ複数個の感圧素子を配してなる半導体圧力センサの製造方法であって、前記半導体基板の一面に前記凹部を設けて前記ダイアフラム部を形成する工程と、前記ダイアフラム部に貫通孔を形成する工程と、前記ダイアフラム部に前記感圧素子を形成する工程と、前記貫通孔内に貫通電極を形成する工程と、を少なくとも具備したことを特徴とする。
本発明に係る半導体圧力センサにおいては、ゲージ抵抗がダイアフラム部の両面にそれぞれ配されており、個々のゲージ抵抗はリード配線及び貫通電極によりホイットストーンブリッジを構成するように電気的に接続されている。このゲージ抵抗を両面に配置した構成により、応力の集中するダイアフラム部の周縁(端)において、圧縮と引張の両方の応力がゲージ抵抗にかかることになるので、ダイアフラム部の表面側と裏面側に加わる圧力を何れも感度よく検出できる半導体圧力センサが得られる。これに加えて、このゲージ抵抗を両面に配置した構成は、ダイアフラム部の中央付近にゲージ抵抗を配置した場合でも感度の低下を抑制できるという効果ももたらす。
本発明に係る半導体圧力センサの製造方法は、半導体基板に凹部をなすダイアフラム部を形成し、次いでダイアフラム部に貫通孔と感圧素子とを設けた後、この貫通孔内に貫通電極を形成することにより、上述した構成からなる半導体圧力センサを作製する。ゆえに、この製造方法は、上述した特長、すなわち表裏の何れでも感度よく検出可能であり、ダイアフラム部内におけるゲージ抵抗の位置にも依存しない、半導体圧力センサの提供に寄与する。
以下、最良の形態に基づき、図面を参照して本発明を説明する。
後述する各実施形態で用いる半導体基板の両面には、予めパッシベーション(図示せず)が形成されている。このような半導体基板としては、シリコンウエハ等の半導体ウエハが好適に用いられるが、これに代えて半導体ウエハをチップ寸法に切断(ダイシング)した半導体チップを用いてもよい。
<第一実施形態>
図1は、本発明に係る半導体圧力センサの第一実施形態を示す模式的な平面図であり、図1(a)は表面側(平坦面をなす側)を、図1(b)は裏面側(凹部を設けた側)を、それぞれ表している。図2は、図1に示すA−A線に沿った模式的な断面図である。
図1に示すように、第一実施形態の半導体圧力センサ10は、半導体基板11の一面に凹部を備え、この凹部のうち薄板化された領域をダイアフラム部12とし、このダイアフラム部12に感圧素子として機能するゲージ抵抗(以下、感圧素子とも呼ぶ)13を配している。
特に、図1及び図2の構成例は、ダイアフラム部12の表面(平坦面をなす側)および裏面(凹部を設けた側)にそれぞれ2個づつ、計4個のゲージ抵抗13(それぞれ、R1〜R4とも呼ぶ)を配置した場合である。図2に示すように、ダイアフラム部12の表面に配されたゲージ抵抗のうち少なくとも一つ(例えば、R1)は、半導体基板11を構成するダイアフラム部12に設けた貫通電極18を介して、ダイアフラム部12の裏面に配された他のゲージ抵抗(例えば、R2)と電気的に接続されている。
図1及び図2に示した各ゲージ抵抗13は、貫通電極18やリード配線14を介して、ホイットストーンブリッジ(図3)を構成するように電気的に接続されている。このようにゲージ抵抗13をダイアフラム部12の両面に配置することにより、応力の集中するダイアフラムの周縁部12eにおいては圧縮と引張の両応力がゲージ抵抗13に加わるので、この半導体圧力センサ10は外部応力に対して高い感度を備えることができる。
図4は、ゲージ抵抗の配置と応力の加わる様子を示した模式的な断面図であり、(a)は従来の構成例を、(b)は本発明の構成例を、それぞれ表している。なお、これらの図において、点線は半導体基板の凹部が内側に撓む様子を表している。
従来は半導体基板の一方の面側(表面側または裏面側)にのみゲージ抵抗が設けられている。例えば図4(a)に示すように、半導体基板の表面側(平坦面をなす側)にのみゲージ抵抗103を配置した場合には、ダイアフラム部102の周縁域に設けた2つのゲージ抵抗r2、r4(103)には引張応力が加わるのに対して、ダイアフラム部102の中央域に設けたゲージ抵抗r1、r3(103)には圧縮応力が加わることになる。ゆえに、引張応力の感度に比べて、圧縮応力の感度が低くなる傾向にあった。
これに対して、図4(b)に示すように、本発明に係るゲージ抵抗の配置においては、全てのゲージ抵抗R1〜R4(13)がダイアフラム部12の周縁域に設けられ、かつ、ダイアフラム部12の両面にそれぞれ配されている。ゆえに、この構成によれば、半導体基板11の表面側(平坦面をなす側)に設けたゲージ抵抗R1、R3(13)には引張応力が、半導体基板の裏面側(凹部を設けた側)に設けたゲージ抵抗R2、R4(13)には圧縮応力が、個別に加わることになるので、外部応力に対する感度の優れた半導体圧力センサが得られる。
第一実施形態の半導体圧力センサ10は、例えば、次に示すような手順により作製する。以下、図5〜図8に示した模式的な平面図を参照して説明する。ここで、各図面において、(a)は表面側(平坦面をなす側)を、(b)は裏面側(凹部を設けた側)を、それぞれ表している。
(1)予め半導体基板(以下、ウェハとも呼ぶ)11の裏面に対して異方性エッチング処理を施して凹部を形成し、薄肉部とした領域(以下、ダイアフラム部とも呼ぶ)12を形成したものを用意する(不図示)。
(2)深堀り反応性イオンエッチング(DRIE:Deep Reactive Ion Etching )法等により、ダイアフラム部12の表裏を貫通する孔(以下、貫通孔と呼ぶ)19a〜19dを形成する[図5]。
(3)熱酸化法等を用い、半導体基板11の表裏両面や貫通孔内に酸化膜を形成する(不図示)。
(4)ウェハ両面のパターニングを行った後、イオン注入法や熱拡散法等により、ウェハ11の表裏にゲージ抵抗13(R1〜R4)を形成する[図6]。
(5)各ゲージ抵抗13に接続するように、リード配線14を形成する[図7]。
(6)溶融金属吸引法やメッキ法等を用い、貫通孔19(19a〜19d)に金属を充填して、貫通電極18を形成する[図8]。
(7)ダイアフラム部12の両面に配したリード配線部にコンタクトホールを形成する(不図示)。
(8)必要に応じて、コンタクトホール(以下、コンタクト部とも呼ぶ)にTiN、TaN等のバリアメタルを形成する(不図示)。
(9)ダイアフラム12の両面にそれぞれ、金属配線17(17sa、17sb、17sc、17sd、17se)、18(18ra、18rb、18rc、18rd)を形成する[図8]。
<第二実施形態>
図9は、本発明に係る半導体圧力センサの第二実施形態を示す模式的な平面図であり、(a)は表面側(平坦面をなす側)を、(b)は裏面側(凹部を設けた側)を、それぞれ表している。第二実施形態の半導体圧力センサにおいては、ダイアフラム部の両面において、ゲージ抵抗をダイアフラム部の中央部に配置させた点が、上述した第一実施形態と異なっている。
図9に示すように、第二実施形態の半導体圧力センサ20は、ゲージ抵抗23(R1〜R4)をダイアフラム部22の中央域22cに配置しているが、半導体基板の表面側(平坦面をなす側)に設けたゲージ抵抗R1、R3(23)には引張応力が、半導体基板の裏面側(凹部を設けた側)に設けたゲージ抵抗R2、R4(23)には圧縮応力が、個別に加わることになる。したがって、本発明によれば、ゲージ抵抗23をダイアフラム部22の中央域22cに配置した場合でも、外部応力に対する感度の優れた半導体圧力センサの提供が可能となる。
このように、ゲージ抵抗23をダイアフラム部22の中央域22cに配置させても高感度が維持できるので、例えば、高圧用途などで、図10に示すようにダイアフラム部42の周縁域42eが、断面方向から見て丸み形状を有する場合でも、効率よく応力を検知することが可能となる。
図10において、(a)は半導体基板の断面図であり、(b)はダイアフラム部の径方向の位置と各位置において発生する応力との関係を示すグラフであり、e1、e2はそれぞれ、断面図においてダイアフラム部42の外周端部を表す。特に、図10(b)において、点線はダイアフラム部42の周縁域42eが断面方向から見て角型形状の場合(不図示)を、実線はダイアフラム部42の周縁域42eが断面方向から見て丸み形状の場合[図10(a)]を、それぞれ表している。
図10(b)のグラフから、周縁域42eの形状に依存せず、ダイアフラム部の外周端部e1、e2において圧縮(+)応力が極大をとるのに対して、ダイアフラム部の中央域42cでは引張(−)応力が発生する様子が読みとれる。角型形状の場合(点線)に比べて丸み形状の場合(実線)には、何れの応力も小さな数値となるが、図9の構成を採用することにより、高感度化が図れる。
<第三実施形態>
図11は、本発明に係る半導体圧力センサの第三実施形態を示す模式的な断面図であり、(a)はダイアフラム部として機能する半導体基板を薄肉厚化し、その両面にゲージ抵抗を設けた状態を、(b)は(a)の半導体基板にキャップ基板を貼り合わせた状態を、それぞれ表している。第三実施形態の半導体圧力センサは、予め両面にゲージ抵抗を設けた半導体基板を用意しておき、この半導体基板に別体をなすキャップ基板を一体化させる点が、上述した第一実施形態および第二実施形態と異なっている。
第三実施形態の半導体圧力センサ30は、例えば、以下の手順により作製する。
(1)半導体基板(例えば、シリコン基板)を、例えば水酸化カリウム(KOH)水溶液等のアルカリ性エッチング液を用いた異方性エッチング法を用いて5〜60μm程度まで薄肉化し、ダイアフラム部32を形成する。
(2)この薄肉化した半導体基板に対して、深堀り反応性イオンエッチング(DRIE:Deep Reactive Ion Etching )法等を用い、ダイアフラム部32の表裏を貫通する孔(以下、貫通孔と呼ぶ)を形成する。
(3)この貫通孔を設けた半導体基板に絶縁膜を形成する(不図示)。
(4)この半導体基板に対して、第一実施形態と同様の手法により、ゲージ抵抗33(R1〜R4)、リード配線34、金属配線(不図示)、及び貫通電極38を形成する[図11(a)]。
(5)上記(1)〜(4)の工程により用意したダイアフラム部32として機能する半導体基板と、別途用意した筒状のキャップ基板31とを、常温接合法や陽極接合法等を用いて貼り合わせる[図11(b)]。これにより、半導体圧力センサ30が得られる。
なお、上述した貫通電極としては、貫通孔を全て満たすように金属を充填した形態(図2、図11)に代えて、貫通孔をなす半導体基板51の断面に絶縁膜αを介して導電膜(例えば、銅メッキ膜やアルミニウム膜)58を配し、貫通孔内に空洞59を残す形態としてもよい(図12)。後者の場合は、導電膜58によって半導体基板51の両面にそれぞれ設けた回路(不図示)同士の導通が確保される。
また、図13に示すように、貫通孔をなす半導体基板61の断面に、例えばボロン等からなる不純物を高濃度に拡散した領域βを設け、貫通孔内に空洞69を残す形態を採用しても構わない。この場合には、領域βが導通を確保する役割を担う。
本発明に係る半導体圧力センサは、空気圧や水圧、油圧などの圧力を、高感度かつ高精度に測定することを可能とすることから、たとえば呼気圧モニタ、全自動洗濯機の水位検知などの用途に好適である。
本発明の半導体圧力センサの第一実施形態を示す模式的な平面図である。 図1に示すA−A線に沿った模式的な断面図である。 ゲージ抵抗の電気的な配線図である。 ゲージ抵抗の配置と応力の加わる様子を示した模式的な断面図である。 第一実施形態の半導体圧力センサの製造工程を示す模式的な平面図である。 図5の後工程を示す模式的な平面図である。 図6の後工程を示す模式的な平面図である。 図7の後工程を示す模式的な平面図である。 本発明の半導体圧力センサの第二実施形態を示す模式的な平面図である。 半導体基板の断面図(a)とダイアフラム部の径方向の位置と各位置において発生する応力との関係を示すグラフ(b)である。 本発明の半導体圧力センサの第三実施形態を示す模式的な断面図である。 貫通孔の他の一例を示す模式的な断面図である。 貫通孔の他の一例を示す模式的な断面図である。 従来の半導体圧力センサの模式的な断面図である。 図14に示す半導体圧力センサの模式的な平面図である。
符号の説明
10、20、30 半導体圧力センサ、11 半導体基板、12 ダイアフラム部、13、R1、R2、R3、R4 ゲージ抵抗(感圧素子)、14 リード配線、17 金属配線、18 貫通電極。

Claims (5)

  1. 半導体基板の一面に凹部を備え、該凹部の薄板化された領域をダイアフラム部とし、該ダイアフラム部に感圧素子を配してなる半導体圧力センサであって、
    前記感圧素子は複数個、前記ダイアフラム部の一面および他面にそれぞれ配置されており、かつ、該一面に配された感圧素子のうち少なくとも一つは、前記ダイアフラム部をなす半導体基板に設けた貫通電極を介して、該他面に配された感圧素子と電気的に接続されていることを特徴とする半導体圧力センサ。
  2. 前記貫通電極と前記半導体基板との間に、絶縁部を配したことを特徴とする請求項1に記載の半導体圧力センサ。
  3. 前記感圧素子は、前記ダイアフラム部一面および他面にそれぞれ配置された配線部により、ホイットストーンブリッジを構成していることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体圧力センサ。
  4. 前記貫通電極が金属部材からなり、該貫通電極と前記配線部との間に、バリアメタル部を配したことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の半導体圧力センサ。
  5. 半導体基板の一面に凹部を備え、該凹部の薄板化された領域をダイアフラム部とし、該ダイアフラム部の一面および他面にそれぞれ複数個の感圧素子を配してなる半導体圧力センサの製造方法であって、
    前記半導体基板の一面に前記凹部を設けて前記ダイアフラム部を形成する工程と、
    前記ダイアフラム部に貫通孔を形成する工程と、
    前記ダイアフラム部に前記感圧素子を形成する工程と、
    前記貫通孔内に貫通電極を形成する工程と、
    を少なくとも具備したことを特徴とする半導体圧力センサの製造方法。
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