JP2007105112A5 - - Google Patents

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  1. X線を照射するX線源と,
    被検体を透過したX線を検出して電気信号に変換する複数のX線検出素子と前記X線検出素子から検出信号を読み出してデジタル信号に変換するX線信号読み出し回路とを具備するX線検出手段と,
    外因性雑音要因によって電気信号を生じる雑音計測素子と前記雑音計測素子から外因性雑音信号を読み出してデジタル信号に変換する雑音読み出し回路とを具備する雑音計測手段と,
    前記雑音計測手段のデジタル信号を用いて前記X線検出手段のデジタル信号に含まれる外因性雑音を演算する演算手段と,
    前記演算手段の演算結果を用いて前記X線検出手段のデジタル信号に補正処理を行う補正手段とを具備し,
    前記X線検出手段は,前記X線信号読み出し回路によって1個以上のX線検出素子から検出信号読み出しを同時に行う同時X線検出手段を複数配置した構成を有し,当該同時X線検出手段を複数回切り替えて1つのX線像分のデータを取得し,
    前記雑音計測手段は,前記雑音読み出し回路によって少なくとも一つの雑音計測素子から外因性雑音信号読み出しを同時に行う同時雑音計測手段を少なくとも一つ配置した構成を有し,
    前記同時雑音計測手段は前記同時X線検出手段による検出信号読み出しと同時に外因性雑音信号読み出しを行い,1つのX線像分のデータを取得する間に,少なくとも1つの同一の前記同時雑音計測手段が,異なる時刻の前記同時X線検出手段の検出信号読み出しと同時に外因性雑音信号読み出しを前記雑音読み出し回路から行い,前記演算手段に出力することを特徴とするX線撮像装置。
  2. 請求項1記載のX線撮像装置において,前記X線検出手段は,前記X線信号読み出し回路によって1個以上のX線検出素子から検出信号読み出しを同時に行う同時X線検出手段を複数配置した構成を有し,当該同時X線検出手段をM回(Mは2以上の整数)切り替えて1つのX線像分のデータを取得し,
    前記雑音計測手段は,前記雑音読み出し回路によって1個以上の雑音計測素子から外因性雑音信号読み出しを同時に行う同時雑音計測手段を1個以上M個未満配置した構成を有し,
    前記同時雑音計測手段は前記同時X線検出手段による検出信号読み出しと同時に外因性雑音信号読み出しを行い,1つのX線像分のデータを取得する間に,少なくとも1つの同一の前記同時雑音計測手段が,異なる時刻の前記同時X線検出手段の検出信号読み出しと同時に外因性雑音信号読み出しを前記雑音読み出し回路から行うことを特徴とするX線撮像装置。
  3. 請求項1記載のX線撮像装置において,前記演算手段は,前記X線検出手段による検出信号読み出しと同時に外因性雑音信号読み出しを行った前記雑音計測手段のデジタル信号をもとに,前記外因性雑音を演算することを特徴とするX線撮像装置。
  4. 請求項1記載のX線撮像装置において,前記演算手段は,前記X線検出素子の外因性雑音演算を,当該X線検出素子の検出信号読み出しと同時に外因性雑音信号読み出しを行った前記1個以上の前記雑音計測素子と,当該X線検出素子との前記外因性雑音要因に対する相関を用いて行うことを特徴とするX線撮像装置。
  5. 請求項1記載のX線撮像装置において,前記演算手段は,前記X線検出素子の検出信号読み出しと同時に外因性雑音信号読み出しを行った前記同時雑音計測手段のデジタル信号と,非同時に外因性雑音信号読み出しを行った1つ以上の前記同時雑音計測手段のデジタル信号を用いて,当該X線検出素子の外因性雑音を演算することを特徴とするX線撮像装置。
  6. 請求項1記載のX線撮像装置において,前記X線検出手段はフレーム毎に前記X線像分の信号読み出しを周期的に複数回行い,前記演算手段は,前記X線検出素子の検出信号読み出しと同時に外因性雑音信号読み出しを行った前記同時雑音計測手段のデジタル信号と,当該X線検出素子の検出信号読み出しと異なるフレームにて外因性雑音信号読み出しを行った1つ以上の前記同時雑音計測手段のデジタル信号を用いて,当該X線検出素子の外因性雑音を演算することを特徴とするX線撮像装置。
  7. 請求項1記載のX線撮像装置において,前記雑音計測手段は,前記雑音計測素子にX線が入射するのを防ぐX線遮蔽手段を具備することを特徴とするX線撮像装置。
  8. 請求項1記載のX線撮像装置において,前記雑音計測手段は,前記X線検出手段のX線入射面の反対面に隣接又は近接して配置されていることを特徴とするX線撮像装置。
  9. 請求項1記載のX線撮像装置において.前記X線検出手段は,前記X線検出素子の信号読み出しの0N/OFF切り替えを制御するスイッチング素子と,該スイッチング素子へ制御信号を入力する制御線とを具備し,前記雑音計測手段は,前記雑音計測素子の信号読み出しのON/OFF切り替えを制御するスイッチング素子と,該スイッチング素子へ制御信号を入力する制御線と,前記雑音計測素子の制御線と前記X線検出素子の制御線とを選択的に接続する制御線切り替え手段とを具備し,前記制御線切り替え手段は,信号読み出しを行う前記X線検出素子の制御線と,当該X線検出素子と同時に読み出しを行う前記雑音計測素子の制御線とを接続し,前記X線検出素子の制御信号を用いて前記雑音計測素子のスイッチング制御を行うことを特徴とするX線撮像装置。
  10. 請求項1記載のX線撮像装置において,前記X線検出手段は複数のX線検出素子から構成されるX線検出モジュールが複数配置された構造を有し,前記雑音計測手段はディフェクトX線検出素子を有する前記X線検出モジュールから構成されていることを特徴とするX線撮像装置。
  11. 請求項1記載のX線撮像装置において,前記補正手段から得た信号に再構成演算処理を行って断層像を作成する演算処理手段を具備することを特徴とするX線撮像装置。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009141439A (ja) * 2007-12-03 2009-06-25 Canon Inc 放射線撮像装置、その駆動方法及びプログラム
JP5895504B2 (ja) 2011-12-15 2016-03-30 ソニー株式会社 撮像パネルおよび撮像処理システム
JP5872936B2 (ja) * 2012-03-19 2016-03-01 シャープ株式会社 携帯型電子機器
JP6139821B2 (ja) * 2012-03-22 2017-05-31 東芝メディカルシステムズ株式会社 X線ct装置
JP5270790B1 (ja) 2012-05-30 2013-08-21 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法
JP6129517B2 (ja) * 2012-11-06 2017-05-17 東芝メディカルシステムズ株式会社 X線診断装置及び制御プログラム
JP6166821B2 (ja) * 2016-05-09 2017-07-19 キヤノン株式会社 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2018059724A (ja) * 2016-10-03 2018-04-12 東芝電子管デバイス株式会社 放射線検出器

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55162077A (en) * 1979-06-04 1980-12-17 Toshiba Corp Radiation detector
JPH0716485B2 (ja) * 1989-09-01 1995-03-01 株式会社日立製作所 X線ct装置
US6031891A (en) * 1998-04-30 2000-02-29 Picker International, Inc. Dual reference blacklevel clamping device and method for video line noise removal
JP2002158340A (ja) * 2000-11-16 2002-05-31 Canon Inc 放射線撮像装置、光電変換装置及び放射線撮像システム
JP2001340324A (ja) * 2001-03-16 2001-12-11 Toshiba Medical System Co Ltd X線検出器及びそれを使ったx線診断装置
JP4280024B2 (ja) * 2001-04-23 2009-06-17 株式会社東芝 X線平面検出器
JP4723767B2 (ja) * 2001-09-13 2011-07-13 株式会社東芝 X線画像診断装置
JP4082056B2 (ja) * 2002-03-28 2008-04-30 コニカミノルタホールディングス株式会社 固体撮像装置
JP4082284B2 (ja) * 2003-06-13 2008-04-30 株式会社島津製作所 フラットパネル型検出器におけるノイズ除去方法
JP4532949B2 (ja) * 2004-03-24 2010-08-25 キヤノン株式会社 放射線ct撮影装置及び放射線ct撮影システム及びそれを用いた放射線ct撮影方法

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