JP5270790B1 - 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法 - Google Patents

放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法 Download PDF

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Abstract

【課題】外乱要因に起因したノイズが発生した場合に、時間を要さずにノイズの発生を検出して撮影動作を制御することができる、放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法を提供する。
【解決手段】放射線が照射されると、当該放射線に応じて発生した電荷の電荷蓄積期間に放射線検知用の画素100Bから出力された電気信号(電荷情報)を所定の検出期間の間、信号検出回路105で検出し、制御部106が電気信号(電荷情報)の時間変化が、ノイズとして予め定められた特徴を有しているか否かを判断する。有している場合は、ノイズが発生したと判断し、電子カセッテ20の動作を停止させ、電荷蓄積期間を中断(退避)し、放射線検出期間に遷移する。
【選択図】図8

Description

本発明は、放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法に係り、特に医療用の放射線画像を撮影する放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法に関する。
従来、医療診断を目的とした放射線撮影を行う放射線画像撮影装置が知られている。当該放射線画像撮影装置は、放射線照射装置から照射され、被検体を透過した放射線を検出して放射線画像を撮影する。当該放射線画像撮影装置は、照射された放射線に応じて発生した電荷を収集して読み出すことにより放射線画像の撮影を行う。
このような放射線画像撮影装置として、放射線または、放射線が変換された光が照射されることにより電荷を発生する光電変換素子等によるセンサ部と、センサ部で発生した電荷を読み出すスイッチング素子と、を備えると共に、スイッチング素子から読み出された電荷に基づいて、放射線の照射が開始(放射線画像の撮影が開始)されたこと等を検出する照射検出部を備えたものが知られている。
このような放射線画像の撮影開始を検出する照射検出部を備えた放射線画像撮影装置では、例えば、衝撃や電磁波等の外乱に起因したノイズによりセンサ部で発生した電荷により、放射線の照射が開始されたと照射検出部が誤検出してしまう場合がある。
そのため、このような誤検出を防止する技術がある。例えば、特許文献1には、バイアス線を流れる電流の値に基づいて放射線の照射開始を検出する放射線画像撮影装置において、バイアス線を流れる電流に対して重畳されるスイッチング素子に印加するオン電圧やオフ電圧を切り替える際のノイズによる電圧値の立ち上がりを放射線の照射開始として誤検出されてしまうことを防止する技術が記載されている。
また、特許文献2には、X線撮像装置において、ノイズによる誤動作を防止しつつ、X線照射が、AC電源電圧の半波整流波形に応じた周期的なものであっても高周波インバータ方式で得られる完全直流電圧の電圧波形に応じた定常的なものであっても、撮像開始タイミングが適正に検出できるようにする技術が記載されている。
特開2010−268171号公報 特開2006−246961号公報
上述した技術では、ノイズの発生を検出するまでに時間を要し、リアルタイムで検出できない場合がある。そのため、放射線の照射が開始されたと照射検出部が誤検出したと判断するまでに時間を要する場合があり、この間に、放射線画像の撮影のために放射線が照射されても検出できない場合がある。そのため、外乱要因、特に衝撃(振動)に起因してノイズが発生した場合に、時間を要さずに、リアルタイムで、当該ノイズの発生を検出して、放射線検出器の動作に反映させることが望まれている。
本発明は、上記問題点を解決するために成されたものであり、外乱要因に起因したノイズが発生した場合に、時間を要さずにノイズの発生を検出して撮影動作を制御することができる、放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御プログラム、及び放射線画像撮影装置の制御方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の放射線画像撮影装置は、照射された放射線の線量に応じた電荷を発生して、発生した電荷を蓄積するセンサ部、及び制御信号に基づいてセンサ部から電荷を読み出して荷に応じた電気信号を信号線に出力するスイッチング素子を各々備えた複数の画素を備えた放射線検出器と、センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、及びセンサ部と異なる放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、の少なくとも一方の場合を放射線の照射開始として検出する、検出動作を行う検出手段と、検出手段が、放射線の照射開始を検出した後、外乱に起因するノイズが発生したか否か判断し、ノイズが発生した場合は、放射線検出器の現在の動作を停止させるよう制御し、検出手段に再び検出動作を行わせるよう制御する、制御手段と、を備える。
本発明の放射線画像撮影装置は、検出手段で放射線の照射開始を検出した後に、制御手段は、センサ部に電荷の蓄積を開始させ、蓄積開始後にノイズが発生したか否か判断し、ノイズが発生した場合は、放射線検出器の現在の動作を停止させるよう制御してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置は、検出手段で放射線の照射開始を検出した後、センサ部に電荷の蓄積を開始させる前に、制御手段は、ノイズが発生したか否か判断し、ノイズが発生していない場合は、センサ部に電荷の蓄積を開始させるようにしてもよい。
本発明の制御手段は、センサ部で発生した電荷に起因した電気信号の変化を検出し、電気信号の時間変化に基づいて、ノイズが発生したか否か判断してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置は、複数の画素のうちスイッチング素子が短絡した短絡画素を備えており、制御手段は、短絡画素のセンサ部で発生した電荷に起因した電気信号の時間変化に基づいて、ノイズが発生したか否か判断してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置は、センサ部にバイアス電圧を供給する共通電極配線を備え、制御手段は、センサ部で発生した電荷に起因して、共通電極配線を流れる電気信号の時間変化に基づいて、ノイズが発生したか否か判断してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置の放射線センサ部は、放射線検出器の内部または外部の少なくとも一方に設けられており、制御手段は、放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号の時間変化に基づいて、ノイズが発生したか否か判断してもよい。
本発明の制御手段は、検出手段が放射線の照射開始を検出した後から、放射線の照射が停止するまでの期間、電気信号の変化を検出し、電気信号の時間変化に基づいて、ノイズが発生したか否か判断してもよい。
本発明の制御手段は、電気信号に応じた電荷の極性及び電荷量の時間変化を表す波形の振幅の少なくとも一方の時間変化に基づいて、ノイズが発生したか否かを判断してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置は、検出手段が放射線の照射開始を検出するための電気信号と、制御手段がノイズが発生したか否かを判断するための電気信号とは、種類が異なる電気信号であってもよい。
本発明の制御手段は、画素が設けられた所定の領域毎に予め定められた基準、及び信号線毎に予め定められた基準の少なくとも一方により、ノイズが発生したが否かを判断してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置は、放射線検出器に外部から加えられた衝撃、及び電磁波の少なくとも一方を検知する検知部を備え、制御手段は、検知部の検知結果に基づいて、ノイズが発生したが否か判断してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置は、複数の画素のうちスイッチング素子が短絡した短絡画素を備えており、検出手段は、短絡画素のセンサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合を放射線の照射開始として検出してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置は、センサ部にバイアス電圧を供給する共通電極配線を備え、検出手段は、センサ部で発生した電荷に起因して、共通電極配線を流れる電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合を放射線の照射開始として検出してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置の放射線センサ部は、放射線検出器の内部または外部の少なくとも一方に設けられており、検出手段は、放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合を放射線の照射開始として検出してもよい。
本発明の放射線画像撮影装置の制御手段が停止させる現在の動作とは、センサ部に電荷を蓄積させる蓄積動作、または、スイッチング素子によりセンサ部から電荷を読み出す読み出し動作であってもよい。
本発明の制御手段は、ノイズが発生した場合は、報知するよう報知手段を制御してもよい。
本発明の放射線画像撮影システムは、放射線を照射する照射装置と、照射装置から照射された放射線に応じた放射線画像を撮影する、本発明の放射線画像撮影装置と、を備える。
本発明の放射線画像撮影装置の制御プログラムは、照射された放射線の線量に応じた電荷を発生して、発生した電荷を蓄積するセンサ部、及び制御信号に基づいてセンサ部から電荷を読み出して電荷に応じた電気信号を信号線に出力するスイッチング素子を各々備えた複数の画素を備えた放射線検出器を備えた放射線画像撮影装置の制御プログラムであって、センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、及びセンサ部と異なる放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、の少なくとも一方の場合を放射線の照射開始として検出する、検出動作を行う検出手段と、検出手段が、放射線の照射開始を検出した後、外乱に起因するノイズが発生したか否か判断し、ノイズが発生した場合は、放射線検出器の現在の動作を停止させるよう制御し、検出手段に再び検出動作を行わせるよう制御する、制御手段と、してコンピュータを機能させるためのものである。
本発明の放射線画像撮影装置の制御方法は、照射された放射線の線量に応じた電荷を発生して、発生した電荷を蓄積するセンサ部、及び制御信号に基づいてセンサ部から電荷を読み出して電荷に応じた電気信号を信号線に出力するスイッチング素子を各々備えた複数の画素を備えた放射線検出器を備えた放射線画像撮影装置の制御方法であって、検出手段によりセンサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、及びセンサ部と異なる放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、の少なくとも一方の場合を放射線の照射開始として検出する、検出動作を行う検出工程と、制御手段により検出手段が、放射線の照射開始を検出した後、外乱に起因するノイズが発生したか否か判断し、ノイズが発生した場合は、放射線検出器の現在の動作を停止させるよう制御し、検出手段に再び検出動作を行わせるよう制御する工程と、を備える。
本発明によれば、外乱要因に起因したノイズが発生した場合に、時間を要さずにノイズの発生を検出して撮影動作を制御することができる、という効果が得られる。
第1の実施の形態に係る放射線画像撮影システムの一例の概略構成を示す概略構成図である。 第1の実施の形態に係る電子カセッテの全体構成の一例を示す構成図である。 第1の実施の形態に係る放射線検出器の構成の一例を示す平面図である。 第1の実施の形態に係る放射線検出器の一例の線断面図である。 第1の実施の形態に係る放射線検出器の一例の線断面図である。 第1の実施の形態に係る放射線画像撮影装置の信号検出回路の概略構成の一例を示す概略構成図である。 第1の実施の形態に係る放射線検出器に放射線が照射された場合の電気信号の時間変化を示すグラフであり、(A)は、電圧信号Diの時間変化を示し、(B)は、一階微分値Di1の時間変化を示し、及び(C)は、二階微分値Di2の時間変化を示している。 第1の実施の形態に係る放射線検出器にノイズが発生した場合の電気信号の時間変化を示すグラフであり、(A)は、電圧信号Diの時間変化を示し、(B)は、一階微分値Di1の時間変化を示し、及び(C)は、二階微分値Di2の時間変化を示している。 第1の実施の形態に係る放射線画像を撮影する際の動作の流れの一例を示したフローチャートである。 その他の形態に係る放射線検知用の画素の構成の一例を示す平面図である。 その他の形態に係る放射線検知用の画素の構成の一例を示す平面図である。 その他の形態に係る放射線検知用の画素の構成の一例を示す平面図である。 第2の実施の形態に係る電子カセッテの全体構成の一例を示す構成図である。 その他の形態に係る電子カセッテの全体構成の一例を示す構成図である。 第3の実施の形態に係る放射線検出器の一例の線断面図である。 第4の実施の形態に係るセンサを放射線検出器の外部に設けた場合の一例を示す概略構成図であり、(A)は、側面図を示し、(B)は、底面側から見た平面図を示している。 ノイズの発生を検出するために、直接的に衝撃を検出する衝撃センサや、電磁波を検出する電磁波センサ等を設けた場合の一例の概略構成図である。 第5の実施の形態に係る放射線画像を撮影する際の動作の流れの一例を示したフローチャートである。 電荷蓄積期間の前のみ、ノイズの発生の検出を行う場合の時間と信号量(放射線が電荷に変化された電気信号量)との関係の一例を示す説明図である。 電荷蓄積期間の前、及び電荷蓄積期間の間、ノイズの発生の検出を行う(本実施の形態)場合の時間と信号量との関係の一例を示す説明図である。 第6の実施の形態に係る放射線画像を撮影する際の動作の流れの一例を示したフローチャートである。
本発明は、以下のような、放射線の照射開始(撮影開始)を検出する方法について適用できる。
(1)放射線画像撮影用の画素(2次元アレイ)の中から任意に選択した画素を放射線検知用の専用画素とする。なお、この場合、放射線画像撮影用の画素と、放射線検知用の画素は、同一の形状をしている。
(2)放射線画像撮影用の画素(2次元アレイ)の中から任意に選択した画素を放射線検知も可能な構造にする。すなわち、一部の画素を、放射線画像撮影及び放射線検知兼用の画素とする。例えば、選択した画素は、センサ部が2分割されていて放射線画像撮影の場合と放射線検知の場合とで、センサ部を使い分けることが挙げられる。また例えば、選択した画素はTFTスイッチが追加で配置されていて追加で配置されたTFTスイッチのリーク電流に基づいて放射線を検知することが挙げられる。
(3)放射線画像撮影用の画素(2次元アレイ)の画素間(例えば、画素間の隙間)に任意に放射線検知専用のセンサが配置されている。
なお、上記(2)、(3)の方法において、これらの方法に用いられる放射線検出器の構造は選択した画素(選択した隙間)のみがこのような構造になっていてもよいし、センサ部、及びTFTスイッチの構造は繰り返しパターニングされていて、選択した画素のみ電荷が取り出せるような接続になっていてもよい。
(4)放射線画像撮影用の画素(2次元アレイ)及びその隙間は変わらず、別途に検知手段を設ける。検知方法としては、例えば、放射線検出器のバイアス電流検知、ゲート電流検知、及びリーク電流検知等が挙げられる。
(5)放射線画像撮影用の画素(2次元アレイ)及びその隙間は変わらず、また、別途に検知手段を設けることもなく、放射線画像撮影用の制御部を用いるようにしてもよい。検知方法としては、例えば、リーク電流検知等が挙げられる。
上記(1)〜(5)のいずれの方法も、放射線検出器内部に放射された放射線の線量に応じて電荷(電気信号)を発生させるセンサを設けた場合に対応するものである。なおこれに限らず、下記(6)のように放射線検出器外部にセンサを設けるようにしてもよい。なお、放射線検出器内部のセンサ、及び放射線検出器外部のセンサを総称する場合は、放射線センサという。
(6)放射線検出器の外部に放射線検知センサを設ける。例えば、放射線非照射となる放射線検出器の底面に放射線検知センサを設けておく。
また、上記(1)〜(6)のいずれの方法においても、TFTスイッチのゲートがオン状態の場合に放射線を検知するようにしてもよいし、ゲートがオフ状態の場合に放射線を検知するようにしてもよい。
以下に、上記した放射線の照射開始(撮影開始)を検出する方法のうちから、代表的な検出方法に本発明を適用した場合の実施の形態について詳細に説明する。
[第1の実施の形態]
以下、各図面を参照して本実施の形態の一例について説明する。
まず、本実施の形態の放射線画像処理装置を備えた放射線画像撮影システム全体の概略構成について説明する。図1には、本実施の形態の放射線画像撮影システムの一例の全体構成の概略の概略構成図を示す。本実施の形態の放射線画像撮影システム10は、電子カセッテ20自身が、放射線の照射開始(撮影開始)を検出する機能を有している。
本実施の形態の放射線画像撮影システム10は、コンソール16を介して外部のシステム(例えば、RIS:Radiology Information System:放射線情報システム)から入力された指示(撮影メニュー)に基づいて、医師や放射線技師等の操作により放射線画像の撮影を行う機能を有するものである。
また、本実施の形態の放射線画像撮影システム10は、撮影された放射線画像をコンソール16のディスプレイ50や放射線画像読影装置18に表示させることにより、医師や放射線技師等に放射線画像を読影させる機能を有するものである。
本実施の形態の放射線画像撮影システム10は、放射線発生装置12、放射線画像処理装置14、コンソール16、記憶部17、放射線画像読影装置18、及び電子カセッテ20を備えている。
放射線発生装置12は、放射線照射制御ユニット22を備えている。放射線照射制御ユニット22は、放射線画像処理装置14の放射線制御部62の制御に基づいて放射線照射源22Aから放射線Xを撮影台32上の被検者30の撮影対象部位に照射させる機能を有している。
被検者30を透過した放射線Xは、撮影台32内部の保持部34に保持された電子カセッテ20に照射される。電子カセッテ20は、被検者30を透過した放射線Xの線量に応じた電荷を発生し、発生した電荷量に基づいて放射線画像を示す画像情報を生成して出力する機能を有するものである。本実施の形態の電子カセッテ20は、放射線検出器26を備えている。
本実施の形態では、電子カセッテ20により出力された放射線画像を示す画像情報は、放射線画像処理装置14を介してコンソール16に入力される。本実施の形態のコンソール16は、無線通信(LAN:Local Area Network)等を介して外部システム(RIS)等から取得した撮影メニューや各種情報等を用いて、放射線発生装置12及び電子カセッテ20の制御を行う機能を有している。また、本実施の形態のコンソール16は、放射線画像処理装置14との間で放射線画像の画像情報を含む各種情報の送受信を行う機能と共に、電子カセッテ20との間で各種情報の送受信を行う機能を有している。
本実施の形態のコンソール16は、サーバー・コンピュータとして構成されており、制御部40、ディスプレイドライバ48、ディスプレイ50、操作入力検出部52、操作パネル54、I/O部56、及びI/F部58を備えて構成されている。
制御部40は、コンソール16全体の動作を制御する機能を有しており、CPU、ROM、RAM、及びHDDを備えている。CPUは、コンソール16全体の動作を制御する機能を有しており、ROMには、CPUで使用される制御プログラムを含む各種プログラム等が予め記憶されている。RAMは、各種データを一時的に記憶する機能を有しており、HDD(ハードディスク・ドライブ)は、各種データを記憶して保持する機能を有している。
ディスプレイドライバ48は、ディスプレイ50への各種情報の表示を制御する機能を有している。本実施の形態のディスプレイ50は、撮影メニューや撮影された放射線画像等を表示する機能を有している。操作入力検出部52は、操作パネル54に対する操作状態を検出する機能を有している。操作パネル54は、放射線画像の撮影に関する操作指示を、医師や放射線技師等が入力するためのものである。本実施の形態では操作パネル54は、例えば、タッチパネル、タッチペン、複数のキー、及びマウス等を含んでいる。なお、タッチパネルとして構成する場合は、ディスプレイ50と同一としてもよい。
また、I/O部56及びI/F部58は、無線通信により、放射線画像処理装置14及び放射線発生装置12との間で各種情報の送受信を行うと共に、電子カセッテ20との間で画像情報等の各種情報の送受信を行う機能を有している。
制御部40、ディスプレイドライバ48、操作入力検出部52、及びI/O部56は、システムバスやコントロールバス等のバス59を介して相互に情報等の授受が可能に接続されている。従って、制御部40は、ディスプレイドライバ48を介したディスプレイ50への各種情報の表示の制御、及びI/F部58を介した放射線発生装置12及び電子カセッテ20との各種情報の送受信の制御を各々行うことができる。
本実施の形態の放射線画像処理装置14は、コンソール16からの指示に基づいて、放射線発生装置12及び電子カセッテ20を制御する機能を有すると共に、電子カセッテ20から受信した放射線画像の記憶部17への記憶、及びコンソール16のディスプレイ50や放射線画像読影装置18への表示を制御する機能を有するものである。
本実施の形態の放射線画像処理装置14は、システム制御部60、放射線制御部62、パネル制御部64、画像処理制御部66、及びI/F部68を備えている。
システム制御部60は、放射線画像処理装置14全体を制御する機能を有すると共に、放射線画像撮影システム10を制御する機能を有している。システム制御部60は、CPU、ROM、RAM、及びHDDを備えている。CPUは、放射線画像処理装置14全体及び放射線画像撮影システム10の動作を制御する機能を有しており、ROMには、CPUで使用される制御プログラムを含む各種プログラム等が予め記憶されている。RAMは、各種データを一時的に記憶する機能を有しており、HDDは、各種データを記憶して保持する機能を有している。放射線制御部62は、コンソール16の指示に基づいて、放射線発生装置12の放射線照射制御ユニット22を制御する機能を有している。パネル制御部64は、電子カセッテ20からの情報を、無線または有線により受け付ける機能を有しており、画像処理制御部66は、放射線画像に対して各種画像処理を施す機能を有している。
システム制御部60、放射線制御部62、パネル制御部64、及び画像処理制御部66は、システムバスやコントロールバス等のバス69を介して相互に情報等の授受が可能に接続されている。
本実施の形態の記憶部17は、撮影された放射線画像及び当該放射線画像に関係する情報を記憶する機能を有するものである。記憶部17としては、例えば、HDD等が挙げられる。
また、本実施の形態の放射線画像読影装置18は、撮影された放射線画像を読影者が読影するための機能を有する装置であり、特に限定されないが、いわゆる、読影ビューワ、コンソール、及びタブレット端末等が挙げられる。本実施の形態の放射線画像読影装置18は、パーソナル・コンピュータとして構成されており、コンソール16や放射線画像処理装置14と同様に、CPU、ROM、RAM、HDD、ディスプレイドライバ、ディスプレイ23、操作入力検出部、操作パネル24、I/O部、及びI/F部を備えて構成されている。なお、図1では、記載が煩雑になるのを避けるため、これらの構成のうち、ディスプレイ23及び操作パネル24のみを示し、その他の記載を省略している。
次に、本実施の形態の電子カセッテ20の概略構成について説明する。本実施の形態では、X線等の放射線を一旦光に変換し、変換した光を電荷に変換する間接変換方式の放射線検出器26に本発明を適用した場合について説明する。本実施の形態では、電子カセッテ20は、間接変換方式の放射線検出器26を備えて構成されている。なお、図2では、放射線を光に変換するシンチレータは省略している。
放射線検出器26には、光を受けて電荷を発生し、発生した電荷を蓄積するセンサ部103と、センサ部103に蓄積された電荷を読み出すためのスイッチング素子であるTFTスイッチ74と、を含んで構成される画素100が複数、マトリクス状に配置されている。本実施の形態では、シンチレータによって変換された光が照射されることにより、センサ部103で、電荷が発生する。
画素100は、一方向(図2のゲート配線方向)及び当該ゲート配線方向に対する交差方向(図2の信号配線方向)にマトリクス状に複数配置されている。図2では、画素100の配列を簡略化して示しているが、例えば、画素100はゲート配線方向及び信号配線方向に1024個×1024個配置されている。
本実施の形態では、複数の画素100のうち、放射線画像撮影用の画素100Aと放射線検知用の画素100Bが予め定められている。図2では、放射線検知用の画素100Bを破線で囲んでいる。放射線画像撮影用の画素100Aは、放射線を検出して放射線が示す画像を生成するために用いられ、放射線検知用の画素100Bは、放射線の照射開始等を検出するための放射線の検知に用いられる画素であり、電荷の蓄積期間であっても、電荷を出力する画素である(詳細後述)。
また、放射線検出器26には、基板71(図4参照)上に、TFTスイッチ74をオン/オフするための複数のゲート配線101と、上記センサ部103に蓄積された電荷を読み出すための複数の信号配線73と、が互いに交差して設けられている。本実施の形態では、一方向の各画素列に信号配線73が1本ずつ設けられ、交差方向の各画素列にゲート配線101が1本ずつ設けられており、例えば、画素100がゲート配線方向及び信号配線方向に1024個×1024個配置されている場合、信号配線73及びゲート配線101は1024本ずつ設けられている。
さらに、放射線検出器26には、各信号配線73と並列に共通電極配線95が設けられている。共通電極配線95は、一端及び他端が並列に接続されており、一端が所定のバイアス電圧を供給するバイアス電源110に接続されている。センサ部103は共通電極配線95に接続されており、共通電極配線95を介してバイアス電圧が印加されている。
ゲート配線101には、各TFTスイッチ74をスイッチングするための制御信号が流れる。このように制御信号が各ゲート配線101に流れることによって、各TFTスイッチ74がスイッチングされる。
信号配線73には、各画素100のTFTスイッチ74のスイッチング状態に応じて、各画素100に蓄積された電荷に応じた電気信号が流れる。より具体的には、各信号配線73には、当該信号配線73に接続された画素100の何れかのTFTスイッチ74がオンされることにより蓄積された電荷量に応じた電気信号が流れる。
各信号配線73には、各信号配線73に流れ出した電気信号を検出する信号検出回路105が接続されている。また、各ゲート配線101には、各ゲート配線101にTFTスイッチ74をオン/オフするための制御信号を出力するスキャン信号制御回路104が接続されている。図2では、信号検出回路105及びスキャン信号制御回路104を1つに簡略化して示しているが、例えば、信号検出回路105及びスキャン信号制御回路104を複数設けて所定本(例えば、256本)毎に信号配線73又はゲート配線101を接続する。例えば、信号配線73及びゲート配線101が1024本ずつ設けられている場合、スキャン信号制御回路104を4個設けて256本ずつゲート配線101を接続し、信号検出回路105も4個設けて256本ずつ信号配線73を接続する。
信号検出回路105は、各信号配線73毎に、入力される電気信号を増幅する増幅回路(図6参照)を内蔵している。信号検出回路105では、各信号配線73より入力される電気信号を増幅回路により増幅し、ADC(アナログ・デジタル変換器)によりデジタル信号へ変換する(詳細後述)。
この信号検出回路105及びスキャン信号制御回路104には、信号検出回路105において変換されたデジタル信号に対してノイズ除去などの所定の処理を施すとともに、信号検出回路105に対して信号検出のタイミングを示す制御信号を出力し、スキャン信号制御回路104に対してスキャン信号の出力のタイミングを示す制御信号を出力する制御部106が接続されている。
本実施の形態の制御部106は、マイクロコンピュータによって構成されており、CPU(中央処理装置)、ROMおよびRAM、フラッシュメモリ等からなる不揮発性の記憶部を備えている。制御部106は、ROMに記憶されたプログラムをCPUで実行することにより、放射線画像の撮影のための制御を行う。また、制御部106は、上記所定の処理が施された画像データに対して、各放射線検知用の画素100Bの画像データを補間する処理(補間処理)を行って、照射された放射線が示す画像を生成する。すなわち、制御部106は、各放射線検知用の画素100Bの画像データを、上記所定の処理が施された画像データに基づいて補間することで、照射された放射線が示す画像を生成する。
図3には、本実施形態に係る間接変換方式の放射線検出器26の構造の一例を示す平面図が示されており、図4には、図3の放射線画像撮影用の画素100AのA−A線断面図が示されており、図5には、図3の放射線検知用の画素100BのB−B線断面図が示されている。
図4に示すように、放射線検出器26の画素100Aは、無アルカリガラス等からなる絶縁性の基板71上に、ゲート配線101(図3参照)、ゲート電極72が形成されており、ゲート配線101とゲート電極72とは接続されている(図3参照)。このゲート配線101、及びゲート電極72が形成された配線層(以下、この配線層を「第1信号配線層」ともいう)は、Al若しくはCu、又はAl若しくはCuを主体とした積層膜を用いて形成されているが、これらに限定されるものではない。
この第1信号配線層上には、一面に絶縁膜85が形成されており、ゲート電極72上に位置する部位がTFTスイッチ74におけるゲート絶縁膜として作用する。この絶縁膜85は、例えば、SiNX 等からなっており、例えば、CVD(Chemical Vapor Deposition)成膜により形成される。
絶縁膜85上のゲート電極72上には、半導体活性層78が島状に形成されている。この半導体活性層78は、TFTスイッチ74のチャネル部であり、例えば、アモルファスシリコン膜からなる。
これらの上層には、ソース電極79、及びドレイン電極83が形成されている。このソース電極79及びドレイン電極83が形成された配線層には、ソース電極79、ドレイン電極83とともに、信号配線73が形成されている。ソース電極79は信号配線73に接続されている(図3参照)。ソース電極79、ドレイン電極83、及び信号配線73が形成された配線層(以下、この配線層を「第2信号配線層」ともいう)は、Al若しくはCu、又はAl若しくはCuを主体とした積層膜を用いて形成されるが、これらに限定されるものではない。当該ソース電極79及びドレイン電極83と半導体活性層78との間には不純物添加アモルファスシリコン等による不純物添加半導体層(図示省略)が形成されている。これらによりスイッチング用のTFTスイッチ74が構成される。なお、TFTスイッチ74は後述する下部電極81により収集、蓄積される電荷の極性によってソース電極79とドレイン電極83が逆となる。
これら第2信号配線層を覆い、基板71上の画素100が設けられた領域のほぼ全面(ほぼ全領域)には、TFTスイッチ74や信号配線73を保護するために、TFT保護膜層98が形成されている。このTFT保護膜層98は、例えば、SiNX 等からなっており、例えば、CVD成膜により形成される。
このTFT保護膜層98上には、塗布型の層間絶縁膜82が形成されている。この層間絶縁膜82は、低誘電率(比誘電率εr=2〜4)の感光性の有機材料(例えば、ポジ型感光性アクリル系樹脂:メタクリル酸とグリシジルメタクリレートとの共重合体からなるベースポリマーに、ナフトキノンジアジド系ポジ型感光剤を混合した材料など)により1〜4μmの膜厚で形成されている。
本実施の形態に係る放射線検出器26では、この層間絶縁膜82によって層間絶縁膜82上層と下層に配置される金属間の容量を低く抑えている。また、一般的にこのような材料は平坦化膜としての機能も有しており、下層の段差が平坦化される効果も有する。本実施の形態に係る放射線検出器26では、この層間絶縁膜82及びTFT保護膜層98のドレイン電極83と対向する位置にコンタクトホール87が形成されている。
層間絶縁膜82上には、コンタクトホール87を埋めつつ、画素領域を覆うようにセンサ部103の下部電極81が形成されており、この下部電極81は、TFTスイッチ74のドレイン電極83と接続されている。この下部電極81は、後述する半導体層91が1μm前後と厚い場合には導電性があれば材料に制限がほとんどない。このため、Al系材料、ITOなど導電性の金属を用いて形成すれば問題ない。
一方、半導体層91の膜厚が薄い場合(0.2〜0.5μm前後)、半導体層91で光が吸収が十分でないため、TFTスイッチ74への光照射によるリーク電流の増加を防ぐため、遮光性メタルを主体とする合金、若しくは積層膜とすることが好ましい。
下部電極81上には、フォトダイオードとして機能する半導体層91が形成されている。本実施の形態では、半導体層91として、n+層、i層、p+層(n+アモルファスシリコン、アモルファスシリコン、p+アモルファスシリコン)を積層したPIN構造のフォトダイオードを採用しており、下層からn+層21A、i層21B、p+層21Cを順に積層して形成する。i層21Bは、光が照射されることにより電荷(一対の自由電子と自由正孔)が発生する。n+層21A及びp+層21Cは、コンタクト層として機能し、下部電極81及び後述する上部電極92とi層21Bをと電気的に接続する。
各半導体層91上には、それぞれ個別に上部電極92が形成されている。この上部電極92には、例えば、ITOやIZO(酸化亜鉛インジウム)などの光透過性の高い材料を用いている。本実施の形態に係る放射線検出器26では、上部電極92や半導体層91、下部電極81を含んでセンサ部103が構成されている。
層間絶縁膜82、半導体層91及び上部電極92上には、上部電極92に対応する一部で開口97Aを持ち、各半導体層91を覆うように、塗布型の層間絶縁膜93が形成されている。
この層間絶縁膜93上には、共通電極配線95がAl若しくはCu、又はAl若しくはCuを主体とした合金あるいは積層膜で形成されている。共通電極配線95は、開口97A付近にコンタクトパッド97が形成され、層間絶縁膜93の開口97Aを介して上部電極92と電気的に接続される。
一方、図5に示すように、放射線検出器26の放射線検知用の画素100Bでは、ソース電極79とドレイン電極83とが接触するようにTFTスイッチ74が形成されている。すなわち、画素100Bでは、TFTスイッチ74のソースとドレインが短絡している。これにより、画素100Bでは、下部電極81に収集された電荷がTFTスイッチ74のスイッチング状態にかかわらず信号配線73に流れ出す。
このように形成された放射線検出器26には、必要に応じてさらに光吸収性の低い絶縁性の材料により保護膜が形成されて、その表面に光吸収性の低い接着樹脂を用いて放射線変換層であるシンチレータが貼り付けられる。または、真空蒸着法により、シンチレータが形成される。シンチレータとしては、吸収可能な波長領域の光を発生できるような、比較的広範囲の波長領域を有した蛍光を発生するシンチレータが望ましい。このようなシンチレータとしては、CsI:Na、CaWO、YTaO:Nb、BaFX:Eu(XはBrまたはCl)、または、LaOBr:Tm、及びGOS等がある。具体的には、放射線XとしてX線を用いて撮像する場合、ヨウ化セシウム(CsI)を含むものが好ましく、X線照射時の発光スペクトルが420nm〜700nmにあるCsI:Tl(タリウムが添加されたヨウ化セシウム)やCsI:Naを用いることが特に好ましい。なお、CsI:Tlの可視光域における発光ピーク波長は565nmである。なお、シンチレータとしてCsIを含むシンチレータを用いる場合、真空蒸着法で短冊状の柱状結晶構造として形成したものを用いることが好ましい。
放射線検出器26は、図4に示すように、半導体層91が形成された側から放射線Xが照射されて、当該放射線Xの入射面の裏面側に設けられたTFT基板により放射線画像を読み取る、いわゆる裏面読取方式(PSS(Pentration Side Sampling)方式)とされた場合、半導体層91上に設けられたシンチレータの同図上面側でより強く発光する。一方、TFT基板側から放射線Xが照射されて、当該放射線Xの入射面の表面側に設けられたTFT基板により放射線画像を読み取る、いわゆる表面読取方式(ISS(Irradiation Side Sampling)方式)とされた場合、TFT基板を透過した放射線Xがシンチレータに入射してシンチレータのTFT基板側がより強く発光する。TFT基板に設けられた各画素100のセンサ部103には、シンチレータで発生した光により電荷が発生する。このため、放射線検出器26は、表面読取方式とされた場合の方が裏面読取方式とされた場合よりもTFT基板に対するシンチレータの発光位置が近いため、撮影によって得られる放射線画像の分解能が高い。
なお、放射線検出器26は、図3〜図5に示したものに限らず、種々の変形が可能である。例えば、裏面読取方式の場合、放射線Xが到達する可能性が低いため、上述のものに代えて、放射線Xに対する耐性が低い、CMOS(Complementary Metal−Oxide Semiconductor)イメージセンサ等の他の撮影素子とTFTとを組み合わせてもよい。また、TFTのゲート信号に相当するシフトパルスにより電荷をシフトしながら転送するCCD(Charge−Coupled Device)イメージセンサに置き換えるようにしてもよい。
また例えば、フレキシブル基板を用いたものでもよい。フレキシブル基板としては、近年開発されたフロート法による超薄板ガラスを基材として用いたものを適用することが、放射線の透過率を向上させるうえで好ましい。なお、この際に適用できる超薄板ガラスについては、例えば、「旭硝子株式会社、"フロート法による世界最薄0.1ミリ厚の超薄板ガラスの開発に成功"、[online]、[平成23年8月20日検索]、インターネット<URL:http://www.agc.com/news/2011/0516.pdf>」に開示されている。
次に、本実施の形態の信号検出回路105の概略構成について説明する。図6は、本実施の形態の信号検出回路105の一例の概略構成図である。本実施の形態の信号検出回路105は、増幅回路120、及びADC(アナログ・デジタル変換器)124を備えて構成されている。なお、図6では、図示を省略したが増幅回路120は、信号配線73毎に設けられている。すなわち、信号検出回路105は、放射線検出器26の信号配線73の数と同じ数の、複数の増幅回路120を備えて構成されている。
増幅回路120は、チャージアンプ回路で構成されており、オペアンプ等のアンプ121と、アンプ121に並列に接続されたコンデンサCと、アンプ121に並列に接続された電荷リセット用のスイッチSW1と、を備えて構成されている。
増幅回路120では、電荷リセット用のスイッチSW1がオフの状態で画素100のTFTスイッチ74により電荷(電気信号)が読み出され、コンデンサCにTFTスイッチ74により読み出された電荷が蓄積され、蓄積される電荷量に応じてアンプ121から出力される電圧値が増加するようになっている。
また、制御部106は、電荷リセット用スイッチSW1に電荷リセット信号を印加して電荷リセット用のスイッチSW1のオン/オフを制御するようになっている。なお、電荷リセット用のスイッチSW1がオン状態とされると、アンプ121の入力側と出力側とが短絡され、コンデンサCの電荷が放電される。
ADC124は、S/H(サンプルホールド)スイッチSWがオン状態において、増幅回路120から入力されたアナログ信号である電気信号をデジタル信号に変換する機能を有するものである。ADC124は、デジタル信号に変換した電気信号を制御部106に順次出力する。
なお、本実施の形態のADC124には、信号検出回路105に備えられた全ての増幅回路120から出力された電気信号が入力される。すなわち、本実施の形態の信号検出回路105は、増幅回路120(信号配線73)の数にかかわらず、1つのADC124を備えている。
本実施の形態では、放射線検知用の画素100Bが接続された信号配線73(図2の場合、D2、D3の少なくとも一方、例えば、D2)の電気信号(電荷情報)を信号検出回路105の増幅回路120で検出し、制御部106が、信号検出回路105により変換されたデジタル信号の値を予め定めた検出用の閾値と比較し、閾値以上となった否かにより放射線が照射されたか否かの検出を行うようにしており、外部(例えば、放射線画像処理装置14)からの制御信号を必要としないで放射線の照射に関する検出を行うように構成している。なお、制御部106による放射線が照射されたか否かの検出は、検出用の閾値と比較することに限らず、例えば、検出回数等、予め設定した条件に基づいて検出するようにしてもよい。
なお、本実施の形態で電気信号の「検出」とは、電気信号をサンプリングすることを示している。
次に、上記構成の電子カセッテ20による放射線画像を撮影する際の動作の流れについて、外乱に起因するノイズの発生の検出動作を中心に、説明する。まず、こここで、外乱に起因して発生するノイズについて説明する。衝撃や電磁波、特に振動等の外乱に起因してセンサ部103で発生したノイズ(電荷)が発生する場合がある。外乱に起因して発生したノイズ(電荷)に応じた電気信号(電荷情報)は、通常の放射線画像の撮影の際に放射線が照射されたことにより発生する電荷に応じた電気信号(電荷情報)と異なる特徴を有しており、特に時間変化が異なっている。例えば、ノイズである場合、電荷が逆に流れることにより、電気信号の極性が通常と逆になる場合がある。また、ノイズである場合、電気信号(電荷情報)の時間変化を表す波形が振幅を有している。
放射線検出器26における放射線の照射による電気信号と、ノイズによる電気信号との相違についてさらに詳しく説明する。図7に、本実施の形態に係る放射線検出器26に放射線が照射された場合の電気信号の時間変化のグラフを示す。図7(A)は、電気信号Di、図7(B)は、電気信号Diの一階微分値Di1、及び図7(C)は、電気信号Diの二階微分値Di2の時間変化をそれぞれ示している。また、図8に、本実施の形態に係る放射線検出器26にノイズが発生した場合の電気信号の時間変化のグラフを示す。図8(A)は、電気信号Di、図8(B)は、電気信号Diの一階微分値Di1、及び図8(C)は、電気信号Diの二階微分値Di2の時間変化をそれぞれ示している。
図7(A)に示すように、放射線が照射されると電気信号Diは、増加し、時間と共に変化するため、時間tの関数f(t)として表せる。本実施の形態の放射線検出器26では、電気信号Diが、検出用の閾値を超えたか否かにより、放射線の照射開始を検出する。図8(A)において、ノイズにより発生した電気信号Diは、放射線が照射された場合の電気信号Diと同様に時間とともに変化するため、時間tの関数g(t)として表せる。ただし、この場合は周期が一定で振幅が徐々に減少する正弦波、すなわち減衰振動の波形となる。これを一階微分すると、図8(B)に示したように、位相が90°異なる波形g1(t)が得られる。
図7(B)に示すように、放射線が照射された場合の関数f(t)の一階微分f1(t)は、放射線の照射により急激に立ち上がり、すぐに一定となる。これに対して、図8(B)のノイズによる波形の関数g(t)の一階微分g1(t)は、位相がずれるのみで、減衰信号の波形は変わらない。真に放射線が照射された場合は、一階微分f1(t)は、極性が常に正極性を示すが、ノイズによる場合は、一階微分g1(t)は、極性が反転し、正極性と負極性を入ったり来たりする振幅を有している。
また、図7(C)に示すように、放射線が照射された場合の関数f(t)の二階微分f2(t)は、いわゆるガウス関数のような振る舞いをする。これに対して、図8(C)のノイズによる波形の関数g(t)の二階微分g2(t)は、一階微分の場合と同様に位相がずれるのみで、減衰信号の波形は変わらない。このように、二階微分の場合も、一階微分と同様に、真に放射線が照射された場合は、二階微分f2(t)は、極性が常に正極性を示すが、ノイズによる場合は、二階微分g2(t)は、極性が反転し、負極性を示し、正極性と負極性を入ったり来たりする振幅を有している。
なお、図7及び図8を比較するとわかるように、真に放射線が照射された場合の一階微分f1(t)は、ノイズの場合の一階微分g1(t)に比べて小さい。同様に、真に放射線が照射された場合の二階微分f2(t)は、ノイズの場合の二階微分g2(t)に比べて小さい。そのため、一階微分f1(t)と一階微分g1(t)とを識別するためのノイズ判断用閾値(th1、th2)を予め定めておき、電気信号の時間変化が当該ノイズ判断用閾値を超えた場合は、ノイズが発生したと判断するようにしてもよい。また同様に、二階微分f2(t)と二階微分g2(t)とを識別するためのノイズ判断用閾値(th3、th4)を予め定めておき、電気信号の時間変化が当該ノイズ判断用閾値を超えた場合は、ノイズが発生したと判断するようにしてもよい。
本実施の形態では、放射線の照射開始を検出した後も、放射線検知用の画素100Bから出力される電気信号(電荷情報)の検出を継続し、所定の検出期間内における電気信号(電荷情報)の時間変化が上述したような、ノイズの特徴を有しているか否かにより、ノイズが発生したか否かを制御部106が判断する。具体的には上述したように、電気信号の極性が通常と逆になったか否かにより判断することや、所定の期間内に出力された電気信号(電荷情報)を微分(例えば、一階微分や二階微分)して、傾きがほぼ一定か徐々に大きくなるとみなせる場合は、ノイズが発生していないと判断する等、傾きが減少するか否かにより判断することや、ノイズ判断用閾値を用いて判断することが挙げられる。なお、よりノイズ発生の検出精度を高めるためには、複数種類の判断を組み合わせて行うことが好ましい。
なお、上記所定の期間は、撮影条件や電子カセッテ20により異なるため、予め実験等により、例えば、照射された放射線に応じた電荷を画素100で蓄積する蓄積期間に対して何%とするか等を得ておくとよい。
また、強い衝撃を外乱として受けた場合、特定の信号配線73に電荷が生じる等、信号配線73により、生じるノイズが異なることがある。また、画素100が設けられた領域により、生じるノイズが異なることがある。このような場合、各信号配線73に生じるノイズを実験等により予め得ておき、各信号配線73に応じて、判断基準を異ならせる。また、画像100が設けられた領域(放射線が照射される領域)を複数の領域に分割し、分割した領域毎に、生じるノイズを実験等により予め得ておき、各領域に応じて、判断基準を異ならせる。例えば、上述した誤検知判断用閾値(th1〜th4)を、各信号配線73や各領域に応じて予め定めておく。このように信号配線73や各領域に応じて判断基準を異ならせる場合は、信号配線73毎や各領域毎に、ノイズの発生の有無を判断する。ノイズが発生したとする判断結果が1つ以上、または所定数以上の場合は、ノイズが発生したと決定して、電子カセッテ20の現在の動作を停止させる。例えば、蓄積期間を退避するようにするとよい。
次に、本実施の形態の電子カセッテ20による放射線画像を撮影する際の動作の流れの詳細を説明する。図9は、放射線画像を撮影する際の動作の流れの一例を示したフローチャートである。
本実施の形態の電子カセッテ20は、放射線の照射開始を検出して放射線検出器26の各画素100で電荷を蓄積し、蓄積した電荷に応じた画像データに基づいた放射線画像を出力することにより放射線画像を撮影する。
本実施の形態では、放射線画像の撮影を行う際、電子カセッテ20には、撮影モードへの移行が通知される。ステップS100では、当該通知に応じて撮影モードへ移行する。
次のステップS102では、撮影モードへの移行が通知されると、放射線の検出を行う放射線検出待ち状態に移行する。ステップS104では、放射線の照射開始を検出したか否か判断する。検出していない場合は否定されてステップS102に戻り本処理を繰り返す。
放射線発生装置12から放射線が照射されると、照射された放射線は、シンチレータに吸収され、可視光に変換される。なお、放射線は、放射線検出器26の表側、裏側の何れから照射されてもかまわない。シンチレータで可視光に変換された光は、各画素100のセンサ部103に照射される。
センサ部103では、光が照射されると内部に電荷が発生する。この発生した電荷は下部電極81により収集される。
放射線画像撮影用の画素100Aでは、ドレイン電極83とソース電極79が短絡していないため、下部電極81に収集された電荷が蓄積されるが、画素100Bでは、ドレイン電極83とソース電極79が短絡しているため、下部電極81に収集された電荷が信号配線73に流れ出す。
本実施の形態の電子カセッテ20では、上述のように、信号検出回路105の増幅回路120で放射線検知用の画素100Bから出力された電気信号(電荷情報)を検出し、制御部106が検出された電気信号(電荷情報)を予め定めた検出用の閾値と比較し、閾値以上となった否かにより放射線の照射開始を検出する。放射線の照射開始を検出すると肯定されてステップS106へ進み、放射線検出器26で電荷を蓄積する電荷蓄積状態に移行する。これにより、次のステップS108は、各画素100で照射された放射線に応じて発生した電荷の蓄積を開始する。
放射線検出器26の放射線画像撮影用の画素100Aでは、TFTスイッチ74がオフ状態のままであるため、電荷が蓄積された状態になる。一方、放射線検知用の画素100Bは、TFTスイッチ74が短絡しているため、電荷蓄積期間(TFTスイッチ74がオフ状態)であっても、電荷を信号検出回路105に出力する。電荷蓄積期間及び読出期間に係わらず所定のタイミングでS/HスイッチSWがオン/オフされるため、放射線検知用の画素100Bから出力された電荷の情報は信号検出回路105の増幅回路120及びADC124を介して電気信号(電荷情報)として制御部106に入力される。
次のステップS110では、ノイズが発生したか否かを判断する。ノイズが発生したか否かは、上述したように、放射線検知用の画素100Bから出力される電気信号(電荷情報)の検出を継続し、所定の検出期間内における電気信号(電荷情報)の時間変化が上述したような、ノイズの特徴を有しているか否かにより、ノイズが発生したか否かを判断する。
ノイズが発生していると判断した場合は、肯定されてステップS112へ進み、電子カセッテ20の駆動を制御して、蓄積期間を退避させる。電荷の蓄積を中止させて、再び放射線検出期間に遷移する。また、本実施の形態では、ノイズが発生したことを医師等のユーザに対して報知する。報知の方法は特に限定されないが、例えば、放射線画像処理装置14を介してコンソール16のディスプレイ50に表示させるようにしてもよい。また、例えば、音声等により報知するようにしてもよい。
なお、ノイズが発生している場合は、電荷の蓄積を中止させると共に、放射線の照射を中止させるように、放射線制御部62により放射線発生装置12を制御することが好ましい。このように放射線の照射を中止させることにより、被検者30の無駄な被曝を抑制することができ、再撮影の準備を行うことができる。
なお、蓄積期間の終了後すぐに放射線検出期間に遷移してもよいが、蓄積期間中に蓄積された電荷による放射線照射開始検出の判断ミスをなくすため、放射線検出期間に遷移する前に、画素100に蓄積された電荷をリセットするリセット動作を行わせて電気信号(電荷情報)を読み捨てるようにするとよい。そのため、本実施の形態では、ステップS114でリセット動作を行った後、ステップS102に戻り、本処理を繰り返す。リセット動作を行う際、リセット動作を行っている期間は、放射線の不感期間(非検出期間)となってしまうため、当該期間を短縮するために、複数のゲート配線101のリセット動作を同時に行うようにすることが好ましい。また、前記リセット動作中は、放射線制御部62により放射線発生装置12に対して、放射線の照射を禁止するよう制御するようにしてもよい。
一方、ノイズの発生を検出していない場合は、ステップS118へ進み、放射線の照射開始を検出してから所定時間したか否か図示を省略したタイマーに基づいて判断する。経過していない場合は、否定されてステップS110に戻り、本処理を繰り返す。本実施の形態では、蓄積期間の間、常に、ノイズの発生の検出を行っている。
なお、読み出し期間では、具体的には、TFTスイッチ74のゲート電極72にゲート配線101を介して順次オン信号を印加することにより、画素100AのTFTスイッチ74が順次オンされ、各画素100Aに蓄積された電荷量に応じた電気信号を信号配線73に出力させることにより電荷を読み出す。
一方、経過した場合は、ステップS120へ進み、蓄積された電荷の読み出す電荷読出状態に移行する。電荷の読み出しが終了するとステップS122へ進み、放射線画像の撮影を終了する否か判断する。動画の撮影等、放射線画像の撮影を続けて行う場合は、否定されてステップS102に戻り、再び待機状態に移行し、本処理を繰り返す。一方、終了する場合は肯定されて、本処理を終了する。
以上、説明したように、本実施の形態の電子カセッテ20では、放射線が照射されると、当該放射線に応じて発生した電荷の電荷蓄積期間に放射線検知用の画素100Bから出力された電気信号(電荷情報)を所定の検出期間の間、信号検出回路105で検出し、制御部106が電気信号(電荷情報)の時間変化が、ノイズとして予め定められた特徴を有しているか否かを判断する。有している場合は、ノイズが発生したと判断し、電子カセッテ20の動作を停止させ、電荷蓄積期間を中断(退避)し、放射線検出期間に遷移する。
このように、本実施の形態では、電荷蓄積期間中に放射線検知用の画素100Bから出力された電気信号(電荷情報)に基づいて、外乱に起因するノイズが発生したか否かを検出することができる。また、ノイズの発生を検出した場合、すぐに、電子カセッテ20の駆動を停止させる。このように、外乱要因に起因したノイズが発生した場合に、時間を要さずにノイズの発生を検出して電子カセッテ20撮影動作を制御することができるため、ノイズの発生の検出から、再撮影までの期間を短縮することができる。従って、被検者30の不要な被曝(放射線画像の生成には寄与しない、無効な被曝)を抑制することができる。
また、本実施の形態では、電子カセッテ20で放射線の照射開始を検出する構成を利用して、ノイズの発生の検出を行っている。そのため、ノイズの発生を検出するための構成を簡略化することができる。
また、上記では、放射線検知用の画素100Bとして、ソースとドレインが短絡されたTFTスイッチ74を備えた画素について説明したが、これに限らない。例えば、図10に示すように、ドレイン電極83の途中から接続配線99を形成して信号配線73と接続するようにしてもよい。この場合も、TFTスイッチ74のソースとドレインは実質的に短絡していることとなる。上記実施の形態や図10に示すように、TFTスイッチ74のソースとドレインを短絡させる場合、図11に示すようにゲート電極72をゲート配線101から離して形成するようにしてもよい。
また、例えば、図12に示すように、放射線検知用の画素100Bでは、接続配線99を形成して接続配線99及びコンタクトホール87を介して、センサ部103と信号配線73とを接続し、ドレイン電極83とコンタクトホール87の間を電気的に切断してもよい。
また、上記では、放射線検知用の画素100BとしてTFTスイッチ74が短絡された画素を用いる場合について説明したが、TFTスイッチ74が短絡していない画素を放射線検知用の画素100Bとして用いてもよい。この場合、画素100BのTFTスイッチ74の制御は、画素100AのTFTスイッチ74の制御とは独立して制御される。また、この場合の画素100Bは、放射線検出器26の所定の画素100を用いてもよいし、放射線検出器26内の画素100とは異なる画素を設けてもよい。
また、本実施の形態の電子カセッテ20の放射線検出器26(図2参照)では、放射線検知用の画素100Bが一部の信号配線73に接続されているがこれに限らず、全ての信号配線73に接続される位置に放射線検知用の画素100Bを設けるようにしてもよく、放射線検知用の画素100Bが設けられている位置は特に限定されない。
[第2の実施の形態]
上記第1の実施の形態では、放射線検知用の画素100で発生した電荷に応じた電気信号に基づいて、放射線の照射開始を検出すると共に、外乱に起因するノイズの発生を検出していた。これに対して本実施の形態では、共通電極配線に流れる電荷等に基づいて、放射線の照射開始を検出すると共に、外乱に起因するノイズの発生を検出する場合について説明する。
なお、本実施の形態は、第1の実施の形態と略同様の構成及び動作を含むため、略同様の構成及び動作については、その旨を記し、詳細な説明を省略する。本実施の形態の放射線画像撮影システム10全体の概略構成は、第1の実施の形態と略同様であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
本実施の形態の電子カセッテ20の概略構成について説明する。本実施の形態では、第1の実施の形態と同様に、間接変換方式の放射線検出器26に本発明を適用した場合について説明する。図13に本実施の形態に係る電子カセッテ20の全体構成の一例を示す構成図を示す。本実施の形態の電子カセッテ20では、第1の実施の形態に備えられていた放射線検知用の画素100Bが備えらておらず、全画素同様の構成となっている。
また、本実施の形態の電子カセッテ20は、共通電極配線95は、電流検出器122を介して、バイアス電源110に接続されている。本実施の形態では、各画素100にバイアス電圧を印加する場合は、電流検出器122を介さずに、直接、各画素100に対してバイアス電圧を印加している。
電流検出器122は、各画素100から共通電極配線95を介して流れ込んだ電流を検出する機能を有している。制御部106は、電流検出器122で検出された共通電極配線95に流れる電流の電流値を、予め定められた検出用の閾値と比較し、閾値以上となったか否かにより放射線の照射開始を検出する。放射線検出器26に放射線が照射されて画素100のセンサ部103で電荷が発生すると、発生した電荷(電荷量)に応じて、各共通電極配線95に電流が流れる。そのため、本実施の形態では、共通電極配線95に流れる電流の電流値と放射線検出器26に照射された放射線量との関係を予め得ておき、照射開始を検出するための検出用の電流値を閾値として予め定めている。なお、センサ部103で発生した電荷(電荷量)が増加すると、共通電極配線95を流れる電流の電流値も増加するため、照射された放射線量が増加するにつれ、共通電極配線95を流れる電流の電流値も増加する。
このようにセンサ部103で発生した電荷(電荷量)が増加すると、共通電極配線95を流れる電流の電流値も増加する。そのたため、第1の実施の形態で説明したように、外乱に起因するノイズが発生し、画素100で電荷が発生すると、共通電極配線95を流れる電流の電流値もこれに伴い、同様に変化する。そこで、本実施の形態では、共通電極配線95を流れる電流に上述したような時間変化が生じているか否かや、ノイズ判断用閾値を超えているか否か等により、制御部106でノイズの発生を検出する。なお、この場合の共通電極配線95を流れる電流値の時間変化及びノイズ判断用閾値は、予め実験等により得ておけばよいことはいうまでもない。
本実施の形態の電子カセッテ20における、放射線画像を撮影する際の動作の流れは、第1の実施の形態と略同様のため、第1の実施の形態において示したフローチャート(図9)を用いて、異なる動作についてのみ詳細に説明する。
ステップS100で撮影モードに移行すると、ステップS102で放射線の照射開始の検出待ち(放射線検出期間)になる。本実施の形態では、電流検出器122で、共通電極配線95を流れる電流の検出を開始する。制御部106では、検出した電流値が検出用閾値以上となった場合に、放射線の照射が開始されたとしている。なお、このように共通電極配線95を流れる電流を検出する際は、各画素100のTFTスイッチ74をオフにした状態で共通電極配線95を流れる電流を検出するようにしてもよい。また、一時的に、TFTスイッチ74をオンにした状態で共通電極配線95を流れる電流を検出するようにしてもよい。次のステップS106では、電荷蓄積状態(蓄積期間)に移行して、ステップS108で電荷の蓄積を開始する。
次のステップS110では、ノイズが発生したか否かを判断する。本実施の形態では、上述したように、制御部106が、電流検出器122で検出した電流値に基づいて、ノイズの発生を検出する。ノイズが発生したことを検出した場合は、肯定されて第1の実施の形態と同様にステップS112及びステップS114の後、ステップS102に戻る。
一方、ノイズが発生していない場合は、否定されてステップS118へ進み第1の実施の形態と同様にステップS120及びステップS122を経て、本処理を終了する。
このように、本実施の形態では、共通電極配線95を流れる電流を電流検出器122で検出し、制御部106が電流値の時間変化が、ノイズとして予め定められた特徴を有しているか否かを判断する。有している場合は、ノイズが発生したと判断し、電子カセッテ20の動作を停止させ、電荷蓄積期間を中断(退避)し、放射線検出期間に遷移する。
従って、第1の実施の形態と同様に、電荷蓄積期間中に共通電極配線95を流れる電流の電流値に基づいて、外乱に起因するノイズが発生したか否かを検出することができる。また、ノイズの発生を検出した場合、すぐに、電子カセッテ20の駆動を停止させる。このように、外乱要因に起因したノイズが発生した場合に、時間を要さずにノイズの発生を検出して電子カセッテ20撮影動作を制御することができるため、ノイズの発生の検出から、再撮影までの期間を短縮することができる。従って、被検者30の不要な被曝(放射線画像の生成には寄与しない、無効な被曝)を抑制することができる。
なお、上記では、共通電極配線95を流れる電流の電流値を電流検出器122で検出する場合について説明したがこれに限らない。例えば、図14(A)に示すように、共通電極配線95を流れる電荷を電荷蓄積部124で蓄積し、蓄積した電荷量に基づいてノイズの発生や放射線の照射開始を検出するようにしてもよい。また、例えば、図14(B)に示すように、共通電極配線95を流れる電流の電圧を電圧検出器126で検出し、検出した電圧値に基づいてノイズの発生や放射線の照射開始を検出するようにしてもよい。
また、上記では、全ての共通電極配線95を流れる電流に基づいてノイズの発生や放射線の照射開始を検出する場合について説明したがこれに限らず、一部の共通電極配線95を流れる電流に基づいてノイズの発生や放射線の照射開始を検出するようにしてもよい。
なお、本実施の形態では、共通電極配線に流れる電荷等に基づいて、放射線の照射開始を検出すると共に、外乱に起因するノイズの発生を検出する場合について説明した。これに限らず、例えば、スキャン信号制御回路104内部に本実施の形態と同様に、電流検出器122等を設けておき、上記と同様にして、ゲート配線101を流れる電流の変化に基づいて、ノイズの発生や放射線の照射開始を検出するようにしてもよい。また、例えば、信号検出回路105内部に本実施の形態と同様に、電流検出器122等を設けておき、上記と同様にして、信号配線73を流れる電流の変化に基づいて、ノイズの発生や放射線の照射開始を検出するようにしてもよい。
[第3の実施の形態]
電子カセッテ20において、画素100で発生した電荷に起因する電気信号の変化に基づいてノイズの発生や放射線の照射開始を検出するための構成は、上記各実施の形態に限らない。例えば、図15に示すように、放射線の検出用の第2のセンサ部150を設けるようにしてもよい。なお、この場合第2のセンサ部150は、画素100間に設けることが好ましい。
放射線が照射された場合や、外乱に起因してノイズが発生した場合は、放射線の検出用の第2のセンサ部150で電荷が発生する。当該電荷は、上記各実施の形態で説明した、画素100のセンサ部103で発生する電荷と同様の性質を有している。
放射線の検出用の第2のセンサ部150のソース電極及びゲート電極はそれぞれ、制御部106に接続されており、制御部106では、放射線の検出用の第2のセンサ部150から流れた電荷に起因する電気信号の変化に基づいて、上記各実施の形態と同様にして、ノイズの発生や放射線の照射開始を検出する。
従って、このような構成においても、上記各実施の形態と同様に、電荷蓄積期間中に、放射線の検出用の第2のセンサ部150で発生した電荷に基づいて、外乱に起因するノイズが発生したか否かを検出することができる。また、ノイズの発生を検出した場合、すぐに、電子カセッテ20の駆動を停止させる。このように、外乱要因に起因したノイズが発生した場合に、時間を要さずにノイズの発生を検出して電子カセッテ20の撮影動作を制御することができるため、ノイズの発生の検出から、再撮影までの期間を短縮することができる。従って、被検者30の不要な被曝(放射線画像の生成には寄与しない、無効な被曝)を抑制することができる。
[第4の実施の形態]
上記各実施の形態では、放射線検出器26内部に設けられたセンサ等により、放射線の照射開始やノイズの発生を検出する場合について説明したがこれに限らない。上述したように、放射線検出器26の外部に設けられたセンサにより、放射線の照射開始やノイズの発生を検出するようにしてもよい。センサを放射線検出器26の外部に設けた場合の一例の概略構成図を図16に示す。
図16(A)に示した場合では、放射線検出器26には、画素100が設けられたTFT基板170上に配置されたシンチレータ172側から、放射線Xが照射される。放射線検知センサ174は、TFT基板170(放射線検出器26)の底面である、シンチレータ172が配置されていない、放射線Xの非照射側に複数配置されている。本実施の形態では、具体的一例として、図16(B)に示すように、放射線検知センサ174が、9個設けられている。
放射線検知センサ174は、照射された放射線Xの線量に応じた電気信号を出力するものであれば特に限定されない。本実施の形態では、具体的一例としてSi(シリコン)フォトダイオードを用いたシリコンセンサを放射線検知センサ174として用いている。なお、放射線検知センサ174は、電磁シールドを施しておくことが好ましい。
シリコンセンサである放射線検知センサ174では、放射線Xが透過する際に、内部の原子が電離作用で陽子イオンと電子に分離し、それぞれ−電極側、及び+電極側に移動するため、微少電流が流れる。当該電流に応じた電気信号を制御部106で検出して、当該電気信号の変化に基づいて、上記各実施の形態と同様にして、ノイズの発生や放射線の照射開始を検出する。
例えば、上述した図9に示した放射線画像を撮影する際の動作の流れの一例のフローチャートと略同様の処理を行う。
撮影モードに移行すると制御部106は、放射線検出期間において、複数備えられた放射線検知センサ174から出力される電気信号を検出する。制御部106は、上述したように当該電気信号が放射線の照射開始用に予め設定した条件を満たすか否かにより、放射線の照射開始を検出する。この際、複数有るうち1つ以上の放射線検知センサ174から検出した電気信号が予め設定した条件を満たす場合に、放射線の照射が開始されたとしてもよい。なお、放射線の照射が開始されたとするための予め設定した条件を満たす放射線検知センサ174の個数は、これに限らず、所定の個数以上としてもよいし、全部としてもよい。また、放射線検知センサ174の配置場所に応じて定めてもよい。
放射線の照射開始を検出した後、制御部106は、スキャン信号制御回路104により、放射線検出器26のTFTスイッチ74のゲートをオフ状態にさせて、放射線Xの照射によりセンサ部103で発生した電荷を蓄積させる蓄積期間に移行する。なお、ゲートをオフ状態にさせる場合は、全ての画素100のTFTスイッチ74のゲートを一括してオフ状態にしてもよい。
本実施の形態では、放射線の照射開始検出後に蓄積期間に移行した後も、放射線検知センサ174による電気信号の検出を継続する。制御部106は、上述したように当該電気信号がノイズの発生の検出用に予め設定した条件を満たすか否かにより、ノイズの発生を検出する。ノイズが発生した場合は、電荷の蓄積を中止させ、ノイズが発生したこと報知する。さらに、制御部106は、リセット動作を行い、センサ部103に蓄積された電荷をリセットした後、再び、放射線検出期間に戻り、放射線の照射開始の検出を行う。
一方、ノイズが発生しなかった場合は、蓄積期間から、蓄積された電荷を読み出す読み出し期間に移行した段階で、放射線検知センサ174による電気信号の検出を終了する。
従って、このように放射線検出器26の外部にセンサ(放射線検知センサ174)を設けた場合であっても、上記各実施の形態と同様に、電荷蓄積期間中に、放射線検知センサ174による電気信号(電流)に基づいて、外乱に起因するノイズが発生したか否かを検出することができる。また、外乱要因に起因したノイズが発生した場合に、時間を要さずにノイズの発生を検出して電子カセッテ20の撮影動作(現在の動作)を制御することができる。
なお、放射線検知センサ174の数、及び配置は、本実施の形態に限定されない。放射線検知センサ174の配置としては、照射野を絞った場合でも、適切に放射線Xを検知できるように、TFT基板170の中央部には、配置されていることが好ましい。また、中央部と、周辺部とで、放射線検知センサ174の配置密度を異ならせてもよい。例えば、中央部の方が、周辺部に比べて密になるように配置してもよい。
なお、上記各実施の形態では、ノイズの発生の検出及び放射線の照射開始の検出を同じ検出方法(上述の(1)〜(6)の方法参照)を用いる場合について説明したがこれに限らない。放射線の照射開始の検出方式(実施の形態)と、ノイズの発生の検出方式と、を異ならせてもよく、例えば、放射線の照射開始の検出に用いる電気信号、及びノイズの発生の検出に用いる電気信号の種類(リーク電流、バイアス電流等)を異ならせてもよい。
また例えば、上記各実施の形態を組み合わせてもよい。具体的例としては、放射線の照射開始の検出には、上記第1の実施の形態〜上記第3の実施の形態のいずれかを用い、ノイズの発生の検出には、上記第4の実施の形態を用いるようにしてもよい。この場合は、制御部106により、放射線の照射開始の検出と、ノイズの発生の検出とが同時に行われる。この場合、ノイズの発生の検出は、第4の実施の形態で示した放射線検知センサ174を用いてのみ行われる。放射線の照射開始を検出したにもかかわらず、放射線検知センサ174で電流を検知(電気信号を検出)しない場合は、放射線Xが非照射なのにもかかわらず、放射線の照射開始を検出したことになるため、ノイズが発生したことを検出する。ノイズが発生した場合は、上述したように、電荷の蓄積を中止させ、蓄積された電荷をリセットした後、再び、放射線検出期間に戻り、放射線の照射開始の検出を行う。
また例えば、放射線の照射開始の検出には、上記第1の実施の形態、上記第3の実施の形態、及び上記第4の実施の形態のいずれかを用い、ノイズの発生の検出には、上記第2の実施の形態を用いるようにしてもよい。この場合も、制御部106により、放射線の照射開始の検出と、ノイズの発生の検出とが同時に行われる。この場合、ノイズの発生の検出は、第2の実施の形態で示した共通電極配線95を流れる電荷(電気信号)に基づいて行われる。放射線の照射開始を検出したにもかかわらず、共通電極配線95を電荷が流れない場合(または、流れてもノイズの発生を検出した場合)は、放射線Xが非照射なのにもかかわらず、放射線の照射開始を検出したことになるため、ノイズが発生したことを検出する。ノイズが発生した場合は、上述したように、電荷の蓄積を中止させ、蓄積された電荷をリセットした後、再び、放射線検出期間に戻り、放射線の照射開始の検出を行う。
なお、上記各実施の形態を組み合わせてもよいことはいうまでもない。例えば、放射線の照射開始の検出、及びノイズの発生の検出をそれぞれ複数の検出方式により行ってもよい。
また、ノイズの発生の検出については、上記各実施の形態に限らず、直接的に衝撃を検出する衝撃センサや、電磁波を検出する電磁波センサ等を用いてもよい。図17には、このようなセンサを設けた場合の一例の概略構成図を示す。
センサ180は、衝撃センサまたは、電磁波センサである。例えば、センサ180で放射線検出器26に対して衝撃が発生したことを検出した場合、衝撃の発生を報知する信号が制御部106に出力される。制御部106は、衝撃の発生の報知を受け付けた場合に、ノイズが発生したことを検出し、上述したように、電荷の蓄積を中止させ、蓄積された電荷をリセットした後、再び、放射線検出期間に戻り、放射線の照射開始の検出を行う。
なお、センサ180が衝撃センサの場合、具体的例としては、加速度センサ等が挙げられる。衝撃センサを用いる場合は、衝撃センサに電磁シールドを施すことが好ましい。
また、センサ180は、電子カセッテ20の内部に設けられていてもよいし、外部(例えば、電子カセッテ20の側面)に設けられていてもよい。
なお、上記各実施の形態では、電荷蓄積期間の間、ノイズの発生を検出する場合について説明したがこれに限らず、読み出し期間の間においてもノイズの発生を検出するようにしてもよい。この場合も、ノイズの発生を検出した場合は、読み出し動作を中断(退避)し、放射線検出期間に遷移する。また、電荷蓄積期間の開始前にノイズの発生を検出するようにしてもよい。電荷蓄積期間の開始前にノイズの発生を検出する場合について以下、第5の実施の形態及び第6の実施の形態に説明する。
[第5の実施の形態]
本実施の形態では、電荷蓄積期間の間、及び電荷蓄積期間の前にノイズの発生を検出する場合について説明する。図18には、本実施の形態に係る放射線画像を撮影する際の動作の流れの一例を示したフローチャートを示す。本動作は、上記各実施の形態で説明した放射線画像を撮影する際の動作(図9参照)と略同様の動作を含む。特に、本動作の電荷蓄積期間の間におけるノイズの発生の検出動作は、上記各実施の形態で説明した電荷蓄積期間の間におけるノイズの発生の検出動作と略同様である。略同一の動作についてはその旨を記し、詳細な説明を省略する。
本実施の形態の放射線画像を撮影する際の動作におけるステップS200〜ステップS204は、上記したステップS100〜ステップS104の動作にそれぞれ対応している。
ステップS200で撮影モードへ移行した後、次のステップS202では、放射線の検出を行う放射線検出待ち状態に移行する。次のステップS204では、放射線の照射開始を検出したか否か判断する。検出していない場合は否定されてステップS202に戻り本処理を繰り返す。
一方、放射線の照射開始を検出した場合は、肯定されてステップS206へ進む。ステップS206では、ノイズが発生したか否か判断する。本ステップにおけるノイズの検出方法(アルゴリズム)は、特に限定されない。上記実施の形態で説明したのと同様にして、ノイズの検出を行ってもよい。
なお、一般的に、ノイズの発生の検出を電荷蓄積期間の前のみ行う場合は、本実施の形態のように電荷蓄積期間の開始後にもノイズの発生の検出を行う場合よりも、ノイズの発生の検出に時間を要する。図19には、電荷蓄積期間の前のみにおいて、ノイズの発生の検出を行う場合の時間と信号量(放射線が電荷に変化された電気信号量)との関係の一例を示す。また、図20には、電荷蓄積期間の前、及び電荷蓄積期間の間においてノイズの発生の検出を行う(本実施の形態)場合の時間と信号量との関係の一例を示す。
電荷蓄積期間の前のみにおいてノイズの発生の検出を行う場合は、適切にノイズの発生の検出を行わなくてはいけないため、電気信号をサンプリングするする所定の検出期間(ノイズ発生検出期間)を長くする必要がある。例えば、図19に示した場合では、ノイズ発生検出期間では、信号量が単調に増加しているため、ノイズが発生していないと判断する。
一方、本実施の形態のように、電荷蓄積期間の前、及び電荷蓄積期間の間においてノイズの発生の検出を行う場合は、電荷蓄積期間の間においてもノイズの発生の検出を行うため、電荷蓄積期間の前におけるノイズの発生の検出が完璧ではなくてもよい場合がある。そのため、図20に示したように、図19に示した場合に比べ、ノイズ発生検出期間が短くてよい。このようにノイズ発生期間が短い場合であっても、周期が短いノイズ(図8参照)は、信号量が単調に増加することがないため、検出することができる。
従って、本実施の形態では、電荷蓄積期間の前では、周期が短いノイズの発生の検出を行う場合、ノイズ発生検出期間を短くすることができる。
なお、どのようなノイズを判定したいのかによりノイズ検出アルゴリズムは異なる。また、放射線画像撮影システム10や電子カセッテ20の仕様、ユーザの所望等によっても、ノイズ検出アルゴリズムは異なる。そのため、撮影状況等に応じて、撮影メニューやユーザの指示等に基づいて、ノイズ検出アルゴリズムを設定可能とすることが好ましい。
ノイズの発生が検出された場合は、ステップS206で肯定されてステップS202に戻る。一方、ノイズの発生が検出されない場合は、否定されてステップS208へ進む。ステップS208〜ステップS222は、上記したステップS106〜ステップS122の動作にそれぞれ対応しているため、説明を省略する。
このように本実施の形態では、電荷蓄積期間の前、及び電荷蓄積期間の間においてノイズの発生の検出を行っているため、上記各実施の形態と同様に、外乱要因に起因したノイズが発生した場合に、時間を要さずにノイズの発生を検出して電子カセッテ20の撮影動作(現在の動作)を制御することができる。
また、上記各実施の形態で説明したように、電荷蓄積期間を開始させてからノイズの検出を行う場合、ノイズの多い環境では、放射線の照射開始の誤検出により、実際には、放射線の照射が開始されていないにもかかわらず電荷蓄積期間へ移行してしまう現象が頻繁に起きる。そのため、消費電力が増加する懸念がある。一方、本実施の形態では、電荷蓄積期間への移行前にノイズの発生の検出を行っているため、電荷蓄積期間への移行を抑制することができる、消費電力の増加を抑制することができる。
また、電荷蓄積期間の前のみノイズの検出を行う場合、上述したように、ノイズ発生検出期間に長時間を要するため、高速検出を行うことができない。また、捨てられる電荷(放射線画像の生成に用いられず、捨てられてしまう電荷)が増加する。放射線画像の生成には、所定量の電荷が必要となるため、捨てられる電荷が増加すると、所定量の電荷を得るまでの時間が増える。すなわち、照射時間が増え、照射線量が増える。一方、本実施の形態では、上述したように、ノイズ発生検出期間を短くすることができるため、高速検出を行うことができる。また、捨てられる電荷を少なくすることができる。
[第6の実施の形態]
本実施の形態では、電荷蓄積期間の前、及び電荷蓄積期間終了後にノイズの発生を検出する場合について説明する。図21には、本実施の形態に係る放射線画像を撮影する際の動作の流れの一例を示したフローチャートを示す。本動作は、上記各実施の形態で説明した放射線画像を撮影する際の動作(図9及び図18参照)と略同様の動作を含む。特に、本動作の電荷蓄積期間前におけるノイズの発生の検出動作は、上記第5の実施の形態で説明した電荷蓄積期間前におけるノイズの発生の検出動作と略同様である。略同一の動作についてはその旨を記し、詳細な説明を省略する。
本実施の形態の放射線画像を撮影する際の動作におけるステップS300〜ステップS310は、上記第5の実施の形態(図18参照)のステップS200〜ステップS210の動作にそれぞれ対応している。
ステップS300で撮影モードへ移行した後、次のステップS302では、放射線の検出を行う放射線検出待ち状態に移行する。次のステップS304では、放射線の照射開始を検出したか否か判断する。検出していない場合は否定されてステップS302に戻り本処理を繰り返す。一方、放射線の照射開始を検出した場合は、ステップS306へ進み、ノイズが発生したか否か判断する。ノイズの発生が検出された場合は、ステップS302に戻る。一方、ノイズの発生が検出されない場合は、ステップS308に進み、電荷蓄積状態に移行して、次のステップS310で電荷蓄積を開始する。
本実施の形態では、ステップS310により、電荷の蓄積が開始されると次のステップS312で電荷を蓄積するための所定時間が経過したか否か判断する。当該ステップS312は、上記実施の形態のステップS118やステップS218に対応している。所定時間経過するまでは、否定されて待機状態になる。一方、所定時間が経過した場合は、肯定されてステップS314へ進む。
所定時間が経過し、電荷の蓄積が完了すると、ステップS314では、ノイズが発生したか否か判断する。本ステップにおけるノイズの検出方法(アルゴリズム)は、特に限定されない。上記実施の形態で説明したのと同様にして、ノイズの検出を行ってもよい。ノイズの発生が検出された場合は、ステップS316へ進む。ステップS316では、上記実施の形態のステップS112におけるノイズ発生の報知と同様に、ノイズが発生したことを医師等のユーザに対して報知した後、ステップS320へ進む。一方、ノイズの発生が検出されない場合は、ステップS318へ進む。ステップS318及びステップS320は、上記したステップS120〜ステップS122(ステップS220及びステップS222)の動作にそれぞれ対応しているため、説明を省略する。
このように本実施の形態では、電荷蓄積期間の前、及び電荷蓄積期間終了後においてノイズの発生の検出を行っているため、上記各実施の形態と同様に、外乱要因に起因したノイズが発生した場合に、時間を要さずにノイズの発生を検出して電子カセッテ20の撮影動作(現在の動作)を制御することができる。
また、電荷蓄積期間の前のみ、ノイズの発生の検出を行う場合は、その後、ノイズが発生した場合には、生成される放射線画像にはノイズが含まれてしまう。また、上記各実施の形態で説明したように、電荷蓄積期間の間にノイズの発生の検出を行う場合でも、検出タイミングによっては、ノイズの発生が適切に検出できない懸念がある。例えば、電荷蓄積期間の終了間際に発生したノイズについては、検出できない懸念がある。そのため、上記各実施の形態では、生成される放射線画像にノイズが含まれていないことを保証できないことがある。これに対して、本実施の形態では、電荷蓄積期間の前、及び電荷蓄積期間終了後にノイズの発生の検出を行っている。両者においてノイズの発生が検出されていない場合は、電荷蓄積期間においてもノイズが発生していないとみなすことができる。そのため、本実施の形態では、放射線画像にノイズが含まれてしまうのを抑制することができる。
なお、本実施の形態では、電荷蓄積期間の終了後にノイズの発生を検出した場合は、報知するようにしているが、さらに、ノイズの発生のみならず、発生したノイズの強弱や、発生位置を報知するようにしてもよい。なお、この場合は、ノイズを検出するのに用いた電気信号の強弱等に基づいて、発生したノイズの強弱を検出するように構成すればよい。また、ノイズの発生の検出のために電気信号を検出するセンサ(放射線センサ)の位置に基づいて、ノイズの発生位置を検出するように構成すればよい。
またさらに、検出したノイズの強弱や発生位置に応じて、放射線画像を生成するか(または、生成した放射線画像を出力するか)判断するようにしてもよい。例えば、発生したノイズが弱い場合は、放射線画像を生成し、強い場合は、放射線画像を生成しないようにしてもよい。また例えば、ノイズの発生位置が画像の周辺部分の場合は、放射線画像を生成し、発生位置が中心部付近や被写体が写り込んでいる領域の場合は、放射線画像を生成しないようにしてもよい。
なお、本実施の形態では、電荷の蓄積を終了した後に、ノイズの発生を検出し、さらにその後、電荷読出状態に移行しているがこれに限らない。例えば、電荷の読み出しと並行してノイズの発生の検出を行ってもよい。なお、電荷の読み出しとノイズの発生の検出を並行して行う場合、電荷の読み出しを行っている間も放射線が電子カセッテ20に照射されることになる。そのため、ノイズの発生の検出のために電気信号を検出するセンサ(放射線センサ)は放射線が照射され、放射線画像の生成のために電荷が読み出される画素100等に対しては放射線が照射されない、または照射が抑制されるよう例えば、遮蔽部(シャッター)等を設けることが好ましい。
なお、上記第1の実施の形態〜第4の実施の形態で説明したように、電荷蓄積期間を開始させてからノイズの検出を行う場合は、ノイズの多い環境では、上記第5の実施の形態で説明した問題が生じる懸念がある。すなわち、放射線の照射開始の誤検出により、実際には、放射線の照射が開始されていないにもかかわらず電荷蓄積期間へ移行してしまう現象が頻繁に起きることにより、消費電力が増加する懸念がある。例えば、回診により放射線画像撮影を行う場合は、ノイズの多い環境下での撮影となる。撮影室と異なり、電磁ノイズ対策が必ずしも行われておらず、また、周辺機器からのノイズが多い。さらに、病室では、ベッド等が並んでおり、スペースが狭く、ケーブルやベッドに触れたりするため、衝撃ノイズが多くなる。そのため、このようにノイズの多い環境下で撮影を行う場合は、ジャケット(外部強化筐体)等などの電子カセッテ20を保護するための筐体カバーにセットして使用することが好ましい。これにより、ノイズの多い環境下であっても、無駄な蓄積期間への移行を抑制でき、消費電力を抑制することができる。
なお、上記各実施の形態では、変換した光を電荷に変換する間接変換方式の放射線検出器26に本発明を適用した場合について説明したが、これに限定されない。例えば、放射線を吸収して電荷に変換する光電変換層としてアモルファスセレン等の放射線を直接電荷に変換する材料を使用した直接変換方式の放射線検出器に本発明を適用してもよい。
その他、本実施の形態で説明した電子カセッテ20、放射線検出器26等の構成、動作等は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において状況に応じて変更可能であることは言うまでもない。
また、本実施の形態では、本発明の放射線は、特に限定されるものではなく、X線やγ線等を適用することができる。
10 放射線画像撮影システム
20 電子カセッテ
26 放射線検出器
73 信号配線
74 TFTスイッチ
95 共通電極配線
100 画素、100A 放射線画像撮影用の画素、100B 放射線検知用の画素
103 センサ部
106 制御部
174 放射線検知センサ
180 センサ

Claims (20)

  1. 照射された放射線の線量に応じた電荷を発生して、発生した電荷を蓄積するセンサ部、及び制御信号に基づいて前記センサ部から前記電荷を読み出して前記電荷に応じた電気信号を信号線に出力するスイッチング素子を各々備えた複数の画素を備えた放射線検出器と、
    前記センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、及び前記センサ部と異なる放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、の少なくとも一方の場合を放射線の照射開始として検出する、検出動作を行う検出手段と、
    前記検出手段が、前記放射線の照射開始を検出した後、外乱に起因するノイズが発生したか否か判断し、前記ノイズが発生した場合は、前記放射線検出器の現在の動作を停止させるよう制御し、前記検出手段に再び前記検出動作を行わせるよう制御する、制御手段と、
    を備えた放射線画像撮影装置。
  2. 前記検出手段で放射線の照射開始を検出した後に、前記制御手段は、前記センサ部に電荷の蓄積を開始させ、蓄積開始後に前記ノイズが発生したか否か判断し、前記ノイズが発生した場合は、前記放射線検出器の現在の動作を停止させるよう制御する、請求項1に記載の放射線画像撮影装置。
  3. 前記検出手段で放射線の照射開始を検出した後、前記センサ部に電荷の蓄積を開始させる前に、前記制御手段は、前記ノイズが発生したか否か判断し、前記ノイズが発生していない場合は、前記センサ部に電荷の蓄積を開始させる、請求項2に記載の放射線画像撮影装置。
  4. 前記制御手段は、前記センサ部で発生した電荷に起因した電気信号の変化を検出し、当該電気信号の時間変化に基づいて、前記ノイズが発生したか否か判断する、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  5. 前記スイッチング素子が短絡した短絡画素を備えており、
    前記制御手段は、前記短絡画素の前記センサ部で発生した電荷に起因した電気信号の時間変化に基づいて、前記ノイズが発生したか否か判断する、請求項4に記載の放射線画像撮影装置。
  6. 前記センサ部にバイアス電圧を供給する共通電極配線を備え、
    前記制御手段は、当該センサ部で発生した電荷に起因して、前記共通電極配線を流れる電気信号の時間変化に基づいて、前記ノイズが発生したか否か判断する、請求項4または請求項5に記載の放射線画像撮影装置。
  7. 前記放射線センサ部は、前記放射線検出器の内部または外部の少なくとも一方に設けられており
    前記制御手段は、当該放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号の時間変化に基づいて、前記ノイズが発生したか否か判断する、請求項から請求項6のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  8. 前記制御手段は、前記検出手段が前記放射線の照射開始を検出した後から、放射線の照射が停止するまでの期間、電気信号の変化を検出し、当該電気信号の時間変化に基づいて、前記ノイズが発生したか否か判断する、請求項4から請求項7のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  9. 前記制御手段は、電気信号に応じた電荷の極性及び電荷量の時間変化を表す波形の振幅の少なくとも一方の時間変化に基づいて、前記ノイズが発生したか否かを判断する、請求項4から請求項8のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  10. 前記検出手段が放射線の照射開始を検出するための電気信号と、前記制御手段が前記ノイズが発生したか否かを判断するための電気信号とは、種類が異なる電気信号である、請求項4から請求項9のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  11. 前記制御手段は、前記画素が設けられた所定の領域毎に予め定められた基準、及び前記信号線毎に予め定められた基準の少なくとも一方により、前記ノイズが発生したか否かを判断する、請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  12. 前記放射線検出器に外部から加えられた衝撃、及び電磁波の少なくとも一方を検知する検知部を備え、
    前記制御手段は、前記検知部の検知結果に基づいて、前記ノイズが発生したか否か判断する、請求項1から請求項11のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  13. 前記複数の画素前記スイッチング素子が短絡した短絡画素を備えており、
    前記検出手段は、前記短絡画素の前記センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合を放射線の照射開始として検出する、請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  14. 前記センサ部にバイアス電圧を供給する共通電極配線を備え、
    前記検出手段は、前記センサ部で発生した電荷に起因して、前記共通電極配線を流れる電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合を放射線の照射開始として検出する、請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  15. 前記放射線センサ部は、前記放射線検出器の内部または外部の少なくとも一方に設けられており
    前記検出手段は、当該放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合を放射線の照射開始として検出する、請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  16. 前記制御手段が停止させる前記現在の動作とは、前記センサ部に電荷を蓄積させる蓄積動作、または、前記スイッチング素子により前記センサ部から電荷を読み出す読み出し動作である、請求項1から請求項15のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  17. 前記制御手段は、ノイズが発生した場合は、報知するよう報知手段を制御する、請求項1から請求項16のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置。
  18. 放射線を照射する照射装置と、
    前記照射装置から照射された放射線に応じた放射線画像を撮影する、前記請求項1から前記請求項17のいずれか1項に記載の放射線画像撮影装置と、
    を備えた放射線画像撮影システム。
  19. 照射された放射線の線量に応じた電荷を発生して、発生した電荷を蓄積するセンサ部、及び制御信号に基づいて前記センサ部から前記電荷を読み出して前記電荷に応じた電気信号を信号線に出力するスイッチング素子を各々備えた複数の画素を備えた放射線検出器を備えた放射線画像撮影装置の制御プログラムであって、
    前記センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、及び前記センサ部と異なる放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、の少なくとも一方の場合を放射線の照射開始として検出する、検出動作を行う検出手段と、
    前記検出手段が、前記放射線の照射開始を検出した後、外乱に起因するノイズが発生したか否か判断し、前記ノイズが発生した場合は、前記放射線検出器の現在の動作を停止させるよう制御し、前記検出手段に再び前記検出動作を行わせるよう制御する、制御手段と、
    してコンピュータを機能させるための放射線画像撮影装置の制御プログラム。
  20. 照射された放射線の線量に応じた電荷を発生して、発生した電荷を蓄積するセンサ部、及び制御信号に基づいて前記センサ部から前記電荷を読み出して前記電荷に応じた電気信号を信号線に出力するスイッチング素子を各々備えた複数の画素を備えた放射線検出器を備えた放射線画像撮影装置の制御方法であって、
    検出手段により前記センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、及び前記センサ部と異なる放射線センサ部で発生した電荷に起因した電気信号が、所定の照射検出用条件を満たす場合、の少なくとも一方の場合を放射線の照射開始として検出する、検出動作を行う検出工程と、
    制御手段により前記検出手段が、前記放射線の照射開始を検出した後、外乱に起因するノイズが発生したか否か判断し、前記ノイズが発生した場合は、前記放射線検出器の現在の動作を停止させるよう制御し、前記検出手段に再び前記検出動作を行わせるよう制御する工程と、
    を備えた放射線画像撮影装置の制御方法。
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