JP2007101521A - 異方性導電フィルムの圧痕検査装置 - Google Patents

異方性導電フィルムの圧痕検査装置 Download PDF

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Abstract

【課題】不良製品発生後の後続工程の進行を遮断して、資材の損失を減すと同時に検査に必要な時間を減らして生産性を増加させることができる異方性導電フィルムの圧痕検査装置を提供する。
【解決手段】圧痕イメージを得る光学イメージ生成部1と、圧痕イメージをデジタル化するイメージ変換部2と、ビジョン制御部3の整列信号を受信して、部品素材を光学イメージ生成部1に移動させるPLC制御部4とから構成され、光学イメージ生成部1は、DICフィルターと照明部がそれぞれ一側に結合された第1鏡筒の下部に対物レンズが設置され、第1鏡筒の上部には、第1カメラ131の結合された第2鏡筒がアナライザフィルターを持つ第3鏡筒を介して結合され、第2鏡筒の上部には視野調整用レンズを持つ第4鏡筒が結合され、第4鏡筒の上部に第2カメラ16が結合される。
【選択図】 図2

Description

本発明は異方性導電フィルムの圧痕検査装置に係り、特に異方性導電フィルムの接着力によって表面に仮圧着された部品を高温、高圧のツールで本圧着させる過程で発生した圧痕をイメージに抽出し、検査ステージが移送される間に検査することにより、不良製品発生後に続く工程の進行を遮断して資材の損失を減らすとともに検査に必要な時間を減らして生産性を増加させるようにしたものに関する。
一般に、LCD(Liquid Cristal Display)パネルの実装分野において、LCDパネルとTCP(Tape Carrier Package)、またはPCB(Printed Cricuit Board)とTCPの接合、およびCOG(Chip On Glass)実装分野において、ベアチップ(Bare Chip)とLCDパネルの接合工程で、これらを電気的に接続させるための方案として、通常異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)を主に使用することになる。
異方性導電フィルムは、熱によって硬化する接着剤とその中に微細な導電ボールを混合させた両面テープ形態とからなる構造を持つもので、高温の圧力を加えれば回路パターンのパッドが触れ合う部分の導電ボールが破壊され、導電ボールがパッド間の通電をなし、パッド部分以外の凹凸面に残りの接着剤が充填されて硬化することにより、互いに接着される。
異方性導電フィルムにGOG、FOG(Film On Glass)、TAB(Tape Automatic Bonding)、COF(Chip On Film)工程によって接続した後、これらの接続状態を点検し、接続不良有無を確認した後、そのつぎのいろいろの工程を経ることで、正常に作動する製品を得ることができることになる。
接続状態を検査する過程で、これを正確に検査することができない場合、後続工程の進行による素材損失とともに不良率が高くなる原因として作用した。このような原因を解消するための方案として、肉眼または工具顕微鏡を利用する手検査が実施されているが、円滑な検査をするためには、多くの人力が必要になるとともに検査に相当な時間が必要となるため、非生産的な問題点があった。
本発明はこのような問題点を解消するために新たになされたもので、異方性導電フィルムの接着力によって表面に仮圧着された部品素材を高温、高圧のツールで本圧着させる過程で発生した圧痕をイメージとして抽出して検査することで、不良製品発生後の後続工程の進行を遮断して、資材の損失を減すと同時に検査に必要な時間を減らして生産性を増加させることができる異方性導電フィルムの圧痕検査装置を提供することにその目的がある。
このような目的を達成するための本発明は、異方性導電フィルムの接着力によって仮圧着された部品素材を高温、高圧のツールで本圧着させる過程で発生した圧痕のイメージを抽出して検査する異方性導電フィルムの圧痕検査装置において、前記圧痕検査装置は、圧痕を拡大して圧痕イメージを得る光学イメージ生成部と;前記光学イメージ生成部で生成された圧痕イメージをデジタル化させるイメージ変換部と;前記イメージ変換部の信号を受信して検査アルゴリズムを行うビジョン制御部と;前記ビジョン制御部の整列信号を受信して移送モーターを駆動させることで、検査ステージに供給されて載せられた部品素材を前記光学イメージ生成部に移動させるPLC制御部と;から構成され、前記光学イメージ生成部は、DICフィルターと照明部がそれぞれ一側に結合された第1鏡筒の下部に対物レンズが設置され、前記第1鏡筒の上部には、第1カメラの結合された第2鏡筒がアナライザフィルターを持つ第3鏡筒を介して結合され、前記第2鏡筒の上部には視野調整用レンズを持つ第4鏡筒が結合され、前記第4鏡筒の上部に第2カメラが結合される、異方性導電フィルムの圧痕検査装置を提供する。
前記照明部は、パワーLED(POWER LED)が円板状のPCBに電気的に接続されてケースに内蔵され、前記パワーLEDは照明コントローラーによって明るさが調節されることが望ましい。
前記照明部は、ケースと第1鏡筒との間に偏光フィルターが介在されることが望ましい。
前記第1カメラは自動焦点調節機能を有するように構成され、前記第2カメラは圧痕イメージキャプチャ機能を有するように構成されることが望ましい。
前記ビジョン制御部は、第2カメラの画像が入力されるインスペクトビジョンボードと;前記第1カメラに接続されたオートフォーカスビジョンボードと;前記第2カメラの焦点を合わせるステッピングモーターを駆動するドライバーが接続されたモーターコントローラーと;前記照明部とPLC制御部に接続されたデジタル入出力ボードと;前記PLC制御部に接続されたLANカードと;ビデオグラフィックアダプダカードに接続されたモニターと;から構成されることが望ましい。
以上のように、本発明は、異方性導電フィルムが接着された部品素材を高温、高圧のツールで本圧着させる過程で発生した圧痕をイメージとして抽出し、検査ステージが移送される過程で検査することで、不良製品発生後の後続工程の進行を遮断して資材の損失を減らすようにしたものである。
また、これにより、圧痕イメージ検査に必要な時間を減らして生産性を増大させるようにしたものである。
以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する。
本発明による異方性導電フィルムの圧痕検査装置は、異方性導電フィルムの接着力によって仮圧着された部品を高温、高圧のツールで本圧着させる過程で発生した圧痕のイメージを抽出し、基準値と比較および判別して検査するものであって、図1〜図3に示すように、光学イメージ生成部1、イメージ変換部2、ビジョン制御部3、およびPLC制御部4から構成されている。
ここで、前記光学イメージ生成部1は、部品を高温、高圧のツールで異方性導電フィルムに圧着させる過程で発生した圧痕に正確なピントを合わせて、拡大された圧痕イメージを得るもので、後述するアナライザフィルター141とともに、部品素材5を立体的に見えるようにするDICフィルター(Differential Interference Filter)111および照明部112がそれぞれ一側に結合された第1鏡筒11の下部に約5倍率の対物レンズ12が結合され、前記第1鏡筒11の上部には、自動焦点調整の可能な第1カメラ131が結合された第2鏡筒13が光量を調節するアナライザフィルター(Analyzer Filter)114を持つ第3鏡筒14を介して結合されるように構成されている。
前記照明部112は、ケース112aに内蔵されたパワーLED112bで構成されるもので、このようなパワーLED112bは円板状のPCB112cに電気的に接続されるように構成されており、前記パワーLED112bは後述するデジタル入出力ボード34とPLC制御部4との間に分岐されるように接続された照明コントローラー113によってその明るさが調節されるように構成されている。
また、前記ケース112aと第1鏡筒11との間には、パワーLED112bの光量を調節する偏光フィルター17が介在されるように構成されている。
前記第2鏡筒13の上部には、部品素材5の検査領域を調整することができる視野調整用レンズ151を持つ第4鏡筒15が結合され、前記第4鏡筒15の上部には、圧痕キャプチャ機能を持つ第2カメラ16が結合されるように構成されている。
前記イメージ変換部2は、光学イメージ生成部1で生成された圧痕の映像をイメージにデジタル化させる自動焦点機能を持つ第1カメラ131および圧痕キャプチャ機能を持つ第2カメラ16で構成され、前記第1カメラ131は120fpsの速度を有することが望ましく、前記第2カメラ16は1600×1200の解像度を有することがより望ましい。
前記ビジョン制御部3は、イメージ変換部2の画像信号を受信して検査アルゴリズムを行うものであって、インスペクトビジョンボード31、オートフォーカスビジョンボード32、モーターコントローラー33、デジタル入出力ボード34、LANカード35、およびビデオグラフィックアダプダカード36が電気的に接続されるように構成されている。
ここで、前記インスペクトビジョンボード31は、第2カメラ16の画像が入力されるように構成され、前記オートフォーカスビジョンボード32は第1カメラ131に接続されるように構成されている。
前記モーターコントローラー33には、第2カメラ16の焦点を合わせるステッピングモーター331を駆動するドライバー332が接続されるように構成され、前記デジタル入出力ボード34には、照明部112およびPLC制御部4の入出力側がそれぞれ接続されるように構成されている。
前記LANカード35にはPLC制御部4の入出力側が接続され、前記ビデオグラフィックアダプダカード36にはモニター37が接続されるように構成されている。
前記PLC制御部4は、ビジョン制御部3の整列信号を受けて移送モーター41を駆動させ、検査ステージ7に供給された圧痕の形成された異方性導電フィルム51を、前記光学イメージ生成部1を構成する対物レンズ12の下部に移動させ、圧痕イメージ信号によって次の検査位置に検査ステージ7を速かに移動させるように構成されている。
一方、前記部品素材5は、図1に示すように、吸着パッド62が結合された昇降用シリンダー61を移送させるX、Y軸63を持つロボット64で構成されたアンローダー6によって移載されて検査ステージ7に供給されるように構成されている。
このような構成を持つ圧痕検査装置を利用して部品素材5の圧痕を検査する過程は次のようである。
まず、TAB、CHP、FOGの部品52が異方性導電フィルム51の接触力によって仮接着された後、図示しないツールで本圧着された部品素材5は、アンローダー6によって移載されて検査ステージ7に供給される。
ついで、部品素材5が供給された検査ステージ7に第2カメラ16の焦点を合わせることになる。この時、前記ビジョン制御部3のモーターコントローラー33の信号がドライバー332を通じてステッピングモーター331に印加されることによってステッピングモーター331が駆動されることにより、第2カメラ16の焦点が合わせられることになる。
ついで、ビジョン制御部3のデジタル入出力ボード34を通じて出力された整列信号がPLC制御部4を通じて移送モーター41を作動させて、部品素材5の載せられた検査ステージ7を整列させた後、後続のPLC制御部4の信号によって移送モーター41を作動させて、部品素材5の載せられた検査ステージ7を1次検査位置に移送させる。
ついで、1次検査位置に移送された部品素材5の圧痕が第2カメラ16によってイメージとしてキャプチャされる過程で、照明部112のLED112bから発生した高輝度の光がアナライザフィルター141、偏光フィルター17およびDICフィルター111によって調節されることによって、最適の状態を持つイメージがキャプチャされる。
ついで、圧痕イメージがキャプチャされると同時に発生したキャプチャ信号がPLC制御部4に印加されて次の2次検査位置に部品素材5の載せられた検査ステージ7を再移送させる過程で、キャプチャされた圧痕イメージをアルゴリズムによって検査する。
ついで、検査ステージ7を次の検査位置に移送させるが、移送された位置が最後の検査位置でない場合、圧痕イメージ検査を繰り返すことになり、その位置が最後の検査位置である場合、圧痕イメージ検査を終了し、検査ステージ7に載せられた部品素材5を排出させて終了することになる。
一方、本発明においては、光学イメージ生成部1をただ一つにして圧痕イメージを検出するようにしたが、このような構成のほかに、図4に一点鎖線で示すように、複数で構成する場合、圧痕イメージに必要な検査時間を最小限に減らすことができることになるので、多量の製品を生産することができることになる。
本発明は、不良製品発生後の後続工程の進行を遮断して、資材の損失を減すと同時に検査に必要な時間を減らして生産性を増加させることができる異方性導電フィルムの圧痕検査装置に適用可能である。
本発明による異方性導電フィルムの圧痕検査装置を構成する光学イメージ生成部とテーブルを示す例示図である。 本発明による異方性導電フィルムの圧痕検査装置を構成する光学イメージ生成部の構成図である。 本発明による異方性導電フィルムの圧痕検査装置の検査過程を示す流れ図である。 本発明による異方性導電フィルムの圧痕検査装置の作動状態を示す構成図である。
符号の説明
1 光学イメージ生成部
2 イメージ変換部
3 ビジョン制御部
4 PLC制御部
5 部品素材
7 検査ステージ
11 第1鏡筒
12 対物レンズ
13 第2鏡筒
14 第3鏡筒
15 第4鏡筒
16 第2カメラ
41 移送モーター
111 DICフィルター
112 照明部
131 第1カメラ
141 アナライザフィルター
151 視野調整用レンズ

Claims (5)

  1. 異方性導電フィルムの接着力によって仮圧着された部品素材を高温、高圧のツールで本圧着させる過程で発生した圧痕のイメージを抽出して検査する異方性導電フィルムの圧痕検査装置において、前記圧痕検査装置は、
    圧痕を拡大して圧痕イメージを得る光学イメージ生成部1と;
    前記光学イメージ生成部1で生成された圧痕イメージをデジタル化させるイメージ変換部2と;
    前記イメージ変換部2の信号を受信して検査アルゴリズムを行うビジョン制御部3と;
    前記ビジョン制御部3の整列信号を受信して移送モーター41を駆動させることで、検査ステージ7に供給されて載せられた部品素材5を前記光学イメージ生成部1に移動させるPLC制御部4と;
    から構成され、
    前記光学イメージ生成部1は、DICフィルター111と照明部112がそれぞれ一側に結合された第1鏡筒11の下部に対物レンズ12が設置され、前記第1鏡筒11の上部には、第1カメラ131の結合された第2鏡筒13がアナライザフィルター141を持つ第3鏡筒14を介して結合され、前記第2鏡筒13の上部には視野調整用レンズ151を持つ第4鏡筒15が結合され、前記第4鏡筒15の上部に第2カメラ16が結合されることを特徴とする、異方性導電フィルムの圧痕検査装置。
  2. 前記照明部112は、パワーLED112bが円板状のPCB112cに電気的に接続されてケース112aに内蔵され、前記パワーLED112bは照明コントローラー113によって明るさが調節されることを特徴とする、請求項1に記載の異方性導電フィルムの圧痕検査装置。
  3. 前記照明部112は、ケース112aと第1鏡筒111との間に偏光フィルター17が介在されることを特徴とする、請求項1または2に記載の異方性導電フィルムの圧痕検査装置。
  4. 前記第1カメラ131は自動焦点調節機能を有するように構成され、前記第2カメラ16は圧痕イメージキャプチャ機能を有するように構成されることを特徴とする、請求項1に記載の異方性導電フィルムの圧痕検査装置。
  5. 前記ビジョン制御部3は、
    第2カメラ16の画像が入力されるインスペクトビジョンボード31と;
    前記第1カメラ131に接続されたオートフォーカスビジョンボード32と;
    前記第2カメラ16の焦点を合わせるステッピングモーター331を駆動するドライバー332が接続されたモーターコントローラー33と;
    前記照明部112とPLC制御部4に接続されたデジタル入出力ボード34と;
    前記PLC制御部4に接続されたLANカード35と;
    ビデオグラフィックアダプダカード36に接続されたモニター37と;
    から構成されることを特徴とする、請求項1に記載の異方性導電フィルムの圧痕検査装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106018434A (zh) * 2016-07-06 2016-10-12 康代影像科技(苏州)有限公司 一种光学检测设备
KR101884196B1 (ko) * 2017-05-16 2018-08-01 주식회사 제이스텍 도전성 필름 부착시 압흔상태 검사방법

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100847740B1 (ko) 2008-01-31 2008-07-23 (주)글로벌링크 압흔검사시스템 및 압흔검사시스템의 제어방법
CN104965320B (zh) * 2015-05-12 2018-07-20 深圳市鑫三力自动化设备有限公司 压痕采集装置、液晶模组用粒子检测系统及其检测方法
JP6661997B2 (ja) * 2015-11-26 2020-03-11 デクセリアルズ株式会社 異方性導電フィルム
KR102000698B1 (ko) * 2017-08-28 2019-10-01 김동언 리드탭 기포 검사장치
CN108152290A (zh) * 2017-12-24 2018-06-12 大连益盛达智能科技有限公司 一种显示模组粒子检测相机机构
KR102341236B1 (ko) 2021-03-22 2021-12-20 미소에이스 주식회사 딥러닝을 기반으로 한 압흔 검사시스템 및 압흔 검사시스템의 제어 방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106018434A (zh) * 2016-07-06 2016-10-12 康代影像科技(苏州)有限公司 一种光学检测设备
CN106018434B (zh) * 2016-07-06 2018-12-28 康代影像科技(苏州)有限公司 一种光学检测设备
KR101884196B1 (ko) * 2017-05-16 2018-08-01 주식회사 제이스텍 도전성 필름 부착시 압흔상태 검사방법

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