JP2007097348A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 降圧型DC−DCコンバータ1には、第1のOFF検出回路2a、第2のOFF検出回路2b、コンデンサC1、コンデンサC2、ダイオードD1、インバータINV1乃至4、インバータINV6、インバータINV7、インダクタL1、第1のレベルシフト回路LS1、第2のレベルシフト回路LS2、第3のレベルシフト回路LS3、2入力NAND回路NAND1、2入力NAND回路NAND2、ハイサイド側のNch パワーMOSトランジスタNT1、及びローサイド側のNch パワーMOSトランジスタNT2が設けられている。第1のOFF検出回路2a及び第2のOFF検出回路2bは、Nch パワーMOSトランジスタのゲートの立ち下り時間を短縮し、デッドタイムを短縮する。
【選択図】 図1
Description
(付記1) ドレインが入力用電源に接続され、ゲートに入力される信号によりオン・オフ動作するハイサイド側の第1のNch パワーMOSトランジスタと、ドレインが前記第1のNch パワーMOSトランジスタのソースに接続され、ソースが低電位側電源に接続され、ゲートに入力される信号によりオン・オフ動作するローサイド側の第2のNch パワーMOSトランジスタと、ドレインが前記第1のNch パワーMOSトランジスタのゲートに接続され、ゲートに印加される第1の電圧によりONする第1のNch MOSトランジスタと、前記第1のNch MOSトランジスタのソースと前記低電位側電源の間に設けられ、一定な電流を生成する第1の定電流源と、前記第1のNch パワーMOSトランジスタのゲートの信号レベルを検出する第1の信号レベル検出部とを有し、前記第1のNch パワーMOSトランジスタがONからOFFするときに、前記第1のNch MOSトランジスタ及び前記第1の定電流源が前記第1の信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電する第1のOFF検出回路と、ドレインが前記第2のNch パワーMOSトランジスタのゲートに接続され、ゲートに印加される第2の電圧によりONする第2のNch MOSトランジスタと、一端が前記第2のNch MOSトランジスタのソースに接続され、一定な電流を生成する第2の定電流源と、前記第2のNch パワーMOSトランジスタのゲートの信号レベルを検出する第2の信号レベル検出部とを有し、前記第2のNch パワーMOSトランジスタがONからOFFするときに、前記第2のNch MOSトランジスタ及び前記第2の定電流源が前記第2の信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電する第2のOFF検出回路とを具備し、前記第1のNch MOSトランジスタのゲートに印加される前記第1の電圧よりも前記第2のNch パワーMOSトランジスタのゲートに印加されるON時の電圧の方が高い半導体装置。
2a、2c、2e 第1のOFF検出回路
2b、2d、2f 第2のOFF検出回路
3 BST端子
4 定電流源
11a、11b 信号レベル検出部
Buff1 バッファ回路
C1、C2、C3 コンデンサ
D1 ダイオード
INa、INb ゲート入力信号
INV1〜7 インバータ
L1、L2 インダクタ
LS1 第1のレベルシフト回路
LS2 第2のレベルシフト回路
LS3 第3のレベルシフト回路
LS4 第4のレベルシフト回路
LS5 第5のレベルシフト回路
N1〜7、N11〜16、N21〜23、N31、N32、Lx ノード
NAND1、NAND2 2入力NAND回路
NT1、NT2、NT2a Nch パワーMOSトランジス
NT11〜15 Nch MOSトランジスタ
PT1 Pch パワーMOSトランジスタ
PT11 Pch MOSトランジスタ
Vin 入力用電源(入力電圧)
Vdd 制御用電源
Vout 出力電圧
Vss 低電位側電源
Claims (5)
- 高電位側電源側に設けられ、制御電極に入力される信号によりオン・オフ動作するハイサイド側スイッチング素子と、
低電位側電源側に設けられ、制御電極に入力される信号によりオン・オフ動作するローサイド側スイッチング素子と、
一定な電流を生成する第1の定電流源と、第1電極が前記ローサイド側スイッチング素子の制御電極に接続され、第2電極が前記第1の定電流源に接続され、制御電極に印加される第1の電圧によりONする第1のトランジスタと、前記ローサイド側スイッチング素子の制御電極の信号レベルを検出する第1の信号レベル検出部とを有し、前記ローサイド側スイッチング素子がONからOFFするときに、前記第1の定電流源及び前記第1のトランジスタが前記第1の信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電する第1のOFF検出回路と、
一定な電流を生成する第2の定電流源と、第1電極が前記ハイサイド側スイッチング素子の制御電極に接続され、第2電極が前記第2の定電流源に接続され、制御電極に印加される第2の電圧によりONする第2のトランジスタと、前記ハイサイド側スイッチング素子の制御電極の信号レベルを検出する第2の信号レベル検出部とを有し、前記ハイサイド側スイッチング素子がONからOFFするときに、前記第2の定電流源及び前記第2のトランジスタが前記第2の信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電する第2のOFF検出回路と、
を具備することを特徴とする半導体装置。 - 前記第1のOFF検出回路は、第1電極が前記第1のトランジスタの第2電極に接続され、前記ローサイド側スイッチング素子がONからOFFするときに、制御電極に入力される第1の入力信号によりONする第3のトランジスタを有し、前記ローサイド側スイッチング素子がONからOFFするときに、前記第1の定電流源、前記第1のトランジスタ、及び前記第3のトランジスタが前記第1の信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電し、前記第2のOFF検出回路は、第1電極が前記第2のトランジスタの第2電極に接続され、前記ハイサイド側スイッチング素子がONからOFFするときに、制御電極に入力される第2の入力信号によりONする第4のトランジスタを有し、前記ハイサイド側スイッチング素子がONからOFFするときに、前記第2の定電流源、前記第2のトランジスタ、及び第4のトランジスタが前記第2の信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 入力用電源側に設けられ、ゲートに入力される信号によりオン・オフ動作するハイサイド側パワーMOSトランジスタと、
低電位側電源側に設けられ、ゲートに入力される信号によりオン・オフ動作するローサイド側パワーMOSトランジスタと、
ドレインが前記ローサイド側パワーMOSトランジスタのゲートに接続され、ゲートに印加される第1の電圧によりONする第1のNch MOSトランジスタと、前記第1のNch MOSトランジスタのソースと前記低電位側電源側の間に設けられ、一定な電流を生成する第1の定電流源と、前記ローサイド側パワーMOSトランジスタのゲートの信号レベルを検出する第1の信号レベル検出部とを有し、前記ローサイド側パワーMOSトランジスタがONからOFFするときに、前記第1のNch MOSトランジスタ及び前記第1の定電流源が前記第1の信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電する第1のOFF検出回路と、
ドレインが前記ハイサイド側パワーMOSトランジスタのゲートに接続され、ゲートに印加される第2の電圧によりONする第2のNch MOSトランジスタと、一端が前記第2のNch MOSトランジスタのソースに接続され、一定な電流を生成する第2の定電流源と、前記ハイサイド側パワーMOSトランジスタのゲートの信号レベルを検出する第2の信号レベル検出部とを有し、前記ハイサイド側パワーMOSトランジスタがONからOFFするときに、前記第2のNch MOSトランジスタ及び前記第2の定電流源が前記第2の信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電する第2のOFF検出回路と、
を具備することを特徴とする半導体装置。 - 前記第1のOFF検出回路は、ドレインが前記第1のNch MOSトランジスタのソースに接続され、ソースが前記低電位側電源側に接続され、前記ローサイド側パワーMOSトランジスタがONからOFFするときに、ゲートに入力される第1の入力信号によりONする第3のNch MOSトランジスタを有し、前記ローサイド側パワーMOSトランジスタがONからOFFするときに、前記第1のNch MOSトランジスタ、前記第1の定電流源、及び前記第3のNch MOSトランジスタが前記第1の信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電し、前記第2のOFF検出回路は、ドレインが前記第2のNch MOSトランジスタのソースに接続され、前記ハイサイド側パワーMOSトランジスタがONからOFFするときに、ゲートに入力される第2の入力信号によりONする第4のNch MOSトランジスタを有し、前記ハイサイド側パワーMOSトランジスタがONからOFFするときに、前記第2のNch MOSトランジスタ、前記第2の定電流源、及び前記第4のNch MOSトランジスタが前記第2信号レベル検出部に蓄積された電荷を放電することを特徴とする請求項3に記載の半導体装置。
- 前記第1のNch MOSトランジスタは、前記第1のOFF検出回路を構成する前記第1のNch MOSトランジスタ以外のトランジスタよりもドレインーソース間耐圧が高く、前記第2のNch MOSトランジスタは、前記第2のOFF検出回路を構成する前記第2のNch MOSトランジスタ以外のトランジスタよりもドレインーソース間耐圧が高いことを特徴とする請求項3又は4に記載の半導体装置。
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