JP2007053255A - アライメントマークの形成方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】支持基板2にシリコン薄膜層を積層したウェハ1を準備する工程と、アライメントマーク形成領域6を設定し、膜厚調整酸化層7を形成する工程と、レジストマスク8を形成し、膜厚調整酸化層7をエッチングしてシリコン薄膜層を露出させる工程と、エピタキシャル成長法によりシリコン結晶層11を形成する工程と、このシリコン結晶層11上に耐酸化性膜14を形成する工程と、耐酸化性膜14上にマーク開口部10を形成したレジストマスク8を形成し、このレジストマスク8をマスクとしてアライメントマーク形成部5の耐酸化性膜14を除去する工程と、耐酸化性膜14をマスクとしてシリコン結晶層11およびシリコン薄膜層を酸化してアライメントマークを形成する工程とを備える。
【選択図】図1
Description
このようなSOI基板等による半導体装置の製造方法においては、そのフォトリソグラフィ工程の露光処理における位置合せのためにアライメントマークが形成される。
このようなSOI基板に形成するアライメントマークの従来の形成方法は、シリコン基板にフォトリソグラフィおよびエッチングにより1500Å程度の凹部を形成し、このシリコン基板に絶縁層および接着層を形成した後に、接着層を用いて新たなシリコン基板を張り合せ、元のシリコン基板を研磨して絶縁層を露出させ、絶縁層に囲まれた元のシリコン基板をシリコン部分として素子分離がなされたSOI基板を形成し、そのシリコン部分上にアライメントマーク形成部に開口を形成したレジストマスクを形成し、エッチングによりシリコン部分を除去して段差を確保したアライメントマークを形成し、その後に形成したアライメントマークを基準として半導体素子等を形成している(例えば、特許文献1参照。)。
このため、素子分離領域への素子分離層の形成とアライメントマークの形成を同じ工程で行うことがなされている。
また、ITRS(International Technology Roadmap for Semiconductor)のロードマップによれば、最先端のSOI層の膜厚を90nmとしたSOI基板によるノードデバイスの製造においては32nmの位置合せ精度が必要とされている。
なお、図1、図2はSOI基板に設定したアライメントマーク形成領域の近傍のみを断面図として示す。
図1、図2において、1はウェハとしてのSOI基板であり、支持基板としてのシリコンからなるシリコン基板2に、2酸化珪素からなるBOX酸化膜である絶縁層3を介して極薄い単結晶シリコンからなるシリコン薄膜層としてのSOI層4を積層して形成される。
7は膜厚調整酸化層であり、SOI基板1を製造工程に投入する最初の段階で熱酸化法等により形成される2酸化珪素(SiO2)の層である。
8はレジストマスクであり、フォトリソグラフィによりSOI基板1上に塗布されたフォトレジストを露光し、その後に現像処理して形成されるマスク部材であって、本実施例のドライエッチングおよびウェットエッチングにおけるマスクとして機能する。
10はマーク開口部であり、レジストマスク8のアライメントマーク形成領域6に内包されたアライメントマーク形成部5に、フォトリソグラフィによりレジストマスク8を厚さ方向に貫通して形成された貫通穴である。
13はパッド酸化膜であり、熱酸化法等によりSOI層4上に形成される薄い2酸化珪素膜である。
14は耐酸化性膜としてのシリコン窒化膜であり、CVD法等によりパッド酸化膜13上に堆積された窒化珪素(Si3N4)の膜であって、LOCOS法等によりフィールド酸化膜16を形成するときのマスクとして機能する。
17はアライメントマークであり、アライメントマーク形成領域6のアライメントマーク形成部5にフィールド酸化膜16を形成したときにSOI層4やシリコン結晶層11のシリコンが酸化により体積が増加して形成されたフィールド酸化膜16とシリコン結晶層11との間の段差であって、その後のゲート形成工程等におけるポリシリコン層19等により被覆されたときは、この段差がポリシリコン層19の上面に転写され、転写された段差がアライメントマーク17として機能する。
P1(図1)、シリコン基板2に絶縁層3を介してSOI層4を積層したSOI基板1を準備し、そのSOI層4にアライメントマーク形成部5を内包するアライメントマーク形成領域6を設定し、SOI層4上に酸化されないSOI層4が50nm程度となるように熱酸化法により膜厚調整酸化層7を形成し、膜厚調整酸化層7上にフォトリソグラフィによりSOI層4のアライメントマーク形成領域6に領域開口部9を形成したレジストマスク8を形成する。
P3(図1)、エピタキシャル成長法により、露出させたSOI層4上に単結晶シリコンを成長させて400Å程度のシリコン結晶層11を形成する。
P4(図1)、フォトリソグラフィにより、形成したシリコン結晶層11上、つまりアライメントマーク形成領域のみを覆うレジストマスク8を形成し、これをマスクとしてウェットエッチングにより膜厚調整酸化層7を除去してSOI層4を露出させ、その後に剥離剤を用いて前記のレジストマスク8を除去し、露出させたSOI層4およびシリコン結晶層11上に、熱酸化法によりパッド酸化膜13を形成し、そのパッド酸化膜13上にCVD法等によりシリコン窒化膜14を形成する。
P5(図2)、工程P4の後段で形成したレジストマスク8をマスクとして異方性エッチングによりシリコン窒化膜14をエッチングしてアライメントマーク形成部5および図示しない素子分離領域のシリコン窒化膜14を除去してパッド酸化膜13を露出させ、その後に剥離剤を用いて前記のレジストマスク8を除去してシリコン窒化膜14を露出させる。
なお、図4はシリコン結晶層11を形成しなかった場合、つまり上記特許文献2と同様にして極薄のSOI層4にアライメントマーク17を形成したときの従来法のアライメントマーク17の検出波形を示す。
P7(図2)、その後のゲート形成工程において、ゲート電極の材料となるポリシリコン層19を形成したときには、工程P6で形成されたフィールド酸化膜16とシリコン結晶層11との段差がポリシリコン層19に転写され、転写された段差がアライメントマーク17として機能する。
なお、図5、図6はSOI基板に設定したアライメントマーク形成領域の近傍のみを断面図として示す。また上記実施例1と同様の部分は、同一の符号を付してその説明を省略する。
以下に、図5、図6を用いてPAで示す工程に従って本実施例のアライメントマークの形成方法について説明する。
PA3(図5)、上記実施例1の工程P3と同様にして、エピタキシャル成長法によりSOI層4上に400Å程度のシリコン結晶層11を形成する。
PA5(図6)、工程PA4で形成したレジストマスク8をマスクとして異方性エッチングによりシリコン窒化膜14を除去してアライメントマーク形成部5のシリコン結晶層11および図示しない素子分離領域のパッド酸化膜13を露出させ、その後に剥離剤を用いて前記のレジストマスク8を除去してシリコン窒化膜14を露出させる。
その後の工程PA7(図6)の作動は、実施例1の工程P7の作動と同様であるので、その説明を省略する。
上記のようにして形成されたアライメントマーク17は、素子分離領域に同時に形成された素子分離層に対する直接合せによる位置合せが可能になり、ゲート形成工程やコンタクトホール形成工程等におけるフォトリソグラフィ工程において、その露光処理のときの位置合せ精度を向上させることができ、半導体装置のデバイス特性や歩留まりを向上させることができると共に、シリコン窒化膜14を残留させないのでSOI基板1に歪が生ずることはない。
また、上記各実施例においては、積層構造のウェハは、支持基板としてのシリコン基板に絶縁層を介してシリコン薄膜層としてのSOI層を積層したSOI構造のSOI基板であるとして説明したが、積層構造のウェハは前記に限らず、支持基板としてのサファイア基板にシリコン薄膜層としてのシリコン層を積層したSOS(Silicon On Sapphire)構造のSOS基板、支持基板としてのクオーツ基板にシリコン薄膜層としてのシリコン層を積層したSOQ(Silicon On Quartz)構造のSOQ基板、支持基板としてのシリコン基板に絶縁層を介してシリコン薄膜層としてのシリコンゲルマニウム層を積層したSGOI(Silicon Germanium On Insulator)構造のSGOI基板等であっても、本発明を適用すれば上記と同様の効果を得ることができる。
2 シリコン基板
3 絶縁層
4 SOI層
5 アライメントマーク形成部
6 アライメントマーク形成領域
7 膜厚調整酸化層
8 レジストマスク
9 領域開口部
10 マーク開口部
11 シリコン結晶層
13 パッド酸化膜
14 シリコン窒化膜
16 フィールド酸化膜
17 アライメントマーク
19 ポリシリコン層
Claims (2)
- 支持基板にシリコン薄膜層を積層した積層構造のウェハを準備する工程と、
前記シリコン薄膜層にアライメントマーク形成部を内包するアライメントマーク形成領域を設定し、該シリコン薄膜層上にシリコン膜厚を規定膜厚に調整するための膜厚調整酸化層を形成する工程と、
該膜厚調整酸化層上に、前記アライメントマーク形成領域を開口とした領域開口部を形成したレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記膜厚調整酸化層をエッチングして前記アライメントマーク形成領域のシリコン薄膜層を露出させる工程と、
前記シリコン薄膜層上に、エピタキシャル成長法によりシリコン結晶層を形成する工程と、
該シリコン結晶層上に、耐酸化性膜を形成する工程と、
該耐酸化性膜上に、前記アライメントマーク形成部を開口としたマーク開口部を形成したレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記アライメントマーク形成部の前記耐酸化性膜をエッチングにより除去する工程と、
前記耐酸化性膜をマスクとして、前記シリコン結晶層および前記シリコン薄膜層を酸化してアライメントマークを形成する工程とを備えることを特徴とするアライメントマークの形成方法。 - 支持基板に膜厚を規定膜厚に調整したシリコン薄膜層を積層した積層構造のウェハを準備する工程と、
前記シリコン薄膜層にアライメントマーク形成部を内包するアライメントマーク形成領域を設定し、該シリコン薄膜層上にパッド酸化膜を形成する工程と、
該パッド酸化膜上に、前記アライメントマーク形成領域を開口とした領域開口部を形成したレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記パッド酸化膜をエッチングして前記アライメントマーク形成領域のシリコン薄膜層を露出させる工程と、
前記シリコン薄膜層上に、エピタキシャル成長法によりシリコン結晶層を形成する工程と、
該シリコン結晶層上に、耐酸化性膜を形成する工程と、
該耐酸化性膜上に、前記アライメントマーク形成部を開口としたマーク開口部を形成したレジストマスクを形成し、該レジストマスクをマスクとして前記アライメントマーク形成部の前記耐酸化性膜をエッチングにより除去する工程と、
前記耐酸化性膜をマスクとして、前記シリコン結晶層および前記シリコン薄膜層を酸化してアライメントマークを形成する工程とを備えることを特徴とするアライメントマークの形成方法。
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