JP2007034219A - フォトマスク欠陥修正方法及びそれに用いる原子間力顕微鏡微細加工装置 - Google Patents
フォトマスク欠陥修正方法及びそれに用いる原子間力顕微鏡微細加工装置 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】 探針1の圧痕を形成し、形成した圧痕を観察して現在の垂直面を求め、加工時に探針の回転機構2で探針の垂直面を必要とする向きに向けて加工を行う。垂直面を必要とする領域が曲線状の場合には探針の回転機構2で刃先の角度を曲線に合わせて変えていく。予め良く削れる組合せと削れにくい組合せを求めておき、観察のときには探針の回転機構2で削れにくい向きに向けて観察し、加工のときには探針の回転機構2で最も良く削れる向きに向けて加工し、認識や加工途中の観察に求められる非破壊性と加工に求められるスループットを両立させる。
【選択図】 図1
Description
Y. Morikawa, H. Kokubo, M. Nishiguchi, N. Hayashi, R. White, R. Bozak, and L. Terrill,Proc. of SPIE 5130 520-527(2003) 藤田博之著、マイクロ・ナノマシン技術入門、工業調査、2003年
2 探針回転機構
3 カンチレバー
4 ガラス基板
5 正常なパターン
6 余剰欠陥
7 ブリッジ欠陥
8 コーナー余剰欠陥
9 ミッシング欠陥
10 加工用探針
11 オーバーハング形状の探針
12 オーバーハングを持った遮光膜
13 掘り込みガラス基板
14 遮光膜のオーバーハングの下のパーティクル
15 遮光膜のオーバーハングの下の欠陥
Claims (9)
- 欠陥の形状に応じて、該欠陥に対して探針の刃先を回転させて所望の向きに向けて加工する原子間力顕微鏡の探針を用いたフォトマスク欠陥修正方法。
- 前記探針の刃先を欠陥部形状と走査方向に応じて最もよく削れる向きに回転させて加工する原子間力顕微鏡の探針を用いた請求項1記載のフォトマスク欠陥修正方法。
- 前記加工の前に、前記探針の刃先を欠陥部の形状と走査方向に応じて最も削れにくい向きに回転させて観察する原子間力顕微鏡微細加工装置を用いた請求項2記載のフォトマスク欠陥修正方法。
- 請求項1において欠陥修正後のパターン形状が曲線状の場合には場所に応じて刃先角度を変えてパターンが曲線状であっても垂直な断面加工を行う原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法。
- 加工時に小角度の往復回転運動をかけながら加工走査することで切削抵坑を減らすことを特徴とする原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法。
- オーバーハング形状の探針を用いて観察時にはレベンソンマスクのオーバーハングを持った遮光膜パターンと探針のオーバーハング形状が平行になるように走査し、ガラス基板高さのまま回転機構で探針を回転させて探針のオーバーハングした先端がレベンソンマスクの遮光膜のオーバーハングの下に入った状態で走査して、遮光膜のオーバーハングの下のパーティクルをオーバーハング形状の探針で移動または掃きだすことにより除去することを特徴とする探針回転機構を有する原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法。
- オーバーハング形状の探針を用いて観察時にはレベンソンマスクのオーバーハングを持った遮光膜パターンと探針のオーバーハング形状が平行になるように走査し、ガラス基板高さのまま回転機構で探針を回転させて探針のオーバーハングした先端がレベンソンマスクの遮光膜のオーバーハングの下に入った状態で走査して、遮光膜のオーバーハングの下の欠陥をオーバーハング形状の探針で削り取ることで修正することを特徴とする探針回転機構を有する原子間力顕微鏡微細加工装置を用いたフォトマスクの欠陥修正方法。
- カンチレバー端部下部に設けられ、側面に刃先を有する探針を、前記カンチレバーの前記探針の取り付け面に垂直な軸の回りに回転させ、被加工部に対し所望の向きに位置させる回転機構を有する原子間力顕微鏡微細加工装置。
- 前記探針がオーバーハング形状である請求項8記載の原子間力顕微鏡微細加工装置。
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