JP2007025315A - カラー画像形成装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】上記課題を解決するために本発明では、汎用のフォトセンサーを使用した場合に発生する拡散反射光による検出波形のひずみ量が測定誤差量と一定の関係があることに着目し、ひずみ量を計測して測定誤差を補正する検出方法を採用している。
【選択図】図19
Description
また、この時の転写ベルト12の進行方向A方向の速度をVとするとレジストパターンセット対33k−1と33y−1の中心間の距離Lは以下のようになる。
このようなレジストパターンの中心間の距離の算出方法を用いて、主走査,副走査方向位置ずれを算出することになるが、副走査方向位置ずれとは、ここでは、転写ベルト12の進行方向A方向の位置ずれを意味しており、基準色(この場合はkだが、他の色を基準にすることも可能)に対する他色の位置ずれを算出する。概念的には、図14で示すようにレジストパターンセット対33k−1を基準として、位置ずれがない時の33y−1,33m−1,33c−1の理論上の位置33y'−1,33m'−1,33c'−1までの距離をそれぞれLx−y,Lx−m,Lx−cとした時に、位置ずれがある時のパターン位置33y−1,33m−1,33c−1までの距離L−v−y1,L−v−m1,L−v−c1との差ΔLv−y1,ΔLv−m1,ΔLv−c1が副走査方向の位置ずれとなる。
同様な方法でyのレジストパターンセット対33y−1と33y−2について表したものを図16に示す。kのレジストパターンセット対33k−1と33k−2の時のLkとL−h−kに対応するyの主走査方向の長さをそれぞれLyはL−h−yとすると以下の関係式が成り立つ。
図からわかるように、Lkに対してLyはΔLh−yの差があるが、これがyのkに対する主走査方向位置ずれになる。
同様にしてkに対するm、cの主走査方向の位置ずれも算出できる。
T−v−m1=1/2×tw0+tw1+tw2+tw3+1/2×tw4・・・(数7)
T−v−c1=1/2×tw0+tw1+tw2+tw3+tw4+tw5+1/2×tw6・・・(数8)
T−v−y2=1/2×tw8+tw9+1/2×tw10・・・(数9)
T−v−m2=1/2×tw8+tw9+tw10+tw11+1/2×tw12・・・(数10)
T−v−c2=1/2×tw8+tw9+tw10+tw11+tw12+tw13+1/2×tw14・・・(数11)
また、k,y,m,c各色のレジストパターンセット対33k−1と33k−2、33y−1と33y−2、33m−1と33m−2、33c−1と33c−2の中心間の時間T−h−k,T−h−y,T−h−m,T−h−cを以下の(数式)により求める。
T−h−y=1/2×tw2+tw3+tw4+tw5+tw6+tw7+tw8+tw9+1/2×tw10・・・(数13)
T−h−m=1/2×tw4+tw5+tw6+tw7+tw8+tw9+tw10+tw11+1/2×tw12・・・(数14)
T−h−c=1/2×tw6+tw7+tw8+tw9+tw10+tw11+tw12+tw13+1/2×tw14・・・(数15)
図18は本発明の実施の形態における位置ずれがない場合と位置ずれがある場合の測定時間の差を表した図であるが、(数6)〜(数11)で求めた値は位置ずれがある時の波形aにおける各時間に対応している。ここで、位置ずれがない時の波形aの各時間Tx−v−y1,Tx−v−m1,Tx−v−c1とTx−v−y2,Tx−v−m2,Tx−v−c2はあらかじめ計算によりわかっているため、位置ずれがある時とない時の時間の差ΔT−y1,ΔT−m1,ΔT−c1とΔT−y2,ΔT−m2,ΔT−c2を以下の(数式)により求める。
ΔT−m1=T−v−m1−Tx−v−m1・・・(数17)
ΔT−c1=T−v−c1−Tx−v−c1・・・(数18)
ΔT−y2=T−v−y2−Tx−v−y2・・・(数19)
ΔT−m2=T−v−m2−Tx−v−m2・・・(数20)
ΔT−c2=T−v−c2−Tx−v−c2・・・(数21)
これらの時間に転写ベルト12の速度Vを掛けた値が基準色レジストパターンセット対33k−1,33k−2に対する各色のレジストパターンセット対33y−1,33m−1,33c−1、33y−2,33m−2,33c−2の副走査の位置ずれΔLv−y1,ΔLv−m1,ΔLv−c1およびΔLv−y2,ΔLv−m2,ΔLv−c2となる。
ΔLv−m1=ΔT−m1×V・・・(数23)
ΔLv−c1=ΔT−c1×V・・・(数24)
ΔLv−y2=ΔT−y2×V・・・(数25)
ΔLv−m2=ΔT−m2×V・・・(数26)
ΔLv−c2=ΔT−c2×V・・・(数27)
理論上は、ΔLv−y1とΔLv−y2、ΔLv−m1とΔLv−m2、ΔLv−c1とΔLv−c2は同じ距離だが、転写ベルト12の速度変動等の影響により同じ距離にはならない。従って、これらを平均化して基準色レジストパターンセット対33k−1,33k−2から各色のレジストパターンセット対33y−1,33m−1,33c−1、33y−2,33m−2,33c−2までの副走査方向の位置ずれの平均値ΔLv−y,ΔLv−m、ΔLv−cを求め、これを副走査方向の位置ずれとする。
ΔLv−m=1/2×(ΔLv−m1+ΔLv−m2)・・・(数29)
ΔLv−c=1/2×(ΔLv−c1+ΔLv−c2)・・・(数30)
また、(数12)〜(数15)で算出した、図18の波形aに対応するk、y、m、c各色のレジストパターンセット対33k−1と33k−2、33y−1と33y−2、33m−1と33m−2、33c−1と33c−2の中心間の時間T−h−k,T−h−y,T−h−m,T−h−cをもとに、(数5)により主走査方向位置ずれΔLh−y,ΔLh−m,ΔLh−cを以下の(数式)により求める。
ΔLh−m=1/2×(T−h−m−T−h−k)×V・・・(数32)
ΔLh−c=1/2×(T−h−c−T−h−k)×V・・・(数33)
以上、主走査、副走査方向位置ずれの測定方法について説明してきたが、図18の波形aで示すようなレジストパターンが通過する時に電圧が落ち込むだけの波形は、正反射光しか受光しないように高精度に調整されたレーザーやレンズを用いた光学システムで構成された検出手段でしか実現できない。例えば、汎用のフォトセンサーのような無調整のセンサーを検出手段として使用した場合には、kトナー以外のトナーにおいて、図19の波形a−1で示すようにレジストパターンが通過する時に電圧が落ち込む前後に電圧レベルV0より電圧が上がる(波形a−1中のvf−1とvr−1またはvf−2とvr−2)オーバーシュートが発生する場合がある(以降オーバーシュートと呼ぶ)。この場合、オーバーシュートの影響により波形a−1におけるレジストパターンセット対33y−1と33y−2の中心位置n1やn2は波形aの中心位置m1やm2からずれてしまい、オーバーシュートがある場合とない場合で中心位置の検出にΔty−1やΔty−2の時間差が発生する。つまり、レジストパターンの位置に関係なく検出手段自身の問題により中心位置の測定に測定誤差が発生することになる。
Δt=w×Δv・・・(数35)
(wは実験により求まる任意の変換係数)
このように、波形の中心位置がずれると主走査,副走査方向の位置ずれの算出の元になるデータに影響がでる。図20は本発明の実施の形態における位置ずれがある場合と位置ずれがあり、さらに、オーバーシュートがある場合の測定時間の差を表した図であるが、図において、副走査方向位置ずれの算出の元になる波形a−1のデータTz−v−y1,Tz−v−m1,Tz−v−c1は中心位置が早く検出されるため、波形aの元データT−v−y1,T−v−m1,T−v−c1よりそれぞれΔt−y1,Δt−m1,Δt−c1だけ短くなる。逆に波形a−1の元データTz−v−y2,Tz’−v−m2,Tz−v−c2は中心位置が遅く検出されるため、波形aの元データT−v−y2,T−v−m2,T−v−c2よりそれぞれΔt−y2,Δt−m2,Δt−c2だけ長くなる。
Tz−v−m1−T−v−m1=Δt−m1・・・(数37)
Tz−v−c1−T−v−c1=Δt−c1・・・(数38)
Tz−v−y2−T−v−y2=Δt−y2・・・(数39)
Tz−v−m2−T−v−m2=Δt−m2・・・(数40)
Tz−v−c2−T−v−c2=Δt−c2・・・(数41)
Tz−h−y−T−h−y=Δt−y2−Δt−y1・・・(数42)
Tz−h−m−T−h−m=Δt−m2−Δt−m1・・・(数43)
Tz−h−c−T−h−c=Δt−c2−Δt−c1・・・(数44)
従って、無調整のセンサー等を検出手段として使用した場合には、以下に示す副走査方向の測定誤差ΔLvz−y,ΔLvz−m,ΔLvz−c、および、主走査方向の測定誤差ΔLhz−y,ΔLhz−m,ΔLhz−cが発生することになる。
ΔLvz−m=1/2×(Δt−m1+Δt−m2)×V・・・(数46)
ΔLvz−c=1/2×(Δt−c1+Δt−c2)×V・・・(数47)
ΔLhz−y=(Δt−y2−Δt−y1)×V・・・(数48)
ΔLhz−m=(Δt−m2−Δt−m1)×V・・・(数49)
ΔLhz−c=(Δt−c2−Δt−c1)×V・・・(数50)
このように、オーバーシュートが発生する理由は例えば以下のように考えられる。
Δv2−y=(Δv2−y1+Δv2−y2+ −−−+Δv2y−n)/n・・・(数52)
Δv1−m=(Δv1−m1+Δv1−m2+ −−−+Δv1m−n)/n・・・(数53)
Δv2−m=(Δv2−m1+Δv2−m2+ −−−+Δv2m−n)/n・・・(数54)
Δv1−c=(Δv1−c1+Δv1−c2+ −−−+Δv1c−n)/n・・・(数55)
Δv2−c=(Δv2−c1+Δv2−c2+ −−−+Δv2c−n)/n・・・(数56)
CPU30はこれらの値と(数35)の関係式から測定誤差Δt−y1,Δt−y2、Δt−m1,Δt−m2、Δt−c1,Δt−c2を算出し記憶手段32に保存する。
Δt−y2=w×Δv2−y・・・(数58)
Δt−m1=w×Δv1−m・・・(数59)
Δt−m2=w×Δv2−m・・・(数60)
Δt−c1=w×Δv1−c・・・(数61)
Δt−c2=w×Δv2−c・・・(数62)
オーバーシュートの差の電圧Δvを複数検出し平均値を算出するのは、転写ベルト12の状態(傷、汚れ等)によってΔvの値が変わってしまうため複数検出してこれを補うためである。また、Δvの値はkトナー像以外のトナー像間での差はほとんどないことから、kトナー像を除く他の1色だけでΔv1とΔv2を測定しても問題ない。
Δt'−m1=ΔT−m1+Δt−m1・・・(数64)
Δt'−c1=ΔT−c1+Δt−c1・・・(数65)
Δt'−y2=ΔT−y2+Δt−y2・・・(数66)
Δt'−m2=ΔT−m2+Δt−m2・・・(数67)
Δt'−c2=ΔT−c2+Δt−c2・・・(数68)
このため、CPU30は測定されたΔt'−y1,Δt'−m1,Δt'−c1、Δt'−y2,Δt'−m2,Δt'−c2から、あらあかじめ記憶手段32に保存している測定誤差Δt−y1,Δt−m1,Δt−c1、t−y2,Δt−m2,Δt−c2を減算し、オーバーシュートによるΔvの影響がない状態での位置ずれがある時とない時の時間の差ΔT−y1,ΔT−m1,ΔT−c1、ΔT−y2,ΔT−m2,ΔT−c2を求める。
ΔT−m1=Δt'−m1−Δt−m1・・・(数70)
ΔT−c1=Δt'−c1−Δt−c1・・・(数71)
ΔT−y2=Δt'−y2−Δt−y2・・・(数72)
ΔT−m2=Δt'−m2−Δt−m2・・・(数73)
ΔT−c2=Δt'−c2−Δt−c2・・・(数74)
図示しない位置ずれ補正手段は(数69)〜(数74)により求めた位置ずれがある時とない時の時間差ΔT−y1,ΔT−m1,ΔT−c1、ΔT−y2,ΔT−m2,ΔT−c2をもとに(数22)〜(数30)により副走査方向位置ずれ量を算出し、副走査方向位置ずれの補正をおこなう。
Tz−h−y=T−h−y+(Δt−y2−Δt−y1)・・・(数76)
Tz−h−m=T−h−m+(Δt−m2−Δt−m1)・・・(数77)
Tz−h−c=T−h−c+(Δt−c2−Δt−c1)・・・(数78)
このため、CPU30は測定されたTz−h−y,Tz−h−m,Tz−h−cと、あらあかじめ記憶手段32に保存している測定誤差Δt−y1,Δt−m1,Δt−c1、t−y2,Δt−m2,Δt−c2から、オーバーシュートによるΔvの影響がない状態であるT−h−y,T−h−m,T−h−cを求める。
T−h−m=Tz−h−m−(Δt−m2−Δt−m1)・・・(数80)
T−h−c=Tz−h−c−(Δt−c2−Δt−c1)・・・(数81)
図示しない位置ずれ補正手段はTz−h−kと(数79)〜(数81)により求めたT−h−y,T−h−m,T−h−cをもとに(数31)〜(数33)により主走査方向位置ずれ量を算出し、主走査方向位置ずれの補正をおこなう。
2a、2b、2c、2d 感光体
3a、3b、3c、3d 帯電手段
4a、4b、4c、4d 現像手段
5a、5b、5c、5d クリーニング手段
6a、6b、6c、6d 露光手段
7 転写手段
8a、8b、8c、8d 転写器
9a、9b、9c、9d 光
10、11 支持ローラ
12 転写ベルト
14 パターン検出手段
15 位置ずれ補正手段
16 給紙カセット
17 シート材
18 給紙ローラ
19 シート材転写ローラ
20 定着手段
21 ホームセンサー
22 発光手段
22−a 発光素子
22−a−1 発光素子から発した光
22−a−2 発光素子から発した光
22−a−3 発光素子から発した光
23 受光手段
23−a 受光素子
24 発光電流制御手段
25 発光電流検出手段
26 電流−電圧変換手段
27 信号増幅器
28 比較器
29 比較器の基準電圧
30 CPU
31 カウント手段
32 記憶手段
33 トナー像
51 イメージセンサ(CCD)
52 光源
53 セルフォックレンズアレイ
Claims (4)
- レジストパターン検出手段とレジストパターン検出手段により検出した位置ずれ量を元に位置ずれ補正をおこなう位置ずれ補正手段を有するカラー画像形成装置において、レジストパターン検出手段により検出した際のパターンの電圧波形からレジストパターン検出手段自身により発生する測定誤差を計測することを特徴とするカラー画像形成装置。
- 位置ずれ補正手段により位置ずれ補正する際に、測定した位置ずれ量からレジストパターン検出手段自身により発生する測定誤差を修正して位置ずれの補正をおこなうことを特徴とする請求項1記載のカラー画像形成装置。
- レジストパターン検出手段自身により発生する測定誤差は、検出したパターンの電圧波形のうちパターンがレジストパターン検出手段を通過する前後の波形であって、無担状担持体より通常反射される反射電圧より高い電圧部分の電圧レベルを測定して算出することを特徴とする請求項1、2記載のカラー画像形成装置。
- レジストパターン検出手段により検出したパターンの電圧波形から、無担状担持体の進行方向に対して水平方向の測定誤差と垂直方向の測定誤差に分離することを特徴とする請求項1,2,3記載のカラー画像形成装置。
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- 2005-07-19 JP JP2005208102A patent/JP4730006B2/ja not_active Expired - Fee Related
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