JP2007005303A - 質量分析データの処理装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】質量分析システム(100)は、データ・アナライザ(104)を含む。データ・アナライザは、質量分析データを収集する検出器(110)に接続され、質量分析データに処理を施して、クロマトグラムを導き出すクロマトグラム生成器(116)、クロマトグラムに選択基準を適用して、クロマトグラムからデータ・ポイントを選択するためのデータ・ポイント・セレクタ(118)、及びデータ・ポイントに弁別基準を適用して、試料流(112)内におけるある検体の存在を表す、クロマトグラムにおけるピークを検出するためのピーク弁別器(120)を有する。
【選択図】図1
Description
以下に示す定義は、本発明の実施態様に関して解説される要素のいくつかに適用される。これらの定義は、さらに、本明細書において拡張される場合もある。
出力=DPt−2+DPt−1+DPt+DPt+1+DPt+2−(4*推定ベースライン値*m)
(1)
ここで、DPt−2は、走査数または時間t−2におけるデータ・ポイントを表わし、DPt−1は、走査数または時間t−1におけるデータ・ポイントを表わし、DPtは、走査数または時間tにおける中心データ・ポイントを表わし、DPt+1は、走査数または時間t+1におけるデータ・ポイントを表わし、DPt+2は、走査数または時間t+2におけるデータ・ポイントを表わし、mは、1.1または1.2のような1を超える任意の数である。ベースライン領域に適用されると、整合フィルタの出力は負になる。中心データ・ポイントにスパイクが存在する場合、整合フィルタの出力は、やはり負になる。しかしながら、ピークの頂点が、中心データ・ポイントとして存在する場合、整合フィルタの出力は正になる。一般に、ピークを構成する別のデータ・ポイントが、中心データ・ポイントとして存在する場合、整合フィルタの出力は、やはり正になる。
104 データ・アナライザ
106 イオン源
110 検出器
112 試料流
116 クロマトグラム生成器
118 データ・ポイント・セレクタ
120 ピーク弁別器
122 ピーク面積計算器
Claims (21)
- 試料流をイオン化するためのイオン源と、
該イオン源に対して下流に配置されて、前記試料流の質量分析データを収集するための検出器と、
該検出器に接続され、前記質量分析データに処理を施してクロマトグラムを導き出すクロマトグラム生成器、前記クロマトグラムに選択基準を適用して前記クロマトグラムからデータ・ポイントを選択するためのデータ・ポイント・セレクタ、及び前記データ・ポイントに弁別基準を適用して前記試料流内におけるある検体の存在を表す前記クロマトグラムにおけるピークを検出するためのピーク弁別器を有するデータ・アナライザとを備えることを特徴とする質量分析システム。 - 前記クロマトグラムは、全イオン・クロマトグラム、基準ピーク・クロマトグラム、及び質量クロマトグラムの1つに対応することを特徴とする、請求項1に記載の質量分析システム。
- 前記データ・ポイント・セレクタは、前記選択基準を適用して前記データ・ポイントの大きさに基づいて前記データ・ポイントを選択するように構成されることを特徴とする、請求項1に記載の質量分析システム。
- 前記ピーク弁別器は、整合フィルタを適用して前記データ・ポイントから前記ピークに対応する第1の組をなすデータ・ポイントを識別するように構成されることを特徴とする、請求項1に記載の質量分析システム。
- 前記ピーク弁別器は、前記整合フィルタを適用して前記データ・ポイントからスパイクに対応する第2の組をなすデータ・ポイントを識別するように構成されることを特徴とする、請求項4に記載の質量分析システム。
- 前記データ・アナライザは、さらに、前記ピークの面積を計算するためのピーク面積計算器を含むことと、前記ピーク面積は、前記検体から生じるイオン量をあらわすことを特徴とする、請求項1に記載の質量分析システム。
- 前記データ・ポイントは、前記クロマトグラムからの第1のデータ・ポイントに対応することと、前記ピーク面積計算器は、前記クロマトグラムからの第2のデータ・ポイントに分析を加えて、ベースラインを導き出すように構成されることを特徴とする、請求項6に記載の質量分析システム。
- データ・ポイントの大きさに基づいてクロマトグラムから前記データ・ポイントを選択するための第1のコードと、
前記データ・ポイントに弁別基準を適用して、前記クロマトグラム内のある検体の存在を表わしたピークを検出するための第2コードが含まれていることを特徴とする、質量分析システムのためのコンピュータ可読媒体。 - 前記クロマトグラムは、一連のデータ・ポイントを含み、前記第1のコードは、下方しきい値に対する前記データ・ポイントの大きさに基づいて前記一連のデータ・ポイントから前記データ・ポイントを選択するための第3のコードを含むことを特徴とする、請求項8に記載のコンピュータ可読媒体。
- 前記クロマトグラムは、一連のデータ・ポイントを含み、前記第1のコードは、前記一連のデータ・ポイントからの残りのデータ・ポイントの大きさに対する前記データ・ポイントの大きさに基づいて前記一連のデータ・ポイントから前記データ・ポイントを選択するための第4のコードを含むことを特徴とする、請求項8に記載のコンピュータ可読媒体。
- 前記一連のデータ・ポイントは、走査数及び時間の一方に基づいて配列され、前記一連のデータ・ポイントから前記データ・ポイントを選択するための前記第4のコードが、
大きさに基づいて前記一連のデータ・ポイントを配列し、一連の再配列データ・ポイントを導き出すための第5のコードと、
前記一連の再配列データ・ポイントから前記データ・ポイントを選択するための第6のコードとを含むことを特徴とする、請求項10に記載のコンピュータ可読媒体。 - 前記第2のコードは、前記データ・ポイントに整合フィルタを適用するための第7のコードを含むことを特徴とする、請求項8に記載のコンピュータ可読媒体。
- 前記第2のコードは、前記データ・ポイントから、前記ピークに対応する第1の組をなすデータ・ポイントを識別するための第8のコードを含むことを特徴とする、請求項8に記載のコンピュータ可読媒体。
- 前記第2のコードは、さらに、前記データ・ポイントから、スパイクに対応する第2の組をなすデータ・ポイントを識別するための第9のコードを含むことを特徴とする、請求項13に記載のコンピュータ可読媒体。
- 前記データ・ポイントは、前記クロマトグラムからの第1のデータ・ポイントに対応し、前記コンピュータ可読媒体は、さらに、前記クロマトグラムからの第2のデータ・ポイントに回帰分析を施して、ベースラインを導き出すための第10コードと、前記ベースラインに基づいて、前記検体の量を表した前記ピーク面積を計算するための第11のコードを含むことを特徴とする、請求項8に記載のコンピュータ可読媒体。
- 質量分析データの処理方法であって、
一連のデータ・ポイントに基づいて整合フィルタを規定する第1の工程と、
前記一連のデータ・ポイントに前記整合フィルタを適用して、前記一連のデータ・ポイントから、ある検体の存在を表わしたピークに対応する、第1の組をなすデータ・ポイントを識別する第2の工程とを有することを特徴とする処理方法。 - 前記整合フィルタの幅は、予測ピーク幅に対応することを特徴とする、請求項16に記載の方法。
- 前記第1の工程である前記整合フィルタを規定する工程は、前記一連のデータ・ポイントに基づいて前記整合フィルタのオフセット値を導き出す工程を含むことを特徴とする、請求項16に記載の方法。
- 前記オフセット値は、前記一連のデータ・ポイントに関連した推定ベースライン値を含むことを特徴とする、請求項18に記載の方法。
- 前記第2の工程である前記整合フィルタを適用する工程は、前記一連のデータ・ポイントから、スパイクに対応する第2の組をなすデータ・ポイントを識別する工程を含むことを特徴とする、請求項16に記載の方法。
- さらに、前記データ・ポイントの大きさに基づいて、前記一連のデータ・ポイントからデータ・ポイントを選択する工程を含み、前記第2の工程である前記整合フィルタを適用する工程は、前記データ・ポイントに前記整合フィルタを適用して、前記一連のデータ・ポイントから、ピークに対応する、前記第1の組をなすデータ・ポイントを識別する工程を含むことを特徴とする、請求項16に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/165,871 US7488935B2 (en) | 2005-06-24 | 2005-06-24 | Apparatus and method for processing of mass spectrometry data |
US11/165,871 | 2005-06-24 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007005303A true JP2007005303A (ja) | 2007-01-11 |
JP5238145B2 JP5238145B2 (ja) | 2013-07-17 |
Family
ID=37101884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006170454A Expired - Fee Related JP5238145B2 (ja) | 2005-06-24 | 2006-06-20 | 質量分析データの処理装置及び方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7488935B2 (ja) |
EP (1) | EP1736911A2 (ja) |
JP (1) | JP5238145B2 (ja) |
CN (1) | CN1885030A (ja) |
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- 2006-06-20 JP JP2006170454A patent/JP5238145B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
CN1885030A (zh) | 2006-12-27 |
JP5238145B2 (ja) | 2013-07-17 |
US7488935B2 (en) | 2009-02-10 |
US20070023642A1 (en) | 2007-02-01 |
EP1736911A2 (en) | 2006-12-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090619 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20090619 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110906 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20111028 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120629 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120726 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121026 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130314 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130401 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160405 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |