JP2012528317A - 質量スペクトルデータを処理する方法 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図13
Description
本出願は、2009年5月29日に出願された米国仮特許出願No.US61/182,143および2009年5月29日に出願された英国特許出願No.0909289.1に基づく優先権を主張するものであり、前記出願の内容は、参照することにより、その全体があらゆる目的で本明細書に組み込まれる。
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成する工程と、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0とピーク面積S0とを求め、各々が到達時間値とピーク面積値とを備えるデータ対の第1のリストを作成する工程と、
前記第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、より小さな第2のリストを作成する工程と、を備え、
前記第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てる。
前記より小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められた到達時間値T0を第1の到達時間Tnと第2の到達時間Tn+1とに変換する、および/または、前記より小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められたピーク面積値S0を第1のピーク面積Snと第2のピーク面積Sn+1とに変換する工程を備えることが望ましい。
(i)前記第1の信号は、出力信号、電圧信号、イオン信号、イオン電流、電圧パルス、または電子電流パルスを備える、および/または、
(ii)前記イオン検出器は、マイクロチャンネルプレート、光電子増倍管、または電子増倍管装置を備える、および/または、
(iii)前記イオン検出器は、前記イオン検出器に1つ以上のイオンが到達した際に電圧パルスを生成する電流−電圧変換器または増幅器を備える。
前記第1のデジタル信号の前記二次微分がゼロまたは他の値を下回る時の直前または直後のデジタル処理間隔に対応するものとして、イオン到達イベントの開始時間T0startを求めるまたは設定する工程と、
前記第1のデジタル信号の前記二次微分がゼロまたは他の値を超える時の直前または直後のデジタル処理間隔に対応するものとして、イオン到達イベントの終了時間T0endを求めるまたは設定する工程と、を備えることが望ましい。
(i)1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークの強度を求める工程であって、前記開始時間T0startによりおよび/または前記終了時間T0endにより限定された前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークの面積を求めること、を備える前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークの強度を求める工程、および/または、
(ii)1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークのモーメントを求める工程であって、前記開始時間T0startによりおよび/または前記終了時間T0endにより限定されたピークのモーメントを求めること、を備える前記1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークのモーメントを求める工程、および/または、
(iii)1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークの時間重心を求める工程、および/または、
(iv)1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークの平均時間または代表時間を求める工程、を備えることが望ましい。
(i)前記第1の到達時間Tnは、前記求めた到達時間T0の直前または前記求めた到達時間T0を含むタイムビンまたはメモリロケーションに格納される、および/または、
(ii)前記第2の到達時間Tn+1は、前記求めた到達時間T0の直後または前記求めた到達時間T0を含む所定のタイムビンまたはメモリロケーションに格納される。
(i)前記第1の強度または面積Snは、前記求めた到達時間T0の直前または前記求めた到達時間T0を含む所定のタイムビンまたはメモリロケーションに格納される、および/または、
(ii)前記第2の強度または面積Sn+1は、前記求めた到達時間T0の直後または前記求めた到達時間T0を含む所定のタイムビンまたはメモリロケーションに格納される。
(i)前記求めた強度S0は関係式S0=Sn+Sn+1に従う、および/または、
(ii)S0およびT0は、関係式Sn.Tn+Sn+1.Tn+1 =S0.T0に従う。
(i)<1μs、(ii)1−10μs、(iii)10−20μs、(iv)20−30μs、(v)30−40μs、(vi)40−50μs、(vii)50−60μs、(viii)60−70μs、(ix)70−80μs、(x)80−90μs、(xi)90−100μs、(xii) 100−110μs、(xiii)110−120μs、(xiv)120−130μs、(xv)130−140μs、(xvi)140−150μs、(xvii)150−160μs、(xviii)160−170μs、(xix)170−180μs、(xx)180−190μs、(xxi)190−200μs、(xxii)200−250μs、(xxiii)250−300μs、(xxiv)300−350μs、(xxv)350−400μs、(xxvi)450−500μs、(xxvii)500−1000μsおよび(xxviii)>1msからなる群から選択される長さの捕捉期間にわたって前記第1の信号を取得する工程と、
(i)< 100、(ii)100−1000、(iii)1000−10000、(iv)10,000−100,000、(v)100,000−200,000、(vi)200,000−300,000、(vii)300,000−400,000、(viii)400,000−500,000、(ix)500,000−600,000、(x)600,000−700,000、(xi)700,000−800,000、(xii)800,000−900,000、(xiii)900,000−1,000,000、および(xiv)>1,000,000からなる群から選択されるn個のタイムビンまたはメモリロケーションに前記捕捉期間を分割する工程と、を備えることが望ましい。
(a)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、nビットのアナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置であり、nは5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20または21以上である、および/または、
(b)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、(i)<1GHz、(ii)1−2GHz、(iii)2−3GHz、(iv)3−4GHz、(v)4−5GHz、(vi)5−6GHz、(vii)6−7GHz、(viii)7−8GHz、(ix)8−9GHz、(x)9−10GHz、および(xi)>10GHzからなる群から選択されるサンプリングまたは捕捉速度を有する、および/または、
(c)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、実質的に均一なまたは不均一なデジタル処理速度を有する。
前記第1のデジタル信号から一定の数または値を減算する工程と、
前記第1のデジタル信号から一定の数または値を減算後に前記第1のデジタル信号の一部がゼロを下回る場合には、前記第1のデジタル信号の一部をゼロに再設定する工程と、を備えることが望ましい。
前記イオン検出器から出力される1つ以上の別の信号をデジタル処理して1つ以上の別のデジタル信号を生成する工程と、
前記1つ以上の別のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0と強度S0とを求める工程と、
前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの面積を求め、前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記第1のピーク群に含まれるピークであって、面積閾値未満の面積であると判定されたピークをフィルタリング除去する、減じる、または、捨てることにより、前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記第1のピーク群のピーク数を削減して、前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する、よりピーク数の少ない第2のピーク群を形成する工程と、
前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記よりピーク数の少ない第2のピーク群に含まれる1つ以上のピークに関して求められた到達時間値T0を第1の到達時間Tnと第2の到達時間Tn+1とに変換する、および/または、前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記よりピーク数の少ない第2のピーク群に含まれる1つ以上のピークに関して求められた強度S0を第1の強度または面積Snと第2の強度または面積Sn+1とに変換する工程と、を備える。
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成するように構成および配置されたデバイスと、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0と強度S0とを求めるように構成および配置されたデバイスと、
前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの面積を求め、前記第1のピーク群に含まれるピークであって、面積閾値未満の面積であると判定されたピークをフィルタリング除去する、減じる、または捨てることによって、前記第1のピーク群のピーク数を削減して、よりピーク数の少ない第2のピーク群を作成するように構成および配置されたデバイスと、
前記よりピーク数の少ない第2のピーク群に含まれる1つ以上のピークに関して求められた到達時間値T0を第1の到達時間Tnと第2の到達時間Tn+1とに変換する、および/または、前記よりピーク数の少ない第2のピーク群に含まれる1つ以上のピークに関して求められた強度S0を第1の強度または面積Snと第2の強度または面積Sn+1とに変換するように構成および配置されたデバイスと、を備える。
(a)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、nビットのアナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置であり、nは5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20または21以上である、および/または、
(b)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、(i)<1GHz、(ii)1−2GHz、(iii)2−3GHz、(iv)3−4GHz、(v)4−5GHz、(vi)5−6GHz、(vii)6−7GHz、(viii)7−8GHz、(ix)8−9GHz、(x)9−10GHz、および(xi)>10GHzからなる群から選択されるサンプリングまたは捕捉速度を有する、および/または、
(c)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、実質的に均一なまたは不均一なデジタル処理速度を有する。
(a)(i)エレクトロスプレーイオン化(Electrospray ionization: ESI)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(Atmospheric Pressure Photo Ionization: APPI)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(Atmospheric Pressure Chemical Ionization: APCI)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザー脱離イオン化(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization: MALDI)イオン源、(v)レーザー脱離イオン化(Laser Desorption Ionization: LDI)イオン源、(vi)大気圧イオン化(Atmospheric Pressure Ionization: API)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(Desorption Ionization on Silicon: DIOS)イオン源、(viii)電子衝撃(Electron Impact: EI)イオン源、(ix)化学イオン化(Chemical Ionization: CI)イオン源、(x)電界イオン化(Field Ionization: FI)イオン源、(xi)電界脱離(Field Desorption: FD)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(Inductively Coupled Plasma: ICP)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(Fast Atom Bombardment: FAB)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(Liquid Secondary Ion Mass Spectrometry: LSIMS)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(Desorption Electrospray Ionization: DESI)イオン源、(xvi)ニッケル−63放射性イオン源、(xvii)大気圧マトリックス支援レーザー脱離イオン化(Atmospheric Pressure Matrix Assisted Laser Desorption Ionization)イオン源、(xviii)サーモスプレーイオン源、(xix)大気サンプリンググロー放電イオン化(Atmospheric Sampling Glow Discharge Ionization: ASGDI)イオン源および(xx)グロー放電(Glow Discharge: GD)イオン源からなる群から選択されるイオン源、および/または、
(b)1つ以上の連続またはパルスイオン源、および/または、
(c)1つ以上のイオンガイド、および/または、
(d)1つ以上のイオン移動度分離装置および/または1つ以上の電界非対称イオン移動度分光計(Field Asymmetric Ion Mobility Spectrometer)、および/または、
(e)1つ以上のイオントラップまたは1つ以上のイオン捕捉領域、および/または、
(f)1つ以上の衝突、フラグメンテーション(断片化)または反応セルであって、(i)衝突誘起解離(Collisional Induced Dissociation: CID)フラグメンテーション装置、(ii)表面誘起解離(Surface Induced Dissociation: SID)フラグメンテーション装置、(iii)電子移動解離(Electron Transfer Dissociation: ETD)フラグメンテーション装置、(iv)電子捕獲解離(Electron Capture Dissociation: ECD)フラグメンテーション装置、(v)電子衝突(Electron Collision)または電子衝撃解離(Electron Impact Dissociation)フラグメンテーション装置、(vi)光誘起解離(Photo Induced Dissociation: PID)フラグメンテーション装置、(vii)レーザー誘起解離(Laser Induced Dissociation)フラグメンテーション装置、(viii)赤外線誘起解離装置、(ix)紫外線誘起解離装置、(x)ノズル・スキマー・インターフェース・フラグメンテーション装置、(xi)インソースフラグメンテーション装置、(xii)インソース衝突誘起解離(Collision Induced Dissociation)フラグメンテーション装置、(xiii)熱源または温度源フラグメンテーション装置、(xiv)電場誘起フラグメンテーション装置、(xv)磁場誘起フラグメンテーション装置、(xvi)酵素消化または酵素分解フラグメンテーション装置、(xvii)イオン−イオン反応フラグメンテーション装置、(xviii)イオン−分子反応フラグメンテーション装置、(xix)イオン−原子反応フラグメンテーション装置、(xx)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーション装置、(xxi)イオン−準安定分子反応フラグメンテーション装置、(xxii)イオン−準安定原子反応フラグメンテーション装置、(xxiii)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオン(生成イオン)を形成するイオン−イオン反応装置、(xxiv)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−分子反応装置、(xxv)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−原子反応装置、(xxvi)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−準安定イオン反応装置、(xxvii)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−準安定分子反応装置、(xxviii)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−準安定原子反応装置、および(xxix)電子イオン化解離(Electron Ionization Dissociation: EID)フラグメンテーション装置、からなる群から選択される衝突、フラグメンテーションまたは反応セル、および/または、
(g)(i)四重極質量分析器、(ii)2次元またはリニア四重極質量分析器、(iii)ポール(Paul)トラップ型または3次元四重極質量分析器、(iv)ペニング(Penning)トラップ型質量分析器、(v)イオントラップ型質量分析器、(vi)磁場型質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(Ion Cyclotron Resonance: ICR)質量分析器(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance: FTICR)質量分析器、(ix)静電またはオービトラップ型質量分析器、(x)フーリエ変換(Fourier Transform)静電またはオービトラップ型質量分析器、(xi)フーリエ変換(Fourier Transform)質量分析器、(xii)飛行時間型(Time of Flight)質量分析器、(xiii)直交加速飛行時間型(Time of Flight)質量分析器、および(xiv)線形加速飛行時間型(Time of Flight)質量分析器、からなる群から選択される質量分析器、および/または、
(h)1つ以上のエネルギー分析器または静電エネルギー分析器、および/または、
(i)1つ以上のイオン検出器、および/または、
(j)1つ以上のマスフィルタであって、(i)四重極マスフィルタ、(ii)2次元またはリニア四重極イオントラップ、(iii)ポール(Paul)または3次元四重極イオントラップ、(iv)ペニング(Penning)イオントラップ、(v)イオントラップ、(vi)磁気セクタ型マスフィルタ、(vii)飛行時間型(Time of Flight: TOF)マスフィルタ、および(viii)ウィーン(Wien)フィルタ、からなる群から選択される1つ以上のマスフィルタ、および/または、
(k)イオンをパルス状にするデバイスまたはイオンゲート、および/または、
(l)、実質的に連続的なイオンビームをパルスイオンビームに変換するデバイスを備える.
さらに、
(i)C型トラップと、外側たる形電極および同軸の内側紡錘形電極を備える質量分析器と、を備え、第1の動作モードにおいて、イオンは、前記C型トラップに送られ、次に、前記質量分析器に注入され、第2の動作モードにおいて、イオンは、前記C型トラップに、次に、衝突セルまたは電子移動解離(Electron Transfer Dissociation)装置に送られて、少なくとも一部のイオンがフラグメント(断片)イオンにフラグメント化(断片化)され、前記フラグメントイオンは、前記C型トラップに送られた後、オービトラップ型質量分析器に注入される、および/または、
(ii)使用時にイオンを透過させる開口部を各々有する複数の電極を備える積層リング型イオンガイドを備え、前記電極間の間隔がイオン通路の長さ方向に沿って増大し、前記イオンガイドの上流部分に配置される電極の開口部が第1の直径を有する一方で、前記イオンガイドの下流部分に配置される電極の開口部が前記第1の直径よりも小径の第2の直径を有し、使用時に、連続する電極に、逆相のACまたはRF電圧を印加する。
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成する工程と、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0または質量もしくは質量対電荷比M0と強度S0とを求める工程と、
前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの面積を求め、前記第1のピーク群に含まれるピークであって、面積閾値未満の面積であると判定されたピークをフィルタリング除去する、減じる、または捨てることによって、前記第1のピーク群のピーク数を削減して、よりピーク数の少ない第2のピーク群を作成する工程と、
前記よりピーク数の少ない第2のピーク群に含まれる1つ以上のピークに関して求められた到達時間値T0または質量もしくは質量対電荷比M0を第1の質量または質量対電荷比Mnと第2の質量または質量対電荷比Mn+1とに変換する、および/または、前記よりピーク数の少ない第2のピーク群に含まれる1つ以上のピークに関して求められた強度S0を第1の強度または面積Snと第2の強度または面積Sn+1とに変換する工程と、を備える。
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成するように構成および配置されたデバイスと、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0または質量もしくは質量対電荷比M0と強度S0とを求めるように構成および配置されたデバイスと、
前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの面積を求め、前記第1のピーク群に含まれるピークであって、面積閾値未満の面積であると判定されたピークをフィルタリング除去する、減じる、または捨てることによって、前記第1のピーク群のピーク数を削減して、よりピーク数の少ない第2のピーク群を作成するように構成および配置されたデバイスと、
前記よりピーク数の少ない第2のピーク群に含まれる1つ以上のピークに関して求められた到達時間値T0または質量もしくは質量対電荷比M0を第1の質量または質量対電荷比Mnと第2の質量または質量対電荷比Mn+1とに変換する、および/または、前記よりピーク数の少ない第2のピーク群に含まれる1つ以上のピークに関して求められた強度S0を第1の強度または面積Snと第2の強度または面積Sn+1とに変換するように構成および配置されたデバイスと、を備える。
前記制御システムに、
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成させ、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0とピーク面積S0とを求め、各々が到達時間値とピーク面積値とを備えるデータ対の第1のリストを作成させ、
前記第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、より小さな第2のリストを作成させ、
前記第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去させる、減じさせる、または捨てさせる、ように構成される。
前記命令は、質量分析計の制御システムにより実行可能に構成され、
前記コンピュータプログラムが、前記制御システムに、
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成させ、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0とピーク面積S0とを求め、各々が到達時間値とピーク面積値とを備えるデータ対の第1のリストを作成させ、
前記第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、より小さな第2のリストを作成させ、
前記第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去させる、減じさせる、または捨てさせる、ように構成される。
移動平均やボックスカー積分器アルゴリズム等の平滑化アルゴリズムを、アナログ・デジタル変換器から出力されるスペクトルに適用するようにしてもよい。あるいは、Savitzky-GolayアルゴリズムやHites-Biemannアルゴリズムまたはその他の種類の平滑化アルゴリズムをデータに適用するようにしてもよい。たとえば、3つのデジタル処理間隔のウィンドウを用いる移動平均の1回のパスは以下のように規定される。
電圧ピークまたはイオン信号ピークの開始時間および終了時間を求めたのち、開始時間と終了時間とにより限定される電圧ピークまたはイオン信号ピークの強度およびモーメントを求めることが望ましい。
ここで、以下の式が成り立つ。
イオン検出器に到達したイオンの数に応じて、1つの飛行時間スペクトルに複数の電圧ピークが存在する場合もある。この場合には、各電圧ピークを解析して、時間および対応する強度値に変換することが望ましい。各電圧ピークの時間および強度値を、時間および対応する面積値のデータ対に変換することが望ましい。これらの値を、メモリロケーション・アレイの隣接するまたは近傍の要素内に格納することが望ましい。メモリロケーション・アレイは、飛行時間スペクトルの所定の時間間隔または区分に対応または相関することが望ましい。たとえば、飛行時間スペクトルの持続時間が100μsであり、スペクトルを500,000個の等しい時間間隔のアレイに分割するようにしてもよい。この場合、各時間間隔または区分の幅または持続時間が、200psになる。
以降の飛行時間スペクトルも、上述と同様の方法で取得し、処理することが望ましい。すなわち、スペクトルを解析して、イオン到達イベントに対応する時間および強度値を求めることが望ましい。さらに、各時間および強度値を隣接するタイムビンを占有する強度値対に変換することによって、時間および強度値のヒストグラムを形成することが望ましい。
データから計算したピーク重心時間および強度を格納し、すべての取得したデータに関する複合スペクトルを得ることが望ましい。
各ピークまたは質量ピークに関するTpk値およびA値をコンピュータメモリ内にリスト形式で格納することが望ましい。このピークまたは質量ピークのリストは、キャリブレーション(較正)により得られる飛行時間と質量との関係と、ピークまたは質量ピークの飛行時間とを用いて、質量または質量対電荷比を割り当てるものでもよい。このようなキャリブレーションの方法は当該分野で周知である。
他の実施形態において、上述した式25の時間−質量関係を用いて、各電圧ピークに関する飛行時間値を最初に質量または質量対電荷比値に変換するようにしてもよい。質量または質量対電荷比および対応する強度値を、質量スペクトルの所定の間隔または区分に望ましくは対応または相関するメモリロケーション・アレイに格納することが望ましい。
一実施形態において、同じ時間または質量間隔、区分またはメモリアレイ要素内の時間または質量データを結合する処理を、最大3つのスキャン範囲とバックグラウンド係数とを用いて行うようにしてもよい。最初の範囲(Average:平均)は、平均化して対象化合物に関する代表スペクトルを形成するクロマトグラムのピークトップ全体にわたるスキャンの範囲を規定する。
40.96875 41.21875 41.46875 41.71875 41.96875
41.03125 41.28125 41.53125 41.78125 42.03125
41.09375 41.34375 41.59375 41.84375
41.15625 41.40625 41.65625 41.90625
本発明の好適な態様では、ADCデジタル処理間隔またはADCデジタル処理間隔の単分数に基づく精度よりも実質的に高い精度で、電圧ピーク時間を格納することができる。
ここで、以下の式が成り立つ。
図9は、ADCの出力を(ピーク面積閾値処理ではなく)振幅閾値処理する質量スペクトルデータの処理方法を示すフロー図である。周知のアプローチでは、振幅閾値未満の振幅を有するものであれば、イオンピークもスパイクノイズもノイズとして除去される。図10に示すように、従来の振幅閾値処理アプローチには、少なくとも一部のイオンピークがノイズとして除去される一方で、一部のスパイクノイズがイオンピークに対応するものとみなされるという問題点があった。
図11に、本発明の好適な実施例に従うさまざまな態様を示す。好適な実施例において、比較的小さな振幅閾値6を最初にADCからの出力信号に適用するようにしてもよい。この実施例において、2つのスパイクノイズ1、4と2つのイオンピーク2、3とが、平均バックグラウンドノイズレベルのすぐ上の比較的低レベルに設定された振幅閾値をパスする一方で、バックグラウンドノイズの大部分はフィルタリング除去される。
Claims (38)
- 質量分析の方法であって、
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成する工程と、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0とピーク面積S0とを求め、各々が到達時間値とピーク面積値とを備えるデータ対の第1のリストを作成する工程と、
前記第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、より小さな第2のリストを作成する工程と、を備え、
前記第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てる、方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てる工程の後に、さらに、
前記より小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められた到達時間値T0を第1の到達時間Tnと第2の到達時間Tn+1とに変換する、および/または、前記より小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められたピーク面積値S0を第1のピーク面積Snと第2のピーク面積Sn+1とに変換する工程を備える、方法。 - 請求項1または2のいずれかに記載の方法であって、
(i)前記第1の信号は、出力信号、電圧信号、イオン信号、イオン電流、電圧パルス、または電子電流パルスを備える、および/または、
(ii)前記イオン検出器は、マイクロチャンネルプレート、光電子増倍管、または電子増倍管装置を備える、および/または、
(iii)前記イオン検出器は、前記イオン検出器に1つ以上のイオンが到達した際に電圧パルスを生成する電流−電圧変換器または増幅器を備える、方法。 - 請求項1、2または3のいずれかに記載の方法であって、
さらに、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの前記到達時間T0を求める前に、かつ、前記ピーク面積S0を求める前に、前記第1のデジタル信号に振幅閾値を適用して、前記第1のデジタル信号から少なくとも一部のスパイクノイズをフィルタリング除去する工程を備える、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
さらに、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの前記到達時間T0を求める前に、かつ、前記ピーク面積S0を求める前に、移動平均、ボックスカー積分器、Savitzky-GolayまたはHites-Biemannアルゴリズムを用いて前記第1のデジタル信号を平滑化する工程を備える、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
さらに、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの前記到達時間T0を求める前に、かつ、前記ピーク面積S0を求める前に、前記第1のデジタル信号の二次微分または二次差分を求めるまたは取得する工程を備える、方法。 - 請求項6に記載の方法であって、
前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0を求める工程が、前記第1のデジタル信号の前記二次微分の1つ以上のゼロ交差点を求めること、を備える方法。 - 請求項7に記載の方法であって、
さらに、前記第1のデジタル信号の前記二次微分がゼロまたは他の値を下回る時の直前または直後のデジタル処理間隔に対応するものとして、イオン到達イベントの開始時間T0startを求めるまたは設定する工程と、
前記第1のデジタル信号の前記二次微分がゼロまたは他の値を超える時の直前または直後のデジタル処理間隔に対応するものとして、イオン到達イベントの終了時間T0endを求めるまたは設定する工程と、を備える方法。 - 請求項8に記載の方法であって、
さらに、
(i)1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークのピーク面積を求める工程であって、前記開始時間T0startによりおよび/または前記終了時間T0endにより限定された前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークの面積を求めること、を備える前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークのピーク面積を求める工程、および/または、
(ii)1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークのモーメントを求める工程であって、前記開始時間T0startによりおよび/または前記終了時間T0endにより限定されたピークのモーメントを求めること、を備える前記1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークのモーメントを求める工程、および/または、
(iii)1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークの時間重心を求める工程、および/または、
(iv)1つ以上のイオン到達イベントに対応し、前記第1のデジタル信号内に存在する1つ以上のピークの平均時間または代表時間を求める工程、を備える、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
さらに、2つ以上の実質的に近傍のまたは隣接する所定のタイムビンまたはメモリロケーションに前記第1の到達時間Tnと前記第2の到達時間Tn+1とを格納する工程を備える、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
(i)前記第1の到達時間Tnは、前記求めた到達時間T0の直前または前記求めた到達時間T0を含むタイムビンまたはメモリロケーションに格納される、および/または、
(ii)前記第2の到達時間Tn+1は、前記求めた到達時間T0の直後または前記求めた到達時間T0を含む所定のタイムビンまたはメモリロケーションに格納される、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
さらに、2つ以上の実質的に近傍のまたは隣接する所定のタイムビンまたはメモリロケーションに前記第1のピーク面積Snと前記第2のピーク面積Sn+1とを格納する工程を備える、方法。 - 請求項12に記載の方法であって、
(i)前記第1のピーク面積Snは、前記求めた到達時間T0の直前または前記求めた到達時間T0を含む所定のタイムビンまたはメモリロケーションに格納される、および/または、
(ii)前記第2のピーク面積Sn+1は、前記求めた到達時間T0の直後または前記求めた到達時間T0を含む所定のタイムビンまたはメモリロケーションに格納される、方法。 - 請求項10〜13のいずれかに記載の方法であって、
所定のタイムビンまたはメモリロケーションは、各々、(i)<1ps、(ii)1−10ps、(iii)10−100ps、(iv)100−200ps、(v) 200−300ps、(vi)300−400ps、(vii)400−500ps、(viii)500−600ps、(ix)600−700ps、(x) 700−800ps、(xi)800−900ps、(xii)900−1000ps、(xiii)1−2ns、(xiv)2−3ns、(xv)3−4 ns、(xvi)4−5ns、(xvii)5−6ns、(xviii)6−7ns、(xix)7−8ns、(xx)8−9ns、(xxi)9−10ns、(xxii)10−100ns、(xxiii)100−500ns、(xxiv)500−1000ns、(xxv)1−10μs、(xxvi)10−100μs、(xxvii)100−500μsおよび(xxviii)>500μsからなる群から選択される範囲内の幅を備える、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
(i)前記求めたピーク面積S0は関係式S0=Sn+Sn+1に従う、および/または、
(ii)S0およびT0は、関係式Sn.Tn+Sn+1.Tn+1 =S0.T0に従う、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
さらに、より少ない第2のピーク群に含まれるピークの少なくとも一部に関して求めた到達時間T0および求めたピーク面積S0を、前記第1の到達時間Tnと前記第1のピーク面積Snおよび前記第2の到達時間Tn+1と前記第2のピーク面積Sn+1と交換する工程を備える、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
さらに、(i)<1μs、(ii)1−10μs、(iii)10−20μs、(iv)20−30μs、(v)30−40μs、(vi)40−50μs、(vii)50−60μs、(viii)60−70μs、(ix)70−80μs、(x)80−90μs、(xi)90−100μs、(xii) 100−110μs、(xiii)110−120μs、(xiv)120−130μs、(xv)130−140μs、(xvi)140−150μs、(xvii)150−160μs、(xviii)160−170μs、(xix)170−180μs、(xx)180−190μs、(xxi)190−200μs、(xxii)200−250μs、(xxiii)250−300μs、(xxiv)300−350μs、(xxv)350−400μs、(xxvi)450−500μs、(xxvii)500−1000μsおよび(xxviii)>1msからなる群から選択される長さの捕捉期間にわたって前記第1の信号を取得する工程と、
(i)< 100、(ii)100−1000、(iii)1000−10000、(iv)10,000−100,000、(v)100,000−200,000、(vi)200,000−300,000、(vii)300,000−400,000、(viii)400,000−500,000、(ix)500,000−600,000、(x)600,000−700,000、(xi)700,000−800,000、(xii)800,000−900,000、(xiii)900,000−1,000,000、および(xiv)>1,000,000からなる群から選択されるn個のタイムビンまたはメモリロケーションに前記捕捉期間を分割する工程と、を備え、
各前記タイムビンまたはメモリロケーションが実質的に同一の長さ、幅または持続時間を有する、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
さらに、アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置を用いて、前記第1の信号をデジタル処理する工程を備える、方法。 - 請求項18に記載の方法であって、
(a)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、nビットのアナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置であり、nは5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20または21以上である、および/または、
(b)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、(i)<1GHz、(ii)1−2GHz、(iii)2−3GHz、(iv)3−4GHz、(v)4−5GHz、(vi)5−6GHz、(vii)6−7GHz、(viii)7−8GHz、(ix)8−9GHz、(x)9−10GHz、および(xi)>10GHzからなる群から選択されるサンプリングまたは捕捉速度を有する、および/または、
(c)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、実質的に均一なまたは不均一なデジタル処理速度を有する、方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
さらに、前記第1のデジタル信号から一定の数または値を減算する工程と、
前記第1のデジタル信号から一定の数または値を減算後に前記第1のデジタル信号の一部がゼロを下回る場合には、前記第1のデジタル信号の一部をゼロに再設定する工程と、を備える方法。 - 前記いずれかの請求項に記載の方法であって、
さらに、前記イオン検出器から出力される1つ以上の別の信号をデジタル処理して1つ以上の別のデジタル信号を生成する工程と、
前記1つ以上の別のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0とピーク面積S0とを求め、各々が到達時間値とピーク面積値とを備えるデータ対の別の第1のリストを作成する工程と、
前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記別の第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、別のより小さな第2のリストを作成する工程と、を備え、
前記別の第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記別の第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てる、方法。 - 請求項21に記載の方法であって、
前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記別の第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てる工程の後に、さらに、
前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記別のより小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められた到達時間値T0を第1の到達時間Tnと第2の到達時間Tn+1とに変換する、および/または、前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記別のより小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められたピーク面積値S0を第1のピーク面積Snと第2のピーク面積Sn+1とに変換する工程を備える、方法。 - 請求項21または22のいずれかに記載の方法であって、
前記1つ以上の別の信号は、前記イオン検出器から出力される少なくとも5、10、15、20、25、30、35,40、45、50、55、60、65、70、75、80、85、90、95、100、200、300、400、500、600、700、800、900、1000、2000、3000、4000、5000、6000、7000、8000、9000または10000個の信号を含み、各信号が独立した別々の実験または捕捉に対応する、方法。 - 請求項22または23のいずれかに記載の方法であって、
さらに、前記第1のデジタル信号に対応する前記第1のピーク面積値Snおよび前記第2のピーク面積値Sn+1と、前記1つ以上の別のデジタル信号に対応する前記第1のピーク面積値Snおよび前記第2のピーク面積値Sn+1とを組み合わせて、または、ヒストグラムに作成して、複合時間スペクトルまたは質量スペクトルを形成する工程を備える、方法。 - 装置であって、
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成するように構成および配置されたデバイスと、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0とピーク面積S0とを求め、各々が到達時間値とピーク面積値とを備えるデータ対の第1のリストを作成するように構成および配置されたデバイスと、
前記第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、より小さな第2のリストを作成するように構成および配置されたデバイスと、を備え、
前記第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てる、装置。 - 請求項25に記載の装置であって、
さらに、前記より小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められた到達時間値T0を第1の到達時間Tnと第2の到達時間Tn+1とに変換する、および/または、前記より小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められたピーク面積値S0を第1のピーク面積Snと第2のピーク面積Sn+1とに変換するように構成および配置されたデバイスを備える、装置。 - 請求項25または26のいずれかに記載の装置であって、
さらに、前記第1の信号をデジタル処理するアナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置を備える、装置。 - 請求項27に記載の装置であって、
(a)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、nビットのアナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置であり、nは5、6、7、8、9、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20または21以上である、および/または、
(b)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、(i)<1GHz、(ii)1−2GHz、(iii)2−3GHz、(iv)3−4GHz、(v)4−5GHz、(vi)5−6GHz、(vii)6−7GHz、(viii)7−8GHz、(ix)8−9GHz、(x)9−10GHz、および(xi)>10GHzからなる群から選択されるサンプリングまたは捕捉速度を有する、および/または、
(c)前記アナログ・デジタル変換器または過渡現象記録装置は、実質的に均一なまたは不均一なデジタル処理速度を有する、装置。 - 請求項25〜28のいずれかに記載の装置を備える質量分析計。
- 請求項29に記載の質量分析計であって、
さらに、
(a)(i)エレクトロスプレーイオン化(Electrospray ionization: ESI)イオン源、(ii)大気圧光イオン化(Atmospheric Pressure Photo Ionization: APPI)イオン源、(iii)大気圧化学イオン化(Atmospheric Pressure Chemical Ionization: APCI)イオン源、(iv)マトリックス支援レーザー脱離イオン化(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization: MALDI)イオン源、(v)レーザー脱離イオン化(Laser Desorption Ionization: LDI)イオン源、(vi)大気圧イオン化(Atmospheric Pressure Ionization: API)イオン源、(vii)シリコンを用いた脱離イオン化(Desorption Ionization on Silicon: DIOS)イオン源、(viii)電子衝撃(Electron Impact: EI)イオン源、(ix)化学イオン化(Chemical Ionization: CI)イオン源、(x)電界イオン化(Field Ionization: FI)イオン源、(xi)電界脱離(Field Desorption: FD)イオン源、(xii)誘導結合プラズマ(Inductively Coupled Plasma: ICP)イオン源、(xiii)高速原子衝撃(Fast Atom Bombardment: FAB)イオン源、(xiv)液体二次イオン質量分析(Liquid Secondary Ion Mass Spectrometry: LSIMS)イオン源、(xv)脱離エレクトロスプレーイオン化(Desorption Electrospray Ionization: DESI)イオン源、(xvi)ニッケル−63放射性イオン源、(xvii)大気圧マトリックス支援レーザー脱離イオン化(Atmospheric Pressure Matrix Assisted Laser Desorption Ionization)イオン源、(xviii)サーモスプレーイオン源、(xix)大気サンプリンググロー放電イオン化(Atmospheric Sampling Glow Discharge Ionization: ASGDI)イオン源および(xx)グロー放電(Glow Discharge: GD)イオン源からなる群から選択されるイオン源、および/または、
(b)1つ以上の連続またはパルスイオン源、および/または、
(c)1つ以上のイオンガイド、および/または、
(d)1つ以上のイオン移動度分離装置および/または1つ以上の電界非対称イオン移動度分光計(Field Asymmetric Ion Mobility Spectrometer)、および/または、
(e)1つ以上のイオントラップまたは1つ以上のイオン捕捉領域、および/または、
(f)1つ以上の衝突、フラグメンテーション(断片化)または反応セルであって、(i)衝突誘起解離(Collisional Induced Dissociation: CID)フラグメンテーション装置、(ii)表面誘起解離(Surface Induced Dissociation: SID)フラグメンテーション装置、(iii)電子移動解離(Electron Transfer Dissociation: ETD)フラグメンテーション装置、(iv)電子捕獲解離(Electron Capture Dissociation: ECD)フラグメンテーション装置、(v)電子衝突(Electron Collision)または電子衝撃解離(Electron Impact Dissociation)フラグメンテーション装置、(vi)光誘起解離(Photo Induced Dissociation: PID)フラグメンテーション装置、(vii)レーザー誘起解離(Laser Induced Dissociation)フラグメンテーション装置、(viii)赤外線誘起解離装置、(ix)紫外線誘起解離装置、(x)ノズル・スキマー・インターフェース・フラグメンテーション装置、(xi)インソースフラグメンテーション装置、(xii)インソース衝突誘起解離(Collision Induced Dissociation)フラグメンテーション装置、(xiii)熱源または温度源フラグメンテーション装置、(xiv)電場誘起フラグメンテーション装置、(xv)磁場誘起フラグメンテーション装置、(xvi)酵素消化または酵素分解フラグメンテーション装置、(xvii)イオン−イオン反応フラグメンテーション装置、(xviii)イオン−分子反応フラグメンテーション装置、(xix)イオン−原子反応フラグメンテーション装置、(xx)イオン−準安定イオン反応フラグメンテーション装置、(xxi)イオン−準安定分子反応フラグメンテーション装置、(xxii)イオン−準安定原子反応フラグメンテーション装置、(xxiii)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオン(生成イオン)を形成するイオン−イオン反応装置、(xxiv)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−分子反応装置、(xxv)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−原子反応装置、(xxvi)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−準安定イオン反応装置、(xxvii)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−準安定分子反応装置、(xxviii)イオンの反応により付加イオンまたはプロダクトイオンを形成するイオン−準安定原子反応装置、および(xxix)電子イオン化解離(Electron Ionization Dissociation: EID)フラグメンテーション装置、からなる群から選択される衝突、フラグメンテーションまたは反応セル、および/または、
(g)(i)四重極質量分析器、(ii)2次元またはリニア四重極質量分析器、(iii)ポール(Paul)トラップ型または3次元四重極質量分析器、(iv)ペニング(Penning)トラップ型質量分析器、(v)イオントラップ型質量分析器、(vi)磁場型質量分析器、(vii)イオンサイクロトロン共鳴(Ion Cyclotron Resonance: ICR)質量分析器(viii)フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴(Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance: FTICR)質量分析器、(ix)静電またはオービトラップ型質量分析器、(x)フーリエ変換(Fourier Transform)静電またはオービトラップ型質量分析器、(xi)フーリエ変換(Fourier Transform)質量分析器、(xii)飛行時間型(Time of Flight)質量分析器、(xiii)直交加速飛行時間型(Time of Flight)質量分析器、および(xiv)線形加速飛行時間型(Time of Flight)質量分析器、からなる群から選択される質量分析器、および/または、
(h)1つ以上のエネルギー分析器または静電エネルギー分析器、および/または、
(i)1つ以上のイオン検出器、および/または、
(j)1つ以上のマスフィルタであって、(i)四重極マスフィルタ、(ii)2次元またはリニア四重極イオントラップ、(iii)ポール(Paul)または3次元四重極イオントラップ、(iv)ペニング(Penning)イオントラップ、(v)イオントラップ、(vi)磁気セクタ型マスフィルタ、(vii)飛行時間型(Time of Flight: TOF)マスフィルタ、および(viii)ウィーン(Wien)フィルタ、からなる群から選択される1つ以上のマスフィルタ、および/または、
(k)イオンをパルス状にするデバイスまたはイオンゲート、および/または、
(l)、実質的に連続的なイオンビームをパルスイオンビームに変換するデバイスを備える、質量分析計。 - 請求項29または30のいずれかに記載の質量分析計であって、
さらに、
(i)C型トラップと、外側たる形電極および同軸の内側紡錘形電極を備える質量分析器と、を備え、第1の動作モードにおいて、イオンは、前記C型トラップに送られ、次に、前記質量分析器に注入され、第2の動作モードにおいて、イオンは、前記C型トラップに、次に、衝突セルまたは電子移動解離(Electron Transfer Dissociation)装置に送られて、少なくとも一部のイオンがフラグメント(断片)イオンにフラグメント化(断片化)され、前記フラグメントイオンは、前記C型トラップに送られた後、オービトラップ型質量分析器に注入される、および/または、
(ii)使用時にイオンを透過させる開口部を各々有する複数の電極を備える積層リング型イオンガイドを備え、前記電極間の間隔がイオン通路の長さ方向に沿って増大し、前記イオンガイドの上流部分に配置される電極の開口部が第1の直径を有する一方で、前記イオンガイドの下流部分に配置される電極の開口部が前記第1の直径よりも小径の第2の直径を有し、使用時に、連続する電極に、逆相のACまたはRF電圧を印加する、質量分析計。 - 質量分析の方法であって、
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成する工程と、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0または質量もしくは質量対電荷比M0とピーク面積S0とを求め、各々が質量または質量対電荷比値とピーク面積値とを備えるデータ対の第1のリストを作成する工程と、
前記第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、より小さな第2のリストを作成する工程と、を備え、
前記第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てる、方法。 - 請求項32に記載の方法であって、
さらに、前記より小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められた到達時間T0または質量もしくは質量対電荷比M0を第1の質量または質量対電荷比Mnと第2の質量または質量対電荷比Mn+1とに変換する、および/または、より少ない第2のピーク群に含まれるデータ対に関して求められたピーク面積値S0を第1のピーク面積Snと第2のピーク面積Sn+1とに変換する工程を備える、方法。 - 質量分析計であって、
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成するように構成および配置されたデバイスと、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0または質量もしくは質量対電荷比M0とピーク面積S0とを求め、各々が質量または質量対電荷比値とピーク面積値とを備えるデータ対の第1のリストを作成するように構成および配置されたデバイスと、
前記第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、より小さな第2のリストを作成するように構成および配置されたデバイスと、を備え、
前記第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てる、質量分析計。 - 請求項34に記載の質量分析計であって、
さらに、前記より小さな第2のリストに含まれるデータ対に関して求められた到達時間T0または質量もしくは質量対電荷比M0を第1の質量または質量対電荷比Mnと第2の質量または質量対電荷比Mn+1とに変換する、および/または、より少ない第2のピーク群に含まれるデータ対に関して求められたピーク面積値S0を第1のピーク面積Snと第2のピーク面積Sn+1とに変換するように構成および配置されたデバイスを備える、質量分析計。 - 質量分析計の制御システムにより実行可能なコンピュータプログラムであって、
前記制御システムに、
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成させ、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0とピーク面積S0とを求め、各々が到達時間値とピーク面積値とを備えるデータ対の第1のリストを作成させ、
前記第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、より小さな第2のリストを作成させ、
前記第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去させる、減じさせる、または捨てさせる、ように構成されるコンピュータプログラム。 - コンピュータが実行可能な命令が格納されたコンピュータ読み取り可能な媒体であって、
前記命令は、質量分析計の制御システムにより実行可能に構成され、
前記コンピュータプログラムが、前記制御システムに、
イオン検出器から出力された第1の信号をデジタル処理して、第1のデジタル信号を生成させ、
前記第1のデジタル信号に含まれる第1のピーク群を検出して、前記第1のピーク群に含まれる1つ以上のピークの到達時間T0とピーク面積S0とを求め、各々が到達時間値とピーク面積値とを備えるデータ対の第1のリストを作成させ、
前記第1のリストから1つ以上のデータ対をフィルタリング除去する、減じる、または捨てることにより、より小さな第2のリストを作成させ、
前記第1のリストに含まれるデータ対のピーク面積値がピーク面積閾値未満であると判定された場合に、前記第1のリストからそのデータ対をフィルタリング除去させる、減じさせる、または捨てさせる、ように構成される、コンピュータ読み取り可能な媒体。 - 請求項37に記載のコンピュータ読み取り可能な媒体であって、
記載のコンピュータ読み取り可能な媒体であって、
(i)ROM、(ii)EAROM、(iii)EPROM、(iv)EEPROM、(v)フラッシュメモリ、(vi)光ディスク、(vii)RAM、および(viii)ハードディスクドライブからなる群から選択される、コンピュータ読み取り可能な媒体。
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