JP2006343187A - X線異物検査装置のx線遮蔽用v字型のれん装置 - Google Patents
X線異物検査装置のx線遮蔽用v字型のれん装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006343187A JP2006343187A JP2005168209A JP2005168209A JP2006343187A JP 2006343187 A JP2006343187 A JP 2006343187A JP 2005168209 A JP2005168209 A JP 2005168209A JP 2005168209 A JP2005168209 A JP 2005168209A JP 2006343187 A JP2006343187 A JP 2006343187A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- goodwill
- shaped
- inspected
- leakage protection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
X線異物検査装置において、被検査物品が転倒しないようなX線漏洩防護のれんと、被検査物の形状が変わると記憶されたデータに基づき、自動的にのれんの角度と高さを変えることができるX線漏洩防護のれん装置提供すること。
【解決手段】
X線漏洩防護のれんは、被検査物を搬送するコンベアの中心線において左右対称に屈曲可能な支持板によりのれん装置連結用支持枠から懸垂支持されており、X線漏洩防護のれんのV字形角度を変更することができる駆動装置と、前記X線漏洩防護のれんを上下に移動させることができる駆動装置とを備え、被検査物品が変更になったとき予め記憶されているデータにより変更になった被検査物に最適なX線漏洩防護のれんの角度や高さを変更する。
【選択図】 図1
Description
2 X線発生部
3 X線発生管
5 のれん装置
6 支持板
7 支持枠(のれん装置連結装置用支持枠)
8 V字形開閉機構駆動用モータ
9 ラインセンサ
10 搬送コンベア
11 昇降機構
12 昇降機構駆動用モータ
13 V字形開閉機構
14 V字形開閉機構連動装置
15 スライド装置
16 蝶番
17 蝶番取り付け軸
18 蝶番取り付けボルト
20 駆動装置
21 駆動回路部
22 メモリー部
23 制御部
24 入出力装置
25 被検査物(例えばカップ容器)
26 進行方向を示す矢印
27 反力方向を示す矢印
Claims (4)
- 透過X線によって、被検査物に含まれる異物の検出を行うX線異物検査装置において、被検査物を搬送する水平コンベアと、該コンベアの始端部近傍および終端部近傍に複数組配置され、被検査物の搬送により押し上げられて、該被検査物のサイズに従って該被検査物の通過空間が形成されるように垂直方向に分割された短冊状のX線漏洩防護のれんと、該X線漏洩防護のれんを懸垂支持する支持枠と、被検査物搬送コンベアの中心線において左右対称に屈曲可能な支持板を備え、更に該支持板を任意のV字角度に屈曲できるV字角度調節手段を備え、該V字角度調節手段と共に上記支持枠を上下に移動可能にする駆動手段を備えてなるX線異物検査装置のX線遮蔽用V字形のれん装置。
- 前記コンベアの始端部近傍および終端部近傍に複数組配置されたX線漏洩防護のれん用支持板のV字角度を変更する前記V字角度調節手段が駆動されたとき、上記複数組配置されたX線漏洩防護のれん用支持板は連動して上記V字角度を変更することを特徴とする請求項1に記載のX線異物検査装置のX線遮蔽用V字形のれん装置。
- 前記V字角度調節手段の駆動手段および前記支持枠上下移動用駆動手段はパルスモータにより駆動されることを特徴とする請求項1または2いずれかに記載のX線異物検査装置のX線遮蔽用V字形のれん装置。
- 前記X線漏洩防護のれんは、前記コンベアの始端部近傍および終端部近傍それぞれに少なくとも前後2組配置されており、前記V字角度調節用駆動手段および前記支持枠上下移動用駆動手段はパルスモータにより駆動されており、被検査物品の種類が変更になったとき前記X線異物検査装置の制御部に記憶されている被検査物品毎のX線漏洩防護のれんのV字角度データおよびX線漏洩防護のれんの高さデータにより、自動的に該X線漏洩防護のれんのV字角度および高さを変更することを特徴とする請求項1、2および3のいずれかに記載のX線異物検査装置のX線遮蔽用V字形のれん装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005168209A JP4694274B2 (ja) | 2005-06-08 | 2005-06-08 | X線異物検査装置のx線遮蔽用v字型のれん装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005168209A JP4694274B2 (ja) | 2005-06-08 | 2005-06-08 | X線異物検査装置のx線遮蔽用v字型のれん装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006343187A true JP2006343187A (ja) | 2006-12-21 |
JP4694274B2 JP4694274B2 (ja) | 2011-06-08 |
Family
ID=37640259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005168209A Expired - Fee Related JP4694274B2 (ja) | 2005-06-08 | 2005-06-08 | X線異物検査装置のx線遮蔽用v字型のれん装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4694274B2 (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008136862A2 (en) * | 2006-12-21 | 2008-11-13 | Ge Homeland Protection Inc. | Method and apparatus for providing radiation shielding for non-invasive inspection systems |
JP2008281482A (ja) * | 2007-05-11 | 2008-11-20 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
JP2008281416A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP2009180681A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | System Square Inc | 異物検査装置 |
JP2010122007A (ja) * | 2008-11-18 | 2010-06-03 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
CN104155698A (zh) * | 2014-08-30 | 2014-11-19 | 昆山易方达精密仪器有限公司 | X光平行屏蔽装置 |
CN104155698B (zh) * | 2014-08-30 | 2017-01-04 | 昆山易方达精密仪器有限公司 | X光平行屏蔽装置 |
JP2018077091A (ja) * | 2016-11-08 | 2018-05-17 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
CN113447510A (zh) * | 2021-06-25 | 2021-09-28 | 宁夏大学 | 一种水质中微量元素含量的原位连续检测装置 |
JP2022021222A (ja) * | 2020-07-21 | 2022-02-02 | トーヨーカネツ株式会社 | 自動適正荷姿保持システム |
JP7461748B2 (ja) | 2020-01-22 | 2024-04-04 | ミネベアミツミ株式会社 | 遮蔽カーテン及びx線検査装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09127021A (ja) * | 1995-11-06 | 1997-05-16 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | X線検査装置 |
JPH11160487A (ja) * | 1997-11-27 | 1999-06-18 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | X線検査装置 |
JP2002318207A (ja) * | 2001-04-24 | 2002-10-31 | Shimadzu Corp | 放射線検査装置 |
JP2003270174A (ja) * | 2002-03-18 | 2003-09-25 | Yamato Scale Co Ltd | X線異物検査装置 |
JP2004132747A (ja) * | 2002-10-09 | 2004-04-30 | Ishida Co Ltd | X線検査装置 |
JP2005241396A (ja) * | 2004-02-26 | 2005-09-08 | Ishida Co Ltd | X線検査装置 |
-
2005
- 2005-06-08 JP JP2005168209A patent/JP4694274B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09127021A (ja) * | 1995-11-06 | 1997-05-16 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | X線検査装置 |
JPH11160487A (ja) * | 1997-11-27 | 1999-06-18 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | X線検査装置 |
JP2002318207A (ja) * | 2001-04-24 | 2002-10-31 | Shimadzu Corp | 放射線検査装置 |
JP2003270174A (ja) * | 2002-03-18 | 2003-09-25 | Yamato Scale Co Ltd | X線異物検査装置 |
JP2004132747A (ja) * | 2002-10-09 | 2004-04-30 | Ishida Co Ltd | X線検査装置 |
JP2005241396A (ja) * | 2004-02-26 | 2005-09-08 | Ishida Co Ltd | X線検査装置 |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008136862A3 (en) * | 2006-12-21 | 2008-12-31 | Ge Homeland Protection Inc | Method and apparatus for providing radiation shielding for non-invasive inspection systems |
WO2008136862A2 (en) * | 2006-12-21 | 2008-11-13 | Ge Homeland Protection Inc. | Method and apparatus for providing radiation shielding for non-invasive inspection systems |
US7667215B2 (en) | 2006-12-21 | 2010-02-23 | Morpho Detection, Inc. | Method and apparatus for providing radiation shielding for non-invasive inspection systems |
JP2008281416A (ja) * | 2007-05-10 | 2008-11-20 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線異物検出装置 |
JP4719714B2 (ja) * | 2007-05-10 | 2011-07-06 | アンリツ産機システム株式会社 | X線異物検出装置 |
JP4711313B2 (ja) * | 2007-05-11 | 2011-06-29 | アンリツ産機システム株式会社 | X線検査装置 |
JP2008281482A (ja) * | 2007-05-11 | 2008-11-20 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
JP2009180681A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-08-13 | System Square Inc | 異物検査装置 |
JP2010122007A (ja) * | 2008-11-18 | 2010-06-03 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
CN104155698A (zh) * | 2014-08-30 | 2014-11-19 | 昆山易方达精密仪器有限公司 | X光平行屏蔽装置 |
CN104155698B (zh) * | 2014-08-30 | 2017-01-04 | 昆山易方达精密仪器有限公司 | X光平行屏蔽装置 |
JP2018077091A (ja) * | 2016-11-08 | 2018-05-17 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
JP7001320B2 (ja) | 2016-11-08 | 2022-01-19 | アンリツ株式会社 | X線検査装置 |
JP7461748B2 (ja) | 2020-01-22 | 2024-04-04 | ミネベアミツミ株式会社 | 遮蔽カーテン及びx線検査装置 |
JP2022021222A (ja) * | 2020-07-21 | 2022-02-02 | トーヨーカネツ株式会社 | 自動適正荷姿保持システム |
CN113447510A (zh) * | 2021-06-25 | 2021-09-28 | 宁夏大学 | 一种水质中微量元素含量的原位连续检测装置 |
CN113447510B (zh) * | 2021-06-25 | 2022-07-05 | 宁夏大学 | 一种水质中微量元素含量的原位连续检测装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4694274B2 (ja) | 2011-06-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4694274B2 (ja) | X線異物検査装置のx線遮蔽用v字型のれん装置 | |
US9975149B2 (en) | Device and method for sorting bulk material | |
JP5740608B2 (ja) | X線検査装置 | |
US20080298547A1 (en) | X-ray inspection apparatus | |
JP5363559B2 (ja) | X線検査装置及びx線検査方法 | |
JP2006505787A (ja) | X線及びこれを用いた装置により、充填された容器を検査するための装置 | |
JP5336973B2 (ja) | X線検査装置 | |
KR20200043978A (ko) | 외관 검사 장치 및 블리스터 포장기 | |
JP2007127611A (ja) | 異物検出装置 | |
JP2009109229A (ja) | X線異物検出装置 | |
JP3932479B2 (ja) | X線異物検査装置 | |
WO2019146235A1 (ja) | 検査ライン | |
KR20150134033A (ko) | 소형 제품의 연속 검사를 위한 엑스레이 검사 장치 | |
JPH0921755A (ja) | 検査用搬送装置および検査装置 | |
KR102000944B1 (ko) | 교체 방식 모듈 구조의 엑스레이 검사 장치 | |
JP2011052967A (ja) | シリコンウエハー検査装置 | |
JP4438991B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP2004020297A (ja) | X線異物検査装置 | |
US11940393B2 (en) | X-ray inspection apparatus | |
KR100687171B1 (ko) | 방사선 검사장치 | |
JP2007303851A (ja) | インラインx線透視装置 | |
JP2012163485A (ja) | X線異物検出装置 | |
JP2010230559A (ja) | X線検査装置 | |
JP2009080030A (ja) | X線検査装置 | |
JP4630822B2 (ja) | X線検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080519 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110104 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110215 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110223 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140304 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4694274 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |