JP4630822B2 - X線検査装置 - Google Patents
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Description
さらに本体部は、閉状態において、鉛直方向に対して外側に第2角度をなして傾斜する。
さらに、このX線検査装置では、X線遮蔽扉が閉じられた状態において、X線遮蔽扉の本体部が鉛直方向に対して所定の角度をなして外側に傾斜している。このため、本体部で反射したX線は、鉛直方向上向きの方向性を有し易くなるという傾向がある。従って、このX線検査装置では、X線の照射空間の下側からのX線の漏洩をより効果的に防止することができる。
閉状態における本体部の下端は、搬送部の上端よりも鉛直方向下側に存在する。
閉状態における本体部の下端は、搬送部の上端よりも鉛直方向上側に存在する。
図1及び図2に示すように、X線検査装置1は、主として、X線照射器(X線源)31と、X線ラインセンサ32(図4参照)と、コンベア(搬送部)40と、シールドボックス10と、垂直支持部50と、第1水平支持部51と、第2水平支持部52と、固定カバー53と、支持脚54と、X線遮蔽扉20と、モニタ11とから構成されている。
シールドボックス10は、主として、上面部10a、正面部10b、左側壁部10c、右側面部10d及び背面部10eとから構成され、X線検査装置1の上部及び背面を規定している。そして、上面部10a、正面部10b、左側壁部10c、右側面部10d及び背面部10eの上部により囲まれる空間内には、X線照射器31が収容されおり、背面部10eの下部は、垂直支持部50により支持されている。
垂直支持部50は、床面に立脚する支持脚54に支持されるとともに、シールドボックス10の背面部10eに固定されており、シールドボックス10を支持している。
図4に示すように、コンベア40は、第1ガイドローラ41、第2ガイドローラ42、第3ガイドローラ43及び第4ガイドローラ44と、これらのガイドローラ41〜44の回転により所定の経路を循環する無端状のベルト45とから構成され、ベルト45上に載置された商品Pを照射空間2を通過させるように搬送する。
X線照射器31は、シールドボックス10の上面部10a、正面部10b、左側壁部10c、右側面部10d及び背面部10eの上部により囲まれる空間内に配置されており、X線管と、X線管から放射状に伝播するX線を下方のX線ラインセンサ32に向かう方向以外には概ね伝播させないように遮蔽する遮蔽板とから構成される。すなわち、X線照射器31は、下方のX線ラインセンサ32に向けて扇状の照射範囲にX線を照射する。
X線ラインセンサ32は、多くの画素センサから構成されている。これらの画素センサは、第2水平支持部52により略水平に支持されており、コンベア40による商品Pの搬送方向に直交する向きに一直線に配置される。
図5に示すように、X線遮蔽扉20は、本体部20aと、本体部20aの周囲に連続する上側壁部20b、左側壁部20c、右側壁部20d及び下側壁部20eからなる側壁とから構成され、X線検査装置1の正面中央に位置する(図1参照)。下側壁部20eには、回転アーム21が取り付けられている。
モニタ11は、X線検査装置1の正面上部に設けられたフルドット表示の液晶ディスプレイであり、利用者に対して操作命令等の各種入力を促す画面や検査結果等を表示する。また、モニタ30は、タッチパネル機能も有しており、利用者による操作命令等の各種入力も受け付ける。
〔1〕
X線遮蔽扉20の内面には、X線遮蔽扉20を開いた状態において行ったX線検査装置1内の清掃時の洗浄水やそうした洗浄水に含まれるゴミ等が付着したまま残留し得る。こうした状況では、X線検査装置1内において雑菌が繁殖したり、商品Pに汚れが付着したりする等といった好ましくない状態が生じかねない。従って、このような不適切な状態を回避するためには、X線検査装置1内の点検や清掃等といったメンテナンス作業の負荷が過大なものとなり得る。
第1実施形態では、X線遮蔽扉20が閉じられた状態において、X線遮蔽扉20の本体部20aが鉛直方向に対して外側に角度θ2(0°<θ2<90°)だけ傾斜している。
第1実施形態では、X線遮蔽扉20が閉じられた状態において、X線遮蔽扉20の下側壁部20eの下端を規定する線L2(図5参照)が、第4ガイドローラ44の下端よりも鉛直方向上側にくる。この場合、X線遮蔽扉20とコンベア40との間に隙間が形成されにくくなる。従って、照射空間2の下側からのX線の漏洩がより効果的に防止されるようになっている。
また、X線遮蔽扉20が閉じられた状態において、X線遮蔽扉20の本体部20aは、X線遮蔽扉20の下側壁部20eよりも鉛直方向に対して切り立った状態となっている。従って、本体部20aの長さが下側壁部20eの長さに対して長ければ長くなる程、X線遮蔽扉20の内面に付着したゴミ等がX線検査装置1の外部へと排出され易くなる。
第2実施形態に係るX線検査装置100は、第1実施形態に係るX線検査装置1とX線遮蔽扉20がX線遮蔽扉120となっている点においてのみ異なる。
図7に示すように、X線遮蔽扉120は、本体部120aと、本体部120aの周囲に連続する上側壁部120b、左側壁部120c、右側壁部120d及び下側壁部120eからなる側壁とから構成され、X線検査装置100の正面中央に位置する。下側壁部120eには、回転アーム21が取り付けられている。
〔1〕
第2実施形態では、X線遮蔽扉120の本体部120aが鉛直方向に対して外側に角度θ4(0°<θ4<90°)だけ傾斜しており、X線遮蔽扉120の下側壁部120eが鉛直方向に対して外側に角度(90°−θ3)(0°<θ3<90°)だけ傾斜している。すなわち、本体部120aは、下側壁部120eよりも鉛直方向に対して外側に角度(90°−θ3−θ4)だけ傾斜していることになる。従って、下側壁部120eで反射したX線の進行方向は、本体部120aで反射する場合と比較して、角度2(90°−θ3−θ4)だけ上向きにシフトされる。
(1)
上記各実施形態においては、角B又は角Fは90°となっていなくてもよいし、角D又は角Hは鈍角となっていなくてもよいし、角A、角C、角E又は角Gは鋭角となっていなくてもよい。また、X線遮蔽扉20,120を形成する本体部20a,120a、上側壁部20b,120b、左側壁部20c,120c、右側壁部20d,120d及び下側壁部20e,120eはそれぞれ平面となっているが、曲面であってもよい。
2 照射空間
20,120 X線遮蔽扉
20a,120a 本体部
20e,120e 下側壁部
31 X線照射器(X線源)
40 コンベア
θ1,θ3 第1角度
θ2,θ4 第2角度
Claims (3)
- 被検査物にX線を照射して、前記被検査物の状態を検査するX線検査装置であって、
X線を照射するX線源と、
前記被検査物が前記X線源からのX線の照射空間を通過するように前記被検査物を搬送する搬送部と、
開状態と閉状態との間を変化し、前記閉状態において前記照射空間からのX線の漏洩を防止するX線遮蔽扉と、
を備え、
前記X線遮蔽扉は、
本体部と、
前記閉状態における前記本体部の下端に連続し、水平方向に対して第1角度をなして下方へ傾斜する下側壁部と、
を有し、
前記本体部は、前記閉状態において、鉛直方向に対して外側に第2角度をなして傾斜するX線検査装置。 - 前記閉状態における前記本体部の下端は、前記搬送部の上端よりも鉛直方向下側に存在する、
請求項1に記載のX線検査装置。 - 前記閉状態における前記本体部の下端は、前記搬送部の上端よりも鉛直方向上側に存在する、
請求項1に記載のX線検査装置。
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JP2003185602A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-03 | Shimadzu Corp | X線異物検査装置 |
JP2004069386A (ja) * | 2002-08-02 | 2004-03-04 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X線検査装置 |
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