JP2006317323A - 水膜膜厚測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 道路上などの水膜の膜厚を測定する簡易な測定装置を提供する。
【解決手段】 固定電極13上の水膜15の膜厚を測定する水膜膜厚測定装置において、固定電極13に対向し上下動する移動電極11と、水膜15を載せた固定電極13と移動電極11との間の電気抵抗を測定する電気抵抗測定部3とにより、移動電極11の位置に応じて変化する電気抵抗に基づいて水膜膜厚を測定する。移動電極11が空気中から下方に移動する間の電気抵抗測定部3の出力に基づいて、移動電極11が固定電極13に接触した位置P2と、移動電極11を再度下降させ水膜15に接触した位置P1をメモリ7に格納し、(P2−P1)を水膜膜厚dとする。これにより、表面張力により付着した移動電極上の水膜と固定電極厚は測定誤差から相殺され、水膜膜厚dの測定精度が向上する。
【選択図】 図1
【解決手段】 固定電極13上の水膜15の膜厚を測定する水膜膜厚測定装置において、固定電極13に対向し上下動する移動電極11と、水膜15を載せた固定電極13と移動電極11との間の電気抵抗を測定する電気抵抗測定部3とにより、移動電極11の位置に応じて変化する電気抵抗に基づいて水膜膜厚を測定する。移動電極11が空気中から下方に移動する間の電気抵抗測定部3の出力に基づいて、移動電極11が固定電極13に接触した位置P2と、移動電極11を再度下降させ水膜15に接触した位置P1をメモリ7に格納し、(P2−P1)を水膜膜厚dとする。これにより、表面張力により付着した移動電極上の水膜と固定電極厚は測定誤差から相殺され、水膜膜厚dの測定精度が向上する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、水膜膜厚測定装置に関し、特に、地面上の水膜の膜厚をマイクロメータなどの移動電極によって測定する水膜膜厚測定装置に関する。
水膜などの膜厚を測定する水膜膜厚測定装置は各種知られている。
例えば、特許文献1に開示された「ベルトキャスタの冷却水膜の厚さの測定方法」は、注入溶鉱薄層流を搬送する連続鋳造機のベルトキャスタの背面から供給される冷却水膜の厚さの測定方法である。具体的には、ベルトキャスタの長辺モールド鋼鈑からの超音波エコーを連続的に撮影し、第(n+1)枚目の画像から第n枚目の画像を順次減算処理して、モールド鋼鈑内の多重エコーを消去し、冷却水膜の厚みを測定する。
例えば、特許文献1に開示された「ベルトキャスタの冷却水膜の厚さの測定方法」は、注入溶鉱薄層流を搬送する連続鋳造機のベルトキャスタの背面から供給される冷却水膜の厚さの測定方法である。具体的には、ベルトキャスタの長辺モールド鋼鈑からの超音波エコーを連続的に撮影し、第(n+1)枚目の画像から第n枚目の画像を順次減算処理して、モールド鋼鈑内の多重エコーを消去し、冷却水膜の厚みを測定する。
また、特許文献2に開示された「ベルトキャスタの冷却水膜の厚さの測定方法および装置」は、注入溶鉱薄層流を搬送する連続鋳造機のベルトキャスタの背面から供給される冷却水膜の厚さの測定方法である。具体的には、ベルトキャスタの長辺モールド鋼鈑の背後にて冷却水流の導入排出をつかさどるパッドに取りつけた超音波探触子と、当該超音波探触子の近傍に設置した超音波反射体とを備え、ベルトキャスタからの超音波エコーと、冷却水流表面からの超音波エコーに基づいて冷却水流の厚さを求める。
また、特許文献3に開示された「ベルトキャスタの冷却水膜の厚さの測定方法」は、注入溶鉱薄層流を搬送する連続鋳造記のベルトキャスタの背面から供給される冷却水膜の厚さの測定方法である。具体的には、ベルトキャスタからの超音波エコーと、冷却水流表面からの超音波エコーに基づいて冷却水流の厚さを求める。
また、特許文献4に開示された「水膜の膜厚測定装置」では、降雨時における走行車両の安全を確保するため、ランダム偏光のレーザ光を路上の水膜に斜めに照射し、水面からの反射光と水底面からの反射光を検知し、水膜の膜厚を演算子出力する。
また、特許文献5に開示された「水膜膜厚測定装置」では、ワイパを取りつけた自動車の前面ガラス上の水膜膜厚を測定するために、水膜での赤外線吸収率により水膜の膜厚を測定する。具体的には、赤外線光源はNi−Crヒータであり、水の吸収ピークである1.92μmと、2.94μmの赤外線を発光する。そして、フィルタにより、測定波長を切替えて、2.94μmの赤外線で4μmまでの水膜膜厚を精度良く測定し、1.92ミクロンの赤外線で300μmまでの水膜膜厚を精度良く測定する。
また、特許文献6に開示された「水膜測定装置」では、車両前方の水膜の厚さを、前方を照射する光が水によって減衰された割合から算出する。具体的には、水に対して適度な吸収(1mm当り透過率約30%)を有するアイセーフ波長(1.53〜1.55μm)を用い、水膜下の路面からの拡散反射光強度を検知し減衰量を求め、水膜の膜さを算出する。
しかし、特許文献1〜6では、移動するベルトキャスタ上の水膜膜厚を測定したり、走行中の車両から風防ガラス水膜膜厚や路上の水膜膜厚を測定することが目的であり、複雑な測定装置・方法が要求される。
これに対して、地面上などの水膜を静止した装置で測定するには、特許文献1〜6に開示された複雑な測定装置・方法は不要であり、より簡易な装置・方法により、効率的に水膜膜厚を測定することが求められる。
そこで、本発明は、地面上や道路上などの水膜の膜厚を制した装置により正確に測定することができる測定装置及び方法を提供することを目的とする。
これに対して、地面上などの水膜を静止した装置で測定するには、特許文献1〜6に開示された複雑な測定装置・方法は不要であり、より簡易な装置・方法により、効率的に水膜膜厚を測定することが求められる。
そこで、本発明は、地面上や道路上などの水膜の膜厚を制した装置により正確に測定することができる測定装置及び方法を提供することを目的とする。
本発明では、道路などの上に設置した固定電極と、マイクロメータなどの移動電極を使用し、移動電極が空気中、水膜、固定電極の間を移動する際の、固定電極と移動電極との間の電気抵抗変化を検知することにより、水膜膜厚を測定するものである。
具体的には、上述した課題を解決するための手段としての第1の発明は、固定電極上の水膜膜厚を測定する水膜膜厚測定装置において、上記固定電極に対向し上下動する移動電極と、上記水膜を載せた上記固定電極と上記移動電極との間の電気抵抗を測定する電気抵抗測定部とを備え、上記移動電極の位置に応じて変化する上記電気抵抗に基づいて上記水膜膜厚を測定する
第2の発明は、第1の発明において、上記固定電極及び上記移動電極の表面は、親水性処理されている。
第3の発明は、第2の発明において、上記固定電極及び上記移動電極の表面は、酸化チタンでコーティングされている。
第4の発明は、第1の発明において、上記移動電極は、空気中から水膜表面を経て上記固定電極に接触するまで下方に移動し、該接触位置を測定し、上記接触位置から上記移動電極を空気中に引き上げた後再度下方に移動し、上記移動電極が上記水膜に接触した位置を測定する。
第5の発明は、第1の発明において、上記移動電極を上下動させるモータと、上記モータを制御するモータ制御部をさらに備える。
第6の発明は、第5の発明において、上記モータは、ステッピングモータであり、
上記モータ制御部は、上記ステッピングモータに入力されたパルス数に基づいて、上記移動電極の位置を検知する。
第7の発明は、第6の発明において、上記移動電極の位置と上記電気抵抗との関係を表示する移動電極位置表示部をさらに備え、上記モータ制御部は、上記移動電極の位置を上記移動電極位置表示部に出力する。
具体的には、上述した課題を解決するための手段としての第1の発明は、固定電極上の水膜膜厚を測定する水膜膜厚測定装置において、上記固定電極に対向し上下動する移動電極と、上記水膜を載せた上記固定電極と上記移動電極との間の電気抵抗を測定する電気抵抗測定部とを備え、上記移動電極の位置に応じて変化する上記電気抵抗に基づいて上記水膜膜厚を測定する
第2の発明は、第1の発明において、上記固定電極及び上記移動電極の表面は、親水性処理されている。
第3の発明は、第2の発明において、上記固定電極及び上記移動電極の表面は、酸化チタンでコーティングされている。
第4の発明は、第1の発明において、上記移動電極は、空気中から水膜表面を経て上記固定電極に接触するまで下方に移動し、該接触位置を測定し、上記接触位置から上記移動電極を空気中に引き上げた後再度下方に移動し、上記移動電極が上記水膜に接触した位置を測定する。
第5の発明は、第1の発明において、上記移動電極を上下動させるモータと、上記モータを制御するモータ制御部をさらに備える。
第6の発明は、第5の発明において、上記モータは、ステッピングモータであり、
上記モータ制御部は、上記ステッピングモータに入力されたパルス数に基づいて、上記移動電極の位置を検知する。
第7の発明は、第6の発明において、上記移動電極の位置と上記電気抵抗との関係を表示する移動電極位置表示部をさらに備え、上記モータ制御部は、上記移動電極の位置を上記移動電極位置表示部に出力する。
本発明の水膜膜厚測定装置によれば、道路上などの水膜の膜厚を静止した装置により自動的に測定することができる。特に、表面張力による測定誤差を小さくして、水膜膜厚を正確に測定することができる。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。但しこの実施例に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例に過ぎない。
図1は、本実施形態の水膜膜厚測定装置のブロック図である。
本実施形態の水膜膜厚測定装置は、水膜が載った固定電極に移動電極を対向させ、移動電極を、空気中から水膜を経て固定電極に至るまで下方に移動させて、移動電極と固定電極の間の電気抵抗Rxを測定し、電気抵抗変化に基づいて水膜膜厚を測定するものである。
本実施形態の水膜膜厚測定装置は、移動電極11を手動又はモータ5で上下動させる。移動電極11は、例えばマイクロメータのヘッドの表面であり、その表面は、水に対するぬれを良くするため、例えば酸化チタンなどのコーティング12により親水性処理されてもよい。また、モータ5は、ステッピングモータであり、モータ制御部6から入力される駆動パルス信号により、移動電極11を上下動させる。
固定電極13は、地面など16の上に設置された金属板であり、その表面は、水に対するぬれを良くするため酸化チタンなどのコーティング14により親水性処理されてもよい。降雨などがあると、上記コーティングにより、固定電極13の上に水膜15が均一に形成される。
移動電極11と固定電極13とは、電気抵抗測定部3の入力端子に接続され、移動電極11と固定電極13との間の電気抵抗Rxが、電気抵抗測定部3の一方の出力端子からの出力電圧Voutとして検知される。
さらに、電気抵抗測定部3の一方の出力端子からの出力電圧Voutは、移動電極位置表示部4に入力される。移動電極位置表示部4は、移動電極11が、空気中、水膜表面、又は固定電極13上のいずれの位置にあるかを視認させるものである。なお、移動電極11の位置視認とともに、移動電極11の位置も表示する場合には、移動電極位置表示装置4にモータ制御部6から移動電極11の位置も入力する。
さらに、出力電圧Voutは、メモリ7に入力される。ここに、メモリ7は、移動電極の位置Pxと電気抵抗Rxとの関係を、測定経過に沿って所定時間間隔でサンプリングして格納するものである。そのために、メモリ7には、モータ制御部6から、移動電極11の位置を示す信号が入力される。
本実施形態の水膜膜厚測定装置は、水膜が載った固定電極に移動電極を対向させ、移動電極を、空気中から水膜を経て固定電極に至るまで下方に移動させて、移動電極と固定電極の間の電気抵抗Rxを測定し、電気抵抗変化に基づいて水膜膜厚を測定するものである。
本実施形態の水膜膜厚測定装置は、移動電極11を手動又はモータ5で上下動させる。移動電極11は、例えばマイクロメータのヘッドの表面であり、その表面は、水に対するぬれを良くするため、例えば酸化チタンなどのコーティング12により親水性処理されてもよい。また、モータ5は、ステッピングモータであり、モータ制御部6から入力される駆動パルス信号により、移動電極11を上下動させる。
固定電極13は、地面など16の上に設置された金属板であり、その表面は、水に対するぬれを良くするため酸化チタンなどのコーティング14により親水性処理されてもよい。降雨などがあると、上記コーティングにより、固定電極13の上に水膜15が均一に形成される。
移動電極11と固定電極13とは、電気抵抗測定部3の入力端子に接続され、移動電極11と固定電極13との間の電気抵抗Rxが、電気抵抗測定部3の一方の出力端子からの出力電圧Voutとして検知される。
さらに、電気抵抗測定部3の一方の出力端子からの出力電圧Voutは、移動電極位置表示部4に入力される。移動電極位置表示部4は、移動電極11が、空気中、水膜表面、又は固定電極13上のいずれの位置にあるかを視認させるものである。なお、移動電極11の位置視認とともに、移動電極11の位置も表示する場合には、移動電極位置表示装置4にモータ制御部6から移動電極11の位置も入力する。
さらに、出力電圧Voutは、メモリ7に入力される。ここに、メモリ7は、移動電極の位置Pxと電気抵抗Rxとの関係を、測定経過に沿って所定時間間隔でサンプリングして格納するものである。そのために、メモリ7には、モータ制御部6から、移動電極11の位置を示す信号が入力される。
図2は、図1に示した電気抵抗測定部3のブロック図である。
電気抵抗測定部3は、交流定電圧電源20と、検出抵抗Rfと、検出抵抗Rfの端子電圧を測定する端子電圧測定回路22からなる。
交流定電圧電源20の一方の出力端子は、移動電極11に接続され、他方の出力端子は、検出抵抗Rfの一端に接続される。なお、検出抵抗Rfの他端は、固定電極13に接続される。さらに、検出抵抗Rfの一端及び他端は、端子電圧測定回路22の2つの入力端子にそれぞれ接続され、検出抵抗Rfの端子電圧Voutが、端子電圧測定回路22の一方の出力端子から出力される。
図2には、移動電極位置表示装置4の一例も示されている。
この移動電極位置表示装置4は、比較器1、2、3と、これらにそれぞれ接続されたランプ1、2、3からなる。比較器1、2、3には、移動電極11が、空気中、水膜15の表面、及び固定電極13の表面にあるときの出力電圧Voutが、それぞれ予め設定された比較電圧Vref1、Vref2、Vref3として設定されており、移動中の移動電極11がこれらの位置に来た時、比較器の1、2、3の出力に基づいて、ランプ1、ランプ2、ランプ3が点灯される。
但し、移動電極位置表示装置4は、これに限定されず、LCDなどの2次元表示装置であってもよい。この場合、移動電極位置表示装置4の横軸を移動電極11の位置Pxとし、縦軸を測定中のVoutとして、PxとVoutとを2次元表示し、測定中のVoutが、上述した比較電圧Vref1、Vref2、Vref3となった時に、対応する位置Pxをマーカで点滅表示するとよい。
電気抵抗測定部3は、交流定電圧電源20と、検出抵抗Rfと、検出抵抗Rfの端子電圧を測定する端子電圧測定回路22からなる。
交流定電圧電源20の一方の出力端子は、移動電極11に接続され、他方の出力端子は、検出抵抗Rfの一端に接続される。なお、検出抵抗Rfの他端は、固定電極13に接続される。さらに、検出抵抗Rfの一端及び他端は、端子電圧測定回路22の2つの入力端子にそれぞれ接続され、検出抵抗Rfの端子電圧Voutが、端子電圧測定回路22の一方の出力端子から出力される。
図2には、移動電極位置表示装置4の一例も示されている。
この移動電極位置表示装置4は、比較器1、2、3と、これらにそれぞれ接続されたランプ1、2、3からなる。比較器1、2、3には、移動電極11が、空気中、水膜15の表面、及び固定電極13の表面にあるときの出力電圧Voutが、それぞれ予め設定された比較電圧Vref1、Vref2、Vref3として設定されており、移動中の移動電極11がこれらの位置に来た時、比較器の1、2、3の出力に基づいて、ランプ1、ランプ2、ランプ3が点灯される。
但し、移動電極位置表示装置4は、これに限定されず、LCDなどの2次元表示装置であってもよい。この場合、移動電極位置表示装置4の横軸を移動電極11の位置Pxとし、縦軸を測定中のVoutとして、PxとVoutとを2次元表示し、測定中のVoutが、上述した比較電圧Vref1、Vref2、Vref3となった時に、対応する位置Pxをマーカで点滅表示するとよい。
図3は、移動電極11を空気中から下降させ固定電極13に接触するまでの移動電極11の位置Pxと電気抵抗測定部3の出力Voutとの関係を示すグラフである。
まず、移動電極11を空気中から下降させ水面と接触させると、移動電極11と固定電極13の間の電気抵抗Rxは無限大から数kΩへと変化する。これに対応して、電気抵抗測定部出力Voutは0ボルトからV1ボルトへと跳ね上がる。この時の移動電極の位置PxがP1である。
さらに、移動電極11を下降させると、電気抵抗Rxは小さくなり、これに伴ってVoutは上昇する。なお、図3では、簡単のため、この上昇カーブを直線として図示しが、実際にはこの上昇カーブは直線ではない。
そして、移動電極11が固定電極13に接触すると、親水性コーティングの電気抵抗を無視すると、両電極は短絡された状態となり、Rxは0Ωとなり、これに伴ってVoutは最高電圧V2となる。この時の移動電極の位置PxがP1である。
まず、移動電極11を空気中から下降させ水面と接触させると、移動電極11と固定電極13の間の電気抵抗Rxは無限大から数kΩへと変化する。これに対応して、電気抵抗測定部出力Voutは0ボルトからV1ボルトへと跳ね上がる。この時の移動電極の位置PxがP1である。
さらに、移動電極11を下降させると、電気抵抗Rxは小さくなり、これに伴ってVoutは上昇する。なお、図3では、簡単のため、この上昇カーブを直線として図示しが、実際にはこの上昇カーブは直線ではない。
そして、移動電極11が固定電極13に接触すると、親水性コーティングの電気抵抗を無視すると、両電極は短絡された状態となり、Rxは0Ωとなり、これに伴ってVoutは最高電圧V2となる。この時の移動電極の位置PxがP1である。
図4は、水膜膜厚の測定を説明するためのフローチャートである。
まず、S40において、空中から水膜15を経て固定電極13に至るまで、移動電極11を下方に移動させ、固定電極13に達した位置P2をメモリに格納する。
次に、S42において、移動電極11を上方に移動させ、水膜中から空気中に至るまで、移動する。
次に、S44において、移動電極11を下方に移動させ、水膜と接触した位置P1をメモリに格納する。
最後に、S46において、水膜膜厚d=(P2−P1)を演算する。
まず、S40において、空中から水膜15を経て固定電極13に至るまで、移動電極11を下方に移動させ、固定電極13に達した位置P2をメモリに格納する。
次に、S42において、移動電極11を上方に移動させ、水膜中から空気中に至るまで、移動する。
次に、S44において、移動電極11を下方に移動させ、水膜と接触した位置P1をメモリに格納する。
最後に、S46において、水膜膜厚d=(P2−P1)を演算する。
[水膜膜厚測定装置の設定]
図5(A)に示すように、移動電極11は、マイクロメータヘッドであり、先端を先細りさせた金属円柱である。先細りされた先端の直径は1mmである。また、テーパー部及び先端には酸化チタン12が鍍金されている。また、テーパ部の軸方向長さは2mmとした。
図5(B)に示すように、固定電極13は、厚さ100μm(酸化チタン鍍金層14を含む)であり、直径30mmである。
移動電極11及び固定電極13上の酸化チタン鍍金層により、薄い水膜(0.5〜2mm)でもそれぞれの電極上に水が均一にぬれる。なお、移動電極11が一旦下降して固定電極13と接触し、その後上昇して空気中に戻った時に、移動電極11の先端に付着した水滴151の厚みは、図5(B)に示すように、80〜100μmであった。
図3に示した位置P2では、移動電極11と固定電極13とが接触するため、Rxは0Ωである。また、移動電極11が水膜15中にある時は、Rxは数kΩである。また、移動電極11が表面張力を振り切って水膜との繋がりを絶ち空中にある時は、Rxは数MΩ以上無限大となる。
図2に示した交流定電圧電源20は、周波数1kHz、内部抵抗数Ω、出力2.0V、検出抵抗Rfは、10kΩとした。
図5(A)に示すように、移動電極11は、マイクロメータヘッドであり、先端を先細りさせた金属円柱である。先細りされた先端の直径は1mmである。また、テーパー部及び先端には酸化チタン12が鍍金されている。また、テーパ部の軸方向長さは2mmとした。
図5(B)に示すように、固定電極13は、厚さ100μm(酸化チタン鍍金層14を含む)であり、直径30mmである。
移動電極11及び固定電極13上の酸化チタン鍍金層により、薄い水膜(0.5〜2mm)でもそれぞれの電極上に水が均一にぬれる。なお、移動電極11が一旦下降して固定電極13と接触し、その後上昇して空気中に戻った時に、移動電極11の先端に付着した水滴151の厚みは、図5(B)に示すように、80〜100μmであった。
図3に示した位置P2では、移動電極11と固定電極13とが接触するため、Rxは0Ωである。また、移動電極11が水膜15中にある時は、Rxは数kΩである。また、移動電極11が表面張力を振り切って水膜との繋がりを絶ち空中にある時は、Rxは数MΩ以上無限大となる。
図2に示した交流定電圧電源20は、周波数1kHz、内部抵抗数Ω、出力2.0V、検出抵抗Rfは、10kΩとした。
[水膜膜厚測定方法]
水膜膜厚測定方法は、図4に示したフローチャートに従う。
具体的には、まず、移動電極11が空気中から水膜を経て固定電極13に達したことをVoutがV2となったことにより確認し、その時のPx(=P2)をメモリに格納する。
次に、移動電極11を上方に移動し、水膜から空気中に上げる。この時、Voutは0ボルトになる。ところで、この時の移動電極11の位置は、移動電極11と水膜表面間で引き起こされる表面張力の高さ、具体的には表面張力による水柱の高さ(800μm〜1000μm)を加算したものである。したがって、この時の移動電極11の位置はメモリに記録しない。
空気中にある移動電極11には、水中に接した際に付着した水滴(高さ80μm〜100μm)が付いている。
移動電極11を再度下方に移動する。すると、移動電極11が水膜15に接触した瞬間、両電極間の電気抵抗Rxは無限大から数kΩに急激に変化し、移動電極11が水膜15に接触したことが容易に判定できる。そこで、この時の移動電極11の位置P1をメモリに格納する。但し、P1は、移動電極11付着した水滴80μm〜100μmを加算したものである。
一方、P2は地面16の位置に固定電極13の厚さ(酸化チタン鍍金層14の厚さを含む)100μmを加算したものである。
したがって、移動電極11に付着した水膜膜厚膜厚と固定電極厚さとが略相殺され、水膜膜厚dの測定精度が向上されている。
水膜膜厚測定方法は、図4に示したフローチャートに従う。
具体的には、まず、移動電極11が空気中から水膜を経て固定電極13に達したことをVoutがV2となったことにより確認し、その時のPx(=P2)をメモリに格納する。
次に、移動電極11を上方に移動し、水膜から空気中に上げる。この時、Voutは0ボルトになる。ところで、この時の移動電極11の位置は、移動電極11と水膜表面間で引き起こされる表面張力の高さ、具体的には表面張力による水柱の高さ(800μm〜1000μm)を加算したものである。したがって、この時の移動電極11の位置はメモリに記録しない。
空気中にある移動電極11には、水中に接した際に付着した水滴(高さ80μm〜100μm)が付いている。
移動電極11を再度下方に移動する。すると、移動電極11が水膜15に接触した瞬間、両電極間の電気抵抗Rxは無限大から数kΩに急激に変化し、移動電極11が水膜15に接触したことが容易に判定できる。そこで、この時の移動電極11の位置P1をメモリに格納する。但し、P1は、移動電極11付着した水滴80μm〜100μmを加算したものである。
一方、P2は地面16の位置に固定電極13の厚さ(酸化チタン鍍金層14の厚さを含む)100μmを加算したものである。
したがって、移動電極11に付着した水膜膜厚膜厚と固定電極厚さとが略相殺され、水膜膜厚dの測定精度が向上されている。
[水膜膜厚測定結果]
移動電極11が空中にある時、VoutはゼロVであった。また、移動電極11が水膜に接触すると、Voutは0.4Vであった。また、移動電極11が水膜中にある間、Voutは0.4V〜2.8Vであった。そして、移動電極11が固定電極13とP2で接触したときは、Voutは2.8Vであった。
以上の測定結果に基づいて、水膜膜厚0.4mm〜1.0mmの範囲をプラスマイナス0.1mm以内の精度で測定することができた。
移動電極11が空中にある時、VoutはゼロVであった。また、移動電極11が水膜に接触すると、Voutは0.4Vであった。また、移動電極11が水膜中にある間、Voutは0.4V〜2.8Vであった。そして、移動電極11が固定電極13とP2で接触したときは、Voutは2.8Vであった。
以上の測定結果に基づいて、水膜膜厚0.4mm〜1.0mmの範囲をプラスマイナス0.1mm以内の精度で測定することができた。
本発明は、地面上や道路上などの水膜を移動電極などの機械的手段で測定することに利用することができ、さらに、地面や道路の安全管理などに利用することができる。
3 電気抵抗測定部
4 移動電極位置表示部
5 ステッピングモータ
6 モータ制御部
7 メモリ
11 移動電極
12 移動電極コーティング
13 固定電極
14 固定電極コーティング
15 水膜
16 地面又は道路など
20 交流定電圧電源
22 端子電圧測定回路
P1 移動電極11が水膜15の表面にある位置
P2 移動電極11が固定電極13と接触する位置
4 移動電極位置表示部
5 ステッピングモータ
6 モータ制御部
7 メモリ
11 移動電極
12 移動電極コーティング
13 固定電極
14 固定電極コーティング
15 水膜
16 地面又は道路など
20 交流定電圧電源
22 端子電圧測定回路
P1 移動電極11が水膜15の表面にある位置
P2 移動電極11が固定電極13と接触する位置
Claims (7)
- 固定電極上の水膜膜厚を測定する水膜膜厚測定装置において、
前記固定電極に対向し上下動する移動電極と、
前記水膜を載せた前記固定電極と前記移動電極との間の電気抵抗を測定する電気抵抗測定部とを備え、
前記移動電極の位置に応じて変化する前記電気抵抗に基づいて前記水膜膜厚を測定することを特徴とする水膜膜厚測定装置。 - 前記固定電極及び前記移動電極の表面は、親水性処理されていることを特徴とする請求項1記載の水膜膜厚測定装置。
- 前記固定電極及び前記移動電極の表面は、酸化チタンでコーティングされていることを特徴とする請求項2記載の水膜膜厚測定装置。
- 前記移動電極は、空気中から水膜表面を経て前記固定電極に接触するまで下方に移動し、該接触位置を測定し、
前記接触位置から前記移動電極を空気中に引き上げた後再度下方に移動し、前記移動電極が前記水膜に接触した位置を測定することを特徴とする請求項1記載の水膜膜厚測定装置。 - 前記移動電極を上下動させるモータと、
前記モータを制御するモータ制御部をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の水膜膜厚測定装置。 - 前記モータは、ステッピングモータであり、
前記モータ制御部は、前記ステッピングモータに入力されたパルス数に基づいて、前記移動電極の位置を検知することを特徴とする請求項5記載の水膜膜厚測定装置。 - 前記移動電極の位置と前記電気抵抗との関係を表示する移動電極位置表示部をさらに備え、
前記モータ制御部は、前記移動電極の位置を前記移動電極位置表示部に出力することを特徴とする請求項6記載の水膜膜厚測定装置。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2005141072A JP2006317323A (ja) | 2005-05-13 | 2005-05-13 | 水膜膜厚測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2005141072A JP2006317323A (ja) | 2005-05-13 | 2005-05-13 | 水膜膜厚測定装置 |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014115326A1 (ja) * | 2013-01-28 | 2014-07-31 | 中国電力株式会社 | 液深測定器 |
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CN110686607A (zh) * | 2019-10-17 | 2020-01-14 | 南京工程学院 | 一种压缩机干气密封气膜厚度测量装置及方法 |
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2005
- 2005-05-13 JP JP2005141072A patent/JP2006317323A/ja active Pending
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