JP2006300879A - 物体を測定する装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 磁性体の内部構造を正確に測定する。
【解決手段】 本発明の磁性体の内部構造を測定する装置は、以下のような構成を有する。すなわち、この装置は、被測定物である鉄鋼板IP1,IP2に静磁場を印加し遮断して、鉄鋼板の複数位置における微分磁束密度の過渡変化を測定する測定部16と、鉄鋼板から比較的遠い第1の位置から被測定物に比較的近い第2の位置に測定部16が移動することができるように、測定部16をガイドするガイド部17と、を備える。そして、ガイド部17は、測定部が第1の位置にある状態において、測定部16が第2の位置にあるときに測定部16に覆われる溶接部分が外部から視認できる窓18a〜18dを有する。
【選択図】 図1
Description
A.第1実施例:
A−1.測定装置の構成:
A−2.測定装置の動作:
B.第2実施例:
C.変形例:
A−1.測定装置の構成:
図1は、本発明の実施例である測定装置の構成を示す説明図である。この測定装置は、センサ部10と、制御部20と、データ処理部30と、を備える。センサ部10は、ユーザが保持して、その先端部を被測定物である鉄鋼板IP1,IP2に押しあて、溶接部分Wpの内部構造を測定する機器である。制御部20は、パーソナルコンピュータであるデータ処理部30に装着される制御基板である。この制御部20は、センサ部10を制御し、かつ、センサ部10から受け取った信号を処理する。データ処理部30は、CPU31、ディスプレイ32およびキーボード33を備えたパーソナルコンピュータである。データ処理部30は、制御部20が処理した信号に基づいて鉄鋼板IP1,IP2の溶接部分Wpの内部構造を推定し、画像をディスプレイ32に表示する。
次に、測定装置の動作について説明する。鉄鋼板IP1,IP2の溶接部分Wpの内部構造を測定する際には、センサ部10は、カバー16cをユーザに保持され、図1に示すように、突出しているガイド部17を先にして、鉄鋼板IP1,IP2の溶接部分Wpに押しつけられる。その際、ユーザは、図2に示すように、ガイド部17の窓18a〜18dを通じて、鉄鋼板IP1の表面のうち、測定部16が押し出されたときに測定部16の先端が押しつけられる部分を外部から視認することができる。なお、図2において、ユーザの目をEyで表し、ユーザの視線を目Eyからインデテーション部Wp1に向かって伸びる一点鎖線で表す。
第2実施例の測定装置は、センサ部100の測定部16の構成が第1実施例とは異なる。他の点は第1実施例と同じである。
なお、この発明は上記の実施例や実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。
11,11p…励磁部
12,12p…アレーセンサ
16,16p…測定部
16a…先端部
16b…胴部
16c…カバー
16d…スライド部
16e…突起
16f…規制板
17…ガイド部
17a〜17d…側壁部
18a〜18d…窓
18t…照準マーク
18u…測定部の中心の位置を示す突起
18v…測定部の中心の位置を示す突起
19…コイルバネ
19b…コイルバネ
20…制御部
20a…センサ制御部
20b…信号処理部
30…データ処理部
31…CPU
31a…時定数決定部
31b…構造決定部
32…ディスプレイ
A1…測定部16の動作を示す矢印
A2…測定部16の先端部16aの動作を示す矢印
A3…測定部16の動作を示す矢印
A4,A5…測定部16の先端部16aの動作を示す矢印
B…磁束線
C…測定部16の中心軸
Cp…インデテーション部Wp1の中心を通る軸
Cs…側壁部17a〜17dによって囲まれる空間17sの中心軸
IP1,IP2,IP3,IP4…鉄鋼板
IPb…空隙部分
IPbe…鉄鋼板IP1とIP2の空隙部分IPbの縁
IPp…鉄鋼板IP3の表面のうち測定部16pの先端と接触している部分
SR0〜SR7…磁気センサ
Wp…溶接部分
Wp1,Wp4…インデテーション部
Wp2,Wp5…ナゲット部
Wp3,Wp6…圧着部
i1…磁束密度
t…時刻
Claims (5)
- 物体を測定する測定装置であって、
被測定物に静磁場を印加し遮断して、前記被測定物の複数位置における微分磁束密度の過渡変化を測定する測定部と、
前記被測定物から比較的遠い第1の位置から、前記被測定物に比較的近く前記測定部が前記静磁場の印加および遮断を行う第2の位置に、前記測定部が移動することができるように、前記測定部をガイドするガイド部と、を備え、
前記ガイド部は、前記被測定物の表面の少なくとも一部であって前記測定部が前記第2の位置にあるときに前記測定部に覆われる部分である対象部が、前記測定部が前記第1の位置にある状態で外部から観察できる窓部を有する、測定装置。 - 請求項1記載の測定装置であって、さらに、
前記複数位置における前記微分磁束密度の過渡変化の時定数を求める時定数決定部と、
前記複数位置に対する前記時定数の分布から前記被測定物の内部構造に関する所定の特性値を求める構造特性決定部と、を備える装置。 - 物体を測定する測定装置であって、
被測定物を測定する測定部と、
前記被測定物から比較的遠い第1の位置から、前記被測定物に比較的近く前記測定部が前記被測定物を測定する第2の位置に、前記測定部が移動することができるように、前記測定部をガイドするガイド部と、を備え、
前記ガイド部は、
前記被測定物の表面の少なくとも一部であって前記測定部が前記第2の位置にあるときに前記測定部に覆われる部分である対象部が、前記測定部が前記第1の位置にある状態で外部から観察できる窓部を有し、
前記測定部は、
前記被測定物に接触して前記被測定物を測定する接触部と、
前記接触部を直接または間接に保持し、前記ガイド部に沿ってスライドすることができるスライド部と、を有し、
前記接触部は、少なくとも一つの方向を軸として回転可能なように、前記スライド部に保持されている、測定装置。 - 請求項3記載の測定装置であって、
前記接触部は、弾性体を介して前記スライド部に取り付けられている、測定装置。 - 請求項1または3に記載の測定装置であって、
前記ガイド部は、さらに、前記測定部が前記第2の位置にあるときに前記測定部の中心が位置する場所を示す指示部を備え、
前記指示部と、前記窓とは、前記測定部が前記第1の位置にある状態で、前記窓から前記指示部が見えるように構成される、測定装置。
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