JP2006280612A - 眼科装置 - Google Patents

眼科装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006280612A
JP2006280612A JP2005104607A JP2005104607A JP2006280612A JP 2006280612 A JP2006280612 A JP 2006280612A JP 2005104607 A JP2005104607 A JP 2005104607A JP 2005104607 A JP2005104607 A JP 2005104607A JP 2006280612 A JP2006280612 A JP 2006280612A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
eye
confirmation mark
level confirmation
eye level
examined
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005104607A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4822730B2 (ja
Inventor
Naoki Isogai
直己 磯貝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidek Co Ltd
Original Assignee
Nidek Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nidek Co Ltd filed Critical Nidek Co Ltd
Priority to JP2005104607A priority Critical patent/JP4822730B2/ja
Publication of JP2006280612A publication Critical patent/JP2006280612A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4822730B2 publication Critical patent/JP4822730B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

【課題】 簡単な構成で、検者によるアライメントの手間を軽減する。
【解決手段】 被検眼の検眼を行うための検眼部を有する眼科装置において、被検者の顎を受ける顎受け台と、該顎受けを上下に駆動する駆動手段と、前記顎受け台に顎を乗せた状態での被検眼の高さ位置を確認するためのアイレベル確認マークが付されたアイレベル確認部材と、前記検眼部の前に位置する被検眼と前記アイレベル確認部材に付されたアイレベル確認マークとを撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された画像を基に画像処理により前記アイレベル確認マーク及び被検眼の位置情報を検出する検出手段と、前記検出手段の検出結果に基づいて前記駆動手段を制御する制御手段と、を備える。
【選択図】 図4

Description

本発明は、被検眼の検査・測定等を行う眼科装置に関する。
従来、被検眼の検査・測定等の検眼を行う眼科装置(例えば、眼屈折力測定装置や眼底カメラ等)において、検者の手間を軽減するために、二次元受光素子により被検眼の前眼部を撮像することにより被検眼に対する検眼部のアライメント状態を検出し、検出結果に基づいて顎受け台の上下動の駆動制御と、検眼部の3次元移動の駆動制御を行う装置が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2004−174155号公報
しかしながら、特許文献1に開示される装置の構成の場合、顎受け台を所定の位置に移動させるためには、上下方向における検眼部の位置を把握しておく必要があり、このために測定部の位置を検出するための位置検出機構が必須となる。
本発明は、上記問題点を鑑み、簡単な構成で、検者によるアライメントの手間を軽減することができる眼科装置を提供することを技術課題とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) 被検眼の検眼を行うための検眼部を有する眼科装置において、被検者の顎を受ける顎受け台と、該顎受けを上下に駆動する駆動手段と、前記顎受け台に顎を乗せた状態での被検眼の高さ位置を確認するためのアイレベル確認マークが付されたアイレベル確認部材と、前記検眼部の前に位置する被検眼と前記アイレベル確認部材に付されたアイレベル確認マークとを撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された画像を基に画像処理により前記アイレベル確認マーク及び被検眼の位置情報を検出する検出手段と、前記検出手段の検出結果に基づいて前記駆動手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。
(2) (1)の眼科装置において、前記アイレベル確認部材に付されたアイレベル確認マークは、前記撮像手段にて撮像された前記アイレベル確認マーク像を前記検出手段による画像処理にて検出可能とするための所定の面積を有していることを特徴とする。
(3) (1)の眼科装置は、前記検眼部を少なくとも上下方向に移動させるための上下駆動手段を有し、前記制御手段は前記検出手段の検出結果に基づいて被検眼を前記アイレベル確認マークとほぼ同じ高さとなるように前記駆動手段を駆動させるとともに,前記アイレベル確認マークの高さ位置に向かって前記検眼部が移動するように前記検出手段の検出結果を用いて前記上下駆動手段を駆動制御することを特徴とする。
(4) (1)の眼科装置において、該眼科装置を載置する載置台または検眼時に被検者が座る椅子の少なくともどちらか一方の高さを調整する位置調整手段を有し、該位置調整手段は、前記検出手段の検出結果に基づいて該眼科装置と被検眼との相対的な位置関係を調整することを特徴とする。
(5) 被検眼の検眼を行うための検眼部を有する眼科装置において、位置確認マークが付された位置確認部材と、前記位置確認部材に付された位置確認マークを撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された画像から前記位置確認マーク像を検出する検出手段と、前記検眼部の移動を制御する制御手段とを備え、該制御手段は、前記検出手段によって検出される前記位置確認マーク像を前記検眼部の移動の際の基準情報として用いることを特徴とする。
本発明によれば、簡単な構成で、検者によるアライメントの手間を軽減することができる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図1は、本実施形態の眼科装置の外観概略図(図1(a)は斜視図、図1(b)は側面図)を示している。なお、眼科装置としては、例えば、被検眼の眼屈折力を他覚的に測定する眼屈折力測定装置や、被検眼に対してスリット光を投光することにより被検眼各部の観察及び撮影を行うスリットランプ等が考えられる。
100は、本実施形態の眼科装置本体である。眼科装置100の基台1には、被検者の顔を固定する顔支持ユニット10が固定されている。顔支持ユニット10には、被検者の額を当接する額当て11と、被検者の顎を受ける顎受け12が設けられている。顎受け12は、後述する顎受け移動機構30により上下(Y)方向に移動する。13は被検者の顎が載置されたことを検知するタッチセンサである。14はアイレベル確認マークであり、顎受け12を上下方向に移動させる際の被検眼の高さの目安とするものである。なお、被検眼とアイレベル確認マーク14がほぼ同じ高さになるように顎受け12を上下動させることで、顔支持ユニット10に被検者の顔がしっかりと固定された状態にすることができる。この場合、必ずしも被検眼とアイレベル確認マーク14の高さを厳密に合わせる必要はない。また、本実施形態において、アイレベル確認マーク14は、その周辺とのコントラストをつけるために、濃色系の色(例えば、黒)のコーティング加工が施されている。そして、アイレベル確認マーク14の周辺には、淡色系の色(例えば、白)のコーティング加工が施されている(色使いは逆でもよい)。
3は基台1に取り付けられた本体部であり、5は本体部3の上に搭載され検査(検眼)光学系等が収納された検査部(検眼部)である。5bは、検査部5の内部を被検者が覗くための検査窓であり、検査窓5bを介して検査光学系からの光束が被検者に投光される。50aは、後述する第1アライメント検出光学系50の撮影窓である。6は検査部5を上下(Y)方向に移動するY駆動部であり、7は検査部5を左右(X)及び前後(Z)方向に移動するXZ駆動部であり、これらは本体部3の内部に搭載されている。すなわち、検査部5は、Y駆動部6及びXZ駆動部7により被検眼に対して三次元(XYZ)方向にそれぞれ移動可能な構成となっている。なお、Y駆動部6とXZ駆動部7は、図示なきスライド機構とモータ等により構成される。
4は検者が手動アライメントを行う場合に使用するジョイスティックであり、このジョイスティック4を前後左右に倒すことにより、検査部5をXZ方向に移動させることができる。また、ジョイスティック4の回転ノブ4aを回転操作することにより検査部5をY方向に移動させることができる。また、ジョイスティック4の頂部には、測定開始スイッチ4bが設けられている。また、本体部3の検者側にはモニタ8と、アライメント動作を開始するためのトリガ信号を発するアライメント開始スイッチ9aが設けられている。また、基台1の側面には、検者の入力操作によって顎受け12を電動上下させるための移動信号を発する顎受けスイッチ9bが設けられている。
図2は顎受け12を自動的に上下動させる顎受け移動機構30の構成を示す概略断面図である。支基20には送りネジ21が立設されており、これに螺合する雌ネジを持つ支柱23が支基20にガイドされて上下に移動可能に取り付けられている。支柱23の上に顎受け12が固定されている。送りネジ21の下方にはギヤ22が設けられており、このギヤ22にパルスモータ24側のギヤと噛み合っている。また、支柱23には溝25があり、この溝25と回転止め用のビス26により支柱23が回転するのを防止している。モータ24の回転により送りネジ21が回転し、これによって支柱23と共に顎受け12が上下移動する。支柱23の下方には遮光板27が取り付けられており、支基20側には遮光板27を検知するフォトセンサ28が設けられている。フォトセンサ28は、遮光板27を検知することにより、顎受け台2aが下限に下がったことを検知する。
図3は、本実施形態の検査部5内に設けられた光学系及び制御系の構成を説明する概略構成図である。検査光軸L1上には、対物レンズ12、検査光学系5a(例えば、眼屈折力測定光学系)が配置されている。検査光学系5aから発せられた光束は、対物レンズ12を介して被検眼に入射する。そして、被検眼からの反射光が、再び対物レンズ12を介して検査光学系5a内に入射し、所定の眼特性(例えば、眼屈折力や眼底画像や前眼部断面像など)を得る。また、検査部5には、アライメント指標投影光学系40、アライメント検出光学系50及び60が収納されている。
アライメント指標投影光学系40は、光軸L1を中心に左右対称に配置された2組の第1指標投影光学系と、第1指標投影光学系より狭い角度に配置された光軸を持ち光軸L1が通る垂直平面を挟んで左右対称に配置された2組の第2指標投影光学系を備える(なお、図3では、便宜上、上下に配置)。第1指標投影光学系は、被検眼に無限遠の指標を投影する。一方、第2指標投影光学系は、被検眼に有限遠の指標を投影する。
アライメント検出光学系は、第1アライメント検出光学系50と第2アライメント検出光学系60を備える。第1検出光学系50は、レンズ51、二次元受光素子52を備え、二次元受光素子52により被検者の顔が低倍率で撮像される(図4参照)。なお、本実施形態において、第1検出光学系50は、検査光学系5aの対物レンズ12の真下に配置されており(図1参照)、左右両眼及び左右のアイレベル確認マーク14とが撮像できるような撮像範囲を有する構成となっている(図4参照)。これにより、左右眼の判別、及び左右眼の位置の特定を同時に行うことができる。なお、本実施形態においては、検査光学系5aの検査光軸L1とアイレベル確認マーク14との上下方向の高さを合わせた際に、検査部5が上下方向における移動可能範囲の中間位置にくるような構成となっている。
第2アライメント検出光学系60は、ビームスプリッタ13の反射側に、フィールドレンズ61、ミラー62、絞り63、リレーレンズ64、二次元受光素子65を備え、二次元受光素子65により被検眼を高倍率で撮像し、アライメント視標投影光学系40により被検眼に投影された指標像を検出する(図5参照)。なお、上記の光学系において、光源58により照明された前眼部からの反射光は、対物レンズ12、ビームスプリッタ13及びフィールドレンズ61〜リレーレンズ64を介して二次元受光素子65に受光される。これにより、二次元受光素子65には、被検眼の前眼部と、被検眼に投影されたアライメント指標が受光される。
次に、制御系の構成について説明する。二次元受光素子52は第1画像処理部81と接続されており、第1画像処理部81は二次元受光素子52によって撮像された画像信号から、画像処理により被検眼瞳孔及びアイレベル確認マーク14を抽出し、被検眼とアイレベル確認マーク14の位置情報を検出する。また、二次元受光素子65は第2画像処理部82と接続されており、第2画像処理部82は角膜反射によるアライメント指標像に基づいて、被検眼に対する検査部5の細かいアライメント状態を検出する。なお、二次元受光素子52からの受光信号は主にラフなアライメントに利用され、二次元受光素子65からの受光信号は主に精密なアライメントに利用される。
なお、被検眼瞳孔及びアイレベル確認マーク14の抽出において、照明光源58から出射された赤外光が被検眼に対して斜め方向から照明されるため、眼底からの反射光の発生が少なくなり瞳孔部分は他の前眼部に比べて暗くなるので、瞳孔部分を抽出できる。なお、本実施形態においては、赤外照明された瞳孔から被検眼の位置を検出するような構成としたが、これに限るものではなく、照明された被検者の頭部の輪郭から被検眼の位置を求めるようにしてもよいし、人から放射される赤外線(熱)を撮像素子で検出することで、頭部位置を検出し、その検出結果からおおよその眼の位置を求めるようにしてもよい。
なお、アイレベル確認マーク14は、二次元受光素子52により撮像される顔支持ユニット10の他の部分と比較して、色が濃いため、これを基にアイレベル確認マーク14を抽出できる。
また、制御部90は、表示モニタ8に接続されており、その表示画像を制御する。制御部90には、第1画像処理部81、第2画像制御部82、Y駆動部6、XZ駆動部7、モータ24、フォトセンサ28、ジョイスティック4、スイッチ部9a及び9b、タッチセンサ13が接続されている。
以上のような構成を備える眼科装置において、その動作について説明する。被検者の顎が顎受け12に置かれると、タッチセンサ13からの検知信号が制御部90に入力される。そして、制御部90は、タッチセンサ13から検知信号が入力された状態で、検者によるアライメント開始スイッチ9aの入力がある(タッチセンサ13から検知信号のみで開始するようにしてもよい)と、被検眼に対する検査部5のアライメント(ラフなアライメント及び精密なアライメントを含む)の動作を開始する。なお、本実施形態においては、右眼から先に検査を行うような設定となっている(検者の操作入力により左右眼のいずれかを選択するようにしてもよい)。
ここで、二次元受光素子52により撮像される低倍率の画像により(図4参照)、被検者の両眼の位置とアイレベル確認マーク14が抽出される。ここで、第1画像処理部81は、二次元受光素子52から得られる画像から濃淡情報を取り出すことにより瞳孔の黒い部分を抽出するとともに、アイレベル確認マーク14を抽出する。そして、これに基づいて被検眼(左右方向の位置情報の検出も可能)とアイレベル確認マーク14の位置情報を検出する。
被検眼とアイレベル確認マーク14の位置情報が検出されると、制御部90は、被検眼とアイレベル確認マーク14がほぼ同じ高さになるように、顎受け移動機構30のモータ24を駆動制御することにより顎受け12を移動させる。なお、アイレベル確認マーク14よりも被検眼が下方向にある場合には、顎受け12を上方向に移動させ、アイレベル確認マーク14よりも被検眼が上方向にある場合には、顎受け12を下方向に移動させるように、顎受け移動機構30を駆動制御する。
なお、アイレベル確認マーク14の位置情報が検出された際に、検査光学系5aの検査光軸L1とアイレベル確認マーク14がほぼ同じ高さになるように、Y駆動部6を駆動して検査部5の高さを合わせておくようにしてもよい。この場合、制御部90は、アイレベル確認マーク14の高さ位置に向かって検査部5が移動するように、第1画像処理部81の検出結果を用いて、Y駆動部6を駆動制御する。このようにすれば、後述する精密なアライメントにスムーズに移行することができる。なお、上記のように特定された被検眼の位置情報に基づいて、XZ駆動部7を駆動制御して被検眼(例えば、右眼)に対する左右方向のラフなアライメントを行うようにしてもよい。
そして、被検眼とアイレベル確認マーク14がほぼ同じ高さになったら、被検眼に向かって検査部5が移動するように、第1画像処理部81の検出結果を用いてY駆動部6を駆動制御する。このようにして被検眼と検査部5がラフにアライメントされ、二次元受光素子65によりアライメント指標像が撮像されるようになったら、アライメント指標像の検出による検査部5の駆動制御に切換える。なお、顎受け12の移動の最中であっても、二次元受光素子65によりアライメント指標像が撮像されるようになったら、検査部5の移動を行うようにしてもよい。二次元受光素子65により撮像された指標像は、第2画像処理部82により検出処理される(図5参照)。そして、制御部90は、検出された指標像から、アライメント指標投影光学系40の第1指標投影光学系による無限遠指標像81cと81dの中間位置を角膜頂点位置M0としてXY方向における検査部5の位置ずれを求め、これに基づいてY駆動部6及びXZ駆動部7を駆動制御して検査部5をXY方向に移動させる。また、Z方向のアライメント状態は、第2指標投影光学系による有限遠指標像81a、81bと前述の無限遠指標像81c,81dとの像間隔を比較することにより検出される(この詳細は特開平6−46999号公報参照)。制御部90は、これに基づいて、XZ駆動部7を駆動制御して測定部5を前後(Z)方向に移動させる。このようにして、被検眼に対する検査部5のアライメント状態が適正になったら、制御部90は、検査開始のトリガ信号を発して検査光学系5aの動作による被検眼の検査を実行する。
以上のような構成とすれば、検査部5の上下方向の位置を検出する位置検出機構を必須とせず、アイレベル確認マーク14と被検眼の位置関係から被検眼に対するラフなアライメントを容易に行うことができる。なお、本実施形態のような構成においても、パルスモータ等の位置検出機構を用いてもよい。
また、以上のような構成とすれば、第1アライメント検出光学系50からの撮像結果にに基づいてモニタ8に被検眼とアイレベル確認マーク14を共に表示させることができるため、検者自身が被検眼とアイレベル確認マーク14との関係を確認しながら、スイッチ9bにより顎受け12を上下動させることにより、ラフなアライメントを行うことができる(図6参照)。これにより、検者は、従来のように眼科装置100の側面側に移動して、アイレベル確認マーク14と被検眼との位置を確認する必要が無くなるため、検者の手間を軽減することができる。また、図6のように、アイレベル確認マーク14の高さを補助的に示すグラフィック(本実施形態では、補助線L)を表示することにより、検者にとってアイレベル確認マーク14の位置が分かりやすく、ラフなアライメントがしやすくなる。
なお、第1アライメント検出光学系50において、本実施形態では、検査部5の下部に配置する構成としたがこれに限るものではない。すなわち、第1アライメント検出光学系50を検査光軸L1に対して左右いずれかにずらして配置するようにしてもよい。この場合、少なくとも左右眼のいずれか、及びその方向にあるアイレベル確認マーク14を撮像可能な撮像範囲を有する構成としておく(図7参照)。このような構成とすれば、本実施形態と比較して、第1検出光学系50の撮像範囲が小さくて済む。
なお、第1画像処理部81によりアイレベル確認マーク14を抽出する場合において、本実施形態のように、アイレベル確認マーク14と他の部分とのコントラストがある程度つけられているのが好ましい。このようにすれば、アイレベル確認マーク14の位置検出がしやすくなる。このような構成としては、他に、アイレベル確認マーク14に照明光の反射率を下げるための処理(例えば、微小間隔で凹凸をつける、傾斜を付ける、孔を空けておく、しぼなど)を施すようなことが考えられる(逆でもよい)。また、アイレベル確認マーク14自体を発光部材(例えば、発光ダイオード)で構成するようにしてもよい。
また、アイレベル確認マーク14は、二次元受光素子52にて撮像されたアイレベル確認マーク像を第1画像処理部81により画像処理にて検出しやすくするために、所定の面積(幅を太くする、大きくするなど)を有するようにしてもよい。また、アイレベル確認マーク14を検出可能な範囲で、小さく又は細くする(部分的も含む)ようにすれば、アイレベル確認マーク14の位置を精度よく検出することができる。
なお、眼科装置100にて、比較的身長の低い被検者(子供など)や比較的身長の大きい被検者(身長が2mを超える人など)の被検眼の検査を行うような場合、被検者が無理な体勢で顔部の固定を行う場合もある。この場合、従来では、検者によって椅子やテーブル(載置台)の高さを調節していた。
このような場合、図8に示すように、顎受け12の上下動と連動して、眼科装置100を載置するテーブル101や検眼時に被検者が座るための椅子105などの上下動させるようにするとよい。なお、102はテーブル101の天板を上下動させるための駆動機構であり、106は椅子105の座部を上下動させるための駆動機構である。例えば、被検者が楽な姿勢で椅子105にかけた状態を第1アライメント検出光学系50により撮影する。その後、制御部90は、撮影結果から被検眼とアイレベル確認マーク14とが所定の位置関係(例えば、高さが一致する)となるように、テーブル101の天板または/及び椅子105の座部を上下動させ、被検眼とアイレベル確認マーク14との相対的な位置関係を調節する。
その後、顔支持ユニットと被検者の顔が良好な関係となるように、前述した方法を用いて顎受け12の上下動させる。このように、顎受け12の上下動と連動して、眼科装置を載置するテーブルや被検者が座るための椅子などの高さを調整させるような構成とすれば、検者の手間無く、より効率よく被検眼に対するラフなアライメントを行うことができる。この場合、座位状態にある被検者の身長に関係なく、被検眼の位置が検出できるような撮像範囲を第1アライメント検出光学系50に持たせることが好ましい。なお、本実施形態においては、第1アライメント検出光学系50により撮影された撮影結果から被検眼と眼科装置との相対的な位置関係を得るための基準として、アイレベル確認マーク14を用いたが、これに限るものではなく、検眼時において被検者の顔部または眼等の特徴点と、所定の基準位置との相対的な位置関係を考慮して、椅子やテーブルを駆動させることもできる。例えば、所定の基準位置としては、前述したアイレベル確認マークの他に、検眼部の位置情報等を用いることもできる。
なお、本実施形態においては、顎受け12に設けられたタッチセンサ13からの検知信号及び検者によるアライメント開始スイッチ9aからの入力信号があった際に、アライメント動作が開始される構成としたが、これに限るものではない。例えば、図8のように被検者を椅子に座らせた状態で検査部5の検査窓5b付近を目視してもらい、この状態で二次元受光素子52により撮像された検査部5の前に位置する被検眼とアイレベル確認マーク14の位置情報を検出し、これに基づいて顎受け移動機構30を駆動制御して顎受け12を上下動させるようにしてもよい。このようにすれば、被検者が顎を顎受け12を載せた際に、顎受け12の移動量が少なくて済み、被検者の負担が軽減される。また、検査時間の短縮化も可能である。
なお、本実施形態のように、検査部5の下側(例えば、検査光学系5aの対物レンズ12より下側)に第1検出光学系50を設けるようにすれば、被検者の顔が遮光の役目を果たし、外部照明等の外乱光が二次元受光素子52に入射してくるのを防止することができるとともに、被検者の睫によって被検眼が隠れてしまう可能性が少なくすることができる。また、本実施形態においては、第1検出光学系50を検査光学系5aと光路を共用せず独立させたため、検査光学系5a側の事情によって撮像範囲を制限されることなく、広範囲の撮像範囲を得ることができる。
なお、本実施形態においては、顔支持ユニット10にアイレベル確認マーク14を付した構成としたが、これに限るものではない。すなわち、アイレベル確認マーク14が付されたアイレベル確認部材を眼科装置100に固設するようにしてもよい。例えば、本体部3の左右中央付近にアイレベル確認マーク14が付されたアイレベル確認部材を付設しておけば、図9のような画像が二次元受光素子52により撮像されるので、このときのアイレベル確認マーク14と被検眼の位置情報に基づいてラフなアライメントを行うようにしてもよい。
なお、上記のように二次元受光素子52によって撮像された画像からの情報に基づいてアライメントを行うような場合、アイレベル確認マーク14に図10のような一定の幅を持たせるような構成としてもよい。この場合、例えば、アイレベル確認マーク14は、検査部5の移動による精密なアライメントへの影響(リミット位置に近いなど)が少ない程度に、被検眼の上下方向の位置が設定できるように付されたものである。すなわち、被検眼が図中のA1〜A2までの間にあれば、被検眼に対する検査部5の移動による精密なアライメントを効率よく行うことができる。
なお、アイレベル確認マーク14は、検査部5の位置を確認するための位置確認マークとしての役割を持たせることが可能である。すなわち、制御部90は、二次元受光素子52によって撮像された画像信号からアイレベル確認マーク(位置確認マーク)14を抽出し、その位置確認マーク像を前記検査部5の移動の際の基準情報として用いることが可能である。この場合、アイレベル確認マーク14を検出するための専用の撮像素子を設けるようにしてもよい(1方向のみの検出の場合、リニアCCD等を用いてもよい)。なお、図11に示すように、位置確認マーク14を被検者の額当て部分に配置するようにしてもよい。
ここで、上下(Y)方向に関して、制御部90は、位置確認マーク14に対する検査部5の上下方向の偏位量から検査部5の上下方向における位置情報を検出することができる。この情報を利用すれば、制御部90は、検査部5を初期位置(例えば、検査部5の上下方向の移動可能範囲の中間位置)に戻すようにY駆動部6を駆動制御したり、検査部5が上下リミット位置にあるような場合にモニタ8に検査部5を移動させる旨を表示するようにして検者に知らせるようなことが可能となる。
また、左右(X)方向に関して、制御部90は、位置確認マーク14に対する検査部5の左右方向の偏位量から検査部5の左右方向における位置情報を検出することができる。この情報を利用すれば、制御部90は、検査部5を初期位置(例えば、左右方向の移動可能範囲の中間位置)に戻すようにXZ駆動部7を駆動制御するようなことが可能となる。また、本実施形態のように、左右二つの位置確認マーク14を撮像できるようにすれば、左右の位置確認マーク14の中間位置の検出が容易となり、検査部5の位置の初期化等が容易となる。
また、前後(Z)方向に関して、制御部90は、二次元受光素子52によって撮影された位置確認マーク14のサイズから検査部5の前後方向における位置情報を検出することができる。この場合、予め検査部5の前後方向の基準位置における位置確認マーク14のサイズを設定(記憶)しておき、設定したサイズよりも大きい時には基準位置より被検者側に近いことが判り、設定したサイズよりも小さい時には基準位置より被検者側から遠いことが判る。また、二つの位置確認マーク14(図4や図11参照)を撮像できる場合、2つの位置確認マーク14の間隔から検査部5の前後方向における位置情報を検出することも可能である。この場合、予め前後方向の基準位置における左右の位置確認マーク14の間隔を設定し、設定した間隔よりも広い時には基準位置より被検者側に近いことが判り、設定した間隔よりも狭い時には基準位置より被検者側から遠いことが判る。この情報を利用すれば、制御部90は、検査部5を初期位置(例えば、前後方向の移動可能範囲の中間位置)に移動させるようXZ駆動部7を駆動制御するようなことが可能となる。
上記のような構成とすれば、装置筐体内に検査部5の位置を把握するための位置検出機構を設ける必要がなくなる。すなわち、撮像素子に撮像された画像を元に画像処理により検査部5の位置情報を求めることにより、装置構成を簡略化させることができる。
また、本実施形態のように、被検眼の両眼及び左右のアイレベル確認マーク14を撮像可能な構成とすれば、既知の値である左右のアイレベル確認マーク14間の距離から前後方向の位置情報が検出できるので、被検眼の両眼撮影により得ることができる被検眼の瞳孔間距離(PD)に補正処理を施すことが可能である。すなわち、所定の基準位置に対して検査部5の前後方向の位置が基準位置からずれた分だけ得られたPDに補正をかけることにより、精度良く被検眼の瞳孔間距離を求めることができる。この場合、前述のようにアイレベル確認マークのサイズから検査部5の前後(作動距離)方向の位置情報を求めるようにしてもよい。なお、上記のような作動距離の基準位置からのずれに対する補正処理は、撮像結果から得られる被検眼の他の計測値(例えば、被検眼の角膜径)を求めるような際にも適用可能である。
また、一定の間隔で目盛り等を顔支持ユニット10に付しておき、ポテンショメータやパルスモータ等を用いることなく、検査部5の上下または左右方向の位置情報を取得するようにしてもよい。すなわち、アイレベル確認マーク14を被検眼の各種計測に用いるようにしてもよい。
本実施形態の眼科装置の外観概略図である。 顎受け移動機構の構成を示す概略断面図である。 本実施形態の検査部内に設けられた光学系及び制御系の構成を説明する概略構成図である。 第1アライメント検出光学系の持つ二次元受光素子によって撮像された画像を示す図である。 第2アライメント検出光学系の持つ二次元受光素子によって撮像された画像を示す図である。 アイレベル確認マークの高さを補助的に示すグラフィックを表示した場合のモニタの表示画面を示す図である。 少なくとも左右眼のいずれか、及びその方向にあるアイレベル確認マークを撮像した場合について説明する図である。 眼科装置を載置するテーブルや検眼時に被検者が座るための椅子などの上下動させる構成について説明する図である。 本体部の左右中央付近にアイレベル確認マークが付されたアイレベル確認部材を付設した場合の撮像結果を説明する図である。 一定の幅を持つアイレベル確認マークについて示す図である。 位置確認マークを被検者の額当て部分に配置した場合について示す図である。
符号の説明
5 検査部
6 Y駆動部
10 顔支持ユニット
12 顎受け
14 アイレベル確認マーク
24 モータ
30 顎受け移動機構
50 第1アライメント検出光学系
81 第一画像処理部
90 制御部
101 テーブル
102 駆動機構
105 椅子
106 駆動機構


Claims (5)

  1. 被検眼の検眼を行うための検眼部を有する眼科装置において、被検者の顎を受ける顎受け台と、該顎受けを上下に駆動する駆動手段と、前記顎受け台に顎を乗せた状態での被検眼の高さ位置を確認するためのアイレベル確認マークが付されたアイレベル確認部材と、前記検眼部の前に位置する被検眼と前記アイレベル確認部材に付されたアイレベル確認マークとを撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された画像を基に画像処理により前記アイレベル確認マーク及び被検眼の位置情報を検出する検出手段と、前記検出手段の検出結果に基づいて前記駆動手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする眼科装置。
  2. 請求項1の眼科装置において、前記アイレベル確認部材に付されたアイレベル確認マークは、前記撮像手段にて撮像された前記アイレベル確認マーク像を前記検出手段による画像処理にて検出可能とするための所定の面積を有していることを特徴とする眼科装置。
  3. 請求項1の眼科装置は、前記検眼部を少なくとも上下方向に移動させるための上下駆動手段を有し、前記制御手段は前記検出手段の検出結果に基づいて被検眼を前記アイレベル確認マークとほぼ同じ高さとなるように前記駆動手段を駆動させるとともに,前記アイレベル確認マークの高さ位置に向かって前記検眼部が移動するように前記検出手段の検出結果を用いて前記上下駆動手段を駆動制御することを特徴とする眼科装置。
  4. 請求項1の眼科装置において、該眼科装置を載置する載置台または検眼時に被検者が座る椅子の少なくともどちらか一方の高さを調整する位置調整手段を有し、該位置調整手段は、前記検出手段の検出結果に基づいて該眼科装置と被検眼との相対的な位置関係を調整することを特徴とする眼科装置。
  5. 被検眼の検眼を行うための検眼部を有する眼科装置において、位置確認マークが付された位置確認部材と、前記位置確認部材に付された位置確認マークを撮像する撮像手段と、前記撮像手段によって撮像された画像から前記位置確認マーク像を検出する検出手段と、前記検眼部の移動を制御する制御手段とを備え、該制御手段は、前記検出手段によって検出される前記位置確認マーク像を前記検眼部の移動の際の基準情報として用いることを特徴とする眼科装置。


JP2005104607A 2005-03-31 2005-03-31 眼科装置 Active JP4822730B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005104607A JP4822730B2 (ja) 2005-03-31 2005-03-31 眼科装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005104607A JP4822730B2 (ja) 2005-03-31 2005-03-31 眼科装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006280612A true JP2006280612A (ja) 2006-10-19
JP4822730B2 JP4822730B2 (ja) 2011-11-24

Family

ID=37403129

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005104607A Active JP4822730B2 (ja) 2005-03-31 2005-03-31 眼科装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4822730B2 (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008136617A (ja) * 2006-11-30 2008-06-19 Nidek Co Ltd 眼科装置
EP2085023A1 (en) 2008-02-01 2009-08-05 Nidek Co., Ltd. Ophtalmic apparatus
JP2014050759A (ja) * 2013-12-19 2014-03-20 Topcon Corp 眼科装置
JP2015139527A (ja) * 2014-01-28 2015-08-03 キヤノン株式会社 眼科装置
WO2016129499A1 (ja) * 2015-02-09 2016-08-18 株式会社ニデック 眼屈折力測定装置
JP2016187694A (ja) * 2012-05-01 2016-11-04 株式会社トプコン 眼科装置
US9980643B2 (en) 2012-05-01 2018-05-29 Kabushiki Kaisha Topcon Ophthalmologic apparatus
JP2020156555A (ja) * 2019-03-25 2020-10-01 株式会社トプコン 眼科装置
JP2021053353A (ja) * 2019-09-27 2021-04-08 株式会社トプコン 眼科装置
JP2021145971A (ja) * 2020-03-19 2021-09-27 株式会社トプコン 眼科装置
WO2022091945A1 (ja) 2020-11-02 2022-05-05 株式会社トプコン 眼科システム、眼科装置遠隔操作方法、眼科装置遠隔操作プログラム

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04288119A (ja) * 1991-03-18 1992-10-13 Canon Inc 眼科装置用顔固定台
JPH08173383A (ja) * 1994-12-26 1996-07-09 Topcon Corp 眼科器械
JPH08224213A (ja) * 1995-02-22 1996-09-03 Nikon Corp 眼科装置
JPH09149885A (ja) * 1995-11-30 1997-06-10 Nidek Co Ltd 眼科装置
JPH10216089A (ja) * 1997-02-10 1998-08-18 Nidek Co Ltd 眼科装置
JPH11276436A (ja) * 1998-03-30 1999-10-12 Topcon Corp 眼科装置
JP2004174155A (ja) * 2002-11-29 2004-06-24 Nidek Co Ltd 眼科装置
JP2004173724A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Nidek Co Ltd 眼科装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04288119A (ja) * 1991-03-18 1992-10-13 Canon Inc 眼科装置用顔固定台
JPH08173383A (ja) * 1994-12-26 1996-07-09 Topcon Corp 眼科器械
JPH08224213A (ja) * 1995-02-22 1996-09-03 Nikon Corp 眼科装置
JPH09149885A (ja) * 1995-11-30 1997-06-10 Nidek Co Ltd 眼科装置
JPH10216089A (ja) * 1997-02-10 1998-08-18 Nidek Co Ltd 眼科装置
JPH11276436A (ja) * 1998-03-30 1999-10-12 Topcon Corp 眼科装置
JP2004173724A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Nidek Co Ltd 眼科装置
JP2004174155A (ja) * 2002-11-29 2004-06-24 Nidek Co Ltd 眼科装置

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008136617A (ja) * 2006-11-30 2008-06-19 Nidek Co Ltd 眼科装置
EP2085023A1 (en) 2008-02-01 2009-08-05 Nidek Co., Ltd. Ophtalmic apparatus
US7703920B2 (en) 2008-02-01 2010-04-27 Nidek Co., Ltd. Ophthalmic apparatus
JP2016187694A (ja) * 2012-05-01 2016-11-04 株式会社トプコン 眼科装置
US9980643B2 (en) 2012-05-01 2018-05-29 Kabushiki Kaisha Topcon Ophthalmologic apparatus
JP2014050759A (ja) * 2013-12-19 2014-03-20 Topcon Corp 眼科装置
JP2015139527A (ja) * 2014-01-28 2015-08-03 キヤノン株式会社 眼科装置
JPWO2016129499A1 (ja) * 2015-02-09 2017-11-16 株式会社ニデック 眼屈折力測定装置
WO2016129499A1 (ja) * 2015-02-09 2016-08-18 株式会社ニデック 眼屈折力測定装置
JP2020156555A (ja) * 2019-03-25 2020-10-01 株式会社トプコン 眼科装置
JP7365778B2 (ja) 2019-03-25 2023-10-20 株式会社トプコン 眼科装置
JP2021053353A (ja) * 2019-09-27 2021-04-08 株式会社トプコン 眼科装置
JP7394671B2 (ja) 2019-09-27 2023-12-08 株式会社トプコン 眼科装置
JP2021145971A (ja) * 2020-03-19 2021-09-27 株式会社トプコン 眼科装置
JP7444660B2 (ja) 2020-03-19 2024-03-06 株式会社トプコン 眼科装置
WO2022091945A1 (ja) 2020-11-02 2022-05-05 株式会社トプコン 眼科システム、眼科装置遠隔操作方法、眼科装置遠隔操作プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP4822730B2 (ja) 2011-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4822730B2 (ja) 眼科装置
KR101581951B1 (ko) 안과 장치
KR101548225B1 (ko) 안과장치 및 안과 제어방법 및 기억매체
JP4462377B2 (ja) 多機能眼科検査装置
US20020085173A1 (en) System for measuring distances in the anterior chamber of the eye
JP6641730B2 (ja) 眼科装置、および眼科装置用プログラム
US11471049B2 (en) Ophthalmologic apparatus
JP2014079496A (ja) 眼科装置および眼科制御方法並びにプログラム
JP3935834B2 (ja) 眼科装置
JP6701987B2 (ja) 眼科装置、および眼科装置制御プログラム
JP2016059726A (ja) 眼科装置
CN110604543A (zh) 眼科装置
WO2010064492A1 (ja) 多機能眼科検査装置
JP2010200905A (ja) 眼科装置
JP6862685B2 (ja) 眼科装置、および眼科装置制御プログラム
JP4937717B2 (ja) 眼科装置
JP6701988B2 (ja) 眼科装置
JP4649218B2 (ja) 眼科装置
JP6962765B2 (ja) 眼科装置
JP3504380B2 (ja) 眼科装置
JP2007061314A (ja) 眼科装置
JP7553190B2 (ja) 眼科装置及びその作動方法
JP7216562B2 (ja) 眼科装置
EP4437936A1 (en) Ophthalmological apparatus
JP7186048B2 (ja) 眼科装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080331

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101027

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101201

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110413

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110613

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110809

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110906

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4822730

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140916

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250