JP2006277082A - 降圧回路 - Google Patents
降圧回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006277082A JP2006277082A JP2005092426A JP2005092426A JP2006277082A JP 2006277082 A JP2006277082 A JP 2006277082A JP 2005092426 A JP2005092426 A JP 2005092426A JP 2005092426 A JP2005092426 A JP 2005092426A JP 2006277082 A JP2006277082 A JP 2006277082A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- voltage
- power supply
- supply voltage
- internal power
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
【課題】内部電源電圧の安定した生成を目指した降圧回路を提供する。
【解決手段】降圧回路3は、内部電源電圧Vintと基準電圧Vrefとの電圧差に応じた差動増幅電圧Vout1を生成するオペアンプ11と、その差動増幅電圧Vout1の制御を受ける駆動トランジスタDmとを備え、負荷回路2に内部電源電圧Vintを供給するメイン回路4と、内部電源電圧Vintと基準電圧Vrefとの電圧差に応じた差動増幅電圧Vout2を生成するオペアンプ12と、その差動増幅電圧Vout2の制御を受ける駆動トランジスタDsとを備え、負荷回路2に内部電源電圧Vintを供給するスタートアップ回路5とを備える。この降圧回路3において、メイン回路4の駆動トランジスタDmは連続的に負荷電流Imを供給し、スタートアップ回路5の駆動トランジスタDsは内部電源電圧Vintのレベルに応じて一時的に負荷電流Isを供給する。
【選択図】 図2
【解決手段】降圧回路3は、内部電源電圧Vintと基準電圧Vrefとの電圧差に応じた差動増幅電圧Vout1を生成するオペアンプ11と、その差動増幅電圧Vout1の制御を受ける駆動トランジスタDmとを備え、負荷回路2に内部電源電圧Vintを供給するメイン回路4と、内部電源電圧Vintと基準電圧Vrefとの電圧差に応じた差動増幅電圧Vout2を生成するオペアンプ12と、その差動増幅電圧Vout2の制御を受ける駆動トランジスタDsとを備え、負荷回路2に内部電源電圧Vintを供給するスタートアップ回路5とを備える。この降圧回路3において、メイン回路4の駆動トランジスタDmは連続的に負荷電流Imを供給し、スタートアップ回路5の駆動トランジスタDsは内部電源電圧Vintのレベルに応じて一時的に負荷電流Isを供給する。
【選択図】 図2
Description
この発明は、降圧回路にかかり、詳しくは、外部電源電圧を所定の電圧に降圧して内部回路用の電源電圧を生成する降圧回路に関する。
近年、SOC(System On a Chip)等の半導体装置は、高集積化、低消費電力化及び高速化がますます要請されている。このような半導体装置には、消費電力を低減するため、あるいは内部回路を構成する素子を保護するために、外部から供給される電源電圧(外部電源電圧)を降圧して内部回路に供給する動作電圧(内部電源電圧)を生成する降圧回路が用いられている。従来、このような降圧回路としては、例えば、図5に示す構成のものが広く知られている。
図5に示すように、降圧回路30は半導体装置31に備えられている。この降圧回路30は、外部電源電圧VDDを所定のレベルに降圧した内部電源電圧Vintを生成し、この内部電源電圧Vintを半導体装置31の内部回路(例えばSRAMなど)である負荷回路32に供給する。負荷回路32には、該負荷回路32の動作状態をスタンバイ状態とアクティブ状態との間で切り替え制御するための外部コントロール信号CEが供給される。この外部コントロール信号CEは降圧回路30にも供給され、該降圧回路30の動作が負荷回路32のスタンバイ状態/アクティブ状態に応じて外部コントロール信号CEにより切り替え制御されるようになっている。
即ち、この降圧回路30は、負荷回路32がスタンバイ状態のときに活性化されるスタンバイ用降圧回路(以下、S−VDCという)と、負荷回路32がアクティブ状態のときに活性化されるアクティブ用降圧回路(以下、A−VDCという)とを備え、これらS−VDCとA−VDCとの動作が外部コントロール信号CEにより切り替えられるようになっている。
このようなS−VDCとA−VDCはそれぞれ、負荷回路32のスタンバイ状態とアクティブ状態とにおいて半導体装置31全体の消費電力に大きく影響を与えない程度の消費電力で動作するように設計されている。例えば、負荷回路32がスタンバイ状態のときは、半導体装置31全体の消費電力に影響を与えないように、S−VDCの消費電力も小さく抑えられる。一方、負荷回路32がアクティブ状態のときは、降圧回路30に許容される範囲内において同降圧回路30の消費電力を上げ、A−VDCの動作レスポンス(応答速度)を最適化する。これにより、スタンバイ時における消費電力の低減と、アクティブ時における動作レスポンスの高速化とを図っている。
ところで、上記のような降圧回路30では、スタンバイ状態とアクティブ状態との間でS−VDCとA−VDCの動作を切り替えた時に、降圧回路30の出力レベル(内部電源電圧Vint)に過渡的な動作不安定現象(発振現象)が発生するという問題があった。即ち、S−VDCとA−VDCとはそれぞれ理論上は、設定電圧とする基準電圧に略一致するレベルで内部電源電圧Vintが生成されるように設計されるが、実際には、両者により生成される各内部電源電圧Vintのレベルは必ずしも一致するものとはならない。その結果、こうした出力レベルの異なる状態で、S−VDCとA−VDCとの動作を切り替えた時に、降圧回路30の出力に発振が生じ、内部電源電圧Vintが一時的に不安定なレベルになることがあった。
この発明は、こうした従来の実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、内部電源電圧の安定した生成を目指した降圧回路を提供することにある。
以下、上記の目的を達成するための手段及びその作用について記載する。
請求項1に記載の発明では、外部電源電圧を所定の基準電圧に基づいた降圧レベルで内部電源電圧を生成し、負荷回路に前記内部電源電圧を供給する降圧回路において、前記内部電源電圧と前記基準電圧との電圧差に応じた第1駆動電圧を生成する第1差動増幅回路と、前記第1駆動電圧の制御を受ける第1駆動トランジスタとを備え、前記負荷回路に前記内部電源電圧を供給するメイン回路と、前記内部電源電圧と前記基準電圧との電圧差に応じた第2駆動電圧を生成する第2差動増幅回路と、前記第2駆動電圧の制御を受ける第2駆動トランジスタとを備え、前記負荷回路に前記内部電源電圧を供給するスタートアップ回路と、を備え、前記第1駆動トランジスタは連続的に負荷電流を供給し、前記第2駆動トランジスタは前記内部電源電圧のレベルに応じて一時的に負荷電流を供給することを要旨とする。
この構成によれば、メイン回路の第1駆動トランジスタは、連続的に負荷電流を供給する。これに対してスタートアップ回路の第2駆動トランジスタは、内部電源電圧のレベルに応じてオン/オフ制御され一時的に負荷電流を供給するものとなる。このように、常時はメイン回路から負荷電流を供給し、スタートアップ回路からは一時的に負荷電流を供給することで、降圧回路の出力である内部電源電圧のレベルが不安定になることを回避することができる。
請求項2に記載の発明では、請求項1に記載の降圧回路において、前記第2駆動トランジスタは、前記内部電源電圧が前記基準電圧以下に設定される所定の電圧より小さいときに負荷電流を供給することを要旨とする。
この構成によれば、スタートアップ回路は電源投入後など内部電源電圧が所定の電圧より低い期間だけ活性化され、その後内部電源電圧が所定の電圧以上となる期間は不活性に制御される。即ち、この構成では内部電源電圧が所定の電圧に達した後はスタートアップ回路を自己整合的に不活性化させることができる。また、本構成によれば、こうした電源投入後の期間だけでなく、メイン回路の出力レベルが所定の電圧より低いレベルのときには第2駆動トランジスタがオンされて再度スタートアップ回路が活性化される。これは、例えば負荷回路がアクティブ状態にあるときなど、負荷回路の消費電流が大きいときには、内部電源電圧に変動が生じてメイン回路の出力レベルが基準電圧よりも低下することが考えられる。こうした場合に、スタートアップ回路を活性化させる。
請求項3に記載の発明では、請求項1又は2に記載の降圧回路において、前記第1差動増幅回路を電気的特性が非対称になるように構成し、前記第2差動増幅回路を電気的特性が対称になるように構成したことを要旨とする。
この構成によれば、メイン回路における第1差動増幅回路の電気的な非対称性により、メイン回路の出力レベル、即ちメイン回路により生成される内部電源電圧は基準電圧よりも若干高いレベルまで引き上げられる。その結果、スタートアップ回路における第2差動増幅回路の電気的な対称性により、内部電源電圧を帰還入力して基準電圧との比較を行う同第2差動増幅回路からの第2駆動電圧は、第2駆動トランジスタの出力をカットオフさせるレベルまで低下する。これにより第2駆動トランジスタをメイン回路の出力レベルに基づき自己整合的にオフさせることができる。
請求項4に記載の発明では、請求項3に記載の降圧回路において、前記第1差動増幅回路のカレントミラー対を構成する入力側の素子サイズと出力側の素子サイズとの比を1:x(但しx>1)に設定したことを要旨とする。
第1差動増幅回路を電気的な非対称性を有する構成とするには、例えば、第1差動増幅回路のカレントミラー対を構成する入力側の素子サイズと出力側の素子サイズとの比を1:x(但しx>1)に設定するといった手法を採用するのが好適である。こうすればメイン回路の出力レベルをスタートアップ回路の出力レベルよりも高く設定することができ、が、第2駆動トランジスタを自己整合的にオフさせる構成を実現することができる。
請求項5に記載の発明では、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の降圧回路において、前記第2駆動トランジスタを前記第1駆動トランジスタより小さな駆動能力に設定したことを要旨とする。
この構成によれば、スタートアップ回路における第2駆動トランジスタを、メイン回路における第1駆動トランジスタに比べて、小さなバイアス電流でも高いレスポンスで動作させることができる。その結果、降圧回路においては、目標とする電圧レベルまで内部電源電圧を速やかに引き上げることができると共に、内部電源電圧が所定の電圧に達した後は、スタートアップ回路を自己整合的に不活性化させることができる。
請求項6に記載の発明では、請求項1乃至5のいずれか一項に記載の降圧回路において、前記第2差動増幅回路を構成する素子を前記第1差動増幅回路を構成する素子より小さなサイズで形成し、前記第2駆動トランジスタを前記第1駆動トランジスタより小さなサイズで形成したことを要旨とする。
この構成によれば、請求項5に記載の発明と同様の作用が得られると共に、第2駆動トランジスタが第1駆動トランジスタよりも小さな素子サイズで形成されるため、回路面積の縮小を図ることができる。
上記したように、この発明によれば、内部電源電圧を安定的に生成し得る降圧回路を提供することができる。
以下、この発明を具体化した一実施の形態を図面に従って説明する。
図1は、本実施の形態に係る降圧回路を備える半導体装置の概略構成を示す回路ブロック図である。この半導体装置1は、外部から供給される外部電源電圧VDDを所定のレベルに降圧した内部電源電圧Vintを生成し、この内部電源電圧Vintを、半導体装置1の内部回路である負荷回路2に供給する降圧回路3を備えている。なお、負荷回路2(内部回路)は、本実施の形態においてはSRAM(Static-RAM)にて構成されており、この負荷回路2には、該負荷回路2の動作状態をスタンバイ状態とアクティブ状態との間で切り替え制御するための外部コントロール信号CEが供給される。
降圧回路3は、メイン回路4と、スタートアップ回路5とを備えている。メイン回路4は、実質的な降圧回路として動作するもので、外部電源電圧VDDの投入後、負荷回路2のスタンバイ状態とアクティブ状態とを問わず統一的に動作する。スタートアップ回路5は、所定の条件の下、専ら外部電源電圧VDDの投入初期(以下、電源投入初期という)の期間において動作する。なお、電源投入初期とは、外部電源電圧VDDが投入された後
、数ms程度が経過する迄の極めて短い期間をいう。メイン回路4とスタートアップ回路5との出力は直接ワイヤード・オア(Wired-OR)接続され、それら互いの出力端の電位が内部電源電圧Vintとして負荷回路2に供給されるようになっている。
、数ms程度が経過する迄の極めて短い期間をいう。メイン回路4とスタートアップ回路5との出力は直接ワイヤード・オア(Wired-OR)接続され、それら互いの出力端の電位が内部電源電圧Vintとして負荷回路2に供給されるようになっている。
図2は、降圧回路3の構成を示す回路図である。
まず、メイン回路4について説明する。
メイン回路4は、オペアンプ11と、該オペアンプ11の出力信号に基づいて駆動される駆動トランジスタDmとを備えている。なお、本実施の形態においては、オペアンプ11が第1差動増幅回路を構成し、駆動トランジスタDmが第1駆動トランジスタを構成している。
オペアンプ11は、非反転入力端子(+)に入力される基準電圧Vrefと、反転入力端子(−)に入力される内部電源電圧Vintとの電圧差を増幅した差動増幅電圧Vout1を第1駆動電圧として出力する。なお、基準電圧Vrefは、外部電源電圧VDDを降圧して内部電源電圧Vintを生成する際の目標とする電圧、即ち内部電源電圧Vintの設定電圧として与えられる電圧であり、この基準電圧Vrefは図示しない基準電圧発生回路にて発生される。
駆動トランジスタDmは、本実施の形態においてはNチャネル型MOSトランジスタ(以下、NMOSトランジスタという)で構成されている。この駆動トランジスタDmは、そのドレインに外部電源電圧VDDが印加されるとともに、そのソースに負荷回路(内部回路)2の内部電源端子(内部電源電圧Vintの供給端子)が接続され、そのゲートにオペアンプ11からの差動増幅電圧Vout1が供給される。
このメイン回路4においては、オペアンプ11の出力を駆動トランジスタDmを経由して同オペアンプ11に帰還入力する負帰還ループが構成され、オペアンプ11から出力される差動増幅電圧Vout1により駆動トランジスタDmのゲートを制御することで、同駆動トランジスタDmの充電電流Im(ソース電流)に基づく内部電源電圧Vintを基準電圧Vrefに略一致する電圧とするように生成する。
次に、スタートアップ回路5について説明する。
スタートアップ回路5は、オペアンプ12と、該オペアンプ12の出力信号に基づいて駆動される駆動トランジスタDsとを備えている。なお、本実施の形態においては、オペアンプ12が第2差動増幅回路を構成し、駆動トランジスタDsが第2駆動トランジスタを構成している。
オペアンプ12は、非反転入力端子(+)に入力される基準電圧Vrefと、反転入力端子(−)に入力される内部電源電圧Vintとの電圧差を増幅した差動増幅電圧Vout2を第2駆動電圧として出力する。駆動トランジスタDsは、本実施の形態においてはNMOSトランジスタで構成され、そのドレインに外部電源電圧VDDが印加されるとともに、そのソースに負荷回路2の内部電源端子が接続され、そのゲートにオペアンプ12からの差動増幅電圧Vout2が供給される。
このスタートアップ回路5においては、オペアンプ12の出力を駆動トランジスタDsを経由して同オペアンプ12に帰還入力する負帰還ループが構成され、オペアンプ12から出力される差動増幅電圧Vout2により駆動トランジスタDsのゲートを制御することで、同駆動トランジスタDsの充電電流Is(ソース電流)に基づく内部電源電圧Vi
ntを基準電圧Vrefに略一致する電圧とするように生成する。
ntを基準電圧Vrefに略一致する電圧とするように生成する。
このように、メイン回路4とスタートアップ回路5とは、回路そのものは互いに同様な構成を有するものであるが、本実施の形態においては、スタートアップ回路5を構成する素子がメイン回路4を構成する素子よりも小さなサイズで形成されることが好適である。したがって、その動作性能の面では両者は大きく異なるものとなっている。
具体的には、スタートアップ回路5の駆動トランジスタDsがメイン回路4の駆動トランジスタDmよりも小さな素子サイズで形成されている。これにより、スタートアップ回路5における駆動トランジスタDsのゲート制御性、つまりは、駆動トランジスタDsのスイッチング速度をメイン回路4における駆動トランジスタDmのゲート制御性よりも向上させるようにしている。また、スタートアップ回路5のオペアンプ12がメイン回路4のオペアンプ11よりも小さな素子サイズで形成されている。これにより、電源投入初期のスタートアップ回路5におけるオペアンプ12の動作レスポンス(応答速度)を、メイン回路4におけるオペアンプ11の動作レスポンスよりも向上させるようにしている。つまりは、スタートアップ回路5の負帰還ループにおけるフィードバック速度をメイン回路4のそれよりも向上させるようにしている。
言い換えれば、メイン回路4においては、負荷回路2のアクティブ時にも高いドライブ能力(電流駆動能力)が得られる十分な素子サイズにて駆動トランジスタDmやオペアンプ11が形成されている一方、スタートアップ回路5においては、そうしたドライブ能力を抑える反面、小さなバイアス電流でも高い動作レスポンスが得られるよう駆動トランジスタDmやオペアンプ11が極力小さな素子サイズで形成されている。
次に、オペアンプ11,12の回路構成を説明する。
まず、メイン回路4のオペアンプ11について説明する。
図3に示すように、メイン回路4のオペアンプ11は、負荷としてのカレントミラーを構成する一対のPチャネル型MOSトランジスタ(以下、PMOSトランジスタという)TP1,TP2と、差動対トランジスタを構成するNMOSトランジスタTN1,TN2と、電流源21とを備えている。
カレントミラーを構成するPMOSトランジスタTP1,TP2の各ソースには、外部電源電圧VDDが印加されている。また、PMOSトランジスタTP1,TP2の各ゲートは互いに接続されるとともに、PMOSトランジスタTP1のドレインに接続されている。また、PMOSトランジスタTP1,TP2の各ドレインは、差動対トランジスタを構成するNMOSトランジスタTN1,TN2の各ドレインにそれぞれ接続され、それらNMOSトランジスタTN1,TN2の各ソースは電流源21を介して接地電位に接続されている。そして、NMOSトランジスタTN1のゲートに基準電圧Vrefが入力されるとともに、NMOSトランジスタTN2のゲートに内部電源電圧Vintが入力され、それら基準電圧Vrefと内部電源電圧Vintとの電圧差を増幅した差動増幅電圧Vout1がNMOSトランジスタTN2とPMOSトランジスタTP2との接続点より第1駆動電圧として出力されるようになっている。
ここで、本実施の形態においては、上記カレントミラーの入力側のPMOSトランジスタTP1と出力側のPMOSトランジスタTP2とが1:x(x>1)のサイズ比で構成されている。即ち、オペアンプ11は電気的な非対称性を有するように構成されている。因みに、NMOSトランジスタTN1,TN2は同一サイズで形成されている。
このように構成されたオペアンプ11では、PMOSトランジスタTP1,TP2の互いの電流駆動能力の差異により、NMOSトランジスタTN2のソース・ゲート間電圧(Vgs2)がNMOSトランジスタTN1のソース・ゲート間電圧(Vgs1)よりも高くなる。その結果、メイン回路4では、オペアンプ11から駆動トランジスタDmを通じて出力される内部電源電圧Vintが上記PMOSトランジスタTP1,TP2のサイズ比(駆動能力差)に依存した電圧ΔV(>0)分だけ基準電圧Vrefよりも高い電圧(Vint=Vref+ΔV)で生成されるようになる。詳しくは後述するが、オペアンプ11の電気的な非対称性は、メイン回路4の出力レベルに基づいて、スタートアップ回路5における駆動トランジスタDsの出力を自己整合的にカットオフ(駆動トランジスタDsをオフ)するに足りる電圧ΔVとなるように設計される。
次に、スタートアップ回路5のオペアンプ12について説明する。
スタートアップ回路5のオペアンプ12は、基本的にはメイン回路4のオペアンプ11と同様な構成を有している。即ち、図3に括弧内に示すように、オペアンプ12は、負荷としてのカレントミラーをなすPMOSトランジスタTP3,TP4と、差動対トランジスタをなすNMOSトランジスタTN3,TN4と、電流源22とを備え、NMOSトランジスタTN3,TN4のゲートに入力される基準電圧Vrefと内部電源電圧Vintとの電圧差を増幅した差動増幅電圧Vout2をNMOSトランジスタTN4とPMOSトランジスタTP4との接続点より第2駆動電圧として出力するものとなっている。
このオペアンプ12においては、上記カレントミラーをなすPMOSトランジスタTP3,TP4、及び、入力差動対をなすNMOSトランジスタTN3,TN4はそれぞれ同一サイズで形成されている。即ち、オペアンプ12は電気的な対称性を有するように構成されている。このため、スタートアップ回路5では、オペアンプ12から駆動トランジスタDsを通じて出力される内部電源電圧Vintは基準電圧Vrefに略一致する電圧(Vint≒Vref)となるように生成される。
次に、降圧回路3の動作を説明する。
図4は、外部電源電圧VDDが投入されてからの降圧回路3の動作を示す波形図である。
まず、電源投入初期における降圧回路3の動作について説明する。
電源投入初期、負荷回路2には、スタートアップ回路5からの充電電流Isと、メイン回路4からの充電電流Imとが供給される。このとき負荷回路2での電流消費(消費電流Iu)は殆ど発生せず、Iu<<Is+Imとなる。
このような電源投入初期においては、メイン回路4とスタートアップ回路5とに供給されるバイアス電流が小さなものであるため、メイン回路4では、駆動トランジスタDmを十分にドライブするだけのゲート電圧(差動増幅電圧Vout1)が得られない。このため、メイン回路4からの充電電流Imは微少であり、内部電源電圧Vintの生成には殆ど寄与しないものとなる。一方、スタートアップ回路5においては、駆動トランジスタDs及びそれを駆動するオペアンプ12がメイン回路4におけるそれらよりも小さな素子サイズにて形成されているため、小さなバイアス電流でも高いレスポンスで動作することが可能である。つまりは、駆動トランジスタDsを十分にドライブすることが可能となっている。このため、電源投入初期において、負荷回路2に供給される充電電流はその大部分がスタートアップ回路5からの充電電流Isとなる。これにより、図4に示すように、電源投入初期には、スタートアップ回路5は一時的に充電電流Isを供給し、内部電源電圧
Vintは、スタートアップ回路5の出力レベルに基づいて、設定電圧とする基準電圧Vrefまで速やかに引き上げられる。
Vintは、スタートアップ回路5の出力レベルに基づいて、設定電圧とする基準電圧Vrefまで速やかに引き上げられる。
その後、図4に示すように、電源投入初期において、内部電源電圧Vintが基準電圧Vrefのレベルまで達すると、その後はメイン回路4とスタートアップ回路5とが協業して内部電源電圧Vintを生成する過渡期になる。
次に、負荷回路2がスタンバイ状態にあるときの降圧回路3の動作について説明する。
負荷回路2がスタンバイ状態にあるときは、該負荷回路2には、メイン回路4からの充電電流Imが供給される。このとき負荷回路2での消費電流IuはIu=Imとなる。
ここで、本実施の形態においては、メイン回路4のオペアンプ11が電気的な非対称性を有するように構成されているため、メイン回路4の出力レベルは基準電圧Vrefよりも電圧ΔVだけ高いレベルに制御される。それにより、メイン回路4の出力レベルがスタートアップ回路5の出力レベルよりも高くなり、その結果、負荷回路2にはメイン回路4の出力レベルを持つ内部電源電圧Vintが供給されるようになる。
このとき、スタートアップ回路5において、オペアンプ12の反転入力端子には、メイン回路4の出力レベルに基づいて、それと同レベルの内部電源電圧Vint(=Vref+ΔV)が入力されることになる。この場合、スタートアップ回路5のオペアンプ12は電気的な対称性を有するように構成されているため、同オペアンプ12の反転入力端子に入力される信号レベルが非反転入力端子に入力される信号レベルよりも高くなることで、同オペアンプ12の出力レベル、即ち、駆動トランジスタDsのゲートに入力される差動増幅電圧Vout2のレベルが低下することになる。その結果、駆動トランジスタDsの出力がカットオフされるようなる(厳密には、駆動トランジスタDsの出力がカットオフされるようにオペアンプ11の電気的非対称性が設定されている)。このように、負荷回路2がスタンバイ状態にあるときには、スタートアップ回路5の駆動トランジスタDsがメイン回路4の出力レベルに基づいて自己整合的にオフされる。これにより、図4に示すように、スタンバイ状態のときには、負荷回路2には、メイン回路4の駆動トランジスタDmを通じた充電電流Imのみ供給される。
次に、負荷回路2がアクティブ状態にあるときの降圧回路3の動作について説明する。
負荷回路2がアクティブ状態にあるときは、該負荷回路2には、メイン回路4からの充電電流Imが供給される。このとき負荷回路2での消費電流IuはIu=Imとなる。
図4に示すように、アクティブ状態においても、スタートアップ回路5の駆動トランジスタDsは、先のスタンバイ状態から引き続き、メイン回路4の出力レベルによりオフされたままの状態が維持される。メイン回路4の駆動トランジスタDmは、オペアンプ11のバイアス電流が先のスタンバイ状態のときよりも大きな値に制御され、強反転領域で動作するように制御される。これにより、アクティブ状態における降圧回路3の動作レスポンスを最適化している。
ところで、このようなアクティブ状態には、負荷回路2の消費電流Iuが増加し、メイン回路4の出力レベルが基準電圧Vrefのレベル以下に低下することが考えられる。この場合には、スタートアップ回路5において、オペアンプ12の反転入力端子に入力される信号レベルが非反転入力端子に入力される信号レベルよりも低くなることで、駆動トランジスタDsが駆動トランジスタDmに比べて低い動作レスポンスで再度駆動されるようになる。即ち、内部電源電圧Vintが基準電圧Vref以下に低下したときには、メイ
ン回路4及びスタートアップ回路5の双方の駆動トランジスタDm,Dsが駆動されるようになる。これにより、低下している内部電源電圧Vintが速やかに基準電圧Vrefまで引き上げられるようになる。その後はメイン回路4の出力レベルが基準電圧Vrefのレベルよりも高くなると、前記同様、スタートアップ回路5の駆動トランジスタDsがメイン回路4の出力レベルに基づいて自己整合的にカットオフされるものとなる。なお、このような動作は、負荷回路2のアクティブ状態に限らず、スタンバイ状態のときにおいても、内部電源電圧Vintが基準電圧Vref以下に低下するときには実施される。因みに、オペアンプ12の反転入力端子には、シュミットトリガ回路を介して内部電源電圧Vintを入力させることが好適である。
ン回路4及びスタートアップ回路5の双方の駆動トランジスタDm,Dsが駆動されるようになる。これにより、低下している内部電源電圧Vintが速やかに基準電圧Vrefまで引き上げられるようになる。その後はメイン回路4の出力レベルが基準電圧Vrefのレベルよりも高くなると、前記同様、スタートアップ回路5の駆動トランジスタDsがメイン回路4の出力レベルに基づいて自己整合的にカットオフされるものとなる。なお、このような動作は、負荷回路2のアクティブ状態に限らず、スタンバイ状態のときにおいても、内部電源電圧Vintが基準電圧Vref以下に低下するときには実施される。因みに、オペアンプ12の反転入力端子には、シュミットトリガ回路を介して内部電源電圧Vintを入力させることが好適である。
以上記述したように、本実施の形態では、以下の効果を奏することができる。
(1)外部電源電圧VDDの投入後、負荷回路2のスタンバイ状態とアクティブ状態とを通じて連続的に動作するメイン回路4と、専ら電源投入初期の期間に動作するスタートアップ回路5とを備えた。メイン回路4の駆動トランジスタDmやオペアンプ11に比べてスタートアップ回路5の駆動トランジスタDsやオペアンプ12をそれぞれ小型サイズのトランジスタで形成したことにより、小さなバイアス電流でもスタートアップ回路5の動作レスポンス(応答速度)を高速化させることができる。これにより、電源投入初期におけるスタートアップ回路5の動作レスポンスを高め、内部電源電圧Vintを設定電圧とする基準電圧Vrefまで素早く上昇させることができる。
(2)メイン回路4を電源投入初期から負荷回路2のスタンバイ状態とアクティブ状態とを通じて連続的に動作させるようにしたため、スタンバイ状態/アクティブ状態の動作切り替え時に降圧回路3の出力に過渡的な動作不安定現象が発生して内部電源電圧Vintのレベルが不安定になることを抑制することができる。
(3)スタートアップ回路5の駆動トランジスタDsに対しメイン回路4の駆動トランジスタDmは負荷回路2のアクティブ時にも高いドライブ能力(電流駆動能力)が得られる十分なサイズで構成される。これにより、アクティブ時における降圧回路3の動作レスポンスを最適化することができる。
(4)メイン回路4のオペアンプ11を電気的な非対称性を有する構成とし(本実施の形態ではPMOSトランジスタTP1,TP2のサイズ比を1:x(x>1)にする)、スタートアップ回路5のオペアンプ12を電気的な対称性を有する構成とした。この構成により、負荷回路2のスタンバイ状態やアクティブ状態など、過渡的な動作不安定現象(発振)が生じ易い期間では、スタートアップ回路5の駆動トランジスタDmをメイン回路4の出力レベル(=Vref+ΔV)に基づいて自己整合的にオフさせてスタートアップ回路5を不活性化させることができる。
(5)メイン回路4の出力レベルに基づきスタートアップ回路5を自己整合的に不活性化させる構成としたことにより、スタートアップ回路5において回路面積の拡大につながる位相補償回路を不要とすることができる。近年は、LSIによるSOCの実現と更なる機能拡張との要求に伴い、降圧回路3においてもサイズ縮小が求められている。上記した従来の降圧回路30(図5)では、負荷回路32のスタンバイ状態とアクティブ状態とでそれぞれS−VDCとA−VDCとを独立して動作させる構成であるため、動作安定性の観点から、S−VDCとA−VDCとの双方に位相補償回路(例えば容量や抵抗にて構成)が必要であった。降圧回路の小型化を図る上で、このような回路面積の拡大につながる位相補償回路は、LSIにおけるエリアペナルティーの大きな要因となる。本実施の形態では、この点において降圧回路3のレイアウト面積を節約することができる。
(6)負荷回路2がスタンバイ状態やアクティブ状態の時に、内部電源電圧Vintのレベル(メイン回路4の出力レベル)が基準電圧Vref以下の所定のレベルに低下した場合には、オフされているスタートアップ回路5の駆動トランジスタDsをオンさせて、再度、スタートアップ回路5を活性化させる。これにより、低下した内部電源電圧Vintを速やかに基準電圧Vrefまで引き上げることができる。
(7)メイン回路4を連続的に動作させ、スタートアップ回路5の動作切り替え(活性/非活性制御)を外部コントロール信号CEに依らず、メイン回路4の出力レベルによって自己整合的に行うようにしたことで、降圧回路3の動作を外部コントロール信号CEによる制御から開放できる。このため、降圧回路3に、外部コントロール信号CEをデコードするためのデコーダ等の制御回路は不要となる。これにより、降圧回路3の構成を簡素化することができる。
なお、上記実施の形態は、以下のような態様(変形例)に変更して実施してもよい。
(変形例1)メイン回路4の出力レベルに基づきスタートアップ回路5の駆動トランジスタDsを自己整合的にオフさせる構成としては、オペアンプ11の電気的な非対称性(カレントミラーの入力側と出力側とで素子サイズ比を1:xにする)と、オペアンプ12の電気的な対称性とにより実現される構成に限定されない。例えば、オペアンプ11,12が共に電気的な対称性を有する構成とし、メイン回路4側のオペアンプ11に供給する基準電圧と、スタートアップ回路5側のオペアンプ12に供給する基準電圧とをそれぞれ異なる電圧に設定する(例えばメイン回路4側をスタートアップ回路5側よりも高くする)等の方法で実現してもよい。または、カレントミラー対を構成するトランジスタTP1,TP2のバックゲート電圧を異ならしめてもよい。即ち、本発明では、メイン回路4の出力レベルに基づいて、駆動トランジスタDsの出力をカットオフさせる(駆動トランジスタDsのゲート電圧を低下させる)構成であれば他の構成でもよい。
(変形例2)メイン回路4が位相補償回路を含む構成でもよい。説明を簡略化するために、便宜上、上記実施の形態ではメイン回路4が位相補償回路を含まない構成としたが、例えば、オペアンプ11の出力端と接地との間に容量にてなる位相補償回路を備えてもよい。また、メイン回路4及びスタートアップ回路5の構成は、本発明の技術的思想の範囲内において適宜他の構成に変更することができる。
(変形例3)メイン回路4とスタートアップ回路5との間でそれぞれ駆動トランジスタDm,Dsとオペアンプ11,12とを互いに異なる素子サイズで形成するようにしたが、電源投入初期の動作が保証できれば、駆動トランジスタDm,Dsの素子サイズのみを互いに異なるものとしてもよい。
(変形例4)その他上記実施の形態及び各変形例の構成に関する設計的事項は本発明の技術的思想の範囲内において適宜変更することができる。
2:負荷回路、3:降圧回路、4:メイン回路、5:スタートアップ回路、11:オペ
アンプ(第1差動増幅回路)、12:オペアンプ(第2差動増幅回路)、Dm:駆動トランジスタ(第1駆動トランジスタ)、Ds:駆動トランジスタ(第2駆動トランジスタ)、Im,Is:充電電流(負荷電流)、Iu:消費電流、VDD:外部電源電圧、Vint:内部電源電圧、Vref:基準電圧、Vout1:差動増幅電圧(第1駆動電圧)、Vout2:差動増幅電圧(第2駆動電圧)、TP1,TP2,TP3,TP4:PMOSトランジスタ、TN1,TN2,TN3,TN4:NMOSトランジスタ。
アンプ(第1差動増幅回路)、12:オペアンプ(第2差動増幅回路)、Dm:駆動トランジスタ(第1駆動トランジスタ)、Ds:駆動トランジスタ(第2駆動トランジスタ)、Im,Is:充電電流(負荷電流)、Iu:消費電流、VDD:外部電源電圧、Vint:内部電源電圧、Vref:基準電圧、Vout1:差動増幅電圧(第1駆動電圧)、Vout2:差動増幅電圧(第2駆動電圧)、TP1,TP2,TP3,TP4:PMOSトランジスタ、TN1,TN2,TN3,TN4:NMOSトランジスタ。
Claims (6)
- 外部電源電圧を所定の基準電圧に基づいた降圧レベルで内部電源電圧を生成し、負荷回路に前記内部電源電圧を供給する降圧回路において、
前記内部電源電圧と前記基準電圧との電圧差に応じた第1駆動電圧を生成する第1差動増幅回路と、前記第1駆動電圧の制御を受ける第1駆動トランジスタとを備え、前記負荷回路に前記内部電源電圧を供給するメイン回路と、
前記内部電源電圧と前記基準電圧との電圧差に応じた第2駆動電圧を生成する第2差動増幅回路と、前記第2駆動電圧の制御を受ける第2駆動トランジスタとを備え、前記負荷回路に前記内部電源電圧を供給するスタートアップ回路と、を備え、
前記第1駆動トランジスタは連続的に負荷電流を供給し、前記第2駆動トランジスタは前記内部電源電圧のレベルに応じて一時的に負荷電流を供給することを特徴とする降圧回路。 - 前記第2駆動トランジスタは、前記内部電源電圧が前記基準電圧以下に設定される所定の電圧より小さいときに負荷電流を供給する、
請求項1記載の降圧回路。 - 前記第1差動増幅回路を電気的特性が非対称になるように構成し、前記第2差動増幅回路を電気的特性が対称になるように構成した、
請求項1又は2記載の降圧回路。 - 前記第1差動増幅回路のカレントミラー対を構成する入力側の素子サイズと出力側の素子サイズとの比を1:x(但しx>1)に設定した、
請求項3記載の降圧回路。 - 前記第2駆動トランジスタを前記第1駆動トランジスタより小さな駆動能力に設定した、
請求項1乃至4のいずれか一項記載の降圧回路。 - 前記第2差動増幅回路を構成する素子を前記第1差動増幅回路を構成する素子より小さなサイズで形成し、前記第2駆動トランジスタを前記第1駆動トランジスタより小さなサイズで形成した、
請求項1乃至5のいずれか一項記載の降圧回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005092426A JP2006277082A (ja) | 2005-03-28 | 2005-03-28 | 降圧回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005092426A JP2006277082A (ja) | 2005-03-28 | 2005-03-28 | 降圧回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006277082A true JP2006277082A (ja) | 2006-10-12 |
Family
ID=37211811
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005092426A Pending JP2006277082A (ja) | 2005-03-28 | 2005-03-28 | 降圧回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006277082A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013516154A (ja) * | 2009-12-23 | 2013-05-09 | マーベル ワールド トレード リミテッド | スタートアップ電源 |
JP2013192444A (ja) * | 2012-03-14 | 2013-09-26 | Samsung Electronics Co Ltd | リーク電流保護回路が備えられたパワーモジュール |
US11056565B2 (en) | 2007-05-25 | 2021-07-06 | Longitude Flash Memory Solutions Ltd. | Flash memory device and method |
US11222965B2 (en) | 2007-05-25 | 2022-01-11 | Longitude Flash Memory Solutions Ltd | Oxide-nitride-oxide stack having multiple oxynitride layers |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02117208A (ja) * | 1988-09-26 | 1990-05-01 | Siemens Ag | 相補性mos技術による回路装置 |
JPH04185224A (ja) * | 1990-11-20 | 1992-07-02 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | ドロッパ型定電圧回路の過電流保護回路 |
JPH0962380A (ja) * | 1995-08-25 | 1997-03-07 | Nec Corp | 内部降圧回路 |
JPH113126A (ja) * | 1997-04-17 | 1999-01-06 | Sony Corp | Dc−dcコンバータ |
JP2000148263A (ja) * | 1998-11-06 | 2000-05-26 | Nec Corp | 内部電圧発生回路 |
JP2002246883A (ja) * | 2001-02-15 | 2002-08-30 | Seiko Instruments Inc | オフセット付コンパレータ |
JP2004070827A (ja) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Ricoh Co Ltd | 定電圧電源回路 |
-
2005
- 2005-03-28 JP JP2005092426A patent/JP2006277082A/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02117208A (ja) * | 1988-09-26 | 1990-05-01 | Siemens Ag | 相補性mos技術による回路装置 |
JPH04185224A (ja) * | 1990-11-20 | 1992-07-02 | Shindengen Electric Mfg Co Ltd | ドロッパ型定電圧回路の過電流保護回路 |
JPH0962380A (ja) * | 1995-08-25 | 1997-03-07 | Nec Corp | 内部降圧回路 |
JPH113126A (ja) * | 1997-04-17 | 1999-01-06 | Sony Corp | Dc−dcコンバータ |
JP2000148263A (ja) * | 1998-11-06 | 2000-05-26 | Nec Corp | 内部電圧発生回路 |
JP2002246883A (ja) * | 2001-02-15 | 2002-08-30 | Seiko Instruments Inc | オフセット付コンパレータ |
JP2004070827A (ja) * | 2002-08-08 | 2004-03-04 | Ricoh Co Ltd | 定電圧電源回路 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11056565B2 (en) | 2007-05-25 | 2021-07-06 | Longitude Flash Memory Solutions Ltd. | Flash memory device and method |
US11222965B2 (en) | 2007-05-25 | 2022-01-11 | Longitude Flash Memory Solutions Ltd | Oxide-nitride-oxide stack having multiple oxynitride layers |
US11456365B2 (en) | 2007-05-25 | 2022-09-27 | Longitude Flash Memory Solutions Ltd. | Memory transistor with multiple charge storing layers and a high work function gate electrode |
US11784243B2 (en) | 2007-05-25 | 2023-10-10 | Longitude Flash Memory Solutions Ltd | Oxide-nitride-oxide stack having multiple oxynitride layers |
US12009401B2 (en) | 2007-05-25 | 2024-06-11 | Longitude Flash Memory Solutions Ltd. | Memory transistor with multiple charge storing layers and a high work function gate electrode |
JP2013516154A (ja) * | 2009-12-23 | 2013-05-09 | マーベル ワールド トレード リミテッド | スタートアップ電源 |
JP2013192444A (ja) * | 2012-03-14 | 2013-09-26 | Samsung Electronics Co Ltd | リーク電流保護回路が備えられたパワーモジュール |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3825300B2 (ja) | 内部降圧回路 | |
KR100381832B1 (ko) | 내부 전압 발생기 | |
JP4237696B2 (ja) | レギュレータ回路 | |
JP2007026337A (ja) | 電圧レギュレータ | |
JP6176826B2 (ja) | 起動回路を有する完全相補型自己バイアス差動受信機 | |
US8085019B2 (en) | Device for generating internal power supply voltage and method thereof | |
JP2006277082A (ja) | 降圧回路 | |
JP2004259275A (ja) | スタートアップ回路を有するバイアス回路 | |
KR101059720B1 (ko) | 발진기용 진폭 레벨 제어 회로 | |
JP2006101054A (ja) | 増幅回路 | |
JP3967722B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2007323114A (ja) | レギュレータ回路 | |
JP4783223B2 (ja) | 電圧レギュレータ | |
JP4374254B2 (ja) | バイアス電圧発生回路 | |
JP2007142698A (ja) | スタートアップ回路 | |
JP3733388B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP3653658B2 (ja) | 電源降圧回路 | |
US6586986B2 (en) | Circuit for generating internal power voltage in a semiconductor device | |
JPH1074394A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP4268890B2 (ja) | 基準電圧発生回路 | |
KR100529385B1 (ko) | 내부 전압 발생 회로 | |
JP2006294127A (ja) | 降圧回路 | |
KR100243336B1 (ko) | 차동 증폭기 | |
JP2008021088A (ja) | 基準電圧発生回路 | |
JP2008052546A (ja) | 定電圧回路及びそれを用いた水晶発振回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080305 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101110 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101130 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110405 |