JP2006262488A - 制御装置、および、シグマデルタ型アナログ/デジタルコンバータにおける量子化器のリファレンスの割り当てをスクランブルするための方法 - Google Patents

制御装置、および、シグマデルタ型アナログ/デジタルコンバータにおける量子化器のリファレンスの割り当てをスクランブルするための方法 Download PDF

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Abstract

【課題】SD-ADCでの量子化器の各比較器への各リファレンスの動的割り当てを制御するために用いられ、著しく低い複雑度で実施される、制御装置を提供する。
【解決手段】制御装置(8´)は、シグマデルタ型アナログ/デジタルコンバータでの量子化器のN個の各比較器へのN個の各リファレンスの動的割り当てに用いられる。この制御装置(8´)は、デジタル制御信号(9´)を生成する。また、制御装置(8´)は、制御信号(9´)の値を時間k−1において形成するための格納手段(12)、および、量子化器の出力信号Yと、時間k−1において第1制御信号(9´)の格納値とを加算するための加算手段(10)を含んでいる。
【選択図】図5

Description

発明の詳細な説明
本発明は、制御装置、および、マルチレベルシグマデルタ型アナログ/デジタルコンバータにおける量子化器の各比較器への各リファレンスの動的な割り当てを制御するための方法に関するものである。
図1は、シグマデルタ型アナログ/デジタルコンバータ(SD-ADC)のブロック図を示している。このコンバータは、ループフィルタ1と、量子化器2と、デジタル/アナログコンバータ3(DAC)とを含む、フィードバック制御ループを含んでいる。SD-ADCの入力部にアナログ信号Xが供給される。アナログループフィルタ1には、アナログ入力信号XとDAC3の出力信号との差が供給され、このアナログループフィルタの出力によって、量子化器が駆動される。この量子化器2の出力は、平均値がアナログ入力信号Xに等しいオーバーサンプリングされたデジタル信号Yとなる。図1に示したSD-ADCは、マルチレベルSD-ADC(いわゆる、マルチビットSD-ADC)である。このマルチレベルSD−ADCでは、量子化器2が複数のN個の量子化閾値を有している。この量子化器においてコード変換が行われなければ、量子化器2の出力信号Yは、幅がNビット(N>1)である信号であり、この信号のコードは、サーモメータコードである。量子化器2の出力信号YはDAC3によってアナログ信号に変換され、このアナログ信号がアナログ入力信号Xと比較される。制御ループが定常状態であるとき、アナログ入力信号XとDAC3の出力信号とは、互いに一致している。
量子化器の出力信号をサーモメータコード表現から2進コード表現に変換するコード変換器(図示せず)は、通常、図1に示したループの下流に接続されている。さらに、このコード変換器の出力側には、デジタルローパスフィルタおよびデシメータ(図示せず)が配置されている。このローパルフィルタは、平均値を生成するものであり、デシメータはサンプリングレートを下げるものである。
マルチレベルSD−ADCの実効的な分解能は、内部DAC3の直線性によって支配的に決定されている。DAC3は、通常、N個の標準セルを含んでいる。これらの標準セルは、量子化器の(幅がNビットである)サーモメータコード出力信号に応じて活性化されるか、または、非活性化される。これらの標準セルは、通常、切り替え可能な標準電流源であり、DAC3の出力信号は、N個の標準電流源の電流が重畳されて得られる。DAC3の標準セルは、それぞれ完全に同じであることが理想的であるが、実際のDACでは、標準セルはそれぞれわずかに異なっている。つまり、標準電流源の出力電流は、それぞれ、活性化状態にあるときに完全に同じではない。したがって、いわゆる「不整合」が生じ、これにより、DAC3の出力信号の非線形ひずみが大きくなる。これにより、離散的な周波数(スプリアス周波数)の場合では、SD-DACの出力信号のスペクトルに、通常は除去できない妨害成分が生じる。
DAC3の直線性を改善するために、いわゆるDEMブロック(DEM-dynamic element matching;ランダマイザまたはスクランブラブロックと、呼ばれることも多い)をDAC3の入力側に設けることが、知られている。このスクランブラブロックは、量子化器2の出力信号のサーモメータコードを動的にスクランブルする。つまり、コード信号の桁をスワップする。この場合、コード信号「0011100」が、例えば幅が7ビットであるサーモメータコード「1110000」から生成される。したがって、量子化器2の特定の出力信号については、DAC3の常に同じ標準セルが異なる時間に活性化されるのではなく、異なる標準セルが、異なる時間に活性化される。稼動中の標準セルの数は一定である。このようにして、直線性誤差は低減される。
図2は、コードをスクランブルするために他のDEMブロック4を備えた、マルチレベルSD−ADCのブロック図を示している。図1および図2において同じ参照符号で示した信号および回路素子は、互いに同じである。図2に示したADCは、7つのリファレンスREF0〜REF6(REFi<REFi+1)に対応したN=7の量子化閾値を有している。リファレンスREFiのそれぞれは、そのリファレンスREFiを反転入力部を介して受信する比較器5.iに割り当てられている。これらのリファレンスは、通常、抵抗ストリングのノード電圧から生じる電圧リファレンスである。しかし、電圧リファレンスの代わりに、電流リファレンスを用いてもよい。
各比較器5.iの(他のD型のフリップフロップ6.iを用いて標本化された)出力信号Qiは、量子化器の入力信号がそのリファレンスREFiよりも大きければ、論理1を有している。そうでなければ、信号Qiは論理0に相当する。量子化器の入力信号の範囲は、REFjよりも大きく、REFj+1よりも小さいならば、比較器5.1〜5.jの全ての出力部には論理1が供給され、一方、比較器5.j+1〜5.N−1の出力部には論理0が生成される。その結果生じた、量子化器の(幅がN=7ビットであり、2値信号Qiの組み合わせから生じる)出力信号Yのコードは、液体温度計に類似しているので、「サーモメータコード」と呼ばれている。
量子化器2の出力信号YはDEMブロック4によって受信され、上記したように、この出力信号Yの各桁は、DEMブロックにおいてスクランブルされる。コードをスクランブルするために、DEMブロック4は、遅延時間またはレイテンシを有するデジタル論理ユニットを含んでいる。つまり、DEMブロック4の出力信号は、ある遅延を伴って信号Yの変化にのみ反応する。制御ループでは、このレイテンシがむだ時間となり、制御ループの安定特性を下げてしまう。
特許明細書US6,346,898 B1は、(量子化器2の出力部とDAC3の入力部との間に位置するDEMブロック4の代わりに)量子化器2の反転入力部の上流にDEMブロック4´を配置すると、コードスクランブルによって生じた制御ループの安定性の悪化を回避できる、ということを開示している。このようなSD-ADCを図3に示す。図2および図3において同じ参照符号を付した信号および回路素子は、互いに同じである。図3に示したSD-ADCでは、DEMブロック4´は、比較器5.iへのリファレンスREFiの割り当てを動的にスクランブルするために用いられる。つまり、量子化器2の特定の入力信号については、信号Yの様々なビットQi、およびそれゆえに(図3に示したように)DAC3の様々な標準セルも、異なる時間で活性化される。したがって、図3の制御ループの外側に位置するDEMブロック4´が与える影響は、図3に示したDEMブロック4´が制御ループ内に何らむだ時間を追加しないにもかかわらず、制御ループ内に配置された図2のDEMブロック4が与える影響と同様である。したがって、図3に示したDEMブロック4´は、図2に示したDEMブロック4よりも、制御ループの安定性を下げない。
図4は、図3に示したDEMブロック4´の実施例を示している。図4および図3において同じ参照符号を有する信号および回路素子は、互いに同じである。この場合、図を簡略化しているので、全部で7つのリファレンスREFiのうちの4つをスクランブルすることを示していることを、考慮されたい。DEMブロック4´はスイッチングネットワーク7を含んでいる。このスイッチングネットワークは、各リファレンスREFiを各比較器5.iに割り当てるために用いられる。スイッチングネットワーク7は、制御装置8を用いて制御される。この制御装置8は、デジタル制御信号9を供給する。該デジタル制御信号とは、スイッチングネットワーク7を介してリファレンスREFiと比較器5.iとの間の動的割り付けを制御するためのものである。この場合、デジタル制御信号9が、制御装置8において、量子化器2の出力信号Yに応じて得られる。この制御装置8は、全てのビットQiが平均して同じ頻度で論理1を有しているように、制御信号9を生成し、その結果、DAC3の標準セルの全てが同じ頻度で用いられる。
制御装置の実行に関して、上記の特許明細書US 6,346,898 B1には、複数の各回路ブロック(参照:特許明細書US6,346,898 B1の、図3および段3、61〜62行)を含む非常に複雑な実施例が示されている。この場合、制御装置8の実行が複雑であるのは、DAC3の全部でN個の標準セルから、任意時間kにおける活性化に最も必要な丁度m個の標準セル(mは、時間kでの量子化器2の入力信号によって決まる)を選択するという思想に起因している(参照:特許明細書US 6,346,898 B1の段2、23〜31行目)。DAC3の標準セルを活性化するには、DAC3の各標準セルを今までにどのくらい使用してきたかによって決まる。今まで最もわずかにしか用いられなかった標準セルが活性化される可能性が最も高い。
したがって、本発明の目的は、SD-ADCでの量子化器の各比較器への各リファレンスの動的割り当てを制御するために用いられ、従来技術と比べて、著しく低い複雑度で実施される、制御装置を提示することである。ここで、当該制御器は、DACの標準セルが平均して同じ頻度で活性化されるようにする必要がある。本発明の目的はまた、動的な割り当てを制御する方法を示すことにある。さらに、本発明の目的は、回路の複雑さを可能な限り抑えた各比較器に対して各リファレンスが動的に割り当てられた、DACの標準セルが平均して同じ頻度で活性化される、SD-ADCを提示することにある。
上記の本発明の目的を、独立請求項1、6、および、9の特徴部分によって達成する。
請求項1にかかる本発明の制御装置は、SD-ADCでの量子化器のN個の各比較器へのN個の各リファレンスの動的割り当てを制御するために用いられる。この制御装置は、動的割り当てを制御するための第1デジタル制御信号を生成する。また、この制御装置は、時間k−1において第1制御信号の値を形成するための格納手段を含んでいる。この格納手段は、例えば、第1制御信号のビット幅と同じ数のD型フリップフロップを含んでいる。さらに、該制御装置には、量子化器の出力信号を時間k−1において第1制御信号の格納値と合計するために用いられる合計手段が備えられている。時間kでの第1制御信号の値は、合計手段の出力信号によって決まる。
したがって、上記の制御装置は、制御信号の以前の値の合計と、量子化器の出力信号とに応じて、第1制御信号の現在の値を生成する。つまり、この制御装置は、基本的に積分器である。ここで、上記の以前の値を合計する前に、量子化器の出力信号を、初めに、1時間ステップ以上だけ遅延してもよい。本発明の制御装置によって、各比較器へのリファレンスの割り当てと、それゆえに、DACの標準セルの選択とが、各時間ステップごとに、量子化器の出力信号の値だけ循環するようになる。例えば(サーモメータコード表現では「1100000」である)2という量子化器の出力信号の定数について検討すると、全部で7個の標準セルのうちの初めの2つが時間k=1で活性化されると、第3標準セルおよび第4標準セルが時間k=2で活性化され、第5標準セルおよび第6標準セルが時間k=3で活性化される。上記例から分かるように、本発明の制御装置によって、DACの標準セルを平均して同じ頻度で活性化でき、これにより、DACの誤りは平均して値0になる。このため、従来技術において記載したような複雑な計算は必要ではなくなる。
量子化器の出力信号の値の表現は、有効にも、加算する前に初めにコード変換器を用いるのに適している、ということに留意されたい。量子化器の出力信号の値が通常サーモメータコード表現によって表されるので、制御装置は、量子化器の出力信号の値の表現をサーモメータコード表現から2進コード表現に変換するように設計されているコード変換器を含んでいることが有効である。したがって、量子化器の出力信号の値を、2進コードで回路の複雑さをできる限り低減して、制御デバイスにおいて評価できる。特にこれにより、サーモメータコード信号のNビット線から2進コード信号のceil(ld(N+1))ビット線までの制御デバイス内のバス幅を、低減する。この関数ceil(i)は、iよりも大きな最小の自然数を意味する。コード変換器に関しては、サーモメータコードがリファレンスの瞬間的な割り当てに応じて循環するということに、留意されたい。コード変換器がサーモメータコード信号の論理1の数のみを決定する場合には、このサーモメータコードの循環はコード変換器に対してほとんど影響しない。
制御装置は、第1制御信号を生成するために、第1制御信号を生成するためにモジューロN演算を実行するための手段を含んでいることが有効である。該手段は、加算手段の出力信号を受信する。本出願では、モジューロN演算とは、Nで割ったときの剰余を生成することである。加算手段の出力信号が例えば値7になるならば、モジューロ7演算では0の値が生じる。モジューロN演算を実行するための手段は、加算手段の出力信号を制限するために用いられる。ここで、加算手段の出力信号の値は、常に0からN−1までの範囲で表される。モジューロN演算を導入することは、DACの標準セルの数が任意ではなく、通常N個の標準セルに制限されるので有効である。量子化器の出力信号の定数が例えば2である場合、全部で7個の標準セルのうちの最後の2つの標準セルが時間k=1で活性化されると、モジューロN演算によって、時間k=2で初めの2つの標準セルが活性化される。
第2制御信号を生成するための制御装置は、1-of-N復号器を含んでいることが有効である。1-of-N復号器によって出力された第2制御信号は、幅がNビットである信号であり、これらのNビットのうちの1ビットだけが、第1制御信号(9´)に応じて、論理1であるか、または、1-of-N復号器(19)のそれに代わり得る他の形態では論理0である。そのとき、第2制御信号の他のビットは、論理0または論理1を有している。第2制御信号は、スイッチングネットワークを特に簡単に制御するために用いられる。これについては以下で詳述する。
請求項6の本発明のSD-ADCは、N個の比較器を備えた量子化器と、N個のリファレンスを生成するためのリファレンス発生器、特に電圧発生器とを含んでいる。N個の各リファレンスをN個の各比較器に動的に割り当てるためのスイッチングネットワークも、SD-ADCに設けられている。(上記したような)本発明の制御デバイスは、スイッチングネットワークを制御するために用いられる。
本発明のSD-ADCの有効な形態では、スイッチングネットワークは、各リファレンスに対して、N個のスイッチング素子を備えたそれぞれ1つのスイッチング群を含んでいる。この場合、1つのスイッチング群の各スイッチング素子の入力部は、それぞれ同じリファレンスを受信し、1つのスイッチング群の各スイッチング素子の出力部は、それぞれ異なる比較器に接続されている。
この場合、制御デバイスは、(上記したように)1−to−N復号器を備えていることが有効である。この1−to−N復号器によって生成される第2制御信号が、スイッチングネットワークを駆動する。この場合、第2制御信号の各ビットは、各スイッチング群の中の1つのスイッチング素子のスイッチング位置を決定する。例えば、N=7である第2制御信号は、値「0010000」(または、「1101111」)を有している。各スイッチング群の各第3スイッチング素子はON状態であり、他のスイッチング素子はOFF状態である。
本発明のSD-ADCは、いわゆる連続時間SD-ADCであることが有効である。つまり、SD-ADCのループフィルタ(参照:図3のループフィルタ1)は、全ての時間間隔のあいだ正しい出力値を有する連続時間フィルタである。これに対して、いわゆるスイッチトキャパシタSD-ADCが、従来技術において開示されている。このスイッチトキャパシタSD-ADCのループフィルタは、抵抗フィルタ素子を模倣するためのスイッチトキャパシタを含んでいる。この出力信号は特定時間でのみ有効である。
請求項9の本発明の方法は、SD-ADCでは量子化器のN個の各比較器へのN個の各リファレンスの動的な割り当てを制御するために用いられる。この方法を用いて、動的な割り当てを制御するための第1デジタル制御信号を生成する。時間kで第1制御信号の値を生成するために、第1ステップでは、量子化器の出力信号と時間k−1での第1制御信号の格納値とを加算する。次に、その加算結果に応じて、時間kでの第1制御信号の値を得る。さらに、時間kでの第1制御信号の値を格納する。これにより、この値に応じて、時間k+1での第1制御信号の値を生成できる。
従属請求項は、本発明の他の有効な形態を規定している。
以下では、実施形態および図面を参照しながら、本発明について詳述する。
図1は、SD-ADCのブロック図を示している(従来技術)。
図2は、制御ループ内でコードをスクランブルするために追加したDEMブロックを備えるマルチレベルSD−ADCを示すブロック図である(従来技術)。
図3は、制御ループ外でコードをスクランブルするために追加したDEMブロックを備えるマルチレベルSD−ADCを示すブロック図である(従来技術)。
図4は、図3に示したDEMブロックを示す基本回路図である(従来技術)。
図5は、本発明の制御装置をDEMブロックの一部として示す、基本回路図である。
図6は、本発明の制御装置をDEMブロックの一部として示す、特定の実施例である。
図7は、DEMブロックを本発明のSD-ADCの一部として示す、回路図である。
図8は、量子化器の典型的な出力値のシーケンスに対するリファレンスREFiを示すスクランブリングである。
従来技術に関する図1〜図4については、冒頭の記載を参照されたい。
図5は、本発明の制御装置8´(図4の制御装置8に相当する)の基本回路図を、図3に示したようなDEMブロックの一部として示している。ここでは、量子化器の出力信号Yの値は、DEMブロックを制御するためのランダム順序を生成するために用いられる。制御装置8´は、アナログ加算器10を含むフィードバックループと、モジューロN演算を行うための手段11と、遅延手段または格納手段12とを含んでいる。量子化器2の出力信号Yは、制御装置8´の入力部に供給される。量子化器2の出力信号Yの値を、初めに、コード変換器(図示せず)を用いて、サーモメータコード表現から2進コード表現に変換することが好ましい。アナログ加算器10は、量子化器の出力信号Yの値と、1時間ステップだけ遅延された制御信号の値とを加算する。アナログ加算器10の出力信号を、手段11においてモジューロN演算する。これにより、得られた制御信号9´は0からN−1の値に制限されている。制御信号9´を、遅延手段12を用いて1時間ステップだけ遅延し、制御装置8´の入力部にフィードバックする。制御装置8´の出力部には、通常、1-of-N復号器(図示せず)が設けられている。この1-of-N復号器は、制御信号9´によって駆動され、スイッチングネットワーク7´のスイッチング素子を直接駆動する制御信号9(参照:図4)を生成するものである。
したがって、図5に示した制御装置8´は、基本的に、値の範囲がモジューロNによって制限される積分器である。あるいは、この制御装置を、モジューロNカウンタ(つまり、全部でN回のカウンタ読み取りを有するモジューロNカウンタ)であると解釈してもよい。ここで、該カウンタ読み取りの変化は、量子化器2の出力信号Yの値によって決まる。
図6は、N=7の比較器のための本発明の制御装置8´の特定の実施例を示している。図5および図6において同じ参照符号で示した信号および回路素子は、互いに同じである。この制御装置は、量子化器2の出力信号Yの値をN=7ビットのサーモメータコード表現からceil(ld(N+1))=3ビットの2進コード表現に変換する、コード変換器13を含んでいる。サーモメータコードは、リファレンスの瞬間的な割り当てに応じて循環される。コード変換器がサーモメータコード信号において論理0の数のみを決定する場合、サーモメータコードの循環は、コード変換器13に影響を及ぼさない。量子化器2の、表現が変換された出力信号Y´が、3ビット加算器10において、1時間ステップだけ遅延された制御信号9”に加算される。この3ビット加算器10は、半加算器14.1および2つの全加算器15.1・15.2を含んでいる。入力部a、b、ciは、それぞれ、2つの加数およびキャリービット(キャリーイン)を受信し、一方、出力部sおよびcoは、それぞれ、加算ビットおよびキャリービットを出力する。全加算器は、キャリービットciを受信するための入力部を有しているという点において、半加算器とは異なっている。3ビット加算器10の出力の幅は4ビットであり、これにより、幅が3ビットである、信号Y´と上記制御信号9”とを加算すると生じる0〜13の値(値14および15は生じない)がコーディングされる。この3ビット加算器10の(幅が4ビットで、値の範囲が0〜13である)出力信号を用いて、モジューロN演算を実行するための手段11が、幅が3ビットで値の範囲が0〜6である制御信号9´を生成する。つまり、制御信号9´の値は、モジューロ7の値に制限される。このために、手段11は、3つの半加算器14.2〜14.4と、ANDゲート16と、ORゲート17とを含んでいる。この制御信号9´を1つのクロックサイクルだけ遅延するために、3つのD型フリップフロップ18.1〜18.3が用いられる。丁度1つのD型フリップフロップ18.1が、制御信号9´の各ビット線に割り当てられている。制御装置8´の出力部には、1-of-N復号器19が設けられている。この1-of-N復号器は、制御信号9´によって駆動され、スイッチングネットワーク7´のスイッチング素子を直接制御する制御信号9を生成する。
1-of-N復号器によって出力された制御信号9は、幅がN=7ビットである信号であり、第1制御信号に応じて、全7ビットのうちの1つだけが論理1を有している。表1は、制御信号9´の値と制御信号9の値との割り当てを示している。
Figure 2006262488
図7は、本発明のDEMブロック4”の回路図を本発明のSD-ADCの一部として示している。このDEMブロック4”は、図6に示したような本発明の制御装置8´を含んでいる。簡単に示すために、図4のように、全部で7つのリファレンスREFiのうちの4つのスクランブリングのみを示していることに留意されたい。DEMブロック4”は、各リファレンスREFiをそれぞれ1つの比較器5.iに割り当てるために用いられるスイッチングネットワーク7´を、含んでいる。スイッチングネットワーク7´は、本発明の制御装置8´によって制御されている。この制御装置8´は、スイッチングネットワーク7´を制御するためのデジタル制御信号9を生成する。
スイッチングネットワーク7´は、各リファレンスREFiに対して、N=7(4個のみ図示)のスイッチング素子21.i.jを備えたそれぞれ1つのスイッチング群20.iを含んでいる。スイッチング群20.iの各スイッチング素子21.i.jの入力部は、それぞれ、同じリファレンスREFiを受信し、スイッチング群20.iの各スイッチング素子20.i.jの出力部は、それぞれ異なる比較器5.kに接続されている。制御信号9の各ビットは、各スイッチング群20.iの中の1つのスイッチング素子21.i.jのスイッチング位置を決定する。制御信号9のj番目のビットが論理1を有していれば、各スイッチング群20.iのj番目のスイッチング素子21.i.jがON状態となり、そうでなければ、各スイッチング群20.iのj番目のスイッチング素子21.i.jはOFF状態となる。スイッチング素子21.i.jのスイッチング位置と制御信号9の各ビットとの関係を完全に逆にしてもよい。この場合、1-of-N復号器19を、制御信号9の1つのビットだけが論理1ではなく論理0を有しているように、構成する必要がある。
図8は、結果として生じた、量子化器2の典型的な出力値のシーケンス{Y(k)}={5;6;5;3;5;2}に対するリファレンスREFiのスクランブリングを示している。この場合、値Y(k)は論理0の数のみを示し、それらの分布を示していないという点に留意する必要がある。この場合、図8に示した箱の各行は、1時間ステップkを示している。さらに、i番目の列は、それぞれ、i番目の比較器5.iに相当し、この比較器によって駆動されるDAC3のi番目の標準セルに相当している。斜線を引いた箱は、上記比較器5.iが論理1を出力し、それによって比較器5.iによって駆動されるDAC3の標準セルが活性化されていることを示している。逆に、斜線を引いていない箱は、上記比較器5.iが論理0を出力し、比較器5.iによって駆動されるDAC3の標準セルが活性化されていないことを意味している。
最初の時間k=1では、i番目のリファレンスREFiが丁度i番目の比較器5.iに割り当てられる。量子化器の入力信号の値が適度に大きい場合には、初めの5個の比較器5.0〜5.4の論理値は、出力部において1である。そして、リファレンスの割り当てを、出力信号の値Y(1)=5だけ循環させる(矢印で示している)。これにより、比較器5.5にはリファレンスREF0が割り当てられ、比較器5.6にはリファレンスREF1が割り当てられ、比較器5.0にはリファレンスREF2が割り当てられ、…と続く。時間k=2において生じる量子化器2の出力値Y(2)=6は、現在の割り当てから始まる、リファレンスの割り当ての次の循環を決定する。これらのリファレンスの割り当ては、Y(2)=6のステップを通して循環されることにより、比較器5.4にはリファレンスREF0が割り当てられ、比較器5.5にはリファレンスREF1が割り当てられ、…と続く。続く時間ステップのリファレンスREFiも、同様にスクランブルされる。リファレンスの割り当ての(図6に示すような)循環は、「バレルシフト」とも呼ばれている。
時間ステップk=1、k=3、および、k=5に対する斜線を引いた箱の分布は、量子化器2の出力信号Yが同じ値であるにもかかわらず、DSC3の異なる標準セルがそれぞれ活性化されているということを表している。
最後に、上記の記載は、同様に、比較器5.iおよびリファレンスREFiの全ての所望の数Nを有する量子化器に適用され、N=7の比較器5.iおよびリファレンスREFiの場合に限定されるものではないことに、留意されたい。
SD-ADCのブロック図を示している(従来技術)。 制御ループ内でコードをスクランブルするために追加したDEMブロックを備えたマルチレベルSD−ADCを示すブロック図である(従来技術)。 制御ループ外でコードをスクランブルするための他のDEMブロックを備えたマルチレベルSD−ADCを示すブロック図である(従来技術)。 図3に示したDEMブロックを示す基本回路図である(従来技術)。 本発明の制御装置をDEMブロックの一部として示す、基本回路図である。 本発明の制御装置をDEMブロックの一部として示す、特定の実施例である。 DEMブロックを本発明のSD-ADCの一部として示す、回路図である。 量子化器の典型的な出力値のシーケンスに対するリファレンスREFiを示すスクランブリングである。

Claims (10)

  1. シグマデルタ型アナログ/デジタルコンバータでの量子化器(2)のN個の各比較器(5.i)へのN個の各リファレンス(REFi)の動的割り当てを制御するために用いられる制御装置(8´)であって、
    上記制御装置(8´)が、動的割り当てを制御するための第1デジタル制御信号(9´)を生成し、
    上記第1制御信号(9´)の値を時間k−1において形成するための格納手段(12)と、
    上記第1制御信号(9´)の値を時間kにおいて生成するために、量子化器(2)の出力信号(Y)と、時間k−1において存在している第1制御信号(9´)の値とを加算するための加算手段(10)と
    を含んでいる、制御装置(8´)。
  2. 上記制御装置(8´)が、第1制御信号(9´)を生成するために、モジューロN演算を実行するための手段(11)も含み、上記手段は、加算手段(10)の出力信号を受信することを特徴とする、請求項1に記載の制御装置(8´)。
  3. 上記制御装置(8´)が、量子化器(2)の出力信号(Y)の値の表現をサーモメータコード表現から2進コード表現に変換するように設計されているコード変換器(13)を含んでいることを特徴とする、請求項1または2に記載の制御装置(8´)。
  4. 上記制御装置(8´)が、第2制御信号(9)を生成するために、第2制御信号(9)を出力する1-of-N復号器(19)を含み、上記第2制御信号(9)は、幅がNビットである信号であり、上記Nビットのうちの1ビットだけが、第1制御信号(9´)に応じて、論理1であるか、または、それに代わる1-of-N復号器(19)で論理0であることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の制御装置(8´)。
  5. 上記格納手段(12)が、第1制御信号(9´)のビット幅と同じ数のD型フリップフロップ(18.i)を含んでいることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか1項に記載の制御装置(8´)。
  6. N個の比較器(5.i)を備えた量子化器(2)と、
    N個のリファレンスを生成するための基準発生器と、
    上記N個の各リファレンス(REFi)をN個の各比較器(5.i)に動的に割り当てるためのスイッチングネットワーク(7´)と、
    上記スイッチングネットワーク(7´)を制御するための請求項1〜5のいずれか1項に記載の制御装置(8´)とを含む、シグマデルタ型アナログ/デジタル変換器。
  7. 上記スイッチングネットワーク(7´)が、各リファレンス(REFi)に対して、N個のスイッチング素子(20.i.j)を備えたそれぞれ1つのスイッチング群(20.i)を含み、1つのスイッチング群(20.i)の各スイッチング素子(20.i.j)の入力部は、それぞれ同じリファレンス(REFi)を受信し、1つのスイッチング群(20.i)の各スイッチング素子(20.i.j)の出力部は、それぞれ異なる比較器(5.k)に接続されていることを特徴とする、請求項6に記載のシグマデルタ型アナログ/デジタル変換器。
  8. 制御装置(8´)が、請求項4にしたがって構成されており、
    上記スイッチングネットワーク(7´)は、第2制御信号(9)によって駆動され、上記第2制御信号(9)の各ビットは、各スイッチング群(20.i)の中の1つのスイッチング素子(20.i.j)のスイッチング位置を決定することを特徴とする、請求項7に記載のシグマデルタ型アナログ/デジタル変換器。
  9. シグマデルタ型アナログ/デジタル変換器にて量子化器(2)のN個の各比較器(5.i)へのN個の各リファレンス(REFi)の動的な割り当てを制御するための方法であって、動的な割り当てを制御するための第1デジタル制御信号(9´)を生成するために用いられ、時間kで第1制御信号(9´)の値を生成するための方法において、
    a)上記量子化器(2)の出力信号(Y)と、時間k−1において存在している第1制御信号(9´)の値とを加算するaステップと、
    b)上記aステップでの加算結果に応じて、時間kでの第1制御信号(9´)の値を生成するbステップと、
    c)時間kでの第1制御信号(9´)の値を格納手段(12)に格納するcステップとを含む、方法。
  10. ステップの順序が、さらに、
    ステップaにおける加算結果に対してモジューロN演算を実行するステップ、を時間的にステップaの後に含むことを特徴とする、請求項9に記載の方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008263258A (ja) * 2007-04-10 2008-10-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd デルタシグマ変調回路とそれを用いたデルタシグマad変換装置
JP2011035508A (ja) * 2009-07-30 2011-02-17 Sony Corp 線形性改善回路、σδa/d変換器、および受信装置
JP2012065322A (ja) * 2010-09-17 2012-03-29 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 高速データ加重平均
WO2023223523A1 (ja) * 2022-05-20 2023-11-23 三菱電機株式会社 デルタシグマ変調回路、ディジタル送信回路、及び、ディジタル送信機

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1538752A1 (en) * 2003-11-28 2005-06-08 Freescale Semiconductor, Inc. Clock pulse generator apparatus with reduced jitter clock phase
US20090091483A1 (en) * 2007-10-04 2009-04-09 Texas Instruments Incorporated Flash analog to digital converter (adc)
US7564391B2 (en) * 2007-11-28 2009-07-21 Texas Instruments Incorporated Sigma delta modulator summing input, reference voltage, and feedback
US7692569B2 (en) * 2008-04-03 2010-04-06 Analog Devices, Inc. Methods and apparatus for rotating a thermometer code
US7675440B1 (en) 2008-04-28 2010-03-09 Altera Corporation Thermometer-code-to-binary encoders
JP2009290455A (ja) * 2008-05-28 2009-12-10 Toshiba Corp Demシステム、デルタシグマa/d変換器、及び受信機
US7782237B2 (en) * 2008-06-13 2010-08-24 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Semiconductor sensor circuit arrangement
US7893855B2 (en) * 2008-09-16 2011-02-22 Mediatek Inc. Delta-sigma analog-to-digital converter
US7916054B2 (en) * 2008-11-07 2011-03-29 Baker R Jacob K-delta-1-sigma modulator
US8884802B2 (en) * 2013-03-15 2014-11-11 Analog Devices Technology System, method and recording medium for analog to digital converter calibration
US9077369B1 (en) 2014-01-21 2015-07-07 Mixsemi Limited Delta-sigma modulator having multiple dynamic element matching shufflers
WO2016147523A1 (ja) * 2015-03-19 2016-09-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 イメージセンサおよびそれを備えた撮像装置
US9425816B1 (en) * 2015-06-03 2016-08-23 Analog Devices Global Generating comparator thresholds using a rotating ring of resistors
EP3869694A1 (en) * 2019-12-30 2021-08-25 ams International AG Digital-to-analog converter and method for digital-to-analog conversion

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8803627D0 (en) * 1988-02-17 1988-03-16 Data Conversion Systems Ltd Digital to analogue converter
US5221926A (en) * 1992-07-01 1993-06-22 Motorola, Inc. Circuit and method for cancelling nonlinearity error associated with component value mismatches in a data converter
SE510851C2 (sv) * 1996-12-23 1999-06-28 Sandvik Ab Skär samt hållare för skärande metallbearbetning
US6346898B1 (en) * 2000-08-07 2002-02-12 Audio Logic, Inc. Multilevel analog to digital data converter having dynamic element matching in a reference data path
SE522569C2 (sv) 2001-02-27 2004-02-17 Ericsson Telefon Ab L M Dynamisk elemetanpassning i a/d-omvandlare
US6369733B1 (en) * 2001-04-26 2002-04-09 Cirrus Logic, Inc. Method and system for operating two or more dynamic element matching (DEM) components with different power supplies for a delta-sigma modulator of an analog-to-digital converter
DE102004049481B4 (de) * 2004-10-11 2007-10-18 Infineon Technologies Ag Analog-Digital-Wandler

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008263258A (ja) * 2007-04-10 2008-10-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd デルタシグマ変調回路とそれを用いたデルタシグマad変換装置
JP2011035508A (ja) * 2009-07-30 2011-02-17 Sony Corp 線形性改善回路、σδa/d変換器、および受信装置
US8144046B2 (en) 2009-07-30 2012-03-27 Sony Corporation Linearity enhancement circuit, ΣΔ A/D converter, and reception apparatus
JP2012065322A (ja) * 2010-09-17 2012-03-29 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 高速データ加重平均
WO2023223523A1 (ja) * 2022-05-20 2023-11-23 三菱電機株式会社 デルタシグマ変調回路、ディジタル送信回路、及び、ディジタル送信機

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