SE522569C2 - Dynamisk elemetanpassning i a/d-omvandlare - Google Patents

Dynamisk elemetanpassning i a/d-omvandlare

Info

Publication number
SE522569C2
SE522569C2 SE0101423A SE0101423A SE522569C2 SE 522569 C2 SE522569 C2 SE 522569C2 SE 0101423 A SE0101423 A SE 0101423A SE 0101423 A SE0101423 A SE 0101423A SE 522569 C2 SE522569 C2 SE 522569C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
converter
thermometer
encrypted
code
sub
Prior art date
Application number
SE0101423A
Other languages
English (en)
Other versions
SE0101423L (sv
SE0101423D0 (sv
Inventor
Bengt Erik Jonsson
Christer Alf Jansson
Original Assignee
Ericsson Telefon Ab L M
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from SE0100663A external-priority patent/SE520277C2/sv
Application filed by Ericsson Telefon Ab L M filed Critical Ericsson Telefon Ab L M
Priority to SE0101423A priority Critical patent/SE522569C2/sv
Publication of SE0101423D0 publication Critical patent/SE0101423D0/sv
Priority to DE60212940T priority patent/DE60212940T2/de
Priority to US10/466,706 priority patent/US6816103B2/en
Priority to AT02712557T priority patent/ATE332589T1/de
Priority to EP02712557A priority patent/EP1364461B1/en
Priority to PCT/SE2002/000239 priority patent/WO2002069502A1/en
Priority to ES02712557T priority patent/ES2267995T3/es
Publication of SE0101423L publication Critical patent/SE0101423L/sv
Publication of SE522569C2 publication Critical patent/SE522569C2/sv

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/06Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M1/0617Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence
    • H03M1/0634Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale
    • H03M1/0656Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal
    • H03M1/066Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal by continuously permuting the elements used, i.e. dynamic element matching
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1071Measuring or testing
    • H03M1/108Converters having special provisions for facilitating access for testing purposes
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/14Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit
    • H03M1/16Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit with scale factor modification, i.e. by changing the amplification between the steps
    • H03M1/164Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit with scale factor modification, i.e. by changing the amplification between the steps the steps being performed sequentially in series-connected stages
    • H03M1/167Conversion in steps with each step involving the same or a different conversion means and delivering more than one bit with scale factor modification, i.e. by changing the amplification between the steps the steps being performed sequentially in series-connected stages all stages comprising simultaneous converters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/458Analogue/digital converters using delta-sigma modulation as an intermediate step
    • H03M3/464Details of the digital/analogue conversion in the feedback path

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Description

20 25 30 522 569 n oc. ~ ~ - ~ » o u - ~ v - > . ..
SAMMANFATTNING Ett syfte med den föreliggande uppfinningen är att tillhandahålla dynamisk elementanpassning för A/ D-omvandlare utan denna extra signalfördröjning.
Detta syfte uppnås i enlighet med de bifogade patentkraven.
Kortfattat implementerar den föreliggande uppfinningen dynamisk element- anpassning utanför termometerkodbussen genom att tvinga komparatorerna hos A/D-subomvandlaren i ett steg i att generera en krypterad termometer- kod. Detta eliminerar den extra fördröjningen på termometerkodbussen och därvid ökas den uppnäeliga samplingshastigheten.
KORT BESKRIVNING AV RITNINGARNA Uppfinningen, tillsammans med ytterligare syften och fördelar med denna, kan bäst förstås genom hänvisningar till följande beskrivning tillsammans med de medföljande ritningarna, i vilka: Fig. 1 är ett blockdiagram över en typisk A/D-omvandlare av pipeline- typ; Fig. 2 är ett blockdiagram över ett typiskt steg hos A/D-omvandlaren i fig. 1 med konventionell kryptering; Fig. 3 är ett diagram som illustrerar timing av väsentliga styrsignaler i A/ D-omvandlarsteget i fig. 2; Fig. 4 är ett blockdiagram över en belysande utföringsform av ett A/D- omvandlarsteg i enlighet med den föreliggande uppfinningen; Fig. 5 är ett diagram som illustrerar timing av väsentliga styrsignaler i A /D-omvandlarsteget i fig. 4; Fig. 6 illustrerar en belysande krypteringsenhet implementerad som ett butterflynät; 10 15 20 25 30 522 569 -' " 3 Fig. 7 illustrerar en belysande utföringsform av en termometer- binäromvandlare som är lämplig att användas i anslutning till den förelig- gande uppfinningen; Fig. 8 illustrerar en annan belysande utföringsform av en termometer- binäromvandlare som är lämplig att användas i anslutning till den förelig- gande uppfinningen; Fig. 9 är ett tidsdiagram som illustrerar insvängningstider för tröskel- nivåfel som beror på kryptering; Fig. 10 illustrerar en belysande utföringsform av en komparators ingångssteg; Fig. ll är ett tidsdiagram som illustrerar insvängningstider för trös- kelnivåfel som beror på kryptering i utföringsformen i fig. 10; Fig. 12 illustrerar en belysande utföringsforrn av en komparators ingångssteg baserat på generering av omkopplade kondensatortrösklar; Fig. 13 illustrerar en belysande utföringsform av ett steg i en A/D- omvandlare av multibitars delta-sigmatyp konfigurerad i enlighet med den föreliggande uppfinningen; samt Fig. 14 är ett flödesdiagram som illustrerar förfarandet i enlighet med den föreliggande uppfinningen.
DETALJERAD BESKRIVNING I den följande beskrivningen kommer samma hänvisningsbeteckningar att användas för samma eller liknande element.
Beskrivningen nedan kommer i första hand att beskriva den föreliggande uppfinningen med hänvisning till en A/D-omvandlare av pipelinetyp. Det in- ses emellertid att samma principer även kan användas för andra multistegs A/D-omvandlare, såsom A/D-omvandlare av ”sub-rangingtyp”, multibitars delta-sigmatyp eller cykliska omvandlare (fastän en cyklisk A/ D-omvandlare bokstavligen inte är en multistegs omvandlare anses den i denna beskrivni- gens syften vara en omvandlare av multistegstyp eftersom den utför A/ D- omvandling i flera steg genom återanvändning av ett A/D-omvandlarsteg). 10 15 20 25 30 522 569 .f- nu 4 Fig. 1 är ett blockdiagram över en typisk A/ D-omvandlare av pipelinetyp. En N-bitars analog-digitalomvandling utförs i två eller fler steg, varvid varje steg extraherar {Ni, N2 Nx} bitar av information som representeras av de digi- tala orden {di, dz dx}, där K är antalet pipelinesteg. Det första pipelineste- get extraherar de Ni mest signifikanta bitarna genom användning av en Ni- bitars A/D-subomvandlare 10. Därefter subtraheras det uppskattade värdet från den analoga insignalen Vin genom användning av en D / A- subomvandlare 12 och en adderare 14, vilket lämnar en rest som innehåller den för att extrahera mindre signifikanta bitar nödvändiga informationen.
Resten förstärks vanligtvis av en förstärkare 16 som har en förstärkning Gi för upprättande av det lämpliga signalområdet för steg 2. Dessa steg uppre- pas för alla K steg med undantag av det sista pipelinesteget som inte behöver generera en analog utsignal och därför inte har någon D/A-omvandlare, ad- derare eller förstärkare, utan endast en A/D-omvandlare 10. De digitala or- den {d1, dz dK} kombineras därefter för bildande av det digitala utordet du: i en enhet 18 för tidsensning och digital korrektion av A/ D- subomvandlarnas data.
För att förenkla den följande beskrivningen antas det att ett A/ D- omvandlarsteg har en upplösning på 3 bitar. Detta antal är tillräckligt litet för att vara lätthanterligt men är även tillräckligt stort för att illustrera de väsentliga särdragen hos ett allmänt fall.
Fig. 2 är ett blockdiagram över ett typiskt steg hos A/D-omvandlaren i fig. 1.
A/D-subomvandlaren 10 innefattar ett antal komparatorer COMP1-COMP7.
En ingängsterminal hos varje komparator ansluts till en motsvarande refe- rensspänning V1-V7 . Dessa referensspänningar bildas av en stege av resis- torer R1-R8. Under A/D-omvandling mottager den andra ingångsterminalen hos varje komparator den analoga insignalen (samma signal till varje kom- parator). Utsignalerna från komparatorerna bildar tillsammans det digitali- serade värdet i termometerkod. Dessa signaler vidarebefordras till D / A- subomvandlaren 12 över en termometerkodbuss bildad av ledningarna Tl- 10 15 20 25 30 522 569 u v « « . o . . . . . . , ., 5 T7, där de omvandlas till ett motsvarande analogt värde. Detta värde sub- traheras från det ursprungliga analoga värdet (som har lagrats i en hållkrets 20) i adderaren 14 och restsignalen förstärks med en förstärkning lika med 4 i förstärkarelementet 16. Bitarna från steget extraheras av en termometer- binäromvandlare 22 som omvandlar termometerkoden till binärkod, typiskt sett genom att hitta övergången från 1 till O i termometerkoden och slå upp den motsvarande positionen i ett läsminne (ROM) för att få binärkoden.
Dynamisk elementanpassning används ofta för randomisering av A/ D- omvandlarens fel. Randomiseringen erhålls genom sinsemellan utbyte, på ett pseudoslumpässigt sätt, av de element vars olämpliga anpassning genererar oönskade störningssignaler. I A/D-omvandlare av pipelinetyp betyder detta vanligtvis att elementen i en D / A-subomvandlare 12 byts ut sinsemellan av en krypteringsenhet 24 som styrs av en pseudoslumpmässig krypteringskod.
Utbytet utförs typiskt sett genom kryptering (scrambling) av de termometer- kodbitar som genereras av A/D-subomvandlaren 10 innan signalerna an- bringas på D / A-subomvandlaren. Sådan kryptering dekorrelerar D / A- omvandlarens fel från insignalen. Felen uppträder således nu som slump- mässigt brus och inte som ett systematiskt fel.
Fig. 3 är ett diagram som illustrerar timingen av de styrsignaler (Ds och (Dh som styr A/D-subomvandlaren 10 respektive D / A-subomvandlaren 12 i A/ D- omvandlarsteget i ñg. 2. A/D-omvandlarens beslutsfas startar när styrsigna- len (Ds går ned. D/A-omvandling i D/A-omvandlaren 12 kan emellertid inte starta vid samma tidpunkt på grund av de fördröjningar Tcomp och Tscf som införs av A/D-subomvandlarens 10 komparatorer respektive krypteringsen- heten 24. Dessutom finns det en säkerhetsmarginal Tm för att säkerställa re- peterande insvångning av den efterföljande D /A-omvandlaren oberoende av komparatorfördröjningarna, vilka inte är exakt kända. Den totala fördröjning- en innan D / A-omvandling startar genom att (Dh går hög är således: T T +T +T,,, total fördröjning = camp scr 10 15 20 25 30 av av I u v a - n . ~ « . , . . ..
Den totala fördröjningen bör emellertid vara så kort som möjligt eftersom en kortare fördröjning omvandlas till en högre uppnåbar samplingshastighet.
Dessutom implementeras krypteringsenheten 24 ofta som en butterflystruktur med flera lager (ett exempel kommer att beskrivas med hänvisning till fig. 6).
Varje lager inför en fördröjning. Eftersom det erfordrade antalet lager i butter- flystrukturen ökar med antalet extraherade bitar per steg betyder detta att även fördröjningen Tscr kommer att öka för steg med högre upplösning. Som ett typiskt exempel kan varje lagers fördröjning vara 0,2 ns som för en butter- flystruktur med 3 lager resulterar i en fördröjning Tscf på 0,6 ns. Detta kan jämföras med en typisk fördröjning Twmp på 0,6 ns och en marginal Tm på 0,2 ns. Den totala fördröjningen i detta exempel år således 1,4 ns.
Fig. 4 är ett blockdiagram över en belysande utföringsform av ett A/ D- omvandlarsteg i enlighet med den föreliggande uppfinningen. I denna utfö- ringsform har krypteringsenheten 24 flyttats från termometerkodbussen till den “komparatortröskelbuss” som bildas av ledningarna V1-V7. Under krypte- ring byts ledningarna V1-V7 (och således referensspänningarna) till kompa- ratorerna COMP1-COMP7 ut sinsemellan i enlighet med en krypteringskod och därvid tvingas A/D-omvandlaren 10 att generera en krypterad kod på termometerkodbussen (eftersom den analoga insignalen är samma på alla komparatorer spelar det ingen roll vilken komparator som tilldelas en viss trö skelnivå) .
Fig. 5 är ett diagram som illustrerar timingen av styrsignalerna (Ds och (Dh i A/D-omvandlarsteget i fig. 4. Eftersom krypteringsenheten 24 har tagits bort från terrnometerkodbussen kommer den totala fördröjningen nu att vara: T+T tatal fördröjning = camp m Eftersom komparatorerna fortfarande finns närvarande i omvandlaren kom- mer omvandlingsfördröjningen Tcomp fortfarande att finnas kvar. Användandes 10 15 20 25 30 522 569 7 de belysande fördröjningsvärdena ovan blir det en reducering i fördröjning på mer än 40%. Denna reducering kan användas för att öka den uppnåbara samplingshastigheten.
Fig. 6 illustrerar en belysande krypteringsenhet 24 implementerad som ett butterflynät. I denna utföringsform passerar trösklarna V1-V7 3 omkopp- lingslager som styrs av en krypteringskod (9 bitar i exemplet). Om en kodbit är “låg” ändrar den motsvarande omkopplaren inte signalerna. Ä andra sidan om biten är “hög” kommer omkopplaren att byta ut det motsvarande tröskelparet.
Genom tillhandahållande av olika krypteringskoder på ett pseudoslumpmås- sigt sätt är det möjligt att kombinera omkopplarna i lagren i olika utbytes- kombinationer och därvid implementera “k1yptering” .
Eftersom omvandlaren 22 nu kommer att mottaga en krypterad termometer- kod (i känd teknik var den riktiga termometerkoden tillgänglig) måste den mo- difieras något. En möjlig lösning är att införa en avkrypteringsenhet mellan (den krypterade) termometerkodbussen och omvandlaren 22. Denna avkrypte- ringsenhet kan helt enkelt innefatta samma butterflynät som i fig. 6 men med ombytta ingångs- och utgångssidor. På detta sätt kan samma krypteringskod användas för både krypterings- och den avkiypteringsenheten. De avkrypte- rade signalerna kan då omvandlas till binär form på ett konventionellt sätt.
En annan möjlighet är att implementera omvandlaren 22 som en Wallaceträd- avkodare (se [4]), som illustreras i flg. 7. Wallaceträdet innefattar ett antal sammankopplade fullständiga adderare. Vid den första nivån (övre delen i fig. 7) räknar varje adderare antalet “ettor” vid sin ingång T1-T3 respektive T4-T6 och matar ut ett 2-bitars kodat ord s,c (summa och överföring). Vid den andra nivån adderar ytterligare fullständiga adderare de 2-bitars orden från den fö- regående nivån och adderar även den återstående signalen T7. Detta ger bi- närkoden b2,b1,b0 för en 3-bitars omvandlare.
Fig. 8 illustrerar en annan belysande utföringsform av en termometer- binäromvandlare som är lämpligt att användas i anslutning till den förelig- 10 15 20 25 30 522 569,.I=§f.'f"-.__.-" -= ° .au o. 8 gande uppfinningen. Denna omvandlare är lämplig för en 4-bitars A/ D- subomvandlare. Den 3-bitars omvandlaren i fig. 7 används som en kompo- nent och utgångama från två sådan komponenter kombineras såsom illustre- ras i fig. 8. För högre upplösning kan samma principer, nämligen att sam- mankoppla utgångar från omvandlare med lägre upplösning, upprepas.
Wallaceträdet är således en enkel och kompakt struktur för implementering av termometer-binäromvandling. På grund av trädstrukturen är signalutbred- ningens längd kort. Den kan även lätt göras till pipelinetyp, vilket betyder att den aldrig kommer att vara en hastighetsbegränsande faktor i A/D- omvandlaren.
Kryptering av trösklar orsakar transienter på tröskelkodbussen. Dessa transi- enter behöver viss insvängningstid innan stabila nivåer erhålls. Fig. 9 är ett tidsdiagram som illustrerar insvängningstider för tröskelnivåfel som beror på kryptering. Detta diagram är lärnpligt för en utföringsform i enlighet med fig. 4. I en sådan utföringsform vidarebefordras trösklarna till komparatorerna för direkt jämförelse med den analoga signalen. Komparatorns insignal skulle till exempel kunna innefattar ett differentiellt steg hos en förförstärkare eller en insignal till ett hållelement, vilket företrädesvis är regenerativt. Den övre delen av fig. 9 illustrerar de klockfaser (Ds och (Dh som styr A/ D- respektive D/A- subomvandlaren. Mittendelen av fig. 9 illustrerar en analog signal och den nedre delen illustrerar tröskelinsvängningsfelet efter kryptering. Läsning av komparatorerna utförs vid den fallande kanten hos (Ds. Tröskelkryptering ut- förs kort efter den stigande kanten hos (Dh. Som kan ses från fig. 9 finns mer än en halv klockperiod tillgänglig för krypterad tröskelinsvängning eftersom en krypterad tröskel inte behöver vara stabil förrän nästa låsningstillfälle.
Fig. 10 illustrerar en belysande utföringsform av en komparators ingångssteg som är lämpligt för hantering av differentiella insignaler. I denna utförings- form sarnplas trösklarna på kondensatorer för användning i den nästa klock- fasen. Klockfasema (D82 och (Dhz motsvarar (Ds respektive (Dh, medan (Dm är en något ledande version av (Dh. 10 15 20 25 30 522 569 ø . - . .- Fig. 11 är ett tidsdiagram som illustrerar insvängningstider för tröskelnivåfel som beror på kryptering i utfóringsfonnen i fig. 10. Höga signaler (Dm och (D52 motsvarar kondensatoringångarnas omkopplare i motsvarande betecknade omkopplingstillstånd i ñg. 10. En hög signal 49111 motsvarar stängda (ledande) omkopplare betecknade med n1 i fig. 10. Eftersom trösklarna inte samplas simultant med komparatorlásning ñnns det fortfarande mer än en halv klock- period tillgänglig för tröskelinsvängning. Fastän de krypterade trösklarna så- ledes inte har svängt in än vid tiden för komparatorlåsning (när den analoga signalen jämförs med de tidigare samplade trösklarna) har dessa krypterade trösklar fortfarande nästan en halv klockperiod att insvänga innan de ska samplas vid den nästa fallande kanten hos ribhz.
Den föreliggande uppfinningen begränsas inte till tröskelspänningar som ge- nereras av resistansstegar. Som ett ytterligare exempel illustrerar fig. 12 en utföringsform av en komparators ingångssteg baserat på omkopplad konden- satortröskelgenerering. Figuren illustrerar ingångssteget hos komparator i hos en 3-bitars icke differentiell A/ D-subomvandlare. En adderare adderar en 3- bitars krypteringskod till den 3-bitars representationen av komparatom nummer i, vilken representerar en normaltröskel. Minnesbiten ignoreras i ad- ditionen. Den resulterande signalen, om skild från noll, bildar ett tröskelord Wi, från vilket varje bit styr en motsvarande omkopplare för val av en referens- spänning, antingen Vref+ eller Vfer. Under klockfasen (Dnz vidarebefordras de valda referensspänningarna till en viktad kondensatoruppställning som bildar den krypterade tröskeln. I denna utföringsform åstadkoms kryptering genom cirkulering av normaltröskelkoden (i adderaren) och den pseudoslumpmässiga krypteringskoden bestämmer antalet bitpositioner som cirkuleras. Eftersom ett noll tröskelord motsvarar en tröskelnivå som inte används ersätts en re- sulterande noll kod från adderaren med krypteringskoden (detta åstadkoms av omkopplaren efter adderaren) som är skild från noll (mellan 1 och 7 i den illu- strerade utföringsformen). Anledningen till detta val är att inget tröskelord från adderaren kommer att innefatta krypteringskoden eftersom detta skulle medföra att tröskelordet 000 hade adderats, vilket inte är ett giltigt normal- 10 15 20 25 30 522 569 - a - Q I o _ . _ ._ 10 tröskelord (tröskelord varierar mellan 1 och 7 i den illustrerade utföringsfor- men).
Fig. 13 illustrerar en belysande utföringsform av ett steg i en A/ D-omvandlare av multibitars delta-sigmatyp konfigurerad i enlighet med den föreliggande uppfinningen. Den illustrerade utföringsformen är en tidskontinuerlig A/D- omvandlare av multibitars delta-sigmatyp med ett tidkontinuerligt filter 21, typiskt sett en integrator för implementering av en lågpass delta- sigmaomvandlare och klockade komparatorer och D / A-subomvandlare.
Det är även möjligt att implementera en tidsdiskret omvandlare, till exempel genom implementering av integratom som ett omkopplat kondensatorfilter och genom att ha tidskontinuerliga (icke klockade) komparatorer och D / A- subomvandlare. I detta fall kommer (Ds och (Dh att styra integratorn istället.
Fig. 14 är ett flödesdiagram som illustrerar förfarandet i enlighet med den fö- religgande uppfinningen. Steg S1 representerar början på en ny sampelperiod- Steg S2 krypterar tröskelnivåerna. Steg S3 samplar den analoga insignalen med krypterade komparatortrösklar. Steg S4 omvandlar den resulterande krypterade termometerkoden till binärkod. Förfarandet återvänder därefter till steget S1 för den nästa sampelperioden.
I beskrivningen ovan modifierades A/ D-subomvandlarens komparatortrösklar för implementering av kryptering av termometerkoden utanför termometer- kodbussen. Ett alternativ skulle vara att modifiera (kompensera) den analoga insignalen till varje komparator. Ännu en annan möjlighet skulle vara att ju- stera komparatorernas inre kompenseringar.
Den föreliggande uppfinningen möjliggör randomisering av D / A- subomvandlarfel utan att införa något hastighetsstraff eller straff i dynamiskt område. Genom randomisering av felen utfaller sådana fel i A/D-omvandling som brus snarare än som distorsion och intermodulering. Detta är en mycket stor fördel i de flesta radiosystem men även i många andra tillämpningar. 522 569 o ~ ø - n n n , ' . __ 11 Uppfinningen kan användas antingen ensam eller som ett komplement till ka- librering för A/ D-omvandlare med hög prestanda.
Fackmannen inser att olika modifieringar och förändringar kan göras vid den föreliggande uppfinningen utan avvikelse från dess ram, som definieras av de bifogade patentkraven. 10 15 20 [1] [2] [3] [4] 522 569 12 REFERENSER Ian Galton, “Digital Cancellation of D/A Converter Noise in Pipelined A/ D Converters,” IEEE Transactions on Circuits and Systems-II: Ana- log and Digital Signal Processing, vol. 47, nr. 3, mars 2000.
Todd L. Brooks, David H. Robertson, Daniel F. Kelly, Anthony Del Muro, och Stephen W. Harston, “A Cascaded Sigma-Delta Pipeline A / D Converter with 1.25 MHz Signal Bandwidth and 89 dB SNR,” IEEE Journal of Solid- State Circuits, vol. 32, nr. 12, december 1997.
P. Rombouts och L. Weyten, “Dynamic element matching for pipelined A/ D conversion,” 1998 IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems. Surfing the Waves of Science and technology, vol. 2, 7-9 september 1998, Portugal.
F. Kaess, R. Kanan, B. Hochet och M. Declercq, “New Encoding Sche- me for High-Speed Flash ADCs”, 1997 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, juni 9-12, 1997, Hong Kong.

Claims (16)

10 15 20 25 30 522 569 « . . - . . - . v - f ~ 1 v 13 PATENTKRAV
1. Förfarande för dynamisk elementanpassning för en D/A-subomvandlare hos ett A / D-omvandlarsteg, kännetecknat av styrning av en A/D-subomvandlares komparatorer för generering av krypterad termometerkod, och avkryptering av den krypterade termometerkoden innan termometer- binärkodomvandling.
2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av modifiering av kompa- ratortrösklar för generering av den krypterade termometerkoden.
3. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknat av en Wallacetrâd- avkodning för termometer-binärkodomvandling av den krypterade termome- terkoden.
4. Apparat för dynamisk elementanpassning i en D /A-subomvandlare hos ett A/D-omvandlarsteg, kännetecknad av organ (24) för styrning av en A/D-subomvandlares komparatorer för generering av krypterad termometerkod, och organ för avkryptering av den krypterade termometerkoden innan ter- mometer-binärkodomvandling.
5. Apparat enligt patentkrav 4, kännetecknad av organ (24) för modifiering av komparatortrösklar för generering av den krypterade termometerkoden.
6. Apparat enligt patentkrav 4 eller 5, kännetecknad av ett Wallaceträd för termometer-binärkodomvandling av den krypterade termometerkoden.
7. A/D-omvandlarsteg innefattandes en A/ D-subomvandlare, kännetecknat RV organ (24) för styrning av A/D-subomvandlarens komparatorer för ge- nerering av krypterad termometerkod, och 10 15 20 25 30 522 569 vara: s."=":= ="=-::- ="=s._s-.-= M , ,,.. . .. . ,, organ för avkryptering av den krypterade termometerkoden innan ter- mometer-binärkodomvandling.
8. A/D-omvandlarsteg enligt patentkrav 7, kännetecknat av organ (24) för modifiering av komparatortrösklar för generering av den krypterade termo- meterkoden.
9. A/D-omvandlarsteg enligt patentkrav 7 eller 8, kännetecknat av ett Wal- lacetrâd för termometer-binärkodomvandling av den krypterade termometer- koden.
10. Multistegs A/D-omvandlare innefattandes organ för dynamisk element- anpassning, kännetecknad av organ (24) för styrning av A/D-subomvandlares komparatorer för ge- nerering av krypterad termometerkod, och organ för avkryptering av den krypterade termometerkoden innan ter- mometer-binärkodomvandling.
11. A/D-omvandlare enligt patentkrav 10, kännetecknad av organ (24) för modifiering av komparatortrösklar för generering av den krypterade termo- meterkoden.
12. A/D-omvandlare enligt patentkrav 10 eller ll, kännetecknad av ett Wallaceträd för termometer-binärkodomvandling av den krypterade termo- meterkoden.
13. A/D-omvandlare enligt något av patentkraven 10-12, kännetecknad av att A/D-omvandlaren är en A/D-omvandlare av pipelinetyp.
14. A/D-omvandlare enligt något av patentkraven 10-12, kännetecknad av att A / D-omvandlaren år en cyklisk A / D-omvandlare. 522 569 /5
15. A/ D-omvandlare enligt något av patentkraven 10-12, kännetecknad av att A/ D-omvandlaren år en A/ D-omvandlare av sub-rangingtyp.
16. A/ D-omvandlare enligt något av patentkraven 10-12, kännetecknad av att A/ D-omvandlaren år en A/ D-omvandlare av multibitars delta-sigmatyp.
SE0101423A 2001-02-27 2001-04-24 Dynamisk elemetanpassning i a/d-omvandlare SE522569C2 (sv)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0101423A SE522569C2 (sv) 2001-02-27 2001-04-24 Dynamisk elemetanpassning i a/d-omvandlare
DE60212940T DE60212940T2 (de) 2001-02-27 2002-02-13 Vergleich dynamischer elemente in a/d-umsetzern
US10/466,706 US6816103B2 (en) 2001-02-27 2002-02-13 Dynamic element matching in A/D converters
AT02712557T ATE332589T1 (de) 2001-02-27 2002-02-13 Vergleich dynamischer elemente in a/d-umsetzern
EP02712557A EP1364461B1 (en) 2001-02-27 2002-02-13 Dynamic element matching in a/d converters
PCT/SE2002/000239 WO2002069502A1 (en) 2001-02-27 2002-02-13 Dynamic element matching in a/d converters
ES02712557T ES2267995T3 (es) 2001-02-27 2002-02-13 Emparejamiento dinamico de elementos para convertidores a/d.

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0100663A SE520277C2 (sv) 2001-02-27 2001-02-27 Införande av kalibreringssekvens hos en A/D-omvandlare
SE0101423A SE522569C2 (sv) 2001-02-27 2001-04-24 Dynamisk elemetanpassning i a/d-omvandlare

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE0101423D0 SE0101423D0 (sv) 2001-04-24
SE0101423L SE0101423L (sv) 2002-08-28
SE522569C2 true SE522569C2 (sv) 2004-02-17

Family

ID=26655400

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE0101423A SE522569C2 (sv) 2001-02-27 2001-04-24 Dynamisk elemetanpassning i a/d-omvandlare

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6816103B2 (sv)
EP (1) EP1364461B1 (sv)
AT (1) ATE332589T1 (sv)
DE (1) DE60212940T2 (sv)
ES (1) ES2267995T3 (sv)
SE (1) SE522569C2 (sv)
WO (1) WO2002069502A1 (sv)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100517974C (zh) 2002-04-02 2009-07-22 艾利森电话股份有限公司 用于a/d转换器的比较器偏移校准方法和系统
US6914549B2 (en) * 2003-09-12 2005-07-05 Texas Instruments Incorporated Reconfigurable analog-to-digital converter
WO2005041417A2 (en) * 2003-10-27 2005-05-06 Dan Raphaeli Digital input signals constructor providing analog representation thereof
JP2005269400A (ja) * 2004-03-19 2005-09-29 Sanyo Electric Co Ltd 比較装置及び方法、その比較方法を利用可能なアナログデジタル変換装置、及びその比較方法に利用可能な判定装置
US7091891B2 (en) * 2004-04-28 2006-08-15 Analog Devices, Inc. Calibration of analog to digital converter by means of multiplexed stages
US7307564B1 (en) * 2004-10-25 2007-12-11 Hrl Laboratories, Llc Continuous-time delta-sigma modulators using distributed resonators
US7116260B2 (en) * 2005-01-26 2006-10-03 Raytheon Company Mismatch shaped analog to digital converter
DE102005012444B4 (de) * 2005-03-17 2006-12-07 Infineon Technologies Ag Steuervorrichtung und Verfahren zur Verwürfelung der Zuordnung der Referenzen eines Quantisierers in einem Sigma-Delta-Analog-Digital-Umsetzer
US7298306B2 (en) * 2006-03-24 2007-11-20 Cirrus Logic, Inc. Delta sigma modulators with comparator offset noise conversion
US7420494B1 (en) 2007-04-30 2008-09-02 Analog Devices, Inc. Mismatch shaping Δ-Σ analog to digital converter system
US20090091483A1 (en) * 2007-10-04 2009-04-09 Texas Instruments Incorporated Flash analog to digital converter (adc)
US7692569B2 (en) * 2008-04-03 2010-04-06 Analog Devices, Inc. Methods and apparatus for rotating a thermometer code
US7652611B2 (en) * 2008-05-20 2010-01-26 Analog Devices, Inc. Front-end sampling technique for analog-to-digital converters
US7786910B2 (en) * 2008-08-12 2010-08-31 Analog Devices, Inc. Correlation-based background calibration of pipelined converters with reduced power penalty
JP2010063055A (ja) * 2008-09-08 2010-03-18 Sony Corp 逐次比較型a/d変換器、逐次比較型a/d変換器の制御方法、固体撮像装置および撮像装置
US7733253B2 (en) * 2008-09-17 2010-06-08 Hypres, Inc. Superconductor multi-level quantizer
US8416109B2 (en) 2010-12-16 2013-04-09 Hypres, Inc. Superconducting analog-to-digital converter with current amplified feedback
US8723707B2 (en) 2011-11-14 2014-05-13 Analog Devices, Inc. Correlation-based background calibration for reducing inter-stage gain error and non-linearity in pipelined analog-to-digital converters
US8884802B2 (en) * 2013-03-15 2014-11-11 Analog Devices Technology System, method and recording medium for analog to digital converter calibration
US9106244B2 (en) * 2013-08-14 2015-08-11 Maxlinear, Inc. Localized dynamic element matching and dynamic noise scaling in digital-to-analog converters (DACs)
US9077369B1 (en) * 2014-01-21 2015-07-07 Mixsemi Limited Delta-sigma modulator having multiple dynamic element matching shufflers
US9531409B2 (en) 2014-06-25 2016-12-27 Qualcomm Incorporated Switched capacitor transmitter circuits and methods
US9337874B1 (en) * 2014-12-18 2016-05-10 Intel IP Corporation High-speed digital signal processing systems

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5404142A (en) 1993-08-05 1995-04-04 Analog Devices, Incorporated Data-directed scrambler for multi-bit noise shaping D/A converters
US5936562A (en) * 1997-06-06 1999-08-10 Analog Devices, Inc. High-speed sigma-delta ADCs
US6124813A (en) * 1997-06-06 2000-09-26 Analog Devices, Inc. Self-linearizing multi-bit DACs
US5977899A (en) * 1997-09-25 1999-11-02 Analog Devices, Inc. Digital-to-analog converter using noise-shaped segmentation
US6218977B1 (en) * 1998-09-25 2001-04-17 Conexant Systems, Inc. Methods and apparatus for distributing mismatched error associated with data converter elements
US6154162A (en) * 1999-01-06 2000-11-28 Centillium Communications, Inc. Dual-stage switched-capacitor DAC with scrambled MSB's
US6348884B1 (en) * 1999-01-06 2002-02-19 Jesper Steensgaard-Madsen Idle-tone-free mismatch-shaping encoders
US6348888B1 (en) * 1999-03-22 2002-02-19 Texas Instruments Incorporated Pipelined ADC with noise-shaped interstage gain error
US6545623B1 (en) * 1999-12-23 2003-04-08 Texas Instruments Incorporated High speed analog-domain shuffler for analog to digital converter
SE516799C2 (sv) * 2000-04-25 2002-03-05 Ericsson Telefon Ab L M Ett förfarande och en anordning för kalibrering av A/D- omvandlare

Also Published As

Publication number Publication date
SE0101423L (sv) 2002-08-28
EP1364461B1 (en) 2006-07-05
SE0101423D0 (sv) 2001-04-24
ATE332589T1 (de) 2006-07-15
DE60212940D1 (de) 2006-08-17
US20040051657A1 (en) 2004-03-18
DE60212940T2 (de) 2007-03-01
EP1364461A1 (en) 2003-11-26
WO2002069502A1 (en) 2002-09-06
US6816103B2 (en) 2004-11-09
ES2267995T3 (es) 2007-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE522569C2 (sv) Dynamisk elemetanpassning i a/d-omvandlare
US7576671B2 (en) Mismatch-shaping dynamic element matching systems and methods for multi-bit sigma-delta data converters
US7006028B2 (en) Digital background cancellation of digital to analog converter mismatch noise in analog to digital converters
US6426714B1 (en) Multi-level quantizer with current mode DEM switch matrices and separate DEM decision logic for a multibit sigma delta modulator
US6617992B2 (en) Capacitor mismatch independent gain stage for differential pipeline analog to digital converters
US5977899A (en) Digital-to-analog converter using noise-shaped segmentation
US7187318B1 (en) Pipeline ADC using multiplying DAC and analog delay circuits
US20020105453A1 (en) Curcuit, system and method for performing dynamic element matching using bi-directional rotation within a data converter
JP4543209B2 (ja) デジタルディザを用いる多段変換器
US6100834A (en) Recursive multi-bit ADC with predictor
US6795007B2 (en) Circuits and methods for a variable over sample ratio delta-sigma analog-to-digital converter
US6600440B1 (en) Capacitor mismatch independent gain stage for pipeline analog to digital converters
JP2001203577A (ja) アナログ・ディジタル変換器のための高速アナログ・ドメイン・シャフリングの方法
WO2002023732A2 (en) Methods and systems for high speed quantizers
EP3297169A1 (en) Continuous-time cascaded sigma-delta analog-to-digital
Venerus et al. Simplified logic for tree-structure segmented DEM encoders
TW201926907A (zh) 連續時間δ-σ調製器
US10425096B1 (en) Method and apparatus for improving resolutions of analog-to-digital converters
Fukazawa et al. A CT 2–2 MASH ΔΣ ADC with multi-rate LMS-based background calibration and input-insensitive quantization-error extraction
Hamoui et al. A 1.8-V 3-MS/s 13-bit/spl Delta//spl Sigma/A/D converter with pseudo data-weighted-averaging in 0.18-/spl mu/m digital CMOS
Rao et al. Optimizing the Stage Resolution of a 10-Bit, 50 Ms/Sec Pipelined A/D Converter & Its Impact on Speed, Power, Area, and Linearity
Kiss Adaptive digital compensation of analog circuit imperfections for cascaded delta-sigma analog-to-digital converters
Abed et al. High speed flash analog-to-digital converter
Kester ADC architectures I: the flash converter
Srivastava et al. A programmable oversampling sigma-delta analog-to-digital converter

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed