JP2006262308A - 撮像装置 - Google Patents

Abstract

【課題】フレームレートが高い撮影を行う際に、撮影を阻害することなくＶライン傷を的確に補正することができる技術を提供する。
【解決手段】撮像センサ１６の電荷転送ラインにおける欠陥に起因して画像において発生するＶライン傷の位置およびレベルと、当該撮像センサ１６に係る温度との関係を示すＶライン傷情報を傷情報メモリ５４に予め記憶しておく。そして、例えば、動画撮影モードや連写モードなどを含む所定の撮影モードにおける撮影時に、Ｖライン傷情報を参照することで、撮像センサ１６に係る実温度に対応するＶライン傷の位置およびレベルを認識し、当該認識されたＶライン傷の位置およびレベルに応じたＶライン傷の補正を行う。
【選択図】図２

Description

本発明は、撮像装置に関する。

デジタルカメラに用いられるＣＣＤ撮像素子については、小型化および高画素化が進んでおり、それに伴い、画素欠陥も増加する傾向にある。

画素欠陥については、画素欠陥の番地データを記憶しておき、画素欠陥の場所を特定する技術が開示されている（例えば、特許文献１）。

また、ＣＣＤ撮像素子の欠陥は、信号電荷を転送する垂直転送ラインにも発生してきており、その結果として、撮影画像においてライン性の高輝度の傷（Ｖライン傷）が生じる。このＶライン傷による画質の劣化は、単なる画素欠陥によるものよりも遙かに大きい。このため、Ｖライン傷は確実に補正して画像を生成する必要がある。

このＶライン傷の補正については、撮影画像について、Ｖライン傷が発生するエリアの各画素とその周辺画素との比較により画像上目立つと判定されたＶライン傷に対して、同色の周辺４画素の平均値で置換する処理（補間処理）を施すことにより、Ｖライン傷を補正する技術が提案されている（例えば、特許文献２）。

但し、上記特許文献２で提案された技術では、補間処理によって撮影画像の画質が劣化してしまうため、高画質を確保するためには撮影時に適した補正量を求める必要がある。そして、Ｖライン傷の発生量およびレベルは温度依存性が高いため、通常は撮影終了直後にＶライン傷の発生量およびレベルを検出して補正量を決定することで対応している。

また、動画撮影等といった各撮影画像を取得する間隔が短い（フレームレートが高い）撮影を行う場合には、各本撮影についてＶライン傷の発生量およびレベルを検出するだけの時間的余裕がないため、一連の撮影が終了した直後にＶライン傷に適した補正量を求めるようにしている。

このような技術に関する先行技術文献としては、以下のようなものがある。

特開平７−１６２７５７号公報 特開２００４−２３６８３号公報

しかしながら、動画撮影では連続した複数回の本撮影により、撮影中においてもＣＣＤ撮像素子の温度が大きく上昇し、Ｖライン傷のレベルが変化してしまう。このため、動画撮影時には、Ｖライン傷のレベルが変化しないように動画撮影の時間を所定の期間内に制限する必要性があった。

このような問題は、動画撮影だけに限られず、いわゆる連写などといったフレームレートが高い撮影を行う場合一般に共通する。

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、フレームレートが高い撮影を行う際に、撮影を阻害することなくＶライン傷を的確に補正することができる技術を提供することを目的とする。

上記の課題を解決するために、請求項１の発明は、撮像装置であって、撮像素子を有し、被写体に係る画像を取得する撮像手段と、前記撮像素子の電荷転送ラインにおける欠陥に起因して前記画像において発生する線状傷の位置およびレベルと、前記撮像素子に係る温度との関係を示す線状傷情報を予め記憶する記憶手段と、前記撮像素子に係る実温度を検出する温度検出手段と、撮影時に、前記線状傷情報を参照することで、前記実温度に対応する線状傷の位置およびレベルを認識する認識手段と、前記認識手段によって認識された線状傷の位置およびレベルに応じたオフセットを行うことで、前記撮影時に前記撮像手段によって取得された画像における線状傷を補正する傷補正手段とを備えることを特徴とする。

また、請求項２の発明は、請求項１に記載の撮像装置であって、前記線状傷情報が、前記画像において発生する線状傷の位置およびレベルと、前記撮像素子に係る複数段階の温度との関係を示す情報であり、前記認識手段が、前記実温度が前記複数段階の温度の全てと異なる場合に、前記複数段階の温度のうちの前記実温度を挟む複数の温度に係る線状傷のレベルを用いた演算により、前記実温度に対応する線状傷のレベルを認識することを特徴とする。

また、請求項３の発明は、請求項１または請求項２に記載の撮像装置であって、前記撮影時が、所定の撮影モードにおける撮影時であることを特徴とする。

また、請求項４の発明は、請求項３に記載の撮像装置であって、前記所定の撮影モードが、動画撮影モードを含むことを特徴とする。

また、請求項５の発明は、請求項３または請求項４に記載の撮像装置であって、前記所定の撮影モードが、連写モードを含むことを特徴とする。

また、請求項６の発明は、請求項１から請求項５のいずれかに記載の撮像装置であって、前記傷補正手段が、前記実温度が所定温度以上の場合には、前記認識手段によって認識された線状傷の位置およびレベルに応じたオフセットを行うことを特徴とする。

請求項１から請求項６に記載のいずれの発明によっても、撮像素子の電荷転送ラインにおける欠陥に起因して画像において発生する線状傷の位置およびレベルと、当該撮像素子に係る温度との関係を示す線状傷情報を予め記憶しておき、撮影時に、線状傷情報を参照することで、撮像素子に係る実温度に対応する線状傷の位置およびレベルを認識して、オフセットによって線状傷を補正するような構成とすることで、例えば、複数回の本撮影を連続して行う場合であっても、各本撮影の間にＶライン傷のレベルを検出する必要性がなくなる。したがって、フレームレートが高い撮影を行う際に、撮影を阻害することなくＶライン傷を的確に補正することができる。

特に、請求項２に記載の発明によれば、線状傷の位置およびレベルと関係付けられて記憶された複数段階の温度と、撮像素子に係る実温度とが一致しない場合には、複数段階の温度のうちの実温度を挟む複数の温度に係る線状傷のレベルを用いた演算により、実温度に対応する線状傷のレベルを認識するような構成により、例えば、事前に準備しておく情報量が少なくても済むため、事前に情報を準備する手間を省くことができる。また、記憶手段の容量が小さくても済む。

また、請求項４および請求項５に記載のいずれの発明によっても、動画撮影や連写などといった各本撮影の間にＶライン傷のレベルを検出することが困難な場合であっても、撮影に支障を与えることなく、Ｖライン傷を的確に補正することができる。

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。

＜撮像装置の要部構成＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る撮像装置１の要部構成を示す図である。ここで、図１(ａ)〜(ｃ)は、それぞれ撮像装置１の正面図、背面図および上面図に相当している。

撮像装置１は、デジタルカメラとして構成されており、撮影レンズ１０を備えている。

撮像装置１は、その上面にモード切替スイッチ１２とシャッターボタン１３とが設けられている。

モード切替スイッチ１２は、被写体を撮像してその静止画を記録する静止画撮影モード（ＲＥＣモード）と、動画撮影を行う動画撮影モード（ＭＯＶＥモード）と、メモリカード９(図２参照)に記録された画像を再生する再生モード（ＰＬＡＹモード）とを切替えるためのスイッチである。

シャッターボタン１３は、半押し状態(Ｓ１オン)と、さらに押し込まれた全押し状態(Ｓ２オン)とを検出可能な２段階スイッチになっている。上記の静止画撮影モードにおいてシャッターボタン１３が半押しされると、ズーム・フォーカスモータドライバ４７(図２参照)が駆動されて、合焦位置に撮影レンズ１０を移動させる動作が行われる。一方、静止画撮影モードにおいてシャッターボタン１３が全押しされると、本撮影動作、つまり記録用の撮影動作が行われる。

撮像装置１の背面には、撮影された画像などを表示するＬＣＤ(Liquid Crystal Display)モニタ４２と、電子ビューファインダー(ＥＶＦ)４３と、コマ送り・ズームスイッチ１５と、電源スイッチ５とが設けられている。

コマ送り・ズームスイッチ１５は、４つのボタンで構成され、再生モードにおける記録画像のコマ送りや、撮影時のズーミングを指示するためのスイッチである。このコマ送り・ズームスイッチ１５の操作により、ズーム・フォーカスモータドライバ４７が駆動されて、撮影レンズ１０に関する焦点距離を変更できる。また、撮像装置１が静止画撮影モードに設定されている状態で、コマ送り・ズームスイッチ１５を適宜操作することで、１フレーム分の静止画を取得する撮影モード（「通常撮影モード」とも称する）と、複数の静止画を高速のフレームレートで取得する撮影モード（「連写モード」とも称する）とを切り替えることができる。

なお、通常撮影モードでは、シャッターボタン１３が全押しされると、１フレーム分の静止画像を取得する撮影動作が行われるのに対して、連写モードでは、シャッターボタン１３が全押しされている状態が保持される間、所定のフレームレートで本撮影を行い、複数の静止画像を取得する撮影動作が行われる。また、動画撮影モードでは、シャッターボタン１３が全押しされると動画撮影が開始され、再度シャッターボタン１３が全押しされると動画撮影が終了する。

電源スイッチ５は、上下方向に操作することで、撮像装置１が起動された状態（電源ＯＮ状態）と起動されていない状態（電源ＯＦＦ状態）とを切り替えるものである。

＜撮像装置の機能構成＞
図２は、撮像装置１の機能ブロックを示す図である。

撮像装置１は、撮像センサ１６と、撮像センサ１６にデータ伝送可能に接続する信号処理部２と、信号処理部２に接続する画像処理部３と、画像処理部３に接続するカメラ制御部４０とを備えている。

撮像センサ１６は、複数種類の色成分であるＲ(赤)、Ｇ(緑)、Ｂ(青)の原色透過フィルターがピクセル単位に市松状に配列(ベイヤー配列)されたエリアセンサ(ＣＣＤ撮像素子、単に「ＣＣＤ」とも略する)として構成されており、全画素読み出しタイプである。この撮像センサ１６の温度については、撮像装置１の筐体内の温度を測定する温度センサ４９により間接的に検出が可能となっている。

撮像センサ１６において露光によって電荷の蓄積が完了すると、光電変換された信号電荷は、遮光された撮像センサ１６内の垂直・水平転送路へとシフトされ、ここからバッファを介し画像信号として出力される。つまり、撮像センサ１６は、被写体に係る画像信号（画像）を取得する撮像手段として機能する。

信号処理部２は、ＣＤＳ２１とＡＧＣ２２とＡ／Ｄ変換部２３とを有しており、いわゆるアナログフロントエンドとして機能する。

撮像センサ１６から出力されたアナログ画像信号は、ＣＤＳ２１でサンプリングされノイズが除去された後、ＡＧＣ２２により撮影感度に相当するアナログゲインが乗算されて感度補正が行われる。

Ａ／Ｄ変換部２３は、例えば１４ビットの変換器として構成されており、ＡＧＣ２２で正規化されたアナログ信号をデジタル化する。デジタル変換された画像信号は、画像処理部３で所定の画像処理が施されて画像ファイルが生成される。

画像処理部３は、点欠陥補正部５１とＶライン傷検出部５２とＶライン傷補正部５３とを備えている。また、画像処理部３は、デジタル処理部３ｐと画像圧縮部３６とビデオエンコーダ３８とメモリカードドライバ３９とを備えている。

画像処理部３に入力された画像データについては、まず点欠陥補正部５１において予め記憶されている点欠陥アドレスに基づき欠陥が存在する画素データが補正データに置換される。

Ｖライン傷検出部５２は、撮像センサ１６の垂直転送ライン(垂直ＣＣＤ)の欠陥箇所に起因して画像上で生じるライン性の傷（「線状傷」とも言い、以下では「Ｖライン傷」と称する）の位置（アドレス）およびレベル（画素値）を検出する。検出されたＶライン傷のレベル（傷レベル）は、傷情報メモリ５４に記憶される。

点欠陥補正部５１から出力される画像データのうち、記録／再生用の画像データについては、Ｖライン傷補正部５３において、Ｖライン傷の補正が行われる。このＶライン傷の補正には、通常傷補正モードと、高速傷補正モードとがある。通常傷補正モードは、記録／再生用の画像データを取得した直後にＶライン傷検出部５２で検出されたＶライン傷のレベルに応じて補正を行うモードである。また、高速傷補正モードは、傷情報メモリ５４に予め記憶されるＶライン傷の情報（後述するＶライン傷情報）に応じて算出されたＶライン傷を補正するためのデータに基づいて補正を行うモードである。そして、Ｖライン傷が補正された画像データは、デジタル処理部３ｐに入力される。一方、傷レベルを検出するために撮像センサ１６から読み出された電荷信号に基づく画像データについては、Ｖライン傷検出部５２における傷レベルの検出に供される。

なお、工場出荷前等の所定のタイミングにおいては、Ｖライン傷検出部５２によってＶライン傷のアドレス（すなわち垂直ＣＣＤにおける欠陥のアドレス）および傷レベルが検出され、傷情報メモリ５４に格納される。また、Ｖライン傷を発生させる欠陥の数および傷レベルには温度依存性があるため、この欠陥のアドレスおよび傷レベルと、撮像センサ１６に係る複数段階の温度（ここでは、温度センサ４９等により間接的に検出される撮像センサ１６の複数段階の温度）との関係を示すＶライン傷の情報（「Ｖライン傷情報」とも称する）を傷情報メモリ５４に記憶しておく。

デジタル処理部３ｐは、画素補間部３１とホワイトバランス制御部３２とガンマ補正部３３と輪郭強調部３４と解像度変換部３５とを有している。

デジタル処理部３ｐに入力される画像データは、撮像センサ１６の読出しに同期し画像メモリ４１に書込みまれる。以後は、この画像メモリ４１に格納された画像データにアクセスし、デジタル処理部３ｐで各種の処理が行われる。

画像メモリ４１内の画像データは、まずホワイトバランス制御部３２によりＲＧＢ各画素が独立にゲイン補正され、ＲＧＢのホワイトバランス補正が行われる。このホワイトバランス補正では、撮影被写体から本来白色となる部分を輝度や彩度データ等から推測し、その部分のＲ、Ｇ、Ｂそれぞれの平均値とＧ／Ｒ比およびＧ／Ｂ比とを求め、これらの情報に基づいてＲおよびＢの補正ゲインを決定する。

ホワイトバランス補正された画像データは、画素補間部３１でＲＧＢ各画素をそれぞれのフィルターパターンでマスキングした後、高帯域まで画素値を有するＧ画素については、注目画素に対する周辺１２画素のコントラストパターンに基づき画素値の空間的な変化を推定し、周囲４画素のデータに基づき被写体のパターンに最適な画素値を算出して割り当てる。一方、Ｒ画素およびＢ画素に関しては、周囲の８画素の同色画素値に基づいて補間する。

画素補間された画像データは、ガンマ補正部３３で各出力機器に合った非線形変換、具体的にはガンマ補正およびオフセット調整が行われ、画像メモリ４１に格納される。

輪郭強調部３４は、画像データに応じたハイパスフィルタ等によって輪郭を際立たせるエッジ強調処理を行う。

そして、画像メモリ４１に格納された画像データは、解像度変換部３５で設定された画素数に水平垂直の縮小または間引きが行われ、画像圧縮部３６で圧縮処理を行った後、メモリカードドライバ３９にセットされるメモリカード９に記録される。この画像記録時には、指定された解像度の撮影画像が記録される。

また、解像度変換部３５では、画像表示時についても画素間引きを行って、ＬＣＤモニタ４２やＥＶＦ４３に表示するための低解像度画像を作成する。プレビュー時には、画像メモリ４１から読出された６４０×２４０画素の低解像度画像がビデオエンコーダ３８でＮＴＳＣ／ＰＡＬにエンコードされ、これをフィールド画像としてＬＣＤモニタ４２やＥＶＦ４３で画像再生が行われる。

カメラ制御部４０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡＭを備え、撮像装置１の各部を統括的に制御する部位である。具体的には、上記のモード切替スイッチ１２やシャッターボタン１３やコマ送り・ズームスイッチ１５や電源スイッチ５などを有するカメラ操作スイッチ５０に対して撮影者が行う操作入力を処理する。

また、カメラ制御部４０は、撮影者によるモード切替スイッチ１２の操作により、被写体を撮像してその画像データを記録する静止画撮影モードや動画撮影モード、再生モードへの切替えを行う。また、撮影者による電源スイッチ５の操作に応答して、電源ＯＮ／ＯＦＦ状態とする。

そして、撮像装置１では、本撮影前の撮影準備状態において被写体を動画的態様でＬＣＤモニタ４２に表示するプレビュー表示(ライブビュー表示)時には、絞り４４の光学絞りがシャッター・絞りドライバ４５によって開放固定となる。

また、シャッタースピード(ＳＳ)に相当する撮像センサ１６の電荷蓄積時間（露光時間）に関しては、撮像センサ１６で取得したライブビュー画像に基づき、カメラ制御部４０が露出制御データを演算する。そして、算出された露出制御データに基づいて予め設定されたプログラム線図により、撮像センサ１６の露光時間が適正となるようにタイミングジェネレータセンサドライバ４６に対するフィードバック制御が行われる。

なお、本撮影時では、ライブビュー時に測光された光量データに基づいて予め設定されたプログラム線図によってシャッター・絞りドライバ４５とタイミングジェネレータセンサドライバ４６とで撮像センサ１６への露光量が制御される。

以上の構成を有する撮像装置については、撮像センサ１６で取得された画像データにおいてＶライン傷の検出・補正を行えるが、これらについて以下で説明する。

図３は、撮像センサ１６の構成を示す図である。

撮像センサ１６においては、各フォトダイオード１６１で光電変換され蓄積された電荷が各垂直転送ライン毎に設けられた垂直ＣＣＤ(以下では「ＶＣＣＤ」ともいう)１６２に読み出され、１水平期間の周期で最下段の水平ＣＣＤ１６３に転送される。そして、水平ＣＣＤ１６３に転送された電荷は、画素クロックに基づき読み出されることで水平画素方向の読み出しが行われる。なお、ＶＣＣＤ１６２や水平ＣＣＤ１６３などといった電荷を転送するラインを総称して「電荷転送ライン」とも言う。

このような撮像センサ１６の動作により、２次元的に配列されたフォトダイオード１６１で取得した２次元画像に対して水平ライン毎にスキャン読み出しが行われることとなる。

ここで、フォトダイオード１６１に欠陥がある場合には、この欠陥によって発生する電荷が信号電荷に加算されるため、撮影画像において点欠陥として再現されることとなる。この点欠陥については、点欠陥補正部５１において、欠陥に起因して発生する電荷に相当する画素レベルが減算される補正が行われる。

一方、垂直転送ラインの一部に同様の欠陥箇所(傷)Ｆｐが存在する場合には、欠陥箇所Ｆｐに電荷が読み出されるフォトダイオードとＸ方向のアドレスが等しいフォトダイオードからの電荷は、欠陥箇所Ｆｐが存在する垂直ＣＣＤ１６ｆを通って撮像センサ１６から出力されることとなる。このため、欠陥箇所Ｆｐに対して電荷転送方向Ｈａの上流から転送される信号電荷群Ｆａに電荷が加算されることとなり、図４に示すように撮影画像Ｇ１おいて明度の高いライン性の傷(Ｖライン傷)Ｇａとして再現される。

上述した点欠陥の場合には撮影画像に与える劣化要因は少ないものの、図４に示すようなＶライン傷Ｇａの場合には画質に対する影響が非常に大きくなるため、その検出が重要となるが、以下では、この検出方法を説明する。

＜Ｖライン傷の検出方法＞
図５および図６は、Ｖライン傷の検出原理を説明するための図である。

Ｖライン傷Ｇａ(図４)は、上述したように図３に示す垂直ＣＣＤ１６２の欠陥箇所Ｆｐを通って読み出される信号電荷群Ｆａに起因して画像上で生じるライン性の明度傷として発生する。

そこで、シャッターにより遮光後、図５に示すように垂直ＣＣＤ１６２の転送を一定期間（例えば２００水平期間）停止することにより欠陥箇所Ｆｐで発生する電荷量を増大させた後に、画像読み出しを行うこととする。これにより、垂直ＣＣＤ１６２上の欠陥箇所Ｆｐに信号電荷が読み出されるフォトダイオードＤｐの画素データを強調して撮像センサ１６から出力できることとなる。

このように欠陥箇所Ｆｐが強調され撮像センサ１６から出力された画像Ｇ２では、図６に示すように、Ｖライン傷Ｇａのうち欠陥箇所Ｆｐに電荷が読み出されるフォトダイオードＤｐ(図５)の位置に対応したＢ画素Ｇｐの画素レベルが垂直ＣＣＤ１６２の転送停止期間に正比例して強調されることとなる。

以上のような画像Ｇ２が読み出された後に、画像Ｇ２から明度の高い輝点となる画素Ｇｐのアドレスを検出することで、Ｖライン傷の下端に対応する欠陥箇所の位置(アドレス)を検知できることとなる。以下では、撮像装置１によるＶライン傷の検出について具体的に説明する。

図７は、撮像装置１におけるＶライン傷の検出動作を示すフローチャートである。

まず、シャッターに相当する絞り４４を閉じた(ステップＳＴ１)後に、ＶＣＣＤ１６２において電荷の高速読み出しが設定される(ステップＳＴ２)。

ステップＳＴ３では、上述したように、ＶＣＣＤ１６２での転送を２００水平転送期間停止する。これにより、ＶＣＣＤ１６２の欠陥箇所で電荷が増幅されることとなる。

ステップＳＴ４では、撮像センサ１６から画素データを順次に読み出す。

ステップＳＴ５では、ステップＳＴ４で読み出された画素レベルが、予め定められた傷レベルリファレンス(閾値)Ｖｒｅｆより大きいかを判定する。ここで、傷レベルリファレンスＶｒｅｆより大きい場合には、ステップＳＴ６に進み、傷レベルリファレンスＶｒｅｆ以下の場合には、ステップＳＴ７に進む。

ステップＳＴ６では、傷レベルリファレンスＶｒｅｆより大きい欠陥画素(傷)に関して画像上のアドレス(Ｈ，Ｖ)を、傷情報メモリ５４に登録する。この際には、傷レベル(画素値)も登録する。

ステップＳＴ７では、撮像センサ１６からの画像読み出しが完了したかを判定する。ここで、画像読み出しが完了した場合には、ステップＳＴ８に進み、未完の場合には、ステップＳＴ４に戻る。

ステップＳＴ８では、傷情報メモリ５４に格納されている傷のアドレスを並び替える。この場合には、例えば傷レベルの大きい順に、つまり昇順に傷アドレスの順番が変更される。

ステップＳＴ９では、ステップＳＴ８で並び替えられた傷アドレスに基づき、傷レベルが上位４０以内に入る傷アドレスと傷レベルとを、傷情報メモリ５４に再登録する。この傷レベルについては、２００水平転送期間停止して得られた画素データに関して１／２００倍で正規化したレベルが登録されることとなる。

以上のような撮像装置１の動作により、Ｖライン傷の検出を適切に行えることとなるが、この検出動作は、例えば撮像装置１の工場出荷前に複数の温度条件下で行われ、工場出荷時には、傷情報メモリ５４に必要な情報がデフォルトのデータとして格納されている状態にする。

なお、上記のステップＳＴ８の動作については、Ｖライン傷の傷レベルに基づき並べ替えるだけでなく、Ｖライン傷の範囲も考慮して並べ替えるようにしても良い。例えば、(傷レベル)×(Ｖライン傷の範囲)から得られる情報に基づき、並べ替えを行う。これにより、画像全体に与える各Ｖライン傷の影響を考慮した並べ替えが可能となる。

撮像センサ１６のＶライン傷は、温度依存性を有しているが、この特性について、以下で説明する。

図８は、撮像センサ１６におけるＶライン傷の温度依存性を説明するための図である。図８(ａ)〜(ｃ)は、撮像センサ１６近傍の温度が常温時(例えば摂氏２０度)、摂氏３０度および摂氏４０度の高温時における撮像センサ１６の状態の一例と、撮像センサ１６から出力された画像Ｇｔとを表している。

常温時の撮像センサ１６においては、図８(ａ)に示すように傷として認識される垂直ＣＣＤの欠陥箇所は１箇所Ｆｐ１のみであり、撮像センサ１６から出力される画像Ｇｔで生じるＶライン傷も１本Ｇａ１だけとなる。

摂氏３０度の高温時の撮像センサ１６においては、常温時に比べて顕在化されるＶライン傷の箇所が温度に依存して１つ増加する。すなわち、図８(ｂ)に示すように傷として認識される垂直ＣＣＤの欠陥箇所は２箇所Ｆｐ１、Ｆｐ２となり、撮像センサ１６から出力される画像ＧｔにおけるＶライン傷も２本Ｇａ１、Ｇａ２となる。

摂氏４０度の高温時の撮像センサ１６においては、摂氏３０度の高温時に比べて顕在化されるＶライン傷が温度に依存してさらに１つ増加する。すなわち、図８(ｃ)に示すように傷として認識される垂直ＣＣＤの欠陥箇所は３箇所Ｆｐ１〜Ｆｐ３となり、撮像センサ１６から出力される画像ＧｔにおけるＶライン傷が３本Ｇａ１〜Ｇａ３となる。

このように撮像センサ１６においては、Ｖライン傷が温度依存性を有しているため、上述したＶライン傷の検出を各温度ごとに検出する。

＜Ｖライン傷の補正について＞
Ｖライン傷の補正としては、(１)オフセットによる補正と、(２)画素補間による補正といった２種類の補正方法が提案されている。これら２種類の補正方法について以下で説明する。

(１)オフセットによる補正（オフセット補正）：
図９は、オフセットによるＶライン傷の補正を説明するための図である。

オフセットによるＶライン傷の補正では、まず撮像センサ１６から出力された画像Ｇ３においてＶライン傷Ｇａに起因するオフセット成分Ｌｏを検出する。そして、このオフセット成分（Ｖライン傷のレベル）Ｌｏを画像Ｇ３におけるＶライン傷Ｇａの画素レベルから減算することで、画像ノイズとしての傷が消去された補正画像Ｇ４を生成する。

このようなオフセットによる補正方法では、温度依存性が大きいＶライン傷の特性を考慮すると、一般的には、撮影時にリアルタイムでオフセット量（補正量）を求めるのが好ましい。このオフセット量の検出については説明する。

撮像センサ１６は、図１０に示すように黒レベルを検出するためのオプチカル・ブラック部（以下「ＯＢ部」という）１６ｂａ、１６ｂｂを有している。ここで、各ＯＢ部から垂直ＣＣＤ１６２に読み出された電荷は、下段のＯＢ部１６ｂａの方が先に水平ＣＣＤ１６３に転送され、上段のＯＢ部１６ｂｂの方が後で転送されることとなる。以下では、垂直ＣＣＤ１６２に２つの欠陥箇所Ｆｐ１、Ｆｐ２が存在するケースについてのオフセット量の検出を説明する。

図１１に示すように撮像センサ１６から出力された画像Ｇ５においては、上段のＯＢ部１６ｂｂから読み出され垂直ＣＣＤ１６２の欠陥箇所Ｆｐ１を通過してその影響を受けた画素Ｇｂ２は、下段のＯＢ部１６ｂａから読み出され欠陥箇所Ｆｐ１を通過せずその影響を受けていない画素Ｇｂ１より上記のオフセット量だけ画素レベルが大きくなっている。同様に、上段のＯＢ部１６ｂｂから読み出され垂直ＣＣＤ１６２の欠陥箇所Ｆｐ２を通過した画素Ｇｂ４は、欠陥箇所Ｆｐ２を通過しない画素Ｇｂ３より上記のオフセット量だけ画素レベルが増加している。

したがって、図１１に示すＶライン傷Ｇａ１の傷レベル(オフセット量)は、画素Ｇｂ２のレベルから画素Ｇｂ１のレベルを減算することにより得られ、Ｖライン傷Ｇａ２のオフセット量は、画素Ｇｂ４のレベルから画素Ｇｂ３のレベルを減算することにより得られることとなる。

次に、撮像装置１の撮影時における上記のオフセット量（傷レベル）の検出動作について説明する。

図１２は、撮像装置１の撮影時におけるＶライン傷の傷レベルの検出動作を示すフローチャートである。

ステップＳＴ１１では、レリーズして露光を行う。すなわち、撮影者によりシャッターボタン１３が全押し(Ｓ２オン)されて、被写体を撮影する動作が行われる。

ステップＳＴ１２では、撮像センサ１６から画素データを順次に読み出す。

ステップＳＴ１３では、ステップＳＴ１２で撮像センサ１６から読み出された画素データをキャプチャーする処理を行う。

ステップＳＴ１４では、ステップＳＴ１２で読み出された画素のアドレスが、傷情報メモリ５４に登録されているＶライン傷のアドレスに該当するかを判定する。ここで、登録アドレスに該当する場合には、ステップＳＴ１５に進み、該当しない場合には、ステップＳＴ１８に進む。

ステップＳＴ１５では、ステップＳＴ１２で読み出された画素が転送された垂直ＣＣＤ１６２の両端にあるＯＢ部１６ｂａ、１６ｂｂ(図１０)の黒レベルを検出し、これらの黒レベルの差分を求めて、傷レベルを検出する。

ステップＳＴ１６では、ステップＳＴ１５で検出された傷レベルが、傷レベルリファレンスＶｒｅｆより大きいかを判定する。ここで、傷レベルリファレンスＶｒｅｆより大きい場合には、ステップＳＴ１７に進み、傷レベルリファレンスＶｒｅｆ以下の場合には、ステップＳＴ１８に進む。

ステップＳＴ１７では、傷レベルリファレンスＶｒｅｆより大きい欠陥画素(傷)に関して画像上のアドレス(Ｈ，Ｖ)を、傷情報メモリ５４に登録する。この際には、傷レベルも登録する。

ステップＳＴ１８およびステップＳＴ１９では、図７に示すステップＳＴ７およびステップＳＴ８と同様の動作を行う。

ステップＳＴ２０では、ステップＳＴ１９で並び替えられた傷アドレスに基づき、傷レベルが上位２０以内に入る傷アドレスと傷レベルとを、傷情報メモリ５４に登録する。

以上のような撮像装置１の動作により、傷レベルの検出が可能となり、オフセットによるＶライン傷の補正を適切に行えることとなる。

(２)画素補間による補正：
図１３は、画素補間によるＶライン傷の補正を説明するための図である。

画素補間によるＶライン傷の補正では、Ｖライン傷の周辺に位置する画素ラインのデータに基づき置換データを作成し、この置換データでＶライン傷の画素データを置換する処理を行う。

例えば、画像Ｇ６において、Ｖライン傷Ｇａの左右に配置される同色の画素ラインＪ１、Ｊ２を検出し、これらの画素ラインＪ１、Ｊ２に関する画素レベルの平均値でＶライン傷Ｇａの画素データを置換する。これにより、傷が消去された補正画像Ｇ７が生成される。

このような画素補間による補正方法では、オフセットによるＶライン傷の補正に比べて精度が低くなるものの、Ｖライン傷の箇所(アドレス)が既知である場合には、傷レベルの検出が不要となる。そして、画素補間による補正方法においては、Ｖライン傷の温度特性の考慮が基本的に不要である。

以上のように、(１)オフセットによる補正、或いは(２)画素補間による補正によってＶライン傷を抑制することができる。

しかしながら、画素補間による補正では画質が劣化する傾向にあるため、高品質の画像を得るためにはオフセットによる補正を行うことが望まれる。したがって、本実施形態に係る撮像装置１では、オフセットによる補正を採用する。

オフセットによる補正を前提とすると、撮像センサ１６におけるＶライン傷の発生には温度依存性があるため、撮像センサ１６の温度上昇の要因を考慮して、撮影時にＶライン傷の位置（傷アドレス）を検出したり、補正すべき傷レベルを検出する必要性がある。

ところが、このような動作を実施すると、１フレームの画像に係る画像処理に長時間を要するため、単位時間あたりに取得することができる撮影画像数の低下、すなわち動画撮影や連写の性能低下を招く。また、当該性能低下を防ぐために、動画撮影や連写において、複数回の本撮影からなる一連の撮影動作が終了した後に一括して傷アドレスや傷レベルを検出する態様も考えられるが、一連の撮影動作中にＶライン傷の数量や傷レベルが変化しないように動画撮影や連写の時間を所定の期間内に制限しなければならない。

このような問題点に対して、本実施形態に係る撮像装置１では、高速のフレームレートの連続撮影が要求されない静止画撮影モードに設定されている場合などには、通常傷補正モードにおけるＶライン傷のオフセット補正が行われる。その一方で、高速のフレームレートの連続撮影が要求される動画撮影モードや連写モードに設定されている場合などには、傷情報メモリ５４に予め記憶されたＶライン傷情報に応じて算出された傷レベル（オフセット量）に基づいてＶライン傷のオフセット補正が行われる（高速傷補正モード）。但し、撮像センサ１６の温度が比較的低い場合には、通常傷補正モードにおけるＶライン傷の補正が行われる。

以下、本実施形態に係る撮像装置１におけるＶライン傷の補正について更に説明する。

図１４は、傷情報メモリ５４に予め記憶されたＶライン傷情報を例示する図である。

図１４に示すように、Ｖライン傷情報では、撮像センサ１６によって得られる画像において発生するＶライン傷の下端に対応するアドレスが、Ｖライン傷の位置を示す情報として記憶されている。そして、各Ｖライン傷の位置について、撮像センサ１６の複数段階の温度（１０、２５、４０、５５、及び７０℃）に対応するＶライン傷のレベル（すなわちオフセット値）が記憶されている。

例えば、撮像センサ１６の温度１０℃に対しては、アドレス（３００，５６０），(６０５，２９２)，(７５３,３２６)の３箇所がＶライン傷の位置として記憶され、各アドレスに１０，１２，８ｍＶといったオフセット値が関連付けられて記憶されている。

このＶライン傷情報は、上述したように、工場出荷前において、撮像装置１を複数段階の温度（例えば、１０、２５、４０、５５、及び７０℃）に設定しつつ、図７で示した動作によってＶライン傷のアドレスおよびレベルを検出することで得ることができる。

図１５は、補正モードの切り替え動作フローを示すフローチャートである。本動作フローは、カメラ制御部４０の制御によって実現され、シャッターボタン１３の全押しに応答して撮影動作が開始される度に実行される。

ステップＳＴ３１では、撮像装置１が静止画撮影モードに設定されているか否か判定する。ここでは、静止画撮影モードに設定されている場合にはステップＳＴ３２に進み、設定されていない場合にはステップＳＴ３６に進む。

ステップＳＴ３２では、撮像装置１が連写モードに設定されているか否か判定する。ここでは、連写モードに設定されている場合にはステップＳＴ３３に進み、設定されていない場合にはＳＴ３４に進む。

ステップＳＴ３３では、温度センサ４９によって実測された撮像センサ１６に係る現在の温度（実温度）が所定温度以上であるか否か判定する。ここでは、実温度が所定温度以上であればステップＳＴ３６に進み、所定温度未満であればステップＳＴ３４に進む。なお、ここで言う所定温度は、撮像装置１の設計等や工場出荷前の検査等によって決定することができ、当該所定温度を示すデータが、撮像装置１の工場出荷時にはカメラ制御部４０のＲＯＭ内に格納されているものとする。

ステップＳＴ３４では、補正モードを通常傷補正モードに設定し、ステップＳＴ３５に進む。

ステップＳＴ３５では、本撮影を実行させる指示（撮影指示）が解除されたか否かを判定する。通常撮影モードに設定されている場合には、撮影動作は１回の本撮影によって構成されるため、撮影動作が開始されると同時に撮影指示が解除される。また、連写モードに設定されている場合には、シャッターボタン１３が全押しされている状態が解除されると、撮影指示が解除される。そして、ここでは、撮影指示が解除されていない場合にはステップＳＴ３３に進み、撮影指示が解除された場合には、本動作フローを終了する。

ステップＳＴ３６では、補正モードを高速傷補正モードに設定し、本動作フローを終了する。つまり、動画モードに設定されている場合には、常に高速傷補正モードに設定される。また、連写モードに設定されている場合には、撮影動作中において、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度未満であるうちは、補正モードが通常傷補正モードに設定される一方、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度以上となると、補正モードが高速傷補正モードに設定される。

なお、ステップＳＴ３４またはステップＳＴ３６で設定された補正モードを示す情報は、カメラ制御部４０のＲＡＭ内等に一時的に記憶される。

ここで、撮像装置１が高速傷補正モードに設定されている場合におけるＶライン傷の補正動作について説明する。

図１６は、高速傷補正モードにおけるＶライン傷の補正動作フローを示すフローチャートである。本動作フローは、カメラ制御部４０の制御によって実現され、ユーザーによるシャッターボタン１３の押下操作によってＳ２オンとなると、ステップＳＴ４１に進む。

ステップＳＴ４１では、撮像センサ１６の露光が行われる。

ステップＳＴ４２では、撮像センサ１６から画素データを順次に読み出す。

ステップＳＴ４３では、温度センサ４９によって撮像センサ１６に係る実温度を検出する。

ステップＳＴ４４では、ステップＳＴ４２で読み出された画素のアドレスが、傷情報メモリ５４のＶライン傷情報に登録されているＶライン傷のアドレスのうちの、ステップＳＴ４３で検出された実温度に対応するアドレスに該当するか否かを判定する。ここでは、Ｖライン傷情報を参照することで、ステップＳＴ４３で検出された実温度に対応するＶライン傷のアドレスが認識される。そして、ステップＳＴ４２で読み出された画素のアドレスが、認識されたアドレスに該当する場合には、ステップＳＴ４５に進み、該当しない場合には、ステップＳＴ５０に進む。

ステップＳＴ４５では、ステップＳＴ４３で検出された実温度が、傷情報メモリ５４のＶライン傷情報に段階的に登録されている温度と一致するか否か判定する。ここでは、Ｖライン傷情報に登録されている温度と実温度とが一致する場合にはステップＳＴ４６に進み、全て一致しない場合にはステップＳＴ４８に進む。なお、ここでは、「温度が一致する」と言っても、完全一致ではなく、例えば、±２℃〜３℃程度の幅を持つものとする。

ステップＳＴ４６では、Ｖライン傷情報を参照することで、Ｖライン傷を補正するためのオフセット値（「傷補正用データ」とも称する）を認識する。具体的には、Ｖライン傷情報に登録されているオフセット値から、現在読出しの対象となっている画素のアドレスとステップＳＴ４３で検出された実温度とに対応するオフセット値を認識する。例えば、現在読出しの対象となっている画素のアドレスが、（７５３，３２６）であり、かつ撮像センサ１６に係る実温度が４０℃の場合には、図１４に示すＶライン傷情報より、オフセット値＝１８ｍＶが抽出される。

ステップＳＴ４７では、Ｖライン傷補正部５３において、ステップＳＴ４２で読み出された画素データ（画素値）からステップＳＴ４６で認識されたオフセット値（実際には、画素値に変換されたもの）を差し引くことで、Ｖライン傷のオフセット補正を行う。

ステップＳＴ４８では、Ｖライン傷情報を用いた補間計算によってオフセット値を算出する。ここでは、Ｖライン傷情報を参照して、当該Ｖライン傷情報に登録される複数段階の温度のうちのステップＳＴ４３で検出された実温度を挟む２つの温度と、当該２つの温度に係るオフセット値とを抽出する。そして、抽出された温度とオフセット値とを用いた内挿法による演算を行うことで、実温度に対応するオフセット値を算出し、認識する。例えば、現在読出しの対象となっている画素のアドレスが、（７５３，３２６）であり、かつ撮像センサ１６に係る実温度が６０℃の場合には、図１４に示すＶライン傷情報より、オフセット値＝３５（＝３０＋（６０−５５）×（４５−３０）／（７０−５５））ｍＶと算出される。

ステップＳＴ４９では、Ｖライン傷補正部５３において、ステップＳＴ４２で読み出された画素データ（画素値）からステップＳＴ４８で認識されたオフセット値（実際には、画素値に変換されたもの）を差し引くことで、Ｖライン傷のオフセット補正を行う。

ステップＳＴ５０では、全ての画素の読出しが終了したか否か判定する。ここでは、読出しが終了していなければステップＳＴ４２に戻り、終了していれば本動作フローを終了する。

一方、撮像装置１が、通常傷補正モードに設定されている場合には、撮影時に撮像センサ１６から読み出される画像データが一旦キャプチャーされ、図１２で示したようにＶライン傷検出部５２にてＶライン傷の実際のレベル（実レベル）が検出されて、当該実レベルをオフセット値としたオフセット補正が行われる。

なお、連写モードにおいて通常傷補正モードが設定される場合には、複数回の時間的に連続する本撮影において撮像センサ１６から読み出される複数フレーム分の画像データが一旦キャプチャーされる。そして、図１２で示したようにＶライン傷検出部５２にてＶライン傷の実レベルが検出されて、当該実レベルをオフセット値としたオフセット補正が一旦キャプチャーされた複数フレーム分の画像データ全てに対して行われる。

以上のように、本実施形態に係る撮像装置１では、撮像センサ１６の電荷転送ラインにおける欠陥に起因して画像において発生するＶライン傷の位置およびレベルと、当該撮像センサ１６に係る温度との関係を示すＶライン傷情報を傷情報メモリ５４に予め記憶しておく。そして、撮影時に、Ｖライン傷情報を参照することで、撮像センサ１６に係る実温度に対応するＶライン傷の位置およびレベルに応じてＶライン傷を補正する。このような構成とすることで、複数回の本撮影を連続して行う場合であっても、各本撮影の間にＶライン傷のレベルを検出する必要性がなくなる。したがって、撮影中に温度環境が変化する動画撮影時などにおいても、フレームレートの低下などといった性能低下を招いたり、撮影を中断することなく、リアルタイムにＶライン傷の補正を行うことができる。その結果、フレームレートが高い撮影を行う際に、撮影を阻害することなくＶライン傷を的確に補正することができる。

また、Ｖライン傷の位置およびレベルと関係付けられてＶライン傷情報に記憶された複数段階の温度と、撮像センサ１６に係る実温度とが全く一致しない場合には、複数段階の温度のうちの実温度を挟む２つ（一般的には複数）の温度に係る傷レベルを用いた補間演算により、実温度に対応する傷レベルを認識する。このような構成により、例えば、事前に準備しておくＶライン傷に係る情報量が少なくても済むため、事前にＶライン傷に係る情報を検出しておくなどといった工場出荷前などの準備の手間を省くことができる。また、Ｖライン傷情報を格納する傷情報メモリ５４の記憶容量が小さくても済む。

また、動画撮影や連写などといった各本撮影の間にＶライン傷のレベルを検出することが困難な場合であっても、撮影に支障を与えることなく、Ｖライン傷を的確に補正することができる。

また、連写モードにおいて、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度未満の場合には、Ｖライン傷の実レベルに応じて撮影時に取得された画像におけるＶライン傷を補正する。その一方で、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度以上の場合には、予め準備されたＶライン傷情報を参照して認識されたＶライン傷の位置およびレベルに応じて、撮影時に取得された画像におけるＶライン傷を補正する。このような構成により、例えば、撮像センサ１６が比較的低温の場合には、Ｖライン傷の数量およびレベルが変化しないため、複数回の本撮影の最後に図１２に示す手法によってＶライン傷のレベルを実際に検出してＶライン傷の補正を行うようにすることで、Ｖライン傷をより精度良く補正することができる。その一方で、撮像センサ１６が比較的高温となると、Ｖライン傷の数量およびレベルが変化するため、事前に準備していたＶライン傷情報に基づいてＶライン傷の補正を行うことで、撮影の制限を回避することができる。したがって、Ｖライン傷の補正の精度と操作性とのバランスの適正化を図ることができる。

＜変形例＞
以上、この発明の実施形態について説明したが、この発明は上記説明した内容のものに限定されるものではない。

◎例えば、上記の実施形態では、連写モードであっても、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度未満であれば、通常傷補正モードに設定されたが、これに限られず、連写モードに設定されている場合には常に高速傷補正モードに設定されるようにしても良い。このような構成としても、撮影を阻害することなくＶライン傷を的確に補正することができる。

◎また、上記の実施形態では、連写モードに設定されている場合には、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度未満であれば、通常傷補正モードに設定され、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度以上であれば、高速傷補正モードに設定されたが、これに限られず、例えば、動画モードに設定されている場合であっても、同様に、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度未満であれば、通常傷補正モードに設定され、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度以上であれば、高速傷補正モードに設定されるようにしても良い。

◎また、上記の実施形態では、動画撮影モードや連写モードにおいて高速傷補正モードに設定されたが、これに限られず、例えば、ライブビュー表示時に高速傷補正モードを採用するようにしても良い。このような態様とすることで、フレームレートが高い動画的態様のライブビュー画像を取得する撮影時においても、撮影を阻害することなくＶライン傷を的確に補正することができる。

◎また、上記の実施形態では、連写モードに設定されて撮像センサ１６に係る実温度が所定温度未満の場合には、複数回の本撮影の最後に図１２に示す手法によってＶライン傷のレベルを実際に検出してＶライン傷の補正を行うようにしたが、これに限られず、例えば、各本撮影毎に図１２に示す手法によってＶライン傷のレベルを実際に検出してＶライン傷の補正を行うようにしても良い。このような構成としても、撮像センサ１６の温度が比較的低温である場合には、Ｖライン傷の数も少なく、Ｖライン傷のレベルを検出する処理が比較的煩雑なものとはならないため、連写を妨げるものとはならない。よって、フレームレートが高い撮影を行う際に、撮影を阻害することなくＶライン傷をより的確に補正することができる。

また、所定温度をＶライン傷が発生する温度の下限に設定して、撮像センサ１６に係る実温度が所定温度未満の場合には、Ｖライン傷の補正を行わないような構成としても良い。このような構成により、撮像センサ１６の実温度が比較的低温の場合には、Ｖライン傷のレベルの検出や算出等といった処理を行うことなく、高品質の画像を得ることができる。すなわち、フレームレートが高い撮影を行う際に、高画質を保持しつつ、撮影が阻害されないようにすることができる。

◎上記の実施形態における撮影時の傷レベル(オフセット量)検出については、図１２に示した傷レベルの検出の代わりに、例えば、本撮影の直前または直後において、工場出荷前に行う傷レベル検出(図７)に類似した方法により行っても良い。この検出方法について説明する。

図１７は、本発明の変形例に係る傷レベルの検出動作を示すフローチャートである。

ステップＳＰ１およびステップＳＰ２では、図１２に示すステップＳＴ１１およびステップＳＴ１３と同様の動作を行う。

ステップＳＰ３では、キャプチャー処理が完了したかを判定する。ここで、キャプチャー処理が完了した場合には、ステップＳＰ４に進み、完了していない場合には、ステップＳＰ２の動作を繰り返す。

ステップＳＰ４〜ＳＰ７では、図７に示すステップＳＴ１〜ＳＴ４と同様の動作を行う。

ステップＳＰ８では、図１２に示すステップＳＴ１４と同様の動作を行う。

ステップＳＰ９では、傷レベルの検出を行う。具体的には、２００水平転送期間停止して得られた画素データに関して１／２００倍で正規化したレベルを、傷レベルとして検出する。

ステップＳＰ１０〜ＳＰ１４では、図１２に示すステップＳＴ１６〜ＳＴ２０と同様の動作を行う。

◎また、上述した実施形態では、全画素読出しタイプのＣＣＤを用いたが、これに限られず、例えば、複数フィールド読出しタイプのＣＣＤであっても良い。なお、このときの欠陥情報は、転送ライン情報となるので、いずれのフィールドも同じ補正を行うようにすると良い。

本発明の第１実施形態に係る撮像装置の外観構成を示す図である。 本発明の第１実施形態に係る撮像装置の機能ブロックを示す図である。 撮像センサの構成を示す図である。 Ｖライン傷が発生した撮影画像を例示する図である。 Ｖライン傷の検出原理を説明するための図である。 Ｖライン傷の検出原理を説明するための図である。 Ｖライン傷の検出動作を示すフローチャートである。 撮像センサのＶライン傷の温度依存性について説明するための図である。 オフセットによるＶライン傷の補正を説明するための図である。 オフセットによるＶライン傷の補正を説明するための図である。 オフセットによるＶライン傷の補正を説明するための図である。 撮影時におけるＶライン傷の検出動作を示すフローチャートである。 画素補間によるＶライン傷の補正を説明するための図である。 Ｖライン傷情報の内容を例示する図である。 補正モードの切り替え動作フローを示すフローチャートである。 Ｖライン傷の補正動作を示すフローチャートである。 撮影時におけるＶライン傷の検出動作を示すフローチャートである。

符号の説明

１ 撮像装置
１６ 撮像センサ
４０ カメラ制御部
４９ 温度センサ
５２ Ｖライン傷検出部
５３ Ｖライン傷補正部
５４ 傷情報メモリ

Claims (6)

1. 撮像装置であって、
   撮像素子を有し、被写体に係る画像を取得する撮像手段と、
   前記撮像素子の電荷転送ラインにおける欠陥に起因して前記画像において発生する線状傷の位置およびレベルと、前記撮像素子に係る温度との関係を示す線状傷情報を予め記憶する記憶手段と、
   前記撮像素子に係る実温度を検出する温度検出手段と、
   撮影時に、前記線状傷情報を参照することで、前記実温度に対応する線状傷の位置およびレベルを認識する認識手段と、
   前記認識手段によって認識された線状傷の位置およびレベルに応じたオフセットを行うことで、前記撮影時に前記撮像手段によって取得された画像における線状傷を補正する傷補正手段と、
   を備えることを特徴とする撮像装置。
2. 請求項１に記載の撮像装置であって、
   前記線状傷情報が、
   前記画像において発生する線状傷の位置およびレベルと、前記撮像素子に係る複数段階の温度との関係を示す情報であり、
   前記認識手段が、
   前記実温度が前記複数段階の温度の全てと異なる場合に、前記複数段階の温度のうちの前記実温度を挟む複数の温度に係る線状傷のレベルを用いた演算により、前記実温度に対応する線状傷のレベルを認識することを特徴とする撮像装置。
3. 請求項１または請求項２に記載の撮像装置であって、
   前記撮影時が、
   所定の撮影モードにおける撮影時であることを特徴とする撮像装置。
4. 請求項３に記載の撮像装置であって、
   前記所定の撮影モードが、
   動画撮影モードを含むことを特徴とする撮像装置。
5. 請求項３または請求項４に記載の撮像装置であって、
   前記所定の撮影モードが、
   連写モードを含むことを特徴とする撮像装置。
6. 請求項１から請求項５のいずれかに記載の撮像装置であって、
   前記傷補正手段が、
   前記実温度が所定温度以上の場合には、前記認識手段によって認識された線状傷の位置およびレベルに応じたオフセットを行うことを特徴とする撮像装置。
   

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