JP2006255784A - 無鉛ハンダ合金 - Google Patents
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Abstract
【課題】 溶融温度が従来のSn−9Zn系ハンダ合金よりも低く、従来のSn−Pb系ハンダ合金と同等の低融点を有し、しかも固相線温度と液相線温度の差が小さく、電子部品の接合に適する無鉛ハンダ合金を提供する。
【解決手段】 Zn:4〜12質量%、Mg:0.5〜2.0質量%を含有し、残部Sn及び不可避不純物からなることを特徴とする無鉛ハンダ合金である。これにより、ハンダ合金の溶融温度を180℃程度まで低減することができ、しかもそのときに理想的な共晶タイプに似た凝固特性を発現することができ、固相線温度と液相線温度の差をきわめて小さくすることができる。さらに、Al:0.005〜1.0質量%を含有する。さらに、Cu:0.1〜3.0質量%を含有する。
【選択図】 図2
【解決手段】 Zn:4〜12質量%、Mg:0.5〜2.0質量%を含有し、残部Sn及び不可避不純物からなることを特徴とする無鉛ハンダ合金である。これにより、ハンダ合金の溶融温度を180℃程度まで低減することができ、しかもそのときに理想的な共晶タイプに似た凝固特性を発現することができ、固相線温度と液相線温度の差をきわめて小さくすることができる。さらに、Al:0.005〜1.0質量%を含有する。さらに、Cu:0.1〜3.0質量%を含有する。
【選択図】 図2
Description
本発明は、鉛をまったく含有せず、しかも従来のSn−Pb系ハンダと同等の低融点を有し電子部品の接合に適する無鉛ハンダ合金に関するものである。
従来、各種の電気・電子機器におけるハンダ接合には、融点が低く、大気中等の酸化雰囲気中でも濡れ性がよいとの観点から、Sn−Pb系のハンダ合金が用いられている。Sn−Pb合金は、共晶組成の融点が183℃という低融点であり、熱に弱い電子部品に対しても熱損傷を与えることなくハンダ付けを行うことができる。
これまで、使用済みの電子機器は、通常の廃棄物と同様に、埋め立てによって処理されてきた。埋め立てられた電子機器に含まれる鉛ハンダ中のPbは、溶出することによって環境に悪影響を及ぼすことが懸念される。そのため、Pbを含まない無鉛ハンダ合金の開発が強く望まれている。
無鉛ハンダ合金として、Sn−Ag系あるいはSn−Sb系ハンダ合金が知られている。最も融点が低い組成であるSn−3.5Agの共晶組成は、融点が221℃である。しかし、この程度の融点では、熱に弱い電子部品のハンダ付けに用いた場合に電子部品の熱損傷が避けられない。
Sn−Zn系ハンダ合金は、共晶組成であるSn−9Znの融点が199℃という低温であり、従来のSn−Pb系ハンダ合金を代替できる可能性が高い。
特許文献1に記載のものは、Zn7〜10質量%、Ni0.01〜1質量%、残Snからなる合金であり、これにAg0.1〜3.5質量%、Cu0.1〜3質量、Bi0.5〜6質量%、In0.5〜3質量%、P0.001〜1質量%等を添加した鉛フリーはんだ合金である。Sn−Zn系ハンダ合金をベースとし、これにNi、Ag、Cuを添加することによってハンダ合金の機械的特性、特に強度を向上させる。また、BiやInを添加することにより、溶融温度を下げることができ、溶融温度は183±30℃であるとしている。
特許文献2には、Zn:3.0〜14.0wt%、Al:0.0020〜0.0080wt%、および残部:Snから成るはんだ合金、Zn:3.0〜14.0wt%、Bi:3.0〜6.0wt%、Al:0.0020〜0.0100wt%、および残部:Snから成るはんだ合金が記載されている。Alは、Sn−Zn合金の酸化を抑制し、良好な濡れ性を確保するために添加する。また、Biは、はんだ合金の融点を更に低下させ、濡れ性を更に向上させる。
特許文献3に記載のSn−Zn系鉛フリーはんだ合金は、Snを主成分とし、少なくとも6〜10質量%のZnを必須に含有し、さらに0.0015〜0.03質量%のMgと、0.0010〜0.006質量%のAlを含有して構成する。Sn−Zn系はんだに、Znより酸化傾向の高い極微量のMgとAlを所定組成配分だけ複合添加することにより、クリームはんだのZnとフラックスとの反応を抑えて、冷蔵および室温以上の環境下での保存性が高められる一方、はんだ溶融時には、良好な濡れ性が保持される。
特許文献1に記載のものは、BiやInを添加することにより、溶融温度を183±30℃に下げることができるとしているものの、共晶組成ではないため、固相線温度が低下しているにすぎない。液相線温度は相変わらず200℃程度の温度を有している。これでは、従来のSn−Pb共晶ハンダと同じハンダ付け温度作業では、合金内に未溶解部が残存することがあり不安定な接合となる。また、特許文献2、3に記載のハンダ合金の溶融温度は、基本的にSn−9Znハンダ合金の199℃と変わらない。
本発明は、溶融温度が従来のSn−9Zn系ハンダ合金よりも低く、従来のSn−Pb系ハンダ合金と同等の低融点を有し、しかも固相線温度と液相線温度の差が小さく、電子部品の接合に適する無鉛ハンダ合金を提供することを目的とする。
本発明者らは、Znを4〜12質量%含有するSn−Zn系無鉛ハンダ合金に、さらにMgを0.5〜2.0質量%含有することにより、ハンダ合金の溶融温度を180℃程度まで低減することができ、しかもそのときに理想的な共晶タイプに似た凝固特性を発現することができ、固相線温度と液相線温度の差をきわめて小さくすることができることを見いだした。
本発明は上記知見に基づいてなされたものであり、即ちその要旨とするところは以下の通りである。
(1)Zn:4〜12質量%、Mg:0.5〜2.0質量%を含有し、残部Sn及び不可避不純物からなることを特徴とする無鉛ハンダ合金。
(2)さらに、Al:0.005〜1.0質量%を含有することを特徴とする上記(1)に記載の無鉛ハンダ合金。
(3)さらに、Cu:0.1〜3.0質量%を含有することを特徴とする上記(1)又は(2)に記載の無鉛ハンダ合金。
(4)さらに、Ge:0.1〜1.0質量%を含有することを特徴とする上記(1)乃至(3)のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金。
(5)さらに、Ag:0.1〜2.0質量%、Bi:0.05〜1.5質量%、In:0.1〜2.0質量%、Sb:0.2〜2.0質量%、Ni:0.01〜1.0質量%、P:0.01〜0.5質量%の1種以上を含有することを特徴とする上記(1)乃至(4)のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金。
(6)上記(1)乃至(5)のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金よりなることを特徴とする無鉛ハンダボール。
(7)ハンダ接合部に上記(1)乃至(5)のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金を用いてなることを特徴とする電子部材。
(1)Zn:4〜12質量%、Mg:0.5〜2.0質量%を含有し、残部Sn及び不可避不純物からなることを特徴とする無鉛ハンダ合金。
(2)さらに、Al:0.005〜1.0質量%を含有することを特徴とする上記(1)に記載の無鉛ハンダ合金。
(3)さらに、Cu:0.1〜3.0質量%を含有することを特徴とする上記(1)又は(2)に記載の無鉛ハンダ合金。
(4)さらに、Ge:0.1〜1.0質量%を含有することを特徴とする上記(1)乃至(3)のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金。
(5)さらに、Ag:0.1〜2.0質量%、Bi:0.05〜1.5質量%、In:0.1〜2.0質量%、Sb:0.2〜2.0質量%、Ni:0.01〜1.0質量%、P:0.01〜0.5質量%の1種以上を含有することを特徴とする上記(1)乃至(4)のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金。
(6)上記(1)乃至(5)のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金よりなることを特徴とする無鉛ハンダボール。
(7)ハンダ接合部に上記(1)乃至(5)のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金を用いてなることを特徴とする電子部材。
本発明は、Znを4〜12質量%含有するSn−Zn系無鉛ハンダ合金に、さらにMgを0.5〜2.0質量%含有することにより、ハンダ合金の溶融温度を180℃程度まで低減することができ、しかもそのときに固相線温度と液相線温度の差をきわめて小さくすることができる。
本発明を導くに到った実験結果については後述の実施例において詳細に述べることとし、ここでは、各成分組成毎にその成分範囲設定根拠を説明する。
Sn−Zn系ハンダ合金において、Znはハンダ合金の融点を下げ、濡れ性を向上させる基本的な合金成分である。Zn含有量が3〜14質量%であれば安定して良好な濡れ性が確保できる。一方、Znに加えMgとAlを含有する本発明において、ハンダ合金の低融点化を確認できているZn含有量範囲は4〜12質量%であるため、本発明のZn含有量範囲を4〜12質量%と規定した。このZn含有量範囲において、MgとAlを含有することと相まって、凝固温度180℃付近において理想的な共晶タイプに似た凝固特性を発現することができる。Zn含有量が6〜9質量%であれば、より理想的な共晶タイプの凝固特性を得ることができる。Zn含有量が7〜8質量%であれば、さらに理想的な共晶タイプの凝固特性を得ることができる。ここで、理想的な共晶タイプの凝固特性とは、液相線温度と固相線温度が一致していて分離しがたい凝固形態をさす。
Mgは、Sn、Znとともに本発明のハンダ合金の溶融温度を低減するための主要な元素である。Mg含有量が0.5〜2.0質量%であれば、Znの含有と相まって、凝固温度180℃付近において共晶タイプに似た凝固特性を十分に発現することが可能となる。また、Mgを含有することにより、ハンダ合金中のZnに起因する有害な酸化物の生成を抑制することができ、ハンダ付け性を高めるという効果も発揮することができる。
溶融状態から自然放冷での温度降下状況を冷却曲線として観察すると、Mg含有量が下限の0.5質量%の場合、194℃付近で1段目の凝固が進行し、その後180℃付近での共晶タイプに似た凝固の進行が見られる。すなわち、Mg含有量が0.5質量%あれば、180℃での共晶タイプに似た凝固の寄与が十分であり、本発明の低温での凝固特性を発揮することができる。
Mg含有量が1.0質量%程度では1段目の凝固が183°付近まで低下する。さらにMg含有量が1.5質量%程度であれば、凝固温度180℃付近における理想的な共晶タイプに似た挙動が、ハンダ合金の凝固特性の大部分を占めることとなり、最も良好な結果を得ることができる。
Sn−Zn系ハンダ合金にMgを含有させるに際しては、従来は未溶解ハンダの発生などハンダ付け性の問題が懸念され、0.03質量%以下の極微量の添加のみが可能とされていた。しかし、本発明においては、従来試みられたことのないMg含有量0.5質量%以上という多量のMg含有により、ハンダ合金がSn−Zn−Mg合金の3元共晶に似た挙動を示し、Sn−Zn共晶組成よりも20℃も低い溶融温度を有していることをはじめて見出したものである。従来のようにSn−Zn共晶組成に微量のMgを含有させた場合とは全く異なった合金となっているため、未溶解ハンダの問題が発生することもなく、良好なハンダ付け性を実現している。
本発明のMg含有無鉛ハンダ合金を例えば真空溶解炉で溶製する場合には、上記Sn−Zn−Mgのみを含有する合金として製造し、ハンダ合金としての効果を発揮することができる。一方、本発明のMg含有無鉛ハンダ合金を大気溶解炉で溶製しようとすると、Mgは極めて活性であるため、特にMgを添加するに際してMgの酸化ロスなどが発生することがある。
本発明の無鉛ハンダ合金において、さらにAlを加えることにより、Mgの活性化を抑制することが可能である。Al含有量が0.005質量%以上であれば、Mgの活性化を抑制する効果を発揮することができ、本発明のハンダ合金を大気溶解炉で溶製することが可能となる。Al含有量が下限に近い低Al領域では、大気溶解炉を用いる場合に、簡易シールを施して窒素ガスなどの非酸化性雰囲気に置換した上で溶解を行うと好ましい。Al含有量が0.05質量%以上であれば、簡易シールを用いることなく、大気溶解炉で溶解することが可能である。また、Al含有量0.5質量%が共晶組成となり、最も好ましい結果を得ることができる。共晶組成よりも高いAl含有量となると、凝固開始温度が上昇する。また、Al含有量が多いとAlの酸化皮膜が厚くなり、濡れ性の低下が見られるので、Al含有量の上限を1.0質量%とした。
本発明のハンダ合金を製造するに際し、Mgの酸化を防止しつつMgを溶融金属中に溶解して合金を得るためには、次のような手段を用いることができる。第1の手段として、溶融金属中にAlを先に溶解し、その後にMgを溶解すると良い。第2の手段として、Mgを高純アルミ箔に包んで添加する方法を用いることができる。第3の手段として、事前にアーク炉などでMgとAlを所定の比率で溶解してMg−Al合金を形成し、このMg−Al合金を大気中で溶融金属に添加する方法を用いることができる。
本発明のハンダ合金に、さらにCu、Geを含有させると好ましい。
CuはSn中に固溶し、濡れ性を損なうことなくハンダ合金の強度と耐熱性を向上させることができる。また、接合金属が銅または銅合金である場合には、ハンダ合金中にCuを含有することにより、接合金属中のCuがハンダ合金へ溶け出すことを抑制する機能をも有する。Cuの含有量が0.1〜3.0質量%であれば、Cuを含有することによる上記効果を発揮することができる。Cuの含有量が0.3〜1.0質量%であればより好ましい結果を得ることができる。
本発明のハンダ合金にGeを含有させることにより、ハンダ合金の濡れ性を向上させることができる。Ge含有量が0.1質量%以上であれば濡れ性向上効果を発揮することができる。一方、Ge含有量が1.0質量%を超えるとハンダ合金の流動性が低下するので、Ge含有量を0.1〜1.0質量%とした。
本発明のハンダ合金はさらに、Ag、Bi、In、Sb、Ni、Pを含有させることとしても良い。
Agは機械的強度を改善するとともに、Sn−Zn合金の耐食性を向上させる効果がある。Ag含有量が0.1質量%以上であればこれらの効果を発現することができる。一方、Agを2.0質量%を超えて含有すると、液相線温度が急激に上昇してしまい、はんだ付け温度が高くなって電子部品に熱損傷を与えるようになる。
Sn−Zn系合金にBiやInを添加すると、溶融温度を下げることができる。本発明は基本的にMgを含有させることによって低融点化を実現しているものであるが、BiやInによる低融点化の効果を併せて享受することも可能である。
Bi含有量が0.05質量%以上であれば、溶融温度を下げる効果を発揮することができる。一方1.5質量%超のBiを含有すると硬く、脆くなる。
In含有量が0.1質量%以上であれば、溶融温度を下げる効果を発揮することができる。Inは多量に添加すればするほど溶融温度を下げることができるが、非常に高価であり、Inの多量の添加は経済的に好ましいものではない。Inの最大添加量は2.0質量%までである。
本発明のハンダ合金中にSbを含有すると耐衝撃性を高める効果がある。Sb含有量0.2質量%以上で効果を発揮するが、2.0質量%を超えると脆化が進行し、かえって悪影響を及ぼす。
NiはSn−Zn系合金の凝固組織中の結晶を微細化し、機械的特性を改善する効果がある。Ni含有量が0.01質量%以上であれば機械的特性改善の効果を発揮することができる。またNi含有量が1.0質量%よりも多いと液相線温度を急激に高め、はんだ付け温度が高くなるため、電子部品に熱損傷を与えるようになってしまう。
Znは非常に酸化しやすい金属であるため、Znを含むハンダ合金を溶融させると、Znが優先的に酸化され、ハンダ付け時に多量にZnの酸化物が発生してハンダ付け不良を起こすことがある。Znを含むハンダ合金にPを添加すると、Pは溶融したハンダ合金の表面に薄い膜を形成し、ハンダ合金が直接空気と触れるのを妨げて、ハンダ合金自体が酸化するのを抑制することができる。Pの含有量が0.01質量%以上であれば酸化抑制の効果を発現することができる。一方、Pの含有量が0.5質量%よりも多くなるとハンダ付け性を害するようになる。
最近の電子部品の小型化、高密度実装化に伴い、プリント配線基板等に電子部品を実装する際には、BGA(ボールグリッドアレイ)、CSP(チップサイズパッケージ)技術が用いられるようになっている。また、これらの技術に採用される電極サイズも微細化の一途をたどっている。
これらの接合においては、半導体基板、電子部品、プリント基板等の上に配置された多数の電極にまずハンダバンプを形成する。電子部材上の電極へのハンダバンプ形成は、各電極にフラックスの粘着力を利用してハンダボールを粘着させ、ついで該電子部材を高温に熱してハンダボールをリフローさせることによって行なう。このハンダバンプを介して半導体基板等とプリント基板等との間を接合する。
本発明の無鉛ハンダ合金よりなる無鉛ハンダボールは、溶融温度を180℃程度まで低減することができるので、従来の無鉛ハンダ合金を用いたハンダボールと比較してリフロー温度を低減することができ、しかもそのときに固相線温度と液相線温度の差をきわめて小さくすることができる。
また、本発明の電子部材は、そのハンダ接合部に上記本発明のハンダ合金を用いることにより、従来の無鉛ハンダ合金に比較して低温でのハンダ付けが可能となっているので、電子部材を構成する電子部品に熱損傷を及ぼすことなく、良好なハンダ接合部とすることができる。また、ハンダ接合部に本発明の無鉛ハンダ合金を用いているので、電子部材を廃棄処理するにあたって埋め立て処理をしたとしても、Pbの溶出が全く発生せず、環境に悪影響を与えることがない。
本発明の電子部材としては、ハンダ接合によって電子部品を組み込んだ基板、ハンダ接合部を有する電子機器などのあらゆる電子部材を含むものである。
表1に示す合金組成のハンダ合金を溶製し、諸特性の評価を行った。
(凝固温度測定)
ハンダ合金の溶製にあたっては、アルミナルツボに合計260gとなるように原料を装入し、箱形電気炉にて大気中500℃で溶解した。使用した原料のうちMgとAlについては、あらかじめアーク炉により所定の成分比になるように作成したMg−Al合金を原料として用いた。
ハンダ合金の溶製にあたっては、アルミナルツボに合計260gとなるように原料を装入し、箱形電気炉にて大気中500℃で溶解した。使用した原料のうちMgとAlについては、あらかじめアーク炉により所定の成分比になるように作成したMg−Al合金を原料として用いた。
アルミナルツボ中での溶解完了後、よく攪拌した上でルツボごと炉外に取り出し、室温を23℃一定に保持しながら自然放冷した。内径2mmのアルミナ磁性保護管に入れた直径1mmのACシース熱電対を準備し、この熱電対をルツボ内の溶融金属中に浸漬し、自然放冷中におけるルツボ内合金の降温挙動の測定を行った。
図1〜3、5〜13は、横軸に時間、縦軸に温度をとり、自然放冷中の冷却曲線を示したものである。
まず、Mg含有量を1.5質量%、Al含有量を0.5質量%とし、Zn含有量を4〜12質量%の範囲で変動させた本発明例No.1〜8の凝固挙動について、図1〜4に基づいて説明する。図1〜3のいずれの冷却曲線も、温度180℃付近に平坦領域Fがあり、この平坦領域Fにおいては、固相線温度と液相線温度がほとんど一致しており、理想的な共晶タイプに似た凝固特性を発現していることが明らかである。
さらに詳細に図1〜3を観察する。
図1、2のうち、Zn含有量8質量%以下の材料の冷却曲線において、最初に出現する変曲点を変曲点B、次の変曲点を変曲点Cと名付ける。また、図2、3のうち、Zn含有量9質量%以上の材料の冷却曲線においては、最初に出現する変曲点はZn含有量8質量%以下と挙動が異なっている様子が見受けられるので、最初に出現する変曲点を変曲点D、次の変曲点を変曲点Eと名付ける。
図4には、横軸にZn含有量、縦軸に温度をとり、No.1〜8における各変曲点(B〜E)と平坦領域Fの挙動を示した。
図1〜図4から明らかなように、Zn含有量4〜12質量%のいずれの領域においても、180℃付近に平坦領域Fが明確に出現しており、この平坦領域Fにおいては、固相線温度と液相線温度がほとんど一致しており、理想的な共晶タイプに似た凝固特性を発現している。さらにZn含有量が6〜9質量%であれば、平坦領域Fの占める比率が増大し、より理想的な共晶タイプの凝固特性を得ることができる。Zn含有量が7〜8質量%の領域において、変曲点B、Cは平坦領域Fの中に吸収され、180℃の平坦領域Fのみが出現している。即ち、Zn含有量が7〜8質量%であれば、最も理想的な共晶タイプの凝固特性を得ることができることが明らかである。
図1〜4に現れる変曲点のうち、変曲点DはZnが晶出する温度を示し、平坦領域FはSn−Zn−Mgの共晶点を示し、変曲点B、C、およびEは共晶組成とは異なった組成の出現温度を示している。Zn含有量が9質量%以上ではZnの初晶温度がZn含有量の増加と共に高くなる。しかし、Zn含有量12質量%までは凝固量が体積率で数%にすぎず、かつ細かい針状に晶出するために、ハンダ付け作業には影響がない。
図5に示すNo.9〜11は、Mg含有量を1.0質量%、Al含有量を0.1質量%とし、Zn含有量を4、7、12質量%に変動させたときの冷却曲線である。Mg含有量が1.0質量%でも180℃付近の平坦領域Fが明確に現れている。Mg含有量が1.0質量%では2段階に凝固が進行する。Znが7質量%では1段目の凝固は185℃となる。Znが4および12質量%では1段目の凝固がそれぞれ195℃、215℃と高くなるが、凝固量が体積率で数%にすぎず、ハンダ付け作業には影響がない。
図6に示す本発明例No.12はAl含有量が0.1質量%、本発明例No.13はAl含有量が1.0質量%、図7に示すNo.14はAl含有量が0.6質量%である。いずれも上記図1〜4と同様に、180℃付近に平坦領域Fが出現しており、この程度のAl含有量範囲においては、Al含有量の変化は本発明のハンダ付け作業に影響を及ぼさない。一方、Al含有量が0.5%を超えるNo.13とNo.14については、250℃付近に微小な変曲点Aが出現している。これはアルミの初晶の出現を表している。しかし、初晶の量はごくわずかであり、Al含有量1.0質量%まではハンダ付け作業には影響がない。
図8に示す本発明例No.15は、Mg含有量が本発明の上限近傍であり、上記図1〜4と同様に180℃付近に平坦領域Fが出現しており、本発明の良好な凝固特性が得られている。図9に示すNo.16は、Mg含有量が本発明の下限近傍であり、194℃付近で1段目の凝固が進行し、その後180℃付近での共晶タイプに似た凝固の進行が見られるので、180℃での共晶タイプに似た凝固の寄与が十分であり、本発明の低温での凝固特性を発揮することができる。
図10に示すCu、Geを含有する本発明例No.17、図11に示すGeを含有する本発明例No.18についても、いずれも平坦領域Fが明確に出現しており、本発明のハンダ合金にCu及びGeを含有した場合にも良好な凝固特性が実現することが明らかである。
図12に示す比較例No.19はSn−9Znハンダ合金の冷却曲線を示す。凝固温度は195℃以上(Sn−Znの共晶温度)と、高い凝固温度であることが明らかである。図13に示す比較例No.20はSn−3.5Ag−0.75Cuハンダ合金の冷却曲線を示す。凝固温度は215℃以上(Sn−Ag−Cuの共晶温度)と、高い凝固温度であることが明らかである。
(機械的性質)
表1のNo.1〜20に示す成分のハンダ合金について、それぞれ融点より100℃高い温度で溶融させ、平行部12mm、幅3mm、厚さ2mmの引張試験片形状を持つ鋳型に流し込み、その後空冷して引張試験片を鋳造した。鋳型から取り出した試験片を120℃×24時間の熱処理を行った後の引張試験を実施した。引張試験はインストロンタイプの試験機を用い、引張速度は1mm/minとした。引張強度および伸び率の測定を行った。結果を表1に示す。
表1のNo.1〜20に示す成分のハンダ合金について、それぞれ融点より100℃高い温度で溶融させ、平行部12mm、幅3mm、厚さ2mmの引張試験片形状を持つ鋳型に流し込み、その後空冷して引張試験片を鋳造した。鋳型から取り出した試験片を120℃×24時間の熱処理を行った後の引張試験を実施した。引張試験はインストロンタイプの試験機を用い、引張速度は1mm/minとした。引張強度および伸び率の測定を行った。結果を表1に示す。
引張強度については、本発明例のNo.1〜18のいずれも、引張強度が60〜80N/mm2、伸び率は20%以上となった。
一方、比較例No.19(Sn−9Zn)については、引張強度が47N/mm2、伸び率が55%であり、また比較例No.20(Sn−3.5Ag−0.75Cu)については、引張強度が38N/mm2、伸び率が42%であった。
本発明の合金は、比較例合金に較べて1.5倍以上の引張強度があり、伸び率は20%以上を確保しているのでハンダ材料として優れた機械的性質を有している。
表2に示す合金組成のハンダ合金を溶製し、諸特性の評価を行った。
(凝固温度測定)
表2のNo.21〜28はAlを含有しない成分組成であるため、ハンダ合金の溶製にあたり、真空溶解炉を用いた。また、表2のNo.29はAl含有量が0.005%と低い含有量であるため、大気溶解炉を用いるに際して簡易シールを施し、シール内部を窒素ガスで置換することによって低酸素雰囲気での溶解を行った。真空溶解炉あるいは簡易シールでの低酸素雰囲気を用いた点以外については、上記実施例1と同様の条件を採用し、自然放冷中におけるルツボ内合金の降温挙動の測定を行った。
表2のNo.21〜28はAlを含有しない成分組成であるため、ハンダ合金の溶製にあたり、真空溶解炉を用いた。また、表2のNo.29はAl含有量が0.005%と低い含有量であるため、大気溶解炉を用いるに際して簡易シールを施し、シール内部を窒素ガスで置換することによって低酸素雰囲気での溶解を行った。真空溶解炉あるいは簡易シールでの低酸素雰囲気を用いた点以外については、上記実施例1と同様の条件を採用し、自然放冷中におけるルツボ内合金の降温挙動の測定を行った。
No.21〜28について、図14〜16に自然放冷中の冷却曲線を示す。Alを含有させた実施例1のNo.1〜8と同様、温度180℃付近に平坦領域Fがあり、この平坦領域Fにおいては、固相線温度と液相線温度がほとんど一致しており、理想的な共晶タイプに似た凝固特性を発現している。
図14、15のうち、Zn含有量8質量%以下の材料の冷却曲線において、最初に出現する変曲点B、次の変曲点Cが出現する点はAlを含有する場合と同様である。また、図15、16のうち、Zn含有量9質量%以上の材料の冷却曲線において、最初に出現する変曲点D、次の変曲点Eについても同様である。
Alを含有する実施例1の場合と同様、Zn含有量4〜12質量%のいずれの領域においても、180℃付近に平坦領域Fが明確に出現しており、この平坦領域Fにおいては、固相線温度と液相線温度がほとんど一致しており、理想的な共晶タイプに似た凝固特性を発現している。さらにZn含有量が6〜9質量%であれば、平坦領域Fの占める比率が増大し、より理想的な共晶タイプの凝固特性を得ることができる。Zn含有量が7〜8質量%の領域において、変曲点B、Cは平坦領域Fの中に吸収され、180℃の平坦領域Fのみが出現している。即ち、Zn含有量が7〜8質量%であれば、最も理想的な共晶タイプの凝固特性を得ることができる。変曲点B、C、D、E、および平坦領域Fの意味合いについては、Alを含有する実施例1の場合と同様に考えることができる。
(機械的性質)
表2に示す成分のハンダ合金について、実施例1と同様に引張試験を実施した。結果を表2に示す。引張強度については、表2に示す本発明例のいずれも、引張強度が60〜80N/mm2、伸び率は20%以上となった。
表2に示す成分のハンダ合金について、実施例1と同様に引張試験を実施した。結果を表2に示す。引張強度については、表2に示す本発明例のいずれも、引張強度が60〜80N/mm2、伸び率は20%以上となった。
Claims (7)
- Zn:4〜12質量%、Mg:0.5〜2.0質量%を含有し、残部Sn及び不可避不純物からなることを特徴とする無鉛ハンダ合金。
- さらに、Al:0.005〜1.0質量%を含有することを特徴とする請求項1に記載の無鉛ハンダ合金。
- さらに、Cu:0.1〜3.0質量%を含有することを特徴とする請求項1又は2に記載の無鉛ハンダ合金。
- さらに、Ge:0.1〜1.0質量%を含有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金。
- さらに、Ag:0.1〜2.0質量%、Bi:0.05〜1.5質量%、In:0.1〜2.0質量%、Sb:0.2〜2.0質量%、Ni:0.01〜1.0質量%、P:0.01〜0.5質量%の1種以上を含有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金。
- 請求項1乃至5のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金よりなることを特徴とする無鉛ハンダボール。
- ハンダ接合部に請求項1乃至5のいずれかに記載の無鉛ハンダ合金を用いてなることを特徴とする電子部材。
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