JP2006253560A - 半導体ウエーハ用の研磨ヘッド及び研磨装置並びに研磨方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】キャリア3と、ガイドリング4と、ドレスリング5を保持するとともに回転可能であり、内側に空間部8が形成された逆椀状のヘッド本体2とを有し、ヘッド本体の下縁部に、ドレスリングと、ガイドリング及びキャリアの少なくとも一方をダイヤフラム6を介して連結して保持するとともにヘッド本体の空間部が密閉されており、研磨の際、密閉された空間部の圧力を、該空間部に連結された圧力調整機構9で調整することにより、ダイヤフラムを弾性変形させて、キャリアに保持されたウエーハWとドレスリングを定盤12上の研磨布11に対して回転しながら所定の押圧力で押し付けて研磨することができる研磨ヘッド1。
【選択図】図1
Description
一般的な片面研磨装置は、例えば図12に示したように、研磨布74が貼り付けられた定盤73と、研磨剤供給機構76と、研磨ヘッド72等から構成されている。このような研磨装置71では、研磨ヘッド72でウエーハWを保持し、研磨剤供給機構76から研磨布74上に研磨剤75を供給するとともに、定盤73と研磨ヘッド72をそれぞれ回転させてウエーハWの表面を研磨布74に摺接させることにより研磨を行う。
図14は、バッキングパッドでウエーハを保持する研磨ヘッドの一例の概略を示している。この研磨ヘッド91は、セラミックス等からなる円盤状のキャリア92の下面にポリウレタン等の弾性パッド(バッキングパッド)95が貼り付けられており、このパッド95に水分を吸収させてウエーハWを表面張力により保持する。また、研磨中にキャリア92からウエーハWが外れるのを防ぐため、キャリア92の周りにリング(リテーナリング)94が設けられている。
従って、このようなウエーハの外周部における平坦度の悪化を防ぐには、リテーナリングを頻繁に交換する必要があり、コスト上昇の原因となってしまう。
通常、押圧リングは磨耗が少なく、研磨布との摩擦抵抗が少ないセラミックス等の硬い材質が用いられている。上記のように押圧リング(リテーナリング)専用の押圧調整機構を設けた場合、押圧リングの押圧が、ウエーハの押圧に直接影響することを避けることができる。しかし、ウエーハも押圧リングも研磨中に常に研磨布との摩擦によりスラスト方向に強い力を受け、通常、研磨中の摩擦係数はウエーハの方が大きく、ウエーハのエッジ部と、ウエーハを収容するガイドリングの内周面の接触部に研磨剤等の異物が入り込んだ場合に、ウエーハの押圧機構、押圧リングの押圧機構が別々で互いに独立になっているため、ウエーハ、あるいはガイドリングやキャリアが横ずれした時に押圧リングに接触し、ウエーハを収容するガイドの内周面の材質がプラスチックであっても、ウエーハエッジ部に圧痕やキズが発生し易い。
前記ウエーハの裏面を保持するための円盤状のキャリアと、
該キャリアの外周部に沿って前記ウエーハの裏面を保持する面から下方に突出し、前記ウエーハのエッジ部を保持するためのガイドリングと、
該ガイドリングの周囲に位置し、前記研磨布を押圧するためのドレスリングと、
前記キャリアと、ガイドリングと、ドレスリングを保持するとともに回転可能であり、内側に空間部が形成された逆椀状のヘッド本体とを有し、
前記ヘッド本体の下縁部に、前記ドレスリングと、前記ガイドリング及びキャリアの少なくとも一方を、ダイヤフラムを介して連結して保持するとともに前記ヘッド本体の空間部が密閉されており、研磨の際、前記密閉された空間部の圧力を、該空間部に連結された圧力調整機構で調整することにより、前記ダイヤフラムを弾性変形させて、前記キャリアに保持されたウエーハと前記ドレスリングを前記定盤上の研磨布に対して回転しながら所定の押圧力で押し付けて研磨することができるものであることを特徴とする研磨ヘッドが提供される(請求項1)。
このようにキャリアの上側に裏板を配置し、ドレスリングとキャリアとの間でもダイヤフラムを弾性変形させてウエーハの押圧力を別途調整することができるものとすれば、キャリアに保持されたウエーハの押圧力と、ドレスリングの押圧力を微妙に変えることもできる。そして、このような押圧の微調整により、ウエーハの外周部の過研磨やエッジ部の圧痕等をより効果的に防ぐことも可能となる。
バッキングパッドを設けたものであれば、ウエーハをより確実に保持して研磨を行うことができる。従って、この研磨ヘッドを用いれば、エッジ部の圧痕等をより確実に防ぎ、より高品質の半導体ウエーハに仕上げることができる。
セラミックプレートのキャリアであれば、半導体ウエーハの金属汚染等を防ぐことができ、また、高い剛性を有するため、ウエーハを高い平坦度に仕上げるのに適している。
このようにウエーハ吸着機構を備えたものであれば、ウエーハをより確実に保持して研磨を行うことができ、また、研磨後、キャリアの貫通孔からウエーハの裏面にガスを吹き付けることでキャリアからウエーハを容易に外すことができる。
可撓性の膜と(ヘッド本体の空間部を仕切る)固定盤によりウエーハを真空吸着して、ウエーハを確実に保持することができ、研磨中にはウエーハの押圧を調整することができ、また、研磨後、固定盤の貫通孔のラインを通じてガスを吹き付けて可撓性の膜を膨らませることでキャリアからウエーハを容易に外すことができる。
本発明に係る研磨ヘッドを備えた研磨装置であれば、研磨中、ウエーハのエッジ部がガイドリングを介してドレスリングに当たる際の衝撃を極めて小さく抑え、ウエーハのエッジ部に圧痕等が生じるのを効果的に防ぐことができる。また、ドレスリングにより研磨布の波打ち変形が抑制され、ウエーハの外周部における過剰な研磨を防ぐことができる。
また、ガイドリングで研磨布を押圧せずにウエーハのエッジ部を保持することで、ウエーハの外周部まで均一な荷重を掛けることができ、一方、ガイドリングの外側に位置するドレスリングで研磨布を押圧するため、研磨布の波打ち変形を防ぐことができる。従って、この研磨ヘッドによりウエーハを保持して研磨を行うことで外周部まで平坦度の優れたウエーハに仕上げることができる。
さらに、ガイドリングにウエーハとの接触に起因する溝が形成されることがなく、その寿命が長くなるという利点もある。
図1は、本発明に係る研磨ヘッドの一例(第1の態様)を示している。この研磨ヘッド1は、逆椀状のヘッド本体2を有し、ヘッド本体2の内側には空間部8が形成されている。ヘッド本体2は回転可能であり、上部中央には圧力調整機構9に連通する圧力調整用の貫通孔10が設けられている。
ヘッド本体2の下縁部には、同心円状に配置された円盤状のキャリア3と、ガイドリング4と、ドレスリング5とがダイヤフラム6を介して連結されている。このようなダイヤフラム6を介した連結により、ヘッド本体2が、キャリア3と、ガイドリング4と、ドレスリング5を保持するとともに、ヘッド本体2の空間部8が密閉された状態となっている。
また、キャリア3はウエーハWの裏面全体を支持するため、研磨するウエーハWと同じ径の大きさとするか、僅かに大きい程度とすることが好ましい。
また、ガイドリング4は、ウエーハWのエッジ部を保持して研磨中に外れるのを防ぐためのものであるので、そのリング幅は特に厚くする必要はなく、通常は0.3〜3mm程度の厚さとすればよい。
なお、キャリアとガイドリングを一体的に形成した場合には、ウエーハのエッジ部が接触する部分、すなわちガイドリングの内側面に相当する部分は上記PEEK、POM、MCナイロン、PET、PPS等のプラスチックで形成することが好ましい。
ドレスリング5の材質は、ウエーハの金属汚染を引き起こさず、研磨布11との接触による磨耗が極力少ないものとすることが好ましい。例えばアルミナ製のリングを好適に使用することができる。
この研磨装置17を用いてウエーハWを研磨するには、まず、水を含ませたバッキングパッド7にウエーハWを貼りつけてウエーハWの裏面をキャリア3で保持するとともに、ウエーハWのエッジ部をガイドリング4で保持する。
なお、研磨後のウエーハは、ガイドリング4とウエーハWのエッジ部との間に水を吹き付けることで容易に離脱させることができる。
固定盤33は、ウエーハを吸着していない状態では、図3(B)に示されるように周辺部から中央部かけて緩やかに傾斜した上に凸の形状であり、固定盤33と可撓性膜32との間には空間部38が形成されている。固定盤33の中央には圧力調整機構36等に連通する貫通孔34が形成されている。
なお、固定盤33の材質は、SUSやチタン等の金属を用いることができる。
また、研磨後は、固定盤33の貫通孔34に通じるラインを通じてエアーを吹き付けて可撓性膜32を膨らませることにより、ウエーハWを容易に離脱させることができる。
研磨後のウエーハは、ガイドリング4とウエーハWのエッジ部との間に水を吹き付けることで容易に離脱させることができる。
このような構成の研磨ヘッド51であれば、前記第2の態様と同様にバッキングパッド7とウエーハ吸着機構52によって、ウエーハWを確実に吸着保持することができる。また、前記第4の態様と同様に圧力調整機構59とウエーハ押圧調整機構53によって、ドレスリング5とウエーハWの押圧を別々に調整することができる。さらに、エアー供給機構55により研磨後のウエーハを容易に離脱させることもできる。
固定盤63に通じるウエーハ吸着機構67によってウエーハWの着脱を自在に行うことができ、また、空間部8に通じる圧力調整機構65によって、キャリア62に保持されたウエーハWとドレスリング5の押圧を調整することができ、さらに、空間部68に通じるウエーハ押圧調整機構66によってウエーハWの押圧を微調整することができる。
従って、この研磨ヘッド61でウエーハWを保持して研磨を行えば、ウエーハWの着脱、ドレスリング5の押圧、ウエーハWの押圧を自在に制御することができる。
(実施例1)
図1に示した構成の研磨ヘッドを以下のように作製した。ステンレス製のヘッド本体を用意し、セラミックプレート(直径301mm)のキャリアを用いた。キャリアの周囲にはPEEK製のガイドリング(幅:2mm)を嵌め込み、さらにガイドリングの外側には約0.5mmの間隔をあけてアルミナ製のドレスリングを配置した。そして、キャリア、ガイドリング、ドレスリング及びヘッド本体を合成ゴム製の1枚のダイヤフラムを介して連結し、研磨ヘッドの内側に1つのチャンバー(空間部)を有する研磨ヘッド(シングルチャンバー方式研磨ヘッド)を作製した。
研磨布はSUBA600(ニッタ・ハース製)を使用し、研磨剤にはコロイダルシリカを含有するアルカリ溶液を用いた。
研磨の際、研磨ヘッドと研磨定盤はそれぞれ30rpmで回転させた。ウエーハの研磨圧力(押圧)は30kPa(チャンバー内)とした。研磨代が1μmになるように研磨時間を調整した。研磨後のウエーハに対し、SC−1洗浄を行った。
図4に示した2つのチャンバー8a,8bを有する研磨ヘッドを作製した。キャリア、ガイドリング、及びドレスリングは実施例1と同様のものを使用した。
この研磨ヘッドを用いて実施例1と同様にしてシリコンウエーハの研磨を行った。ドレスリングの研磨圧力を調整するチャンバー8a内は33kPaとし、ウエーハの研磨圧力を調整するチャンバー8b内は30kPaとした。
図3に示したようにキャリアが可撓性の膜である研磨ヘッドを作製した。
この研磨ヘッドを用いて実施例1と同様にしてシリコンウエーハの研磨を行った。ウエーハ及びドレスリングの押圧を調整する空間部8内は30kPaとし、ウエーハを保持するための可撓性の膜と固定盤との間の空間部38内も30kPaとした。
図6に示したようにキャリアが可撓性の膜であり、ウエーハの研磨圧力を調整する機構とドレスリング圧力を調整する機構を有する研磨ヘッドを作製した。
この研磨ヘッドを用いて実施例1と同様にしてシリコンウエーハの研磨を行った。ドレスリングの研磨圧力を調整する空間部8は33kPaとし、ウエーハの研磨圧力を調整する空間部68内は30kPaとした。
図13に示されるような研磨ヘッド81を用意した。この研磨ヘッド81は、キャリア82の外周部に沿ってリング状のガイド83が設けられ、さらにその外側に押圧リング84が設けられている。キャリア82と押圧リング84は特にダイヤフラム等による連結はせず、別個の圧力調整機構によって押圧が制御されるものとした。
この研磨ヘッド81を用いて実施例1と同様にシリコンウエーハの研磨を行った。
図14に示されるような研磨ヘッド91を用意した。この研磨ヘッド91には、キャリア92の外周部に沿ってリング状のリテーナ94が設けられ、本リング94は上下動自在にダイヤフラムにより支持されている。キャリア92とリテーナリング94は特にダイヤフラム等による連結はせず、別個の圧力制御機構により押圧が制御されるものとした。
この研磨ヘッド91を用いて実施例1と同様にシリコンウェーハの研磨を行った。
実施例1−4及び比較例で研磨したシリコンウエーハのエッジ部について、ウエーハエッジ欠陥自動検査装置「RXW−1225S」(レイテックス社製)を用いて評価を行った。
具体的には、ウエーハ外周部全周にレーザー光を照射し、その散乱光を受光することで欠陥の有無を検出した。欠陥が発生している場合には、その欠陥のノッチからの角度を求め、図8に示されるように研磨後のウエーハのエッジ部の領域(A)(B)(C)についてCCDカメラで撮影し、画像処理により合否を判定した。
図9は合格品のCCDカメラ画像であり、図10及び図11は不合格品のCCDカメラ画像である。
実施例1−4の研磨ヘッドを用いて研磨を行った場合のウエーハのエッジ部における圧痕又はキズの発生率は平均約1.5%であった。
比較例1の研磨ヘッドを用いて研磨を行った場合のウエーハのエッジ部におけるキズの発生率は8.5%であった。
比較例1の研磨ヘッドでは、ウエーハが横ズレしたときに、硬質のリテーナリングに接触して圧痕やキズをウエーハに付け易かったと考えられる。
また、研磨したウェーハの平坦度をフラットネス測定装置「AMS3200」(ADE社製)を用いて実施例1と同様に測定したところ、実施例1〜4の研磨ヘッドを用いて研磨行った場合のウェーハのSFQRmaxは平均0.09μmであったが、比較例1の研磨ヘッドを用いて研磨行った場合は平均0.11μmであった。
また、研磨装置の構成も図7に示したものに限定されず、例えば、本発明に係る研磨ヘッドを複数備えた研磨装置とすることもできる。
3…キャリア、 4…ガイドリング、 5…ドレスリング、 6…ダイヤフラム、
7…バッキングパッド、 8,68…空間部、 9…圧力調整機構、
10…圧力調整用貫通孔、 11…研磨布、 12…定盤、
13…研磨剤供給機構、 17…研磨装置、 22…ウエーハ吸着機構、
26…ウエーハ吸着用貫通孔、 32,62…可撓性の膜、 33,63…固定盤、
43,53…ウエーハ押圧調整機構、 44,54…裏板、 W…ウエーハ。
Claims (8)
- 半導体ウエーハの表面を定盤上に貼り付けた研磨布に摺接させて研磨する際に前記ウエーハを保持するための研磨ヘッドであって、少なくとも、
前記ウエーハの裏面を保持するための円盤状のキャリアと、
該キャリアの外周部に沿って前記ウエーハの裏面を保持する面から下方に突出し、前記ウエーハのエッジ部を保持するためのガイドリングと、
該ガイドリングの周囲に位置し、前記研磨布を押圧するためのドレスリングと、
前記キャリアと、ガイドリングと、ドレスリングを保持するとともに回転可能であり、内側に空間部が形成された逆椀状のヘッド本体とを有し、
前記ヘッド本体の下縁部に、前記ドレスリングと、前記ガイドリング及びキャリアの少なくとも一方を、ダイヤフラムを介して連結して保持するとともに前記ヘッド本体の空間部が密閉されており、研磨の際、前記密閉された空間部の圧力を、該空間部に連結された圧力調整機構で調整することにより、前記ダイヤフラムを弾性変形させて、前記キャリアに保持されたウエーハと前記ドレスリングを前記定盤上の研磨布に対して回転しながら所定の押圧力で押し付けて研磨することができるものであることを特徴とする研磨ヘッド。 - 前記キャリアの上側に配置された裏板を有し、該裏板が前記ダイヤフラムを介して前記ドレスリングの上方に取り付けられていることにより、前記ヘッド本体の空間部が2つのチャンバーに仕切られており、研磨の際、下側のチャンバーの圧力を、該下側のチャンバーに連結されたウエーハ押圧調整機構で調整することにより、前記ドレスリングとキャリアとの間で前記ダイヤフラムを弾性変形させて、前記キャリアに保持されたウエーハの研磨布に対する押圧力をさらに調整することができるものであることを特徴とする請求項1に記載の研磨ヘッド。
- 前記キャリアのウエーハの裏面を保持する面にバッキングパッドが設けられていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の研磨ヘッド。
- 前記キャリアがセラミックプレートであることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の研磨ヘッド。
- 前記キャリアの厚さ方向に、前記ウエーハを真空吸着保持するための貫通孔が形成され、該貫通孔に連通するウエーハ吸着機構を具備するものであることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の研磨ヘッド。
- 前記キャリアが可撓性の膜であり、該可撓性の膜を固定するための貫通孔が形成された固定盤と、該固定盤の貫通孔に連通するウエーハ吸着機構及び押圧調整機構を具備するものであることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の研磨ヘッド。
- 半導体ウエーハの表面を研磨する際に使用する研磨装置であって、少なくとも、定盤上に貼り付けられた研磨布と、該研磨布上に研磨剤を供給するための研磨剤供給機構と、前記半導体ウエーハを保持するための研磨ヘッドとして、請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の研磨ヘッドを具備するものであることを特徴とする研磨装置。
- 半導体ウエーハの表面を研磨する方法であって、前記請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の研磨ヘッドによって前記ウエーハを保持し、前記ヘッド本体の密閉された空間部の圧力を、該空間部に連結された圧力調整機構で調整することにより、前記ダイヤフラムを弾性変形させて、前記キャリアに保持されたウエーハと前記ドレスリングを定盤上の研磨布に対して回転しながら所定の押圧力で押し付けて研磨することを特徴とする半導体ウエーハの研磨方法。
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