JP2006251631A - Pixel circuit and display device - Google Patents

Pixel circuit and display device Download PDF

Info

Publication number
JP2006251631A
JP2006251631A JP2005070777A JP2005070777A JP2006251631A JP 2006251631 A JP2006251631 A JP 2006251631A JP 2005070777 A JP2005070777 A JP 2005070777A JP 2005070777 A JP2005070777 A JP 2005070777A JP 2006251631 A JP2006251631 A JP 2006251631A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
drive transistor
transistor
output current
potential
capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005070777A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4706288B2 (en
Inventor
Junichi Yamashita
淳一 山下
Katsuhide Uchino
勝秀 内野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2005070777A priority Critical patent/JP4706288B2/en
Publication of JP2006251631A publication Critical patent/JP2006251631A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4706288B2 publication Critical patent/JP4706288B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pixel circuit capable of compensating an influence of mobility in addition to threshold voltage of a drive transistor. <P>SOLUTION: The pixel circuit 2 has a transistor Tr5 for compensation, operates in a compensation period set prior to a sampling period, energizes capacity parts Cs1, Cs2, shields energization after resetting potential held by the capacity parts and detects potential difference which appears between a source S and a gate G of the drive transistor Tr2. The capacity parts Cs1, Cs2 hold potential according to the detected potential difference. The held potential offsets the influence of the threshold voltage Vth to output current Ids of the drive transistor Tr2. Furthermore, the drive transistor Tr2 shortens length of its channel area to provide the output current with dependency over voltage between the source S and a drain D and thus, performs self-compensation of the dependency over carrier mobility μ of the output current Ids. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、画素毎に配した発光素子を電流駆動する画素回路に関する。又この画素回路がマトリクス状(行列状)に配列された表示装置であって、特に各画素回路内に設けた絶縁ゲート型電界効果トランジスタによって、有機ELなどの発光素子に通電する電流量を制御する、いわゆるアクティブマトリクス型の表示装置に関する。   The present invention relates to a pixel circuit that current-drives a light emitting element arranged for each pixel. In addition, this pixel circuit is a display device arranged in a matrix (matrix), and the amount of current supplied to a light emitting element such as an organic EL is controlled by an insulated gate field effect transistor provided in each pixel circuit. The present invention relates to a so-called active matrix display device.

画像表示装置、例えば液晶ディスプレイなどでは、多数の液晶画素をマトリクス状に並べ、表示すべき画像情報に応じて画素毎に入射光の透過強度又は反射強度を制御することによって画像を表示する。これは、有機EL素子を画素に用いた有機ELディスプレイなどにおいても同様であるが、液晶画素と異なり有機EL素子は自発光素子である。その為、有機ELディスプレイは液晶ディスプレイに比べて画像の視認性が高く、バックライトが不要であり、応答速度が高いなどの利点を有する。又、各発光素子の輝度レベル(階調)はそれに流れる電流値によって制御可能であり、いわゆる電流制御型であるという点で液晶ディスプレイなどの電圧制御型とは大きく異なる。   In an image display device such as a liquid crystal display, an image is displayed by arranging a large number of liquid crystal pixels in a matrix and controlling the transmission intensity or reflection intensity of incident light for each pixel in accordance with image information to be displayed. This also applies to an organic EL display using an organic EL element as a pixel, but unlike a liquid crystal pixel, the organic EL element is a self-luminous element. Therefore, the organic EL display has advantages such as higher image visibility than the liquid crystal display, no backlight, and high response speed. Further, the luminance level (gradation) of each light emitting element can be controlled by the value of the current flowing therethrough, and is greatly different from a voltage control type such as a liquid crystal display in that it is a so-called current control type.

有機ELディスプレイにおいては、液晶ディスプレイと同様、その駆動方式として単純マトリクス方式とアクティブマトリクス方式とがある。前者は構造が単純であるものの、大型且つ高精細のディスプレイの実現が難しいなどの問題がある為、現在はアクティブマトリクス方式の開発が盛んに行なわれている。この方式は、各画素回路内部の発光素子に流れる電流を、画素回路内部に設けた能動素子(一般には薄膜トランジスタ、TFT)によって制御するものであり、以下の特許文献に記載がある。
特開2003−255856 特開2003−271095 特開2004−133240 特開2004−029791 特開2004−093682
In the organic EL display, similarly to the liquid crystal display, there are a simple matrix method and an active matrix method as driving methods. Although the former has a simple structure, there is a problem that it is difficult to realize a large-sized and high-definition display. Therefore, the active matrix method is actively developed at present. In this method, a current flowing through a light emitting element in each pixel circuit is controlled by an active element (generally a thin film transistor or TFT) provided in the pixel circuit, and is described in the following patent documents.
JP 2003-255856 A JP 2003-271095 A JP 2004-133240 A JP 2004-029791 A JP 2004-093682 A

従来の画素回路は、制御パルスを供給する行状の走査線と映像信号を供給する列状の信号線とが交差する部分に配され、少なくともサンプリングトランジスタと容量部とドライブトランジスタと発光素子とを含む。サンプリングトランジスタは、走査線から供給される制御パルスに応じ導通して信号線から供給された映像信号をサンプリングする。容量部は、サンプリングされた映像信号に応じた入力電位を保持する。ドライブトランジスタは、容量部に保持された入力電位に応じて所定の発光期間に出力電流を供給する。尚一般に、出力電流はドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度及び閾電圧に対して依存性を有する。発光素子は、ドライブトランジスタから供給された出力電流により映像信号に応じた輝度で発光する。   A conventional pixel circuit is arranged at a portion where a row scanning line supplying a control pulse and a column signal line supplying a video signal intersect, and includes at least a sampling transistor, a capacitor, a drive transistor, and a light emitting element. . The sampling transistor conducts in response to the control pulse supplied from the scanning line and samples the video signal supplied from the signal line. The capacitor holds an input potential corresponding to the sampled video signal. The drive transistor supplies an output current during a predetermined light emission period according to the input potential held in the capacitor portion. In general, the output current depends on the carrier mobility and threshold voltage of the channel region of the drive transistor. The light emitting element emits light with luminance according to the video signal by the output current supplied from the drive transistor.

ドライブトランジスタは、容量部に保持された入力電位をゲートに受けてソース/ドレイン間に出力電流を流し、発光素子に通電する。一般に発光素子の発光輝度は通電量に比例している。更にドライブトランジスタの出力電流供給量はゲート電圧すなわち容量部に書き込まれた入力電位によって制御される。従来の画素回路は、ドライブトランジスタのゲートに印加される入力電圧を入力映像信号に応じて変化させることで、発光素子に供給する電流量を制御している。   The drive transistor receives the input potential held in the capacitor portion at the gate, causes an output current to flow between the source and the drain, and energizes the light emitting element. In general, the light emission luminance of a light emitting element is proportional to the amount of current applied. Further, the output current supply amount of the drive transistor is controlled by the gate voltage, that is, the input potential written in the capacitor. The conventional pixel circuit controls the amount of current supplied to the light emitting element by changing the input voltage applied to the gate of the drive transistor in accordance with the input video signal.

ここでドライブトランジスタの動作特性は以下の式で表わされる。
Ids=(1/2)μ(W/L)Cox(Vgs−Vth)
このトランジスタ特性式において、Idsはソース/ドレイン間に流れるドレイン電流を表わしており、画素回路では発光素子に供給される出力電流である。Vgsはソースを基準としてゲートに印加されるゲート印加電圧を表わしており、画素回路では上述した入力電位である。Vthはトランジスタの閾電圧である。又μはトランジスタのチャネルを構成する半導体薄膜の移動度を表わしている。その他Wはチャネル幅を表わし、Lはチャネル長を表わし、Coxはゲート容量を表わしている。このトランジスタ特性式から明らかな様に、薄膜トランジスタは飽和領域で動作する時、ゲート電圧Vgsが閾電圧Vthを超えて大きくなると、オン状態となってドレイン電流Idsが流れる。原理的に見ると上記のトランジスタ特性式が示す様に、ゲート電圧Vgsが一定であれば常に同じ量のドレイン電流Idsが発光素子に供給される。従って、画面を構成する各画素に全て同一のレベルの入力信号を供給すれば、全画素が同一輝度で発光し、画面の一様性(ユニフォーミティ)が得られるはずである。
Here, the operating characteristic of the drive transistor is expressed by the following equation.
Ids = (1/2) μ (W / L) Cox (Vgs−Vth) 2
In this transistor characteristic equation, Ids represents a drain current flowing between the source and drain, and is an output current supplied to the light emitting element in the pixel circuit. Vgs represents a gate applied voltage applied to the gate with reference to the source, and is the above-described input potential in the pixel circuit. Vth is the threshold voltage of the transistor. Μ represents the mobility of the semiconductor thin film constituting the channel of the transistor. In addition, W represents the channel width, L represents the channel length, and Cox represents the gate capacitance. As is apparent from this transistor characteristic equation, when the thin film transistor operates in the saturation region, if the gate voltage Vgs increases beyond the threshold voltage Vth, the thin film transistor is turned on and the drain current Ids flows. In principle, as the above transistor characteristic equation shows, the same amount of drain current Ids is always supplied to the light emitting element if the gate voltage Vgs is constant. Accordingly, if input signals having the same level are supplied to all the pixels constituting the screen, all the pixels should emit light with the same luminance, and the uniformity of the screen should be obtained.

しかしながら実際には、ポリシリコンなどの半導体薄膜で構成された薄膜トランジスタ(TFT)は、個々のデバイス特性にばらつきがある。特に、閾電圧Vthは一定ではなく、各画素毎にばらつきがある。前述のトランジスタ特性式から明らかな様に、各ドライブトランジスタの閾電圧Vthがばらつくと、ゲート印加電圧Vgsが一定であっても、ドレイン電流Idsにばらつきが生じ、画素毎に輝度がばらついてしまう為、画面のユニフォーミティを損なう。従来からドライブトランジスタの閾電圧のばらつきをキャンセルする機能を組み込んだ画素回路が開発されており、例えば前記の特許文献3に開示がある。   However, in reality, thin film transistors (TFTs) composed of semiconductor thin films such as polysilicon have variations in individual device characteristics. In particular, the threshold voltage Vth is not constant and varies from pixel to pixel. As is apparent from the above transistor characteristic equation, if the threshold voltage Vth of each drive transistor varies, even if the gate applied voltage Vgs is constant, the drain current Ids varies and the luminance varies from pixel to pixel. , Damage the screen uniformity. Conventionally, a pixel circuit incorporating a function for canceling variations in threshold voltages of drive transistors has been developed, and is disclosed in, for example, Patent Document 3 described above.

閾電圧のばらつきをキャンセルする機能を組み込んだ画素回路は、ある程度画面のユニフォーミティを改善する事が可能である。しかしながら、ポリシリコン薄膜トランジスタの特性は、閾電圧ばかりでなく移動度μも素子毎にばらつきがある。前述のトランジスタ特性式から明らかなように、ドレイン電流Idsは移動度μに比例している。したがって移動度μがばらつくと、ゲート電圧Vgsが一定であってもドレイン電流Idsにばらつきが出てしまう。この結果発光輝度が画素毎に変化する為、画面のユニフォーミティを損なうという課題がある。なお、本願発明に直接の関連性はないが、画面のユニフォーミティを改善する為の技術として、以下の特許文献6ないし11が挙げられる。
特開2002−132218 特開2003−186438 特開2000−276075 特開2004−126559 特開2004−004911 特開2004−054234
A pixel circuit incorporating a function for canceling variations in threshold voltage can improve screen uniformity to some extent. However, the characteristics of the polysilicon thin film transistor vary not only in the threshold voltage but also in the mobility μ from element to element. As is apparent from the transistor characteristic equation described above, the drain current Ids is proportional to the mobility μ. Therefore, when the mobility μ varies, the drain current Ids varies even when the gate voltage Vgs is constant. As a result, the emission luminance varies from pixel to pixel, and there is a problem that the uniformity of the screen is impaired. Although there is no direct relevance to the present invention, the following Patent Documents 6 to 11 are cited as techniques for improving the uniformity of the screen.
JP2002-132218A JP2003-186438 JP 2000-276075 A JP 2004-126559 A JP2004004911 JP 2004-054234 A

上述した従来の技術の課題に鑑み、本発明はドライブトランジスタの閾電圧のばらつきに加え移動度のばらつきの補正も可能な表示装置及び画素回路を提供する事を目的とする。かかる目的を達成する為に以下の手段を講じた。即ち本発明は、制御パルスを供給する行状の走査線と映像信号を供給する列状の信号線とが交差する部分に配され、少なくともサンプリングトランジスタと容量部とドライブトランジスタと発光素子とを含み、前記サンプリングトランジスタは、所定のサンプリング期間に走査線から供給される制御パルスに応じ導通して信号線から供給された映像信号をサンプリングし、前記容量部は、サンプリングされた映像信号に応じた入力電位を保持し、前記ドライブトランジスタは、該容量部に保持された入力電位に応じて所定の発光期間に出力電流を供給し、該出力電流は該ドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度及び閾電圧に対して依存性を有し、前記発光素子は、該ドライブトランジスタから供給された出力電流により該映像信号に応じた輝度で発光する画素回路において、該出力電流の閾電圧に対する依存性を補正するための補正手段を備えており、 前記補正手段は該ドライブトランジスタ及び容量部に接続しており、該サンプリング期間に先行して設定された補正期間に動作し、該容量部に通電して該容量部が保持していた電位をリセットした後該通電を遮断し該ドライブトランジスタのソースとゲート間に現れる電位差を検出し、前記容量部は該検出した電位差に応じた電位を保持し、該保持した電位は該ドライブトランジスタの出力電流に対する閾電圧の影響を相殺し、更に前記ドライブトランジスタはそのチャネル領域の長さを短縮化して出力電流にソース・ドレイン間電圧に対する依存性を与え、これにより該出力電流のキャリア移動度に対する依存性を自己補正することを特徴とする。好ましくは、前記ドライブトランジスタは、そのチャネル領域の長さが5μm以下に短縮化されている。   In view of the above-described problems of the conventional technology, an object of the present invention is to provide a display device and a pixel circuit capable of correcting a variation in mobility in addition to a variation in threshold voltage of a drive transistor. In order to achieve this purpose, the following measures were taken. That is, the present invention is arranged at a portion where a row scanning line for supplying a control pulse and a column signal line for supplying a video signal intersect, and includes at least a sampling transistor, a capacitor, a drive transistor, and a light emitting element, The sampling transistor conducts in response to a control pulse supplied from a scanning line during a predetermined sampling period to sample a video signal supplied from a signal line, and the capacitor unit receives an input potential corresponding to the sampled video signal. The drive transistor supplies an output current during a predetermined light emission period according to the input potential held in the capacitor, and the output current is set to the carrier mobility and threshold voltage of the channel region of the drive transistor. The light emitting element has the image by the output current supplied from the drive transistor. In the pixel circuit that emits light with a luminance according to the signal, the pixel circuit includes correction means for correcting the dependency of the output current on the threshold voltage, and the correction means is connected to the drive transistor and the capacitor unit, Operates in the correction period set prior to the sampling period, energizes the capacitor unit to reset the potential held by the capacitor unit, and then shuts off the energization and appears between the source and gate of the drive transistor. A potential difference is detected, the capacitor holds a potential corresponding to the detected potential difference, the held potential cancels the influence of the threshold voltage on the output current of the drive transistor, and the drive transistor further detects the channel region. Shortening the length to give the output current a dependency on the source-drain voltage, which in turn depends on the carrier mobility of the output current Is self-correcting. Preferably, the drive transistor has a channel region length reduced to 5 μm or less.

又本発明は、画素アレイ部とスキャナ部と信号部とを含み、前記画素アレイ部は、行状に配された走査線と、列状に配された信号線と、両者が交差する部分に配された行列状の画素とからなり、前記信号部は、該信号線に映像信号を供給し、前記スキャナ部は、該走査線に制御パルスを供給して順次行ごとに画素を走査し、各画素は、少なくともサンプリングトランジスタと容量部とドライブトランジスタと発光素子とを含み、前記サンプリングトランジスタは、所定のサンプリング期間に走査線から供給されるサンプリング用制御パルスに応じ導通して信号線から供給された映像信号をサンプリングし、前記容量部は、サンプリングされた映像信号に応じた入力電位を保持し、前記ドライブトランジスタは、該容量部に保持された入力電位に応じて所定の発光期間に出力電流を供給し、該出力電流は該ドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度及び閾電圧に対して依存性を有し、前記発光素子は、該ドライブトランジスタから供給された出力電流により該映像信号に応じた輝度で発光する表示装置において、各画素は、該出力電流の閾電圧に対する依存性を補正するための補正手段を備えており、前記補正手段は該ドライブトランジスタ及び容量部に接続しており、該サンプリング期間に先行して設定された補正期間に動作し、該容量部に通電して該容量部が保持していた電位をリセットした後該通電を遮断し該ドライブトランジスタのソースとゲート間に現れる電位差を検出し、前記容量部は該検出した電位差に応じた電位を保持し、該保持した電位は該ドライブトランジスタの出力電流に対する閾電圧の影響を相殺し、更に前記ドライブトランジスタはそのチャネル領域の長さを短縮化して出力電流にソース・ドレイン間電圧に対する依存性を与え、これにより該出力電流のキャリア移動度に対する依存性を自己補正することを特徴とする。好ましくは、前記ドライブトランジスタは、そのチャネル領域の長さが5μm以下に短縮化されている。   In addition, the present invention includes a pixel array unit, a scanner unit, and a signal unit, and the pixel array unit is arranged at a portion where scanning lines arranged in rows and signal lines arranged in columns intersect. The signal unit supplies a video signal to the signal line, and the scanner unit supplies a control pulse to the scanning line to sequentially scan the pixels row by row, The pixel includes at least a sampling transistor, a capacitor, a drive transistor, and a light emitting element, and the sampling transistor is supplied from the signal line in a conductive state according to a sampling control pulse supplied from the scanning line during a predetermined sampling period. The video signal is sampled, the capacitor unit holds an input potential corresponding to the sampled video signal, and the drive transistor has an input potential held in the capacitor unit Accordingly, an output current is supplied during a predetermined light emission period, and the output current is dependent on the carrier mobility and threshold voltage of the channel region of the drive transistor, and the light emitting element is supplied from the drive transistor. In the display device that emits light with the luminance corresponding to the video signal by the output current, each pixel includes a correction unit for correcting the dependency of the output current on the threshold voltage, and the correction unit includes the drive transistor. Connected to the capacitor unit, operates in a correction period set prior to the sampling period, and energizes the capacitor unit to reset the potential held by the capacitor unit and then shuts off the energization. A potential difference appearing between a source and a gate of the drive transistor is detected, and the capacitor holds a potential corresponding to the detected potential difference, and the held potential is The influence of the threshold voltage on the output current of the transistor is offset, and the drive transistor shortens the length of its channel region to give the output current a dependency on the source-drain voltage, and thereby the carrier movement of the output current. It is characterized by self-correcting the dependence on the degree. Preferably, the drive transistor has a channel region length reduced to 5 μm or less.

本発明によれば、画素回路は出力電流の閾電圧に対する依存性に加えキャリア移動度に対する依存性も補正している。まず閾電圧に対する依存性の補正であるが、所定の補正期間でドライブトランジスタに検出用の過渡電流を流し、これがカットオフする時点でドライブトランジスタのソースとゲート間に現れる電位差を検出し、これを容量部に保持している。ドライブトランジスタがカットオフする時に現れる電位差は丁度閾電圧Vthに等しく、これを容量部に保持して入力電位に足し込む様にする。これによりドライブトランジスタの閾電圧の影響をキャンセル可能である。   According to the present invention, the pixel circuit corrects the dependency on the carrier mobility in addition to the dependency on the threshold voltage of the output current. First of all, the dependency on the threshold voltage is corrected. In the predetermined correction period, a transient current for detection is applied to the drive transistor, and when this is cut off, the potential difference appearing between the source and gate of the drive transistor is detected. It is held in the capacity section. The potential difference that appears when the drive transistor is cut off is just equal to the threshold voltage Vth, which is held in the capacitor and added to the input potential. As a result, the influence of the threshold voltage of the drive transistor can be canceled.

次にキャリア移動度のばらつき補正であるが、ドライブトランジスタのチャネル領域を短縮化して、いわゆるアーリ効果を付与し、これを利用して移動度ばらつきを自己補正している。具体的には、チャネル領域の長さを5μm以下に短縮化することで移動度のばらつき抑制に有効なアーリ効果を付与できる。一般にドライブトランジスタが飽和領域で動作する時、出力電流(ドレイン電流)はソース・ゲート間に現れるゲート電圧のみに依存し、ソース・ドレイン間に現れるドレイン電圧には依存しない。しかしながら、チャネル領域を短縮化してアーリ効果を付与すると、ドレイン電流がドレイン電圧に対して依存性を有するようになる。画素回路ではドライブトランジスタが発光素子を駆動する様になっており、発光素子との動作点でドレイン電圧が決まる。換言すると、発光素子のアノード電位の上下によってドレイン電圧が変動する。ドライブトランジスタにアーリ効果を付与すると、移動度が高く電流供給能力が大きい場合、アノード電位が上昇する方向に動作点が変化し、これに伴ってドレイン電圧が小さくなる。アーリ効果によってドレイン電圧が小さくなるとドレイン電流が下がる。この様にして移動度が高い場合ドレイン電流が下がる方向に自己補正がかかる。逆に移動度が小さく出力電流供給能力が少ない場合、アノード電位は下方に変化する傾向になりその分ドレイン電圧が拡大する。アーリ効果によってドレイン電圧の拡大に伴いドレイン電流が増大する。即ち少ない出力電流供給能力を補う方向にアーリ効果が作用するので、やはり自己補正がかかる。この様にしてドライブトランジスタのアーリ効果により移動度のばらつきを自動的に補正する事が可能である。   Next, carrier mobility variation correction is performed. The channel region of the drive transistor is shortened to give a so-called Early effect, and this is used to self-correct the mobility variation. Specifically, by shortening the length of the channel region to 5 μm or less, an Early effect that is effective in suppressing mobility variation can be imparted. In general, when a drive transistor operates in a saturation region, the output current (drain current) depends only on the gate voltage appearing between the source and the gate, and does not depend on the drain voltage appearing between the source and the drain. However, when the channel region is shortened and the Early effect is applied, the drain current becomes dependent on the drain voltage. In the pixel circuit, the drive transistor drives the light emitting element, and the drain voltage is determined by the operating point with the light emitting element. In other words, the drain voltage varies depending on the anode potential of the light emitting element. When an early effect is applied to the drive transistor, when the mobility is high and the current supply capability is large, the operating point changes in the direction in which the anode potential increases, and the drain voltage decreases accordingly. When the drain voltage decreases due to the Early effect, the drain current decreases. In this way, when the mobility is high, self-correction is applied in the direction in which the drain current decreases. Conversely, when the mobility is small and the output current supply capability is small, the anode potential tends to change downward, and the drain voltage increases accordingly. Due to the Early effect, the drain current increases as the drain voltage increases. That is, since the Early effect acts in a direction to compensate for a small output current supply capability, self-correction is still applied. In this way, it is possible to automatically correct variations in mobility due to the Early effect of the drive transistor.

以下図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は本発明にかかる表示装置の第1実施形態を示すブロック図である。図示するように、アクティブマトリクス型の表示装置は、主要部となる画素アレイ1と周辺の回路群とで構成されている。画素アレイ1は画素回路2を含んでいる。周辺の回路群は水平セレクタ3、ライトスキャナ4、第一ドライブスキャナ5、第二ドライブスキャナ6、補正用スキャナ7などを含んでいる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a display device according to the present invention. As shown in the figure, an active matrix display device is composed of a pixel array 1 as a main part and a peripheral circuit group. The pixel array 1 includes a pixel circuit 2. The peripheral circuit group includes a horizontal selector 3, a write scanner 4, a first drive scanner 5, a second drive scanner 6, a correction scanner 7, and the like.

画素アレイ1は行状の走査線WSと列状の信号線SLと両者の交差する部分にマトリクス状に配列した画素回路2とで構成されている。本例の場合、カラー表示を行うため、画素回路2はRGB三原色に分かれて設けてある。信号線SLは水平セレクタ3によって駆動される。走査線WSはライトスキャナ4によって走査される。なお、走査線WSと平行に別の走査線DS1,DS2,AZも配線されている。走査線DS1は第一ドライブスキャナ5によって走査される。走査線DS2は第二ドライブスキャナ6によって走査される。なお、走査線DS2はRGBに分かれて3本配されている。これに対し走査線DS1はRGB共通で1本配されている。残りの走査線AZは補正用スキャナ7によって走査される。   The pixel array 1 is composed of row-like scanning lines WS and column-like signal lines SL, and pixel circuits 2 arranged in a matrix at portions where they intersect. In the case of this example, in order to perform color display, the pixel circuit 2 is provided separately for the three primary colors of RGB. The signal line SL is driven by the horizontal selector 3. The scanning line WS is scanned by the write scanner 4. In addition, other scanning lines DS1, DS2, and AZ are also wired in parallel with the scanning line WS. The scanning line DS1 is scanned by the first drive scanner 5. The scanning line DS2 is scanned by the second drive scanner 6. Note that three scanning lines DS2 are divided into RGB. On the other hand, one scanning line DS1 is provided in common for RGB. The remaining scanning lines AZ are scanned by the correction scanner 7.

図2は、図1に示した画素回路2の基本的な構成を示す回路図である。本画素回路2は、サンプリングトランジスタTr1、ドライブトランジスタTr2、スイッチングトランジスタTr3、スイッチングトランジスタTr4、検出トランジスタTr5、スイッチングトランジスタTr6、一対の容量素子Cs1,Cs2及び発光素子ELとで構成されている。本実施形態では各トランジスタTr1ないしTr6が全てNチャネル型のアモルファスシリコン薄膜トランジスタ(TFT)で構成されている。また発光素子ELは、例えば有機EL素子を用いることができる。本発明の特徴事項として、ドライブトランジスタTr2はチャネル領域の長さが5μm以下に短縮化されており、アーリ効果が付与されている。このアーリ効果により、ドライブトランジスタTr2の出力電流(ドレイン電流Ids)はソースS・ドレインD間電圧(ドレイン電圧Vds)に対する依存性が生じる。具体的には、ドレイン電圧が小さくなるほどドレイン電流が少なくなる傾向になる。   FIG. 2 is a circuit diagram showing a basic configuration of the pixel circuit 2 shown in FIG. The pixel circuit 2 includes a sampling transistor Tr1, a drive transistor Tr2, a switching transistor Tr3, a switching transistor Tr4, a detection transistor Tr5, a switching transistor Tr6, a pair of capacitive elements Cs1 and Cs2, and a light emitting element EL. In this embodiment, each of the transistors Tr1 to Tr6 is composed of an N channel type amorphous silicon thin film transistor (TFT). As the light emitting element EL, for example, an organic EL element can be used. As a feature of the present invention, the channel length of the drive transistor Tr2 is shortened to 5 μm or less, and an early effect is given. Due to this Early effect, the output current (drain current Ids) of the drive transistor Tr2 depends on the voltage between the source S and drain D (drain voltage Vds). Specifically, the drain current tends to decrease as the drain voltage decreases.

引き続き図2を参照して画素回路2の構成を具体的に説明する。ドライブトランジスタTr2は入力ノードとなるゲートG、出力ノードとなるソースS及び電源ノードとなるドレインDとを備えている。出力ノード(S)には発光素子ELのアノードが接続している。発光素子ELのカソードは接地(GND)されている。本例では、発光素子ELはアノード及びカソードを備えた二端子形である。ドライブトランジスタTr2の電源側ノード(D)は、スイッチングトランジスタTr4を介して電源Vccに接続されている。このスイッチングトランジスタTr4のゲートは、走査線DS2に接続されている。   Next, the configuration of the pixel circuit 2 will be specifically described with reference to FIG. The drive transistor Tr2 includes a gate G serving as an input node, a source S serving as an output node, and a drain D serving as a power supply node. The anode of the light emitting element EL is connected to the output node (S). The cathode of the light emitting element EL is grounded (GND). In this example, the light emitting element EL is a two-terminal type including an anode and a cathode. The power supply side node (D) of the drive transistor Tr2 is connected to the power supply Vcc via the switching transistor Tr4. The gate of the switching transistor Tr4 is connected to the scanning line DS2.

ドライブトランジスタTr2の入力ノード(G)には保持容量Cs2の一端が接続されている。この保持容量Cs2の他端は出力ノード(S)に接続するとともに、スイッチングトランジスタTr3を介して接地されている。スイッチングトランジスタTr3のゲートは走査線DS1に接続されている。さらに入力ノード(G)には結合容量Cs1を介してサンプリングトランジスタTr1が接続している。サンプリングトランジスタTr1のゲートは走査線WSに接続している。またサンプリングトランジスタTr1のソースは信号線SLに接続している。加えて結合容量Cs1とサンプリングトランジスタTr1の接続ノードは、スイッチングトランジスタTr6を介して接地されている。スイッチングトランジスタTr6のゲートは走査線AZに接続している。最後に、ドライブトランジスタTr2のゲートGとドレインDとの間に検出トランジスタTr5が接続されている。検出トランジスタTr5のゲートは走査線AZに接続している。   One end of the storage capacitor Cs2 is connected to the input node (G) of the drive transistor Tr2. The other end of the storage capacitor Cs2 is connected to the output node (S) and grounded via the switching transistor Tr3. The gate of the switching transistor Tr3 is connected to the scanning line DS1. Further, the sampling transistor Tr1 is connected to the input node (G) via the coupling capacitor Cs1. The gate of the sampling transistor Tr1 is connected to the scanning line WS. The source of the sampling transistor Tr1 is connected to the signal line SL. In addition, the connection node between the coupling capacitor Cs1 and the sampling transistor Tr1 is grounded via the switching transistor Tr6. The gate of the switching transistor Tr6 is connected to the scanning line AZ. Finally, the detection transistor Tr5 is connected between the gate G and the drain D of the drive transistor Tr2. The gate of the detection transistor Tr5 is connected to the scanning line AZ.

図3のタイミングチャートを参照して、図2に示した第1実施形態にかかる画素回路の動作を詳細に説明する。図示のタイミングチャートは、タイミングT1で1フィールド(1f)がスタートし、タイミングT8で1フィールドが終わるように表してある。時間軸に沿って、走査線WS,AZ,DS1及びDS2にそれぞれ印加される制御パルスWS、AZ、DS1及びDS2の波形を表してある。また同じ時間軸に沿って、ドライブトランジスタTr2の入力ノード(G)及び出力ノード(S)の電位変化を表してある。   With reference to the timing chart of FIG. 3, the operation of the pixel circuit according to the first embodiment shown in FIG. 2 will be described in detail. In the illustrated timing chart, one field (1f) starts at the timing T1 and one field ends at the timing T8. Along the time axis, waveforms of control pulses WS, AZ, DS1, and DS2 applied to the scanning lines WS, AZ, DS1, and DS2, respectively, are shown. Further, along the same time axis, the potential change of the input node (G) and the output node (S) of the drive transistor Tr2 is shown.

当該フィールドがスタートするタイミングT1の前のタイミングT0で、走査線WS,AZ,DS1がローレベルにある一方、走査線DS2がハイレベルにある。したがってスイッチングトランジスタTr4のみがオン状態で、残りのトランジスタTr1,Tr3,Tr5及びTr6はオフ状態となっている。この状態でドライブトランジスタTr2のドレインDはオン状態のスイッチングトランジスタTr4を介して電源Vccに接続される。ドライブトランジスタTr2はゲートGとソースSとの間に印加されるゲート電圧Vgsに応じて出力電流(ドレイン電流)Idsを発光素子ELに供給する。これにより発光素子ELは所定の輝度で発光している。   At the timing T0 before the timing T1 at which the field starts, the scanning lines WS, AZ, DS1 are at the low level, while the scanning line DS2 is at the high level. Therefore, only the switching transistor Tr4 is on, and the remaining transistors Tr1, Tr3, Tr5, and Tr6 are off. In this state, the drain D of the drive transistor Tr2 is connected to the power supply Vcc via the switching transistor Tr4 in the on state. The drive transistor Tr2 supplies an output current (drain current) Ids to the light emitting element EL according to a gate voltage Vgs applied between the gate G and the source S. Thus, the light emitting element EL emits light with a predetermined luminance.

タイミングT1となって当該フィールドがスタートすると、制御パルスAZが立ち上がる。これにより検出トランジスタTr5とスイッチングトランジスタTr6がオンする。Tr6がオンすることで結合容量Cs1の一端が接地電位GNDに固定され、ドライブトランジスタTr2の閾電圧(Vth)の検出準備状態に入る。検出トランジスタTr5もオンするため、ドライブトランジスタTr2のゲートGとドレインDが直結する。このときスイッチングトランジスタTr4はまだオン状態に保たれているため、ドライブトランジスタTr2のゲート電位は急激に上昇する。これと連動してドライブトランジスタTr2のソース電位も急激に上昇する。この様にして容量素子Cs1,Cs2に保持されていた電位を一旦リセットする。     When the field starts at timing T1, the control pulse AZ rises. As a result, the detection transistor Tr5 and the switching transistor Tr6 are turned on. When Tr6 is turned on, one end of the coupling capacitor Cs1 is fixed at the ground potential GND, and a detection voltage threshold (Vth) detection state of the drive transistor Tr2 is entered. Since the detection transistor Tr5 is also turned on, the gate G and the drain D of the drive transistor Tr2 are directly connected. At this time, since the switching transistor Tr4 is still kept on, the gate potential of the drive transistor Tr2 rises rapidly. In conjunction with this, the source potential of the drive transistor Tr2 also rises rapidly. In this way, the potential held in the capacitive elements Cs1 and Cs2 is once reset.

続いてタイミングT2になると、制御パルスDS2がローレベルとなりスイッチングトランジスタTr4がオフする。これにより、ドライブトランジスタTr2は電源Vccから切り離され非発光状態になる。同時に制御パルスDS1が立ち上がるので、スイッチングトランジスタTr3がオンし、ドライブトランジスタTr2のソースS及び保持容量Cs2の一端が接地される。スイッチングトランジスタTr4がオフすることで、ドライブトランジスタTr2のゲート電位Gは低下していく。丁度ゲート電位Gとソース電位Sとの差Vgsが閾電圧Vthとなったところで、ドレイン電流Idsは流れなくなる。この結果、ゲートGとソースSとの間に接続された保持容量Cs2にドライブトランジスタTr2の閾電圧Vthが保持される。   Subsequently, at timing T2, the control pulse DS2 becomes low level and the switching transistor Tr4 is turned off. As a result, the drive transistor Tr2 is disconnected from the power supply Vcc and enters a non-light emitting state. At the same time, since the control pulse DS1 rises, the switching transistor Tr3 is turned on, and the source S of the drive transistor Tr2 and one end of the storage capacitor Cs2 are grounded. When the switching transistor Tr4 is turned off, the gate potential G of the drive transistor Tr2 decreases. The drain current Ids stops flowing when the difference Vgs between the gate potential G and the source potential S reaches the threshold voltage Vth. As a result, the threshold voltage Vth of the drive transistor Tr2 is held in the holding capacitor Cs2 connected between the gate G and the source S.

この後タイミングT3で制御パルスAZが立ち下がり、検出トランジスタTr5がオフとなってVth検出動作が終了する。   Thereafter, at timing T3, the control pulse AZ falls, the detection transistor Tr5 is turned off, and the Vth detection operation ends.

続いてタイミングT4になると、制御パルスWSが立ち上がり、サンプリングトランジスタTr1がオンする。これにより信号線SLから供給された映像信号が結合容量Cs1を介して保持容量Cs2にカップリングされる。この結果、保持容量Cs2には先に書き込まれたVthに足し込むかたちで映像信号に対応した信号電圧Vinが書き込まれる。この結果、保持容量Cs2はドライブトランジスタTr2の入力ノード(G)に対して、入力電位Vin+Vthを供給することになる。入力電位には常に閾電圧Vthが足し込まれているので、例え画素ごとにドライブトランジスタの閾電圧がばらついていても、常にキャンセルすることができる。   Subsequently, at timing T4, the control pulse WS rises and the sampling transistor Tr1 is turned on. As a result, the video signal supplied from the signal line SL is coupled to the holding capacitor Cs2 via the coupling capacitor Cs1. As a result, the signal voltage Vin corresponding to the video signal is written to the storage capacitor Cs2 in a manner that adds to the previously written Vth. As a result, the storage capacitor Cs2 supplies the input potential Vin + Vth to the input node (G) of the drive transistor Tr2. Since the threshold voltage Vth is always added to the input potential, even if the threshold voltage of the drive transistor varies from pixel to pixel, it can always be canceled.

この後映像信号のサンプリングに割り当てられた1水平期間(1H)が経過するタイミングT5で制御パルスWSが立ち下がり、サンプリングトランジスタTr1がオフする。   Thereafter, the control pulse WS falls at the timing T5 when one horizontal period (1H) assigned to the sampling of the video signal elapses, and the sampling transistor Tr1 is turned off.

続いてタイミングT6に至ると、制御パルスDS1が立ち下がり、スイッチングトランジスタTr3がオフする。これにより、ドライブトランジスタTr2のソースS及び保持容量Cs2の一端が接地レベルから切り離され、発光動作の準備状態となる。   Subsequently, at timing T6, the control pulse DS1 falls and the switching transistor Tr3 is turned off. As a result, the source S of the drive transistor Tr2 and one end of the storage capacitor Cs2 are disconnected from the ground level, and the light emitting operation is ready.

この後タイミングT7になると制御パルスDS2が立ち上がり、スイッチングトランジスタTr4がオンする。この結果ドライブトランジスタTr2のドレインDが電源電位Vccに接続し、入力電位Vin+Vthに応じたドレイン電流Idsが流れ、発光素子ELは信号電位Vinに応じた輝度で発光する。タイミングT7では既にドライブトランジスタTr2のソースSが接地電位GNDから切り離されているので、発光素子ELに出力電流Idsが流れると電圧降下によりアノード電位(したがってドライブトランジスタTr2のソース電位)が上昇する。このときブートストラップ動作でゲート電位もそのまま上昇するので、保持容量Cs2に保持された入力電位(ゲート電位Vgs)は一定に維持される。この結果ドライブトランジスタTr2は定電源として動作する。   Thereafter, at timing T7, the control pulse DS2 rises and the switching transistor Tr4 is turned on. As a result, the drain D of the drive transistor Tr2 is connected to the power supply potential Vcc, the drain current Ids corresponding to the input potential Vin + Vth flows, and the light emitting element EL emits light with the luminance corresponding to the signal potential Vin. Since the source S of the drive transistor Tr2 is already disconnected from the ground potential GND at the timing T7, the anode potential (and hence the source potential of the drive transistor Tr2) rises due to the voltage drop when the output current Ids flows through the light emitting element EL. At this time, since the gate potential also rises as it is by the bootstrap operation, the input potential (gate potential Vgs) held in the holding capacitor Cs2 is kept constant. As a result, the drive transistor Tr2 operates as a constant power source.

最後にタイミングT8に至ると当該フィールドが完了するとともに次のフィールドに入る。   Finally, when the timing T8 is reached, the field is completed and the next field is entered.

ここで、発光期間T7−T8で行われるドライブトランジスタTr2の自己補正動作を詳細に説明する。図4はドライブトランジスタのドレイン電流Ids/ドレイン電圧Vds特性を示すグラフである(A)はアーリ効果を有さない通常のドライブトランジスタの特性を示し、(B)はアーリ効果を付与されたドライブトランジスタの特性を表している。グラフ中、カーブHは移動度が比較的高いドライブトランジスタの特性を表し、カーブLは移動度が比較的低いドライブトランジスタの特性を表している。また各特性カーブ上の黒点はドライブトランジスタが発光素子を駆動する場合の動作点を表している。発光素子側から見るとアノード電位であり、ドライブトランジスタ側から見るとソース電位となっている。   Here, the self-correction operation of the drive transistor Tr2 performed in the light emission period T7-T8 will be described in detail. 4A and 4B are graphs showing the drain current Ids / drain voltage Vds characteristics of the drive transistor. FIG. 4A shows characteristics of a normal drive transistor having no Early effect, and FIG. 4B is a drive transistor having an Early effect. Represents the characteristics. In the graph, curve H represents the characteristics of a drive transistor having a relatively high mobility, and curve L represents the characteristics of a drive transistor having a relatively low mobility. The black dots on the characteristic curves represent operating points when the drive transistor drives the light emitting element. The anode potential is seen from the light emitting element side, and the source potential is seen from the drive transistor side.

まずアーリ効果のない場合(A)であるが、ドライブトランジスタは飽和領域で動作し、ドレイン電流Idsはドレイン電圧Vdsに対する依存性が見られない。即ちVdsに関わらずドレイン電流Idsは一定である。前述のトランジスタ特性式から明らかなように、ドレイン電流Idsはゲート電圧Vgsによって決定される。但し、Vgsが一定であっても移動度μ及び閾電圧Vthがばらつく為、Idsも画素間で変動する。本発明では、閾電圧Vthのばらつきは予めキャンセルされている。したがって移動度μの影響のみが残る。グラフから明らかなように、移動度μが高いと、ドライブトランジスタの電流供給能力が大きい為、移動度が高いドライブトランジスタのドレイン電流Idshは高くなる。この分発光素子内で生じる電圧降下が大きくなるのでアノード電位が上昇し、結果的にドレイン電圧Vdshは比較的低い。但し、通常のドライブトランジスタの場合、ドレイン電圧Vdsに対するドレイン電流Idsの依存性はない為、動作点がどこにあろうとも、常にゲート電圧Vgsで決まるドレイン電流Idshが流れる事になる。   First, in the case where there is no Early effect (A), the drive transistor operates in the saturation region, and the drain current Ids has no dependency on the drain voltage Vds. That is, the drain current Ids is constant regardless of Vds. As is apparent from the above transistor characteristic equation, the drain current Ids is determined by the gate voltage Vgs. However, even if Vgs is constant, mobility μ and threshold voltage Vth vary, and Ids also varies between pixels. In the present invention, the variation in the threshold voltage Vth is canceled in advance. Therefore, only the influence of mobility μ remains. As is apparent from the graph, when the mobility μ is high, the drive transistor has a high current supply capability, and therefore the drain current Idsh of the drive transistor having high mobility is high. As a result, the voltage drop generated in the light emitting element is increased, so that the anode potential is increased, and as a result, the drain voltage Vdsh is relatively low. However, in the case of a normal drive transistor, the drain current Ids does not depend on the drain voltage Vds. Therefore, the drain current Idsh determined by the gate voltage Vgs always flows regardless of the operating point.

一方、特性カーブLで示すように、移動度μの小さなドライブトランジスタの場合、電流供給能力が低い為ドレイン電流Idslは比較的低レベルにある。その分動作点(Vdsl)は移動度が高い場合(Vdsh)に比べ上方にシフトする。以上の結果から明らかなように、通常のドライブトランジスタでは移動度μの相違が直接出力電流Idsの違いとなって現れ、何ら補正をしない限り画面のユニフォーミティを維持する事はできない。ドライブトランジスタが飽和領域で動作している場合は(A)に示すように理想的な定電流源となる為、動作点が変化しても出力電流値は変わらず、移動度のばらつきによる出力電流のばらつきは補正できない。   On the other hand, as shown by the characteristic curve L, in the case of a drive transistor having a low mobility μ, the drain current Idsl is at a relatively low level because the current supply capability is low. Accordingly, the operating point (Vdsl) is shifted upward as compared with the case where the mobility is high (Vdsh). As is apparent from the above results, in the normal drive transistor, the difference in mobility μ appears directly as the difference in output current Ids, and the uniformity of the screen cannot be maintained unless correction is made. When the drive transistor operates in the saturation region, it becomes an ideal constant current source as shown in (A). Therefore, even if the operating point changes, the output current value does not change, and the output current due to variation in mobility. Variations in these cannot be corrected.

これに対しドライブトランジスタにアーリ効果が付与された場合(B)、ドレイン電流Idsはドレイン電圧Vdsに対する依存性が生じるようになる。(B)に示すように、ドレイン電圧Vdsの上昇に伴いドレイン電流Idsが上昇する傾向が生じる。その割合は特性カーブの傾きで表され、移動度が小さい場合よりも移動度が大きい場合の方が傾斜が大きくなっている。このアーリ効果の為、発光素子に対する動作点が変動する。まず移動度が大きい場合であるが、比較的高いアノード電圧が低下する為、動作点Vdshがアーリ効果のない場合に比べて下方に移動する。この結果ドレイン電流Idshもアーリ効果のない場合に比べて小さくなる。一方移動度が小さい場合であるが、比較的低いアノード電圧がアーリ効果によって逆に上昇し、動作点Vdslがアーリ効果のない場合に比べて上方にシフトする。これにより移動度が小さいドライブトランジスタのドレイン電流Idslはアーリ効果のない場合に比べて大きくなる。以上により、アーリ効果によってIdshとIdslの差は縮小する方向に変化し、ドライブトランジスタの移動度のばらつきを吸収する方向に自己補正機能が作用する。よって本発明により移動度のばらつきを補正する事が可能である。   On the other hand, when the Early effect is given to the drive transistor (B), the drain current Ids becomes dependent on the drain voltage Vds. As shown in (B), the drain current Ids tends to increase as the drain voltage Vds increases. The ratio is represented by the slope of the characteristic curve, and the slope is larger when the mobility is larger than when the mobility is small. Due to this Early effect, the operating point for the light emitting element varies. First, when the mobility is high, the relatively high anode voltage decreases, so that the operating point Vdsh moves downward as compared with the case where there is no Early effect. As a result, the drain current Idsh is also smaller than when there is no Early effect. On the other hand, in the case where the mobility is small, the relatively low anode voltage rises conversely due to the Early effect, and the operating point Vdsl shifts upward compared to the case where there is no Early effect. As a result, the drain current Idsl of the drive transistor having a low mobility becomes larger than that without the Early effect. As described above, due to the Early effect, the difference between Idsh and Idsl changes in the direction of reduction, and the self-correction function acts in the direction of absorbing the variation in mobility of the drive transistor. Therefore, it is possible to correct the variation in mobility according to the present invention.

図5は、出力電流のばらつきとドライブトランジスタのチャネル長(L長)との関係を示すグラフである。横軸にドライブトランジスタの出力電流の画素間ばらつきを%で取り、横軸にドライブトランジスタのL長(単位μm)を取ってある。グラフから明らかなように、L長を5μm以下に短縮化することで、出力電流のばらつきは急激に改善されている。この様にドライブトランジスタのチャネル長を5μm以下に短縮化する事で、移動度のばらつきを自己補正する事ができ、低温ポリシリコンTFTなどばらつきの大きいトランジスタを用いたパネルにおいても、ユニフォーミティの高い画質を得る事ができる。   FIG. 5 is a graph showing the relationship between the variation in output current and the channel length (L length) of the drive transistor. The horizontal axis represents the variation in the output current of the drive transistor between pixels in%, and the horizontal axis represents the L length (unit: μm) of the drive transistor. As apparent from the graph, the variation in output current is rapidly improved by shortening the L length to 5 μm or less. By shortening the channel length of the drive transistor to 5 μm or less in this way, it is possible to self-correct the mobility variation, and even in a panel using a transistor with large variations such as a low-temperature polysilicon TFT, the uniformity is high. You can get image quality.

図6は、本発明にかかる表示装置及び画素回路の第2実施形態を示す回路図である。基本的には、図2に示した第1実施形態と類似しており、対応する部分には対応する参照番号を付してある。異なる点は、スイッチングトランジスタTr3のゲートを走査線WSに接続し、ライトスキャナ4によってスイッチングトランジスタTr3を動作させている事である。ライトスキャナ4をサンプリングトランジスタTr1とスイッチングトランジスタTr3の動作に共用する事で、ドライブスキャナが1個不用になる。   FIG. 6 is a circuit diagram showing a display device and a pixel circuit according to a second embodiment of the present invention. Basically, it is similar to the first embodiment shown in FIG. 2, and corresponding parts are denoted by corresponding reference numerals. The difference is that the gate of the switching transistor Tr3 is connected to the scanning line WS, and the switching transistor Tr3 is operated by the write scanner 4. By sharing the write scanner 4 for the operation of the sampling transistor Tr1 and the switching transistor Tr3, one drive scanner is not required.

図7は、図6に示した第2実施形態にかかる画素回路の動作説明に供するタイミングチャートである。補正準備期間T1−T2で制御パルスDS及びAZがハイレベルにある一方、制御パルスWSはローレベルである。この結果トランジスタTr1,Tr3がオフする一方、トランジスタTr4,Tr5,Tr6がオンする。これにより容量部(Cs1,Cs2)に保持されていた電位が一旦リセットされる。次にVth補正期間T2−T3で制御パルスDSがローレベルに切り替わり、スイッチングトランジスタTr4がオフする。この結果ドライブトランジスタTr2の閾電圧Vthが検出され、容量部(Cs1,Cs2)に保持される。続いてサンプリング期間T4−T5になると制御パルスWSがハイレベルに切り替わり今までオフしていたサンプリングトランジスタTr1とスイッチングトランジスタTr3がオンする。これにより信号線SLから供給された映像信号がサンプリングされ、容量部(Cs1,Cs2)に保持される。最後に発光期間T6〜に入ると、制御パルスDSがハイレベルとなりスイッチングトランジスタTr4がオンになる。この時点で他のトランジスタTr1,Tr3,Tr5,Tr6は全てオフしている。ドレイン電流Idsが発光素子ELに流れ映像信号に応じた輝度で発光する。この時トランジスタTr3はオフしているのでブートストラップ動作が行われる。本発明の特徴事項として、ドライブトランジスタTr2のチャネル長を5μm以下に短縮化する事で、移動度のばらつきを自己補正する事ができ、低温ポリシリコンTFTなどばらつきの大きいトランジスタを用いたパネルにおいても、ユニフォーミティの高い画質を得る事ができる。   FIG. 7 is a timing chart for explaining the operation of the pixel circuit according to the second embodiment shown in FIG. In the correction preparation period T1-T2, the control pulses DS and AZ are at a high level, while the control pulse WS is at a low level. As a result, the transistors Tr1, Tr3 are turned off, while the transistors Tr4, Tr5, Tr6 are turned on. As a result, the potential held in the capacitors (Cs1, Cs2) is once reset. Next, in the Vth correction period T2-T3, the control pulse DS is switched to the low level, and the switching transistor Tr4 is turned off. As a result, the threshold voltage Vth of the drive transistor Tr2 is detected and held in the capacitors (Cs1, Cs2). Subsequently, in the sampling period T4-T5, the control pulse WS is switched to the high level, and the sampling transistor Tr1 and the switching transistor Tr3 that have been turned off are turned on. As a result, the video signal supplied from the signal line SL is sampled and held in the capacitors (Cs1, Cs2). Finally, when the light emission period T6 starts, the control pulse DS becomes high level and the switching transistor Tr4 is turned on. At this time, the other transistors Tr1, Tr3, Tr5, Tr6 are all turned off. The drain current Ids flows through the light emitting element EL and emits light with a luminance corresponding to the video signal. At this time, since the transistor Tr3 is off, a bootstrap operation is performed. As a feature of the present invention, by reducing the channel length of the drive transistor Tr2 to 5 μm or less, variation in mobility can be corrected by itself, and even in a panel using a transistor with large variation such as a low-temperature polysilicon TFT. , You can get high uniformity image quality.

図8は、本発明にかかる表示装置及び画素回路の第3実施形態を示す回路図である。基本的には図6に示した第2実施形態と類似しており、対応する部分には対応する参照番号を付してある。異なる点は、スイッチングトランジスタTr3のゲートが走査線WSではなく走査線AZに接続されている事である。この場合の動作タイミングは図7に示したタイミングチャートと同じになる。本実施形態でも、ドライブトランジスタTr2のチャネル長を好ましくは5μm以下に短縮化する事で、移動度のばらつきを自己補正する事ができ、低温ポリシリコンTFTなどばらつきの大きいトランジスタを用いたパネルにおいても、ユニフォーミティの高い画質を得る事ができる。   FIG. 8 is a circuit diagram showing a display device and a pixel circuit according to a third embodiment of the present invention. Basically, it is similar to the second embodiment shown in FIG. 6, and corresponding reference numerals are assigned to corresponding parts. The difference is that the gate of the switching transistor Tr3 is connected not to the scanning line WS but to the scanning line AZ. The operation timing in this case is the same as the timing chart shown in FIG. Also in this embodiment, by reducing the channel length of the drive transistor Tr2 to preferably 5 μm or less, it is possible to self-correct the mobility variation, and even in a panel using a transistor with a large variation such as a low-temperature polysilicon TFT. , You can get high uniformity image quality.

図9は本発明にかかる表示装置及び画素回路の第4実施形態を示す回路図である。基本的には、図8に示した先の実施形態と同様であり、全てのトランジスタがNチャネル型となっている。異なる点は、画素回路を構成するトランジスタの素子数が1個減って5個になっている事である。また容量素子も2個から1個に減っており、容量部が1個の容量素子Csで構成されている。この関係で、画素回路2の接続関係が若干先の実施形態と異なっている。加えて先の実施形態では1個の補正用スキャナ7を用いていたが、これに代えて本実施形態では第一補正用スキャナ71と第二補正用スキャナ72を用いている。   FIG. 9 is a circuit diagram showing a display device and a pixel circuit according to a fourth embodiment of the present invention. Basically, it is the same as the previous embodiment shown in FIG. 8, and all the transistors are N-channel type. The difference is that the number of transistors constituting the pixel circuit is reduced by one to five. In addition, the number of capacitive elements is reduced from two to one, and the capacitive portion is composed of one capacitive element Cs. In this relationship, the connection relationship of the pixel circuit 2 is slightly different from the previous embodiment. In addition, although one correction scanner 7 is used in the previous embodiment, the first correction scanner 71 and the second correction scanner 72 are used in this embodiment instead.

引き続き画素回路2の具体的な構成を説明する。ドライブトランジスタTr2は、そのドレインDがスイッチングトランジスタTr4を介して電源電位Vccに接続している。スイッチングトランジスタTr4のゲートは走査線DSを介してドライブスキャナ5に接続している。ドライブトランジスタTr2のソースSは発光素子ELのアノードに接続している。発光素子ELのカソードは接地されている。ドライブトランジスタTr2のゲートGは保持容量Cs及びスイッチングトランジスタTr3を介して所定の基準電位Vss2に接続している。トランジスタTr3のゲートは走査線AZ2を介して第二補正用スキャナ72に接続している。またドライブトランジスタTr2のゲートGと別の基準電位Vss1との間にスイッチングトランジスタTr6が接続している。このスイッチングトランジスタTr6のゲートは走査線AZ1を介して第一補正用スキャナ71に接続している。最後にサンプリングトランジスタTr1は信号線SLとドライブトランジスタTr2のゲートGとの間に接続している。このサンプリングトランジスタTr1のゲートは走査線WSを介してライトスキャナ4に接続している。   Next, a specific configuration of the pixel circuit 2 will be described. The drain D of the drive transistor Tr2 is connected to the power supply potential Vcc via the switching transistor Tr4. The gate of the switching transistor Tr4 is connected to the drive scanner 5 via the scanning line DS. The source S of the drive transistor Tr2 is connected to the anode of the light emitting element EL. The cathode of the light emitting element EL is grounded. The gate G of the drive transistor Tr2 is connected to a predetermined reference potential Vss2 via the storage capacitor Cs and the switching transistor Tr3. The gate of the transistor Tr3 is connected to the second correction scanner 72 via the scanning line AZ2. A switching transistor Tr6 is connected between the gate G of the drive transistor Tr2 and another reference potential Vss1. The gate of the switching transistor Tr6 is connected to the first correction scanner 71 via the scanning line AZ1. Finally, the sampling transistor Tr1 is connected between the signal line SL and the gate G of the drive transistor Tr2. The gate of the sampling transistor Tr1 is connected to the write scanner 4 through the scanning line WS.

図10は、図9に示した第4実施形態の動作説明に供するタイミングチャートである。タイミングT1で制御パルスDSがハイレベルからローレベルに切り替わり、スイッチングトランジスタTr4がオフする。発光素子ELに対する通電路が遮断されるので、画素回路2は非発光期間に入る。この時点で他の制御パルスAZ1,AZ2,WSは全てローレベルである。したがってタイミングT1では全てのトランジスタTr1,Tr3,Tr4,Tr6がオフになっている。   FIG. 10 is a timing chart for explaining the operation of the fourth embodiment shown in FIG. At timing T1, the control pulse DS is switched from the high level to the low level, and the switching transistor Tr4 is turned off. Since the current path for the light emitting element EL is cut off, the pixel circuit 2 enters a non-light emitting period. At this time, the other control pulses AZ1, AZ2, WS are all at a low level. Therefore, at the timing T1, all the transistors Tr1, Tr3, Tr4, Tr6 are turned off.

続いて補正準備期間T2−T3に入ると、制御パルスAZ1,AZ2がローレベルからハイレベルに切り替わる。この結果スイッチングトランジスタTr3及びTr6がオンになり、保持容量Csに保持された電位がVss1,Vss2でリセットされる。この後Vth補正期間T4−T5になると、制御パルスDSがハイレベルになり、スイッチングトランジスタTr4がオンする。この時点でTr6は引き続きオン状態にある一方、トランジスタTr3はオフ状態に戻っている。これによりドレイン電流Idsが保持容量Csに流れ込み、カットオフになった時点でのゲートG/ソースS間の電位が保持容量Csに保持される。保持された電位はドライブトランジスタTr2のカットオフ電圧即ち閾電圧Vthに相当する。この後サンプリング期間T7−T8に進むと制御パルスWSがハイレベルになり、サンプリングトランジスタTr1がオンする。この時点でトランジスタTr6はオフしている。サンプリングトランジスタTr1がオンする事で信号線SLから映像信号がサンプリングされ保持容量Csに保持される。最後に発光期間T9〜に進むと、制御パルスDSが再びハイレベルとなり、スイッチングトランジスタTr4がオンする。この結果電源電位Vccと接地電位との間に電流路が形成され、ドライブトランジスタTr2から出力電流が発光素子ELに流れ、発光が開始する。本実施形態でも、ドライブトランジスタTr2のチャネル長を例えば5μm以下に短縮化する事で、移動度のばらつきを自己補正する事ができ、低温ポリシリコンTFTなどばらつきの大きいトランジスタを用いたパネルにおいても、ユニフォーミティの高い画質を得る事ができる。   Subsequently, when entering the correction preparation period T2-T3, the control pulses AZ1, AZ2 are switched from the low level to the high level. As a result, the switching transistors Tr3 and Tr6 are turned on, and the potential held in the holding capacitor Cs is reset by Vss1 and Vss2. Thereafter, in the Vth correction period T4-T5, the control pulse DS becomes high level and the switching transistor Tr4 is turned on. At this point, Tr6 continues to be in the on state, while transistor Tr3 has returned to the off state. As a result, the drain current Ids flows into the storage capacitor Cs, and the potential between the gate G and the source S at the time when the drain current Ids is cut off is held in the storage capacitor Cs. The held potential corresponds to the cut-off voltage of the drive transistor Tr2, that is, the threshold voltage Vth. Thereafter, when proceeding to the sampling period T7-T8, the control pulse WS becomes high level, and the sampling transistor Tr1 is turned on. At this point, the transistor Tr6 is off. When the sampling transistor Tr1 is turned on, the video signal is sampled from the signal line SL and held in the holding capacitor Cs. Finally, when proceeding to the light emission period T9-, the control pulse DS becomes high level again, and the switching transistor Tr4 is turned on. As a result, a current path is formed between the power supply potential Vcc and the ground potential, an output current flows from the drive transistor Tr2 to the light emitting element EL, and light emission starts. Also in this embodiment, by reducing the channel length of the drive transistor Tr2 to, for example, 5 μm or less, variation in mobility can be self-corrected. Even in a panel using a transistor with large variation such as a low-temperature polysilicon TFT, High image quality can be obtained.

図11は、本発明にかかる画素回路及び表示装置の第5実施形態を示す模式的な回路図である。理解を容易にする為、先の実施形態と対応する部分には対応する参照番号を付してある。異なる点は、ドライブトランジスタTr2としてNチャネル型のTFTに代えてPチャネル型のTFTを使った事である。Pチャネル型のドライブトランジスタでも、そのチャネル領域の長さを短縮化してアーリ効果を付与する事で、キャリア移動度のばらつきを自己補正する事ができる。   FIG. 11 is a schematic circuit diagram showing a pixel circuit and a display device according to a fifth embodiment of the invention. In order to facilitate understanding, parts corresponding to those of the previous embodiment are given corresponding reference numbers. The difference is that a P-channel TFT is used instead of the N-channel TFT as the drive transistor Tr2. Even in a P-channel type drive transistor, carrier channel variation can be self-corrected by shortening the length of the channel region and providing an Early effect.

図示するように、画素回路2は5個の薄膜トランジスタTr1,Tr2,Tr4,Tr5,Tr6と、2個の容量素子Cs1,Cs2と、1個の発光素子ELとで構成されている。ドライブトランジスタTr2はPチャネル型のポリシリコンTFTである。残りのサンプリングトランジスタTr1,スイッチングトランジスタTr4,検出トランジスタTr5及びスイッチングトランジスタTr6は全てNチャネル型のポリシリコンTFTである。2個の要領素子Cs1とCs2は両者合わせて画素回路2の容量部を構成している。発光素子ELは例えばアノード及びカソードを備えた2端子型の有機EL素子からなる、但し本発明はこれに限られるものではなく、発光素子は一般的に電流駆動で発光するすべてのデバイスを含む。   As shown in the figure, the pixel circuit 2 includes five thin film transistors Tr1, Tr2, Tr4, Tr5, Tr6, two capacitive elements Cs1, Cs2, and one light emitting element EL. The drive transistor Tr2 is a P-channel type polysilicon TFT. The remaining sampling transistor Tr1, switching transistor Tr4, detection transistor Tr5 and switching transistor Tr6 are all N-channel polysilicon TFTs. The two main elements Cs1 and Cs2 together constitute a capacitance part of the pixel circuit 2. The light emitting element EL is composed of, for example, a two-terminal organic EL element having an anode and a cathode. However, the present invention is not limited to this, and the light emitting element generally includes all devices that emit light by current drive.

画素回路2の具体的な構成であるが、中心となるドライブトランジスタTr2のソースSが電源Vccに接続し、ドレインDがスイッチングトランジスタTr4を介して発光素子ELのアノードAに接続している。このトランジスタTr4のゲートは走査線DSに接続している。発光素子ELのカソードKは接地電位GNDに接続している。ドライブトランジスタTr2のゲートGとドレインDとの間に閾電圧検出用のトランジスタTr5が接続している。この検出トランジスタTr5のゲートは走査線AZに接続している。ドライブトランジスタTr2のゲートGは保持容量Cs2を介してサンプリングトランジスタTr1に接続している。サンプリングトランジスタTr1はこの保持容量Cs2と信号線SLとの間に介在している。サンプリングトランジスタTr1のゲートは走査線WSに接続している。保持容量Cs2とサンプリングトランジスタTr1の接続ノードには、電位固定用のスイッチングトランジスタTr6が接続している。このスイッチングトランジスタTr6のゲートは走査線AZに接続している。またこの接続ノードと電源電位Vccとの間に別の保持容量Cs1が接続している。なお、図では、ドライブトランジスタTr2のゲートGとソースSとの間に現れるゲート電圧をVgsとしている。またドライブトランジスタTr2のソースSとドレインDとの間を流れるドレイン電流をIdsで表してある。   A specific configuration of the pixel circuit 2 is that the source S of the drive transistor Tr2 as the center is connected to the power supply Vcc, and the drain D is connected to the anode A of the light emitting element EL via the switching transistor Tr4. The gate of the transistor Tr4 is connected to the scanning line DS. The cathode K of the light emitting element EL is connected to the ground potential GND. A threshold voltage detection transistor Tr5 is connected between the gate G and the drain D of the drive transistor Tr2. The gate of the detection transistor Tr5 is connected to the scanning line AZ. The gate G of the drive transistor Tr2 is connected to the sampling transistor Tr1 via the storage capacitor Cs2. The sampling transistor Tr1 is interposed between the storage capacitor Cs2 and the signal line SL. The gate of the sampling transistor Tr1 is connected to the scanning line WS. A potential fixing switching transistor Tr6 is connected to a connection node between the holding capacitor Cs2 and the sampling transistor Tr1. The gate of the switching transistor Tr6 is connected to the scanning line AZ. Further, another holding capacitor Cs1 is connected between this connection node and the power supply potential Vcc. In the figure, the gate voltage appearing between the gate G and the source S of the drive transistor Tr2 is Vgs. A drain current flowing between the source S and the drain D of the drive transistor Tr2 is represented by Ids.

図12は、図11に示した実施形態の動作説明に供するタイミングチャートである。図示のタイミングチャートは、タイミングT1で1フィールド(1f)がスタートし、タイミングT8で1フィールドが終わるように表してある。時間軸に沿って、走査線WS,AZ,DSにそれぞれ印加される制御パルスWS,AZ,DSの波形を表してある。また同じ時間軸に沿って、ドライブトランジスタTr2のゲートG及び発光素子ELのアノードAの電位変化を表してある。まずタイミングT1で制御パルスAZが立ち上がり、検出トランジスタTr5及び電位固定用のスイッチングトランジスタTr6がオンする。これによりドライブトランジスタTr2のゲート電位が急激に低下すると共に、発光素子ELのアノード電位Aが急激に上昇する。即ち検出トランジスタTr5をオンしてドレイン電流Idsを保持容量Cs2に通電し、これが保持していた電位を一旦リセットしている。   FIG. 12 is a timing chart for explaining the operation of the embodiment shown in FIG. In the illustrated timing chart, one field (1f) starts at the timing T1 and one field ends at the timing T8. Waveforms of control pulses WS, AZ, DS applied to the scanning lines WS, AZ, DS, respectively, are shown along the time axis. Further, along the same time axis, the potential change of the gate G of the drive transistor Tr2 and the anode A of the light emitting element EL is shown. First, at timing T1, the control pulse AZ rises, and the detection transistor Tr5 and the potential fixing switching transistor Tr6 are turned on. As a result, the gate potential of the drive transistor Tr2 rapidly decreases and the anode potential A of the light emitting element EL increases rapidly. That is, the detection transistor Tr5 is turned on, the drain current Ids is supplied to the holding capacitor Cs2, and the potential held by this is once reset.

タイミングT2になると、制御パルスDSが立ち下がり、スイッチングトランジスタTr4がオフして非発光期間に入る。この時ゲート電位が上昇し、丁度Vccとの差がVthとなった所でドレイン電流Idsがカットオフする。したがってアノード電位は接地電位GNDまで低下する。この様にして検出されたドライブトランジスタTr2の閾電圧Vthは保持容量Cs2に保持される。   At timing T2, the control pulse DS falls, the switching transistor Tr4 is turned off, and a non-light emitting period is entered. At this time, the gate potential rises, and the drain current Ids is cut off when the difference from Vcc becomes Vth. Therefore, the anode potential is lowered to the ground potential GND. The threshold voltage Vth of the drive transistor Tr2 detected in this way is held in the holding capacitor Cs2.

この後タイミングT3で制御パルスAZが立ち下がった後、タイミングT4で制御パルスWSが立ち上がる。これによりサンプリングトランジスタTr1がオンし、信号線SLから供給された映像信号に応じた信号電位Vinが保持容量Cs1にサンプリングされる。これにより、保持容量Cs2に保持された入力電位はVth+Vinとなり、これがドライブトランジスタTr2のゲート電位Vgとして与えられる。タイミングT4から1水平期間(1H)経過後のタイミングT5で、制御パルスWSがローレベルに戻る   Thereafter, after the control pulse AZ falls at timing T3, the control pulse WS rises at timing T4. As a result, the sampling transistor Tr1 is turned on, and the signal potential Vin corresponding to the video signal supplied from the signal line SL is sampled in the storage capacitor Cs1. As a result, the input potential held in the holding capacitor Cs2 becomes Vth + Vin, which is given as the gate potential Vg of the drive transistor Tr2. At timing T5 after one horizontal period (1H) has elapsed from timing T4, the control pulse WS returns to the low level.

この後タイミングT7に至ると制御パルスDSが立ち上がりスイッチングトランジスタTr4がオンする。この結果入力電位Vth+Vinに応じたドレイン電流Idsが発光素子ELに流れ、タイミングT8までの間発光期間となる。なお、タイミングT2からタイミングT3までの期間T2−T3はVth補正期間と呼ばれる。またタイミングT4からタイミングT5までの期間T4−T5はサンプリング期間と呼ばれる。このサンプリング期間T4−T5は1水平期間1Hに相当する。加えてタイミングT7からタイミングT8までの期間T7−T8は発光期間と呼ばれる。   Thereafter, at timing T7, the control pulse DS rises and the switching transistor Tr4 is turned on. As a result, the drain current Ids corresponding to the input potential Vth + Vin flows through the light emitting element EL, and the light emission period is reached until timing T8. Note that a period T2-T3 from timing T2 to timing T3 is called a Vth correction period. A period T4-T5 from timing T4 to timing T5 is called a sampling period. This sampling period T4-T5 corresponds to one horizontal period 1H. In addition, a period T7-T8 from timing T7 to timing T8 is called a light emission period.

図13は、本発明にかかる表示装置及び画素回路の第6実施形態を示す回路図である。理解を容易にする為、先の実施形態と対応する部分には対応する参照番号を付してある。本実施形態は全てのトランジスタをPチャネル型で構成した点に特徴がある。図示するように、本画素回路2は5個のトランジスタTr1ないしTr5と、2個の容量素子Cs1,Cs2と、1個の発光素子ELとで構成されている。   FIG. 13 is a circuit diagram showing a sixth embodiment of a display device and a pixel circuit according to the present invention. In order to facilitate understanding, parts corresponding to those of the previous embodiment are given corresponding reference numbers. The present embodiment is characterized in that all transistors are configured as a P-channel type. As shown in the figure, the pixel circuit 2 includes five transistors Tr1 to Tr5, two capacitors Cs1 and Cs2, and one light emitting element EL.

ドライブトランジスタTr2のソースSはスイッチングトランジスタTr4を介して電源電位Vccに接続されている。スイッチングトランジスタTr4のゲートは走査線DSを介してドライブスキャナ5に接続されている。ドライブトランジスタTr2のドレインDは発光素子ELのアノードに接続されている。発光素子ELのカソードは接地されている。ドライブトランジスタTr2のゲートGはスイッチングトランジスタTr3を介して所定のオフセット電位Vofsに接続している。スイッチングトランジスタTr3のゲートは走査線AZを介して補正用スキャナ7に接続している。ドライブトランジスタTr2のゲートGと入力側のノードXとの間に保持容量Cs2が配されている。またドライブトランジスタTr2のソースSと入力ノードXとの間にVth検出用のトランジスタTr5が接続している。この検出トランジスタTr5のゲートは走査線AZに接続している。入力ノードXと電源電位Vccとの間に他の容量素子Cs1が接続している。最後に、サンプリングトランジスタTr1が信号線SLと入力ノードXとの間に接続している。このサンプリングトランジスタTr1のゲートは走査線WSを介してライトスキャナ4に接続している。なお信号線SLは水平セレクタ3に接続している。   The source S of the drive transistor Tr2 is connected to the power supply potential Vcc via the switching transistor Tr4. The gate of the switching transistor Tr4 is connected to the drive scanner 5 via the scanning line DS. The drain D of the drive transistor Tr2 is connected to the anode of the light emitting element EL. The cathode of the light emitting element EL is grounded. The gate G of the drive transistor Tr2 is connected to a predetermined offset potential Vofs through the switching transistor Tr3. The gate of the switching transistor Tr3 is connected to the correction scanner 7 via the scanning line AZ. A holding capacitor Cs2 is arranged between the gate G of the drive transistor Tr2 and the node X on the input side. A Vth detection transistor Tr5 is connected between the source S of the drive transistor Tr2 and the input node X. The gate of the detection transistor Tr5 is connected to the scanning line AZ. Another capacitive element Cs1 is connected between the input node X and the power supply potential Vcc. Finally, the sampling transistor Tr1 is connected between the signal line SL and the input node X. The gate of the sampling transistor Tr1 is connected to the write scanner 4 through the scanning line WS. The signal line SL is connected to the horizontal selector 3.

図14は、図13に示した第6実施形態の動作説明に供するタイミングチャートであり、制御パルスDS,AZ,WSの経時的な変化を表している。補正準備期間T1−T2で制御パルスDS及びAZがローレベルにあり、制御パルスWSがハイレベルである。この結果、トランジスタTr3,Tr4,Tr5がオンする一方、Tr1はオフしている。この結果、ドライブトランジスタTr2のドレイン電流が容量部(Cs1,Cs2)に流れ、これらが保持していた電位をリセットする。続いてVth補正期間T2−T3で制御パルスDSがハイレベルとなり、スイッチングトランジスタTr4がオフに切り替わる。これによりドレイン電流の通電が遮断され、ドライブトランジスタTr2がカットオフした時にソースとゲート間に現れる電位差Vthを検出する。この検出された電位差Vthは容量部(Cs1,Cs2)に保持される。保持した電位VthはドライブトランジスタTr2の出力電流Idsに対する閾電圧Vthの影響を相殺する為に用いられる。さらにサンプリング期間T4−T5になると、制御パルスWSがローレベルとなり、サンプリングトランジスタTr1がオンして、信号線SLから供給された映像信号をサンプリングし、容量部(Cs1,Cs2)に保持する。このあと発光期間T6〜になると、制御パルスDSがローレベルとなり、スイッチングトランジスタTr4がオンして出力電流Idsが発光素子ELに流れ込み、発光が開始する。本発明の特徴事項として、ドライブトランジスタTr2のチャネル長を短縮化する事で、移動度のばらつきを自己補正する事ができ、低温ポリシリコンTFTなどばらつきの大きいトランジスタを用いたパネルにおいても、ユニフォーミティの高い画質を得る事ができる。   FIG. 14 is a timing chart for explaining the operation of the sixth embodiment shown in FIG. 13, and shows changes in the control pulses DS, AZ, WS over time. In the correction preparation period T1-T2, the control pulses DS and AZ are at a low level, and the control pulse WS is at a high level. As a result, the transistors Tr3, Tr4, Tr5 are turned on, while Tr1 is turned off. As a result, the drain current of the drive transistor Tr2 flows to the capacitor portions (Cs1, Cs2), and the potential held by these is reset. Subsequently, in the Vth correction period T2-T3, the control pulse DS becomes high level, and the switching transistor Tr4 is switched off. As a result, the drain current is cut off, and the potential difference Vth appearing between the source and the gate when the drive transistor Tr2 is cut off is detected. The detected potential difference Vth is held in the capacitor portions (Cs1, Cs2). The held potential Vth is used to cancel the influence of the threshold voltage Vth on the output current Ids of the drive transistor Tr2. Further, in the sampling period T4-T5, the control pulse WS becomes low level, the sampling transistor Tr1 is turned on, the video signal supplied from the signal line SL is sampled, and held in the capacitors (Cs1, Cs2). Thereafter, in the light emission period T6˜, the control pulse DS becomes low level, the switching transistor Tr4 is turned on, the output current Ids flows into the light emitting element EL, and light emission starts. As a feature of the present invention, by shortening the channel length of the drive transistor Tr2, it is possible to self-correct the variation in mobility, and even in a panel using a transistor having a large variation such as a low-temperature polysilicon TFT. High image quality can be obtained.

以上の説明から明らかなように、本発明の画素回路は、例えば図2及び図3を参照すると、基本的に制御パルスWS,DS1,DS2,AZを供給する行状の走査線WS,DS1,DS2,AZと映像信号を供給する列状の信号線SLとが交差する部分に配されている。画素回路2は、少なくともサンプリングトランジスタTr1と容量部Cs1,Cs2とドライブトランジスタTr2と発光素子ELを含む。サンプリングトランジスタTr1は、所定のサンプリング期間T4−T5に走査線WSから供給される制御パルスWSに応じ導通して信号線SLから供給された映像信号をサンプリングする。容量部(Cs1,Cs2)は、サンプリングされた映像信号に応じた入力電位Vinを保持する。ドライブトランジスタTr2は、容量部(Cs1,Cs2)に保持された入力電位Vinに応じて所定の発光期間T7−T8に出力電流Idsを供給する。この出力電流IdsはドライブトランジスタTr2のチャネル領域のキャリア移動度μ及び閾電圧Vthに対して依存性を有する。発光素子ELは、ドライブトランジスタTr2から供給された出力電流Idsにより映像信号に応じた輝度で発光する。特徴事項として、本画素回路2は出力電流Idsの閾電圧Vthに対する依存性を補正する為の補正手段を備えている。この補正手段は図2の実施形態の場合検出トランジスタTr5を含んでいる。この補正手段はドライブトランジスタTr2及び容量部(Cs1,Cs2)に接続しており、サンプリング期間T7−T8に先行して設定された補正期間T1−T3に動作し、容量部(Cs1,Cs2)に通電して容量部(Cs1,Cs2)が保持していた電位をリセットした後通電を遮断しドライブトランジスタTr2のソースSとゲートG間に現れる電位差Vgsを検出する。容量部の容量素子Cs2は検出した電位差Vgsに応じた電位を保持する。この保持した電位VgsはドライブトランジスタTr2の閾電圧Vthに相当する。この検出電圧を入力電位に足しこむ事で、ドライブトランジスタTr2の出力電流Idsに対する閾電圧Vthの影響をキャンセルする。さらにドライブトランジスタTr2はそのチャネル領域の長さを短縮化して出力電流IdsにソースS・ドレインD間電圧に対する依存性を与え、これにより出力電流Idsのキャリア移動度μに対する依存性を自己補正している。   As is apparent from the above description, the pixel circuit of the present invention basically has the row-like scanning lines WS, DS1, DS2 for supplying the control pulses WS, DS1, DS2, AZ, for example, referring to FIGS. AZ and the columnar signal lines SL for supplying video signals are arranged at the intersections. The pixel circuit 2 includes at least a sampling transistor Tr1, capacitors Cs1 and Cs2, a drive transistor Tr2, and a light emitting element EL. The sampling transistor Tr1 conducts in response to a control pulse WS supplied from the scanning line WS during a predetermined sampling period T4-T5 and samples the video signal supplied from the signal line SL. The capacitors (Cs1, Cs2) hold an input potential Vin corresponding to the sampled video signal. The drive transistor Tr2 supplies the output current Ids during a predetermined light emission period T7-T8 in accordance with the input potential Vin held in the capacitor portions (Cs1, Cs2). This output current Ids is dependent on the carrier mobility μ and the threshold voltage Vth in the channel region of the drive transistor Tr2. The light emitting element EL emits light with luminance according to the video signal by the output current Ids supplied from the drive transistor Tr2. As a feature, the pixel circuit 2 includes a correction unit for correcting the dependency of the output current Ids on the threshold voltage Vth. This correction means includes a detection transistor Tr5 in the embodiment of FIG. This correction means is connected to the drive transistor Tr2 and the capacitors (Cs1, Cs2), operates in a correction period T1-T3 set prior to the sampling period T7-T8, and operates in the capacitors (Cs1, Cs2). After energization and resetting the potential held by the capacitor portions (Cs1, Cs2), the energization is interrupted and the potential difference Vgs appearing between the source S and the gate G of the drive transistor Tr2 is detected. The capacitive element Cs2 in the capacitive unit holds a potential corresponding to the detected potential difference Vgs. This held potential Vgs corresponds to the threshold voltage Vth of the drive transistor Tr2. By adding this detection voltage to the input potential, the influence of the threshold voltage Vth on the output current Ids of the drive transistor Tr2 is canceled. Further, the drive transistor Tr2 shortens the length of the channel region to give the output current Ids a dependency on the voltage between the source S and the drain D, thereby self-correcting the dependency of the output current Ids on the carrier mobility μ. Yes.

本発明にかかる表示装置の第1実施形態を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a first embodiment of a display device according to the present invention. 図1に示した表示装置に含まれる画素回路の構成を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a configuration of a pixel circuit included in the display device illustrated in FIG. 1. 第1実施形態の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart with which it uses for operation | movement description of 1st Embodiment. 同じく第1実施形態の動作説明に供するグラフである。It is a graph similarly provided for operation | movement description of 1st Embodiment. 同じく動作説明に供するグラフである。It is a graph similarly provided for operation | movement description. 本発明にかかる表示装置及び画素回路の第2実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 2nd Embodiment of the display apparatus and pixel circuit concerning this invention. 第2実施形態の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart with which it uses for operation | movement description of 2nd Embodiment. 本発明にかかる表示装置及び画素回路の第3実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 3rd Embodiment of the display apparatus and pixel circuit concerning this invention. 本発明にかかる表示装置及び画素回路の第4実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 4th Embodiment of the display apparatus and pixel circuit concerning this invention. 第4実施形態の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart used for operation | movement description of 4th Embodiment. 本発明にかかる表示装置及び画素回路の第5実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 5th Embodiment of the display apparatus and pixel circuit concerning this invention. 第5実施形態の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart with which it uses for operation | movement description of 5th Embodiment. 本発明にかかる表示装置及び画素回路の第6実施形態を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows 6th Embodiment of the display apparatus and pixel circuit concerning this invention. 第6実施形態の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart used for operation | movement description of 6th Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・画素アレイ、2・・・画素回路、3・・・水平セレクタ、4・・・ライトスキャナ、5・・・ドライブスキャナ、6・・・ドライブスキャナ、7・・・補正用スキャナ、Tr1・・・サンプリングトランジスタ、Tr2・・・ドライブトランジスタ、Cs1・・・容量素子、Cs2・・・容量素子、EL・・・発光素子   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Pixel array, 2 ... Pixel circuit, 3 ... Horizontal selector, 4 ... Write scanner, 5 ... Drive scanner, 6 ... Drive scanner, 7 ... Correction scanner, Tr1 ... Sampling transistor, Tr2 ... Drive transistor, Cs1 ... Capacitance element, Cs2 ... Capacitance element, EL ... Light emitting element

Claims (4)

制御パルスを供給する行状の走査線と映像信号を供給する列状の信号線とが交差する部分に配され、少なくともサンプリングトランジスタと容量部とドライブトランジスタと発光素子とを含み、
前記サンプリングトランジスタは、所定のサンプリング期間に走査線から供給される制御パルスに応じ導通して信号線から供給された映像信号をサンプリングし、
前記容量部は、サンプリングされた映像信号に応じた入力電位を保持し、
前記ドライブトランジスタは、該容量部に保持された入力電位に応じて所定の発光期間に出力電流を供給し、該出力電流は該ドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度及び閾電圧に対して依存性を有し、
前記発光素子は、該ドライブトランジスタから供給された出力電流により該映像信号に応じた輝度で発光する画素回路において、
該出力電流の閾電圧に対する依存性を補正するための補正手段を備えており、 前記補正手段は該ドライブトランジスタ及び容量部に接続しており、該サンプリング期間に先行して設定された補正期間に動作し、該容量部に通電して該容量部が保持していた電位をリセットした後該通電を遮断し該ドライブトランジスタのソースとゲート間に現れる電位差を検出し、
前記容量部は該検出した電位差に応じた電位を保持し、該保持した電位は該ドライブトランジスタの出力電流に対する閾電圧の影響を相殺し、
更に前記ドライブトランジスタはそのチャネル領域の長さを短縮化して出力電流にソース・ドレイン間電圧に対する依存性を与え、これにより該出力電流のキャリア移動度に対する依存性を自己補正することを特徴とする画素回路。
A row-shaped scanning line for supplying a control pulse and a column-shaped signal line for supplying a video signal are arranged at a crossing portion, and includes at least a sampling transistor, a capacitor, a drive transistor, and a light emitting element,
The sampling transistor conducts in response to a control pulse supplied from the scanning line during a predetermined sampling period and samples the video signal supplied from the signal line,
The capacitor unit holds an input potential corresponding to the sampled video signal,
The drive transistor supplies an output current during a predetermined light emission period according to an input potential held in the capacitor, and the output current is dependent on the carrier mobility and threshold voltage of the channel region of the drive transistor. Have
In the pixel circuit that emits light with luminance according to the video signal by the output current supplied from the drive transistor,
The correction means for correcting the dependency of the output current on the threshold voltage is provided, and the correction means is connected to the drive transistor and the capacitor unit, and is in a correction period set prior to the sampling period. Operates, detects the potential difference appearing between the source and gate of the drive transistor by cutting off the energization after resetting the potential held by the capacitor by energizing the capacitor,
The capacitor unit holds a potential corresponding to the detected potential difference, and the held potential cancels the influence of the threshold voltage on the output current of the drive transistor,
Further, the drive transistor shortens the length of its channel region to give the output current a dependency on the source-drain voltage, thereby self-correcting the dependency of the output current on the carrier mobility. Pixel circuit.
前記ドライブトランジスタは、そのチャネル領域の長さが5μm以下に短縮化されていることを特徴とする請求項1記載の画素回路。   2. The pixel circuit according to claim 1, wherein the channel length of the drive transistor is shortened to 5 μm or less. 画素アレイ部とスキャナ部と信号部とを含み、
前記画素アレイ部は、行状に配された走査線と、列状に配された信号線と、両者が交差する部分に配された行列状の画素とからなり、
前記信号部は、該信号線に映像信号を供給し、
前記スキャナ部は、該走査線に制御パルスを供給して順次行ごとに画素を走査し、
各画素は、少なくともサンプリングトランジスタと容量部とドライブトランジスタと発光素子とを含み、
前記サンプリングトランジスタは、所定のサンプリング期間に走査線から供給されるサンプリング用制御パルスに応じ導通して信号線から供給された映像信号をサンプリングし、
前記容量部は、サンプリングされた映像信号に応じた入力電位を保持し、
前記ドライブトランジスタは、該容量部に保持された入力電位に応じて所定の発光期間に出力電流を供給し、該出力電流は該ドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度及び閾電圧に対して依存性を有し、
前記発光素子は、該ドライブトランジスタから供給された出力電流により該映像信号に応じた輝度で発光する表示装置において、
各画素は、該出力電流の閾電圧に対する依存性を補正するための補正手段を備えており、
前記補正手段は該ドライブトランジスタ及び容量部に接続しており、該サンプリング期間に先行して設定された補正期間に動作し、該容量部に通電して該容量部が保持していた電位をリセットした後該通電を遮断し該ドライブトランジスタのソースとゲート間に現れる電位差を検出し、
前記容量部は該検出した電位差に応じた電位を保持し、該保持した電位は該ドライブトランジスタの出力電流に対する閾電圧の影響を相殺し、
更に前記ドライブトランジスタはそのチャネル領域の長さを短縮化して出力電流にソース・ドレイン間電圧に対する依存性を与え、これにより該出力電流のキャリア移動度に対する依存性を自己補正することを特徴とする表示装置。
Including a pixel array unit, a scanner unit, and a signal unit,
The pixel array section is composed of scanning lines arranged in rows, signal lines arranged in columns, and matrix-like pixels arranged in a portion where both intersect.
The signal unit supplies a video signal to the signal line,
The scanner unit supplies a control pulse to the scanning line to sequentially scan pixels for each row,
Each pixel includes at least a sampling transistor, a capacitor, a drive transistor, and a light emitting element,
The sampling transistor is configured to sample a video signal supplied from a signal line by conducting in response to a sampling control pulse supplied from a scanning line during a predetermined sampling period,
The capacitor unit holds an input potential corresponding to the sampled video signal,
The drive transistor supplies an output current during a predetermined light emission period according to an input potential held in the capacitor, and the output current is dependent on the carrier mobility and threshold voltage of the channel region of the drive transistor. Have
In the display device that emits light with luminance according to the video signal by the output current supplied from the drive transistor,
Each pixel includes correction means for correcting the dependency of the output current on the threshold voltage,
The correction means is connected to the drive transistor and the capacitor unit, operates in a correction period set prior to the sampling period, energizes the capacitor unit, and resets the potential held by the capacitor unit Then, the current supply is cut off and a potential difference appearing between the source and gate of the drive transistor is detected,
The capacitor unit holds a potential corresponding to the detected potential difference, and the held potential cancels the influence of the threshold voltage on the output current of the drive transistor,
Further, the drive transistor shortens the length of its channel region to give the output current a dependency on the source-drain voltage, thereby self-correcting the dependency of the output current on the carrier mobility. Display device.
前記ドライブトランジスタは、そのチャネル領域の長さが5μm以下に短縮化されていることを特徴とする請求項3記載の表示装置。
4. The display device according to claim 3, wherein a length of a channel region of the drive transistor is shortened to 5 μm or less.
JP2005070777A 2005-03-14 2005-03-14 Pixel circuit and display device Expired - Fee Related JP4706288B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005070777A JP4706288B2 (en) 2005-03-14 2005-03-14 Pixel circuit and display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005070777A JP4706288B2 (en) 2005-03-14 2005-03-14 Pixel circuit and display device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006251631A true JP2006251631A (en) 2006-09-21
JP4706288B2 JP4706288B2 (en) 2011-06-22

Family

ID=37092162

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005070777A Expired - Fee Related JP4706288B2 (en) 2005-03-14 2005-03-14 Pixel circuit and display device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4706288B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008203656A (en) * 2007-02-21 2008-09-04 Sony Corp Display device and electronic equipment
WO2009063698A1 (en) * 2007-11-12 2009-05-22 Konica Minolta Holdings, Inc. Image display device and electrochemical display device
US7671826B2 (en) 2005-12-02 2010-03-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device, and electronic device
US7808008B2 (en) 2007-06-29 2010-10-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and driving method thereof
KR101368006B1 (en) * 2007-11-05 2014-03-13 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display and Method of Driving the same
US8890180B2 (en) 2005-12-02 2014-11-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device, and electronic device
KR101533219B1 (en) * 2008-02-28 2015-07-02 소니 주식회사 EL display panel, electronic apparatus and EL display panel driving method
US9293085B2 (en) 2012-02-28 2016-03-22 Canon Kabushiki Kaisha Pixel circuit which corrects variations in threshold voltage for a driving transistor and driving method thereof

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003255897A (en) * 2002-03-05 2003-09-10 Nec Corp Image display device and control method used in the device
JP2004133240A (en) * 2002-10-11 2004-04-30 Sony Corp Active matrix display device and its driving method
JP2004246204A (en) * 2003-02-14 2004-09-02 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving method of pixel circuit
JP2004361640A (en) * 2003-06-04 2004-12-24 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving method for pixel circuit
JP2005345722A (en) * 2004-06-02 2005-12-15 Sony Corp Pixel circuit, active matrix system, and display device
JP2006084899A (en) * 2004-09-17 2006-03-30 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving methods thereof
JP2006215213A (en) * 2005-02-02 2006-08-17 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving method therefor

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003255897A (en) * 2002-03-05 2003-09-10 Nec Corp Image display device and control method used in the device
JP2004133240A (en) * 2002-10-11 2004-04-30 Sony Corp Active matrix display device and its driving method
JP2004246204A (en) * 2003-02-14 2004-09-02 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving method of pixel circuit
JP2004361640A (en) * 2003-06-04 2004-12-24 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving method for pixel circuit
JP2005345722A (en) * 2004-06-02 2005-12-15 Sony Corp Pixel circuit, active matrix system, and display device
JP2006084899A (en) * 2004-09-17 2006-03-30 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving methods thereof
JP2006215213A (en) * 2005-02-02 2006-08-17 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving method therefor

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8890180B2 (en) 2005-12-02 2014-11-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device, and electronic device
US12063829B2 (en) 2005-12-02 2024-08-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
US7671826B2 (en) 2005-12-02 2010-03-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device, and electronic device
US11417720B2 (en) 2005-12-02 2022-08-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device including n-channel transistor including polysilicon
US8264430B2 (en) 2005-12-02 2012-09-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device, and electronic device
US9997584B2 (en) 2005-12-02 2018-06-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device, and electronic device
US9276037B2 (en) 2005-12-02 2016-03-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device, and electronic device
US8717261B2 (en) 2005-12-02 2014-05-06 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display device, and electronic device
JP2008203656A (en) * 2007-02-21 2008-09-04 Sony Corp Display device and electronic equipment
US8816359B2 (en) 2007-06-29 2014-08-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and driving method thereof
US8338835B2 (en) 2007-06-29 2012-12-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and driving method thereof
US7808008B2 (en) 2007-06-29 2010-10-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and driving method thereof
KR101368006B1 (en) * 2007-11-05 2014-03-13 엘지디스플레이 주식회사 Organic Light Emitting Display and Method of Driving the same
WO2009063698A1 (en) * 2007-11-12 2009-05-22 Konica Minolta Holdings, Inc. Image display device and electrochemical display device
KR101533219B1 (en) * 2008-02-28 2015-07-02 소니 주식회사 EL display panel, electronic apparatus and EL display panel driving method
US9293085B2 (en) 2012-02-28 2016-03-22 Canon Kabushiki Kaisha Pixel circuit which corrects variations in threshold voltage for a driving transistor and driving method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
JP4706288B2 (en) 2011-06-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4923410B2 (en) Pixel circuit and display device
JP4923505B2 (en) Pixel circuit and display device
JP4501429B2 (en) Pixel circuit and display device
JP2006133542A (en) Pixel circuit and display apparatus
JP4929891B2 (en) Display device
JP2007148129A (en) Display apparatus and driving method thereof
JP2007316454A (en) Image display device
JP2007140318A (en) Pixel circuit
JP2007133284A (en) Display device and method for driving same
JP2007133282A (en) Pixel circuit
JP2007148128A (en) Pixel circuit
JP2006251632A (en) Pixel circuit and display device
JP4706288B2 (en) Pixel circuit and display device
JP4182919B2 (en) Pixel circuit and display device
JP2007316453A (en) Image display device
JP2008026468A (en) Image display device
JP4747528B2 (en) Pixel circuit and display device
JP4967336B2 (en) Pixel circuit and display device
JP2006208746A (en) Pixel circuit and display device, and driving method therefor
JP4665424B2 (en) Display device and driving method thereof
JP2005181920A (en) Pixel circuit, display device and its driving method
JP5477359B2 (en) Display device
JP2012088724A (en) Pixel circuit and display
JP2006208745A (en) Pixel circuit and display device, and driving method therefor
JP2006133543A (en) Display apparatus, its drive method and drive method of pixel circuit

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080303

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20090223

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090223

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20090225

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110215

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110228

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees