JP4665424B2 - Display device and driving method thereof - Google Patents

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Description

本発明は、画素毎に配した電気光学素子を電流駆動する表示装置に関する。詳しくは、この画素がマトリクス状に配列されたマトリクス型の表示装置であって、特に各画素内に設けた絶縁ゲート型電界効果トランジスタによって電気光学素子に流れる電流量が制御される、いわゆるアクティブマトリクス型の表示装置に関する。例えば、有機ELなど電流値によって輝度が制御される電気光学素子を有するアクティブマトリクス型の表示装置に関する。 The present invention relates to a display device that drives an electro-optic element arranged for each pixel by current. Specifically, this is a matrix type display device in which the pixels are arranged in a matrix, and in particular, a so-called active matrix in which the amount of current flowing to the electro-optic element is controlled by an insulated gate field effect transistor provided in each pixel. The present invention relates to a type display device. For example, the present invention relates to an active matrix display device having an electro-optical element whose luminance is controlled by a current value such as an organic EL.

画像表示装置、例えば液晶ディスプレイなどでは、多数の液晶画素をマトリクス状に並べ、表示すべき画像情報に応じて画素毎に入射光の透過強度又は反射強度を制御することによって画像を表示する。これは、有機EL素子を画素に用いた有機ELディスプレイなどにおいても同様であるが、液晶画素と異なり有機EL素子は自発光素子である。その為、有機ELディスプレイは液晶ディスプレイに比べて画像の視認性が高く、バックライトが不要であり、応答速度が速いなどの利点を有する。又、各発光素子の輝度レベル(階調)はそれに流れる電流値によって制御可能であり、いわゆる電流制御型であるという点で液晶ディスプレイなどとは大きく異なる。 In an image display device such as a liquid crystal display, an image is displayed by arranging a large number of liquid crystal pixels in a matrix and controlling the transmission intensity or reflection intensity of incident light for each pixel in accordance with image information to be displayed. This also applies to an organic EL display using an organic EL element as a pixel, but unlike a liquid crystal pixel, the organic EL element is a self-luminous element. Therefore, the organic EL display has advantages such as higher image visibility than the liquid crystal display, no backlight, and a high response speed. Further, the luminance level (gradation) of each light emitting element can be controlled by the value of the current flowing therethrough, and is greatly different from a liquid crystal display or the like in that it is a so-called current control type.

有機ELディスプレイにおいては、液晶ディスプレイと同様、その駆動方式として単純マトリクス方式とアクティブマトリクス方式とがある。前者は構造が単純であるものの、大型且つ高精細のディスプレイの実現が難しいなどの問題がある為、現在はアクティブマトリクス方式の開発が盛んに行なわれている。この方式は、各画素回路内部の発光素子に流れる電流を、画素回路内部に設けた能動素子(一般には薄膜トランジスタ,TFT)によって制御するものである。
USP5,684,365 特開平8−234683号公報 特開2003−323152号公報
In the organic EL display, similarly to the liquid crystal display, there are a simple matrix method and an active matrix method as driving methods. Although the former has a simple structure, there is a problem that it is difficult to realize a large-sized and high-definition display. Therefore, the active matrix method is actively developed at present. In this method, a current flowing through a light emitting element in each pixel circuit is controlled by an active element (generally a thin film transistor or TFT) provided in the pixel circuit.
USP 5,684,365 JP-A-8-234683 JP 2003-323152 A

図11は、一般的な有機EL表示装置の構成を示すブロック図である。この表示装置100は、画素回路(PXLC)101がm×nのマトリクス状に配列された画素アレイ部102、水平セレクタ(HSEL)103、ライトスキャナ(WSCN)104、ドライブスキャナ(DSCN)105、水平セレクタ103により選択され輝度情報に応じた信号が供給される信号線DTL101〜DTL10n、ライトスキャナ104により選択駆動される走査線WSL101〜WSL10m、及びドライブスキャナ105により選択駆動される走査線DSL101〜DSL10mを有する。ライトスキャナ(WSCN)104はシフトレジスタを含み、外部から入力されたクロック信号wsckに応じて動作し、同じく外部から入力されたスタートパルスwsspを順次転送して、順次走査パルスを走査線WSL101〜WSL10mに印加してその線順次走査を行う。ドライブスキャナ(DSCN)105もシフトレジスタを含み、外部から入力されたクロック信号dsckに応じて動作し、同じく外部から入力されたスタートパルスdsspを順次転送して、順次走査パルスを走査線DSL101〜DSL10mに印加してその線順次走査を行う。   FIG. 11 is a block diagram showing a configuration of a general organic EL display device. The display device 100 includes a pixel array unit 102 in which pixel circuits (PXLC) 101 are arranged in an m × n matrix, a horizontal selector (HSEL) 103, a write scanner (WSCN) 104, a drive scanner (DSCN) 105, a horizontal The signal lines DTL101 to DTL10n selected by the selector 103 and supplied with signals according to the luminance information, the scanning lines WSL101 to WSL10m selectively driven by the write scanner 104, and the scanning lines DSL101 to DSL10m selectively driven by the drive scanner 105 are displayed. Have. The write scanner (WSCN) 104 includes a shift register, operates in response to an externally input clock signal wsck, similarly sequentially transfers start pulses wssp input from the outside, and sequentially scans the scan lines WSL101 to WSL10m. And the line sequential scanning is performed. The drive scanner (DSCN) 105 also includes a shift register, operates in response to an externally input clock signal dsck, and similarly sequentially transfers start pulses dssp input from the outside, and sequentially scans the scan pulses DSL101 to DSL10m. And the line sequential scanning is performed.

図12は、図11に示した画素回路の一構成例を示す回路図である。図示する様に、この画素回路101は、基本的にpチャネル型の薄膜電界効果トランジスタ(以下、TFTと言う)で構成されている。すなわち画素回路101は、ドライブTFT111、スイッチングTFT112、サンプリングTFT115、有機EL素子117、保持容量C111を有する。係る構成を有する画素回路101は、信号線DTL101と走査線WSL101及びDSL101との交差部に配されている。信号線DTL101はサンプリングTFT115のドレインに接続し、走査線WSL101はサンプリングTFT115のゲートに接続し、他の走査線DSL101はスイッチングTFT112のゲートに接続している。 FIG. 12 is a circuit diagram illustrating a configuration example of the pixel circuit illustrated in FIG. 11. As shown in the figure, the pixel circuit 101 is basically composed of a p-channel thin film field effect transistor (hereinafter referred to as TFT). That is, the pixel circuit 101 includes a drive TFT 111, a switching TFT 112, a sampling TFT 115, an organic EL element 117, and a storage capacitor C111. The pixel circuit 101 having such a configuration is arranged at an intersection between the signal line DTL101 and the scanning lines WSL101 and DSL101. The signal line DTL101 is connected to the drain of the sampling TFT 115, the scanning line WSL101 is connected to the gate of the sampling TFT 115, and the other scanning line DSL101 is connected to the gate of the switching TFT 112.

ドライブTFT111、スイッチングTFT112及び有機EL素子117は、電源電位Vccと接地電位Vssの間で直列に接続されている。すなわちドライブトランジスタ111のソースが電源電位Vccに接続される一方、有機EL素子(発光素子)117のカソードが接地電位Vssに接続されている。一般に、有機EL素子117は整流性がある為ダイオードの記号で表わしている。一方、サンプリングTFT115及び保持容量C111は、ドライブTFT111のゲートに接続している。ドライブTFT111のゲート・ソース間電圧をVgsで表わしている。 The drive TFT 111, the switching TFT 112, and the organic EL element 117 are connected in series between the power supply potential Vcc and the ground potential Vss. That is, the source of the drive transistor 111 is connected to the power supply potential Vcc, while the cathode of the organic EL element (light emitting element) 117 is connected to the ground potential Vss. In general, the organic EL element 117 is represented by a diode symbol because of its rectifying property. On the other hand, the sampling TFT 115 and the storage capacitor C111 are connected to the gate of the drive TFT111. The gate-source voltage of the drive TFT 111 is represented by Vgs.

画素回路101の動作であるが、まず走査線WSL101を選択状態(ここでは低レベル)とし、信号線DTL101に信号を印加すると、サンプリングTFT115が導通して信号が保持容量C111に書き込まれる。保持容量C111に書き込まれた信号電位がドライブトランジスタ111のゲート電位となる。続いて、走査線WSL101を非選択状態(ここでは高レベル)とすると、信号線DTL101とドライブTFT111とは電気的に切り離されるが、ドライブTFT111のゲート電位Vgsは保持容量C111によって安定に保持される。続いて他の走査線DSL101を選択状態(ここでは低レベル)にすると、スイッチングTFT112が導通し、電源電位Vccから接地電位Vssに向かって駆動電流がTFT111,TFT112及び発光素子117を流れる。DSL101が非選択状態になるとスイッチングトランジスタ112がオフし、駆動電流は流れなくなる。スイッチングTFT112は発光素子117の発光時間を制御する為に挿入されたものである。 The operation of the pixel circuit 101 is as follows. First, when the scanning line WSL101 is selected (low level here) and a signal is applied to the signal line DTL101, the sampling TFT 115 is turned on and the signal is written into the holding capacitor C111. The signal potential written in the storage capacitor C111 becomes the gate potential of the drive transistor 111. Subsequently, when the scanning line WSL101 is in a non-selected state (here, high level), the signal line DTL101 and the drive TFT 111 are electrically disconnected, but the gate potential Vgs of the drive TFT 111 is stably held by the holding capacitor C111. . Subsequently, when another scanning line DSL101 is selected (here, at a low level), the switching TFT 112 becomes conductive, and a drive current flows through the TFT 111, TFT 112, and the light emitting element 117 from the power supply potential Vcc toward the ground potential Vss. When the DSL 101 is in a non-selected state, the switching transistor 112 is turned off and the driving current does not flow. The switching TFT 112 is inserted to control the light emission time of the light emitting element 117.

TFT111及び発光素子117に流れる電流は、TFT111のゲート・ソース間電圧Vgsに応じた値となり、発光素子117はその電流値に応じた輝度で発光し続ける。上記の様に、走査線WSL101を選択して信号線DTL101に与えられた信号を画素回路101の内部に伝える動作を、以下「書き込み」と呼ぶ。上述の様に、一度信号の書き込みを行なえば、次に書き換えられるまでの間、発光素子117は一定の輝度で発光を続ける。 The current flowing through the TFT 111 and the light emitting element 117 has a value corresponding to the gate-source voltage Vgs of the TFT 111, and the light emitting element 117 continues to emit light with a luminance corresponding to the current value. The operation of selecting the scanning line WSL101 and transmitting the signal given to the signal line DTL101 to the inside of the pixel circuit 101 as described above is hereinafter referred to as “writing”. As described above, once a signal is written, the light emitting element 117 continues to emit light at a constant luminance until the next rewriting.

上述した様に画素回路101では、ドライブトランジスタであるTFT111のゲート印加電圧を入力信号に応じて変化させることで、EL発光素子117に流れる電流値を制御している。この時、pチャネル型のドライブトランジスタ111のソースは電源電位Vccに接続されており、このTFT111は常に飽和領域で動作している。よって、ドライブトランジスタ111は下記の式(1)に示した値を持つ定電流源となっている。 As described above, in the pixel circuit 101, the value of the current flowing through the EL light emitting element 117 is controlled by changing the gate application voltage of the TFT 111 serving as the drive transistor in accordance with the input signal. At this time, the source of the p-channel type drive transistor 111 is connected to the power supply potential Vcc, and the TFT 111 always operates in the saturation region. Therefore, the drive transistor 111 is a constant current source having a value represented by the following formula (1).

Ids=(1/2)・μ・(W/L)・Cox・(Vgs−Vth)・・・(1) ここでIdsは飽和領域で動作するトランジスタのドレイン・ソース間に流れる電流を表わしている。又μは移動度、Wはチャネル幅、Lはチャネル長、Coxはゲート容量、Vthはトランジスタの閾電圧を表わしている。式(1)から明らかな様に、飽和領域ではトランジスタのドレイン電流Idsはゲート・ソース間電圧Vgsによって制御される。図12に示したドライブトランジスタ111は、Vgsが一定に保持される為、ドライブトランジスタ111は定電流源として動作し、発光素子117を一定の輝度で発光させることができる。 Ids = (1/2) · μ · (W / L) · Cox · (Vgs−Vth) 2 (1) where Ids represents the current flowing between the drain and source of the transistor operating in the saturation region. ing. Further, μ represents mobility, W represents channel width, L represents channel length, Cox represents gate capacitance, and Vth represents a threshold voltage of the transistor. As apparent from the equation (1), in the saturation region, the drain current Ids of the transistor is controlled by the gate-source voltage Vgs. Since the drive transistor 111 shown in FIG. 12 maintains Vgs constant, the drive transistor 111 operates as a constant current source, and the light emitting element 117 can emit light with constant luminance.

図13は、有機EL素子の電流−電圧(I−V)特性の経時変化を示すグラフである。グラフにおいて、実線で示す曲線が初期状態時の特性を示し、破線で示す曲線が経時変化後の特性を示している。一般的に、有機EL素子のI−V特性は、グラフに示す様に時間が経過すると劣化してしまう。これに対して、図12に示した画素回路は、ドライブトランジスタが定電流駆動である為、有機EL素子には定電流Idsが流れ続け、有機EL素子のI−V特性が劣化してもその発光輝度が経時劣化することはない。 FIG. 13 is a graph showing a change with time of current-voltage (IV) characteristics of the organic EL element. In the graph, the curve indicated by the solid line indicates the characteristic in the initial state, and the curve indicated by the broken line indicates the characteristic after change with time. Generally, the IV characteristic of an organic EL element deteriorates over time as shown in the graph. On the other hand, in the pixel circuit shown in FIG. 12, since the drive transistor is driven at a constant current, the constant current Ids continues to flow through the organic EL element, and the IV characteristic of the organic EL element deteriorates. The light emission luminance does not deteriorate with time.

図12に示した画素回路は、pチャネル型のTFTにより構成されているが、nチャネル型のTFTにより構成することができれば、TFT作成において従来のアモルファスシリコン(a−Si)プロセスを用いることが可能になる。これにより、TFT基板の低コスト化が可能となり、開発が期待されている。 The pixel circuit shown in FIG. 12 is configured by a p-channel TFT. However, if the pixel circuit can be configured by an n-channel TFT, a conventional amorphous silicon (a-Si) process can be used for TFT fabrication. It becomes possible. As a result, the cost of the TFT substrate can be reduced, and development is expected.

図14は、図12に示した画素回路のpチャネルTFTをnチャネルTFTに置き換えた構成を示す回路図である。図示する様に、この画素回路101は、nチャネル型のTFT111,112,115、保持容量C111、発光素子である有機EL素子117で構成されている。TFT111はドライブトランジスタ、TFT112はスイッチングトランジスタ、TFT115はサンプリングトランジスタである。又図において、DTL101は信号線を表わし、DSL101及びWSL101は走査線をそれぞれ示している。この画素回路101では、ドライブトランジスタであるTFT111のドレイン側が電源電位Vccに接続され、ソースはEL素子117のアノードに接続されており、ソースフォロワ回路を形成している。 FIG. 14 is a circuit diagram showing a configuration in which the p-channel TFT of the pixel circuit shown in FIG. 12 is replaced with an n-channel TFT. As shown in the figure, the pixel circuit 101 includes n-channel TFTs 111, 112, and 115, a storage capacitor C111, and an organic EL element 117 that is a light emitting element. The TFT 111 is a drive transistor, the TFT 112 is a switching transistor, and the TFT 115 is a sampling transistor. In the figure, DTL 101 represents a signal line, and DSL 101 and WSL 101 represent scanning lines, respectively. In the pixel circuit 101, the drain side of the TFT 111 as a drive transistor is connected to the power supply potential Vcc, and the source is connected to the anode of the EL element 117, thereby forming a source follower circuit.

図15は、図14に示した画素回路の動作説明に供するタイミングチャートである。走査線WSL101にライトスキャナWSCNから走査パルスwsが印加されると、サンプリングトランジスタ115が導通し、信号線DTL101から信号をサンプリングして保持容量C111に書き込む。これにより、ドライブトランジスタ111のゲート電位がサンプリングされた信号電位に保持される。このサンプリング動作は線順次で行なわれる。すなわち1段目の走査線WSL101に走査パルスwsが印加された後、続いて2段目の走査線WSL102に走査パルスwsが印加され、以下1水平期間(1H)毎に1段分の画素が選択されていく。WSL101の選択と同時にDSL101もドライブスキャナDSCNから出力される走査パルスdsによって選択される為、スイッチングトランジスタ112がオンする。これにより、ドライブトランジスタ111及びスイッチングトランジスタ112を介して発光素子117に駆動電流が流れる為、発光が行なわれる。1フィールド期間(1F)の途中でDSL101は非選択状態となり、スイッチングトランジスタ112はオフになる。これにより発光は停止する。走査線DSL101は1フィールド期間に占める発光時間(デューティ)を制御するものである。 FIG. 15 is a timing chart for explaining the operation of the pixel circuit shown in FIG. When the scanning pulse ws is applied to the scanning line WSL101 from the write scanner WSCN, the sampling transistor 115 is turned on, samples a signal from the signal line DTL101, and writes it to the storage capacitor C111. As a result, the gate potential of the drive transistor 111 is held at the sampled signal potential. This sampling operation is performed line-sequentially. That is, after the scanning pulse ws is applied to the first-stage scanning line WSL101, the scanning pulse ws is subsequently applied to the second-stage scanning line WSL102, and one pixel for each one horizontal period (1H) thereafter. It will be selected. Simultaneously with the selection of the WSL 101, the DSL 101 is also selected by the scanning pulse ds output from the drive scanner DSCN, so that the switching transistor 112 is turned on. As a result, a drive current flows to the light emitting element 117 via the drive transistor 111 and the switching transistor 112, and thus light emission is performed. In the middle of one field period (1F), the DSL 101 is in a non-selected state, and the switching transistor 112 is turned off. As a result, the light emission stops. The scanning line DSL101 controls the light emission time (duty) in one field period.

ここで図16の(A)は、初期状態におけるドライブトランジスタ111とEL素子117の動作点を示すグラフである。図において、横軸はドライブトランジスタ111のドレイン・ソース間電圧Vdsを示し、縦軸はドレイン・ソース間電流Idsを示している。図示する様に、ソース電位はドライブトランジスタ111とEL素子117との動作点で決まり、その電圧値はゲート電圧によって異なる値を持つ。ドライブトランジスタ111は飽和領域で駆動されるので、動作点のソース電圧に対応したVgsに関し、前述の式(1)に規定された電流値の駆動電流Idsを流す。 Here, FIG. 16A is a graph showing operating points of the drive transistor 111 and the EL element 117 in the initial state. In the figure, the horizontal axis represents the drain-source voltage Vds of the drive transistor 111, and the vertical axis represents the drain-source current Ids. As illustrated, the source potential is determined by the operating point of the drive transistor 111 and the EL element 117, and the voltage value varies depending on the gate voltage. Since the drive transistor 111 is driven in the saturation region, the drive current Ids having the current value defined in the above-described equation (1) is supplied with respect to Vgs corresponding to the source voltage at the operating point.

しかしながら、EL素子のI−V特性は前述した様に経時劣化する。(B)に示す様に、この経時劣化により動作点が変化してしまい、同じゲート電圧を印加してもトランジスタのソース電圧は変化してしまう。これによりドライブトランジスタ111のゲート・ソース間電圧Vgsは変化してしまい、流れる電流値が変動する。同時にEL素子117に流れる電流値も変化する。この様にEL素子117のI−V特性が変化すると、図14に示したソースフォロワ構成の画素回路では、有機EL素子の発光輝度が経時的に変化してしまう。 However, the IV characteristic of the EL element deteriorates with time as described above. As shown in (B), the operating point changes due to the deterioration over time, and the source voltage of the transistor changes even when the same gate voltage is applied. As a result, the gate-source voltage Vgs of the drive transistor 111 changes, and the flowing current value fluctuates. At the same time, the value of current flowing through the EL element 117 also changes. When the IV characteristic of the EL element 117 changes in this manner, the light emission luminance of the organic EL element changes with time in the pixel circuit having the source follower configuration shown in FIG.

アクティブマトリクス型の有機ELディスプレイは、上記のようなEL素子の特性変動に加え、画素回路を構成するnチャネル型TFTの閾電圧も経時的に変化する。前述の式(1)から明らかな様に、ドライブトランジスタの閾電圧Vthが変動すると、ドレイン電流Idsが変化してしまう。これにより、同じゲート電圧Vgsを与えても、Vthの変動により発光輝度が変化するという課題がある。 In the active matrix type organic EL display, in addition to the above-described characteristic variation of the EL element, the threshold voltage of the n-channel TFT constituting the pixel circuit also changes with time. As is clear from the above equation (1), when the threshold voltage Vth of the drive transistor fluctuates, the drain current Ids changes. Thereby, even if the same gate voltage Vgs is given, there is a problem that the light emission luminance changes due to the variation of Vth.

上述した従来の技術の課題に鑑み、本発明は画素回路を構成するトランジスタの閾電圧が経時変化しても、安定して電気光学素子を駆動可能な表示装置を提供することを一般的な目的とする。特にトランジスタの閾電圧変動に対する補償機能を付加した表示装置において、この補償機能の動作を安定化する回路構成及び駆動方法を提供することを特定の目的とするものである。 In view of the above-described problems of the conventional technology, it is a general object of the present invention to provide a display device that can stably drive an electro-optic element even when the threshold voltage of a transistor constituting a pixel circuit changes with time. And In particular, it is a specific object of the present invention to provide a circuit configuration and a driving method for stabilizing the operation of a compensation function in a display device to which a compensation function for a threshold voltage variation of a transistor is added.

係る目的を達成する為に以下の手段を講じた。即ち本発明は、画素アレイ部とこれを駆動する周辺駆動部とを含み、前記画素アレイ部は、複数の走査線と信号線とが交差する部分に夫々配された画素からなり、各走査線に対応して画素の各段が構成されており、前記周辺駆動部は、スタートパルス及びクロック信号に応答し該画素アレイ部の画素を段単位で線順次走査して一水平期間毎画素の各段に映像信号を書き込み、この線順次走査をフィールド毎に繰り返す表示装置であって、各画素は、電気光学素子と、保持容量と、サンプリングトランジスタと、ドライブトランジスタと、閾電圧キャンセル回路とを含む。前記サンプリングトランジスタは第1走査線から送られてくる第1走査パルスによって選択された時動作し、該信号線から映像信号をサンプリングして該保持容量に保持し、前記ドライブトランジスタは、該保持容量に保持された信号電位に応じて該電気光学素子を電流駆動し、前記閾電圧キャンセル回路は、該電気光学素子の電流駆動に先だち第2走査線から送られてくる第2走査パルスによって選択された期間に動作し、該ドライブトランジスタの閾電圧を検知してあらかじめその影響をキャンセルする為に必要な電位を該保持容量に保持させておくものである。前記周辺駆動部は、第1スキャナと、セレクタと、第2スキャナとを含む。前記第1スキャナは、該クロック信号に応じて第1スタートパルスを順次転送することで第1走査線の線順次走査を行い、一水平期間毎に第1走査パルスを逐次各第1走査線に出力して段単位で各画素を選択し、前記セレクタは該線順次走査に同期して各信号線に映像信号を供給し、以って選択された画素の段に映像信号を書き込み、前記第2スキャナは、同じく該クロック信号に応じて第2スタートパルスを順次転送することで第2走査線の線順次走査を行い、一水平期間毎に第2走査パルスを逐次各第2走査線に出力して段単位で各画素の閾電圧キャンセル回路を駆動する。。前記クロック信号はその周期が一水平期間の倍に設定されている一方、前記画素アレイ部は奇数本の走査線に対応して奇数段の画素からなるため、先のフィールドと次のフィールドとの間で該クロック信号の位相を合わせる必要があり、両フィールド間のブランキング期間で該クロック信号に位相合わせの調整区間が挿入されている。前記第2スキャナは、該第2スタートパルスの幅及び入力タイミングを適切に設定して、先頭段の第2走査パルスが該調整区間の後に立ち上がり、最終段の第2走査パルスが該調整区間の前に立ち下がる様にし、以って前記第2スキャナは、線順次走査中該調整区間の存在にかかわらず、常に同じパルス幅の第2走査パルスを逐次出力可能であることを特徴とする。 In order to achieve this purpose, the following measures were taken. That is, the present invention includes a pixel array section and a peripheral driving section that drives the pixel array section, and the pixel array section is composed of pixels arranged at portions where a plurality of scanning lines and signal lines intersect, and each scanning line In response to the start pulse and the clock signal, the peripheral driving unit scans the pixels of the pixel array unit line-by-line in units of stages and outputs each pixel of each horizontal period. A display device that writes video signals to a stage and repeats this line-sequential scanning for each field, and each pixel includes an electro-optic element, a storage capacitor, a sampling transistor, a drive transistor, and a threshold voltage cancel circuit . The sampling transistor operates when selected by a first scanning pulse sent from a first scanning line, samples a video signal from the signal line and holds it in the holding capacitor, and the drive transistor holds the holding capacitor. The threshold voltage cancel circuit is selected by the second scanning pulse sent from the second scanning line prior to the current driving of the electro-optic element. In this period, the threshold voltage of the drive transistor is detected, and a potential necessary for canceling the influence is held in the storage capacitor in advance. The peripheral driving unit includes a first scanner, a selector, and a second scanner. The first scanner performs line sequential scanning of the first scanning line by sequentially transferring the first start pulse according to the clock signal, and sequentially applies the first scanning pulse to each first scanning line every horizontal period. The output is used to select each pixel in units of stages, and the selector supplies a video signal to each signal line in synchronization with the line sequential scanning, thereby writing the video signal to the stage of the selected pixel, and Similarly, the two scanners sequentially transfer the second start pulse in accordance with the clock signal to perform line sequential scanning of the second scanning line, and sequentially output the second scanning pulse to each second scanning line every horizontal period. Then, the threshold voltage cancel circuit of each pixel is driven in units of stages. . The period of the clock signal is set to be twice as long as one horizontal period. On the other hand, the pixel array section is composed of odd-numbered pixels corresponding to an odd number of scanning lines. It is necessary to match the phase of the clock signal between them, and an adjustment interval for phase matching is inserted into the clock signal in the blanking period between both fields. The second scanner sets the width and input timing of the second start pulse appropriately, the second scanning pulse at the head stage rises after the adjustment section, and the second scanning pulse at the last stage reaches the adjustment section. The second scanner is characterized in that the second scanner can always sequentially output the second scanning pulse having the same pulse width regardless of the presence of the adjustment section during the line sequential scanning.

好ましくは、前記クロック信号は、位相合わせのためブランキング期間に挿入される調整区間が最小の一水平期間に設定されている。又、前記閾電圧キャンセル回路は検知トランジスタを含んでおり、該検知トランジスタは、そのソース/ドレインが該ドライブトランジスタのドレイン/ゲートに接続され、そのゲートが第2走査線に接続しており、該検知トランジスタは、該第2走査線から送られた該第2走査パルスの幅に応じて動作し該ドライブトランジスタの閾電圧を検知する。又、前記電気光学素子は、電流駆動により発光する有機EL素子である。又、前記サンプリングトランジスタ及びドライブトランジスタはN型の薄膜トランジスタである。 Preferably, the clock signal is set to one horizontal period with a minimum adjustment interval inserted in the blanking period for phase alignment. The threshold voltage cancel circuit includes a detection transistor, and the detection transistor has a source / drain connected to a drain / gate of the drive transistor, a gate connected to a second scanning line, The detection transistor operates according to the width of the second scan pulse sent from the second scan line, and detects the threshold voltage of the drive transistor. The electro-optical element is an organic EL element that emits light by current driving. The sampling transistor and the drive transistor are N-type thin film transistors.

又本発明は、画素アレイ部とこれを駆動する周辺駆動部とを含み、前記画素アレイ部は、複数の走査線と信号線とが交差する部分に夫々配された画素からなり、各走査線に対応して画素の各段が構成されており、各画素は、電気光学素子と、保持容量と、サンプリングトランジスタと、ドライブトランジスタと、閾電圧キャンセル回路とを含み、前記周辺駆動部は第1スキャナとセレクタと第2スキャナとを含み、スタートパルス及びクロック信号に応答し該画素アレイ部の画素を段単位で線順次走査して一水平期間毎画素の各段に映像信号を書き込み、この線順次走査をフィールド毎に繰り返す表示装置の駆動方法であって、前記画素アレイ部側は、第1走査線から送られてくる第1走査パルスによって前記サンプリングトランジスタを動作させ、該信号線から映像信号をサンプリングして該保持容量に保持し、続いて前記ドライブトランジスタを動作させて、該保持容量に保持された信号電位に応じ該電気光学素子を電流駆動するとともに、該電気光学素子の電流駆動に先だって、第2走査線から送られてくる第2走査パルスにより選択された期間に前記閾電圧キャンセル回路を動作させ、該ドライブトランジスタの閾電圧を検知してあらかじめその影響をキャンセルする為に必要な電位を該保持容量に保持させておく一方、前記周辺駆動部側は、前記第1スキャナが、該クロック信号に応じて第1スタートパルスを順次転送することで第1走査線の線順次走査を行い、一水平期間毎に第1走査パルスを逐次各第1走査線に出力して段単位で各画素を選択し、前記セレクタが、該線順次走査に同期して各信号線に映像信号を供給し、以って選択された画素の段に映像信号を書き込み、前記第2スキャナが、同じく該クロック信号に応じて第2スタートパルスを順次転送することで第2走査線の線順次走査を行い、一水平期間毎に第2走査パルスを逐次各第2走査線に出力して段単位で各画素の閾電圧キャンセル回路を駆動し、前記クロック信号はその周期が一水平期間の倍に設定されている一方、前記画素アレイ部は奇数本の走査線に対応して奇数段の画素からなるため、先のフィールドと次のフィールドとの間で該クロック信号の位相を合わせる必要があり、両フィールド間のブランキング期間で該クロック信号に位相合わせの調整区間が挿入されており、前記第2スキャナは、該第2スタートパルスの幅及び入力タイミングを適切に設定して、先頭段の第2走査パルスが該調整区間の後に立ち上がり、最終段の第2走査パルスが該調整区間の前に立ち下がる様にし、以って前記第2スキャナは、線順次走査中該調整区間の存在にかかわらず、常に同じパルス幅の第2走査パルスを逐次出力可能である。 The present invention also includes a pixel array section and a peripheral driving section for driving the pixel array section, and the pixel array section is composed of pixels arranged at portions where a plurality of scanning lines and signal lines intersect, and each scanning line Each pixel includes an electro-optical element, a storage capacitor, a sampling transistor, a drive transistor, and a threshold voltage cancel circuit, and the peripheral driver includes a first stage. A scanner, a selector, and a second scanner, and in response to a start pulse and a clock signal, the pixels of the pixel array section are line-sequentially scanned in units of lines, and video signals are written in the respective stages of pixels every horizontal period A display device driving method in which sequential scanning is repeated for each field, wherein the pixel array unit operates the sampling transistor by a first scanning pulse sent from a first scanning line. And sampling the video signal from the signal line and holding it in the holding capacitor, and subsequently operating the drive transistor to drive the electro-optic element in accordance with the signal potential held in the holding capacitor, Prior to the current drive of the electro-optic element, the threshold voltage cancel circuit is operated during a period selected by the second scan pulse sent from the second scan line, and the threshold voltage of the drive transistor is detected in advance. While the potential necessary for canceling the influence is held in the holding capacitor, the first driver sequentially transfers the first start pulse according to the clock signal on the peripheral driver side. A line-sequential scan of one scan line is performed, and a first scan pulse is sequentially output to each first scan line for each horizontal period to select each pixel in units of stages, and the selector includes: The video signal is supplied to each signal line in synchronization with the line sequential scanning, and the video signal is written to the stage of the selected pixel. The second scanner similarly applies the second start pulse in response to the clock signal. By performing sequential transfer, line sequential scanning of the second scanning line is performed, and a second scanning pulse is sequentially output to each second scanning line every horizontal period to drive the threshold voltage cancel circuit of each pixel in units of stages, The period of the clock signal is set to be twice as long as one horizontal period. On the other hand, the pixel array section is composed of odd-numbered pixels corresponding to an odd number of scanning lines. The phase of the clock signal needs to be synchronized between the two fields, and a phase alignment adjustment section is inserted into the clock signal in the blanking period between the two fields. Input By appropriately setting the imming so that the second scanning pulse of the first stage rises after the adjustment section and the second scanning pulse of the last stage falls before the adjustment section, the second scanner During the line sequential scanning, the second scanning pulse having the same pulse width can always be sequentially output regardless of the presence of the adjustment section.

好ましくは、前記クロック信号は、位相合わせのためブランキング期間に挿入される調整区間が最小の一水平期間に設定されている。 Preferably, the clock signal is set to one horizontal period with a minimum adjustment interval inserted in the blanking period for phase alignment.

本発明によれば画素回路はドライブトランジスタ周りに閾電圧キャンセル回路を付加している。閾電圧キャンセル回路は、電気光学素子の電流駆動に先立ってドライブトランジスタの閾電圧を検知しあらかじめその影響をキャンセルする為に必要な電位を保持容量に保持させて、ドライブトランジスタのゲートに印加している。これにより、ドライブトランジスタの閾電圧が経時的に変化しても、電気光学素子を安定的に駆動可能である。一方、周辺駆動部側は、第1スキャナが、クロック信号に応じて第1スタートパルスを順次転送することで第1走査線の線順次走査を行い、段単位で各画素を選択する。また、第2スキャナが、同じくクロック信号に応じて第2スタートパルスを順次転送することで第2走査線の線順次走査を行い、段単位で各画素の閾電圧キャンセル回路を駆動する。ここで、クロック信号はその周期が一水平期間の倍に設定されている一方、画素アレイ部は奇数本の走査線に対応して奇数段の画素からなるため、先のフィールドと次のフィールドとの間でクロック信号の位相を合わせる必要があり、両フィールド間のブランキング期間でクロック信号に位相合わせの調整区間が挿入されている。これに対し第2スキャナは、第2スタートパルスの幅及び入力タイミングを適切に設定して、先頭段の第2走査パルスが調整区間の後に立ち上がり、最終段の第2走査パルスが調整区間の前に立ち下がる様にし、以って第2スキャナは、線順次走査中調整区間の存在にかかわらず、常に同じパルス幅の第2走査パルスを逐次出力可能である。一方、閾電圧キャンセル回路の検知トランジスタは、第2走査線から送られた第2走査パルスの幅に応じて動作しドライブトランジスタの閾電圧を検知する。この第2走査パルスの幅は上述のようにブランキング期間に挿入された調整区間の影響を受けることなく常に一定に維持されるため、ドライブトランジスタの閾電圧の検知が画素アレイ部の全体にわたって安定化し、ムラのない均一な画質を得ることができる。 According to the present invention, the pixel circuit adds a threshold voltage cancel circuit around the drive transistor. The threshold voltage cancel circuit detects the threshold voltage of the drive transistor prior to the current drive of the electro-optic element, holds the potential necessary for canceling the influence in advance in the holding capacitor, and applies it to the gate of the drive transistor. Yes. Thereby, even if the threshold voltage of the drive transistor changes with time, the electro-optical element can be stably driven. On the other hand, on the peripheral driver side, the first scanner sequentially transfers the first start pulse according to the clock signal to perform line sequential scanning of the first scanning line, and selects each pixel in units of stages. Similarly, the second scanner sequentially transfers the second start pulse according to the clock signal to perform line sequential scanning of the second scanning line, and drives the threshold voltage cancel circuit of each pixel in units of stages. Here, while the period of the clock signal is set to be twice as long as one horizontal period, the pixel array section is composed of an odd number of pixels corresponding to an odd number of scanning lines. The phase of the clock signal needs to be matched between the two, and a phase adjustment adjustment section is inserted into the clock signal during the blanking period between both fields. On the other hand, the second scanner sets the width and input timing of the second start pulse appropriately, the second scanning pulse in the first stage rises after the adjustment period, and the second scanning pulse in the last stage precedes the adjustment period. Thus, the second scanner can always sequentially output the second scanning pulse having the same pulse width regardless of the presence of the adjustment interval during line sequential scanning. On the other hand, the detection transistor of the threshold voltage cancel circuit operates according to the width of the second scan pulse sent from the second scan line, and detects the threshold voltage of the drive transistor. Since the width of the second scan pulse is always kept constant without being affected by the adjustment interval inserted in the blanking period as described above, the detection of the threshold voltage of the drive transistor is stable over the entire pixel array section. And uniform image quality without unevenness can be obtained.

以下図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は、本発明にかかる表示装置に内蔵される画素回路の構成を表している。本画素回路は閾電圧キャンセル機能を備えている。加えて、電気光学素子の特性変動に対する補償機能であるブートストラップ機能も備えている。本画素回路101は、nチャネルTFT111〜TFT116、キャパシタC111、C112、有機EL素子(OLED:電気光学素子)からなる発光素子117、およびノードND111〜ND114を有する。また、図1において、DTL101は信号線を、WSL101は第一走査線を、DSL101は駆動線をそれぞれ示している。又、AZL101は、第2走査線を表し、BSL101はブートストラップ用の駆動線を表している。これらの構成要素のうち、TFT111が駆動用電界効果トランジスタ(ドライブトランジスタ)を構成し、TFT115がサンプリングトランジスタを構成し、TFT113が閾電圧検知トランジスタを構成し、キャパシタC111が保持容量素子を構成している。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of a pixel circuit incorporated in a display device according to the present invention. This pixel circuit has a threshold voltage canceling function. In addition, a bootstrap function that is a compensation function for the characteristic variation of the electro-optic element is also provided. The pixel circuit 101 includes n-channel TFTs 111 to TFT 116, capacitors C 111 and C 112, a light emitting element 117 including an organic EL element (OLED: electro-optical element), and nodes ND 111 to ND 114. In FIG. 1, DTL 101 indicates a signal line, WSL 101 indicates a first scanning line, and DSL 101 indicates a drive line. AZL101 represents a second scanning line, and BSL101 represents a bootstrap drive line. Among these components, the TFT 111 constitutes a driving field effect transistor (drive transistor), the TFT 115 constitutes a sampling transistor, the TFT 113 constitutes a threshold voltage detection transistor, and the capacitor C111 constitutes a storage capacitor element. Yes.

画素回路101において、TFT111のソースとカソード電位Vcatとの間に発光素子(OLED)117が接続されている。具体的には、発光素子117のアノードがTFT111のソースに接続され、カソード側がカソード電位Vcatに接続されている。発光素子117のアノードとTFT111のソースとの接続点によりノードND111が構成されている。TFT111のソースがTFT114のドレインおよびキャパシタC111の第1電極に接続され、TFT111のゲートがノードND112に接続されている。TFTll4のソースが固定電位(本実施形態では接地電位Vss)に接続され、TFT114のゲートが駆動線BSL101に接続されている。また、キャパシタC111の第2電極がノードND112に接続されている。信号線DTL101とノードND114とにサンプリング用TFT115のソース・ドレインがそれぞれ接続されている。そして、TFT115のゲートが走査線WSL101に接続されている。 In the pixel circuit 101, a light emitting element (OLED) 117 is connected between the source of the TFT 111 and the cathode potential Vcat. Specifically, the anode of the light emitting element 117 is connected to the source of the TFT 111, and the cathode side is connected to the cathode potential Vcat. A node ND 111 is configured by a connection point between the anode of the light emitting element 117 and the source of the TFT 111. The source of the TFT 111 is connected to the drain of the TFT 114 and the first electrode of the capacitor C111, and the gate of the TFT 111 is connected to the node ND112. The source of the TFT ll4 is connected to a fixed potential (ground potential Vss in this embodiment), and the gate of the TFT 114 is connected to the drive line BSL101. The second electrode of the capacitor C111 is connected to the node ND112. The source and drain of the sampling TFT 115 are connected to the signal line DTL101 and the node ND114, respectively. The gate of the TFT 115 is connected to the scanning line WSL101.

このように、本実施形態に係る画素回路101は、ドライブトランジスタとしてのTFT111のゲート・ソース間にキャパシタC111が接続され、TFT111のソース電位をスイッチトランジスタとしてのTFT114を介して接地電位Vssに接続するよう構成されている。特にキャパシタC111とTFT114とノードND111とでブートストラップ回路を構成している。ブートストラップ回路は、電気光学素子117の特性変動に対する補償機能を奏する。 Thus, in the pixel circuit 101 according to the present embodiment, the capacitor C111 is connected between the gate and the source of the TFT 111 as the drive transistor, and the source potential of the TFT 111 is connected to the ground potential Vss through the TFT 114 as the switch transistor. It is configured as follows. In particular, the capacitor C111, the TFT 114, and the node ND111 constitute a bootstrap circuit. The bootstrap circuit has a compensation function for the characteristic variation of the electro-optic element 117.

本画素回路は、ブートストラップ回路に加えて閾電圧キャンセル回路を含んでいる。閾電圧キャンセル回路は、基本的にドライブトランジスタ111、スイッチングトランジスタ112、検知トランジスタ113及び保持容量C111とで構成されている。これらに加え本画素回路は結合容量C112及びスイッチングトランジスタ116を含んでいる。検知トランジスタ113のソース/ドレインは、ドライブトランジスタ111のゲートとドレインとの間に接続されている。又スイッチングトランジスタ116のドレインはサンプリングトランジスタ115のドレインに接続され、ソースはオフセット電圧Vofsが供給されている。結合容量C112はサンプリングトランジスタ115側のノードND114とドライブトランジスタ側のノードND112との間に介在している。検知トランジスタ113及びスイッチングトランジスタ116のゲートには閾電圧(Vth)キャンセル用の走査線AZL101が接続されている。 The pixel circuit includes a threshold voltage cancel circuit in addition to the bootstrap circuit. The threshold voltage cancel circuit basically includes a drive transistor 111, a switching transistor 112, a detection transistor 113, and a storage capacitor C111. In addition to these, the pixel circuit includes a coupling capacitor C112 and a switching transistor. The source / drain of the detection transistor 113 is connected between the gate and drain of the drive transistor 111. The drain of the switching transistor 116 is connected to the drain of the sampling transistor 115, and the source is supplied with the offset voltage Vofs. The coupling capacitor C112 is interposed between the node ND114 on the sampling transistor 115 side and the node ND112 on the drive transistor side. A scanning line AZL 101 for canceling a threshold voltage (Vth) is connected to the gates of the detection transistor 113 and the switching transistor 116.

図2は、図1に示した画素回路の動作説明に供するタイミングチャートである。この画素回路は1フィールドの間で、Vth補正、信号書込、ブートストラップ動作を順に行なう。Vth補正と信号書込は1フィールドの内非発光期間に行なわれ、ブートストラップ動作は発光期間の先頭で行なわれる。このタイミングチャートは、第1走査線WSL101に印加される第1走査パルスws、第2走査線AZL101に印加される第2走査パルスaz、駆動線DSL101に印加される駆動パルスds及び他の駆動線BSL101に印加される他の駆動パルスbsの時間的な関係を表している。発光期間T1では、駆動パルスdsのみオン(ハイレベル)で、残りのパルスws,bs,azはオフ(ローレベル)となっている。非発光期間に移ると、最初の期間T2でパルスbs及びazが立ち上がって、閾値キャンセルの準備動作を行なう。続いて閾値キャンセル期間T3で、パルスdsが立ち下がり、閾値キャンセル動作を実行する。即ち、ドライブトランジスタのVthを検知し且つ検知したVthを保持容量に保持する。この後書き込み期間T4に進むと、走査パルスwsがオンし、映像信号Vinを保持容量にサンプリング(書き込み)する。そして、パルスbsが立ち下がった後、次の発光期間T5に入る。 FIG. 2 is a timing chart for explaining the operation of the pixel circuit shown in FIG. This pixel circuit sequentially performs Vth correction, signal writing, and bootstrap operation during one field. Vth correction and signal writing are performed during the non-light emission period of one field, and the bootstrap operation is performed at the beginning of the light emission period. This timing chart shows a first scanning pulse ws applied to the first scanning line WSL101, a second scanning pulse az applied to the second scanning line AZL101, a driving pulse ds applied to the driving line DSL101, and other driving lines. The time relationship of the other drive pulse bs applied to BSL101 is represented. In the light emission period T1, only the drive pulse ds is on (high level), and the remaining pulses ws, bs, and az are off (low level). In the non-light emitting period, the pulses bs and az rise in the first period T2, and a threshold cancel preparation operation is performed. Subsequently, in the threshold cancellation period T3, the pulse ds falls and the threshold cancellation operation is executed. That is, Vth of the drive transistor is detected and the detected Vth is held in the storage capacitor. Thereafter, when the period proceeds to the writing period T4, the scanning pulse ws is turned on, and the video signal Vin is sampled (written) in the storage capacitor. Then, after the pulse bs falls, the next light emission period T5 starts.

発光期間T5では、駆動パルスdsがハイレベルに立ち上がり発光を開始するとともにブートストラップ動作が行なわれる。これにより、ドライブトランジスタ111のゲートに印加される信号電位Vinは発光素子117のI−D特性に応じてVxだけ上昇する。この様にして画素回路101は、ドライブトランジスタ111のゲートに印加する正味の信号成分Vinに加え、Vth及びVxを上乗せしている。Vth及びVxが変化しても常にその影響をキャンセルできるので、発光素子117を安定に駆動可能である。 In the light emission period T5, the drive pulse ds rises to a high level and starts light emission, and a bootstrap operation is performed. As a result, the signal potential Vin applied to the gate of the drive transistor 111 rises by Vx according to the ID characteristic of the light emitting element 117. In this way, the pixel circuit 101 adds Vth and Vx in addition to the net signal component Vin applied to the gate of the drive transistor 111. Even if Vth and Vx change, the influence can always be canceled, so that the light emitting element 117 can be driven stably.

以下図3〜図5を参照して、図1に示した画素回路101を含む表示装置の構成及び動作を具体的且つ詳細に説明する。まず、EL素子の発光期間T1では、図3の(A)に示すように、トランジスタ112のみがオン状態である。この時ドライブトランジスタ111は飽和領域で動作するように設計されており、EL素子に流れる電流Idsは前述の式(1)で示される値をとる。 Hereinafter, the configuration and operation of the display device including the pixel circuit 101 shown in FIG. 1 will be described specifically and in detail with reference to FIGS. First, in the light emitting period T1 of the EL element, as shown in FIG. 3A, only the transistor 112 is on. At this time, the drive transistor 111 is designed to operate in a saturation region, and the current Ids flowing through the EL element takes a value represented by the above-described equation (1).

続いて非発光期間に進むと準備期間T2で、図3の(B)に示すように、トランジスタ114、トランジスタ116、検知トランジスタ113をオンすることで、EL素子にかかる電圧をVssとし、ドライブトランジスタ111のゲートを電源電圧Vccとする。この際、VssがEL素子のカソード電圧VcatとEL素子の閾値電圧Vthelの和よりも小さいので、EL素子は非発光となる。即ち、Vss≦Vcat+Vthelである。トランジスタ114をオンしても保持容量C111に保持されている電圧すなわちドライブトランジスタ111のゲート・ソース間電圧Vgsは変わらないため、ドレイン電流Idsは図示のように流れる。 Subsequently, in the non-light emitting period, in the preparation period T2, as shown in FIG. 3B, by turning on the transistor 114, the transistor 116, and the detection transistor 113, the voltage applied to the EL element becomes Vss, and the drive transistor The gate of 111 is set to the power supply voltage Vcc. At this time, since the Vss is smaller than the sum of the cathode voltage Vcat of the EL element and the threshold voltage Vthel of the EL element, the EL element does not emit light. That is, Vss ≦ Vcat + Vthel. Even when the transistor 114 is turned on, the voltage held in the holding capacitor C111, that is, the gate-source voltage Vgs of the drive transistor 111 does not change, so that the drain current Ids flows as shown in the figure.

次に閾値キャンセル期間T3に進むと、図4の(A)に示すようにトランジスタ112をオフする。ドライブトランジスタ111のゲートとドレインは検知トランジスタ113を介して接続されているのでドライブトランジスタ111は飽和領域で動作する。また、ドライブトランジスタ111のゲートには容量C111、C112が並列に接続されているためゲート・ドレイン間電圧Vgdは時間と共に図4の(B)に示すように減少してゆく。一定時間経過後ドライブトランジスタ111のゲート・ソース間電圧Vgsはドライブトランジスタ111の閾値電圧(Vth)となる。この時、キャパシタC112にはVofs−Vthが、キャパシタC111にはVthがそれぞれ充電される。この時トランジスタ116及び検知トランジスタ113をオフすることでそれぞれの容量C111及びC112に前述の電位差を保持させる。 Next, in the threshold cancellation period T3, the transistor 112 is turned off as shown in FIG. Since the gate and drain of the drive transistor 111 are connected via the detection transistor 113, the drive transistor 111 operates in the saturation region. Further, since the capacitors C111 and C112 are connected in parallel to the gate of the drive transistor 111, the gate-drain voltage Vgd decreases with time as shown in FIG. 4B. After a predetermined time has elapsed, the gate-source voltage Vgs of the drive transistor 111 becomes the threshold voltage (Vth) of the drive transistor 111. At this time, Vofs−Vth is charged in the capacitor C112, and Vth is charged in the capacitor C111. At this time, by turning off the transistor 116 and the detection transistor 113, the above-described potential difference is held in the respective capacitors C111 and C112.

さらに書き込み期間T4に進むと、図5の(A)に示すように、サンプリングトランジスタ115をオンしてノードND114に入力電圧Vinを入力し、ノードND114の電圧変化量をドライブトランジスタ111のゲートにカップリングさせる。この時ドライブトランジスタ111のゲート電圧はVthという値であり、カップリング量ΔVはキャパシタC111の容量C1、キャパシタC112の容量C2及びドライブトランジスタ111の寄生容量C3によって以下の式(2)のように決定される。C1及びC2をC3に比べて十分大きくとればゲートへのカップリング量ΔVはC1、C2によってのみ決まる。
ΔV=(C2/C1+C2+C3)・(Vin−Vofs)‥‥‥(2)
When the writing period T4 further proceeds, as shown in FIG. 5A, the sampling transistor 115 is turned on, the input voltage Vin is input to the node ND114, and the voltage change amount at the node ND114 is coupled to the gate of the drive transistor 111. Ring. At this time, the gate voltage of the drive transistor 111 is a value Vth, and the coupling amount ΔV is determined by the capacitance C1 of the capacitor C111, the capacitance C2 of the capacitor C112, and the parasitic capacitance C3 of the drive transistor 111 as shown in the following equation (2). Is done. If C1 and C2 are sufficiently larger than C3, the coupling amount ΔV to the gate is determined only by C1 and C2.
ΔV = (C2 / C1 + C2 + C3) · (Vin−Vofs) (2)

続いて図5の(B)に示すように、書き込みが終了した後トランジスタ114をオフしトランジスタ112をオンとしてドライブトランジスタ111のドレイン電圧を電源電圧Vccまで上昇させる。ドライブトランジスタ111のゲート・ソース間電圧Vgsは一定であるのでドライブトランジスタ111は一定電流IdsをEL素子117に流し、図中ノードND111の電位はEL素子117にIdsという電流が流れる電圧Vxまで上昇し、EL素子117は発光する。本回路においてもEL素子は発光時間が長くなるとそのI−V特性は変化してしまう。そのため図中ノードND111の電位Vxも変化する。しかしながら、ドライブトランジスタ111のゲート・ソース間電圧Vgsはブートストラップ機能により一定値に保たれているのでEL素子に流れる電流は変化しない。即ち、保持容量C111の一端(ノードND111)がVxだけ上昇すれば、その分保持容量C111の他端(ノードND112)も自動的にVxだけ上昇するので、ドライブトランジスタ111のVgsは常に一定に保たれる。よってEL素子のI−V特性が劣化しても、一定電流Idsが常に流れ続け、EL素子の輝度が変化することはない。 Subsequently, as shown in FIG. 5B, after the writing is completed, the transistor 114 is turned off, the transistor 112 is turned on, and the drain voltage of the drive transistor 111 is raised to the power supply voltage Vcc. Since the gate-source voltage Vgs of the drive transistor 111 is constant, the drive transistor 111 passes a constant current Ids to the EL element 117, and the potential of the node ND111 in the figure rises to a voltage Vx at which a current Ids flows through the EL element 117. The EL element 117 emits light. Also in this circuit, the EL characteristic of the EL element changes as the light emission time becomes longer. Therefore, the potential Vx of the node ND111 also changes in the drawing. However, since the gate-source voltage Vgs of the drive transistor 111 is maintained at a constant value by the bootstrap function, the current flowing through the EL element does not change. That is, if one end (node ND111) of the storage capacitor C111 increases by Vx, the other end (node ND112) of the storage capacitor C111 automatically increases by Vx accordingly, so that Vgs of the drive transistor 111 is always kept constant. Be drunk. Therefore, even if the IV characteristic of the EL element deteriorates, the constant current Ids always flows and the luminance of the EL element does not change.

図6は、図1に示した画素回路101をマトリクス状に配列した表示装置を示す模式的なブロック図である。図6に示すように、この表示装置100は、画素回路(PXLC)101がm×nのマトリクス状に配列された画素アレイ部102と周辺駆動部とで構成されている。周辺駆動部は、水平セレクタ(HSEL)103、ライトスキャナ(WSCN)104、ドライブスキャナ(DSCN)105、他のドライブスキャナ(BSCN)106及びオートゼロスキャナ(AZRD)107を含む。これらに加えて、水平セレクタ103により選択され輝度情報に応じた映像信号が供給される信号線DTL101〜DT110n、ライトスキャナ(第1スキャナ)104により選択駆動される第1走査線WSL101〜WSL10m、ドライブスキャナ105により選択駆動される駆動線DSL101〜DSL10m、他のドライブスキャナ106により選択駆動される駆動線BSL101〜BSL10m、およびオートゼロスキャナ(第2スキャナ)107により選択駆動される第2走査線AZL101〜AZL10mを有する。ライトスキャナ(WSCN)104はシフトレジスタを含み、外部から入力されたクロック信号wsckに応じて動作し、同じく外部から入力されたスタートパルスwsspを順次転送して、順次走査パルスを第1走査線WSL101〜WSL10mに印加してその線順次走査を行う。ドライブスキャナ(DSCN)105もシフトレジスタを含み、外部から入力されたクロック信号dsckに応じて動作し、同じく外部から入力されたスタートパルスdsspを順次転送して、順次第1走査パルスを第1走査線DSL101〜DSL10mに印加してその線順次走査を行う。他のドライブスキャナ(BSCN)106もシフトレジスタを含み、外部から入力されたクロック信号bsckに応じて動作し、同じく外部から入力されたスタートパルスbsspを順次転送して、順次走査パルスを走査線BSL101〜DSL10mに印加してその線順次走査を行う。オートゼロスキャナ(AZRD)107もシフトレジスタを含み、外部から入力されたクロック信号azckに応じて動作し、同じく外部から入力されたスタートパルスazspを順次転送して、順次第2走査パルスを第2走査線AZL101〜AZL10mに印加してその線順次走査を行う。なお、画素アレイ部102において、画素回路101はm×nのマトリクス状に配列されるが、図6においては図面の簡単化のために2(=m)×3(=n)のマトリクス状に配列した例を示している。 FIG. 6 is a schematic block diagram showing a display device in which the pixel circuits 101 shown in FIG. 1 are arranged in a matrix. As shown in FIG. 6, the display device 100 includes a pixel array unit 102 in which pixel circuits (PXLC) 101 are arranged in an m × n matrix and a peripheral drive unit. The peripheral driving unit includes a horizontal selector (HSEL) 103, a write scanner (WSCN) 104, a drive scanner (DSCN) 105, another drive scanner (BSCN) 106, and an auto zero scanner (AZRD) 107. In addition to these, signal lines DTL101 to DT110n selected by the horizontal selector 103 and supplied with video signals according to luminance information, first scanning lines WSL101 to WSL10m selectively driven by the write scanner (first scanner) 104, drive Drive lines DSL101 to DSL10m selectively driven by the scanner 105, drive lines BSL101 to BSL10m selectively driven by the other drive scanner 106, and second scan lines AZL101 to AZL10m selectively driven by the auto zero scanner (second scanner) 107. Have The write scanner (WSCN) 104 includes a shift register, operates in response to an externally input clock signal wsck, and similarly sequentially transfers start pulses wssp input from the outside, and sequentially transmits the scan pulses to the first scan line WSL101. Applying to ~ WSL10m, the line sequential scanning is performed. The drive scanner (DSCN) 105 also includes a shift register, operates in response to an externally input clock signal dsck, and similarly sequentially transfers start pulses dssp input from the outside, and sequentially performs the first scan pulse to the first scan. The line sequential scanning is performed by applying to the lines DSL101 to DSL10m. The other drive scanner (BSCN) 106 also includes a shift register, operates in response to an externally input clock signal bsck, and sequentially transfers start pulses bssp input from the outside, and sequentially transmits the scan pulses to the scan line BSL101. Apply to DSL10m to perform line sequential scanning. The auto-zero scanner (AZRD) 107 also includes a shift register, operates in accordance with an externally input clock signal azck, sequentially transfers start pulses azsp input from the outside, and sequentially scans the second scan pulse to the second scan. The line sequential scanning is performed by applying to the lines AZL101 to AZL10m. In the pixel array unit 102, the pixel circuits 101 are arranged in a matrix of m × n. However, in FIG. 6, in order to simplify the drawing, a matrix of 2 (= m) × 3 (= n) is used. An example of arrangement is shown.

図7は、図6に示した表示装置100において、画素アレイ部102に含まれる画素回路101と、周辺駆動部に含まれる各スキャナとの結線関係を示す模式図である。図示するように、この回路は、nチャネルTFT111〜TFT116、キャパシタC111,C112、有機EL素子からなる発光素子117、第1のノードND111、第2のノードND112、第3のノードNDll3、および第4のノードND114を有する。また、図7において、DTL101は信号線を、WSL101は第1走査線を、DSL101,BSL101は駆動線を、AZL101は第2走査線をそれぞれ示している。これらの構成要素のうち、TFT111がドライブトランジスタを構成し、TFT113が検知トランジスタを構成し、TFT115がサンプリングトランジスタを構成し、キャパシタC111が保持容量素子を構成し、キャパシタC112が結合容量素子を構成している。 FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a connection relationship between the pixel circuit 101 included in the pixel array unit 102 and each scanner included in the peripheral driving unit in the display device 100 illustrated in FIG. 6. As shown in the figure, this circuit includes n-channel TFTs 111 to 116, capacitors C111 and C112, a light emitting element 117 composed of an organic EL element, a first node ND111, a second node ND112, a third node NDll3, and a fourth. Node ND114. In FIG. 7, DTL 101 indicates a signal line, WSL 101 indicates a first scanning line, DSL 101 and BSL 101 indicate drive lines, and AZL 101 indicates a second scanning line. Among these components, the TFT 111 constitutes a drive transistor, the TFT 113 constitutes a detection transistor, the TFT 115 constitutes a sampling transistor, the capacitor C111 constitutes a holding capacitor element, and the capacitor C112 constitutes a coupling capacitor element. ing.

画素回路101において、電源電位Vccとカソード電位Vcatとの間に、TFT112、第3のノードND113、ドライブトランジスタとしてのTFT111、第1のノードND111、および発光素子(OLED)117が直列に接続されている。具体的には、発光素子117のカソードがカソード電位Vcatに接続され、アノードが第1のノードND111に接続され、TFT111のソースが第1のノードND111に接続され、TFT111のドレインが第3のノードND113に接続され、第3のノードND113と電源電位Vccとの間にTFT112のソース・ドレインが接続されている。そして、TFT111のゲートが第2のノードND112に接続され、TFT112のゲートが駆動線DSLl11に接続されている。第2のノードND112と第3のノードND113との間にTFT113のソース・ドレインが接続され、TFT113のゲートが第2走査線AZL101に接続されている。TFT114のドレインが第1のノードND111およびキャパシタC111の第1電極に接続され、ソースが固定電位(本実施形態では接地電位Vss)に接続され、TFT114のゲートが駆動線BSL101に接続されている。また、キャパシタC111の第2電極が第2のノードND112に接続されている。キャパシタC112の第1電極が第2のノードND112に接続され、第2電極が第4のノードND114に接続されている。信号線DTL101と第4のノードND114にTFT115のソース・ドレインがそれぞれ接続されている。そして、TFT115のゲートが走査線WSL101に接続されている。さらに、第4のノードND114と所定電位Vofsとの間にTFT116のソース・ドレインがそれぞれ接続されている。そして、TFT116のゲートが第2走査線AZL101に接続されている。   In the pixel circuit 101, a TFT 112, a third node ND113, a TFT 111 as a drive transistor, a first node ND111, and a light emitting element (OLED) 117 are connected in series between a power supply potential Vcc and a cathode potential Vcat. Yes. Specifically, the cathode of the light emitting element 117 is connected to the cathode potential Vcat, the anode is connected to the first node ND111, the source of the TFT 111 is connected to the first node ND111, and the drain of the TFT 111 is the third node. The source / drain of the TFT 112 is connected between the third node ND113 and the power supply potential Vcc. The gate of the TFT 111 is connected to the second node ND112, and the gate of the TFT 112 is connected to the drive line DSL111. The source / drain of the TFT 113 is connected between the second node ND112 and the third node ND113, and the gate of the TFT 113 is connected to the second scanning line AZL101. The drain of the TFT 114 is connected to the first node ND111 and the first electrode of the capacitor C111, the source is connected to a fixed potential (ground potential Vss in this embodiment), and the gate of the TFT 114 is connected to the drive line BSL101. The second electrode of the capacitor C111 is connected to the second node ND112. The first electrode of the capacitor C112 is connected to the second node ND112, and the second electrode is connected to the fourth node ND114. The source and drain of the TFT 115 are connected to the signal line DTL101 and the fourth node ND114, respectively. The gate of the TFT 115 is connected to the scanning line WSL101. Further, the source and drain of the TFT 116 are connected between the fourth node ND114 and the predetermined potential Vofs. The gate of the TFT 116 is connected to the second scanning line AZL101.

図6及び図7に示したように、実際の表示装置は画素アレイ部を構成するパネルのほかに周辺駆動部を備えている。この周辺駆動部は各種のスキャナを含んでいる。どのスキャナも基本的にシフトレジスタで構成されており、クロック信号ckに応じて動作し、スタートパルスspを順次転送して、駆動線や走査線の線順次走査に必要な走査パルスを生成する。例えば、ライトスキャナWSCNに着目すると、クロック信号wsck、スタートパルスwssp及び走査パルスwsは図8のタイミングチャートに示すようになる。図8に示すように画素の各段に対応した走査パルスwsは、ライトスキャナに入力されるスタートパルスwssp及びクロック信号wsckを用いて生成され、各段のゲートラインに出力される。入力されるクロック信号wsckについては、図8のようにパルス1つの幅(1ck)が1Hとなっているものが一般的である。即ち、クロック信号wsckの周期は2Hである。これは、他のクロック信号azck、dsck及びbsckについても同様である。 As shown in FIGS. 6 and 7, the actual display device includes a peripheral drive unit in addition to the panel constituting the pixel array unit. The peripheral driving unit includes various scanners. Each scanner basically includes a shift register, operates in response to a clock signal ck, sequentially transfers start pulses sp, and generates scan pulses necessary for line-sequential scanning of drive lines and scan lines. For example, paying attention to the write scanner WSCN, the clock signal wsck, the start pulse wssp, and the scan pulse ws are as shown in the timing chart of FIG. As shown in FIG. 8, the scanning pulse ws corresponding to each stage of the pixel is generated using the start pulse wssp and the clock signal wsck inputted to the write scanner, and outputted to the gate line of each stage. As for the input clock signal wsck, generally, the width of one pulse (1ck) is 1H as shown in FIG. That is, the cycle of the clock signal wsck is 2H. The same applies to the other clock signals azck, dsck, and bsck.

図9は、一般的なオートゼロスキャナAZRDに入力されるクロック信号azck及びスタートパルスazspと、オートゼロスキャナから出力される走査パルスazを示すタイミングチャートである。ところで、1Fが1Hの奇数倍、つまり1F=奇数Hとなっている時(即ち走査線が奇数本で構成されている場合)、外部から入力するクロック信号azckは先のフィールドと後のフィールドとの間で連続性を保つためにブランキング期間中図9のように、周期が不連続になってしまう。ここでVth検知期間が比較的長い場合、スタートパルスazspは長く設定することになるが、ブランキング期間に存在するazckの周期が長くなる部分(調整区間)以前にazの1段目の立ち上がりがきてしまう。これによって、入力されるスタートパルスazspに対してゲートラインに出力される走査パルスazの期間が各段によって変化してしまい、図4(B)に示した様に走査パルスazの幅によってゲート電位が変化する。即ち閾電圧の検知レベルが各段の間で違いが生じ、閾電圧キャンセル動作にばらつきが生じる。図示の例では、1段〜3段に印加される走査パルスazが4段以降に印加される走査パルスazに比べ長くなっている。この現象によりVthの検知にばらつきが生じ、パネルのラスター表示時において均一な画像が得られないという問題が生じてしまう。 FIG. 9 is a timing chart showing a clock signal azck and a start pulse azsp input to a general auto zero scanner AZRD, and a scan pulse az output from the auto zero scanner. By the way, when 1F is an odd multiple of 1H, that is, 1F = odd number H (that is, when the scanning lines are composed of an odd number), the clock signal azck input from the outside is the first field and the second field. In order to maintain continuity between the periods, the period becomes discontinuous as shown in FIG. 9 during the blanking period. Here, when the Vth detection period is relatively long, the start pulse azsp is set to be long, but the rise of the first stage of az occurs before the part (adjustment interval) where the period of azck existing in the blanking period becomes long. End up. As a result, the period of the scan pulse az output to the gate line with respect to the input start pulse azsp varies depending on each stage, and the gate potential depends on the width of the scan pulse az as shown in FIG. Changes. That is, the threshold voltage detection level varies between the stages, and the threshold voltage canceling operation varies. In the illustrated example, the scanning pulse az applied to the first to third stages is longer than the scanning pulse az applied to the fourth and subsequent stages. This phenomenon causes variations in the detection of Vth, resulting in a problem that a uniform image cannot be obtained during raster display of the panel.

本発明は以上の問題点に対処するため、図10に示すように、1ck=1H(即ちクロック信号azckの周期=2H)かつ1F=奇数Hの場合において、ブランキング期間内のクロック信号azckが長くなる調整期間を最小単位つまり1H分加えて2Hとし、クロック信号azckが長くなる部分以降に走査パルスazの1段目の立ち上がりがくるようにする。また、立下りにおいてもクロック信号azckが長くなる調整部分以前に画素最終段の走査パルスazの立下りがくるようにする。スタートパルスazspの幅及び入力タイミングを以上のように設定することで各段の画素に入力される走査パルスazの長さを一定にすることができ、結果として均一な画質を得ることができる。また他のクロック信号wsck、dsck及びbsckと同じくazckも1ck=1Hとすることができ、全てのクロック信号を共通化可能である。これにより、スキャナの少面積化が実現できる。本発明は1F=奇数Hであり且つVthキャンセルの機能をもつ画素回路全てに適用できるものである。 In order to deal with the above problems, the present invention, as shown in FIG. 10, when 1ck = 1H (that is, the period of the clock signal azck = 2H) and 1F = odd number H, the clock signal azck in the blanking period is The lengthening adjustment period is set to 2H by adding the minimum unit, that is, 1H, so that the first stage of the scanning pulse az rises after the portion where the clock signal azck becomes long. Also, at the falling edge, the falling edge of the scanning pulse az at the pixel final stage comes before the adjustment portion where the clock signal azck becomes longer. By setting the width and input timing of the start pulse azsp as described above, the length of the scan pulse az input to the pixels at each stage can be made constant, and as a result, uniform image quality can be obtained. Similarly to other clock signals wsck, dsck and bsck, azck can also be set to 1ck = 1H, and all clock signals can be shared. As a result, the area of the scanner can be reduced. The present invention is applicable to all pixel circuits in which 1F = odd number H and Vth cancellation function.

この様に図7に示した本発明にかかる表示装置は基本的に、画素アレイ部102とこれを駆動する周辺駆動部とを含む。画素アレイ部102は、複数の走査線と信号線とが交差する部分に夫々配された画素101からなり、各走査線に対応して画素101の各段が構成されている(図6参照)。周辺駆動部は、スタートパルスsp及びクロック信号ckに応答し画素アレイ部102の画素101を段単位で線順次走査して一水平期間(1H)毎画素101の各段に映像信号を書き込み、この線順次走査をフィールド毎に繰り返す。各画素101は、電気光学素子117と、保持容量C111と、サンプリングトランジスタ115と、ドライブトランジスタ111と、閾電圧キャンセル回路とを含む。サンプリングトランジスタ115は第1走査線WSL101から送られてくる第1走査パルスによって選択された時動作し、信号線DTL101から映像信号をサンプリングして保持容量C111に保持する。ドライブトランジスタ111は、保持容量C111に保持された信号電位に応じて電気光学素子117を電流駆動する。閾電圧キャンセル回路(図1参照)は、電気光学素子117の電流駆動に先だち第2走査線AZL101から送られてくる第2走査パルスによって選択された期間に動作し、ドライブトランジスタ111の閾電圧を検知してあらかじめその影響をキャンセルする為に必要な電位を保持容量C111に保持させておくものである。周辺駆動部は、第1スキャナ104と、セレクタ103と、第2スキャナ107とを含む。第1スキャナ104は、クロック信号wsckに応じて第1スタートパルスwsspを順次転送することで第1走査線WSL101の線順次走査を行い、一水平期間毎に第1走査パルスを逐次各第1走査線WSLに出力して段単位で各画素101を選択する。セレクタ103はこの線順次走査に同期して各信号線DTLに映像信号を供給し、以って選択された画素101の段に映像信号を書き込む。第2スキャナ107は、クロック信号azckに応じて第2スタートパルスazspを順次転送することで第2走査線AZLの線順次走査を行い、一水平期間毎に第2走査パルスを逐次各第2走査線AZLに出力して段単位で各画素101の閾電圧キャンセル回路を駆動する。 As described above, the display device according to the present invention shown in FIG. 7 basically includes the pixel array unit 102 and the peripheral driving unit that drives the pixel array unit 102. The pixel array unit 102 includes pixels 101 arranged at portions where a plurality of scanning lines and signal lines intersect, and each stage of the pixels 101 is configured corresponding to each scanning line (see FIG. 6). . In response to the start pulse sp and the clock signal ck, the peripheral driver scans the pixels 101 of the pixel array unit 102 line by line in units of stages, and writes a video signal to each stage of the pixels 101 every horizontal period (1H). Line sequential scanning is repeated for each field. Each pixel 101 includes an electro-optic element 117, a storage capacitor C111, a sampling transistor 115, a drive transistor 111, and a threshold voltage cancel circuit. The sampling transistor 115 operates when selected by the first scanning pulse sent from the first scanning line WSL101, samples the video signal from the signal line DTL101, and holds it in the holding capacitor C111. The drive transistor 111 current-drives the electro-optic element 117 according to the signal potential held in the holding capacitor C111. The threshold voltage cancel circuit (see FIG. 1) operates during a period selected by the second scanning pulse sent from the second scanning line AZL 101 prior to the current driving of the electro-optic element 117, and sets the threshold voltage of the drive transistor 111. A potential necessary for detecting and canceling the influence in advance is held in the holding capacitor C111. The peripheral drive unit includes a first scanner 104, a selector 103, and a second scanner 107. The first scanner 104 performs line sequential scanning of the first scanning line WSL101 by sequentially transferring the first start pulse wssp according to the clock signal wsck, and sequentially performs the first scanning pulse for each horizontal period. Each pixel 101 is selected in units of stages by outputting to the line WSL. The selector 103 supplies a video signal to each signal line DTL in synchronization with the line sequential scanning, and writes the video signal to the stage of the selected pixel 101. The second scanner 107 performs line sequential scanning of the second scanning line AZL by sequentially transferring the second start pulse azsp according to the clock signal azck, and sequentially performs the second scanning pulse at each second scanning every horizontal period. The threshold voltage cancel circuit of each pixel 101 is driven in units of stages by outputting to the line AZL.

ここでクロック信号azckはその周期が一水平期間の倍に設定されている一方、画素アレイ部102は奇数本の走査線AZL101〜AZL10m(m=奇数)に対応して奇数段の画素PXLCからなるため(図6参照)、先のフィールドと次のフィールドとの間でクロック信号azckの位相を合わせる必要があり、両フィールド間のブランキング期間でクロック信号azckに位相合わせの調整区間(図10の例では調整区間は最小の1H、半周期)が挿入されている。第2スキャナAZRDは、第2スタートパルスazspの幅及び入力タイミングを適切に設定して、先頭段の第2走査パルスazが調整区間の後に立ち上がり、最終段の第2走査パルスazが調整区間の前に立ち下がる様にしている。以って第2スキャナAZRDは、線順次走査中調整区間の存在にかかわらず、常に同じパルス幅の第2走査パルスazを逐次出力可能である。一方、閾電圧キャンセル回路は検知トランジスタ113を含んでおり、この検知トランジスタ113は、そのソース/ドレインがドライブトランジスタ111のドレイン/ゲートに接続され、そのゲートが第2走査線AZLに接続しており、検知トランジスタ113は、第2走査線AZLから送られた第2走査パルスazの幅に応じて動作しドライブトランジスタ111の閾電圧を検知する。この第2走査パルスの幅はブランキング期間に挿入された調整区間の影響を受けることなく常に一定に維持されるため、閾電圧の検知が画素アレイ部102の全体にわたって安定化し、ムラのない均一な画質を得ることができる。本発明により1F=奇数Hの時、Vthキャンセル動作を持つ全ての画素回路において、オートゼロスキャナAZRDに入力されるスタートパルスazspの長さを最適に規定することで、1Fが奇数Hの場合においても各画素段に入力されるVth検知用走査パルスazの長さを一定にでき、ひいてはVth検知期間を一定とすることができ、ムラのない均一な画質を得ることができる。又、本発明により1ck=1Hのままオートゼロスキャナを含め全てのスキャナを構成することができるので、スキャナの少面積化が実現できる。 Here, the cycle of the clock signal azck is set to be twice as long as one horizontal period, while the pixel array unit 102 includes odd-numbered pixels PXLC corresponding to odd-numbered scanning lines AZL101 to AZL10m (m = odd number). Therefore (see FIG. 6), it is necessary to match the phase of the clock signal azck between the previous field and the next field, and in the blanking period between both fields, the phase adjustment adjustment section (see FIG. 10). In the example, the adjustment section has a minimum 1H, half cycle) inserted. The second scanner AZRD appropriately sets the width and input timing of the second start pulse azsp, the second scanning pulse az at the leading stage rises after the adjustment period, and the second scanning pulse az at the final stage sets the adjustment period. I'm trying to fall forward. Therefore, the second scanner AZRD can always sequentially output the second scanning pulse az having the same pulse width regardless of the presence of the adjustment interval during line sequential scanning. On the other hand, the threshold voltage cancel circuit includes a detection transistor 113. The detection transistor 113 has its source / drain connected to the drain / gate of the drive transistor 111, and its gate connected to the second scanning line AZL. The detection transistor 113 operates according to the width of the second scan pulse az sent from the second scan line AZL and detects the threshold voltage of the drive transistor 111. Since the width of the second scanning pulse is always maintained constant without being affected by the adjustment interval inserted in the blanking period, the detection of the threshold voltage is stabilized over the entire pixel array unit 102, and there is no unevenness. Image quality can be obtained. According to the present invention, when 1F = odd H, the length of the start pulse azsp input to the auto zero scanner AZRD is optimally defined in all pixel circuits having the Vth cancel operation, even when 1F is odd H. The length of the Vth detection scanning pulse az input to each pixel stage can be made constant, and the Vth detection period can be made constant, so that uniform image quality without unevenness can be obtained. Further, according to the present invention, since all the scanners including the auto zero scanner can be configured with 1 ck = 1H, the area of the scanner can be reduced.

本発明にかかる表示装置の主要部となる画素回路を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the pixel circuit used as the principal part of the display apparatus concerning this invention. 図1に示した画素回路の動作説明に供するタイミングチャートである。2 is a timing chart for explaining the operation of the pixel circuit shown in FIG. 1. 図1に示した画素回路の動作説明に供する模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram for explaining an operation of the pixel circuit shown in FIG. 1. 図1に示した画素回路の動作説明に供する模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram for explaining an operation of the pixel circuit shown in FIG. 1. 図1に示した画素回路の動作説明に供する模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram for explaining an operation of the pixel circuit shown in FIG. 1. 図1に示した画素回路を包含した表示装置の全体構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the whole structure of the display apparatus containing the pixel circuit shown in FIG. 図6に示した表示装置において個々の画素回路と周辺駆動部との結線関係を示す配線図である。FIG. 7 is a wiring diagram illustrating a connection relationship between individual pixel circuits and peripheral driving units in the display device illustrated in FIG. 6. 図7に示した表示装置の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart with which it uses for description of operation | movement of the display apparatus shown in FIG. 図7に示した表示装置の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart with which it uses for description of operation | movement of the display apparatus shown in FIG. 図7に示した表示装置の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart with which it uses for description of operation | movement of the display apparatus shown in FIG. 従来の表示装置の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of the conventional display apparatus. 従来の表示装置に含まれる画素回路の一例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows an example of the pixel circuit contained in the conventional display apparatus. EL素子の特性の経時変化を示すグラフである。It is a graph which shows the time-dependent change of the characteristic of an EL element. 従来の画素回路の他の例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the other example of the conventional pixel circuit. 図14に示した画素回路の動作説明に供するタイミングチャートである。FIG. 15 is a timing chart for explaining the operation of the pixel circuit shown in FIG. 14. FIG. ドライブトランジスタとEL素子の動作点を示すグラフである。It is a graph which shows the operating point of a drive transistor and an EL element.

符号の説明Explanation of symbols

100・・・表示装置、101・・・画素回路、102・・・画素アレイ部、103・・・水平セレクタ、104・・・ライトスキャナ、105・・・ドライブスキャナ、106・・・ドライブスキャナ、107・・・オートゼロスキャナ、111・・・ドライブトランジスタ、112・・・トランジスタ、113・・・検知トランジスタ、114・・・トランジスタ、115・・・サンプリングトランジスタ、116・・・トランジスタ、117・・・発光素子、C111・・・保持容量、C112・・・結合容量 DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Display apparatus, 101 ... Pixel circuit, 102 ... Pixel array part, 103 ... Horizontal selector, 104 ... Write scanner, 105 ... Drive scanner, 106 ... Drive scanner, 107 ... Auto-zero scanner 111 ... Drive transistor 112 ... Transistor 113 ... Detection transistor 114 ... Transistor 115 ... Sampling transistor 116 ... Transistor 117 ... Light emitting element, C111: Retention capacity, C112: Coupling capacity

Claims (7)

画素アレイ部とこれを駆動する周辺駆動部とを含み、
素アレイ部は、複数の走査線と信号線とが交差する部分に夫々配された画素からなり、各走査線に対応して画素の各段が構成されており、
辺駆動部は、スタートパルス及びクロック信号に応答し、画素アレイ部の画素を段単位で線順次走査して一水平期間毎画素の各段に映像信号を書き込み、この線順次走査をフィールド毎に繰り返す表示装置であって、
画素アレイ部は奇数本の走査線に対応して奇数段の画素からなり、
各画素は、電気光学素子と、保持容量と、サンプリングトランジスタと、ドライブトランジスタと、閾電圧キャンセル回路とを含み、
ンプリングトランジスタは第1走査線から送られてくる第1走査パルスによって選択された時動作し、号線から映像信号をサンプリングして持容量に保持し、
ライブトランジスタは、持容量に保持された信号電位に応じて気光学素子を電流駆動し、
電圧キャンセル回路は、気光学素子の電流駆動に先だち第2走査線から送られてくる第2走査パルスによって選択された期間に動作し、ライブトランジスタの閾電圧を検知してあらかじめその影響をキャンセルする為に必要な電位を持容量に保持させておくものであり、
辺駆動部は、第1スキャナと、セレクタと、第2スキャナとを含み、
1スキャナは、第1のクロック信号に応じて第1スタートパルスを順次転送することで第1走査線の線順次走査を行い、一水平期間毎に第1走査パルスを逐次各第1走査線に出力して段単位で各画素を選択し、
レクタは順次走査に同期して各信号線に映像信号を供給し、以て、選択された画素の段に映像信号を書き込み、
2スキャナは、第1のクロック信号と同じ周期の第2のクロック信号に応じて第2スタートパルスを順次転送することで第2走査線の線順次走査を行い、一水平期間毎に第2走査パルスを逐次各第2走査線に出力して段単位で各画素の閾電圧キャンセル回路を駆動し、
第2のクロック信号は、先のフィールドと次のフィールドとの間におけるブランキング期間の一部に位相合せのための調整区間が挿入されており、調整区間を除く通常区間における周期が一水平期間の倍に設定されており
2スキャナは、第2スタートパルスの幅が一水平期間を超える場合に、先頭段の第2走査パルスが調整区間の後に立ち上がり、最終段の第2走査パルスが調整区間の前に立ち下がる様に、第2スタートパルスの幅及び入力タイミングを設定し、て、線順次走査中、調整区間の存在にかかわらず、常に同じパルス幅の第2走査パルスを逐次出力可能である表示装置。
Including a pixel array section and a peripheral driving section for driving the pixel array section,
Picture element array portion consists respective distribution pixel in the portion where the plurality of scanning lines and the signal lines intersect is configured that each stage of the pixels corresponding to each scanning line,
Peripheral driving section in response to a start pulse and a clock signal, image pixels of the element array portion with line-sequential scanning by the stage unit writing a video signal to each stage of one horizontal period each pixel, the field of this line-sequential scanning A display device that repeats every time,
The pixel array section is composed of odd-numbered pixels corresponding to the odd number of scanning lines,
Each pixel includes an electro-optic element, a storage capacitor, a sampling transistor, a drive transistor, and a threshold voltage cancel circuit,
Sa pump ring transistor operates when selected by the first scan pulse sent from the first scanning line, samples the video signal held in the hold capacitor from the signal Line,
Drive transistor, and a current driving the electric optical element in accordance with the signal potential held in the hold capacitor,
Threshold voltage cancellation circuit operates during the period selected by the second scan pulse sent from the second scan line prior to the current driving the electric optical element in advance the effect to detect the threshold voltage of the drive transistor the potential necessary to cancel are those allowed to hold the hold capacitance,
Peripheral driving section includes a first scanner, a selector, and a second scanner,
The first scanner, by sequentially transferring the first start pulse in response to a first clock signal performs line sequential scanning of the first scan line, the first scan pulse sequentially each first scan line in each horizontal period To select each pixel in steps,
Selector supplies a video signal in synchronization with the line sequential scanning to the signal lines, than Te, writes the video signal to the stage of the selected pixel,
The second scanner performs line sequential scanning of the second scanning line by sequentially transferring the second start pulse in accordance with the second clock signal having the same cycle as the first clock signal, and performs second scanning every horizontal period. A scan pulse is sequentially output to each second scan line to drive a threshold voltage cancel circuit of each pixel in units of stages,
The second clock signal has an adjustment period for phase alignment inserted in a part of the blanking period between the previous field and the next field, and the period in the normal period excluding the adjustment period is one horizontal period. fold is set to the,
The second scanner, when the width of the second start pulse exceeds one horizontal period, rising after the second scan pulse of the previous Atamadan is adjusted interval, before the second scan pulse in the final stage of the adjustment section as falls, set the width and the input timing of the second start pulse, than Te, in line-sequential scanning, despite the presence of the adjustment period, always sequential output enable der a second scan pulse having the same pulse width Viewing apparatus that.
第2のクロック信号は、調整区間が一水平期間に設定されている請求項1記載の表示装置。 The second clock signal, the display device according to Motomeko 1 adjustment interval that is set to one horizontal period. 電圧キャンセル回路は検知トランジスタを含んでおり、
知トランジスタは、そのソース/ドレインがライブトランジスタのドレイン/ゲートに接続され、そのゲートが第2走査線に接続されており、第2走査線から送られた2走査パルスの幅に応じて動作しライブトランジスタの閾電圧を検知する請求項1又は請求項2に記載の表示装置。
The threshold voltage cancellation circuit includes a detection transistor,
Detection known transistor has its source / drain connected to the drain / gate of the drive transistor, its gate connected to the second scan line, according to the width of the second scan pulse sent from the second scan line the display device according to Motomeko 1 or claim 2 detect the threshold voltage of the operation to drive the transistor Te.
気光学素子は、電流駆動により発光する有機EL素子である請求項1から請求項3の何れか一項に記載の表示装置。 Electrical optical element, a display device according to any one of claims 3 to Motomeko 1 Ru Oh organic EL element which emits light by current driving. ンプリングトランジスタ及びドライブトランジスタはN型の薄膜トランジスタである請求項1から請求項4の何れか一項に記載の表示装置。 Sa pump ring transistors and the drive transistor display device according to any one of claims 4 to Motomeko 1 Ru thin film transistor der of N-type. 画素アレイ部とこれを駆動する周辺駆動部とを含み、
素アレイ部は、複数の走査線と信号線とが交差する部分に夫々配された画素からなり、各走査線に対応して画素の各段が構成されているとともに、奇数本の走査線に対応して奇数段の画素からなり、
各画素は、電気光学素子と、保持容量と、サンプリングトランジスタと、ドライブトランジスタと、閾電圧キャンセル回路とを含み、
辺駆動部は第1スキャナとセレクタと第2スキャナとを含み、スタートパルス及びクロック信号に応答し、画素アレイ部の画素を段単位で線順次走査して一水平期間毎画素の各段に映像信号を書き込み、この線順次走査をフィールド毎に繰り返す表示装置の駆動方法であって、
素アレイ部側は、
第1走査線から送られてくる第1走査パルスによってンプリングトランジスタを動作させ、号線から映像信号をサンプリングして持容量に保持し、
続いてライブトランジスタを動作させて、持容量に保持された信号電位に応じ気光学素子を電流駆動するとともに、
気光学素子の電流駆動に先だって、第2走査線から送られてくる第2走査パルスにより選択された期間に電圧キャンセル回路を動作させ、ライブトランジスタの閾電圧を検知してあらかじめその影響をキャンセルする為に必要な電位を持容量に保持させておく一方、
辺駆動部側は、
1スキャナが、第1のクロック信号に応じて第1スタートパルスを順次転送することで第1走査線の線順次走査を行い、一水平期間毎に第1走査パルスを逐次各第1走査線に出力して段単位で各画素を選択し、
レクタが、順次走査に同期して各信号線に映像信号を供給し、以て、選択された画素の段に映像信号を書き込み、
2スキャナが、第1のクロック信号と同じ周期の第2のクロック信号に応じて第2スタートパルスを順次転送することで第2走査線の線順次走査を行い、一水平期間毎に第2走査パルスを逐次各第2走査線に出力して段単位で各画素の閾電圧キャンセル回路を駆動し、
第2のクロック信号は、先のフィールドと次のフィールドとの間におけるブランキング期間の一部に位相合せのための調整区間が挿入されており、調整区間を除く通常区間における周期が一水平期間の倍に設定されており
2スキャナは、第2スタートパルスの幅が一水平期間を超える場合に、先頭段の第2走査パルスが調整区間の後に立ち上がり、最終段の第2走査パルスが調整区間の前に立ち下がる様に、第2スタートパルスの幅及び入力タイミングを設定し、て、線順次走査中該調整区間の存在にかかわらず、常に同じパルス幅の第2走査パルスを逐次出力可能である表示装置の駆動方法。
Including a pixel array section and a peripheral driving section for driving the pixel array section,
Picture element array portion consists respective distribution pixel in the portion where the plurality of scanning lines and the signal lines intersect, with each stage of the pixels corresponding to each scanning line is constituted, the odd scan lines Corresponding to the odd number of pixels,
Each pixel includes an electro-optic element, a storage capacitor, a sampling transistor, a drive transistor, and a threshold voltage cancel circuit,
The peripheral driver includes a first scanner and the selector and the second scanner, a start pulse and responsive to a clock signal, each stage of one horizontal period each pixel line-sequentially scan the pixels of the image element array portion in stage units A video signal is written to the display device, and this line sequential scanning is repeated for each field.
Picture element array portion side,
Operating the service pump ring transistor by a first scan pulse sent from the first scanning line, samples the video signal held in the hold capacitor from the signal Line,
By operating the drive transistor Subsequently, while the current driving the corresponding electrical optical element to the signal potential held in the hold capacitor,
Prior to the current driving the electric optical element, to the period of time that is selected by the second scanning pulse sent from the second scanning line is operated the threshold voltage cancellation circuit, in advance the effect to detect the threshold voltage of the drive transistor while are kept on the hold capacitance the potential required to cancel,
The peripheral driving part side,
First scanner, a first a first start pulse sequentially performs line sequential scanning of the first scanning line by transferring in response to the clock signal, the first scan pulse sequentially each first scan line in each horizontal period To select each pixel in steps,
Selector is in synchronization with the line sequential scanning to supply a video signal to each signal line, than Te, writes the video signal to the stage of the selected pixel,
The second scanner performs line sequential scanning of the second scanning line by sequentially transferring the second start pulse in accordance with the second clock signal having the same cycle as the first clock signal, and performs second scanning every horizontal period. A scan pulse is sequentially output to each second scan line to drive a threshold voltage cancel circuit of each pixel in units of stages,
The second clock signal has an adjustment period for phase alignment inserted in a part of the blanking period between the previous field and the next field, and the period in the normal period excluding the adjustment period is one horizontal period. fold is set to the,
The second scanner, when the width of the second start pulse exceeds one horizontal period, rising after the second scan pulse of the previous Atamadan is adjusted interval, before the second scan pulse in the final stage of the adjustment section as falls, set the width and the input timing of the second start pulse, than Te, despite the presence of a line-sequential scanning during the adjustment period, Ru always sequentially output enable der a second scan pulse having the same pulse width the driving method of Viewing device.
第2のロック信号は、調整区間が最小の一水平期間に設定されている請求項6に記載の表示装置の駆動方法。 The second clock signal, a driving method of a display device according to Motomeko 6 adjustment interval that is set to the minimum of one horizontal period.
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5245195B2 (en) 2005-11-14 2013-07-24 ソニー株式会社 Pixel circuit
JP2007206590A (en) * 2006-02-06 2007-08-16 Seiko Epson Corp Pixel circuit, driving method thereof, display device, and electronic apparatus
JP5152094B2 (en) * 2009-04-24 2013-02-27 ソニー株式会社 Pixel circuit, pixel circuit driving method, display device, and display device driving method
CN111243513B (en) * 2020-03-13 2021-07-20 Oppo广东移动通信有限公司 Control circuit and control method
CN114822383A (en) * 2022-05-07 2022-07-29 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 Display panel and display device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11296148A (en) * 1998-04-15 1999-10-29 Seiko Epson Corp Driving circuit and driving method of electrooptical device and electronic device
JP2002023683A (en) * 2000-07-07 2002-01-23 Sony Corp Display device and drive method therefor
JP2003202834A (en) * 2001-10-24 2003-07-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and driving method therefor
JP2004133240A (en) * 2002-10-11 2004-04-30 Sony Corp Active matrix display device and its driving method
JP2004361640A (en) * 2003-06-04 2004-12-24 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving method for pixel circuit

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11296148A (en) * 1998-04-15 1999-10-29 Seiko Epson Corp Driving circuit and driving method of electrooptical device and electronic device
JP2002023683A (en) * 2000-07-07 2002-01-23 Sony Corp Display device and drive method therefor
JP2003202834A (en) * 2001-10-24 2003-07-18 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and driving method therefor
JP2004133240A (en) * 2002-10-11 2004-04-30 Sony Corp Active matrix display device and its driving method
JP2004361640A (en) * 2003-06-04 2004-12-24 Sony Corp Pixel circuit, display device, and driving method for pixel circuit

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