JP2006246112A - 弾性表面波デバイスおよびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】従来のCSPタイプの弾性表面波デバイスでは、異なる材質の基板を貼りあせているため、熱に対して弱いという問題があった。
【解決手段】圧電基板11と、この圧電基板上に設けられた櫛型電極12と、圧電基板と同じ材質よりなる蓋体14と、を備えたものであり、小型化、低背化しても、同じ材質の基板を使うことにより、異方性の強い結晶であっても、熱によって接合界面が破壊しにくい温度変化等に強い弾性表面波デバイスを得ることができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、特に携帯電話等に用いられる、弾性表面波デバイスおよびその製造方法に関するものである。
以下、従来の弾性表面波デバイスについて説明する。
近年、弾性表面波デバイスは、各種移動体通信端末機器等の電子機器に多く使用されているが、機器の小型化に対応して、弾性表面波デバイスの更なる小型化、低背化への要望が強くなってきている。これに対して、櫛型電極を設けた圧電基板とベース基板とを接合して、ウェハレベルのチップサイズパッケージ弾性表面波デバイスを得ることが提案されている。
しかしながら、特に圧電基板に異方性の強いタンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム等の単結晶を用いる場合、ベース基板との線膨張率の差により、ハンダリフロー等の熱がかかったときに、接合部に大きなストレスが加わり、時には破壊に至るという課題があった。
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開2004−304622号公報
本発明は、上記従来の課題を解決するものであり、小型化、低背化しても、温度変化等に強い弾性表面波デバイスを提供することを目的とするものである。
前記目的を達成するために本発明は、圧電基板と、この圧電基板上に設けられた櫛型電極と、圧電基板と同じ材質より蓋体と、を備えたものである。
本発明によれば、同じ材質の基板を使うことにより、異方性の強い結晶であっても、熱によって接合界面が破壊しにくい弾性表面波デバイスを得ることができる。
(実施の形態1)
以下、実施の形態1を用いて、本発明について説明する。
図1は、本発明の実施の形態1における弾性表面波デバイスの断面図である。
図1においては、39°YカットX伝播タンタル酸リチウム(以下39°YLTと記す)よりなる厚さ約0.2mmの圧電基板11に櫛形電極12およびパッド13を設け、同じく39°YLTよりなる厚さ約0.25mmの蓋体14を、櫛形電極12およびパッド13を囲む、金よりなる厚さ約0.01mmの金属層15を介して接合し、スルーホール16により、パッド13から外部端子17に電気的接続を行ったものである。金属層15により櫛形電極12の上方に振動空間を確保するとともに、気密封止している。
このようにすることにより、圧電基板11と蓋体14の線膨張率が等しいため、熱が加わっても接合部に大きなストレスが加わらず、信頼性が向上する。また、低背化の要望に対して、圧電基板11あるいは蓋体14の厚さを薄くすると、機械的強度が劣化する。特に圧電基板11と蓋体14が異なる材質のものであれば、薄い方がより破壊しやすくなる。本発明では、同じ材質のものを用いているため、厚さの比率を変えてもその強度はあまり変わらない。
また弾性表面波デバイスのプリント基板への実装時、あるいは実装後のモールド時には、弾性表面波デバイスの天面(ハンダ付け面とは反対側の面)に大きな力が加わりやすい。そこで本発明のように、天面側(即ちスルーホールを設けたものと反対側)の基板の厚さを、スルーホールを設けた基板側より厚くすることにより、低背化しながら機械的強度の劣化を抑えることができる。
図1では、櫛形電極12を設けた圧電基板11側にスルーホール16を設けたが、蓋体側にスルーホールを設けてもよく、この場合、蓋体側の方を薄くするのが望ましい。
次に本発明の弾性表面波デバイスの製造方法について説明する。
まず図2(a)のように、厚さ約0.25mmの39°YLTウェハからなる第1の基板21上に、櫛形電極22およびパッド23を設け、さらにこれらを囲むように厚さ約0.005mmの第1の金属層25aを設ける。第1の金属層25aは、表面が金で覆われていることが望ましい。また好ましくは、パッド23の上にも第1の金属層と同じもので、ダミーパターン28aを設け、高さも同じにしておくことが望ましい。一方、厚さ約0.25mmの39°YLTウェハからなる第2の基板24上にも第1の金属層25aと対向するように厚さ約0.005mmの第2の金属層25bを設ける。第2の金属層25bは、表面が金で覆われていることが望ましい。パッド23の上に第1の金属層と同じものを設けている場合は、第2の基板24にも、パッド23を対向するように第1の金属層と同じもので、ダミーパターン28bを設け、高さも同じにしておく。ダミーパターン28a、28bは、第1の金属層25aおよび第2の金属層25bと同時に形成できるので、特に工程が増えることはない。
ここで、空間が十分に確保できる場合は、第2の金属層25bは、第2の基板24全体に設けたものでもかまわない。この方が、工程が簡略化される。但しこの場合は、パッド23の上には、ダミーパターン28aを設けない。
次に、真空チャンバー内で、第1の金属層25aおよび第2の金属層25bを設けている面に、アルゴンプラズマ等を照射することにより、第1の金属層25aおよび第2の金属層25bの表面を活性化させ、第1の金属層25aと第2の金属層25bを対向させて圧力を加えることにより、接合する。このような方法をとることにより、基板を加熱することなく強固な接合が得られるため、タンタル酸リチウムのような焦電性の大きな基板を用いる場合には特に望ましい。また、ダミーパターン28a、28bを設けている場合は、これらも同時に接合することができる。以上にようにして、図2(b)のようになる。
次に、第1の基板21の厚さが約0.15mmになるように研磨して、図2(c)が得られる。
次に、第1の基板21の研磨した面に所定のレジストパターンを形成し、C26を用いたドライエッチングにより、スルーホール26を形成し、図2(d)が得られる。研磨により第1の基板21の厚さを薄くしているため、エッチングのための時間を短縮することができる。この場合、パッド23がエッチングのストッパーとなり、スルーホールからパッドの裏面が露出している状態となる。また、ドライエッチング時に、パッドを突き破らないようにするためには、ダミーパターン28a、28bが形成されていることが望ましい。
次に、スルーホール26が形成されている面に、スパッタにより、TiおよびNiを蒸着し、パターニングおよびNiメッキを施すことにより、スルーホール26を金属で埋め、外部端子27を形成して、図2(e)が得られる。これを所定の寸法に切断して、個々の弾性表面波デバイスを得る。
なお、本実施の形態1では、櫛形電極を設けた基板側にスルーホールを設けるものについて説明したが、櫛形電極を設けていない蓋体の基板側にスルーホールを設けるものについても、研磨する方をかえるだけで、あとは同じ工程で行うことができる。この場合は、パッドからの電気的接続は、パッド上にバンプを設けることによって行うが、本実施の形態1のダミーパターン28a、28bと同様にして、形成および接合することができる。
本発明は、小型化、低背化しても、温度変化等に強い弾性表面波デバイスを実現するものであり、産業上有用である。
本発明の実施の形態1における弾性表面波デバイスの断面図 本発明の実施の形態1における弾性表面波デバイスの製造方法を説明する図
符号の説明
11 圧電基板
12 櫛形電極
13 パッド
14 蓋体
15 金属層
16 スルーホール
17 外部端子
21 第1の基板
22 櫛形電極
23 パッド
24 第2の基板
25a 第1の金属層
25b 第2の金属層
26 スルーホール
27 外部端子
28a、28b ダミーパターン

Claims (7)

  1. 圧電基板と、この圧電基板上に設けられた櫛型電極と、前記圧電基板と同じ材質よりなる蓋体と、を備えた弾性表面波デバイス。
  2. 圧電基板および蓋体は、異方性単結晶よりなる請求項1記載の弾性表面波デバイス。
  3. 圧電基板と蓋体とは、金属層を介して接合されている請求項1記載の弾性表面波デバイス。
  4. 金属層は少なくとも櫛型電極を囲むものである請求項3記載の弾性表面波デバイス。
  5. 圧電基板または蓋体にスルーホールを設け、このスルーホールを通して外部との電気的接続を行ったものであり、前記スルーホールを設けた側の厚さを他方の厚さよりも薄くした請求項1記載の弾性表面波デバイス。
  6. 第1の基板に櫛型電極およびパッド、およびこれらを囲む封止用の第1の金属層を形成する工程と、前記第1の基板と同じ材質よりなる第2の基板に、前記第1の基板の前記第1の金属層に対応する第2の金属層を形成する工程と、前記第1の金属層と前記第2の金属層とを接合する工程と、前記第1の基板を研磨する工程と、前記第1の基板にスルーホールを形成する工程と、前記スルーホールを金属で埋めることにより、前記パッドと前記第1の基板を研磨した面に設けられた外部端子とを電気的に接続する工程、とを備えた弾性表面波デバイスの製造方法。
  7. 第1の基板に櫛型電極およびパッド、およびこれらを囲む封止用の第1の金属層を形成する工程と、前記第1の基板と同じ材質よりなる第2の基板に、前記第1の基板の前記第1の金属層に対応する第2の金属層を形成する工程と、前記第1の金属層と前記第2の金属層とを接合する工程と、前記第2の基板を研磨する工程と、前記第2の基板にスルーホールを形成する工程と、前記スルーホールを金属で埋めることにより、前記パッドと前記第2の基板を研磨した面に設けられた外部端子とを電気的に接続する工程と、を備えた弾性表面波デバイスの製造方法。
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009278422A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 弾性表面波デバイス及びその製造方法
JP2010050539A (ja) * 2008-08-19 2010-03-04 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電部品及びその製造方法
JP2010213144A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Panasonic Corp 弾性表面波デバイスの製造方法
JP2011223420A (ja) * 2010-04-12 2011-11-04 Taiyo Yuden Co Ltd 弾性波デバイス及びその製造方法
US8230563B2 (en) 2008-07-23 2012-07-31 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Method of manufacturing a piezoelectric component
US8332995B2 (en) 2008-06-24 2012-12-18 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Method of manufacturing a piezoelectric component
US9264016B2 (en) 2012-11-15 2016-02-16 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Piezoelectric component having a cover layer including resin that contains translucent filler
JP2017050728A (ja) * 2015-09-02 2017-03-09 株式会社村田製作所 電子部品素子及び電子部品
US9831850B2 (en) 2015-02-19 2017-11-28 Taiyo Yuden Co., Ltd. Acoustic wave device with a piezoelectric substrate that is not located in some regions
JP2018113678A (ja) * 2016-12-02 2018-07-19 スカイワークス ソリューションズ, インコーポレイテッドSkyworks Solutions, Inc. 基板間のキャビティ内に形成されてビアを含む電子デバイス
US10090825B2 (en) 2016-05-13 2018-10-02 Taiyo Yuden Co., Ltd. Acoustic wave device
US10250222B2 (en) 2016-02-29 2019-04-02 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic device
US10250223B2 (en) 2016-03-17 2019-04-02 Taiyo Yuden Co., Ltd. Acoustic wave device
US11546998B2 (en) 2014-07-31 2023-01-03 Skyworks Solutions, Inc. Multilayered transient liquid phase bonding

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6438821A (en) * 1987-08-05 1989-02-09 Nec Corp Magnetic card reader
JPH0349310A (ja) * 1989-07-17 1991-03-04 Murata Mfg Co Ltd 弾性表面波デバイス
JPH04293310A (ja) * 1991-03-22 1992-10-16 Murata Mfg Co Ltd 弾性表面波装置
JPH06350376A (ja) * 1993-01-25 1994-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 気密封止された圧電デバイスおよび気密封止パッケージ
JPH09246906A (ja) * 1996-03-12 1997-09-19 Seiko Epson Corp 弾性表面波素子及びその周波数調整方法並びに電子機器
JPH10163789A (ja) * 1996-11-25 1998-06-19 Sanyo Electric Co Ltd 弾性表面波素子
JP2001094388A (ja) * 1999-09-17 2001-04-06 Seiko Epson Corp Sawデバイス及びその製造方法
JP2001102905A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JP2002290193A (ja) * 2001-03-26 2002-10-04 Seiko Epson Corp 弾性表面波装置とその製造方法
JP2003188294A (ja) * 2001-12-21 2003-07-04 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の製造方法
JP2004080221A (ja) * 2002-08-13 2004-03-11 Fujitsu Media Device Kk 弾性波デバイス及びその製造方法
JP2004214469A (ja) * 2003-01-07 2004-07-29 Hitachi Ltd 電子デバイスおよびその製造方法
JP2004304622A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Fujitsu Media Device Kk 弾性表面波デバイス及びその製造方法

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6438821A (en) * 1987-08-05 1989-02-09 Nec Corp Magnetic card reader
JPH0349310A (ja) * 1989-07-17 1991-03-04 Murata Mfg Co Ltd 弾性表面波デバイス
JPH04293310A (ja) * 1991-03-22 1992-10-16 Murata Mfg Co Ltd 弾性表面波装置
JPH06350376A (ja) * 1993-01-25 1994-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 気密封止された圧電デバイスおよび気密封止パッケージ
JPH09246906A (ja) * 1996-03-12 1997-09-19 Seiko Epson Corp 弾性表面波素子及びその周波数調整方法並びに電子機器
JPH10163789A (ja) * 1996-11-25 1998-06-19 Sanyo Electric Co Ltd 弾性表面波素子
JP2001094388A (ja) * 1999-09-17 2001-04-06 Seiko Epson Corp Sawデバイス及びその製造方法
JP2001102905A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Kyocera Corp 弾性表面波装置
JP2002290193A (ja) * 2001-03-26 2002-10-04 Seiko Epson Corp 弾性表面波装置とその製造方法
JP2003188294A (ja) * 2001-12-21 2003-07-04 Murata Mfg Co Ltd 電子部品の製造方法
JP2004080221A (ja) * 2002-08-13 2004-03-11 Fujitsu Media Device Kk 弾性波デバイス及びその製造方法
JP2004214469A (ja) * 2003-01-07 2004-07-29 Hitachi Ltd 電子デバイスおよびその製造方法
JP2004304622A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Fujitsu Media Device Kk 弾性表面波デバイス及びその製造方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009278422A (ja) * 2008-05-15 2009-11-26 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 弾性表面波デバイス及びその製造方法
US8332995B2 (en) 2008-06-24 2012-12-18 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Method of manufacturing a piezoelectric component
US8230563B2 (en) 2008-07-23 2012-07-31 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Method of manufacturing a piezoelectric component
JP2010050539A (ja) * 2008-08-19 2010-03-04 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 圧電部品及びその製造方法
JP4638530B2 (ja) * 2008-08-19 2011-02-23 日本電波工業株式会社 圧電部品及びその製造方法
JP2010213144A (ja) * 2009-03-12 2010-09-24 Panasonic Corp 弾性表面波デバイスの製造方法
JP2011223420A (ja) * 2010-04-12 2011-11-04 Taiyo Yuden Co Ltd 弾性波デバイス及びその製造方法
US9264016B2 (en) 2012-11-15 2016-02-16 Nihon Dempa Kogyo Co., Ltd. Piezoelectric component having a cover layer including resin that contains translucent filler
US11546998B2 (en) 2014-07-31 2023-01-03 Skyworks Solutions, Inc. Multilayered transient liquid phase bonding
US9831850B2 (en) 2015-02-19 2017-11-28 Taiyo Yuden Co., Ltd. Acoustic wave device with a piezoelectric substrate that is not located in some regions
JP2017050728A (ja) * 2015-09-02 2017-03-09 株式会社村田製作所 電子部品素子及び電子部品
US10250222B2 (en) 2016-02-29 2019-04-02 Taiyo Yuden Co., Ltd. Electronic device
US10250223B2 (en) 2016-03-17 2019-04-02 Taiyo Yuden Co., Ltd. Acoustic wave device
US10090825B2 (en) 2016-05-13 2018-10-02 Taiyo Yuden Co., Ltd. Acoustic wave device
JP2018113679A (ja) * 2016-12-02 2018-07-19 スカイワークス ソリューションズ, インコーポレイテッドSkyworks Solutions, Inc. 基板間のキャビティ内に形成されてビアを含む電子デバイスを製造する方法
JP2018113678A (ja) * 2016-12-02 2018-07-19 スカイワークス ソリューションズ, インコーポレイテッドSkyworks Solutions, Inc. 基板間のキャビティ内に形成されてビアを含む電子デバイス

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