JP2006188313A - Substrate conveying device and substrate inspection device - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate conveying device and a substrate inspection device capable of reducing the stress exerted in a substrate when conveying the substrate for inspection or the like of the substrate. <P>SOLUTION: The substrate conveying device comprises an attraction unit 16 having a substrate floating stage 3 to allow a glass substrate W to be afloat and abutted on a side edge of a non-element forming face W2 of the glass substrate W from a lower side, and an attraction supporting unit 30 abutted on a side edge of an element forming part W1 of the glass substrate W from an upper side. In the attraction supporting unit 30, a supporting pad part 33 is mounted on a lower end of an air cylinder 31. In the supporting pad part 33, the glass substrate W is pressed against an attraction pad part 18 before conveying the glass substrate W. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、液晶ディスプレイ(LCD)や、プラズマディスプレイ(PDP)といったフラットパネルディスプレィ(FPD)等に用いられる基板の搬送に用いられる基板搬送装置、及びこれを備える基板検査装置に関する。   The present invention relates to a substrate transport apparatus used for transporting a substrate used in a flat panel display (FPD) such as a liquid crystal display (LCD) and a plasma display (PDP), and a substrate inspection apparatus including the substrate transport apparatus.

近年、LCDや、PDPなどのFPDは、大型化の傾向にあり、これを製造する製造装置も大型化されている。FPD用の基板には、主にガラス基板が用いられており、複数の製造工程を経て、基板表面に多数の画素や、駆動回路等が形成されている。このような製造工程では、大型のガラス基板を保持して搬送する基板搬送装置が使用されている。   In recent years, LCDs and FPDs such as PDPs have been increasing in size, and manufacturing apparatuses for manufacturing them have also been increased in size. A glass substrate is mainly used as an FPD substrate, and a large number of pixels, drive circuits, and the like are formed on the substrate surface through a plurality of manufacturing processes. In such a manufacturing process, a substrate transfer device that holds and transfers a large glass substrate is used.

ここで、基板を位置決めして保持する際には、基板の裏面に下側から当接する吸着パッドを使用することが知られている。ところが、製造前には平坦であったガラス基板も、成膜工程や、熱処理工程を経ることで、捩れや、反りが発生することがある。さらに、金属膜等がガラス基板の表面に形成されると、ガラス基板の熱膨張率と金属膜の熱膨張率との違いから応力が発生し、ガラス基板に捩れや、反りが発生することがある。このような捩れや、反りは、ガラス基板が大型化するにつれて発生しやすくなり、かつその捩れ量や、反り量(反り角度)も大きくなるため、ガラス基板を吸着し難くなることがある。このような場合に吸着エラーを防止するために、基板の四隅に上側から押圧する押さえ部材を備え、基板の側縁部分を押さえ部材によって押圧し、ガラス基板全体を均一な状態で位置決めしてから、吸着パッドで固定するような吸着装置が開発されている(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。   Here, when positioning and holding a substrate, it is known to use a suction pad that comes into contact with the back surface of the substrate from below. However, a glass substrate that has been flat before manufacture may also be twisted or warped through a film formation process or a heat treatment process. Furthermore, when a metal film or the like is formed on the surface of the glass substrate, stress is generated due to the difference between the thermal expansion coefficient of the glass substrate and the thermal expansion coefficient of the metal film, and the glass substrate may be twisted or warped. is there. Such twist and warpage are likely to occur as the glass substrate becomes larger, and the twist amount and warpage amount (warpage angle) also increase, which may make it difficult to attract the glass substrate. In such a case, in order to prevent an adsorption error, a pressing member that presses from above is provided at the four corners of the substrate, the side edge portion of the substrate is pressed by the pressing member, and the entire glass substrate is positioned in a uniform state. A suction device that is fixed by a suction pad has been developed (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).

さらに、基板を保持して搬送する基板搬送装置を備える装置の一例としては、顕微鏡を用いてガラス基板の表面の拡大像(ミクロ像)を取得して欠陥の有無を検査する基板検査装置があげられる。この種の基板検査装置においては、ガラス基板の特定の一辺に沿って上側エアシリンダと、下側エアシリンダとを配列したものがある(例えば、特許文献3参照)。ガラス基板が搬入されると、上側エアシリンダが伸縮動作して基板の上面に当接する。また、これと同時に、下側エアシリンダが伸縮動作して基板の下面に当接する。このようにして基板を上側、下側エアシリンダで挟持したら、基板を把持した状態を保ちながら、上側、下側エアシリンダを平行移動させる。このようにしてガラス基板を搬送しながら顕微鏡による検査が行われる。
特開平8−313816号公報 特開平8−274148号公報 特開2000−9661号公報
Furthermore, as an example of an apparatus provided with a substrate transport apparatus that holds and transports a substrate, there is a substrate inspection apparatus that acquires an enlarged image (micro image) of the surface of a glass substrate using a microscope and inspects for the presence or absence of defects. It is done. In this type of substrate inspection apparatus, there is one in which an upper air cylinder and a lower air cylinder are arranged along a specific side of a glass substrate (for example, see Patent Document 3). When the glass substrate is carried in, the upper air cylinder expands and contracts to contact the upper surface of the substrate. At the same time, the lower air cylinder expands and contracts to contact the lower surface of the substrate. When the substrate is sandwiched between the upper and lower air cylinders in this manner, the upper and lower air cylinders are moved in parallel while the substrate is held. In this way, inspection with a microscope is performed while conveying the glass substrate.
JP-A-8-313816 JP-A-8-274148 JP 2000-9661 A

しかしながら、基板を上下方向から把持することで、ガラス基板に捩れや、反りが発生していた場合でも基板を確実に保持して搬送すること可能になるが、このようにしてガラス基板を搬送させると、ガラス基板の把持された部分に応力が集中的にかかってしまうという問題があった。特に、ガラス基板が大型化かつ薄肉化している場合には、傷等が発生し易くなるので、FPDの高品質化、及び生産性向上の観点から問題となっていた。
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、基板の搬送する際に基板に作用する応力を低減させることである。
However, by gripping the substrate from above and below, it becomes possible to securely hold and transport the substrate even if the glass substrate is twisted or warped. In this way, the glass substrate is transported. Then, there is a problem that stress is concentrated on the gripped portion of the glass substrate. In particular, when the glass substrate is large and thin, scratches and the like are likely to occur, which has been a problem from the viewpoint of improving the quality of FPD and improving productivity.
The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to reduce the stress acting on the substrate when the substrate is transported.

上記の課題を解決する本発明の請求項1に係る発明は、基板を浮上させるステージと、前記ステージに沿って移動可能に設けられ、前記基板の端部の裏面に下側から当接して前記基板を吸着して保持する吸着部を有する搬送手段と、前記吸着部で前記基板を吸着保持するときに、前記基板表面に上方から当接して前記基板を前記吸着部に押し付けた後に、前記基板表面よりも上方に退避する吸着補助部と、を備えることを特徴とする基板搬送装置とした。   The invention according to claim 1 of the present invention for solving the above-mentioned problems is provided with a stage for levitating the substrate, and movable along the stage, and comes into contact with the back surface of the end portion of the substrate from below. A conveying means having an adsorbing part for adsorbing and holding the substrate; and when adsorbing and holding the substrate by the adsorbing part, the substrate comes into contact with the substrate surface from above and presses the substrate against the adsorbing part. And a suction assisting part that retreats above the surface.

本発明によれば、基板の吸着をアシストする吸着補助部を設け、基板を吸着部に押し付けることで、基板の吸着不良を防止し、吸着補助部を基板表面から退避させた後に、搬送手段で基板を搬送させるので、基板を吸着保持した状態で基板搬送を行うにあたり、基板に作用する荷重を低減させることができる。したがって、基板の吸着不良によって工程を停止する必要がなくなると共に、基板に傷等が付き難くなるので、生産性向上、及び基板を用いて製造される製品の高品質化を図ることができる。   According to the present invention, the suction assisting part for assisting the suction of the substrate is provided, and the substrate is pressed against the suctioning part to prevent the suction failure of the substrate. Since the substrate is transported, the load acting on the substrate can be reduced when transporting the substrate with the substrate held by suction. Therefore, it is not necessary to stop the process due to poor adsorption of the substrate, and it is difficult to damage the substrate, so that productivity can be improved and the quality of products manufactured using the substrate can be improved.

以下、図面を参照して本発明の第1の実施の形態について詳細に説明する。
図1には、この実施の形態に係る基板搬送装置を備える基板検査装置の構成が示されている。なお、基板は、種々の基板を用いることができるが、以下においては、FPD用のガラス基板Wとする。さらに、ガラス基板Wの上面(表面)は、回路素子や、配線パターン等のパターンが形成される素子形成面W1とし、ガラス基板Wの下面(裏面)は、パターンが形成されない非素子形成面W2とする。
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 shows the configuration of a substrate inspection apparatus provided with a substrate transfer apparatus according to this embodiment. Various substrates can be used as the substrate. In the following description, a glass substrate W for FPD is used. Further, the upper surface (front surface) of the glass substrate W is an element formation surface W1 on which a pattern such as a circuit element or a wiring pattern is formed, and the lower surface (back surface) of the glass substrate W is a non-element formation surface W2 on which no pattern is formed. And

基板検査装置1は、床面に設置されるベース部2を有し、ベース部2上に細長の基板浮上ステージ3が固定されている。ベース部2の一端部側が基板搬入出部4となり、長手方向の略中央にガラス基板Wの外観検査を行う検査部5が設けられている。また、ベース部2の一端部側には、ガラス基板Wを搬入出する基板搬送ロボット6が設置されている。以下、基板浮上ステージ3の長手方向、つまりガラス基板Wを搬送する方向をX方向とし、X方向と直交する幅方向をY方向、上下方向(鉛直方向)をZ方向とする。   The substrate inspection apparatus 1 has a base portion 2 installed on a floor surface, and an elongated substrate floating stage 3 is fixed on the base portion 2. One end portion side of the base portion 2 serves as a substrate carry-in / out portion 4, and an inspection portion 5 that performs an appearance inspection of the glass substrate W is provided at substantially the center in the longitudinal direction. A substrate transfer robot 6 for loading and unloading the glass substrate W is installed on one end side of the base portion 2. Hereinafter, the longitudinal direction of the substrate floating stage 3, that is, the direction in which the glass substrate W is transported is defined as the X direction, the width direction orthogonal to the X direction is defined as the Y direction, and the vertical direction (vertical direction) is defined as the Z direction.

基板浮上ステージ3は、その上面に開口する複数の空気孔10が全面に亘って所定の間隔で配設されている。この基板浮上ステージ3は、不図示のエアコンプレッサなどに接続されており、空気孔10から上向きに圧搾エアを吐出させるように構成されている。なお、基板浮上ステージ3のX方向の長さは、ガラス基板WのX方向の長さよりも十分に長い。基板浮上ステージ3のY方向の幅は、ガラス基板Wの幅よりも短い。   The substrate levitation stage 3 has a plurality of air holes 10 opened on the upper surface thereof arranged at predetermined intervals over the entire surface. The substrate floating stage 3 is connected to an air compressor (not shown) or the like, and is configured to discharge compressed air from the air hole 10 upward. The length of the substrate levitation stage 3 in the X direction is sufficiently longer than the length of the glass substrate W in the X direction. The width of the substrate floating stage 3 in the Y direction is shorter than the width of the glass substrate W.

また、ベース部2の両側面のそれぞれには、リニアガイド11がX方向と平行になるように敷設されており、各リニアガイド11には、搬送手段を構成するスライダ12が往復移動自在に設けられている。これらスライダ12は、同期して移動するように不図示に制御装置によって駆動制御されている。図2に示すように、スライダ12は、リニアガイド11に摺動自在に取り付けられる可動部13を有している。可動部13には、リニアモータなどリニアガイド11に沿ってスライダ12を往復移動させるために機構が内蔵されている。可動部13の外側面には、支持部14が可動部13に対してZ方向に移動自在に取り付けられている。支持部14の上部には、L字型の板金15を介して吸着部16が固定されている。図1に示すように、吸着部16は、各スライダ12に、X方向に沿って所定の配置間隔で3つ配設されている。具体的には、ガラス基板WのY方向の側縁部の両隅部と、中央の3箇所に相当する位置に設けられている。さらに、各吸着部16には、吸着パッド部18が3つずつ、X方向に沿って設けられている。   In addition, linear guides 11 are laid on both side surfaces of the base portion 2 so as to be parallel to the X direction, and sliders 12 constituting the conveying means are provided in each linear guide 11 so as to be reciprocally movable. It has been. These sliders 12 are driven and controlled by a control device (not shown) so as to move in synchronization. As shown in FIG. 2, the slider 12 has a movable portion 13 that is slidably attached to the linear guide 11. The movable portion 13 has a built-in mechanism for reciprocating the slider 12 along the linear guide 11 such as a linear motor. A support portion 14 is attached to the outer surface of the movable portion 13 so as to be movable in the Z direction with respect to the movable portion 13. A suction part 16 is fixed to the upper part of the support part 14 via an L-shaped sheet metal 15. As shown in FIG. 1, three adsorption portions 16 are arranged on each slider 12 at predetermined arrangement intervals along the X direction. Specifically, the glass substrate W is provided at positions corresponding to three corners of the side edge portion in the Y direction of the glass substrate W and the center. Further, each suction portion 16 is provided with three suction pad portions 18 along the X direction.

図2及び図3に示すように、吸着部16は、板金15に固定される吸着部本体17を有し、吸着部本体の上部には、吸着パッド部18が上向きに突出するように設けられている。吸着パッド部18は、略円柱形状を有し、その上面は平面になっており、上面の中央には孔19が形成されている。この孔19は、不図示の吸気ポンプに接続されており、ガラス基板Wの非素子形成面W2を吸着できるようになっている。このような吸着パッド部18は、耐摩耗性を有し、ガラス基板Wを傷付けない程度の硬度を有する材料から製造されており、下端側を中心として、上端側が首振り自在に吸着部本体17に支持されることが望ましい。そして、これら吸着パッド部18は、スライダ12の移動に伴ってベース部2の一端部側の基板搬入出部4からベース部2の他端部まで移動可能である。   As shown in FIGS. 2 and 3, the suction portion 16 has a suction portion main body 17 fixed to the sheet metal 15, and a suction pad portion 18 is provided on the upper portion of the suction portion main body so as to protrude upward. ing. The suction pad portion 18 has a substantially cylindrical shape, the upper surface thereof is a flat surface, and a hole 19 is formed in the center of the upper surface. The hole 19 is connected to an unillustrated intake pump so that the non-element formation surface W2 of the glass substrate W can be adsorbed. Such a suction pad portion 18 is manufactured from a material having wear resistance and a hardness that does not damage the glass substrate W, and the suction portion main body 17 is swingable at the upper end side with the lower end side as a center. It is desirable to be supported by. These suction pad portions 18 are movable from the substrate loading / unloading portion 4 on one end side of the base portion 2 to the other end portion of the base portion 2 as the slider 12 moves.

基板搬入出部4には、複数のリフトピン20が配設されている。リフトピン20は、ガラス基板Wの大きさに対して十分に小さい径を有し、その先端部は、上側に凸となる球面形状になっている。このようなリフトピン20は、不図示の昇降機構に支持されており、基板浮上ステージ3の上面に対して突没自在になっている。なお、図1において、リフトピン20は、ガラス基板Wの四隅の近傍に対応する位置と、中央に対応する位置とに合計5つ設けられているが、リフトピン20の数及び配置はこれに限定されるものではない。   A plurality of lift pins 20 are disposed in the substrate carry-in / out section 4. The lift pin 20 has a sufficiently small diameter with respect to the size of the glass substrate W, and the tip portion has a spherical shape that protrudes upward. Such lift pins 20 are supported by an elevating mechanism (not shown), and can protrude and retract with respect to the upper surface of the substrate floating stage 3. In FIG. 1, a total of five lift pins 20 are provided at positions corresponding to the vicinity of the four corners of the glass substrate W and positions corresponding to the center, but the number and arrangement of the lift pins 20 are limited to this. It is not something.

ここで、図2及び図3に示すように、基板搬入出部4には、吸着補助部30が設けられている。吸着補助部30は、破線で示すガラス基板Wの四隅に対応する位置で、ガラス基板Wよりも高い位置に、不図示のフレームによってベース部2に固定されている。吸着補助部30は、駆動手段であるエアシリンダ31を有し、エアシリンダ31のロッド32は、鉛直方向で下向きに突出するように配置されている。さらに、ロッド32の下端には、補助パッド部33が取り付けられている。補助パッド部33は、略円柱形状を有し、その外径は、対向配置される吸着パッド部18の外径に略等しいが、吸着パッド部18よりも大径であっても良いし、小径であっても良い。なお、この補助パッド部33は、耐摩耗性に優れ、ガラス基板Wに当接した際にガラス基板Wを傷付けない程度の硬度を有する材料から製造されている。   Here, as shown in FIGS. 2 and 3, the substrate loading / unloading unit 4 is provided with a suction assisting unit 30. The suction assisting portion 30 is fixed to the base portion 2 by a frame (not shown) at a position corresponding to the four corners of the glass substrate W indicated by a broken line and at a position higher than the glass substrate W. The suction assisting part 30 has an air cylinder 31 as drive means, and the rod 32 of the air cylinder 31 is arranged so as to protrude downward in the vertical direction. Further, an auxiliary pad portion 33 is attached to the lower end of the rod 32. The auxiliary pad portion 33 has a substantially cylindrical shape, and the outer diameter thereof is substantially equal to the outer diameter of the suction pad portion 18 disposed to face the auxiliary pad portion 33, but may be larger than the suction pad portion 18 or may have a smaller diameter. It may be. The auxiliary pad portion 33 is made of a material having excellent wear resistance and a hardness that does not damage the glass substrate W when it comes into contact with the glass substrate W.

さらに、図4を参照して吸着部16と、吸着補助部30の制御系について説明する。図4に示すように、吸着補助部30の補助パッド部33は、バルブ34を介してエアコンプレッサ35に配管接続されている。吸着部16の吸着パッド部18は、圧力センサ36及びバルブ37を介して、真空ポンプなどの吸引源38に配管接続されている。圧力センサ36は、吸着パッド部18の圧力を検出するもので、その出力信号線は制御部39に接続されている。さらに、制御部39から出力される信号は、バルブ34,37と、エアコンプレッサ35と、吸引源38とに入力されるようになっている。   Further, the control system of the suction unit 16 and the suction auxiliary unit 30 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 4, the auxiliary pad portion 33 of the suction auxiliary portion 30 is connected to the air compressor 35 through a valve 34. The suction pad portion 18 of the suction portion 16 is connected to a suction source 38 such as a vacuum pump through a pressure sensor 36 and a valve 37. The pressure sensor 36 detects the pressure of the suction pad unit 18, and its output signal line is connected to the control unit 39. Further, a signal output from the control unit 39 is input to the valves 34 and 37, the air compressor 35, and the suction source 38.

なお、図1に示す検査部5は、スライダ12の軌道及び基板浮上ステージ3を跨ぐようにベース部2の側面に固定された門型フレーム40と、門型フレーム40の上部にY方向に移動自在に取り付けられた顕微鏡41とを有している。この顕微鏡41は、CCD(電荷結合素子)などの撮像素子42が取り付けられており、ガラス基板Wの表面の拡大画像を取得して外観検査を行うためのもので、不図示のモニタにガラス基板Wの素子形成面W1の拡大像を表示できるようになっている。   The inspection unit 5 shown in FIG. 1 moves in the Y direction to the upper part of the portal frame 40 and the portal frame 40 fixed to the side surface of the base unit 2 so as to straddle the track of the slider 12 and the substrate floating stage 3. The microscope 41 is freely attached. The microscope 41 is provided with an image pickup device 42 such as a CCD (charge coupled device), and is used for obtaining an enlarged image of the surface of the glass substrate W and performing an appearance inspection. An enlarged image of the W element formation surface W1 can be displayed.

次に、この実施の形態の作用について説明する。なお、スライダ12は、基板搬入出部4に予め待機しており、各吸着パッド部18は、その上面が基板浮上ステージ3よりも下側の位置に待機しているものとする。
ガラス基板Wの検査を行う際には、基板搬送ロボット6が、他の工程から搬出されたガラス基板Wを搬送アーム6A上に受け取り、搬送アーム6Aを基板検査装置1の基板搬入出部4の上方に移動させる。ここで、搬送アーム6Aにおけるガラス基板Wの吸着を解除し、基板搬入出部4から上昇してくるリフトピン20でガラス基板Wを搬送アーム6A上から持ち上げる。この状態で搬送アーム6Aを後退させると、ガラス基板Wが基板搬入出部4に受け渡される。ここで、基板浮上ステージ3は、空気孔10からエアを噴き出しているので、リフトピン20を下げると、ガラス基板Wがエアによって基板浮上ステージ3の上面よりも僅かに上方に浮上させられる。
Next, the operation of this embodiment will be described. It is assumed that the slider 12 is waiting in advance in the substrate carry-in / out unit 4 and that each suction pad unit 18 is waiting in a position below the substrate floating stage 3.
When inspecting the glass substrate W, the substrate transport robot 6 receives the glass substrate W carried out from another process on the transport arm 6A, and the transport arm 6A is received by the substrate loading / unloading unit 4 of the substrate inspection apparatus 1. Move upward. Here, the adsorption of the glass substrate W in the transport arm 6A is released, and the glass substrate W is lifted from the transport arm 6A by the lift pins 20 rising from the substrate carry-in / out section 4. When the transfer arm 6 </ b> A is moved backward in this state, the glass substrate W is transferred to the substrate carry-in / out section 4. Here, since the substrate floating stage 3 blows out air from the air holes 10, when the lift pins 20 are lowered, the glass substrate W is floated slightly above the upper surface of the substrate floating stage 3 by the air.

ガラス基板Wを浮上させたら、スライダ12が支持部14を上昇させ、吸着パッド部18をガラス基板Wの非素子形成面W2の側縁部に下側から押し付ける。このとき、図4に示す制御部39が吸引源38を運転させると共に、バルブ37を開状態に切り換えるので、吸着パッド部18の上面にガラス基板Wが吸着される。圧力センサ36は、それぞれの吸着パッド部18の圧力を検出し、制御部39に出力する。   When the glass substrate W is lifted, the slider 12 raises the support portion 14 and presses the suction pad portion 18 against the side edge portion of the non-element formation surface W2 of the glass substrate W from below. At this time, the control unit 39 shown in FIG. 4 operates the suction source 38 and switches the valve 37 to the open state, so that the glass substrate W is adsorbed on the upper surface of the adsorption pad unit 18. The pressure sensor 36 detects the pressure of each suction pad unit 18 and outputs it to the control unit 39.

さらに、制御部39は、エアコンプレッサ35を運転させ、ガラス基板Wの四隅の上方に待機している4つの吸着補助部30を駆動させる。具体的には、エアシリンダ31とエアコンプレッサとの間に設けられているバルブ34を開く。その結果、各吸着補助部30の補助パッド部33が下降して、ガラス基板Wの素子形成面W1の四隅を上側から押圧し、補助パッド部33及び吸着パッド部18に挟まれるようにして、ガラス基板Wが下方の吸着パッド部18に押し付けられる。制御部39は、補助パッド部33がガラス基板Wの素子形成面W1の側縁部を押圧したら、直ちにバルブ34を閉じ、補助パッド部33を待機位置まで上昇させる。これによって、ガラス基板Wが捩れていたり、反っていた場合でも、確実にガラス基板Wを吸着して保持できる。   Furthermore, the control unit 39 operates the air compressor 35 to drive the four suction auxiliary units 30 that are standing by above the four corners of the glass substrate W. Specifically, the valve 34 provided between the air cylinder 31 and the air compressor is opened. As a result, the auxiliary pad portion 33 of each suction assisting portion 30 descends, presses the four corners of the element forming surface W1 of the glass substrate W from above, and is sandwiched between the auxiliary pad portion 33 and the suction pad portion 18, The glass substrate W is pressed against the lower suction pad portion 18. When the auxiliary pad 33 presses the side edge of the element forming surface W1 of the glass substrate W, the control unit 39 immediately closes the valve 34 and raises the auxiliary pad 33 to the standby position. Thereby, even when the glass substrate W is twisted or warped, the glass substrate W can be reliably adsorbed and held.

このようにして、ガラス基板Wを吸着パッド部18に吸着保持させたら、各スライダ12がベース部2の他端部に向かって同期して移動を開始する。このとき、補助部30は、基板搬入出部4に残ったままとなる。そして、ガラス基板W上のパターンが顕微鏡41の下方に差し掛かったら、顕微鏡41でパターンの拡大像を取得し、モニタに出力する。より詳細には、顕微鏡41をY方向に移動させながらガラス基板Wの幅方向の拡大像を取得したら、各スライダ12を同期して所定長だけ移動させ、次のパターンの拡大像を取得する。予定されている全てのパターンの拡大像を取得したら、各スライダ12を後退させ、ガラス基板Wを基板搬入出部4に戻す。そして、吸着パッド部18による吸着を解除し、リフトピン20でガラス基板Wを持ち上げてから、基板搬送ロボット6でガラス基板Wを搬出する。   When the glass substrate W is sucked and held in the suction pad portion 18 in this way, each slider 12 starts moving in synchronization toward the other end portion of the base portion 2. At this time, the auxiliary unit 30 remains in the substrate carry-in / out unit 4. When the pattern on the glass substrate W reaches the lower side of the microscope 41, an enlarged image of the pattern is acquired by the microscope 41 and output to the monitor. More specifically, when an enlarged image in the width direction of the glass substrate W is acquired while moving the microscope 41 in the Y direction, each slider 12 is moved by a predetermined length in synchronization to acquire an enlarged image of the next pattern. When the enlarged images of all the planned patterns are acquired, each slider 12 is retracted, and the glass substrate W is returned to the substrate carry-in / out unit 4. Then, after the suction by the suction pad portion 18 is released and the glass substrate W is lifted by the lift pins 20, the glass substrate W is unloaded by the substrate transport robot 6.

この実施の形態によれば、基板浮上ステージ3、スライダ12、吸着部16などから基板搬送装置を構成し、基板搬入出部4に吸着補助部30を設けて、ガラス基板Wの特に反りやすい四隅を上方から押すようにしたので、吸着パッド部18でガラス基板Wを確実に吸着することが可能になる。この場合に、補助パッド部33は、下支点でガラス基板Wを吸着パッド部18に押し付けるように、一往復だけ移動するので、ガラス基板Wを搬送する際には、吸着補助部30はガラス基板Wから離間した位置に待機する。したがって、ガラス基板Wと吸着補助部30とが接触する時間が短くなり、ガラス基板Wの負荷を低減させることができ、ガラス基板Wに傷等が付くことはない。また、吸着エラーによって、ガラス基板Wの検査が実施できなくなることがないので、生産効率を向上させることができる。
また、基板搬送装置に検査部5を設けることで基板検査装置1を構成したので、ガラス基板Wに傷等を付けることなく搬送しながら基板表面の外観検査を行うことが可能になる。したがって、ガラス基板Wを用いた製品の品質を向上させることができる。
According to this embodiment, a substrate transport device is configured by the substrate floating stage 3, the slider 12, the suction unit 16, and the like, the suction auxiliary unit 30 is provided in the substrate carry-in / out unit 4, and the four corners of the glass substrate W that are particularly likely to warp. Is pushed from above, the glass substrate W can be reliably sucked by the suction pad portion 18. In this case, since the auxiliary pad portion 33 moves only once so as to press the glass substrate W against the suction pad portion 18 at the lower fulcrum, when the glass substrate W is transported, the suction auxiliary portion 30 is moved to the glass substrate. Wait at a position away from W. Therefore, the time for which the glass substrate W and the adsorption assisting portion 30 are in contact with each other is shortened, the load on the glass substrate W can be reduced, and the glass substrate W is not damaged. Further, since the glass substrate W cannot be inspected due to an adsorption error, the production efficiency can be improved.
In addition, since the substrate inspection apparatus 1 is configured by providing the inspection unit 5 in the substrate transfer apparatus, it is possible to inspect the appearance of the substrate surface while transferring the glass substrate W without damaging it. Therefore, the quality of the product using the glass substrate W can be improved.

なお、図2及び図3には、ガラス基板Wの隅部が上向きに反っているが、隅部が下向きに反っている場合でも同様の作用及び効果が得られる。また、制御部39は、圧力センサ36が吸着エラーを検出したときに4つの吸着補助部30を駆動させるように構成しても良い。ここにおいて、吸着エラーとは、圧力センサ36が吸着パッド部18内の減圧を検出しない状態をいう。   2 and 3, the corners of the glass substrate W are warped upward, but similar actions and effects can be obtained even when the corners are warped downward. Further, the control unit 39 may be configured to drive the four adsorption assisting units 30 when the pressure sensor 36 detects an adsorption error. Here, the suction error refers to a state in which the pressure sensor 36 does not detect decompression in the suction pad portion 18.

次に、この発明の第2の実施の形態について説明する。なお、第1の実施の形態と同じ構成要素には同一の符号を付してある。また、重複する説明は省略する。
この実施の形態は、吸着補助部30がスライダ12に取り付けられていることを特徴とする。図5に示すように、スライダ12の支持部14の外側面には、支持フレーム50が固定されている。この支持フレーム50は、ガラス基板Wの端面よりも外側を通って上方に延びている。支持フレーム50の内側には、L字状の板金51が取り付けられており、ここに吸着補助部30のエアシリンダ31が吊り下げられている。エアシリンダ31は、鉛直下向きに進退自在なロッド32を有し、ロッド32の下端には補助パッド部33が取り付けられている。吸着補助部30は、ガラス基板Wの四隅に対応する吸着パッド部18のそれぞれの上方に、合計4つ設けられている。
Next explained is the second embodiment of the invention. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same component as 1st Embodiment. In addition, overlapping description is omitted.
This embodiment is characterized in that the adsorption assisting portion 30 is attached to the slider 12. As shown in FIG. 5, a support frame 50 is fixed to the outer surface of the support portion 14 of the slider 12. The support frame 50 extends upward beyond the end surface of the glass substrate W. An L-shaped sheet metal 51 is attached to the inside of the support frame 50, and the air cylinder 31 of the suction assisting unit 30 is suspended here. The air cylinder 31 has a rod 32 that can be vertically advanced and retracted, and an auxiliary pad portion 33 is attached to the lower end of the rod 32. A total of four suction assisting portions 30 are provided above the suction pad portions 18 corresponding to the four corners of the glass substrate W, respectively.

この実施の形態では、ガラス基板Wが基板搬入出部4に移載されたら、ガラス基板Wをエア浮上させた状態で、吸着パッド部18を上昇させてガラス基板Wの下方から当接させ、吸着保持する。この際に、吸着補助部30を駆動させて、補助パッド部33を降下させ、ガラス基板Wの上方から押し当てた後に、速やかに補助パッド部33を上昇させる。これによって、ガラス基板Wが反っていた場合でも吸着パッド部18に確実に吸着保持される。吸着パッド部18がガラス基板Wの表面から離れたら、リニアモータを駆動させ、スライダ12をX方向に沿ってベース部2の他端部側に向かって移動させ、検査部5による検査を行う。ここで、移動している間に、吸着パッド部18からガラス基板Wが離れた場合には、その吸着パッド部18の圧力センサ36が吸着エラーを出力するので、スライダ12を一端停止させた後に制御部39がその吸着パッド部18の上方に共に移動している吸着補助部30を駆動させ、前記と同様にしてガラス基板Wを吸着パッド部18に押し当て、再びガラス基板Wを吸着保持させる。なお、スライダ12を一端停止させることなく、吸着パッド部18をZ方向に往復移動させて再びガラス基板Wを吸着保持させても良い。   In this embodiment, when the glass substrate W is transferred to the substrate carry-in / out unit 4, the suction pad unit 18 is raised and brought into contact with the glass substrate W from below with the glass substrate W being air-floated. Hold by adsorption. At this time, the auxiliary suction portion 30 is driven to lower the auxiliary pad portion 33, and after pressing from above the glass substrate W, the auxiliary pad portion 33 is quickly raised. Thereby, even when the glass substrate W is warped, the suction pad portion 18 is reliably sucked and held. When the suction pad portion 18 is separated from the surface of the glass substrate W, the linear motor is driven, the slider 12 is moved toward the other end side of the base portion 2 along the X direction, and the inspection by the inspection portion 5 is performed. Here, when the glass substrate W is separated from the suction pad portion 18 while moving, the pressure sensor 36 of the suction pad portion 18 outputs a suction error, so that the slider 12 is stopped once. The control unit 39 drives the suction auxiliary unit 30 moving together above the suction pad unit 18, presses the glass substrate W against the suction pad unit 18 in the same manner as described above, and sucks and holds the glass substrate W again. . Note that the glass substrate W may be sucked and held again by reciprocating the suction pad portion 18 in the Z direction without stopping the slider 12 at one end.

この実施の形態によれば、吸着補助部30を設けたので、ガラス基板Wを上側から吸着パッド部18に押し付けることができ、ガラス基板Wが反っている場合でも、確実に吸着保持を行わせることができる。さらに、吸着補助部30がスライダ12に設けられているので、ガラス基板Wが移動する際に、常に吸着補助部30を吸着パッド部18の上方に待機させることができる。したがって、ガラス基板Wの移動中などに吸着が解除された場合でも、速やかに吸着保持された状態に復帰させることができる。   According to this embodiment, since the suction assisting portion 30 is provided, the glass substrate W can be pressed against the suction pad portion 18 from above, and even if the glass substrate W is warped, suction holding is performed reliably. be able to. Furthermore, since the suction assisting part 30 is provided on the slider 12, the suction assisting part 30 can always be kept waiting above the suction pad part 18 when the glass substrate W moves. Therefore, even when the suction is released during the movement of the glass substrate W or the like, it is possible to quickly return to the sucked and held state.

なお、本発明は、前記の各実施の形態に限定されずに広く応用することが可能である。
例えば、吸着部16、吸着補助部30の数及び配置は、各実施の形態に限定されず、ガラス基板Wの側縁部のほぼ全長に亘って配置するなど種々の形態をとることができる。例えば、第1の実施の形態の変形例を図6に示す。図6には、X方向に沿って、ガラス基板Wの搬送方向前側から、吸着部16A、吸着部16B、吸着部16Cが配設されている。吸着部16A,16Cは、ガラス基板Wの両端部に相当する位置に設けられ、吸着パッド部18がX方向にそれぞれ5つ配列されている。吸着部16Bは、ガラス基板WのX方向の中央に設けられ、吸着パッド部18がX方向に3つ配列されている。これに対して、基板搬入出部4には、X方向に沿って吸着補助部30A、吸着補助部30B、吸着補助部30Cが配置されている。吸着補助部30A,30Cは、基板搬入出部4において、吸着部16A,16Cの上方に配置されており、各吸着パッド部18に対向するように6つの補助パッド部33がそれぞれ配設されている。吸着補助部30Bは、基板搬入出部4において、吸着部16Bの上方に配置されており、各吸着パッド部18に対向するように3つの補助パッド部33が配設されている。この場合には、基板搬入出部4において、ガラス基板Wの隅部と、隅部の略中間を上方から押圧することで、ガラス基板Wをさらに確実に吸着保持させることが可能になる。特に、ガラス基板Wの側縁部が波打つように反っている場合でも全ての吸着パッド部18に確実に吸着保持することが可能になる。なお、この配置は、第2の実施の形態に適用することも可能である。
The present invention is not limited to the above-described embodiments and can be widely applied.
For example, the number and arrangement of the adsorption parts 16 and the adsorption auxiliary parts 30 are not limited to the respective embodiments, and various forms such as arrangement over almost the entire length of the side edge of the glass substrate W can be taken. For example, FIG. 6 shows a modification of the first embodiment. In FIG. 6, the suction part 16 </ b> A, the suction part 16 </ b> B, and the suction part 16 </ b> C are arranged along the X direction from the front side in the transport direction of the glass substrate W. The suction portions 16A and 16C are provided at positions corresponding to both ends of the glass substrate W, and five suction pad portions 18 are arranged in the X direction. The suction part 16B is provided at the center in the X direction of the glass substrate W, and three suction pad parts 18 are arranged in the X direction. On the other hand, the substrate carry-in / out unit 4 is provided with a suction auxiliary portion 30A, a suction auxiliary portion 30B, and a suction auxiliary portion 30C along the X direction. The suction auxiliary portions 30A and 30C are arranged above the suction portions 16A and 16C in the substrate carry-in / out portion 4, and six auxiliary pad portions 33 are arranged so as to face the suction pad portions 18, respectively. Yes. The suction auxiliary portion 30B is disposed above the suction portion 16B in the substrate carry-in / out portion 4, and three auxiliary pad portions 33 are disposed so as to face the suction pad portions 18. In this case, in the substrate carry-in / out section 4, the glass substrate W can be more securely attracted and held by pressing the corner of the glass substrate W and the substantially middle of the corner from above. In particular, even when the side edge portion of the glass substrate W is warped so as to be waved, it is possible to reliably hold it by suction to all the suction pad portions 18. This arrangement can also be applied to the second embodiment.

また、第2の実施の形態の変形例を図7に示す。吸着部16A、吸着部16B、及び吸着部16Cのそれぞれの上方には、吸着補助部60A、吸着補助部60B、吸着補助部60Cが配設されている。吸着補助部60A、60Cは、5つの吸着パッド部18に対してガラス基板Wを同時に押圧できる補助パッド部61Aが1つのエアシリンダ31に取り付けられている。吸着補助部60Bは、3つの吸着パッド部18に対してガラス基板Wを同時に押圧できる補助パッド部61Bが1つのエアシリンダ31に取り付けられている。この場合には、エアシリンダ31を少なくした状態で、図6と同様の効果が得られる。なお、図7においては、吸着補助部60A、60B、60Cは、支持フレーム50及び板金51によってスライダ12に固定されているが、基板搬入出部4においてベース部2に固定されても良い。   A modification of the second embodiment is shown in FIG. Above each of the adsorption unit 16A, the adsorption unit 16B, and the adsorption unit 16C, an adsorption auxiliary unit 60A, an adsorption auxiliary unit 60B, and an adsorption auxiliary unit 60C are disposed. The auxiliary suction portions 60A and 60C are provided with an auxiliary pad portion 61A that can simultaneously press the glass substrate W against the five suction pad portions 18 attached to one air cylinder 31. In the suction assisting part 60B, an auxiliary pad part 61B capable of simultaneously pressing the glass substrate W against the three suction pad parts 18 is attached to one air cylinder 31. In this case, the same effect as in FIG. 6 can be obtained with a reduced number of air cylinders 31. In FIG. 7, the suction auxiliary portions 60 </ b> A, 60 </ b> B, and 60 </ b> C are fixed to the slider 12 by the support frame 50 and the sheet metal 51, but may be fixed to the base portion 2 in the substrate carry-in / out portion 4.

さらに、図8に示すように、X方向に沿って、ガラス基板Wの両端部と、中央に相当する位置に、吸着部16D、吸着部16E、吸着部16Fを配設し、これに対応して3つの吸着補助部群70A,70B,70Cを配設しても良い。ここで、吸着部16D,16Fには、それぞれ3つの吸着パッド部18がX方向に沿って配設されており、吸着パッド部18のそれぞれに1つずつ圧力センサ36が設けられている。吸着補助部群70A,70Cは、3つの補助パッド部33が配設された吸着補助部30DがX方向に2つ配列されたもので、各補助パッド部33は対向する吸着パッド部18の上方に配置されている。1つの吸着補助部30Dの含まれる3つのエアシリンダ31は、1つのバルブ34で駆動制御されている。吸着補助部群70Bは、3つの補助パッド部33が1つのバルブ34で制御可能な吸着補助部30Dを1つ有している。この場合には、吸着エラーを起こした吸着パッド部18に対応する吸着補助部30Dのみを駆動させる。例えば、ガラス基板Wの先端側の吸着部16Dの3つの吸着パッド部18のいずれかに接続されている圧力センサ36が吸着エラーを検出したときには、制御部39が最も先端側の吸着補助部30Dのバルブ34を開閉動作させ、3つの補助パッド部33を同時に上下方向に1回往復移動させる。これによって、ガラス基板Wの先端側が吸着パッド部18に押し付けられ、吸着エラーが解消される。吸着エラーが発生した箇所の吸着補助部30Dを稼動させることで、ガラス基板Wが押圧する力を最小限に止めることができ、特にガラス基板Wが波打つように反っている場合に高い効果を発揮する。なお、エアシリンダ31ごとにバルブ34を設けて、補助パッド部33を1つずつ制御できるようにしても良いし、近接する複数の吸着パッド部18に対して一つの圧力センサ36を設けて、いずれかの吸着パッド部18がガラス基板Wを吸着できかったときに吸着エラーを出力するようにしても良い。   Further, as shown in FIG. 8, suction portions 16D, suction portions 16E, and suction portions 16F are disposed along the X direction at positions corresponding to both ends and the center of the glass substrate W. Alternatively, three adsorption assisting unit groups 70A, 70B, and 70C may be provided. Here, each of the suction portions 16D and 16F is provided with three suction pad portions 18 along the X direction, and one pressure sensor 36 is provided for each of the suction pad portions 18. The suction assisting unit groups 70A and 70C are composed of two suction assisting units 30D in which three auxiliary pad portions 33 are arranged in the X direction, and each auxiliary pad 33 is located above the opposing suction pad 18. Is arranged. The three air cylinders 31 included in one adsorption assisting unit 30D are driven and controlled by one valve 34. The adsorption assisting unit group 70 </ b> B has one adsorption assisting unit 30 </ b> D in which three auxiliary pad units 33 can be controlled by one valve 34. In this case, only the suction assisting unit 30D corresponding to the suction pad unit 18 in which the suction error has occurred is driven. For example, when the pressure sensor 36 connected to any one of the three suction pad portions 18 of the suction portion 16D on the front end side of the glass substrate W detects a suction error, the control portion 39 is the frontmost suction auxiliary portion 30D. The valve 34 is opened and closed, and the three auxiliary pad portions 33 are simultaneously reciprocated once in the vertical direction. As a result, the tip side of the glass substrate W is pressed against the suction pad portion 18 and the suction error is eliminated. By operating the suction assisting portion 30D at the location where the suction error has occurred, the pressing force of the glass substrate W can be kept to a minimum, especially when the glass substrate W is warped so as to wave. To do. A valve 34 may be provided for each air cylinder 31 so that the auxiliary pad portion 33 can be controlled one by one, or one pressure sensor 36 may be provided for a plurality of adjacent suction pad portions 18. A suction error may be output when any of the suction pad portions 18 cannot suck the glass substrate W.

また、基板搬入出部4には、ガラス基板Wを位置決めする位置決め機構を設けても良い。位置決め機構としては、例えば、ガラス基板Wの側面に当接して位置決めの基準となる固定式の基準ピンと、ガラス基板Wの側面に当接してガラス基板Wを基準ピンに向かって押圧する移動式のピンとを有するものがあげられる。
さらに、ガラス基板Wの両方の側縁部を吸着保持する代わりに、一方の側縁部のみを吸着保持して搬送するようにしても良い。この場合の吸着補助部30は、スライダ12及び吸着部16を有する片側のみに設けられる。吸着補助部30は、エアシリンダ31の代わりに、ソレノイド式のシリンダ等、補助パッド部33、61A,61Bを上下移動させて、ガラス基板Wの吸着保持をアシストできる動作を行うものを用いることができる。基板浮上ステージ3は、エアの代わりに窒素ガスや、アルゴンガス等を使用しても良い。また、基板浮上ステージ3は、静電気や、超音波を利用してガラス基板Wを浮上させても良い。
そして、ガラス基板Wを水平に配置する代わりに、ガラス基板Wを垂直に配置し、ガラス基板Wを挟むように吸着部16と吸着補助部30とを配置しても良い。
Further, the substrate carry-in / out unit 4 may be provided with a positioning mechanism for positioning the glass substrate W. As the positioning mechanism, for example, a fixed reference pin that comes into contact with the side surface of the glass substrate W and serves as a positioning reference, and a movable type that comes into contact with the side surface of the glass substrate W and presses the glass substrate W toward the reference pin. One having a pin.
Further, instead of suction-holding both side edges of the glass substrate W, only one side edge may be suction-held and transported. In this case, the suction auxiliary portion 30 is provided only on one side having the slider 12 and the suction portion 16. Instead of the air cylinder 31, the suction assisting part 30 is a solenoid type cylinder or the like that moves the auxiliary pad parts 33, 61 </ b> A, 61 </ b> B up and down and performs an operation capable of assisting suction holding of the glass substrate W. it can. The substrate floating stage 3 may use nitrogen gas, argon gas or the like instead of air. Further, the substrate floating stage 3 may float the glass substrate W using static electricity or ultrasonic waves.
Then, instead of arranging the glass substrate W horizontally, the glass substrate W may be arranged vertically, and the adsorption unit 16 and the adsorption auxiliary unit 30 may be arranged so as to sandwich the glass substrate W.

本発明の実施の形態に係る基板搬送装置及びこれを備える基板検査装置の構成を示す平面図である。It is a top view which shows the structure of the board | substrate conveyance apparatus which concerns on embodiment of this invention, and a board | substrate inspection apparatus provided with the same. 吸着部及び吸着補助部の構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure of an adsorption | suction part and an adsorption | suction auxiliary | assistant part. 吸着部及び吸着補助部を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an adsorption | suction part and an adsorption | suction auxiliary | assistant part. 吸着部と吸着補助部の制御ブロック図である。It is a control block diagram of a suction part and a suction auxiliary part. スライダに吸着補助部が取り付けられた構成を示す側面図である。It is a side view which shows the structure by which the adsorption | suction auxiliary | assistant part was attached to the slider. 吸着部及び吸着補助部の配置を示す図である。It is a figure which shows arrangement | positioning of an adsorption | suction part and an adsorption | suction auxiliary part. 吸着補助部の構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a structure of an adsorption | suction auxiliary | assistant part. 吸着部と吸着補助部の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of an adsorption | suction part and an adsorption | suction auxiliary | assistant part.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板検査装置
3 基板浮上ステージ(ステージ)
4 基板搬入出部
5 検査部
12 スライダ(搬送手段)
16,16A〜16F 吸着部
30,30A〜30D,60A〜60C 吸着補助部
39 制御部
W ガラス基板(基板)
W1 素子形成面(基板表面)
W2 非素子形成面(裏面)

1 Substrate inspection device 3 Substrate floating stage (stage)
4 Substrate loading / unloading section 5 Inspection section 12 Slider (conveyance means)
16, 16A-16F Suction part 30, 30A-30D, 60A-60C Suction auxiliary part 39 Control part W Glass substrate (substrate)
W1 Element formation surface (substrate surface)
W2 Non-element formation surface (back)

Claims (5)

基板を浮上させるステージと、前記ステージに沿って移動可能に設けられ、前記基板の端部の裏面に下側から当接して前記基板を吸着して保持する吸着部を有する搬送手段と、前記吸着部で前記基板を吸着保持するときに、前記基板表面に上方から当接して前記基板を前記吸着部に押し付けた後に、前記基板表面よりも上方に退避する吸着補助部と、を備えることを特徴とする基板搬送装置。   A stage for levitating the substrate, a conveying means provided so as to be movable along the stage, and having a suction portion that comes into contact with the back surface of the end portion of the substrate from the lower side to suck and hold the substrate; and the suction A suction assisting portion that retracts upward from the substrate surface after the substrate is pressed against the suction portion by pressing the substrate against the suction surface when holding the substrate by suction. A substrate transfer device. 前記吸着補助部は、前記基板を前記ステージ上に搬入する位置に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の基板搬送装置。   The substrate conveyance device according to claim 1, wherein the suction assisting unit is disposed at a position where the substrate is carried onto the stage. 前記吸着補助部は、前記搬送手段に取り付けられていることを特徴とする請求項1に記載の基板搬送装置。   The substrate conveyance device according to claim 1, wherein the adsorption assisting unit is attached to the conveyance unit. 前記ガラス基板を吸着できない前記吸着部を検出し、そのような前記吸着部の上方に配置されている前記吸着補助部を駆動させる制御部を備えることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の基板搬送装置。   The control part which detects the said adsorption | suction part which cannot adsorb | suck the said glass substrate, and drives the said adsorption | suction auxiliary part arrange | positioned above the said adsorption | suction part is provided. The board | substrate conveyance apparatus as described in any one. 前記搬送手段の経路上に、前記基板の外観を検査する検査部を設けたことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の基板検査装置。

The substrate inspection apparatus according to claim 1, wherein an inspection unit that inspects the appearance of the substrate is provided on a path of the transport unit.

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