JP2006154780A - ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物 - Google Patents

ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物 Download PDF

Info

Publication number
JP2006154780A
JP2006154780A JP2005311850A JP2005311850A JP2006154780A JP 2006154780 A JP2006154780 A JP 2006154780A JP 2005311850 A JP2005311850 A JP 2005311850A JP 2005311850 A JP2005311850 A JP 2005311850A JP 2006154780 A JP2006154780 A JP 2006154780A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
resin composition
copolymer
weight
positive photosensitive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005311850A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4655882B2 (ja
Inventor
Junji Ito
淳史 伊藤
Kenichi Yokoyama
健一 横山
Katsumi Inomata
克巳 猪俣
Shinichiro Iwanaga
伸一郎 岩永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
JSR Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JSR Corp filed Critical JSR Corp
Priority to JP2005311850A priority Critical patent/JP4655882B2/ja
Publication of JP2006154780A publication Critical patent/JP2006154780A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4655882B2 publication Critical patent/JP4655882B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Materials For Photolithography (AREA)

Abstract

【課題】解像度、電気絶縁性、熱衝撃性、密着性等の諸特性に優れた硬化物を形成可能なポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物を提供すること。
【解決手段】(A)(A1)下記一般式(1)で示される構造単位10〜99モル%、および(A2)下記一般式(2)で示される構造単位90〜1モル%からなる共重合体、(B)キノンジアジド基を有する化合物、(C)(C1)アルキルエーテル化されたアミノ基含有化合物、および/または、(C2)エポキシ基含有化合物、(D)溶剤、ならびに(E)密着助剤を含有することを特徴とするポジ型感光性絶縁樹脂組成物、ならびにその硬化物。
Figure 2006154780

(RaおよびRcは炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基またはアリール基を、RbおよびRdは水素原子またはメチル基を表し、nは0〜3の整数、mは1〜3の整数である。)
【選択図】なし

Description

本発明は、半導体素子などの表面保護膜(オーバーコート膜)や層間絶縁膜(パッシベーション膜)などに用いられるポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびそれを硬化してなる硬化物(絶縁物)に関する。より詳細には、永久膜レジストとして解像性に優れているとともに電気絶縁性、熱衝撃性、密着性等の特性に優れた硬化物、およびそのような硬化物が得られるポジ型感光性絶縁樹脂組成物に関する。
従来、電子機器の半導体素子に用いられる層間絶縁膜、表面保護膜などには耐熱性、機械的特性などに優れているポリイミド系樹脂やポリベンゾオキサゾール系樹脂が広く使用されている。また、生産性の向上、膜形成精度の向上などのために感光性を付与した感光性ポリイミドや感光性ポリベンゾオキサゾール系樹脂の検討が種々なされている。たとえば、ポリイミド前駆体にエステル結合またはイオン結合により光架橋基を導入したネガ型が実用化されている。さらに、ポジ型としては、特開平5−5996号公報や特開2000−98601号公報などにポリイミド前駆体とキノンジアジド化合物からなる組成物が、また特開平11−237736号公報などにポリベンゾオキサゾール前駆体とキノンジアジド化合物からなる組成物が記載されている。しかしながら、これらの系では硬化後の膜減り(体積収縮率)や硬化時の多段階ベーク、雰囲気制御などの問題点を抱えており、工業的に実施する場合には使用しにくいという問題が指摘されている。
感光性樹脂組成物の諸特性を改善するために、様々な組成物が提案されており、たとえばポリフェニレンオキシド系樹脂を用いたポジ型の感光性樹脂組成物が、特開2000−275842号公報や特開2001−312064号公報などで報告されている。しかしながら、これらの系では絶縁樹脂として解像度、電気絶縁性、熱衝撃性、密着性における各性能のバランスの点で問題がある。
また、ヒドロキシスチレン類から形成される(共)重合体をアルカリ可溶性樹脂として用いたポジ型の感光性樹脂組成物も提案されている。このような組成物として、特開平7−140648号公報(特許文献1)には、ポリビニルフェノールからなるアルカリ可溶性樹脂、特定の感光剤、特定の熱硬化剤および溶剤からなる熱硬化型感光材料が開示されている。特開平6−43637号公報(特許文献2)には、アルカリ可溶性樹脂、キノンジアド化合物および架橋剤を含む樹脂組成物が開示され、アルカリ可溶性樹脂としてはp−ヒドロキシスチレン構造を含む共重合体が例示されている。
さらに特開2003−215789号公報(特許文献3)にも、フェノール性水酸基を有するアルカリ可溶性樹脂、キノンジアジド化合物、架橋微粒子、硬化剤および溶剤を含有するポジ型の感光性樹脂組成物が、特開2003−215795号公報(特許文献4)にはさらに酸発生剤を含有するポジ型の感光性樹脂組成物が開示され、該アルカリ可溶性樹脂としてポリヒドロキシスチレンおよびその共重合体が例示されている。また、該組成物から得られる絶縁膜の解像性、熱衝撃性、耐熱性などの観点から所定の分子量のアルカリ可溶性樹脂を使用することが、熱衝撃性、耐熱性の観点から架橋微粒子を使用することが、さらに電気絶縁性などの観点から硬化剤を所定量使用することが教示されている。
しかしながら、これらの系においても、解像度、電気絶縁性、熱衝撃性、密着性における各性能のバランスに優れた硬化物を形成可能な樹脂組成物は得られていない。また、これらの樹脂組成物で使用可能とされるポリヒドロキシスチレン共重合体は、アルカリ水溶液による硬化物の現像を可能にするために使用される。しかしながら、いずれの文献にお
いても、ポリヒドロキシスチレン共重合体の具体的な種類や組成は検討されておらず、ポリヒドロキシスチレン共重合体の種類や組成を制御することによって、樹脂組成物およびその硬化物のアルカリ現像性以外の諸特性を向上させるという思想も何ら記載されていない。
特開平7−140648号公報 特開平6−43637号公報 特開2003−215789号公報 特開2003−215795号公報
本発明は上記のような従来技術に伴う問題点を解決し、解像度、電気絶縁性、熱衝撃性、密着性等の諸特性に優れた硬化物を得ることができる半導体素子用の層間絶縁膜、表面保護膜などの用途に適したポジ型感光性絶縁樹脂組成物を提供することを目的とする。
さらに、本発明はこのようなポジ型感光性絶縁樹脂組成物を硬化させた、解像度、電気絶縁性、熱衝撃性、密着性等の諸特性に優れた硬化物を提供することを目的とする。
本発明者らは、前記問題点を解決すべく鋭意研究した結果、特定の構造単位を特定の量で含有するポリヒドロキシスチレン共重合体をアルカリ可溶性樹脂として含有するポジ型感光性絶縁樹脂組成物を用いると、得られる硬化物の電気絶縁性および熱衝撃性が共に著しく向上することを見出し、本発明を完成するに至った。
本発明に係るポジ型感光性絶縁樹脂組成物は、
(A)(A1)下記一般式(1)で示される構造単位10〜99モル%、および
(A2)下記一般式(2)で示される構造単位90〜1モル%
を含有する共重合体(該共重合体を構成する構造単位の全量を100モル%とする。)、
Figure 2006154780
(Raは、炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基またはアリール基を表す。
Rbは、水素原子またはメチル基を表す。
nは0〜3の整数、mは1〜3の整数である。)
Figure 2006154780
(Rcは、炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基またはアリール基を表す。
Rdは、水素原子またはメチル基を表す。
nは0〜3の整数である。)
(B)キノンジアジド基を有する化合物、
(C)(C1)アルキルエーテル化されたアミノ基含有化合物、および/または、
(C2)エポキシ基含有化合物、ならびに
(D)溶剤、ならびに
(E)密着助剤
を含有することを特徴としている。
前記共重合体(A)は、上記一般式(1)で示される構造単位(A1)10〜99モル%、および上記一般式(2)で示される構造単位(A2)90〜1モル%〔(A1)と(A2)との合計を100モル%とする。〕のみからなることが好ましい。
前記構造単位(A2)は、下記式(2’)で示される構造単位であることが好ましい。
Figure 2006154780
前記ポジ型感光性絶縁樹脂組成物は、さらに(a)フェノール化合物を含有してもよい。
前記共重合体(A)100重量部に対して、前記フェノール化合物(a)の量は1〜200重量部であることが好ましい。
前記共重合体(A)と前記フェノール化合物(a)との合計100重量部に対して、前記キノンジアジド基を有する化合物(B)の量は10〜50重量部、前記化合物(C)の量は1〜100重量部であることが好ましい。
前記ポジ型感光性絶縁樹脂組成物は、さらに(F)平均粒径が30〜500nmであり、構成成分である共重合体の少なくとも1つのTg(ガラス転移温度)が0℃以下である
架橋微粒子を含有していることが好ましい。
前記架橋微粒子(F)の構成成分である共重合体は、スチレン−ブタジエン系共重合体であることが好ましい。
前記共重合体(A)と前記フェノール化合物(a)との合計100重量部に対して、前記架橋微粒子(F)の量は0.1〜50重量部であることが好ましい。
本発明に係る硬化物は、前記ポジ型感光性絶縁樹脂組成物を硬化してなることを特徴としている。
前記硬化物は、
(i)マイグレーション試験後の抵抗値が1010Ω以上であり、かつ、
(ii)−65℃/30分〜150℃/30分を1サイクルとする冷熱衝撃試験において、硬化膜にクラックが発生するまでのサイクル数が、1000サイクル以上である
ことが好ましい。
本発明に係るポジ型感光性絶縁樹脂組成物を用いると、解像性、絶縁性、熱衝撃性、密着性などに優れ、特に絶縁性および熱衝撃性が共に著しく優れた硬化物を形成することができる。
本発明に係る硬化物を用いると、解像度、電気絶縁性、熱衝撃性、密着性等の諸特性に優れ、特に絶縁性および熱衝撃性が共に著しく優れた硬化物半導体素子用の層間絶縁膜、表面保護膜など形成することができる。
以下、本発明に係るポジ型感光性絶縁樹脂組成物、およびその硬化物について具体的に説明する。
[ポジ型感光性絶縁樹脂組成物]
本発明に係るポジ型感光性絶縁樹脂組成物は、上記一般式(1)で示される構造単位(A1)10〜99モル%、および上記一般式(2)で示される構造単位(A2)90〜1モル%(該共重合体を構成する全構造単位の量を100モル%とする。)からなる共重合体(A)、キノンジアジド基を有する化合物(B)、アルキルエーテル化されたアミノ基含有化合物(C1)、および/または、エポキシ基含有化合物(C2)(C)、溶剤(D)、ならびに密着助剤(E)を含有する。また、本発明のポジ型感光性絶縁樹脂組成物は必要に応じて、フェノール化合物、架橋微粒子、増感剤、レベリング剤などのその他添加剤などを含有することもできる。
(A)共重合体;
本発明に用いられる共重合体(A)は、下記一般式(1)で示される構造単位(A1)を形成し得るモノマーと、下記一般式(2)で示される構造単位(A2)を形成し得るモノマーとの共重合体であって、アルカリ可溶性樹脂(以下、「アルカリ可溶性樹脂(A)」ともいう。)である。
Figure 2006154780
(Raは、炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基またはアリール基を表す。
Rbは、水素原子またはメチル基を表す。
nは0〜3の整数、mは1〜3の整数である。)
Figure 2006154780
(Rcは、炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基またはアリール基を表す。
Rdは、水素原子またはメチル基を表す。
nは0〜3の整数である。)
上記一般式(1)で示される構造単位(A1)を形成し得るモノマーとしては、下記式(1a)で表されるモノマーが挙げられる。
Figure 2006154780
(Raは、炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基またはアリール基を表す。
Rbは、水素原子またはメチル基を表す。
nは0〜3の整数、mは1〜3の整数である。)
具体的には、p−ヒドロキシスチレン、m−ヒドロキシスチレン、o−ヒドロキシスチレン、p−イソプロペニルフェノール、m−イソプロペニルフェノール、o−イソプロペニルフェノールなどのフェノール性水酸基を有する芳香族ビニル化合物が挙げられ、これらの中では、p−ヒドロキシスチレン、p−イソプロペニルフェノールが好ましく用いられる。
これらのモノマーは、それぞれ1種単独で、または2種以上を組み合わせて使用することができる。
上記一般式(1)で示される構造単位は、たとえばt−ブチル基、アセチル基などでその水酸基を保護されたモノマーを重合し、得られた共重合体を、公知の方法、たとえば酸触媒下で脱保護してヒドロキシスチレン系構造単位に変換することにより形成できる。
上記一般式(2)で示される構造単位(A2)を形成し得るモノマーとしては、下記式(2a)で表されるモノマーが挙げられる。
Figure 2006154780
(Rcは、炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基またはアリール基を表す。
Rdは、水素原子またはメチル基を表す。
nは0〜3の整数である。)
たとえば、スチレン、α−メチルスチレン、o−メチルスチレン、m−メチルスチレン、p−メチルスチレン、o−メトキシスチレン、m−メトキシスチレン、p−メトキシスチレンなどの芳香族ビニル化合物が挙げられる。これらの中では、スチレン、p−メトキシスチレンが好ましく、スチレンが特に好ましい。
これらのモノマーは、それぞれ1種単独で、または2種以上を組み合わせて使用することができる。
前記共重合体(A)は、前記構造単位(A1)を形成し得るモノマーと、前記構造単位(A2)を形成し得るモノマーとの共重合体であり、本質的に前記構造単位(A1)および前記構造単位(A2)のみからなることが好ましいが、その他のモノマーが共重合されていてもよい。前記共重合体(A)において、前記構造単位(A1)と前記構造単位(A2)との合計100重量部に対して、その他のモノマーから形成される構造単位の量は好ましくは100重量部以下であり、さらに好ましくは50重量部以下であり、特に好ましくは25重量部以下である。
このようなその他のモノマーとしては、たとえば、脂環式骨格を有する化合物、不飽和カルボン酸もしくはそれらの酸無水物類、前記不飽和カルボン酸のエステル類、不飽和ニトリル類、不飽和アミド類、不飽和イミド類、不飽和アルコール類等が挙げられる。
より具体的には、たとえば、(メタ)アクリル酸、マレイン酸、フマル酸、クロトン酸、メサコン酸、シトラコン酸、イタコン酸、無水マレイン酸、無水シトラコン酸等の不飽和カルボン酸あるいはそれらの酸無水物類;
前記不飽和カルボン酸のメチルエステル、エチルエステル、n−プロピルエステル、i−プロピルエステル、n−ブチルエステル、i−ブチルエステル、sec−ブチルエステル、t−ブチルエステル、n−アミルエステル、n−ヘキシルエステル、シクロヘキシルエステル、2−ヒドロキシエチルエステル、2−ヒドロキシプロピルエステル、3−ヒドロキシプロピルエステル、2,2−ジメチル−3−ヒドロキシプロピルエステル、ベンジルエステル、イソボロニルエステル、トリシクロデカニルエステル、1−アダマンチルエステル等のエステル類;
(メタ)アクリロニトリル、マレインニトリル、フマロニトリル、メサコンニトリル、シトラコンニトリル、イタコンニトリル等の不飽和ニトリル類;
(メタ)アクリルアミド、クロトンアミド、マレインアミド、フマルアミド、メサコンアミド、シトラコンアミド、イタコンアミド等の不飽和アミド類;
マレイミド、N−フェニルマレイミド、N−シクロヘキシルマレイミド等の不飽和イミド類;
ビシクロ[2.2.1]ヘプト−2−エン(ノルボルネン)、テトラシクロ[4.4.0.12,5.17,10]ドデカ−3−エン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロオクテ
ン、ジシクロペンタジエン、トリシクロ[5.2.1.02,6]デセンなどの脂環式骨格
を有する化合物;
(メタ)アリルアルコール等の不飽和アルコール類;
N−ビニルアニリン、ビニルピリジン類、N−ビニル−ε−カプロラクタム、N−ビニルピロリドン、N−ビニルイミダゾール、N−ビニルカルバゾール
等を挙げることができる。
これらのモノマーは、それぞれ1種単独で、または2種以上を組み合わせて使用することができる。
共重合体(A)中の上記一般式(1)で示される構造単位(A1)の含有量は、10〜99モル%であり、好ましくは20〜97モル%、より好ましくは30〜95モル%であり、上記一般式(2)で示される構造単位(A2)の含有量は、90〜1モル%であり、好ましくは80〜3モル%、より好ましくは70〜5モル%である(ただし、共重合体(A)を構成する構造単位の全量を100モル%とする。)。構造単位(A1)および構造単位(A2)の含有量がこの範囲外であると、パターニング特性が低下することがあり、硬化物の熱衝撃性などの物性が低下することがある。
また、共重合体(A)が上記のような構造単位から構成され、各構造単位の含有量が上記の範囲にあると、解像度、電気絶縁性、熱衝撃性、密着性等の諸特性に優れた硬化物、特に電気絶縁性および熱衝撃性が共に優れた硬化物を形成することができる。
共重合体(A)の分子量は特に限定されないが、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で測定したポリスチレン換算の重量平均分子量(Mw)が、たとえば200,000以下、好ましくは2,000〜100,000程度である。また、重量平均分子量(Mw)と数平均分子量(Mn)との比(Mw/Mn)は1.0〜10.0が好ましく、1.0〜8.0がより好ましい。Mwが2,000未満であると、硬化物の耐熱性や伸びなどの物性が低下し、200,000を越えると他成分との相溶性が低下したり、パターニング特性が低下することがある。また、Mw/Mnが上記上限を超えると硬化物の耐熱性が低下したり、他成分との相溶性が低下したり、パターニング特性が低下することがある。なお、MnおよびMwは、東ソー社製GPCカラム(G2000HXL:2本、G3000HXL:1本)を用い、流量:1.0ml/分、溶出溶剤:テトラヒドロフラン、カラム温度:40℃の分析条件で、単分散ポリスチレンを標準物質として示差屈折計により測定した。
共重合体(A)において、上記一般式(1)で示される構造単位(A1)と、上記一般式(2)で示される構造単位(A2)と、前記その他のモノマーから形成される構造単位との配列は特に限定されるものではなく、共重合体(A)はランダム共重合体、ブロック共重合体のいずれでも構わない。
上記共重合体(A)を得るには、上記一般式(1)で示される構造単位(A1)を形成し得るモノマーまたはその水酸基を保護した化合物と、上記一般式(2)で示される構造単位(A2)を形成し得るモノマーと、前記その他のモノマーとを、開始剤の存在下、溶剤中で重合させればよい。重合方法は特に限定されるものではないが、上記分子量の共重合体を得るためにラジカル重合やアニオン重合などにより行われる。
通常、上記一般式(1)で示される構造単位を形成しうるモノマーとしては、その水酸基が保護されたモノマーを用いる。水酸基が保護されたモノマーは、重合後に、溶媒中、塩酸、硫酸などの酸触媒下に、温度50〜150℃で1〜30時間反応を行って脱保護することによりフェノール性水酸基含有構造単位に変換される。
また、共重合体(A)のアルカリ溶解性が不十分な場合には、共重合体(A)以外のフ
ェノール環含有化合物(以下、「フェノール化合物(a)」ともいう。)を併用することができる。このようなフェノール化合物(a)としては、前記共重合体(A)以外のフェノール性水酸基を有する樹脂(以下、「フェノール樹脂」という)、低分子フェノール化合物などを挙げることができる。
前記フェノール樹脂としては、フェノール/ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、クレゾール/ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、フェノール−ナフトール/ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、ヒドロキシスチレン単独重合体などが挙げられる。
前記低分子フェノール化合物としては、4,4’−ジヒドロキシジフェニルメタン、4,4’−ジヒドロキシジフェニルエーテル、トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−フェニルエタン、トリス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,3−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン、1,4−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン、4,6−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]−1,3−ジヒドロキシベンゼン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−[4−{1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル}フェニル]エタン、1,1,2,2−テトラ(4−ヒドロキシフェニル)エタンなどが挙げられる。
上記フェノール樹脂と低分子フェノール化合物は併用してもよいが、通常、いずれか一方が用いられる。
これらのフェノール化合物(a)を配合する場合は、組成物として十分なアルカリ溶解性を発現する程度に配合することができる。具体的には、前記共重合体(A)100重量部に対して、好ましくは1〜200重量部、より好ましくは1〜150重量部の範囲で、さらに好ましくは1〜100重量部の範囲で用いることができる。
本発明の組成物において、共重合体(A)とフェノール化合物(a)との合計の含有量は、組成物(ただし、溶剤(D)を除く。)100重量部に対して、通常40〜95重量部、好ましくは50〜80重量部である。
(B)キノンジアジド基を有する化合物;
本発明に用いられるキノンジアジド基を有する化合物(以下、「キノンジアジド化合物(B)」ともいう。)は、フェノール性水酸基を1つ以上有する化合物と、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸とのエステル化合物である。前記フェノール性水酸基を1つ以上有する化合物としては、特に限定されないが、以下に示す構造の化合物が好ましい。
Figure 2006154780
(一般式(3)において、X1〜X10は、それぞれ相互に同一であっても異なっていても
よく、水素原子、炭素数1〜4のアルキル基、炭素数1〜4のアルコキシ基または水酸基である。X1〜X5の少なくとも1つは水酸基である。また、Aは単結合、O、S、CH2
、C(CH32、C(CF32、C=O、またはSO2である。)
Figure 2006154780
(一般式(4)において、X11〜X23は、それぞれ相互に同一であっても異なっていてもよく、前記X1〜X10の場合と同様である。X11〜X15の組み合わせにおいて少なくとも
1つは水酸基である。また、R1〜R4は、水素原子または炭素数1〜4のアルキル基である。)
Figure 2006154780
(一般式(5)において、X25〜X39は、それぞれ相互に同一であっても異なっていてもよく、前記X1〜X10の場合と同様である。X25〜X29およびX30〜X34のそれぞれの組
み合わせにおいて少なくとも1つは水酸基である。また、R5は、水素原子または炭素数
1〜4のアルキル基である。)
Figure 2006154780
(一般式(6)において、X40〜X58は、それぞれ相互に同一であっても異なっていてもよく、前記X1〜X10の場合と同様である。X40〜X44、X45〜X49およびX50〜X54
それぞれの組み合わせにおいて少なくとも1つは水酸基である。また、R6〜R8は、水素原子または炭素数1〜4のアルキル基である。)
Figure 2006154780
(一般式(7)において、X59〜X72は、それぞれ相互に同一であっても異なっていてもよく、前記X1〜X10の場合と同様である。X59〜X62およびX63〜X67のそれぞれの組
み合わせにおいて少なくとも1つは水酸基である。)
このようなキノンジアジド化合物(B)としては、4,4’−ジヒドロキシジフェニルメタン、4,4’−ジヒドロキシジフェニルエーテル、2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,2’,
4’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、トリス(4−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−フェニルエタン、1,3−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン、1,4−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]ベンゼン、4,6−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]−1,3−ジヒドロキシベンゼン、1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−[4−{1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル}フェニル]エタンなどの1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸エステル化合物または1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸エステル化合物などが挙げられる。
本発明の組成物において、キノンジアジド化合物(B)の配合量は、前記共重合体(A)と前記フェノール化合物(a)との合計100重量部に対して、好ましくは10〜50重量部、より好ましくは15〜30重量部である。配合量が10重量部未満では未露光部の残膜率が低下したり、マスクパターンに忠実な像が得られないことがある。また、配合量が50重量部を超えるとパターン形状が劣化したり、硬化時に発泡することがある。
(C)架橋剤;
本発明に用いられるアルキルエーテル化されたアミノ基含有化合物(C1)、および/または、エポキシ基含有化合物(C2)(以下、これらをまとめて「架橋剤(C)」ともいう。)は、前記共重合体(A)および前記フェノール化合物(a)と反応する架橋成分として作用する。
前記アルキルエーテル化されたアミノ基を含有する化合物(C1)(以下、「アルキルエーテル化アミノ基含有化合物(C1)」という)は分子中に少なくとも2つのアルキルエーテル化されたアミノ基を有する。このアルキルエーテル化されたアミノ基とは、たとえば下記式で示される基である。
−NHRe−O−Rf
(式中、Reはアルキレン基(2価の炭化水素基)を示し、Rfはアルキル基を示す。)
前記アルキルエーテル化アミノ基含有化合物(C1)としては、(ポリ)メチロール化メラミン、(ポリ)メチロール化グリコールウリル、(ポリ)メチロール化ベンゾグアナミン、(ポリ)メチロール化ウレアなどの窒素化合物中の活性メチロール基(CH2OH
基)の全部または一部(ただし、少なくとも2個)がアルキルエーテル化された化合物を挙げることができる。ここで、アルキルエーテルを構成するアルキル基は、メチル基、エチル基またはブチル基であり、互いに同一であっても異なっていてもよい。また、アルキルエーテル化されていないメチロール基は、一分子内で自己縮合していてもよく、二分子間で縮合して、その結果オリゴマー成分が形成されてもよい。具体的には、ヘキサメトキシメチル化メラミン、ヘキサブトキシメチル化メラミン、テトラメトキシメチル化グリコールウリル、テトラブトキシメチル化グリコールウリルなどを用いることができる。
前記エポキシ基を含有する化合物(C2)(以下、「エポキシ基含有化合物(C2)」という)としては、エポキシ基を分子内に含有していれば特に制限されないが、具体的にはフェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノール型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、テトラフェノール型エポキシ樹脂、フェノール−キシリレン型エポキシ樹脂、ナフトール−キシリレン型エポキシ樹脂、フェノール−ナフトール型エポキシ樹脂、フェノール−ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、脂肪族エポキシ樹脂などが挙げられる。
これらの架橋剤(C)は、1種単独でまたは2種以上を組み合わせて使用することができる。
本発明の組成物においては、これらの架橋剤(C)の配合量は、前記共重合体(A)と前記フェノール化合物(a)との合計100重量部に対して、好ましくは1〜100重量部、より好ましくは2〜70重量部である。配合量が1重量部未満では、得られる硬化膜の耐薬品性が低下することがあり、100重量部を超えると解像性が低下することがある。
(D)溶剤;
本発明に用いられる溶剤(D)は、樹脂組成物の取り扱い性を向上させたり、粘度や保存安定性を調節するために添加される。このような溶剤(D)としては、特に制限されず、たとえばエチレングリコールモノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート等のエチレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;
プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル等のプロピレングリコールモノアルキルエーテル類;
プロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリコールジエチルエーテル、プロピレングリコールジプロピルエーテル、プロピレングリコールジブチルエーテル等のプロピレングリコールジアルキルエーテル類;
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノプロピルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノブチルエーテルアセテート等のプロピレングリコールモノアルキルエーテルアセテート類;
エチルセロソルブ、ブチルセロソルブ等のセロソルブ類、ブチルカルビトール等のカルビトール類;
乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−プロピル、乳酸イソプロピル等の乳酸エステル類;
酢酸エチル、酢酸n−プロピル、酢酸イソプロピル、酢酸n−ブチル、酢酸イソブチル、酢酸n−アミル、酢酸イソアミル、プロピオン酸イソプロピル、プロピオン酸n−ブチル、プロピオン酸イソブチル等の脂肪族カルボン酸エステル類;
3−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル等の他のエステル類;
トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類;2−ヘプタノン、3−ヘプタノン、4−ヘプタノン、シクロヘキサノン等のケトン類;
N−ジメチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド類;
γ−ブチロラクン等のラクトン類
を挙げることができる。これらの有機溶媒は、1種単独でまたは2種以上を混合して使用することができる。
溶剤(D)の配合量は、組成物中の溶液以外の成分の合計100重量部に対して、通常40〜900重量部であり、好ましくは60〜400重量部である。
(E)密着助剤;
前記密着助剤(E)としては、官能性シランカップリング剤が好ましく、例えばカルボキシル基、メタクリロイル基、イソシアネート基、エポキシ基などの反応性置換基を有するシランカップリング剤が挙げられ、具体的にはトリメトキシシリル安息香酸、γ−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、γ−イソシアナートプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、1,3,5−N−トリス(トリメトキシシリルプロピル)イソシアヌレートなどが挙げられる。
密着助剤(E)の配合量は、前記共重合体(A)とフェノール化合物(a)との合計100重量部に対して、通常0.5〜10重量部であり、好ましくは0.5〜8.0重量部である。
(F)架橋微粒子;
本発明において必要に応じて用いられることのある架橋微粒子(以下、「架橋微粒子(F)」ともいう。)としては、架橋微粒子を構成する重合体のガラス転移温度(Tg)が
100℃以下であれば特に限定されないが、不飽和重合性基を2個以上有する架橋性モノマー(以下、「架橋性モノマー」と称す。)と、架橋微粒子(F)の少なくとも1つのTgが0℃以下となるように選択される1種以上のその他モノマー(以下、「その他モノマ
ー(f)」と称す。)との共重合体が好ましい。前記その他モノマー(f)としては、重合性基以外の官能基として、たとえばカルボキシル基、エポキシ基、アミノ基、イソシアネート基、水酸基等の官能基を有するモノマーが好ましい。
なお本発明において架橋微粒子(F)のTgとは、架橋微粒子の分散液を凝固、乾燥し
た後、セイコーインスツールメンツSSC/5200HのDSCを用いて−100℃〜150℃の範囲で昇温速度10℃/minで測定した値ある。
前記架橋性モノマーとしては、ジビニルベンゼン、ジアリルフタレート、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレートなどの重合性不飽和基を複数有する化合物を挙げることができる。なかでも、ジビニルベンゼンが好ましい。
前記架橋微粒子(F)を構成する前記架橋性モノマーの比率は、共重合に用いられる全モノマー100重量%に対して、好ましくは0.1〜20重量%の範囲であり、より好ましくは0.5〜10重量%の範囲である。
前記その他モノマー(f)しては、
ブタジエン、イソプレン、ジメチルブタジエン、クロロプレン、1,3−ペンタジエンなどのジエン化合物;
(メタ)アクリロニトリル、α−クロロアクリロニトリル、α−クロロメチルアクリロニトリル、α−メトキシアクリロニトリル、α−エトキシアクリロニトリル、クロトン酸ニトリル、ケイ皮酸ニトリル、イタコン酸ジニトリル、マレイン酸ジニトリル、フマル酸ジニトリルなどの不飽和ニトリル化合物類;
(メタ)アクリルアミド、N,N’−メチレンビス(メタ)アクリルアミド、N,N’−エチレンビス(メタ)アクリルアミド、N,N’−ヘキサメチレンビス(メタ)アクリルアミド、N−ヒドロキシメチル(メタ)アクリルアミド、N−(2−ヒドロキシエチル)(メタ)アクリルアミド、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)(メタ)アクリルアミド、クロトン酸アミド、ケイ皮酸アミドなどの不飽和アミド類;
(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸プロピル、(メタ)アクリル酸ブチル、(メタ)アクリル酸ヘキシル、(メタ)アクリル酸ラウリル、ポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコール(メタ)アクリレートなどの(メタ)アクリル酸エステル類;
スチレン、α−メチルスチレン、o−メトキシスチレン、p−ヒドロキシスチレン、p−イソプロペニルフェノールなどの芳香族ビニル化合物;
ビスフェノールAのジグリシジルエーテル、グリコールのジグリシジルエーテルなどと(メタ)アクリル酸、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートなどとの反応によって得られるエポキシ(メタ)アクリレート、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートとポリ
イソシアナートとの反応によって得られるウレタン(メタ)アクリレート類、グリシジル(メタ)アクリレート、(メタ)アリルグリシジルエーテルなどのエポキシ基含有不飽和化合物;
(メタ)アクリル酸、イタコン酸、コハク酸−β−(メタ)アクリロキシエチル、マレイン酸−β−(メタ)アクリロキシエチル、フタル酸−β−(メタ)アクリロキシエチル、ヘキサヒドロフタル酸−β−(メタ)アクリロキシエチルなどの不飽和酸化合物;
ジメチルアミノ(メタ)アクリレート、ジエチルアミノ(メタ)アクリレート等のアミノ基含有不飽和化合物;
(メタ)アクリルアミド、ジメチル(メタ)アクリルアミド等のアミド基含有不飽和化合物;
ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート等の水酸基含有不飽和化合物など
を例示することができる。
これらの中では、ブタジエン、イソプレン、(メタ)アクリロニトリル、(メタ)アクリル酸アルキルエステル類、スチレン、p−ヒドロキシスチレン、p−イソプロペニルフェノール、グリシジル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリル酸、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート類などが好ましく用いられる。
前記架橋微粒子(F)を構成する他のモノマー(f)の比率は、共重合に用いられる全モノマー100重量%に対して、好ましくは80〜99.9重量%の範囲であり、より好ましくは90.0〜99.5重量%の範囲である。
また、上記他のモノマー(f)として、少なくとも1種のジエン化合物、具体的にはブタジエンを用いることが好ましい。このようなジエン化合物は、共重合に用いる全モノマー100重量%に対して、20〜80重量%、好ましくは30〜70重量%の量で用いられることが望ましい。本発明で用いられる架橋微粒子(F)は、他のモノマー(f)としてブタジエンなどのジエン化合物が全モノマーに対して上記のような量で共重合されていると、ゴム状の軟らかい微粒子となり、特に得られる硬化膜にクラック(割れ)が生ずるのを防止でき、耐久性に優れた硬化膜を得ることができる。また他のモノマー(f)としてスチレンとブタジエンとを共に用いると、誘電率が低い硬化膜を得られる点で好ましい。
前記架橋微粒子(F)の平均粒子径は通常30〜500nmであり、好ましくは40〜200nmであり、さらに好ましくは50〜120nmである。架橋微粒子の粒径コントロール方法は、特に限定されるものではないが、乳化重合により架橋微粒子を合成する場合であれば、使用する乳化剤の量により、乳化重合中のミセルの数を制御し、粒径をコントロールする方法を例示できる。
なお本発明において架橋微粒子(F)の平均粒子径とは、大塚電子製の光散乱流動分布測定装置LPA−3000を用い、架橋微粒子の分散液を常法にしたがって希釈して測定した値である。
また、架橋微粒子(F)の配合量は、前記共重合体(A)と前記フェノール化合物(a)との合計100重量部に対して、好ましくは0.1〜50重量部であり、好ましくは1〜20重量部である。配合量が0.1重量部未満では、得られる硬化膜の熱衝撃性が低下することがあり、50重量部を越えると耐熱性が低下したり、他成分との相溶性(分散性)が低下することがある。
その他の添加剤;
本発明のポジ型感光性樹脂組成物中には、その他の添加剤として、増感剤、レベリング剤、酸発生剤などを、本発明の組成物の特性を損なわない程度に含有させることもできる。
(組成物の調製方法)
本発明のポジ型感光性樹脂樹脂組成物の調整方法は特に限定されず、通常の調製方法を適用することができる。また、各成分を中に入れ完全に栓をしたサンプル瓶を、ウェーブローターの上で撹拌することによっても調製できる。
[硬化物]
本発明に係るポジ型感光性絶縁樹脂組成物は、共重合体(A)、キノンジアジド化合物(B)、架橋剤(C)、溶剤(D)、密着助剤(E)、および必要に応じ、フェノール化合物(a)、架橋微粒子(F)、もしくはその他添加剤を含有しており、その硬化物は解像性、熱衝撃性、密着性、電気絶縁性などに優れている。したがって、本発明のポジ型感光性絶縁樹脂組成物は、特に、半導体素子の表面保護膜や層間絶縁膜材料などとして好適に使用することができる。
このような本発明に係る硬化物は電気絶縁性に優れ、そのマイグレーション試験後の抵抗値は好ましくは108Ω以上であり、より好ましくは109Ω以上、さらに好ましくは1010Ω以上である。ここで、本発明において前記マイグレーション試験とは、具体的には以下のように行われる試験をいう。
樹脂組成物を図3に示す評価基板に塗布し、ホットプレートを用いて110℃で3分間加熱し、銅箔上での厚さが10μmである樹脂塗膜を作製する。その後、対流式オーブンを用いて190℃で1時間加熱して樹脂塗膜を硬化させて硬化膜を得る。この基材をマイグレーション評価システム(タバイエスペック(株)社製 AEI,EHS−221MD)に投入し、温度121℃、湿度85%、圧力1.2気圧、印可電圧5Vの条件で200時間処理した後、試験基材の抵抗値(Ω)を測定する。
また、本発明に係る硬化物は熱衝撃性に優れ、−65℃/30分〜150℃/30分を1サイクルとする冷熱衝撃試験において、硬化物にクラックが発生するまでのサイクル数は、好ましくは1000サイクル以上、より好ましくは1500サイクル以上、さらに好ましくは2000以上である。ここで、本発明において前記冷熱衝撃試験とは、具体的には以下のように行われる試験をいう。
樹脂組成物を図1および図2に示す評価基板に塗布し、ホットプレートを用いて110℃で3分間加熱し、銅箔上での厚さが10μmである樹脂塗膜を作製する。その後、対流式オーブンを用いて190℃で1時間加熱して硬化物を得る。この基板を冷熱衝撃試験器(タバイエスペック(株)社製 TSA−40L)で−65℃/30分〜150℃/30分を1サイクルとして耐性試験を行う。硬化膜にクラックなどの欠陥が発生するまでのサイクル数を100サイクル毎に確認する。したがって、硬化物にクラックなどの欠陥が発生するまでのサイクル数が多いほど、その硬化物は熱衝撃性に優れる。
本発明の硬化物を形成するには、まず本発明にかかるポジ型感光性絶縁樹脂組成物を支持体(樹脂付き銅箔、銅張り積層板や金属スパッタ膜を付けたシリコンウエハーやアルミナ基板など)に塗工し、乾燥させて溶剤などを揮発させて塗膜を形成する。その後所望のマスクパターンを介して露光し、アルカリ性現像液により現像して、露光部を溶解、除去することにより所望のパターンを得ることができる。さらに、絶縁膜特性を発現させるために現像後に加熱処理を行うことにより、硬化膜を得ることができる。
樹脂組成物を支持体に塗工する方法としては、たとえば、ディッピング法、スプレー法、バーコート法、ロールコート法、またはスピンコート法などの塗布方法を用いることができる。また、塗布の厚さは、塗布手段、組成物溶液の固形分濃度や粘度を調節することにより、適宜制御することができる。
露光に用いられる放射線としては、たとえば、低圧水銀灯、高圧水銀灯、メタルハライドランプ、g線ステッパー、i線ステッパーなどの紫外線や電子線、レーザー光線などが挙げられる。露光量は、使用する光源や樹脂膜厚などによって適宜選定されるが、たとえば高圧水銀灯からの紫外線照射の場合、樹脂膜厚10〜50μmでは、1,000〜50,000J/m2程度である。
露光後、アルカリ性現像液により現像して、前記塗膜の露光部を溶解、除去することによって所望のパターンを形成する。この場合の現像方法としては、シャワー現像法、スプレー現像法、浸漬現像法、パドル現像法などを挙げることができ、現像条件は通常、20〜40℃で1〜10分程度である。前記アルカリ性現像液としては、たとえば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アンモニア水、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、コリンなどのアルカリ性化合物を濃度が1〜10重量%程度になるように水に溶解したアルカリ性水溶液を挙げることができる。前記アルカリ性水溶液には、たとえば、メタノール、エタノールなどの水溶性の有機溶剤や界面活性剤などを適量添加することもできる。なお、前記塗膜は、アルカリ性現像液で現像した後に水で洗浄し、乾燥させる。
さらに、現像後に絶縁膜としての特性を十分に発現させるために、加熱処理を行うことによって前記塗膜を十分に硬化させることができる。このような硬化条件は特に制限されないが、硬化物の用途に応じて、50〜200℃の温度で、30分〜10時間程度加熱し、前記塗膜を硬化させることができる。
また、得られたパターン状の塗膜の硬化を十分に進行させたり得られたパターン状の塗膜の変形を防止するために、二段階以上の工程で前記加熱処理を施すこともでき、たとえば、第一段階では50〜120℃の温度で5分〜2時間程度加熱し、第二段階では80〜200℃の温度で10分〜10時間程度加熱して、得られたパターン状の塗膜を硬化させることもできる。
このような硬化条件であれば、加熱設備としてホットプレート、オーブン、赤外線炉などを使用することができる。
[実施例]
以下、実施例により本発明を詳細に説明するが、本発明はこれら実施例により何ら限定されるものではない。なお、以下の実施例、比較例における「部」は特に断らない限り重量部の意味で用いる。
また、硬化物の各特性については、下記の要領で評価した。
解像性:
6インチのシリコンエウハーに樹脂組成物をスピンコートし、ホットプレートを用いて110℃で3分間加熱し、10μm厚の均一な塗膜を作製した。その後、アライナー(Suss Microtec社製 MA−100)を用い、パターンマスクを介して高圧水銀灯からの紫外線を波長350nmにおける露光量が8,000J/m2となるように露
光した。次いで、2.38重量%テトラメチルアンモニウムハイドロキサイド水溶液を用いて23℃で90秒間、浸漬現像した。得られたパターンの最小寸法を解像度とした。
密着性:
SiO2をスパッタしたシリコンウエハーに樹脂組成物を塗布し、ホットプレートを用
いて110℃で3分間加熱し、10μm厚の均一な樹脂塗膜を作製した。その後、対流式
オーブンを用いて190℃で1時間加熱して樹脂塗膜を硬化させて硬化膜を得た。この硬化膜をプレッシャークッカー試験装置(タバイエスペック(株)社製 EHS−221MD)で、温度121℃、湿度100%、圧力2.1気圧の条件下で168時間処理した。試験前後での密着性をJIS K 5400に準拠してクロスカット試験(碁盤目テープ法)を行い、評価した。
熱衝撃性:
図1,2に示すような基板2上にパターン状の銅箔1を有している熱衝撃性評価用の基材3に樹脂組成物を塗布し、ホットプレートを用いて110℃で3分間加熱し、銅箔1上での厚さが10μmである樹脂塗膜を有する基材を作製した。その後、対流式オーブンを用いて190℃で1時間加熱して樹脂塗膜を硬化させて硬化膜を得た。この基材を冷熱衝撃試験器(タバイエスペック(株)社製 TSA−40L)で−65℃/30分〜150℃/30分を1サイクルとして耐性試験を行った。硬化膜にクラックなどの欠陥が発生するまでのサイクル数を100サイクル毎に確認した。
電気絶縁性(マイグレーション試験):
図3に示すような基板5上にパターン状の銅箔4を有している熱衝撃性評価用の基材6に樹脂組成物を塗布し、ホットプレートを用いて110℃で3分間加熱し、銅箔4上での厚さが10μmである樹脂塗膜を有する基材を作製した。その後、対流式オーブンを用いて190℃で1時間加熱して樹脂塗膜を硬化させて硬化膜を得た。この基材をマイグレーション評価システム(タバイエスペック(株)社製 AEI,EHS−221MD)に投入し、温度121℃、湿度85%、圧力1.2気圧、印可電圧5Vの条件で200時間処理した。その後、試験基材の抵抗値(Ω)を測定し、絶縁性を確認した。
[合成例1]
(p−ヒドロキシスチレン/スチレン共重合体の合成)
p−t−ブトキシスチレンとスチレンとをモル比80:20の割合で合計100重量部をプロピレングリコールモノメチルエーテル150重量部に溶解させ、窒素雰囲気下、反応温度を70℃に保持して、アゾビスイソブチロニトリル4重量部を用いて10時間重合させた。その後、反応溶液に硫酸を加えて反応温度を90℃に保持して10時間反応させ、p−t−ブトキシスチレンを脱保護してヒドロキシスチレンに変換した。得られた共重合体に酢酸エチルを加え、水洗を5回繰り返し、酢酸エチル相を分取し、溶剤を除去して、p−ヒドロキシスチレン/スチレン共重合体(以下、「共重合体(A−1)」という)を得た。
この共重合体(A−1)の分子量をゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で測定したところ、ポリスチレン換算の重量平均分子量(Mw)が10,000、重量平均分子量(Mw)と数平均分子量(Mn)との比(Mw/Mn)が3.5であった。また、13C−NMR分析の結果、p−ヒドロキシスチレンとスチレンとの共重合モル比は80:20であった。
[合成例2]
(p−ヒドロキシスチレン単独重合体の合成)
p−t−ブトキシスチレンのみ100重量部をプロピレングリコールモノメチルエーテル150重量部に溶解させた以外は、合成例1と同様にして、p−ヒドロキシスチレン単独重合体(以下、「単独重合体(A−2)」という)を得た。
この単独重合体(A−2)のMwは10,000、Mw/Mnは3.2であった。
[合成例3]
(p−ヒドロキシスチレン/スチレン/ヒドロキシブチルアクリレート共重合体の合成)
p−t−ブトキシスチレン、スチレンおよびヒドロキシブチルアクリレートをモル比80:20:10の割合で合計100重量部をプロピレングリコールモノメチルエーテル1
50重量部に溶解させた以外は、合成例1と同様にして、p−ヒドロキシスチレン/スチレン/ヒドロキシブチルアクリレート共重合体(以下、「共重合体(A−3)」という)を得た。
この共重合体(A−3)のMwは10,000、Mw/Mnは3.5、p−ヒドロキシスチレン:スチレン:ヒドロキシブチルアクリレートの共重合モル比は80:10:10であった。
[合成例4]
(フェノール樹脂(a−1)の合成)
m−クレゾールとp−クレゾールとをモル比60:40の割合で混合し、これにホルマリンを加え、シュウ酸触媒を用いて常法により縮合して、Mwが6,500のクレゾールノボラック樹脂(以下、「フェノール樹脂(a−1)」という)を得た。
[合成例5]
(キノンジアジド化合物の合成)
1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−[4−[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]フェニル]エタン1モルと1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド2.0モルとを、ジオキサン中で攪拌しながら溶解させて溶液を調製した。次いで、この溶液が入ったフラスコを30℃にコントロールされた水浴中に浸し、溶液が30℃一定となった時点で、この溶液にトリエチルアミン2.0モルを、溶液が35℃を越えないように滴下ロートを用いてゆっくり滴下した。その後、析出したトリエチルアミン塩酸塩をろ過により取り除いた。ろ液を大量の希塩酸中に注ぎ込み、その際に析出した析出物をろ取し、40℃にコントロールされた真空乾燥器で一昼夜乾燥してキノンジアジド化合物(以下「キノンジアジド化合物(B−1)」という)を得た。
[合成例6]
(キノンジアジド化合物の合成)
原料として1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−フェニルエタン1モルと1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸1.5モルとを用いた以外は合成例5と同様にして、キノンジアジド化合物(以下「キノンジアジド化合物(B−2)」という)を得た。
[実施例1]
表1に示すとおり、重合物(A−1)100重量部、キノンジアジド化合物(B−1)20重量部、架橋剤(C−1)25重量部、架橋剤(C−3)10重量部、密着助剤(E−1)2.5重量部を溶剤(D−1)155重量部に溶解に溶解させ、樹脂組成物を調製した。この組成物の特性を前記評価方法にしたがって測定した。得られた結果を表2に示す。
[実施例2〜5]
表1に示した成分からなる組成物を実施例1と同様に調製し、組成物およびその硬化膜の特性を実施例1と同様に測定した。得られた結果を表2に示す。
[比較例1〜4]
表1に示した成分からなる組成物を実施例1と同様に調製し、組成物およびその硬化膜の特性を実施例1と同様に測定した。得られた結果を表2に示す。
Figure 2006154780
注)表1に記載の組成は、以下のとおりである。
重合体;
A−1:p−ヒドロキシスチレン/スチレン=80/20(モル比)からなる共重合体、ポリスチレン換算重量平均分子量(Mw)=10,000
A−2:p−ヒドロキシスチレンからなる単独重合体、ポリスチレン換算重量平均分子量(Mw)=10,000
A−3:p−ヒドロキシスチレン/スチレン/ヒドロキシブチルアクリレート=80/10/10(モル比)からなる共重合体、ポリスチレン換算重量平均分子量(Mw)=10,000
フェノール化合物;
a−1:m−クレゾール/p−クレゾール=60/40(モル比)からなるクレゾールノボラック樹脂(Mw=6,500)
a−2:1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−[4−{1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル}フェニル]エタン
キノンジアジド化合物;
B−1:1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−[4−[1−(4−ヒドロキシフェニル)−1−メチルエチル]フェニル]エタンと1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸との縮合物(モル比=1.0:2.0)
B−2:1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−フェニルエタンと1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホン酸との縮合物(モル比=1.0:1.5)
架橋剤;
C−1:ヘキサメトキシメチルメラミン(三井サイテック(株)製、商品名;サイメル300)
C−2:テトラメトキシメチルグリコールウリル(三井サイテック(株)製、商品名;サイメル1174)
C−3:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(ジャパンエポキシレジン(株)製、商品名;EP−828)
C−4:プロピレングリコールジグリシジルエーテル(共栄社(株)製、商品名;エポライト70P)
溶剤;
D−1:乳酸エチル
D−2:2−ヘプタノン
密着助剤;
E−1:γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(日本ユニカー(株)製、商品名;A−187)
架橋微粒子;
F−1:ブタジエン/ヒドロキシブチルメタクリレート/メタクリル酸/ジビニルベンゼン=60/32/6/2(重量%)、平均粒径=65nm
F−2:ブタジエン/スチレン/ヒドロキシブチルメタクリレート/メタクリル酸/ジビニルベンゼン=60/20/12/6/2(重量%)、平均粒径=65nm
Figure 2006154780
本発明に係るポジ型感光性絶縁樹脂組成物を用いると、解像性、絶縁性、熱衝撃性、密着性などに優れ、特に絶縁性および熱衝撃性が共に著しく優れた硬化物を形成することができる。したがって、これらの諸特性に優れた半導体素子用の層間絶縁膜、表面保護膜などを提供することができる。
図1は、熱衝撃性の評価用基材の断面図である。 図2は、熱衝撃性の評価用基材の模式図である。 図3は、電気絶縁性の評価用基材の模式図である。
符号の説明
1・・・銅箔
2・・・基板
3・・・基材
4・・・銅箔
5・・・基板
6・・・基材

Claims (11)

  1. (A)(A1)下記一般式(1)で示される構造単位10〜99モル%、および
    (A2)下記一般式(2)で示される構造単位90〜1モル%
    を含有する共重合体(該共重合体を構成する構造単位の全量を100モル%とする。)、
    Figure 2006154780
    (Raは、炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基またはアリール基を表す。
    Rbは、水素原子またはメチル基を表す。
    nは0〜3の整数、mは1〜3の整数である。)
    Figure 2006154780
    (Rcは、炭素数1〜4のアルキル基、アルコキシ基またはアリール基を表す。
    Rdは、水素原子またはメチル基を表す。
    nは0〜3の整数である。)
    (B)キノンジアジド基を有する化合物、
    (C)(C1)アルキルエーテル化されたアミノ基含有化合物、および/または、
    (C2)エポキシ基含有化合物、
    (D)溶剤、ならびに
    (E)密着助剤
    を含有することを特徴とするポジ型感光性絶縁樹脂組成物。
  2. 前記共重合体(A)が、前記構造単位(A1)10〜99モル%、および前記構造単位(A2)90〜1モル%〔(A1)と(A2)との合計を100モル%とする。〕のみからなることを特徴とする請求項1に記載のポジ型感光性絶縁樹脂組成物。
  3. 前記構造単位(A2)が、下記式(2’)で示されることを特徴とする請求項1または2に記載のポジ型感光性絶縁樹脂組成物。
    Figure 2006154780
  4. さらに(a)フェノール化合物を含有することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに
    記載のポジ型感光性絶縁樹脂組成物。
  5. 前記共重合体(A)100重量部に対して、前記フェノール化合物(a)の量が1〜200重量部であることを特徴とする請求項4に記載のポジ型感光性絶縁樹脂組成物。
  6. 前記共重合体(A)と前記フェノール化合物(a)との合計100重量部に対して、前記キノンジアジド基を有する化合物(B)の量が10〜50重量部、前記化合物(C)の量が1〜100重量部であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のポジ型感光性絶縁樹脂組成物。
  7. さらに(F)平均粒径が30〜500nmであり、構成成分である共重合体の少なくとも1つのTg(ガラス転移温度)が0℃以下である架橋微粒子を含有することを特徴とす
    る請求項1〜6のいずれかに記載のポジ型感光性絶縁樹脂組成物。
  8. 前記架橋微粒子(F)の構成成分である共重合体が、スチレン−ブタジエン系共重合体であることを特徴とする請求項7に記載のポジ型感光性絶縁樹脂組成物。
  9. 前記共重合体(A)と前記フェノール化合物(a)との合計100重量部に対して、前記架橋微粒子(F)の量が0.1〜50重量部であることを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載のポジ型感光性絶縁樹脂組成物。
  10. 請求項1〜9のいずれかに記載のポジ型感光性絶縁樹脂組成物を硬化してなる硬化物。
  11. (i)マイグレーション試験後の抵抗値が1010Ω以上であり、かつ
    (ii)−65℃/30分〜150℃/30分を1サイクルとする冷熱衝撃試験において、硬化膜にクラックが発生するまでのサイクル数が、1000サイクル以上である
    ことを特徴とする請求項10に記載の硬化物。
JP2005311850A 2004-10-29 2005-10-26 ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物 Active JP4655882B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005311850A JP4655882B2 (ja) 2004-10-29 2005-10-26 ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004316656 2004-10-29
JP2005311850A JP4655882B2 (ja) 2004-10-29 2005-10-26 ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006154780A true JP2006154780A (ja) 2006-06-15
JP4655882B2 JP4655882B2 (ja) 2011-03-23

Family

ID=36633087

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005311850A Active JP4655882B2 (ja) 2004-10-29 2005-10-26 ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4655882B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008164816A (ja) * 2006-12-27 2008-07-17 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 感光性樹脂組成物
JP2009047761A (ja) * 2007-08-14 2009-03-05 Jsr Corp ポジ型感光性絶縁樹脂組成物、その硬化物および回路基板
JP2012063788A (ja) * 2011-12-02 2012-03-29 Asahi Kasei E-Materials Corp 感光性樹脂組成物
JP5093116B2 (ja) * 2006-12-21 2012-12-05 Jsr株式会社 絶縁膜形成用感光性樹脂組成物及びその硬化膜並びにそれを備える電子部品
JP5155389B2 (ja) * 2008-04-10 2013-03-06 旭化成イーマテリアルズ株式会社 感光性樹脂組成物及びそれを用いた感光性樹脂積層体
JP2013130816A (ja) * 2011-12-22 2013-07-04 Nippon Zeon Co Ltd 永久膜用樹脂組成物及び電子部品
JP2013210606A (ja) * 2011-07-05 2013-10-10 Jsr Corp 樹脂組成物、重合体、硬化膜および電子部品

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001240757A (ja) * 2000-02-29 2001-09-04 Jsr Corp 感放射線性樹脂組成物、それから形成された層間絶縁膜およびマイクロレンズ
JP2002040644A (ja) * 2000-07-27 2002-02-06 Jsr Corp 感放射線性樹脂組成物および有機el素子の絶縁膜
JP2002116536A (ja) * 2000-10-06 2002-04-19 Jsr Corp 感放射線性樹脂組成物、その硬化物および素子。
JP2002341521A (ja) * 2001-05-17 2002-11-27 Sumitomo Chem Co Ltd 感放射線性樹脂組成物
JP2003215789A (ja) * 2002-01-23 2003-07-30 Jsr Corp ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001240757A (ja) * 2000-02-29 2001-09-04 Jsr Corp 感放射線性樹脂組成物、それから形成された層間絶縁膜およびマイクロレンズ
JP2002040644A (ja) * 2000-07-27 2002-02-06 Jsr Corp 感放射線性樹脂組成物および有機el素子の絶縁膜
JP2002116536A (ja) * 2000-10-06 2002-04-19 Jsr Corp 感放射線性樹脂組成物、その硬化物および素子。
JP2002341521A (ja) * 2001-05-17 2002-11-27 Sumitomo Chem Co Ltd 感放射線性樹脂組成物
JP2003215789A (ja) * 2002-01-23 2003-07-30 Jsr Corp ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5093116B2 (ja) * 2006-12-21 2012-12-05 Jsr株式会社 絶縁膜形成用感光性樹脂組成物及びその硬化膜並びにそれを備える電子部品
JP2008164816A (ja) * 2006-12-27 2008-07-17 Asahi Kasei Electronics Co Ltd 感光性樹脂組成物
JP2009047761A (ja) * 2007-08-14 2009-03-05 Jsr Corp ポジ型感光性絶縁樹脂組成物、その硬化物および回路基板
JP5155389B2 (ja) * 2008-04-10 2013-03-06 旭化成イーマテリアルズ株式会社 感光性樹脂組成物及びそれを用いた感光性樹脂積層体
JP2013054363A (ja) * 2008-04-10 2013-03-21 Asahi Kasei E-Materials Corp 感光性樹脂組成物及びそれを用いた感光性樹脂積層体
JP2013210606A (ja) * 2011-07-05 2013-10-10 Jsr Corp 樹脂組成物、重合体、硬化膜および電子部品
JP2012063788A (ja) * 2011-12-02 2012-03-29 Asahi Kasei E-Materials Corp 感光性樹脂組成物
JP2013130816A (ja) * 2011-12-22 2013-07-04 Nippon Zeon Co Ltd 永久膜用樹脂組成物及び電子部品

Also Published As

Publication number Publication date
JP4655882B2 (ja) 2011-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1755365B1 (en) Positive photosensitive insulating resin composition, cured product thereof, and electronic component
JP5585065B2 (ja) 感光性絶縁樹脂組成物及びその硬化物並びに絶縁膜の製造方法
JP4983798B2 (ja) 感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物
KR101254349B1 (ko) 포지티브형 감광성 절연 수지 조성물 및 그의 경화물
JP5035240B2 (ja) 感放射線性絶縁樹脂組成物
JP4692219B2 (ja) ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物
KR101434010B1 (ko) 감광성 절연 수지 조성물 및 그의 경화물
JP2009047761A (ja) ポジ型感光性絶縁樹脂組成物、その硬化物および回路基板
JP4655882B2 (ja) ポジ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物
JP4853155B2 (ja) ポジ型感光性絶縁樹脂組成物、その硬化物および回路基板
JP4765951B2 (ja) 絶縁膜を有する大型シリコンウエハおよびその製造方法
JP4296792B2 (ja) ポジ型感光性樹脂組成物およびその硬化物
JP4306267B2 (ja) ネガ型感光性樹脂組成物およびその硬化物
JP2007052359A (ja) パターン形成方法、その硬化物および回路基板
JP5381517B2 (ja) 感放射線性樹脂組成物およびその硬化物
JP2008164833A (ja) ネガ型感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物
JP2007056109A (ja) 感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物
JP5251471B2 (ja) ポジ型感光性絶縁樹脂組成物及びその硬化物
JP5251452B2 (ja) ポジ型感光性絶縁樹脂組成物及びその硬化物
JP2007056108A (ja) 感光性絶縁樹脂組成物およびその硬化物
JP2014044438A (ja) 感光性絶縁樹脂組成物及びその硬化物並びに絶縁膜の製造方法
WO2010067665A1 (ja) 感光性絶縁樹脂組成物及びその硬化物
JP2010134387A (ja) ネガ型感光性絶縁樹脂組成物及びその硬化物

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080611

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100818

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100824

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101008

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101130

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101213

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140107

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4655882

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140107

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250