JP2006150079A - 検出器ユニット、検出器およびコンピュータ断層撮影装置 - Google Patents

検出器ユニット、検出器およびコンピュータ断層撮影装置 Download PDF

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Abstract

【課題】個別モジュールの精確な整列が同時に確実な電気的接続のもとで簡単に保証されているように、検出器ユニットを構成する。
【解決手段】複数の個別モジュール(5)と、個別モジュール(5)の機械的保持を行なうためのモジュール担持体(3)と、モジュール担持体(3)から分離して構成され個別モジュール(5)の電気的接続を行なうための導体板(4)とを備え、導体板(4)が検出器ユニット(2)のX線とは反対側に配置されている。
【選択図】図2

Description

本発明は、検出器ユニット、複数の検出器ユニットからなる検出器に関する。更に、本発明はこのような検出器を備えたコンピュータ断層撮影装置に関する。
検出器に付設された構成要素担持体と直接的に機械的にも電気的にも接続されている多数の個別モジュールとからなる断層撮影装置用の検出器は公知である(例えば、特許文献1参照)。各個別モジュールはアレイに配置された検出器要素を有する。検出器は、各個別モジュールが破壊なしに交換可能であるように構成されている。しかしながら、個別モジュールと構成要素担持体との電気的接続および機械的接続の同時形成は、特に個別モジュール同士の相対的な整列(位置合わせ)が必要な場合には一連の欠点につながる。
個別モジュールの電気的接続は、個別モジュールが整列(位置合わせ)にともなってずらされた場合にも電気的接続が確実に形成されたまま保たれるように実施されなければならない。しかし、構成要素担持体との、ずれに対して敏感でない電気的接続は、相応の接触要素(接触突起および接触面)の設計時の多大な費用および高コストの製造プロセスにつながる。
更に、構成要素担持体と個別モジュールとの確実な電気的接続は、公知の事例では、何らかの力を用いて接触要素を一体的に保持させる場合にのみ可能である。しかしながら、それにともなう機械的な相互作用は個別モジュールの軽微な精確な整列を困難にする。
欧州特許第0847596号明細書
本発明の課題は、個別モジュールの精確な整列が同時に確実な電気的接続のもとで簡単に保証されているように、検出器ユニット、検出器およびコンピュータ断層撮影装置を構成することにある。
この課題は請求項1の特徴事項による検出器ユニットによって、請求項19の特徴事項による検出器によって、請求項20の特徴事項によるコンピュータ断層撮影装置によって解決される。検出器ユニットの有利な実施態様はそれぞれ従属請求項2乃至18に記載されている。
本発明によれば、検出器ユニットは、複数の個別モジュールの機械的保持を行なうためのモジュール担持体と、モジュール担持体から分離して構成され個別モジュールの電気的接続を行なうための導体板とを備え、導体板がモジュール担持体の個別モジュールとは反対側に配置されている。
従って、個別モジュールの機械的保持および電気的接続は、公知の事例と違って、本発明においては構造的に互いに分離されて実施されている。個別モジュールは、機械的機能と電気的機能との分離に基づいて、個別モジュールの確実な電気的接続と同時に、簡単に精確に整列させることができる。公知の事例において個別モジュールの電気的接続によって発生する障害となる機械的相互作用が回避される。
本発明の有利な実施態様において、電気導体路による電気的接続部が設けられているので、電気導体路の相応の長さおよび相応の可撓性(フレキシビリティ)により、同時に形成された電気的接続のもとで個別モジュールの妨げのないずれが特に簡単に可能である。電気導体路は例えばいわゆるフレキシブルケーブルである。
電気的接続は、とりわけ個別モジュールの給電のためと、信号および制御指令の伝達のためとに用いられるので、個別モジュールの相互間の付加的なデータ線または給電線は必要でない。
モジュール担持体とそれぞれの個別モジュールとの間の機械的保持は着脱可能つまり取外し可能に実施されていると好ましく、それによって個別モジュールを破壊なしに簡単に交換または相互に整列させることができる。個別モジュールの整列(位置合わせ)は、特に個別モジュールの電気的接続が構成された後でも行なうことができる。
簡単化の理由から、以下においては、X線に向けられているモジュール担持体面は前面と呼ばれ、X線とは反対側のモジュール担持体面は裏面と呼ばれる。
モジュール担持体で個別モジュールの機械的保持を行うために、特に簡単に形成可能であるねじ接続が用いられている。すなわち、例えば、モジュール担持体がそれぞれ孔の形の切欠きを有し、個別モジュールがそれぞれ孔に合わされたねじ穴を有することにより、モジュール担持体の裏面から出発してモジュール担持体の孔を通して個別モジュールのねじ穴に案内されるねじによって両構成要素を接続することが考えられ得る。
ねじ接続の代わりに挟み付け装置を設けてもよく、この挟み付け装置により、個別モジュールとモジュール担持体とを簡単な差込みによって相互に接続することができる。
本発明の有利な実施態様において、モジュール担持体は個別モジュールの電気的接続を行なうための手段を有するので、それぞれの個別モジュールと導体板との間の簡単なケーブル案内が可能である。最も簡単な場合、個別モジュールの電気的接続のために、例えばフライス盤、ボール盤、パンチプレス機によって作製された切欠きがモジュール担持体に設けられている。
モジュール担持体は、本発明の有利な実施態様において、検出器枠に検出器ユニットを簡単かつ確実に機械的に固定するために用いられる固定手段を備えている。
個別モジュールは検出器ユニットのモジュール担持体上に1次元で配置されるとよい。しかし、個別モジュールをモジュール担持体上に2次元の形で配置することができる検出器ユニット構造も考えられ得る。個別モジュールの両配置のどれが選ばれるかは、例えば検出器の使用様式および所要検出器面に依存する。
各個別モジュールは、信号増幅、電圧処理または障害信号の減結合のための電子デバイスを有することよい。各個別モジュールは、例えばセラミックスである基板上に保持されている検出器要素のアレイを含むと好ましい。
モジュール担持体上に設けられた組立て手段は、検出器ユニットの組立ての際に、モジュール担持体上への個別モジュールの位置決めを容易化する。特に簡単な実施態様では、組立て手段は、隣接する個別モジュールの境界線をそれぞれ表示する目印線であるとよい。目印線の代わりに、個別モジュールが組立時に嵌め込まれる突出部をモジュール担持体に設けてもよい。
本発明の有利な実施態様において、各検出器要素は直接変換型半導体である。これに対する代替として、各検出器要素はシンチレータおよびフォトダイオードを含むことも同様に考えられ得る。入射するX線をコリメートするために、各個別モジュールにコリメータが付設されていると望ましい。
本発明の実施例並びに従属請求項による本発明の他の有利な実施態様を次の概略図に示す。
図1は、コンピュータ断層装置を一部は斜視図で一部はブロック図で示す。
図2は本発明による検出器ユニットを分解斜視図で示す。
図3は図2の検出器ユニットであるが、しかし差込み接続の形の機械的接続部とシンチレータおよびフォトダイオードを有する検出器要素とを備えた検出器ユニットの側面図を示す。
図4は検出器枠に取付けられた多数の検出器ユニットを備えた本発明による検出器の部分平面図を示す。
図1はコンピュータ断層撮影装置を一部は斜視図で一部はブロック図で示す。コンピュータ断層撮影装置はX線放射器36および検出器1を備えた撮影システムを含み、検出器1は多数の検出器ユニット2からなり、各検出器ユニット2は図1に示されている座標系のz方向に配置された多数の個別モジュール5を有する。更に、コンピュータ断層装置は、検出器1によって作成された検出器出力信号を処理するための計算手段19および結果画像を表示するための表示ユニット20を有する。
X線放射器36および検出器1は、図示されていない回転可能な検出器枠に、コンピュータ断層装置の作動時にX線放射器36の焦点22から出射し縁部ビーム17によって仕切られたX線ビームが検出器1に入射するように、互いに対向配置されている。
検出器枠は、図示されていない駆動装置により、回転軸線23の周りに図示のφ方向に回転させられる。回転軸線23は図示の直交座標系のz軸に対して平行に延びている。寝台テーブル18上に横たわっている対象、例えば患者の撮影範囲に関して、このようにして、多数のスライス画像の再構成のために異なる投影方向もしくは回転角位置からのX線撮影が行なわれる。この場合に、撮影範囲は、z軸方向への寝台テーブル18の連続的な送りと、これと同時の被検査範囲の周りにおける撮影システム36,1の回転とによってスパイラル走査21の形で走査することもできる。
各X線撮影は検出器1によって作成された検出器出力信号を含む。検出器出力信号は撮影範囲を通過するX線の減弱の尺度である。検出器出力信号は計算手段19に導かれ、そこで検出器出力信号は、コンピュータ断層撮影装置の作動様式に応じて、公知の再構成方法に従って計算されてスライス画像またはボリューム画像に変換される。
図2には、例えば図1に示されたコンピュータ断層撮影装置の検出器1を構成するために使用可能である本発明による検出器ユニット2が分解斜視図で示されている。検出器ユニット2は多数の個別モジュール5から形成されているが、図2では図の見易さの理由から個別モジュール5の1つのみが示されている。このような個別モジュール5の図示のz方向およびφ方向の典型的な寸法は1cm×1cm〜10cm×10cmにある。個別モジュール5の深さは模範的には1mm〜15cmの広がりを有する。個別モジュール5は、細長い長方形状に形成された共通なモジュール担持体3上に1次元に並べて配置されてモジュール担持体3に機械的に保持され、モジュール担持体3から構造的に分離されて構成された導体板4に電気的に接続されている。導体板4は同様に細長い長方形状に形成されている。
各個別モジュール5は、例えばセラミックスである基板7上に保持された検出器要素6のアレイを有する。検出器要素6は、例えばX線管である図1におけるX線放射器36から出射して撮影範囲を通過するX線の吸収尺度である検出器出力信号の作成に用いられる。検出器要素6に入射したX線の検出器出力信号への変換は、図示の例では、直接変換型半導体32によって行なわれる。しかし、X線は、それぞれの検出器要素6に付設された図3に示すシンチレータ24と、このシンチレータ24に光学的に結合されているフォトダイオード25とによって変換することもできる。各個別モジュール5には、定められた空間角度のX線が検出器要素6によってそれぞれ検出されるように、コリメータ8が付設されていると望ましい。
基板7のX線とは反対の、以下において裏面と呼ぶ側には、この例では電圧処理用、信号増幅用および静電容量による障害信号の減結合用の電子デバイス28,29,30が設けられている。しかし、電子デバイス28,29,30は、必ずしも基板7つまり個別モジュール5に付設されている必要がない。電子デバイス28,29,30の少なくとも一部は導体板4上に、または検出器枠に付設された電子装置上に配置することも考えられ得る。
個別モジュール5とモジュール担持体3とをねじ接続により機械的に接続するために、個別モジュール5には少なくとも1つのねじ穴14が設けられている。ねじ穴14は、望ましくは、基板7に組込まれた構成部分である小さいアルミニウムブロック34内に形成されているとよい。それぞれの個別モジュール5の裏面には、更に個別モジュール5と導体板4との電気的接続を形成するための接続ケーブル11、例えばフレキシブルケーブルが取付けられている。接続ケーブル11は、個別モジュール5と、これに設けられた電子デバイス28,29,30とにしっかりはんだ付けされている。もちろん、接続ケーブル11を差込み接続の形で個別モジュール5に着脱可能に取付けることも考えられ得る。
モジュール担持体3上には、それぞれ個別モジュール5のねじ穴14に対応する切欠き15が設けられているので、個別モジュール5は機械的接続の形成のためにモジュール担持体3にねじ止め可能である。このために、ねじ16をモジュール担持体3の裏面から切欠き15を通して個別モジュール5のねじ穴14にねじ込むことができる。ねじ接続は、特に、相互の整列のために又は個別モジュール5の交換のために容易に再分離可能であるという利点を有する。しかしながら、機械的接続の形成のためには、ねじ接続のみならず、図3に示されているように、例えばいわゆる「さねはぎ」の如き差込み接続部26,27も適している。
モジュール担持体3は、例えばモジュール担持体3の表面に付けた目印線の形の取付け手段35を有するので、モジュール担持体3への個別モジュール5の位置正しい取付けが可能である。更に、モジュール担持体3には、電気的接続を実施するための手段つまり個別モジュール5の接続ケーブル11を貫通させるための手段13が設けられている。図示の実施例において、この手段13は、それぞれ個別モジュール5から出ている接続ケーブル11の貫通に用いられる縦方向に向けられた切欠きを含む。
モジュール担持体3には、更に、検出器枠へのモジュール担持体3つまり検出器ユニット2の固定を可能にする固定手段10が配置されている。図2の例では、モジュール担持体3はねじ接続を形成するために用いられる孔の形の固定手段10を備えている。しかし、他の様式の固定手段10、例えば差込み接続も使用することができる。
モジュール担持体3は金属から作られると好ましい。しかし、原理的には任意の他の材料を使用することができる。重要なことは、個別モジュール5が、コンピュータ断層撮影装置の作動中の撮影システムの回転時に高い加速度力によりモジュール担持体3上で位置ずれを起こさないように或る程度の剛性を有していることである。
導体板4は、モジュール担持体3から構造的に分離され、モジュール担持体3には必ずしも機械的に接続されている必要がない。導体板4は個別モジュール5とフレキシブルに電気的に接続され、そのために設けられている端子9を介して、例えば検出器枠に付設されている電子装置に差込み可能である。接続ケーブル11と導体板4との電気的接続は、例えば差込み接続部12の形で着脱可能に実施されている。
個別モジュール5の機械的保持と電気的接続とを互いに分離して行なっているので、個別モジュール5の電気的接続を形成した状態において個別モジュール5を互いに対して相対的に整列させる際に、冒頭に述べた検出器構造の場合にそうであったように個別モジュール同士の障害となる機械的相互作用が発生することがない。個別モジュール5の整列(位置合わせ)はむしろ電気的接続とは関係なく実施することができる。すなわち、例えば、それぞれの検出器ユニット2を組立てるための第1の取付け作業ステップにおいて電気的接続を解いた状態で個別モジュール5の正確な整列(位置合わせ)を行ない、第2の取付け作業ステップにおいて個別モジュール5の電気的接続が導体板4上に設けられた差込み接続部12への接続ケーブル11の差込みによって形成されることが考えられ得る。
接続ケーブル11を介して、個別モジュール5への給電と、信号、特に検出器出力信号および制御指令の伝達とが行なわれる。接続ケーブル11は導体板4における電気端子9に接続されている。電気端子9は図示されていない検出器枠に付設された電子装置との接続を形成する。
図3には、図2の本発明による検出器ユニット2の側面図が示されている。しかし、図2と違って、各検出器要素6は、直接変換型半導体ではなく、シンチレータ24およびこれと光学的に結合されたフォトダイオード25を有する。更に、それぞれの個別モジュール5とモジュール担持体3との機械的接続は、ねじ接続部14,15,16によらないで、差込み接続部26,27によって実現されている。差込み接続部26,27は個別モジュール側の嵌め込みピン26およびモジュール担持体側の嵌め込み穴27からなっている。
図4は、検出器枠31に保持された多数の検出器ユニット2を有する本発明による検出器1の部分図を示す。各検出器ユニット2は、この場合には、通常のように湾曲した円筒外被面の一部分を形成する。従って、隣り合わせに配置された多数の検出器ユニット2が検査に合わせられた広がりを有する円筒形状の検出器面を定める。各検出器ユニット2は多数の個別モジュール5からなり、個別モジュール5は図示されていないモジュール担持体3上に2次元で配置されている。モジュール担持体3から構造的に分離して構成された、導体板4と個別モジュール5との電気的接続は、同様に図示されていない。図の見易さのために、検出器ユニット2の1つの構成要素にのみ符号が付されている。個別モジュール5は、検出器ユニット2の側方に配置された検出器枠ねじ33によって検出器枠31にねじ止めされている。
z方向における検出器ユニットの図4に示された整列のほかに、検出器ユニットをφ方向に整列させることも同様に考えられ得る。検出器は必ずしも多数の検出器ユニットから構成されている必要がない。検出器が唯一の検出器ユニットだけから構成される場合にも十分に利点がある。この場合には検出器ユニット同士の相対的な整列はなくなる。
コンピュータ断層装置を示す部分的にブロック図を含む斜視図 本発明による検出器ユニットを示す分解斜視図 図2の検出器ユニットであるが部分的に変更を加えた検出器ユニットを示す側面図 本発明による検出器を示す部分平面図
符号の説明
1 検出器
2 検出器ユニット
3 モジュール担持体
4 導体板
5 個別モジュール
6 検出器要素
7 基板
8 コリメータ
9 電気端子
10 固定手段
11 接続ケーブル
12 差込み接続部
13 貫通手段
14 ねじ穴
15 切欠き
16 ねじ
17 縁部ビーム
18 寝台テーブル
19 計算手段
20 表示ユニット
21 スパイラル走査
22 焦点
23 回転軸線
24 シインチレータ
25 フォトダイオード
26 嵌め込みピン
27 嵌め込み穴
28 電子デバイス
29 電子デバイス
30 電子デバイス
31 検出器枠
32 直接変換型半導体
33 検出器枠ねじ
34 アルミニウムブロック
35 取付け手段
36 X線放射器

Claims (20)

  1. 複数の個別モジュール(5)と、個別モジュール(5)の機械的保持を行なうためのモジュール担持体(3)と、モジュール担持体(3)から分離して構成され個別モジュール(5)の電気的接続を行なうための導体板(4)とを備え、導体板(4)が検出器ユニット(2)のX線とは反対側に配置されていることを特徴とする検出器ユニット。
  2. 個別モジュール(5)の電気的接続は電気導体路(11)により行なわれることを特徴とする請求項1記載の検出器ユニット。
  3. 電気的接続は、個別モジュール(5)の給電のためと、信号および制御指令の伝達のためとに用いられることを特徴とする請求項1又は2記載の検出器ユニット。
  4. モジュール担持体(3)とそれぞれの個別モジュール(5)との間の機械的保持は着脱可能に実施されていることを特徴とする請求項1乃至3の1つに記載の検出器ユニット。
  5. モジュール担持体(3)とそれぞれの個別モジュール(5)との間の機械的保持のために、ねじ接続部(14,15,16)が設けられていることを特徴とする請求項1乃至4の1つに記載の検出器ユニット。
  6. モジュール担持体(3)とそれぞれの個別モジュール(5)との間の機械的保持のために、挟み付け装置(26,27)が設けられていることを特徴とする請求項1乃至4の1つに記載の検出器ユニット。
  7. モジュール担持体(3)は個別モジュール(5)の電気的接続を行なうための手段(13)を有することを特徴とする請求項1乃至6の1つに記載の検出器ユニット。
  8. 個別モジュール(5)の電気的接続を行なうための手段(13)はモジュール担持体(3)における切欠きであることを特徴とする請求項7記載の検出器ユニット。
  9. モジュール担持体(3)は、検出器枠(31)に検出器ユニット(2)を機械的に固定するための固定手段(10)を有することを特徴とする請求項1乃至8の1つに記載の検出器ユニット。
  10. モジュール担持体(3)は組立て手段(35)を有することを特徴とする請求項1乃至9の1つに記載の検出器ユニット。
  11. 組立て手段(35)は目印線であることを特徴とする請求項10記載の検出器ユニット。
  12. 個別モジュール(5)はモジュール担持体(3)上に1次元で配置されていることを特徴とする請求項1乃至11の1つに記載の検出器ユニット。
  13. 個別モジュール(5)はモジュール担持体(3)上に2次元で配置されていることを特徴とする請求項1乃至11の1つに記載の検出器ユニット。
  14. 各個別モジュール(5)は、信号増幅、電圧処理または障害信号の減結合のための電子デバイス(28,29,30)を有することを特徴とする請求項1乃至13の1つに記載の検出器ユニット
  15. 各個別モジュール(5)は基板(7)上に保持されている検出器要素(6)のアレイを有することを特徴とする請求項1乃至14の1つに記載の検出器ユニット。
  16. 各検出器要素(6)は直接変換型半導体(32)を有することを特徴とする請求項15記載の検出器ユニット。
  17. 各検出器要素(6)はシンチレータ(24)およびフォトダイオード(25)を有することを特徴とする請求項15記載の検出器ユニット。
  18. 各個別モジュール(5)はコリメータ(8)を有することを特徴とする請求項1乃至17の1つに記載の検出器ユニット。
  19. 検出器枠(31)に保持された請求項1乃至18の1つに記載の検出器ユニット(2)を少なくとも1つ備えていることを特徴とする検出器。
  20. 請求項19に記載の検出器(1)を有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
JP2005338151A 2004-11-29 2005-11-24 検出器ユニット、検出器およびコンピュータ断層撮影装置 Withdrawn JP2006150079A (ja)

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DE (1) DE102004057533B4 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008212224A (ja) * 2007-02-28 2008-09-18 Toshiba Corp 放射線検出器及びx線ct装置
JP2012232178A (ja) * 2012-08-06 2012-11-29 Toshiba Corp 放射線検出器及びx線ct装置
JP2016530967A (ja) * 2013-09-06 2016-10-06 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 精密自動位置決め用のct検出器センサ

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101685072B (zh) * 2008-09-28 2011-05-11 同方威视技术股份有限公司 用于辐射成像的探测器模块及具有其的辐射成像检查系统
JP5503883B2 (ja) * 2009-03-06 2014-05-28 株式会社東芝 X線ct装置及びx線検出装置
WO2010133984A2 (en) * 2009-05-20 2010-11-25 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Detector array with pre-focused anti-scatter grid
DE102010011582B4 (de) * 2010-03-16 2011-12-01 Siemens Aktiengesellschaft Detektormodul für einen Strahlendetektor und Strahlendetektor
JP5836011B2 (ja) * 2010-09-22 2015-12-24 株式会社東芝 X線CT(ComputedTomography)装置、放射線検出器及びその製造方法
DE102010062192B3 (de) 2010-11-30 2012-06-06 Siemens Aktiengesellschaft 2D-Kollimator für einen Strahlendetektor und Verfahren zur Herstellung eines solchen 2D-Kollimators
US20120193545A1 (en) * 2011-01-31 2012-08-02 General Electric Company Detector systems with anode incidence face and methods of fabricating the same
US20140312238A1 (en) * 2011-12-27 2014-10-23 Koninklijke Philips N.V. Flexible connectors for pet detectors
CN109599672B (zh) * 2013-07-02 2022-02-25 维斯普瑞公司 滤波天线设备
DE102014218462A1 (de) 2014-09-15 2016-03-17 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Herstellung eines Kollimatormoduls und Verfahren zur Herstellung einer Kollimatorbrücke sowie Kollimatormodul, Kollimatorbrücke, Kollimator und Tomographiegerät
DE102016201808A1 (de) * 2016-02-05 2017-08-10 Siemens Healthcare Gmbh Röntgendetektor
JP6776024B2 (ja) * 2016-06-30 2020-10-28 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線検出器、x線検出器モジュール、支持部材及びx線ct装置
JP7166833B2 (ja) * 2018-08-03 2022-11-08 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 放射線検出器及び放射線検出器モジュール
EP3764127A1 (de) * 2019-07-08 2021-01-13 Siemens Healthcare GmbH Röntgendetektor und röntgengerät mit röntgendetektor

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4338521A (en) * 1980-05-09 1982-07-06 General Electric Company Modular radiation detector array and module
GB2305096B (en) * 1995-08-29 1997-09-10 Simage Oy Imaging system and method
US6115448A (en) * 1997-11-26 2000-09-05 General Electric Company Photodiode array for a scalable multislice scanning computed tomography system
US6621084B1 (en) * 1998-09-24 2003-09-16 Elgems Ltd. Pixelated photon detector
US6396898B1 (en) * 1999-12-24 2002-05-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Radiation detector and x-ray CT apparatus
US6472668B1 (en) * 2000-11-24 2002-10-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. High voltage distribution system for CZT arrays
US6473486B2 (en) * 2000-12-05 2002-10-29 Ge Medical Systems Global Technology Co., Llc System and method of computed tomography imaging using a focused scintillator and method of manufacturing
US6510195B1 (en) * 2001-07-18 2003-01-21 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Solid state x-radiation detector modules and mosaics thereof, and an imaging method and apparatus employing the same
EP1446682B1 (en) * 2001-11-20 2010-07-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. Ct detector-module having radiation shielding for the processing circuitry
DE102004001688B4 (de) * 2004-01-12 2010-01-07 Siemens Ag Detektormodul
DE102004049917A1 (de) * 2004-10-13 2006-04-20 Siemens Ag Röntgendetektoreinrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Röntgendetektoreinrichtung
DE102005007485B4 (de) * 2005-02-17 2008-05-08 Siemens Ag Zwischenstecker für einen Detektor und Verfahren zur Durchführung einer Fehlersuche bei einem Detektor mit einem solchen Zwischenstecker
DE102005014187B4 (de) * 2005-03-29 2017-02-23 Siemens Healthcare Gmbh Detektormodul, Detektor und Computertomographiegerät

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008212224A (ja) * 2007-02-28 2008-09-18 Toshiba Corp 放射線検出器及びx線ct装置
JP2012232178A (ja) * 2012-08-06 2012-11-29 Toshiba Corp 放射線検出器及びx線ct装置
JP2016530967A (ja) * 2013-09-06 2016-10-06 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 精密自動位置決め用のct検出器センサ

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